TW434112B - Polishing pad and process for forming same - Google Patents
Polishing pad and process for forming same Download PDFInfo
- Publication number
- TW434112B TW434112B TW089102820A TW89102820A TW434112B TW 434112 B TW434112 B TW 434112B TW 089102820 A TW089102820 A TW 089102820A TW 89102820 A TW89102820 A TW 89102820A TW 434112 B TW434112 B TW 434112B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- polishing
- polishing pad
- cutting
- pad
- patent application
- Prior art date
Links
- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims abstract description 202
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims abstract description 34
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 10
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 48
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 17
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 14
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 10
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 9
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 7
- 230000002079 cooperative effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 4
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 claims description 4
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 claims description 4
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 claims description 3
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 claims description 2
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 abstract description 4
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229920000298 Cellophane Polymers 0.000 description 5
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 4
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 101100008048 Caenorhabditis elegans cut-4 gene Proteins 0.000 description 1
- 229910001018 Cast iron Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000008119 colloidal silica Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 239000010977 jade Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 210000002268 wool Anatomy 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/11—Lapping tools
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24D—TOOLS FOR GRINDING, BUFFING OR SHARPENING
- B24D11/00—Constructional features of flexible abrasive materials; Special features in the manufacture of such materials
- B24D11/06—Connecting the ends of materials, e.g. for making abrasive belts
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24D—TOOLS FOR GRINDING, BUFFING OR SHARPENING
- B24D13/00—Wheels having flexibly-acting working parts, e.g. buffing wheels; Mountings therefor
- B24D13/02—Wheels having flexibly-acting working parts, e.g. buffing wheels; Mountings therefor acting by their periphery
- B24D13/12—Wheels having flexibly-acting working parts, e.g. buffing wheels; Mountings therefor acting by their periphery comprising assemblies of felted or spongy material, e.g. felt, steel wool, foamed latex
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24D—TOOLS FOR GRINDING, BUFFING OR SHARPENING
- B24D13/00—Wheels having flexibly-acting working parts, e.g. buffing wheels; Mountings therefor
- B24D13/14—Wheels having flexibly-acting working parts, e.g. buffing wheels; Mountings therefor acting by the front face
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/10—Methods of surface bonding and/or assembly therefor
- Y10T156/1052—Methods of surface bonding and/or assembly therefor with cutting, punching, tearing or severing
- Y10T156/1062—Prior to assembly
- Y10T156/1066—Cutting to shape joining edge surfaces only
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/10—Methods of surface bonding and/or assembly therefor
- Y10T156/1052—Methods of surface bonding and/or assembly therefor with cutting, punching, tearing or severing
- Y10T156/1062—Prior to assembly
- Y10T156/1075—Prior to assembly of plural laminae from single stock and assembling to each other or to additional lamina
- Y10T156/1079—Joining of cut laminae end-to-end
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/19—Sheets or webs edge spliced or joined
- Y10T428/192—Sheets or webs coplanar
- Y10T428/195—Beveled, stepped, or skived in thickness
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/21—Circular sheet or circular blank
- Y10T428/213—Frictional
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Manufacture Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)
Description
A7 B7 五、發明說明(1 ) 發明背景 本發明關於半導體晶片之抛光,特別是關於一種方法, 其用以將晶片拋光塾之部份接合在一起形成一較大之複合 整,該複合墊呈平坦狀且能防止抛光流體之洩漏。 半導體晶片通常由單晶錠製成,例如矽錠,其切割爲個 別之晶片。每個晶片經過數項加工操作以便安裝積體電路 裝置並改良其彎曲強度,性能及可靠度。這些操作通常使 晶片變薄,消除因切割所造成之損害以及形成—平坦反射 之表面。半導體晶片之化學機械抛光係一種使晶片表面平 坦化之技術’其一般包括在溶液中利用一拋光墊摩擦一晶 片,以便產生相當平坦,高反射性且無損傷之表面,該溶 液含有研磨劑與化學藥品,例如膠態矽土與鹼性蝕刻劑。 爲使在半導體晶片準備過程中產能最大,拋光機器可用 用以拋光許多晶片。拋光機器通常承載者1 5至3 0個晶 片’其相對於一旋轉圓形轉盤移動並以一抛光I覆蓋者。 當拋光墊壓按著晶片時,拋光溶液流體或泥漿施配在抛光 墊表面上,單面拋光機器具有一圓盤以拋光晶片之一面, 雙面拋光機器具有兩個圓盤以同時抛光晶片之上下兩面。 圓盤一般由铸鐵製成,抛光墊一般由含聚亞胺酯之多元酯 毛氈製成’其厚度介於1.5至2.0 mm。抛光墊利用黏性裏 襯附著圓盤表面’抛光整及圓盤須相當的平坦以確保抛光 後之晶片表面相當的平坦。晶片搬運裝置及圓盤在抛光過 程中以相反方向旋轉一預先設定之時間,其一般爲5〇分 鐘。 本纸張尺度用中因國家標準(CNS)A4規格(2】0 >= 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) I -裝--------訂---------· 經濟即智慧时產局員工消費合作社印*'1^ 434 1 1 2 Λ7 B7 五、發明說明(2 ) 具有較大尺寸圓盤之拋光機器能夠拋光較大量之晶片, 因此對較小尺寸圓盤而言產量較大。矽晶片製造所使用抛 光機器之圓盤直徑爲2000 mm ’然而拋光墊製造商所生產 之圓形拋光墊尺寸通常小於1500 mm,其生產之長方形抛 光墊尺寸亦不足以切割出直徑爲2〇〇〇 mm之圓形抛光整。 因此,較小尺寸之抛光墊須接合在一起形成較大尺寸之複 合抛光墊。通常兩半圓形拋光墊在沿著直徑之接縫處接合 形成一圓形複合拋光整a 不幸的,拋光墊接合在一起之接縫處將洩漏,拋光泥漿 經過接缝未完全密封之間隙流至與圓盤接觸之底面。泥聚 中水氣使圓盤表面快速乳化’所形成之鐵錄將丨亏染泥衆, 且常常經由接縫回流至抛光墊正面,該鐵銹使拋光整之壽 年縮短並在晶片上造成鐵污染,其實質上使晶片表面品質 降低3 一種可能之解決方法以應用之接合材料將接縫密封,例 如喷霧密封劑,以防止泥漿流經間隙並與圓盤接觸s然 而,密封劑添加至拋光墊之外來材料並非均勻分佈且產生 不規則撓性之局部隆起及區域,其使拋光墊之有效平坦度 降低’接著造成拋光墊所拋光之晶片平坦度降低。因此, 施加至接縫之接合材料並非一通當之溶液。 發明概要 本發明之目的及特徵係在於提供一製程,其將抛光塾接 合在一起形成一較大之抛光墊,較大之拋光墊係配合一機 器以執行矽晶片(化學機械抛光;該製程所形成之拋光整 -5- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝--------訂---------^ 經-^智"?財產局員工消費合作社印製 經-部智慧財產局員工消費合作社印製 4 34 1 1 2"*- A7 五、發明說明(3 ) 具有一致之平坦度;該製程所形成之拋光整無須施加接合 材料:該製程可防止晶片受到鐵污染;該製程所形成之抛 光墊至少由兩相鄰之抛光墊组成,以覆蓋拋光機器之較大 尺寸圓盤;與該製程及所形成之抛光墊成本低廉。 本發明之製程係將第一抛光墊及第二抛光墊接合在一起 形成一較大之拋光墊,其配合一機器以執行矽晶片之化學 機械抛光,該製程包括置放第一及第二拋光墊於一表面 上’因此第二抛光墊之一部位與第一拋光墊之一部位重疊 產生一重疊區域。重疊區域中之第一及第二拋光墊切開以 便在第一拋光墊上形成第一切割邊緣,在第二抛光墊上形 成第二切割邊緣,該第一及第二切割邊緣之輪廓爲互補 的。將第一及第二切割邊緣置於啣接位置,並在該第一及 第二切割邊緣處將第一抛光墊接合至第二拋光整。 在另一概念中,本發明之複合抛光墊由至少兩相鄰之抛 光墊所形成,複合拋光墊係配合一機器以執行硬晶片之化 學機械拋光。複合抛光整包括第一拋光塾及第二抛光蟄, 第一拋光墊呈平坦狀且至少一邊緣係沿著整個長度以相同 之角度傾斜,第二拋光墊亦呈平坦狀且至少—邊緣係沿著 整個長度以相同之角度傾斜。第二拋光墊傾斜邊緣之角度 與第一抛光整傾斜邊緣之角度互補,傾斜邊緣以面對面= 方式在接縫處接合在一起。複合拋光墊之表面係連續伸展 經過接縫。 本發明其他目及特徵將部份揭示於后。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) · I I -----— — — — — —--- -6-
經濟却智#.?財產扃員工消費合作社印製 :M 2¾ A7 ________Β7 五、發明說明(4 ) 圖説概述 圖1爲本發明複合抛光墊之平面視圖,其覆蓋一機器之 圓盤’該機器執行矽晶之化學機械抛光; 圖2爲半圓形之部份第一抛光整之平面視,其以本發明 製程與第二拋光墊接合;與 圖3爲第一及第二抛光魯重疊切割部位之剖視圖。 圖説中對應之參數表示對應之零件。 較佳實例詳述 參見圖1 ’複合拋光墊10由覆蓋著機器一圓盤之拋光墊 兩鄰接部位形成,該機器執行矽晶片之化學機械抛光。抛 光墊10至平坦狀且其輪廓爲環狀圓形12,當抛光墊覆蓋 著圓盤時該圓形12與圓盤之輪廓(圖中未顯示)對齊。拋 光墊1 0之外徑1 4约與圓盤之外徑相同,内徑〗6約與圓盤 之内徑相同。拋光墊1 0在抛光流體中摩擦者矽晶片而將 其抛光,此時圓盤與晶片分割在相反之方向中旋轉。 複合拋光墊10之形成係將第一部份拋光墊20及第二部 份抛光塾2 2在接縫1 8處接合在一起,較佳具體實施例中 第一及第二部份抛光塾2 0及2 2在接缝1 8之接合係沿著環 狀圓形1 2之直徑2 8。然而,吾人能認知複合抛光熱1 〇之 形成可藉由任何形狀及任何數目之部份拋光|接合產生, 其形狀近似圓盤之輪廊。較佳具體實施例中各部份抛光整 由於拋光材料製成,例如含聚亞胺脂之多光g旨毛,其厚 度介於丨.5至2.0 mm。抛光整之底面被覆著—黏性裏觀材 料’其以玻璃紙覆蓋著’玻璃紙移開後才能露出黏性裏襯 表纸張义¥ 士 θ ®家標;Ϊ (CN-S)A4規格(2】ϋ X 297公釐〉 (請先閱讀背面之注音ϊ事項再填寫本頁) -裝--------訂---------f.
經濟部智慧財產局員工消費合作社印說 五、發明說明(5 ) 材料。 部份拋光墊20及22之形狀為環狀半圓形24,如圖2所 示,其相當狹小之細片2 6伸展通過直徑2 8以界定半圓形 之端部。若部份拋光墊20及22之形狀為長方形30或其他 非半圓形,拋光墊須利用一刀子或銳利之工具截剪為所需 之形狀24。事實上吾人已發現拋光墊10之初始尺寸宜略 大於圓盤’對2000 mm直徑之拋光墊而言,細片2 6約以4〇 mm伸展通過半圓形24之直徑28,半圓形24之外徑32大 於圓盤直徑25 mm ’半圓形2 4之内徑3 4小於圓盤内徑约6 mm 0 部份拋光墊2 0及2 2在接縫1 8處之接合為本發明製程之 關鍵,其將部份拋光墊接合在一起形成較大之複合拋光塾 1 0。製程之第一步係將第一部份拋光普2 0仔細的置於在 圓盤表面上’因此拋光墊20之半圓形24與圓盤之圓形對 齊。接著向上掀起拋光墊一小部份,移開部份玻璃紙露出 黏著劑以及將拋光整貼近圓盤使抛光整1固定至圓盤,此時 須留意避免在拋光墊及圓盤之間產生間隙或氣泡。利用一 在琦或手在圓盤上幸里壓抛光塾後第一抛光整2〇附著至圓 盤。伸展通過直徑2 8並界定半圓形2 4端部之狹小細片2 6 無須被壓按,因此細片未附著至圓盤。將第二拋光墊2 2置 於圓盤表面上,如圖1所示與圓盤對齊,故第二拋光塾22 一部位與第一拋光墊2 0 —部位重疊產生一重疊區域3 6。 較佳具體實施例中拋光墊2 〇及2 2_之尺寸及定位使2〇〇〇 mm 直從抛光整之重®區域36寬度W介於5〇及80 mm -8- 本纸張尺度適用中國國家標準(CNTS)A·!規格(210 X 297公釐) ----------- 裝--------訂---------吹 {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
經-部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(6 ) 之間,其他之重叠區域尺寸皆在本發明範圍中。吾人將覆 蓋著第二拋光塾2 2黏性裏襯之玻璃紙小心的移開並露出 黏著劑’以第一抛光墊20之相同方式在圓盤上輕壓抛光 墊後第二抛光墊22附著至圓盤。第二拋光墊22在重疊區 域3 6中之部位無須被壓按,故該部位未附著至圓盤。抛 光墊2 0及2 2之内側及外側周邊經過裁剪以配合圓盤之内 側及外侧周邊〇 利用刀子或其他切割工具切割重疊區域3 6中第一及第 二抛光墊2 0及2 2,此切割步驟係沿著環狀圓形1 2直徑2 8 之直線,並相對於圓盤表面爲一固定傾斜角38 =如圖1所 示,第一切割40伸展越過重疊拋光墊20及22之一半,第 二切割4 2並第一切割對準並伸展越過抛光墊另一半。一 直線邊緣或導引工具做爲協助器具以便直線切割,每次切 割40及42切斷第一抛光墊20—部份,其同時自其餘拋光 墊處切斷第二抛光墊2 2,切斷之部份約等於重疊區域3 6 中細片2 6,對2000 mm直徑拋光墊而言,切斷部份之寬度 介於2 5至38 mm。 切割步驟在第一抛光墊2 0上形成第一切割邊緣4 4,在 第二抛光墊2 2上形成第二切割邊緣4 6,切割過程中切割 工具相對於表面保持在傾斜角3 8,因此對整個切割長度 而言第一切割邊緣4 4及第二切割邊緣4 6具有固定之角度 3 8。如圖3所示,由於邊緣同時以相同之切割動作產生, 第一及第二切割邊緣4 4及4 6之輪廓係互補並相互對準3 較佳具體實施例中傾斜角3 8相對於抛光墊1 〇表面介於4 5 -9- 本%、佐乂度適用巾因囹家標準(CNSM4規格(2]〇 ^97公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝--------訂·--------. 4341 1 2 Λ7 R7 五、發明說明(7 ) 及60度形成傾斜邊緣44及46。 傾斜角3 8之方位使邊緣4 4及4 6自抛光墊1 〇上抛光流體 移動之方向48傾斜遠離。圓盤及抛光整在第一方向中轉 動,例如順時針方向,晶片支撑件及抛光流體在第二方向 中轉動,其與第一方向相反,例如逆時針方向。當傾斜刀 片在第一方向中切割時完成切割步驟,該第一方向即切割 邊緣自拋光墊正面抛光側邊50伸展至圓盤之方向。第一 及第二切割邊緣44及46自拋光流體移動方向48傾斜遠 離,其防止抛光流體在第一及第二切割邊緣之間流動*第 一及第二切割4 0及4 2係在相反之方向中。 ¾¾¾¾智慧財產局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 切割後將切開之碎片移開,切割邊緣4 4及4 6係接合在 一起。在圓盤表面上壓按第一及第二抛光墊20及22—段 時間,其係同時將第一及第二切割邊緣4 4及4 6壓按在一 起。較佳具體實施例中以至少約1500 dN之作用力壓著抛 光墊2 0及2 2,其作用時間爲一至二小時以便緊密的接合 第一及第二抛光墊,此時一抛光墊中聚胺酯及聚酯材料自 然的與另一拋光墊中相同材料接合。對雙面抛光機器而 言,抛光墊20及22壓按在一起之步驟係藉由機器壓按著 上方圓盤及下方圓盤加以完成。對單面抛光機器而言,拋 光整*20及22壓按在一起之步骤係藉由在抛光塾及圓盤上 壓按著一拋光塊或其他上具加以完成。 事實上,以本發明製程在複合拋光墊1 〇形成之接縫]8 然法爲吾人所觀視到。複合抛光"整1 0無需施加任何接合 忖料,且抛光墊係密封使拋光流體或鐵銹無法通過切割 -10- 本紙張义度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) '41 3411 Α7 ________B7_ 一 — — 玉、發明說明(8 ) 處。拋光墊10之抛光表面50連續伸展經過接缝,其均一 平坦度使拋光之晶片具有高表面品質及極佳之平坦度。 對雙面抛光機器而言’本發明製程至少執行乙次以形成 一抛光墊10而覆蓋著一下方圓盤,本發明製程重複至少 乙次以形成一拋光墊10而覆蓋者一上方圓盤,因此提供 具有兩圓盤之抛光塾。對上方圓盤而言,部份拋光塾20 及2 2置於下方圓盤上,其黏性側邊面朝上。在破璃紙保 護性裏襯撕開後’將上方圓盤下降直到部份圓盤2 〇及2 2 附著至上方圓盤爲止。切割步驟之實施類似下方圓盤之步 驟’但切割方向通常朝上。 由則文得知可完成本發明之目的並具有其他優點。 上述之各項變更皆在本發明之範脅中,其敘述與附圖之 說明僅係揭示之用,其並非對本發明有所限制。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) "---- 訂---------, ^-即智«?財產局員'工消費合作社£.製 Ά ’定鴻 ^ 家標ϋ'Ίΐ 規格(210 *11·
Claims (1)
- A8B8C8D8 六、申請專利範圍 ι· ~種製程,其用以將第一抛光墊及第二抛光墊接合在 ''起形成一較大之拋光墊,其配合一機器執行矽晶片 之化學機器抛光,該製程包括: 將第一抛光整置放在一表面上; 將第二抛光整置放在該表面上,因此第二拋光墊一部 位與第一抛光墊一部位重疊產生一重疊區域; 切割重疊區域中第一及第二拋光墊在第一抛光墊上形 成第一切割邊緣,在第二抛光墊上形成第二切割邊 緣’該第一及第二切割邊緣之輪廓係互補的; 將第一及第二切割邊緣置於今接位置;與 在第一及第二切割邊緣處將第一拋光塾接合至第二抛 光塾。 2·根據申請專利範圍第1項之製程,其中該切割步驟利用 —切割工具在切割過程中相對於該表面保持在固定之 倾斜角度,因此在整個切割長度上第—及第二切割邊 緣具有固定之角度》 3. 根據申請專利範圍第2項之製程,其中該切割步驟之切 割傾斜角度爲一銳角,第一切割方向與第二方向相 反’於機器拋光過程中抛光流體以第二方向在抛光塾 表面上移動,因此第一及第二切割邊緣自第二方向傾 斜遠離以防止抛光流體在第一及第二切割邊緣之間通 過。 4, 根據申請專利範園第2項之製程,其中該相對於表面之 傾斜角介於45及60度之間。 -12- 本紙張义度適用令^國家標準(CNS)A4規格(210 X 29;公釐)一~ __ (請先閲讀背面之;i意事項再填寫本頁} ---- 訂---------4. 經^部智总^產^貸工消费合作社印^;AS B8 C8 D8 、申請專利範圍 5-根據申請專利範園第丨項之製程,其步驟另包括在該表 面上壓按第一及第二抛光墊一段時間,因此第一抛光 塾第一切割邊緣與互補之第二抛光墊第二切割邊緣在 热施加任何接合材料之情況下接合,因此拋光墊可接 合在一起。 6‘根據申凊專利範圍第5項之製程,其中該壓按步驟所施 加之作用力至少約丨500 dN,其作用時間至少約1小 時〇 7‘根據申請專利範圍第1項之製程,其中該製程須至少執 行乙次以形成一抛光墊’其覆蓋者雙面抛光機器之底 面’該製程須重複至少乙次以形成一拋光墊,其覆蓋 者機器之頂面,因此可提供配合機器雙面之拋光替。 8. 根據申請專利範園第〗項之製程,其中該置放第—拋光 整之步驟包含將第一抛光墊附接至該表面,置放第二 拋光墊之步驟包含將第二拋光墊附接至與第一拋光墊 鄰接之表面。 9. 一種複合拋光墊,其用以覆蓋著一機器之圓盤,該機 器執行矽晶片之化學機器抛光,該複合抛光墊由至少 兩相鄰之抛光墊形成且包括: 一第一拋光整,其由拋光材料製成且呈平坦狀,其具 有至少一傾斜邊緣,該傾斜邊緣之傾斜角度沿著全部 長度保持不變;與 一第二拋光墊,其由拋光材料製成且呈平坦狀,其具 有至少一傾斜邊緣,該傾斜邊緣之傾斜角度沿著全部 -13- 本紙張尺.¾適用φ 闯家標準(CNS)AJ規格(L)10 x 297公釐) I---------- -裝--------訂---------" {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經-部智慧时產局員工消費合作社印製 4 3 2* A8B8C8D8 六、申請專利範圍 長度保持不變並與第一抛光墊之傾斜邊緣角度互補; 該傾斜邊緣在接縫處以面對面方式接合在—起,複合 拋光塾之表面係連續伸展經過該接缝β 1〇·根據申請專利範圍第9項之抛光蟄,其中該傾斜邊緣接 合在一起且接縫處未施加任何接合材料。 11.根據申請專利範圍第9項之抛光蟄,其中該傾斜邊緣相 互對齊。 12·根據申請專利範圍第9項之抛光墊,其中該第一及第二 拋光替爲環狀半圓形,其中該複合拋光替爲環狀圓 形’該接缝位於圓形之直徑處。 】3.根據申請專利範固第9項之抛光墊,其中該第一及第二 抛光墊由聚亞胺酯及多元酯製成。 ----------- J- --—— — — — — ^ ------ — I--^, <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ^濟部智慧財產局員工消费合作社印製 -14- 本纸張H遺用申S國家標準(CNSM4規格(210 X 29「公釐)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/252,698 US6179950B1 (en) | 1999-02-18 | 1999-02-18 | Polishing pad and process for forming same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW434112B true TW434112B (en) | 2001-05-16 |
Family
ID=22957137
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW089102820A TW434112B (en) | 1999-02-18 | 2000-02-29 | Polishing pad and process for forming same |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6179950B1 (zh) |
EP (1) | EP1152865A1 (zh) |
JP (1) | JP2002537642A (zh) |
KR (1) | KR20010102103A (zh) |
CN (1) | CN1341049A (zh) |
TW (1) | TW434112B (zh) |
WO (1) | WO2000048788A1 (zh) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10162597C1 (de) * | 2001-12-19 | 2003-03-20 | Wacker Siltronic Halbleitermat | Verfahren zur Herstellung beidseitig polierter Halbleiterscheiben |
US20030216111A1 (en) * | 2002-05-20 | 2003-11-20 | Nihon Microcoating Co., Ltd. | Non-foamed polishing pad and polishing method therewith |
US8602851B2 (en) * | 2003-06-09 | 2013-12-10 | Rohm And Haas Electronic Materials Cmp Holdings, Inc. | Controlled penetration subpad |
JP4484466B2 (ja) * | 2003-07-10 | 2010-06-16 | パナソニック株式会社 | 研磨方法およびその研磨方法に用いる粘弾性ポリッシャー |
DE102006032455A1 (de) * | 2006-07-13 | 2008-04-10 | Siltronic Ag | Verfahren zum gleichzeitigen beidseitigen Schleifen mehrerer Halbleiterscheiben sowie Halbleierscheibe mit hervorragender Ebenheit |
DE102011108859B4 (de) * | 2011-07-28 | 2016-06-02 | Gerd Eisenblätter Gmbh | Rotationssymmetrisches Werkzeug zur spanenden Bearbeitung von Materialoberflächen, Scheibe oder Ringscheibe zur Verwendung bei einem derartigen Werkzeug sowie Verfahren zur Herstellung eines solchen Werkzeugs |
ITMI20130734A1 (it) * | 2013-05-07 | 2014-11-08 | Ren S R L | Utensile abrasivo |
US10105812B2 (en) * | 2014-07-17 | 2018-10-23 | Applied Materials, Inc. | Polishing pad configuration and polishing pad support |
EP3272457B1 (en) * | 2016-07-21 | 2019-03-27 | Delamare Sovra | A method for manufacturing in series optical grade polishing tools |
EP3272456B1 (en) * | 2016-07-21 | 2019-03-13 | Delamare Sovra | A method for manufacturing in series optical grade polishing tools |
EP3272458B1 (en) * | 2016-07-21 | 2019-03-27 | Delamare Sovra | A method for manufacturing in series optical grade polishing tools |
JP6579056B2 (ja) * | 2016-07-29 | 2019-09-25 | 株式会社Sumco | ウェーハの両面研磨方法 |
JP2020001162A (ja) | 2018-06-28 | 2020-01-09 | 株式会社荏原製作所 | 研磨パッド積層体、研磨パッド位置決め治具、および研磨パッドを研磨テーブルに貼り付ける方法 |
JP7205423B2 (ja) * | 2018-12-17 | 2023-01-17 | Agc株式会社 | ガラス基板の保持用膜体、及びガラス基板の研磨方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3053020A (en) | 1959-04-21 | 1962-09-11 | Carborundum Co | Sectional coated abrasive belt and process of making the same |
US4177100A (en) * | 1976-12-13 | 1979-12-04 | William Pennington | Plastic sheet sealing process and apparatus |
JPS6048264A (ja) | 1983-08-26 | 1985-03-15 | Ryozo Abo | 接合研摩布紙ベルト |
DE3508644A1 (de) * | 1985-03-12 | 1986-09-18 | Bayer Ag, 5090 Leverkusen | Verfahren und verbindung von profilen |
US4755429A (en) * | 1986-11-03 | 1988-07-05 | International Fuel Cells Corporation | Composite graphite separator plate for fuel cell stack |
US5534106A (en) | 1994-07-26 | 1996-07-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus for processing semiconductor wafers |
-
1999
- 1999-02-18 US US09/252,698 patent/US6179950B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-02-02 KR KR1020017010250A patent/KR20010102103A/ko not_active Application Discontinuation
- 2000-02-02 CN CN00803969A patent/CN1341049A/zh active Pending
- 2000-02-02 EP EP00908441A patent/EP1152865A1/en not_active Ceased
- 2000-02-02 WO PCT/US2000/002612 patent/WO2000048788A1/en not_active Application Discontinuation
- 2000-02-02 JP JP2000599558A patent/JP2002537642A/ja not_active Withdrawn
- 2000-02-29 TW TW089102820A patent/TW434112B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6179950B1 (en) | 2001-01-30 |
KR20010102103A (ko) | 2001-11-15 |
EP1152865A1 (en) | 2001-11-14 |
WO2000048788A1 (en) | 2000-08-24 |
CN1341049A (zh) | 2002-03-20 |
JP2002537642A (ja) | 2002-11-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW434112B (en) | Polishing pad and process for forming same | |
TW379378B (en) | CMP wafer carrier for preferential polishing of a wafer | |
TW542767B (en) | Polishing pad | |
TW516991B (en) | Substrate holding apparatus and substrate polishing apparatus | |
US5522965A (en) | Compact system and method for chemical-mechanical polishing utilizing energy coupled to the polishing pad/water interface | |
US6261958B1 (en) | Method for performing chemical-mechanical polishing | |
US6352927B2 (en) | Semiconductor wafer and method for fabrication thereof | |
JP6401319B2 (ja) | 研磨装置 | |
JPH0758066A (ja) | ウェーハの研磨方法 | |
US3959935A (en) | Abrasive pad for grinding lenses | |
KR960015777A (ko) | 폴리싱장치 | |
KR930022483A (ko) | 초음파 교반을 이용한 슬러리 폴리셔 | |
JP2007075949A (ja) | 研磨プラテン、研磨装置 | |
TW471996B (en) | Method and apparatus for conditioning grinding stones | |
TW520320B (en) | Optimal offset, pad size and pad shape for CMP buffing and polishing | |
TW505967B (en) | Wafer carrier structure of chemical mechanical polishing device | |
TW509991B (en) | Method of manufacturing semiconductor wafer | |
TW466156B (en) | Method of conditioning wafer polishing pads | |
TW425327B (en) | Polishing method and polishing apparatus | |
TW200527523A (en) | Chemical mechanical polishing system | |
US3522680A (en) | Expanded metal facing for a lens abrading tool | |
TW393368B (en) | Polishing pad, method and apparatus for treating polishing pad and polishing method | |
JP4023247B2 (ja) | 研磨布の上定盤への取付方法 | |
TW490363B (en) | Improved diaphragm for chemical mechanical polisher | |
JPH10156710A (ja) | 薄板の研磨方法および研磨装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent |