TW446867B - High speed test pattern evaluation apparatus - Google Patents

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> A7 Δ * ： ______Β7___ 五'發明說明彳) 發明領域 本發明有關一用以測試諸如大型積體（Large Scale Integrated，下文簡稱L S I )電路之半導體積體電路而供 評估一測試Μ樣之測試Μ樣測値設備，及更特別有關用以 評佔一生產供半導體測試系統之測試型樣或在該半導體積 體電路之設計上施行診斷測試之高速測値設備，這是基於 該半導體積體電路設計階段中經由一電腦輔助設計（ CAD)流程所產生之邏輯模擬資料，而未使用一實際之 半導體測試系統或欲測試之半導體積體電路。 發明背景 於開發諸如L S I電路之半導體積體電路流程中，幾 乎總是使用電腦辅助設計（C A D )工具之設計方法。於 此-併入該電腦輔助設計工具之半導體發展過程中，在 L S I電路中使用諸如V H D L及verilog之硬體敘述語言 建立所想要之半導體電路。於該過程中，如此設計之半導 體電路功能亦經由一稱爲裝置邏輯模擬器之軟體模擬器評 f|fi 0 裝置邏輯模擬器包含-般稱爲測試台之介面，測試資 料（向量）係經由該介面施加至顯示該預期半導體電路之 裝置資料，及評估該預期半導體電路之最終反應。

在該L S I電路之設計階段之後，生產真實之L S I 裝置及藉著諸如L S ：[測試器之半導體測試系統測試，以 決定該L S I裝置是否正確地施行預期之功能。一 L S I ---------—.丨 --------訂---I-----^> * <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧則產局員工消費合作衽印製 本紙張尺度適用中國1家標準（CNSM4規格（210 X 297公釐） -4 - ^46 8 r A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明6 ) 測試器在测試下供給一測試信號型樣（測試向量）至一 L S 1裝置，及比較該L S I裝置之合成輸出與預期之資 料，以決定該裝置在測試下之認可/不認可。 於測試半導體積體電路時由該L S I測試器所施行之 測試柷序’與上述測試該半導體電路設計資料之電腦輔助 設II·過程中之裝置邏輯模擬器測試程序實質上類似。如此 ，爲改良該半導體積體電路之整體測試效率及生產力’正 成爲常例者是於該半導體積體m路之一實際測試中利用經 由該裝置邏輯模擬器之操作所產生之資料。譬如，利用藉 著執行該裝置邏街模擬所產生之輸出資料（傾卸檔案）產 生用於- L S I測試器之測試型樣及預期値型樣，以測試 該擬議之半導體積體電路。 於此邏輯模擬資料中，欲施加至一裝置模型之測試型 樣以及該裝置模型之合成輸出（預期値型樣）係以事件基 準表示。在此，該事件基準資料表示一測試型樣中隨著時 問之推移而由邏樹'' 1 〃至邏輯0 "或反之亦然之變化 點（茁件）。大致言之，藉著離一預定參考點之時間長度 或離先前事件之時問長度表示此時間推移對比之下’於 實際之L S I測試器中，藉著週期基準敘述測試型樣資料 。於該週期基準資料中’相對該測試器之預定测試週期定 義測試型樣。 如前文所述，藉著使該L S I裝置之設計階段中所 產生之電腦輔助設計資料即可預期有效率地建立用以測試 實際生產L S I裝置之测試型樣。然而’基於各種理由’ -------；--— I-1. --) 111 Ϊ I ^ . 11--— I — I ^ {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準（CNSM4規格（210x 297公釐） _ 5 _ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 46 8 S ' A7 __ -------- ~ $_、發明說明6 ) 以此方式所產生用於測試器之測試型樣未能總是適於正確 地侦测在測試F之L> S I裝置之不符合要求。如此’必需 經山前面之程序評估所產生之测試型樣。 在習知技術中，於評估以使用該邏輯模擬資料所建立 用於L S I測試器之測試型樣中’其根本上有二額方法， 一方法使用實際之L s 1測試器及另一方法不使用L S ί 测試器。於使用L s 1測試器之方法中，其必需於該邏輯 揆擬資料中擷取事件基準測試型樣及將κ轉換成週期基準 測試型樣。該週期基準中之此測試型樣係於該實際L s I 测試器中運轉’以評估該測試型樣之校正値。該方法係不 利的，其中…昂貴之L S I測試器只用於評估該測試型樣 之完整性。 於不使用L S I測試器之方法中’ 一L S I測試模擬 器係用於評估該測試型樣。同樣於該方法中，該L S I測 試模擬器偵測已轉換成該週期基準之測試型樣之錯誤°爲 模擬由該L S I測試模擬器接收該測試型樣之測試下 L S I裝置之功能，於使用該電腦輔助設計工具之設計過 程期間使用所建立之邏輯模擬器。既然是經由軟體處理施 行測値過程’該方法不利的，因其需要一很長時間以完成 該測値。 未使用該實際L S I測試器之一習知技術範例係更詳 細地敘述於下。第1圖係使用測試模擬器及邏輯模擬器以 評估測試型樣之一習知技術範例，亦即所有操作係由軟體 所執行之範例。 -------1--·'1 illl — 丨— 訂·-------*^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐〉 -6 - 經濟部智慧財產局員工消費合作社印*''农 4^S867 A7 ____B7____ 五、發明說明6 ) 於第1闘中，一由軟體所形成之L S I模擬器1 1設 有由沏樣檔案1 〇 1及定時檔案1 〇 2所建立用於L S I測 試器之型樣資料及定時資料。譬如藉著由一傾卸檔案1 5 湖取型樣資料及定時資料以建立該型樣資料及該定時資料 ’該傾卸檔案1 5係於該L S I裝置之設計階段中執行一 邏輯模擬之結果。該邏輯模擬器之傾卸檔案範例係Venl〇g 之値變傾卸（Value Change Dump，簡稱V C D )。該傾卸 檔案1 5中之資料係賴著轉換軟體1 7轉換成週期基準資 料’導致上述视樣資料及定時資料分別儲存於該型樣檔案 1 0 !及定時檔案1 〇 2。 該LS I測試模擬器1 1可未使用一 LS I測試器硬 體地除去錯誤之測試型様以測試該擬議L S I裝置或該 L S I裝置之功能。該l S I測試模擬器1 1產生一具有 型樣資訊及定時資訊之測試型樣，及將該測試型樣應用至 欲测試之L S I裝置之邏輯模擬器。該l S I測試模擬器 1 1比較來A該邏輯模擬器之合成輸出信號與該預期之資 料’以決定該測試型樣之正確性或該L S I裝置之性能。 該L S ί測試模擬器丨i提供該测試型樣至一格式轉 換器1 2而當作輸入資料。該格式轉換器1 2將來自該 L S I測試模擬器1 1之輸入資料轉換成一裝置邏輯模擬 器.1 3所能接受之格式。一般言之，該裝置邏輯模擬器 ].3 包含一-稱 Μ 程式語 s 介面（P r 〇 g 1- a in m i n g L a n g u a g e Interface，簡稱P L I )之介面。如此，於此一案例中，該 格式轉換器1 2將該測試型樣轉換成該p L I格式。 本紙張又度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 x 297公釐） --------11·! 裝 i—ί! t ί I---111^ {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) Α7 Β7 4<68 6 7 五、發明說明έ ) (請先間讀背面之注意事項再填寫本頁> 該裝置邏輯模擬器1 3係該L S I裝置之設計階段中 G用之模擬器及由邏輯模擬器1 3 i及裝置模型1 3 2所形 成，該裝置模型1 3 2係以一種能夠與該模擬器1 3 i溝通 之語言敘述。該裝置模型132模擬欲測試LSI裝置之操 作。該裝置邏輯模擬器1 3將經由該PL I介面接收之測 試型樣送至該裝置模型1 ，及經由該P L I介面將來自 該裝置模型1 3 2之合成響應提供至一格式轉換器1 4。該 格式轉換器1 4將該裝置模型1 3 2之輸出轉換成可由該 L S Ϊ测試模擬器所接收之格式。該L S I測試模擬器 1 1比較來自該格式轉換器1 4之裝置輸出資料與該預期 値资料。當該二資料相配時，即認爲該測試型樣爲正確。 如上述於僅只使用該裝置邏輯模擬器之軟體處理評估 該测試型樣時，其需要大量之工作及良久之處理時間。操 作該裝置邏輯模擬器之處理時間佔據全部處理時間之絕大 部份。再者，該P L I介面之能力有所限制，這亦造成該 测値之無效率。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 發明槪要 因此，本發明之一 Π的係提供-高速測試型樣測値設 備，用以在高速下評估--測試L S I裝置用之測試型樣， 該測試型樣係基於該L S I裝置之設計階段中所發展之電 腦輔助設計資料所產生。 本發明之另一目的係提供一未使用實際L S I測試器 之高速測試型樣測値設備，用以在高速下評佔一測試 -8 - 本紙張尺度滷用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4463〇7 A7 B7 —----— '" 五、發明說明έ )

Ls I裝置用之測試型樣，該测試型樣係基於該LS I裝 置之設計階段中所發展之電腦輔助設計資料所產生》 本發明之進一步目的係提供一使用小型.及專用硬體之 高适測試型樑测値設備，用以在高速下評估一測試L s I 裝圃ffl之測試型樣’該測試型樣係基於該L S I裝置之設 計階段中所發展之電腦輔助設計資料所產生。 本發明之進一步目的係提供一高速測試型樣測値設備 ，用以在高速下評估一測試L S I裝置用之測試型樣，該 测試啞樣係越於該L S I裝置之設計階段中所發展之電腦 _肋設計資料所產生，而未使用一裝置邏輯模擬器，但使 川常執行該裝置邏輯模擬器時所產生之資料。 本發明之進一步目的係提供一能夠藉著倂入高速測試 沏樣测値設備以執行裝置失敗模擬之設備，用以評估一測 試L· S Ϊ裝置用之測試型樣，該測試型樣係基於該l S I 裝置之設計階段中所發展之電腦輔助設計資料所產生，並 具有一定義輸入信號及輸出信號間之關係之裝置功能加法 電路。 於本發明之高速測試型樣測値設備中，用以測試該 L S I裝置而Μ有轉換自該裝置邏轘模擬之傾卸檔案之型 樣資料及定時資料之測試型樣係與源自該傾卸檔案之 L S I裝置之輸入信號波形同步化。當該二者位於同步化 狀態時’源自該傾卸檔案之L S I裝置輸出信號波形係在 比較定時處與由該定時資料及該型樣資料所定義之資料（ 預期値）比較。假如該二資料彼此匹配，其決定該測試型 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公t ) -------1 I--^丨 * 裝·--I--I I 訂---I 1----^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -9 - A7 4468 6 7 __ B7 ~ - * -----------, 五、發明說明f ) 樣爲適當。當彼此不匹配時，藉著定義該裝置之輸出或 L S 1裝置之輸入資料及輸出資料間之關係，即可施行-該 L S I裝置之失敗模擬。 根據本發明之高速測試型樣測値設備’不需由該軟體 m形成之裝置邏輯模擬器，及因爲藉著專用於該測値設備 之小型硬體評佔該測試型樣，即能以高速及低成本評估該 測試型樣。 圖面簡沭 第1圖係於習知技術中顯示一测試型樣測値方法之槪 要圖，其使用二者皆由軟體所形成之測試模擬器及裝置邏 輯模擬器。 第2圖係本發明之高速測試型樣測値設備2 0倂入一 軟體測器以及其他相關裝置之槪要圖。 第發明之高速測試型樣測値設備2 0中藉 著該週期-事件轉換器2 2顯示資料轉換圖像之槪要波形 η 第4圖係於本發明之第2圖中顯示該測値部件2 4之 已修改結構之槪要圖。 元件對照表 1 0 , 型樣檔案 .1 0 2 定時檔案 .1 1 模擬器 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公复） {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝 I. 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印製 4 4 η Α7 Β7 五、發明說明6 ) 3 4 5 7 Ο η 4 2 2 7 8 4 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 7 ι 7 2 8 格式轉換器 裝置邏輯模擬器 邏輯模擬器 裝置模型 格式轉換器 傾卸檔案 轉換軟體 設備 轉換器 測値部件 記憶體 記憶體 比較器 裝置功能加法電路 測値部件 記憶體 記憶體 記憶體 記憶體 比較器 比較器 裝置功能加法電路 較佳實施例之詳細敘述 ------•'III·— 裝---------訂 *--------> {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） -11 - 4468 6 7 A7 ____ ___ B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明6 ) 參考各_而說明本發明之實施例。第2圖顯示本發明 高速測試型樣測値設備之結構方塊圖。類似於第1圖之範 例，一由軟體所形成之L S I模擬器1 1設有由型樣檔案 10!及定時檔案1〇2所建立甩於丄s I測試器之型樣資 料及定時资料。誓如經由轉換軟體1 7藉著由一傾卸檔案 1 5擷取型樣資料及定時資料以建立該型樣資料及該定時 資料，該傾卸檔案1 5係於該L S I裝置之設計階段中執 行一邏輯模擬之結果。該邏輯模擬器之傾卸檔案範例係 Veri log之値變傾卸。如上面所論及，一 L S I測試器中所 使用之測試型樣大致形成可參考測試器速率而操作，亦即 以週期爲基礎。如此，源内該傾卸檔案1 5之型樣資料及 定吟資料係呈以週期爲基礎之形式。 亦類似於第1圖之範例，一 L S I測試模擬器1 1係 州於除去所建立測試型樣之錯誤，以測試該擬議L S I裝 匿或該擬議LS I裝置之功能，而未使用一LS I測試器 硬體。基於該型樣資料及定時資料，該L S I測試模擬器 J 1產生一欲施加至測試下裝置之測試型樣及一預期値盤 探，以與測試下裝置之输出作比較。該L S I測試模擬器 1 ί施加包含型樣資訊及定時資訊之測試型樣至本發明之 高速型樣測値設備’及比較來自該高速測試型樣測値設備 之合成輸出資料與該預期値型樣，以決定該測試型樣之正 確性。 本發明之高速測試型樣測値設備2 0包含一用以由該 週期越準將該測試型樣轉換至該事件基準之週期-事件轉 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝--------訂---------#i 本纸張尺度適用中國國家標準（CNS)A‘l規格（210 X 297公釐） A7 4468 p 7 _______B7 _______ 五、發明說明纟〇 ) 換器2 2、.一用以同步化該二事件資料輸入及在其間作比 較之測値部件24·來自該LSI測試模擬器11之測試 型樣係施加至該週期-事件轉換器2 2。然而可藉著軟體 或硬體架構該週期-事件轉換器2 2以達成一高速操作， ιίΰ 一硬體結構係較佳。 第3圖顯示該週期-事件轉換器2 2之轉換功能圖像 之槪要波形。第3 Α圖顯示週期基準之型樣資料波形（上 圆）及該週期基準之定時資料（下圖）。第3 A圖所不波 形之資料係由該型樣檔案1 0:及該定時楢案1 〇2給至該 L S I測試模擬器。該LS I測試模擬器1 1產生具有第 3 B圖之波形圖像之測試型樣資料及將該資料送至該週期 -事件轉換器2 2。該週期-事件轉換器2 2將該測試型 樣資料轉換成具有第3 C圖波形圖像之事件資料。 該測値部件2 4包含一用以儲存來商該週期-事件轉 換器2 2之測試型樣資料之記憶體2 5、一用以儲存來自 該傾卸檔案1 5之事件資料之記憶體2 6、及一用以使該 記憶體2 5中所儲存之資料及該記憶體2 6中所儲存之資 料R步化及擷取對應於测試下裝置之輸出之記憶體2 6中 資料之比較器2 7。於該結構中，該事件基準測試型樣係 儲存於該記憶體2 5中，il事件基準裝置輸出資料係儲存 於該記憶體2 6中。因此，藉著同步化該测試型樣事件及 該输出資料事件，其能對給定之輸入信號於測試下裝置之 蝓出信號問建立一關係。爲如此做，該比較器2 7檢視來 自該記憶體2 5及記憶體2 6之資料間之定時關係’及偵 -------；--- I i In---訂 ---------^t (請先閱讀背面之汶意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） -13- 4 4 五 發明說明“ 測與該記憶體 出資料 値資料 以決定該二資料是否彼此匹配。假如該二資料 A7 B7 5中測試型樣資料同步化之記憶體2 6輸 及輸出該資料當作一裝置輸出信號。 I @該比較器2 7之資料係送至該L S I測試模擬器 @作測試下裝置之一合成輸出。該L S I測試模擬器 & Μ光燈之定時F比較該比較器2 7之輸出與該預期 义即認'爲該测試型樣爲正確。 % 2 _之測Μ部件2 4亦可包含一能夠定義輸入信號 &輪出信號間之關係之裝置功能加法電路2 8，以判斷該 卜裝匮之不及格。該電路2 8係可程式化及可依判斷 #^調整該輸入及輸出信號問之關係。譬如，於包含類比 % @ &邏輯電路失敗分析之案例中，將藉著該裝置功能加 ώ m路2 8加L·該類比功能以評估此一邏輯電路之操作。 第4圖係於本發明之高速測試型樣測値設備中顯示測 値部份之另一範例之方塊圖。於該範例中，一測値部件 3 4包含一多數測試型樣記憶體3 5 !及3 5 2 '多數 v C D資料記憶體3 6 r及3 6 2、一對比較器3 7 !及 3 7 2、及一裝置功能加法電路3 8。該多數測試型樣記憶 體3 5 ,及3 5 2 ώ第2圖之週期一事件轉換器2 2接收該 測試型樣及在其內儲存該測試型樣。每一記憶體3 5 1及 3 5 2係由二小容量記憶體所形成。該記憶體3 5最好施行 —交錯功能，其中一記憶髖提供資料至該比較器3 7 ’而 另一記憶體接收〜卜一個測試型樣之一預定數量。同埋’藉 著以交錯方式操作之二小容量記憶體架構該多數V C D資 -----------l ^---------訂---------'^ (諳先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度i®用中國固家標準（CNS)A4規格（210 X 297公复） -14- 4 4 6 8 S 7 Λ7 __B7 經濟部智慧財產局員Η消費合作社印製 五、發明說明（2 ) 料記憶體3 6 !及3 6 2之每一個。此交錯操作可使用低成 本之小容量記憶體達成一高速記憶體性能。 類似於第2圖之比較器2 7，比較器3 7ι比較來自該 記憶體3 5之测試型樣資料及來自該記憶體3 6之测試下 裝匮輸出資料間之定時關係，及於該二資料之間同步化。 該比較器3 7 i rh與該測試型樣資料同步化之記憶體3 6送 出該輸出資料·至該Ls I測試模擬器1 1當作該裝置輸出 資料。該L S I測試模擬器1 1比較該裝置輸出資料與該 預抑値資料’以決定該测試型樣是否適當。 同Μ ’該It較器3 7 2比較來自該記憶體3 5之測試型 樣ΙΪ料及來自該；記憶體3 6之測試下裝置輸出資料間之定 時關係’及於該二資料之間同步化。該比較器3 7 2由與該 测試型樣資料同步化之記憶體3 6送出該輸入資料至該 L S I Μ試模擬器1 1當作該裝置輸入資料。該l s I测 試模擬器1 1比較該裝置輸入資料與該預期値資料，以決 定該測試型樣是否正ill。 該裝ϋ功能加法電路3 8係提供於該比較器3 71及 3 7 2之問’而以可程式化之方式定義輸入信號及輸出信號 間β關係，以診斷該裝置中之故障。該電路3 8使芄可能 模擬該L S I裝匿中之某種故障型式。再者，藉著定義來 自該傾卸檔案之測試型樣及來自該LS I測試模擬器之測 試型樣間之關係，可模擬依該測試型樣之差異而定之裝置 测試結果。再者’雖然一邏輯模擬器通常未能模擬—類比 功能’藉著該裝ill功能加法電路3 8加上此功能即可評估 (請先Μ讀背面之江音？事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中围國家標準（CNSM<1规格 (210 X 297公芨） -15- 446^G7 Λ7 _B7 五、發明說明（3 ) ' m有'類比功能之邏輯裝置。 如前文所述，根據本發明，該高速測試型樣測値設備 能夠在高速下評估該測試型樣及半導體裝置性能，而未使 用實際之測試器或半導體裝置。 雖然在此只特別說明及敘述一較佳實施例，吾人將發 現以上面之教導可對本發明作很多修改及變化，且在所附 申請專利之範_內而未偏離本發明之精神及擬議範圍。 -------：----— 裝--------訂---------^ {請先閱讀背面之泫意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印製 本紙張尺度適用中國S家標準（CNS)A4規格（2】0 X 297公釐） -16 -

Claims (1)

1. 經濟部智慈財產局員工消費合作社印製 4 4 G A 广 7 B8 C8 D8六、申請專利範圍 1 . 一種高速測試型樣測値設備，包含 _ - L S ί测試楔擬器，用於產生供測試一測試下裝置 之測試型樣及一預期値型樣，以與回應於該測試型樣之測 試F裝闍之輸出作比較，該測試型樣及預期値型樣係由週 期基準之資料所形成； -用以將來商該L S I測試模擬器之測試型樣轉換成 一事件基準形式之测試型樣之週期-事件轉換器2 2 ; 用以儲存來丨_該週期-事件轉換器之事件基準測試型 樣之第一記憶體； 用以儲存來丨:_丨-傾卸檔案之测試下裝置之預定輸入/ 輸出資料虽之第二記憶體，該傾卸檔案儲存由於在測試下 裝置上執ί」：一邏輯模擬之資料；及 一比較器，其藉著比較來自該第一及第二記憶體資料-問之定時關係，及對應於來向該L S I測試器之測試型樣 [1]該傾卸檔案擷取测試下裝置之輸岀資料，用以同步化該 第一及第二記憶體中所儲存之資料。 2 .根據申請專利範圍第1項之高速測試型樣測値設 備|其中該週期-事件轉換器係由硬體所形成。 3 .根據申請蕺利範圍第1項之高速測試型樣测値設 備，其中該週期-事件轉換器係由軟體所形成及該比較器 係山硬體所形成。 4 .根據申請專利範圍第1项之高速測試型樣測値設 備，另包含一用以提供可加上或修改該測試下裝置功能之 資料之裝置功能加法電路。 -----J----—裝------訂------M (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家梂率（CNS ) A4規格（210X297公釐） -17- ^46867 A8 B8 C8 D8 々、申請專利範圍 5 .根據申誧專利範til第1項之高速測試型樣測値設 備’Jt中該测試型樣及該預期値型樣係蕋於該傾卸檔案中 测試下裝置之輸入/_出資料中之型樣資訊及定時資訊所 產屯。 6 . —種萵速測試型樣测値設備，包含： --L S I測試模擬器，用於齑生供測試一測試下裝置 之測試型樣及-須期値型栊，以與冋應於該測試型樣之測 試下裝置之輸出作比較，該測試型樣及預期値型樣係由週 期基窄之資料所形成： 一用以將來β該L S ί測試模擬器之測試型樣轉換成 一 S忭基準形式之测試沏樣之週期一事件轉換器2 2 ; 用以儲存來内該週期-茁件轉換器之泰件基準測試型 樣之第一記憶體； 以儲存來白-傾卸檔案之測試下裝置之預定輸入/ 輸出資料量之第二記憶體，該傾卸檔案儲存由於在測試下 裝置上執行一邏輯模擬之資料； 第-比較器，其藉著比較來店該第一及第二記憶體資 料冏之定時關係，及對應於來自該L S I测試器之测試型 樣ώ該傾卸檔案擷取測試下裝置之輸出資料，用以同步化 該第一及第二記憶體中所儲存之資料； 第二比較器，Κ藉著比較來自該第一及第二記憶體資 料問之定時關係，及對應於來β該l s I测試器之測試型 樣…該傾卸檔案擷取測試下裝置之輸入資料，用以同步化 該第一及第二記憶體中所儲存之資料；及 本紙浪尺度逋用中國國家標隼（CNS ) Μ規格（210Χ297公釐} ------：---Γ—·^-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本育) 訂 經濟部智慧財產局Β工消費合作社印製 -18- 經濟部智慧財產居員工消費合作社印製 446867六、申請專利範圍 於該第-·比較器及該笫二比較器之問提供…裝置功能 加法電路，用以提供可加上或修改該測試下裝圄功能之資 料。 7 .根據中請專利範園第6項之高速测試型樣測値設 ，其中該第-記憶體及第二記憶體每一個包含多數小型 記憶體。 8，根據屮請®利範圃第6項之高速測試型樣測値設 備，其中該週期-事件轉換器係由硬體所形成。 9 .根據申請專利範岡第6項之高速測試型樣測値設 備，其中該週期-事件轉換器係由軟體所形成及該比較器 係由硬體所形成u -------------裝-------訂------線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張.尺度適用中國國家標準（CNS ) A4C格（210X297公釐） -19 -