TW381263B - Apparatus and method for a parity check logic circuit in a dynamic random access memory - Google Patents

Apparatus and method for a parity check logic circuit in a dynamic random access memory Download PDF

Info

Publication number
TW381263B
TW381263B TW086103330A TW86103330A TW381263B TW 381263 B TW381263 B TW 381263B TW 086103330 A TW086103330 A TW 086103330A TW 86103330 A TW86103330 A TW 86103330A TW 381263 B TW381263 B TW 381263B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
signal
parity
unit
combined
data
Prior art date
Application number
TW086103330A
Other languages
English (en)
Inventor
Masashi Hashimoto
Original Assignee
Texas Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Texas Instruments Inc filed Critical Texas Instruments Inc
Application granted granted Critical
Publication of TW381263B publication Critical patent/TW381263B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1008Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1008Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
    • G06F11/1048Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices using arrangements adapted for a specific error detection or correction feature
    • G06F11/1056Updating check bits on partial write, i.e. read/modify/write

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Detection And Correction Of Errors (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Description

經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 ' , 五、發明説明(i ) 發明背景 1. 發明領域 本發明大體上有關於金屬-氧化物-半導體動態隨機存取 記憶體單元,且特别有關於欲寫入記憶體單元或自記憶體 單元讀取之資料中之誤差檢測。 2. 相關技術描述 丨 由於動態隨機存取記憶體中之元件已變得較小,因此減 少之電荷及電流使得裝置易受一些事件影響,此等事件,. 甚至在功能性記憶體胞元(cell)單元存在之場合,會破壞 由半導體記憶體單元所處理信號之完整性。例如,於DRAM 記憶體儲存胞元上之阿爾發(alpha)粒子之衝擊會破壞儲 存在該處之資料。由此或類似機構所造成胞元中儲存資料 之破壞係稱爲"軟"誤差。"軟"誤差標示非永遠之資料誤差 ,即,無可重製性。雖依此方式產生之誤差相當稀少,但 必須提供此等誤差之檢測。因爲此等"軟"誤差並非相當頻 繁,故檢測此等誤差存在之裝置增添相當大之額外裝置經 常性負擔。 爲能檢測誤差,一般方法係儲存藉由處理資料(邏輯)信 號群所產生之同位信號,與資料信號結合。此同位信號之 特性係其邏輯狀態會因資料信號邏輯狀態之改變而改變。 因此,此結合之同位信號可用以檢測資料信號群中誤差之 存在。當資料群欲存入記憶體單元中時,同位信號產生裝 置產生同位信號用於資料群。同位信號係伴隨資料群而存 入,使得當資料群自記憶體單元儲存胞元中取出時,亦將 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(2 ) 同位、偉號取出。產生被取出資料群之同位並將其與随資料 群取山之同位信號比較,以決定是否產生誤差◊於許多類 型之資料處理架構中,係於處理單元與記憶體單元之間傳 輸資料群序列β於此架構中,單一同位信號可用於資料群 序列。於讀取-修改-寫入之記憶體“作中產生進一步複雜 性,其中資料群序列之單一資料群自記憶體單元之儲存胞 元中取出、修改、並再度存入其被取出之位置β同位核對 邏輯裝置必須能於此類型之記憶體操作中運作。 因此,吾人需求裝置及有關之技術,其可於dram纪憶赞 單元中辨識誤差,而不須過量之额外裝置,且可配合所有 典型之記憶體操作。 發明概要 依據本發明.,上述及其他特徵之完成係藉由提供同位作 號核對邏輯裝置,其決定多個於記憶體單元存取期間在資 料匯流排上傳輸之序列資料群之同位。決定第一資料群之. 同位,且將辨識同位之信號儲存在暫存器中。決定第二資 料群之同位,且將辨識第二資料群同位之信號與表示第_ 資料群同位之信號結合,並將結合之同位存入暫存器中。 此處理繼續進行,直至產生表示整個資料群序列同位之信 號爲止。此最後結合之同位信號於記憶體單元寫入操作; 存入與資料群序列結合之記憶體儲存胞元中。於記憶體讀 取操作中,最後結合之同位信號係與隨資料群序列存人^ 同位信號相比較,且當此等同位信號不一致時,產生旗我 "is號。於讀取一修改一寫入之操作中,係產'生同位信號用' -4 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) •I訂· 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 - A7 B7 , 五、發明説明(3 ) 於取出(讀取)之信號群。然後,產生同位用於欲寫入儲存 胞元之資料群(即,已修改之信號群〉,並將其與取出信 號群之同位相比較。若此等同位信號不相同,則與含有資 料群之資料群序列結合之記憶體單元中所儲存之同位信號 被修改。 本發明之此等及其他特徵於參閲伴隨圖式之説明書可獲 致瞭解。 圖式簡要説明 、圖1係依據本發明之同位核對邏輯電路於寫入操作模式 之示意圖。 圖2係依據本發明之同位核對邏輯電路於讀取操作模式 之示意圖。 _ 圖3係粮據本發明之同位核對邏輯電路於讀取-修改-寫 入之操作模式之示意圖。 較佳實施例説明 1.圖式詳細説明 茲參照圖1,其顯示本發明同位核對電路於寫入操作模 式之示意圖。資料匯流排5與同位信號產生電路10連接。 於此較佳實施例中,輸入/輸出資料匯流排5具有16個導 體,各導體攜帶資料信號群之一。資料匯流排5之各導體 係連接至8個互斥NOR邏輯閘101之一之一輸入端。各互斥 NOR邏輯閘101之輸出端係連接至4個互斥NOR邏輯閘102之 一輸入端。互斥N0R邏輯閘102之各輸出端係連接至2個互 斥NOR邏辑閘103之一輸入端。互斥NOR邏輯閘103之各輸出 -5- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4規格(210X297公釐) ---------II (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂- Α7 Β7 五、發明説明(4) 端係連接至互斥NOR邏輯閛104之輸入端。互斥NOR閘104之 輸出端,其係同位產生電路10之輸出端,係連接至互斥0R 閘Π之第一輸入端。互斥OR邏輯閘11之輸出端係連接至 NAND邏輯閘14之第一輸入端,且經由多工器19,係連接至 計數器/暫存器12之輸入端。計數器暫存器12之輸出端係 連接至互斥0R邏輯閘11之第二輸入端。計數器13接收時脈 信號CLK且施加輸出信號至NAND邏輯閉14之第二輸入端。 NAND邏輯閘14之輸出信號係施加至反相放大器15之輸入端 。反相放大器15係由W ONLY信號分别以邏輯"Γ狀態或邏 輯"0"狀態予以致能(enable)或除能(disable)。反相放大 器15之輸出信號係同位(邏輯)信號。 參照圖2,係顯示本發明同位核對遥輯電路於讀取 操作之上示意圖。資料匯流排5、同位信號產生電路1〇、 計數器13、計數器/暫存器12、以及NAND邏輯閘14係如參 照圖1所述方式連接。然而,圖1之反相放大器15不再由* W ONLY信號所致能。另設置反相放大器21,接收MREG-P信 號,此信號指示欲讀取資料群之同位。R ONLY信號施加至 NAND邏輯閘201之第一輸入端且施加至MND邏輯閘202之第 一輸入端。NAND邏輯閘201之第二輸入端接收來自NAND邏 輯閘14之輸出信號。來自反相放大器21之輸出信號施加至 NAND邏輯閘202之第二輸入端,而來自計數器13之輸出信 號施加至NAND邏輯閘202之第三輸入端。NAND閘201及202 之輸出端連接至互斥或邏輯閘203之輸入端。輸出信號PFLG 係由異斥0R閘203之輸出端所提供。 β照圖3,係顯示依據本發明之同位核對邏輯電路用於 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4规格(210X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 -s
經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 _;______B7 五、發明説明(5 ) 讀取-修改-寫入操作之示意圖。資料匯流排5連接至同位 信號產生電路10,且同位信號產生電路10之輸出連接至互 斥0R邏輯閘11之第一輸入端。同位信號產生電路10之輸出 端亦經由多工器19連接至計數器/暫存器12之輸入端。計 數器/暫存器12之輸出端連接至互斥⑽閘π之第二輸入端 。亙斥0R閘11之輸出端連接至邏輯閘31之第一輸入端 。N0R邏輯閛31之第二輸入端接收rmw ONLY信號。N0R邏輯 閘31之輸出端連接至反相放大器33之除能或致能端,並速 接至反相放大器32之致能或除能端,放大器33分别由邏輯 •'Γ信號予以除能且由邏輯"0"信號予以致能,放大器32分 别由邏輯"Γ信號予以致能且由遲輯_·〇··信號予以除能。 MREG-P信號施加至反相放大器21之輸入端。反相放大器21 之輸出端連接至反相放大器33之輸入端。反相放大器33之 輸出端連接至反相放大器32之輸入端。反相放大器32之輸 出端連接至反相放大器21之輸入端。 2.較佳實施例換作 參照圖1、2及3,讀取操作模式、寫入操作模式以及 讀取-修改-寫入操作模式共用一組相同元件。於各圖中, 各操作模式未使用之元件係以虚線顯彔。 本發明非常有利於用於管線(pipeline)結構,其中與記 憶體單元之交互作用包含將多個資料群依序存入記憶體單 元或自記憶體單元讀取。因爲序列之各資料群係於資料匯 流排5上傳輸,故同位信號產生電路決定被傳輸資料群之同 位。對於寫入操作,係將計數器/暫存器12初始化。初始 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS). (21〇 χ 2.97公釐.) (請先閔讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 A7 A7 ¾濟部中央檩準局貝Η增費合作^4,5-製 五、發明説明(6 ) 化之*十數器/暫存器12施加〜信號至互斥〇R邏輯閉n之輸 入端,經由遥辑㈣可傳輪〜信號。當第—資料群於資料 匯流排5上傳輸時,同位信號產生電路提供同位信號。然 後此同位仏號經由(切始化之)互斥〇R邏辑閘服加至計 數器/暫存器12〇施加至計數器/暫存器12之同位信號被 儲存在計數器/暫存器12中且施加至互轉邏輯閘u之輸 端。當第二資料群於資科匯流排5上傳輸時,同位信號產 &電路10決第二資料群之同位且施加適當之信號至互斥 0R邏,閘11之輸入端。因爲第—資料群之同位信號係施加 輸\端’故互請遥辑閉狀輸出信號具有第一及 -資科群之同位。此結合之同位信號被儲存在計數器/ 存器12中且施加至互斥〇R邏輯閛此控制端。由於各資 $群在資科匯流排5上傳輸,故計數器/暫存器12中所儲 位足^合之同位被更新且表示所有先前資料群之結合之同 ^ q讀取'修改-寫入信號改變多卫器19之狀態,使得計數-/暫存器12之輸入端連接至互斥N0R邏輯閘1〇4之輸出端 ,而非連接至互斥OR邏辑閘u之輸出端。 同=數器13接收時脈(CLK)信號。時脈信號與資料群傳輸 作。於寫入操作中,當接收到指示序列最後資料群之時 IUn*號^,計數器13提供一信號至NAND邏輯閘14之輸入, D邏輯閘14允許結合或形成之同位信號被儲存在記憶體 輿^中與資料群序雜合之位置中◊於讀取操作中,來自 同資料群序列結合之儲存位置之同位信號(MREG-P)係與由 5位核對電路所產生之此資料群序列之同位相比較。當此 8 (CNS ) A4规格(210X297公釐) (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) -m n 1^1 1>1 HI In ,一'§J-s fn m - I I -m I - In s I I - - -- -I _ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(7) 比較不一致時,產生旗標(PFLG)信號,指示讀取資料中存 在誤差。回應與自記憶體單元儲存位置取得資料信號序列 同步之CLK偉號,計數器13將NAND邏輯閛14致能,並將NAND 邏輯咏201及202致能,使能產生旗標信號。 於讀取-修改-寫入操作中,欲修改資料群序列之一部分 。於本發明中,係取出特定資料群(即,來自欲修改之序 列),予以修改,並儲存在與資料群被取出位置相同之位 置中,而非取出整個資料群序列,修改指定之資料群,单 儲存修改之資料群序列於相同記憶體位置中。取出資料群 中之任何修改會造成取出資料群同位之改變,此使得整個 資料群序列之同位改變。爲於與儲存(及修改)之資料群 序列結合之同位信號中提供適當之改變,當於此操作中各 取出資料群被施加至資料匯流排5時,係產生取出資料群 之同位信號。此同位信號藉由以RMW ONLY信號驅動之多工 器19而儲存在計數器/暫存器12中。於資料群修改後’當’ 修改之資料群施加至資料匯流排5用以儲存時,係產生修 改之資料群之同位信號。此同位信號係與計數器/暫存器 12中儲存之同位信號相比較。若二信號不相同,則儲存在 MREGP儲存位置中且與整個資料群序列結合之同位信號係 藉由反相放大器21及邏輯閘31-33而改變成相反邏輯狀態 。依此方式,所儲存資料信號之同位係與所結合之儲存資 料群序列一致。 雖已特别參照較佳實施例描述本發明,佴熟習此技術人 士會明瞭,在不偏離本發明下,可爲較佳實施例之各種改 -9 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4規格(210X297公釐) -----------Q II {請先聞讀背面之注項再填寫本頁) 訂 B7 五、發明説明(8 ) 變及元件等效替代。此外,在不偏離本發明實質敎示下, 可爲多種修飾以適應本發明敎示之特殊情況及材料。 自上述討論可顯知,本發明之一些方面並未受限於所述 實施例之特定細節,且囡此預期熟習此技術人士可爲其他 修飾及應用。例如,雖以互斥NOR邁輯閛實施同位產生單 元,但此單元同樣亦可以其他邁輯元件,例如互斥⑽邏輯 閘,予以實施。因此意欲以申請專利範園涵蓋不偏離本發 明精神及範園之所有修飾及應用。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 10 Λ 準 標 家 Μ \1/ S :Ν 一釐一祕 29 X 10

Claims (1)

  1. ___ £1__ ___ £1__ 經濟部中央揲率局貝工消费合作社印装 A8 B8 六、申請專利範圍 1.一種同位核對電路,用於動態随機存取記憶體單元,此 電路包含: 資料隹流排; 同位信號產生單元,連接至資料醞流排,用以產生由 資料匯流排傳輸之資料信號群所決定之同位信號; 同位結合單元,用以將目前產生之同位信號輿锗存之 信號結合而提供結合之同位信號;以及 計數器單元,用以於多個資料信號群傳輸後,將結合; 之同位信號之傳輸致能。 ϋ申請專利範國第1項之同位核种黨路,其中計數器單 元係回應於時脈信婕。 如申請專利範國第i項之同位核對電路,復包含蘭極單 元,回應於寫入信號,用以將結合之同位信號儲存在記 憶體單元位置中。 本如申請專利範团第1項之同位核對電路,復包含: 比較重路,比較電路之第一輸入端具有施加至其上之 储存之同位信號;以及 閘極單元,回應於讀取信號,用以施加結合之同位信 號至比較電路,當結合之同位信號與儲存之同位信號不 一致時,比較電路施加旗標信號至輸出蟋。 5.如申請專利範困第1項之同位核對重路,其中同位結合 單元係構建如比較單元,當施加至資料匯流排之兩個連 續資料信號提供不同之同位信號時,比較單元提供誤差 信號,同位核對單元復包含閑極單元連接至儲存位蕙且 -11 - 本紙張迷用中國國家棣牟(CNS)八4狀(210x297公產) (請先聞讀背面之注$項再填寫本頁) 、1T. d 六、申請專利範園 連接至比較單元’用以回應於誤差信號及讀取-修改-窝 入信號而改變锻存在錄存位置中之邏輯信號。 如申請專利範國第1項之同位核對霣路,其中同位產生 電路含有互斥NOR邏輯閘。 7.如申請專利範面第1項之同位核對電路,其中同位產生 電路含有互斥OR邏輯閘。 务.一種核對主記憶髏資料匯流棑上傳輸之资料群序列之同 位之方法,此方法包含諸步驟: a) 產生第一資料群之第一同位信號; b) 餚存第一同位信號,作爲儲存之同位信號; c) 產生次一序列資料群之次一同位信號; d) 將次一同位信號與儲存之同位信號结合,以提供結合 之資料信號; e) 媸存結合之資料信號,作爲储存之同位信號; 0重複步驟c)至e),直到最後序列資料群之同位信號輿 储存之同位信號結合,以形成最後結合之同位信號; 以及 g)於寫入操作時將最後結合之同位信號镛存在輿資料群 序列結合之記憶體位置中。 0.如申請專利範面第8項之方法,復包含諸步驟: h) 於讀取操作中,將最後結合之同位信號相比較於與資 料群結合之同位信珑;以及 i) 當結合之同位信號舆最後結合之同位信號不一致時’ 產生旗標信號β -12 - 本紙張尺度逍用中國國家揉準(CNS ) Α4规格(210X297公釐) f r7n - δ «1 <3 ίί 3 Β8 ___g_—六、申請專利範園 如申請專利範圍第8項之方法,其中第一資料群係取 自記憶單元,且次一序列資料群係已修改之第一資料群 而將予以儲存在記憶單元中,此方法以下列步騍取代步 驟b)及d)至g): h) 比較第一同位信號與次一同位信號;以及 i) 當第一同位信號與次一同位信號不相同時,將儲存在 記憶單元中且與含有第一資料群之資料群序列結合之 同位信號改變至相反邏輯狀態。 11. 一種同位核對電路,用於記憶單元中,其中多個序列 資料群係經由資料匯流排而與處理單元交換,此電路包 含: 同位產生單元,連接至資料匯流排,且產生資料匯流 排所傳輸信號群之同位信號; 結合單元,連接至同位產生單元,用以回應第一控制 信號而結合同位信號與次一序列之同位,以提供結合之’ 信號,結合單元回應第二控制信號而比較同位信號與次 一序列之同位信號,以提供比較信號; 比較單元;以及 閘極單元,回應寫入信號而施加結合之同位信號至記 憶單元中之儲存胞元,回應讀取信號而施加結合之信號 至比較單元。 12. 如申請專利範園第11項之同位核對電路,其中比較單 元將回應取自記憶單元之資料群序列所產生之結合之同 位信號相比較於與取自記憶單元之資料群序列結合乏儲 "\ J mi nn mi If ttun US— ···> I. H^nfl (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂-- ΙΘ. • .ml ί 1 i—xv nn fm mf mu I-
    本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ίί 8 i 2 6 3 β8 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 存之同位信號,當比較結果不一致時,比較單元產生旗 標信號。 ' 13. 如申請專利範園第Π項之同位核對電路,其中第二控 制信號係讀取-修改-寫入信號,同位核對電路復包含改 變裝置回應於比較信號用以改變儲存在記憶單元中之同 位信號之邏輯狀態,儲存在記憶單元中之同位信號係與 欲予以修改之資料群結合。 14. 如申請專利範園第11項之同位核對電路,其中同位產 生單元由多個互斥OR邏輯閘組成。 15. 如申請專利範園第11項之同位核對電路,其中閘極電 路回應於時脈(CLK)信號。 16. 如申請專利範園第15項之同位核對電路,其中多個序 列資料群係與時脈(CLK)信號同步。 17. 如申請專利範園第11項之同位核對電路,其中結合單 元含有: 計數器/暫存器單元,用以儲存同位信號; OR邏輯閘,具有第一輸入端連接至同位產生單元;以 及多工器,回應第一控制信號而將來自OR閘之輸出信號 施加至計數器/暫存器單元,多工器回應第二控制信號 而將來自同位產生電路之輸出信號施加至計數器/暫存 器單元。pH (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 1T i 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)
TW086103330A 1996-03-21 1997-03-18 Apparatus and method for a parity check logic circuit in a dynamic random access memory TW381263B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/619,392 US5825204A (en) 1996-03-21 1996-03-21 Apparatus and method for a party check logic circuit in a dynamic random access memory

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW381263B true TW381263B (en) 2000-02-01

Family

ID=24481739

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW086103330A TW381263B (en) 1996-03-21 1997-03-18 Apparatus and method for a parity check logic circuit in a dynamic random access memory

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5825204A (zh)
JP (1) JPH09330274A (zh)
KR (1) KR970067382A (zh)
TW (1) TW381263B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110876277A (zh) * 2018-07-03 2020-03-10 联发科技股份有限公司 支持链路错误检查和纠正功能的用于dram的奇偶校验训练方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7287213B1 (en) * 2001-04-24 2007-10-23 Stratalight Communications, Inc. Method and system to provide modular parallel precoding in optical duobinary transmission systems
US7205986B2 (en) * 2002-12-18 2007-04-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Image display device and testing method of the same
JP4624109B2 (ja) * 2003-03-25 2011-02-02 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の検査回路
US7518602B2 (en) * 2004-12-06 2009-04-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Test circuit and display device having the same
US8589841B2 (en) * 2012-04-05 2013-11-19 International Business Machines Corporation Automatic parity checking identification
KR20160068369A (ko) * 2014-12-05 2016-06-15 에스케이하이닉스 주식회사 패리티 체크 회로 및 이를 포함하는 메모리 장치
CN116935938A (zh) * 2022-04-02 2023-10-24 长鑫存储技术有限公司 检测电路
US11837304B2 (en) 2022-04-02 2023-12-05 Changxin Memory Technologies, Inc. Detection circuit

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4262358A (en) * 1979-06-28 1981-04-14 Motorola, Inc. DES Parity check system
US4443876A (en) * 1981-08-31 1984-04-17 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Fast parity generation for find low order zero circuit
US4879675A (en) * 1988-02-17 1989-11-07 International Business Machines Corporation Parity generator circuit and method
US5339322A (en) * 1991-03-29 1994-08-16 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Cache tag parity detect circuit
US5606662A (en) * 1995-03-24 1997-02-25 Advanced Micro Devices, Inc. Auto DRAM parity enable/disable mechanism

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110876277A (zh) * 2018-07-03 2020-03-10 联发科技股份有限公司 支持链路错误检查和纠正功能的用于dram的奇偶校验训练方法
CN110876277B (zh) * 2018-07-03 2023-09-29 联发科技股份有限公司 用于dram的奇偶校验训练方法及存储器系统

Also Published As

Publication number Publication date
KR970067382A (ko) 1997-10-13
US5825204A (en) 1998-10-20
JPH09330274A (ja) 1997-12-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW436799B (en) Multi-bit memory device having error check and correction circuit and method for checking and correcting data errors therein
US5872802A (en) Parity generation and check circuit and method in read data path
KR950012022B1 (ko) 파이프라인 방식의 룩 어헤드 판독 기능을 가진 직렬 메모리 및 그 판독방법
JPS6321280B2 (zh)
TW381263B (en) Apparatus and method for a parity check logic circuit in a dynamic random access memory
JP2779538B2 (ja) 半導体集積回路メモリのためのテスト信号発生器およびテスト方法
US20030097526A1 (en) High-speed first-in-first-out buffer
US5291453A (en) Serial memory apparatus having units for presetting reading bit lines to a given voltage
TW446956B (en) A semiconductor memory device with a parallel bit test circuit built therein
JP2819624B2 (ja) ディジタル信号再生装置
KR960012005A (ko) 반도체 메모리
TW425565B (en) Semiconductor memory device and method of burn-in testing
US5434871A (en) Continuous embedded parity checking for error detection in memory structures
TW516216B (en) Semiconductor device
US6510483B1 (en) Circuit, architecture and method for reading an address counter and/or matching a bus width through one or more synchronous ports
TW394847B (en) Parallel bit test circuit for testing a semiconductor device in parallel bits
TW503398B (en) Semiconductor device and semiconductor device testing method
JP2873229B2 (ja) バッファメモリ制御装置
US7127646B1 (en) System and method for generating real time errors for device testing
JPS62192837A (ja) デ−タ保持回路
TW401568B (en) Semiconductor integrated circuit device
TW320795B (en) Appendix 1 of method for re-utilization of faulty RAM
JPH09274599A (ja) バッファメモリ装置
JP2744298B2 (ja) バッファ制御用計数回路の障害検出方式
JP3114177B2 (ja) エラー訂正回路

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees