TW318275B - - Google Patents

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Description

31S275 B7 經濟部中央揉準局貝工消费合作社印製 五、 發明説明 ( ) Ί 産 業 上 的 利 用 領 域 1 1 本 發 明 像 蘭 於 引 線 構 架 及 其 製 造 方 法 f 尤 其 是 指 在 外 1 I 引 線 的 端 部 藉 外 引 線 舆 其 他 金 JB 材 料 組 成 的 阻 蝕 層 , 連 請 1 1 | 接 比 外 引 線 更 細 的 内 引 線 基 部 侧 之 引 線 構 架 及 其 製 造 方 先 閲 1 1 法 〇 •Λ 背 1 | 之 1 習 知 技 術 注 意 古 1 I 引 線 構 架 是 將 由 外 引 線 用 厚 鑲 層 阻 蝕 用 鋁 層 和 内 Ύ 項 再 1 1 Μ 引 線 用 薄 銅 層 積 磨 成 三 層 構 造 的 引 線 構 架 材 料 , 利 用 蝕 % 窝 1 刻 加 工 而 得 〇 見 於 B 本 專 利 申 鯖 案 平 3- 274843號 〇 頁 1 1 第 6 圈 即 表 示 此 種 引 線 構 架 一 習 知 例 之 斷 面 國 〇 1 I 在 第 6 圖 中 $ a 為 引 線 構 架 i b 為 銅 製 外 引 線 y 在 其 1 I 基 部 表 面 形 成 鋁 製 阻 蝕 層 C P 於 該 阻 独 層 C 固 定 以 m 製 1 訂 薄 内 引 線 d 的 基 部 而 在 該 内 引 線 d 的 前 «-»1* 端 部 形 成 例 如 1 1 鋁 製 隆 部 e 〇 1 | 於 是 , 内 引 線 d 的 前 端 部 * 藉 隆 部 e 結 合 於 半 導 體 晶 1 Η f 的 霣 棰 墊 8 〇 h 為 密 封 半 導 龌 晶 Η f 的 密 封 樹 脂 〇 |嫜 線 這 些 引 線 構 架 a 向 來 是 針 對 上 述 三 層 構 造 的 引 線 構 架 1 1 材 料 分 別 對 外 引 線 用銅 層 和 内 引 線 用 銅 層 加 以 選 擇 性 1 | 蝕 刻 而 製 成 〇 此 時 是 利 用 鋁 製 阻 蝕 層 阻 止 因 内 引 線 之 I 蝕 刻 作 業 蝕 刻 到 外 引 線 和 因 外 引 線 之 蝕 刻 作 業 蝕 刻 到 1 1 内 引 線 〇 1 1 又 » 為 避 免 内 引 線 因 側 面 蝕 刻 而 妨 礙 高 密 距 化 採 用 1 1 技 術 是 將 阻 體 膜 遮 蔽 9 加 以 鍍 3- 銅 形 成 内 引 線 〇 1 1 1 1 1 本纸張尺度逍用中國國家橾準(CNS ) A4规格(210X297公釐) 經濟部中央梯準局貝工消費合作社印製 31S275 at _B7____ 五、發明説明() 發明要解決的課題 惟此種習知引線構架a,對於提高鋁和銅的接合強度 有其限度,故有難以充分提高外引線b與内引線d接合 性的問題。意即外引線b與内引線d間,由於介入銘製 阻蝕層c故毫無直接接合的部份。 此種習知引線構桨a因像使用三層構造的引線構架材 料,外引線的圖型形成(patterning)不得不利用單面独 刻形成,結果無法避免側面蝕刻置加大。因此,高密距 化自然有其限度,無法應付超高積龌化的要求。 此外,此種習知引線構架a雖加以樹脂密封等,以製 成1C,但使用日久,水分會侵入樹脂h中,因鋁和銅而 發生局部m池,因此促進水對鋁進行腐蝕° 另按照將阻體膜作為遮蔽加入霣鍍而形成内引線之技 術,即使可期待内引線的高密距化,但外引線仍無法高 密距化。故1C的高積體化和多銷化,便要求引線構架的 外引線之高密距化。 本發明之目的在於解決上述問題,提供引線構架及其 製造方法,以謀求引線構架的外引線之高密距化,更進 一步地提高外引線和内引線的接合性,且可防止外引線 、内引線和阻蝕層間形成局部電池,而避免阻蝕層之激 烈腐蝕。 解決課題的手段 申請專利範圍第1項的引線構架,其待激為,内引線 —4 - 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) 、裝— (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
U 312275 A7 B7 經濟部中央梯準為貝工消费合作社印«. 五、發明説明() 的基端部經上述阻姓層的侧面,延伸到上述外引線之表 面上而與其連接者。 申請專利範圃第2項的引線構架製造方法,其特擻為, 對金屬基材欲形成外引線的部份實施加工以形成外引線 ,於該金羼基材欲配置内引線的區域單面形成阻蝕層, 在該金羼基材的阻蝕層側表面選擇性地形成電鍍阻體層 (resist),並以此作為遮蔽而實施金屬電鍍,以形成内 引線,將該金屬基材的内引線配置匾域内倒加以蝕刻除 去,並將阻蝕層的不需要部分加以蝕刻者。 申請專利範圍第3項的引線構架製造方法,其特撖為 ,在申誚專利範圍第2項的引線構架製造方法中,對於 阻蝕層的不需要部份加以蝕刻時,將須形成阻蝕層隆部 的部份加以遮蔽者。 申誚專利範圍第4項的引線構架製造方法,其特擻為 ,在申請專利範園第2項的引線構架製造方法全部步驟 完成後,於内引線的前端部内面形成隆部者。 作用 按照申請專利範園第1項的引線構架,由於内引線的 基端部具有直接連接於外引線的構造,與内引線和外引 線藉阻蝕層完全分離的習知情況相較,可提高内引線和 外引線的接合強度,同時因内引線與外引線直接連接, 其間不發生電位差,可以防止因形成局部電池而促進水 對鋁的蝕刻。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝. 訂 線 本纸張尺度逋用中國國家搮準(CMS ) A4規格(210X297公釐) 31S275 A7 B7 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 五、發明説明( ) j 按 照 串 請 專 利 範 圍 第 2 項 的 引 線 構 架 製 造 方 法 t 偽 藉 1 1 對 於 單 靥 而 非 三 靥 構 造 之 金 屬 基 材 加 工 形 成 外 引 線 > 故 1 1 可 從 兩 面 進 行 選 擇 性 蝕 刻 或 壓 床 加 工 〇 因 此 與 藉 單 面 1 1 請 1 選 擇 性 蝕 刻 外 引 線 以 形 成 圖 型 的 習 知 情 況 相 較 可 減 少 先 閱 1 I 讀 1 I 或 兀 全 避 免 側 面 蝕 刻 〇 因 此 可 使 外 引 線 更 進 一 步 的 高 背 1 I 之 1 密 距 化 〇 注 素 1 事 1 因 此 藉 將 内 引 線 的 基 端 部 白 阻 蝕 層 伸 出 而 直 接 接 合 項 再 M 1 外 引 線 即 可 提 高 内 引 線 和 外 引 線 的 接 合 強 度 , 並 可 阻 填 寫 本 1 裝 I 止 内 引 線 外 引 線 和 阻 蝕 層 發 生 局 部 電 池 〇 頁 Nw*· 1 1 按 照 申 請 專 利 範 圍 第 3 項 的 引 線 構 架 製 造 方 法 因 在 1 I 内 引 線 的 前 端 部 形 成 陵 部 f 即 不 必 在 半 導 體 晶 Μ 側 形 成 I 1 1 隆 部 〇 因 此 並 無 因 隆 部 形 成 步 驟 發 生 不 良 而 增 加 半 導 1 訂 體 晶 K 之 不 良 率 之 廣 〇 此 外 於 蝕 刻 作 為 遮 蔽 之 阻 蝕 層 I 1 時 , 將 内 引 線 之 須 形 成 隆 部 的 部 份 加 以 遮 蔽 9 故 不 需 徒 1 1 增 步 驟 就 可 形 成 隆 部 〇 1 按 照 請 專 利 範 圍 第 4 項 的 引 線 構 架 製 造 方 法 % 在 線 内 引 線 的 刖 端 部 形 成 隆 部 故 不 必 在 半 導 體 晶 Η 側 形 成 1 1 陵 部 〇 因 此 並 無 因 隆 部 形 成 步 驟 發 生 不 良 而 增 加 半 導 1 i 體 晶 Η 之 不 良 率 之 虡 〇 1 1 實 施 例 1 1 茲 就 圖 式 實 施 例 詳 細 說 明 本 發 明 引 線 構 架 及 其 製 造 方 1 1 法 〇 1 1 第 1 圖 為 本 發 明 引 線 構 架 -6 - 實 施 例 之 斷 面 圖 〇 1 1 1 1 1 本紙張尺度逍用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 經濟部中央揉準局貝工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明() 在第1圖中,1為引線構架,2為銅製外引線,在其 基部表面形鋁製阻蝕層3 ,銅製薄内引線4基部即固定 於該阻蝕層3,而在該内引線4前端面,形成例如鋁製 陲部5。 此引線構架1之構造是,内引線4在外引線2的内端 部,介以阻蝕層3所連接的基端部4a,經阻蝕層3的個I 面延伸到外引線2上而與其連接者.,此點與第6圜所示引 線構架迥異。 6為補強腰帶,按對多數内引線4、4表面交叉的方 向拈著,有防止内引線4彎曲,與内引線4、4間位置 關偽偏差的作用。 而内引線4的前端部即介以睡部5結合於半導體晶片 7的霣極墊7a,再以樹脂密封。8為密封半導膿晶H7 的密封樹脂。 按照此種引線構架1構造者,由於其内引線4的基端 部4 a直接連接到外引線2,與内引線4和外引線2藉阻 拽層3完全分離的習知情形相較,自可提高内引線4與 外引線2的接合強度,同時因内引線4和外引線2偽直 接接合,其間不發生霄位差,可防止因形成局部霣池而 促進水分對鋁的腐蝕。 第2圖(A)至(H)為第1圖所示引線構架的製造方法 ,係表示第一例步驟順序之透視圖。 (A)準備銅合金或42合金構成的金屬基材9 (厚度例 -7- 本紙張尺度適用中困國家揉準(CNS > A4规格(210X297公釐) —n·^—— -^ϋ» «^^1 In n^— —ϋ n in (請先M讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 線 A7 B7 五、發明説明() 如80至150 w π)做為引線構架材料,在兩面選擇性地形 成阻體膜10、10。第二圖(A)表示阻體膜10、10形成後 之狀態。 (B)其次,將該阻體膜10、10作為遮蔽,藉從兩面独 刻該金颶基材9,對於外引線配置區域的外引線之圓型 除去負Μ圔型之部份,而形成外引線2。另在配置内引 線的區域,以阻醴膜10、10被覆,使其不受蝕刻。 又,此外引線2的形成,亦可以壓床加工代替選擇性独 刻。如此以壓床加工形成外引線者,側面蝕刻則一概不 會發生。2a為連接外引線間的繫桿。 其次,僅對金屬基材9表面的内引線配置區域11,加 以選擇性半蝕刻。藉此將内引線配置匾域11的厚度,独 刻至例如50 Wn。此半蝕刻步思並非不可或缺,不過有 此步驟,則此後進行的遘擇性蝕刻之蝕刻量可以減少。 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 」 -裝· 訂 經濟部中央橾準局貝工消費合作社印製 2 第淺13。須} 第 如成層 Η 性於(D , , ,銅 Μ 著對圖 者 上法和 W 粘相 2 再朝射 3 Ρ 的 ,第 0 面濺層Μ線14在 態 正藉蝕 Μ 引層。 狀 其上阻 Μ 内體型 的 使11的 Μ 成阻圖 後。,域成 W 形鍍Η 成上轉區構11所電負 完朝翻置}»1後的為 刻«f9K/ua1其上成 蝕内材線0Uβ 高面形 半是基引g2n)提表 , 此 9颶内11:4加9 型 示材金在Θ.5 更材圖 表基將,如至可基之 }羼,示例 2 時屬線 (B金著所度如行金引 圖的接 } 厚例進將内 2}}(ci 度此} 的 第 {{圖1厚如 {成 圖 .2 鋁 ί 惟 形 線 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 31S275 A7 B7五、發明説明() 中,二點虛線表示電鍍阻體層14。 所用阻體材料有例如電鍍阻體(日本化學石油公司製 品才U d*ED-UV),被覆厚度例如10至30w η,為形成圖 型所需曝光的曝光量為例如150至400b·!/ cm3 ,顯影則 採用碩酸鈉(Na2 C〇3 ) 1 %溶液(45C )進行噴灑。 顯像完成後,加以酸性脱脂,其次以10%硫酸H2 S0< 使其表面活性任,然後鍍硫酸銅,在阻蝕層3表面的銅 層13上(若不形成銅層13時,當然直接在咀蝕層3表面 )形成内引線4。 具證的鍍液則採用CuS〇4為80g/l, H2 S〇4為200g/l 和為50ρρπ者,利用電流密度1.0至4.0A/dm2的電 鑛,形成内引線4。所形成内引線4的線寬度例如30 W b,引線間的間隔例如為30 w η。又,各内引線4是從 阻蝕層3上其基端部伸出到外側之形成。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 」 -裝· 訂 先強鑛 , 合 用 行接利 進的如 槽線例 鍍引慮 錁内考 酸高而 硫提, 在以 4 可,線 * 銅引 言鍍内 而成成 理形形 處再銅 前面鍍 的上用 銅在利 鍍,不。 電 底可之 以鎳又成 又成。形 形度錁 經濟部中央梂準局貝工消費合作社印製 圖 2 穿 内 線強 引補 内以 在, , 6 4 f 0 1 帶 態層膠 狀體強 的阻補 後箸著 成鍍粘 形去向 4 除方 線,叉 引後交 内成其 示形與 表 4 面 } 線表 言 0 而 5 體度 具 厚 0 成 4 形 、 劑 4 著 線粘 引糸 内脂 在 佈 塗 面的 單右 左 -田 Μ
樹 氣 環 的 段 階 B 切 予 適 膜 胺 亞 醯 聚 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 318275 A7 B7 五、發明説明() ,再利用加熱到150 C左右的加熱辊,使其貼在内引線4 、4 〇 然後,如第二圖(E)所示將金靥基材9翻面。 (F) 其次,將較金屬基材9上内引線配置匾域11的阻 蝕層3更裹面〔第2圃(E)為上面〕之銅,利用選擇性 蝕刻完全除去。此項蝕刻是使用10至20%H2 〇2溶掖和 10至18%H2 S0+溶液的混合液,做為蝕刻液,加熱到 4 5 t:而進行噴灌。 因此,鋁製阻蝕層3即露出表面。第2圖(F)表示蝕 刻完成後的狀態。 (G) 其次,如第2圖(G)所示,針對鋁製阻蝕靥3 , 將内引線4和外引線2作為遮蔽,加以蝕刻,除去阻蝕 層3的不要部份。此項蝕刻當然會蝕刻鋁,而必須不蝕 刻到内引線2和外引線4。進行濕蝕刻時,可用磷酸条 蝕刻液。進行乾蝕刻時,採用BCU (40SCCM)+CU (100SCCM)+He或 N2 (1500SCCM)蝕刻,按 RF功率 220W, 壓力130Pa,檯溫5 t:,時間7/i n/ 240sec等條件的 R IE進行。 又,在此情況下,可以考處内引線4表面有殘背鋁蝕 刻和無殘留鋁蝕刻的情形。有殘留時,是從内引線4方 面蝕刻,否則從其相反面蝕刻° 再者,步驟(C)〔參照第2圖(C)〕將噴射而成的薄 銅層13,使用銅蝕刻劑除去。因此,如第2圖(G)所示 -10* 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注^'項再填寫本頁) 丨裝- 訂 經濟部中央橾準局貝工消费合作社印製 A7 _____B7_五、發明説明() ,各相鄰接的内引線4、4間即成為完全分離狀態。( 當然,直到樹脂密封後,切除外引線不需要部份為止, 形成藉外引線2的繫桿2a短路的狀態)。 (H)然後,利用喷射鋁,光蝕刻等,在各内引線4的 前端部表面形成隆部5,如第2圖(H)所示。 按照此種引線構架的製造方法,因對金屬基材9從兩 面逸擇性地蝕刻而形成外引線,較諸利用單面選擇性蝕 刻外引線形成圖型時,更可減少側面蝕刻量。具體而言 ,約減少二分之一。 ·) I. 從而,得將外引線更加高密距化。 然而,藉從阻蝕層3上使内引線4的基端部伸出,而 直接接合於外引線2,自可提高内引線4和外引線2的 接合強度,防止由内引線4、外引線2和阻蝕層3發生 局部霄池。 由於在内引線4前端部形成陲部5,即不必在半導醱 晶Η方面形成陲部。所以,不廣因降部形成步驟中發生 不良,導致半導體晶Κ不良率之增加。 第3圔(Α)和(Β)像依序表示引線構架製造後半導體裝 置組合步驟之透視圖。(Α)表示使内引線4睡起,而連 接於半導體晶Κ7電極墊之狀態,(Β)表示樹脂密封狀 態。 内引線4的前端部之隆部5舆電極墊8的連接,是利 用單點超音波結合法進行。 -11- (請先閱讀背面之注41^項再填寫本頁) 丨裝 .ΤΓ 線 本纸張Α度適用中國國家揉準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) 經濟部中夬梂準局貝工消费合作社印製 A7 B7 五、發明説明() 第4圖(A)和(B)為表示製造方法第二例要部的步級順 序透視圖。本實施例和第2圈所示製造方法的第一例到 第2圖(E)所示步驟為止完全相同。 (A) 將金屬基材9的内引線配置區域11内側部份,去 除到阻蝕層3露出後〔參閲第2圖(F)〕:按第4圓(A) 所示,例如利用霣鍍阻體層構成的遮蔽體15,將須形成 除部的部分加以遮蔽^ (B) 然後,如第4圖(B)所示,將阻蝕層3蝕刻。就 在内引線4的前端部形成由鋁構成的隆部5。 按照此種引線構架的製造方法者,以内引線為遮蔽而 對咀蝕層3蝕刻時,由於將須形成除部5的部份加以遮 蔽,故不需徒增步驟邸可形成隆部。 第5圜(A)和(B)表示製造方法第三例要部之步圈[順序 透視圖。本實施例和第2圓所示製造方法的第一例到第 2圖(E)所示步驟為止完全相同。 (A) 將金靨基材9的内引線配置區域11之背面部份, 去除到阻蝕層3露出為止〔參照第2圖(F)〕,按第5圖 (A)所示,例如將光阻體,加工具組成的遮蔽髖15a,使 其位於橫越須形成隆部的部份上,加以遮蔽。 (B) 然後,如第5圖(B)所示,將阻蝕層3加以蝕刻。 即在内引線4的前端部形成鋁所構成的隆部5。 如此,本發明引線構架及其製法方法,可以種種具體 形態加以實施。 -12- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4規格(210X297公釐) ---------1 _ 裝-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、?τ 經濟部中央椟準局貝工消費合作社印製 318275 A7 _B7__五、發明説明() 發明的效果 申請專利範圍第1項的引線構架,其特擞為,内引線 的基端部是經阻蝕層的側面,延伸到外引線的表面上與 其連接。 從而,按申誚專利範園第1項的引線構架者,因内引 線具有直接被連接到外引線的構造,舆内引線和外引線 藉阻蝕層完全分離的習知情況相較,自可提高内引線和 外引線的接合強度,同時,由於内引線和外引線直接連 接的錁故,其間不會發生霣位差,可防止因形成局部電 池而促進水分對鋁的腐蝕。 按申諳專利範園第2項的引線構架製造方法,其待激 為,對金羼基材作為外引線的部份實施加工以形成外引 線,在該金靥基材的内引線被配設的區域單面形成阻姓 層,在該金屬基材的阻蝕層供表面選擇性地形成電鍍阻 體層.藉以此為遮蔽且實施金羼電鍍而在阻蝕層上形成 内引線,將該金羼基材的内引線配置區域背面加以蝕刻 去除,並將上述内引線作為遮蔽,而將阻蝕層的不要部 份加以蝕刻者。 是以,按如申請專利範圍第2項的引線構架製造方法 者,藉對於單層構造的金屬基材加工即可形成外引線, 故可從兩面進行選擇性蝕刻或壓床加工。所以,利用兩 面蝕刻較諸單面選擇性蝕刻,在形成外引線上,可減少 侧面蝕刻量*若利用壓床加工,更可完全免除側面蝕刻 -13- (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) 、裝.
、1T 終 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 318275 A7 B7_ 五、發明説明() 。因而,可將外引線更進一步地高密距化。 然而,將内引線的基端部直接接合於自阻蝕層蝕刻而 成的外引線時,可提高内引線和外引線的接合強度,並 阻止内引線,外引線和阻蝕層形成局部電池。 申讅専利範圍第3項的引線構架製造方法,其特徽為 ,在申請專利範圍第2項的引線構架製造方法中,將内 引線作為遮蔽而對阻蝕層加以蝕刻時,將須形成阻蝕靥 的隆部部份,加以遮蔽者。 從而,按申讅專利範圍第3項的引線構架製造方法者 ,因在内引線的前端部形成隆部,故不必在半導釀晶Η 方面形成睡部,所以,不虔因隆部形成步驟發生不良而 增加半導體晶Η之不良率。 是以,以内引線作為遮蔽蝕刻阻蝕層時,由於將須形 成隆部的部份加以遮蔽,故不需增加步驟即可形成隆部 〇 申請專利範圍第4項的引線構架製造方法,其待徽為 ,俟申請專利範圍第2項的引線構架製造方法金步驟完 成後,在内引線的前端部背面形成睡部者。 因此,按申請專利範圍第4項的引線構架製造方法, 則由於在内引線的前端部形成隆部,故不漘在半導體晶 Η方面形成隆部。是以,不虞因隆部形成步驟發生不良 而增加半導體晶片之不良率。 然而,由於以内引線作為遮蔽而對阻蝕層加以蝕刻時 -14- 本纸張尺度適用中國國家橾準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (讀先閲讀背面之注$項再填寫本頁) •裝· 經濟部中央橾準局員工消费合作社印製 經濟部中央標準局貝工消費合作社印-« A7 B7 五、發明説明() ,將須形成隆部的部份已予遮蔽,即使不徒增步驟亦可 形成隆部。 團式簡單說明 第1画為本發明引狳構架一實施例之斷面圖; 第2圈(A)至(H)為本發明引線構架的製造方法第一實 施例之步驟透視圖; 第3圔(A)和(B)為依序表示引線構架製造後半導體裝 置組合步驟的透視圖; 第4圖(A)和(B)為依序表示本發明引線構架製造方法 的第二實施例重要部分步霣之透視圖; 第5圖(A)和(B)為依序表示本發明引線構架製造方法 的第三實施例步驟之透視圖; 第6圖為引線構架習知例之斷面圖。 符號説明 1.. .引線構架,2...外引線,3...阻餽層, 4.. .内引線,4a...内引線的基端部, 5.. .隆部,9...金羼基材,10...阻體層, 15,15a...遮蔽腹。 -15- 尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(2丨0X297公釐) (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. 訂

Claims (1)

  1. Α8 Β8 C8 D8 318275 六、申請專利範圍 第83104570號「引線構架及其製造方法j專利申誚案 (8(piv 日 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 杰申請專利範圍: 補充 1. 一種引線構架,具有外引線,在其基部表面形成阻蝕 層,於該阻蝕層固定有薄内引線的基部,而在該内引 線的前端部形成隆部,該内引線的前端部以隆部结合 於半導體晶Η的罨極墊,其特擞為,該内引線的基端 部僳經該阻蝕層的侧面,延伸到該外引線表面上而與 其連接者。 2. —種引線構架的製造方法,其步驟包括: 準備金屬基材,在該金屬基材的外引線被配置的區 域藉兩面蝕刻或壓床加工,以形成外引線;與 經濟部中央標準局貞工消费合作社印製 在上述金屬基材的内引線所配置的區域的單面,形 成由上述外引線和其他金屬材料組成的阻蝕層;與 在上述金屬基材的阻蝕層形成侧的表面,形成對於 須形成的内引線具有負Μ圖型的電鍍阻腥層;與 在上述金羼基材上,以上述霣鍍阻臁層作為遮蔽, 加以鍍金屬,藉以在上述阻蝕層上形成基端部舆上述 外引線表面接合之内引線;與 將上述金屬基材的上述内引線所配置的匾域之背面 ,利用蝕刻除去;以及 將上述阻蝕層加以蝕刻者。 3. —種引線構架的製造方法,其步驟包括: 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) A8 B8 C8 D8 經濟部中央橾準局負工消費合作社印製 •六、申請專利範 園 * I 準 備 金 屬 基 材 9 在 該 金 展 基 材 的 外 引 線 被 配 置 的 匾 1 1 I 域 藉 兩 面 蝕 刻 或 壓 床 加 工 P 以 形 成 外 引 線 \ 與 1 I 在 上 述 金 属 基 材 的 内 引 線 所 配 置 的 匾 域 的 單 面 t 形 1 I 請 1 1 成 由 上 述 外 引 線 和 其 他 金 屬 材 料 组 成 的 姐 蝕 層 ♦ 與 先 聞 1 1 在 上 述 金 颶 基 材 的 阻 蝕 層 形 成 侧 的 表 面 9 對 於 須 形 背 面 1 之 1 成 的 内 引 線 具 有 負 Η 圖 形 之 電 鍍 阻 髏 層 * 與 注 意 1 I 在 上 述 該 金 屬 基 材 上 * 以 上 述 電 鍍 阻 體 層 作 為 遮 蔽 事 項 再 1 1 加 以 鍍 金 靥 P 藉 以 在 上 述 阻 蝕 層 上 形 成 基 端 部 與 上 填 寫 本 -4 述 外 引 線 表 面 接 合 之 内 引 線 與 頁 1 1 將 上 述 金 屬 基 材 的 上 述 内 引 線 所 配 置 的 區 域 之 背 面 1 I 9 利 用 蝕 刻 除 去 以 及 1 1 I 將 須 形 成 上 述 阻 蝕 靥 的 降 部 > 以 遮 蔽 體 被 覆 並 以 1 訂 該 遮 蔽 髏 作 為 遮 蔽 * 而 將 阻 独 層 不 需 要 部 份 加 以 蝕 刻 1 1 者 〇 1 I 4 . 一 種 引 線 構 架 的 製 造 方 法 * 其 步 驟 包 括 1 I 準 備 金 屬 基 材 > 在 該 金 屬 基 材 的 外 引 線 被 配 置 的 區 1 域 藉 兩 面 独 刻 或 壓 床 加 工 9 以 形 成 外 引 線 9 與 1 1 在 上 述 金 屬 基 材 的 内 引 線 所 配 置 的 區 域 之 βΒ 早 面 f 形 1 成 由 上 述 外 引 線 和 其 他 金 靥 材 料 组 成 的 阻 蝕 層 9 與 1 I 在 上 述 金 屬 基 材 的 阻 蝕 層 形 成 m 的 表 面 t 對 於 須 形 1 t 1 I 成 的 内 引 線 9 形 成 具 有 負 Η 圜 型 之 轚 镀 阻 饅 層 » 與 1 1 在 上 述 金 屬 基 材 上 t 藉 將 上 述 電 鍍 阻 體 層 作 為 遮 蔽 1 1 % 加 以 鍍 金 屬 * 藉 以 在 上 述 * 4 阻 1 - 蝕 靥 上 形 成 基 端 部 與 該 1 1 1 1 1 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 318275 ?8s D8 六、申請專利範圍 外引線表面接合之内引線;與 將上述金屬基材的上述内引線所配置的區域背面, 利用蝕刻除去; 將上述阻蝕層的不需要部份加以蝕刻;以及 在上述内引線表面前端部形成隆部者。 (請先閲讀背面之注^^項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印裝 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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