TW202337801A - 置盤裝置及作業機 - Google Patents

置盤裝置及作業機 Download PDF

Info

Publication number
TW202337801A
TW202337801A TW111111413A TW111111413A TW202337801A TW 202337801 A TW202337801 A TW 202337801A TW 111111413 A TW111111413 A TW 111111413A TW 111111413 A TW111111413 A TW 111111413A TW 202337801 A TW202337801 A TW 202337801A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
tray
carrying
magazine
moving
box
Prior art date
Application number
TW111111413A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI800330B (zh
Inventor
陳振元
Original Assignee
鴻勁精密股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 鴻勁精密股份有限公司 filed Critical 鴻勁精密股份有限公司
Priority to TW111111413A priority Critical patent/TWI800330B/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI800330B publication Critical patent/TWI800330B/zh
Publication of TW202337801A publication Critical patent/TW202337801A/zh

Links

Images

Abstract

一種置盤裝置,包含承盤機構、運盤機構及載盤機構,承盤機構以承盤架承置一具料盤之倉匣,載盤機構以載盤器沿第一方向位移於承盤架之倉匣取出一具電子元件之料盤,運盤機構之運盤器沿第二方向向外位移而調整位置,以供通過載盤器及其所承置之料盤,使載盤器沿第二方向位移載送一具電子元件之料盤至位於載盤路徑之作業裝置執行預設作業,於作業完畢,載盤器載送料盤位移至運盤器之上方,運盤器沿第二方向向內位移復位,載盤器將料盤置放於運盤器,使運盤器沿第三方向輸送料盤。

Description

置盤裝置及作業機
本發明有關一種有效節省成本及提高生產效能之置盤裝置。
在現今,請參閱圖1,電子元件測試設備於機台上配置供料裝置11及收料裝置12,供料裝置11設有供料作業區111及供料區112,供料作業區111以二個供料輸送皮帶113承置一具有待測電子元件之第一料盤114,並將第一料盤114輸送至供料區112,而供應待測電子元件執行預設作業(如檢查作業或測試作業),同樣地,收料裝置12設有收料區121及收料作業區122,收料區121以二個收料輸送皮帶123承置一具有已測電子元件之第二料盤124,並將第二料盤124輸送至收料作業區122收置。
惟,不論是供料裝置11之補充料盤作業或收料裝置12之卸除料盤作業,工作人員必須以人工方式於供料裝置11先取下空的第一料盤114,再補充下一具待測電子元件之第一料盤接續供料,同樣地,工作人員以人工方式於收料裝置12先取下具已測電子元件之第二料盤124,再補充下一空的第二料盤接續收料,此一人工補盤或卸盤方式,不僅增加人力成本,亦無法提升生產效能。
又,人工補盤或卸盤方式,易因人為搬盤不慎,而導致第一料盤114或第二料盤124翻盤傾倒,造成電子元件損傷或不同等級電子元件混雜無法判別測試品質之缺失。
再者,電子元件於測試作業前、後必需執行型號或外觀瑕疵等取像檢查作業,由於取像器(例如CCD)之價格昂貴,若於複數個供料裝置11及收料裝置分別配置供料取像器及收料取像器,複數個供料取像器及收料取像器不僅大幅增加裝置成本,更佔用裝置空間而不利空間配置。
本發明之目的一,提供一種置盤裝置,包含承盤機構、運盤機構及載盤機構,承盤機構於承盤架設置至少一承盤器,以供承置料盤,運盤機構配置於承盤機構之下方,並設有至少一可作第二方向位移調整位置之運盤器,運盤器以供沿第三方向輸送料盤,載盤機構配置於運盤機構之下方,並設有至少一載盤器,以供沿第一方向位移於承盤機構與運盤機構之間移載料盤,並供沿運盤機構下方之載盤路徑作第二方向位移載送料盤;依作業需求,載盤機構搭配運盤機構之作動,不僅可於運盤器與承盤器間執行自動化補盤或卸盤之作業,更可以載盤器載送承盤機構或運盤機構輸出之料盤至位於載盤路徑之預設作業裝置而執行預設作業,進而提高生產效能。
本發明之目的二,提供一種置盤裝置,更包含搬匣機構,搬匣機構於機架且位於承盤機構之上方設置作至少一方向位移之搬匣器,搬匣器以供於承盤機構搬移至少一具料盤之倉匣或空倉匣,進而提高補匣或卸匣之使用效能。
本發明之目的三,提供一種置盤裝置,其搬匣機構於機架設有至少一暫置匣區,以供暫置倉匣,使搬匣器可將暫置匣區之倉匣迅速補匣於承盤機構,或者將承盤機構之倉匣卸除暫放於暫置匣區,以縮短取放倉匣之路徑及作業時間,進而提高生產效能。
本發明之目的四,提供一種置盤裝置,更包含接盤機構,接盤機構於機架設有作至少一方向位移之接盤器,以供於不同區域之運盤機構輸入或輸出料盤,進而縮減接盤器配置成本及利於空間配置。
本發明之目的五,提供一種作業機,包含置盤裝置、至少一作業裝置及中央控制裝置,置盤裝置包含機架、承盤機構、運盤機構及載盤機構,以供輸送電子元件;至少一作業裝置配置於置盤裝置之載盤路徑,並設有至少一作業器,以供對電子元件執行預設作業;中央控制裝置以控制及整合各裝置作動而執行自動化作業。
本發明之目的六,提供一種作業機,其置盤裝置於機架之載盤路徑設有供料區、作業區及收料區,並於供料區及收料區分別設置至少一組包含承盤機構及運盤機構,於作業區設置作業裝置,藉以載盤機構之載盤器於不同區域之承盤機構或運盤機構承載具電子元件之料盤,並沿載盤路徑將料盤輸送至共用之作業裝置執行預設作業,進而縮減作業裝置之配置成本及利於作業機之空間配置。
為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解,茲舉一較佳實施例並配合圖式,詳述如後:
請參閱圖2至圖5,本發明置盤裝置包含承盤機構、運盤機構及載盤機構。
承盤機構設有至少一承盤架,承盤架沿第一方向設有通道,以供通過料盤,承盤架上設有至少一承盤器,以供承置料盤;於本實施例,承盤機構之承盤架21沿第一方向(如Z方向)設有通道211,以供通過料盤,承盤架21之頂面兩側設有複數個承盤器22,各承盤器22具有可朝向第二方向(如X方向)伸縮位移之承具221,以供承置或脫離料盤,承盤架21之前架體下方設有立桿212。
依作業需求,承盤架21可供承置至少一具料盤之倉匣,並設有至少一控匣單元,控匣單元以供啟閉倉匣而輸入或輸出料盤;更進一步,控匣單元包含控匣驅動器、作動片及至少一開匣件,控匣驅動器以供驅動該作動片沿第三方向(如Y方向)位移,作動片與開匣件之間設有傳動結構,作動片以傳動結構傳動開匣件位移,使開匣件帶動倉匣之擋塊啟閉作動;更進一步,傳動結構於作動片與開匣件間設有相互配合之斜向第一導引槽及第一承導件,並於承盤架21設有呈第二方向配置之第二導引槽供穿置開匣件之掣動桿;更佳者,傳動結構於作動片開設呈第三方向配置之第三導引槽,以供穿置承盤架21之第二承導件,使作動片沿第三方向作線性位移。
於本實施例,承盤機構於承盤架21之頂面設有複數個導位件23,以供導引一倉匣之對位孔套合對位放置,控匣單元於承盤架21之兩側架體分別設有一控匣驅動器、一作動片及複數個開匣件,控匣驅動器為控匣壓缸24,控匣壓缸24之活塞桿連結驅動一作動片25沿Y方向位移,複數個開匣件26一端之軸桿261樞設於承盤架21,另一端朝Z方向向上凸設有掣動桿262,作動片25與複數個開匣件26之間設有傳動結構,傳動結構於作動片25開設有斜向之第一導引槽251,並於開匣件26設有第一承導件263,第一承導件263插置且可沿第一導引槽251位移,傳動結構另於承盤架21開設有呈X方向配置之第二導引槽213,第二導引槽213供穿置開匣件26之掣動桿262;更進一步,傳動結構於作動片25開設呈Y方向配置之第三導引槽252,以供穿置承盤架21之第二承導件214,使作動片25沿Y方向作線性位移。
運盤機構配置於承盤機構之下方,並設有至少一可作第二方向位移調整之運盤器,運盤器以供沿第三方向輸送料盤;更進一步,運盤機構設置複數個運盤架以供裝配複數個運盤器,並設置至少一調位單元,以供調整複數個運盤器沿第二方向位移作相互靠近或遠離而調整位置,亦即運盤器依料盤之尺寸而沿第二方向位移由承載位置調整至讓位位置,以供通過料盤,更佳者,調位單元可依料盤之尺寸而調整運盤器之承載位置,亦無不可。
調位單元包含調位驅動器及至少一連動組,連動組連結複數個運盤架,調位驅動器搭配連動組以供帶動複數個運盤器沿第二方向位移而調整位置;例如調位驅動器可驅動一具有運盤器之運盤架沿第二方向位移,運盤架利用連動組帶動另一具有運盤器之運盤架沿第二方向作反向位移,以使二運盤器作相互遠離而調寛彼此間之距離;然調位驅動器亦可直接驅動該連動組,由連動組帶動二具有運盤器之運盤架沿第二方向位移作相互靠近或遠離而調整位置 ,亦無不可。
於本實施例,承盤機構與運盤機構作分離配置,運盤機構於承盤架21下方之兩側分別設有呈Y方向配置之運盤架31,二運盤架31供裝配二運盤器,運盤器設有運盤具,運盤器可設有獨立運盤驅動器或者複數個運盤器共用一運盤驅動器;於本實施例,二運盤器分別獨立配置且為運盤馬達32之運盤驅動器,以驅動一呈Y方向配置且為皮帶輪組之運盤具33;調位單元之調位驅動器為一呈X方向配置之調位壓缸34,並以活塞桿連結一運盤架31,調位單元於二運盤架31之前段間設有呈X方向配置且為皮帶輪組之連動組35,連動組35以二連結件351連結二運盤架31,以供一運盤架31利用連動組35帶動另一運盤架31沿X方向位移作相互靠近或遠離而調整位置。又,位於前方之連動組35可利用呈Y方向配置之傳動軸帶動位於後方之另一連動組35作動,另一連動組35連結二運盤架31之後段,使得二運盤架31更加平穩位移。
然依作業需求,調位驅動器可包含馬達及至少一傳動組,傳動組可為螺桿螺座組,以螺桿螺座組之螺座連結一運盤架31,於馬達驅動螺桿螺座組之螺桿時,利用螺座帶動運盤架31位移,亦無不可。
載盤機構配置於運盤機構之下方,並設有至少一載盤器,以供沿第一方向位移於承盤機構與運盤機構之間移載料盤,該載盤器並能夠沿預設之載盤路徑載送料盤至運盤機構之下方;更進一步,載盤器包含移動台及托架,載盤機構設置第一載盤驅動器以供驅動托架沿第一方向位移而托移料盤,並設置第二載盤驅動器,能夠驅動該移動台沿預設之載盤路徑將料盤載送至運盤機構之下方。
由於載盤路徑位於運盤機構之下方,當載盤路徑預設呈第二方向 ,可將第二載盤驅動器呈第二方向(如X方向)配置,以供驅動該移動台沿載盤路徑作第二方向位移將料盤載送至運盤機構之下方。同樣地,當載盤路徑預設呈第三方向,則可將第二載盤驅動器呈第三方向(如Y方向)配置,以供驅動該移動台沿載盤路徑作第三方向位移將料盤載送至運盤機構之下方;因此,第二載盤驅動器驅動該移動台作第二方向或第三方向位移,均可將料盤載送至運盤機構之下方,不受限於本實施例。
承上述,第一載盤驅動器及第二載盤驅動器可為線性馬達、壓缸或包含馬達及至少一傳動組,傳動組可為螺桿螺座組或皮帶輪組等。
於本實施例,運盤機構下方之載盤路徑預設呈第二方向,第二方向界定為X方向,載盤機構之載盤器於移動台41之頂面配置托架42,於底面裝配第一載盤驅動器,第一載盤驅動器包含第一馬達43、第一傳動組及第二傳動組,第一馬達43驅動一呈Z方向配置且為螺桿螺座組44之第一傳動組,螺桿螺座組44之螺座441連結一同動板,並以同動板供裝配第二傳動組,第二傳動組為複數支呈Z方向配置之移動桿45,移動桿45之一端穿伸於移動台41,以連結帶動托架42作Z方向位移;第二載盤驅動器包含第二馬達46及第三傳動組,第二馬達46以供驅動一呈X方向配置且為皮帶輪組47之第三傳動組,皮帶輪組47之皮帶連結帶動移動台41沿載盤路徑作X方向位移。
請參閱圖6至圖11,置盤裝置應用於第一實施例之作業機,包含置盤裝置、至少一作業裝置及中央控制裝置(圖未示出),置盤裝置包含至少一機架、承盤機構、運盤機構及載盤機構,以供輸送電子元件;至少一作業裝置配置於機架,且位於載盤路徑,作業裝置設有至少一作業器,以供對至少一電子元件執行預設作業;中央控制裝置以供控制及整合各裝置作動而執行自動化作業。
然依作業需求,置盤裝置更包含搬匣機構,搬匣機構配置於機架 ,並設有作至少一方向位移之搬匣器,搬匣器以供於承盤機構搬移倉匣,更進一步,搬匣機構於至少一機架設有至少一暫置匣區,以供暫置倉匣,搬匣器於承盤機構與暫置匣區間搬移倉匣。
於本實施例,置盤裝置包含至少一機架、複數個承盤機構、複數個運盤機構、複數個載盤機構及搬匣機構。
置盤裝置之至少一機架供裝配承盤機構、運盤機構及載盤機構,機架可為單層式機架或多層式機架,至少一機架包含複數個機架,複數個機架可固接為一體或可作活動式分離,機架可為獨立機架、機台或外罩;於本實施例,至少一機架包含第一機架51及第二機架52,第一機架51為多層式機架,並於一層架體設有供料區、作業區及收料區;第二機架52配置於第一機架51之後方,並相通第一機架51。
置盤裝置於第一機架51之供料區配置一組包含承盤機構及運盤機構,應用於承置供料倉匣,供料倉匣供容置至少一具待作業電子元件之供料盤而供料;置盤裝置於第一機架51之收料區配置複數組包含承盤機構及運盤機構 ,應用於承置空的收料倉匣,空的收料倉匣供容置至少一具已作業電子元件之收料盤而收料;供料區之運盤機構下方至收料區之運盤機構下方可構成一載盤路徑,亦即載盤路徑包含作業區;一載盤機構裝配於第一機架51,並沿載盤路徑於供料區及作業區間載送具待作業電子元件之供料盤,另一載盤機構裝配於第一機架51,並沿載盤路徑於作業區及收料區間載送具已作業電子元件之收料盤。
置盤裝置之搬匣機構於第一機架51且位於承盤機構上方之架體設置搬匣驅動器61,以供驅動一搬匣器62作第一、二方向(如Z-X方向)位移,搬匣器62設有多段式滑軌組以帶動一夾具組於第一機架51及第二機架52間作第三方向位移(如Y方向);又搬匣機構於第一機架51之一側設有第一暫置匣區63,以供暫置供料倉匣或收料倉匣,並於第二機架52設置複數個第二暫置匣區64,以供暫置供料倉匣或收料倉匣,搬匣器62於第一暫置匣區63、複數個第二暫置匣區64及複數個承盤機構間搬移供料倉匣或收料倉匣。
至少一作業裝置可為取像裝置或分揀裝置等,而執行取像作業或 分揀作業等,依作業需求配置,不受限於本實施例。於本實施例,至少一作業裝置包含取像裝置70及分揀裝置80,並配置於第一機架51的作業區,且位於載盤路徑,以使二載盤機構不僅可於承盤機構或運盤機構作Z方向取放供料盤或收料盤,並能夠沿載盤路徑將供料區及收料區之供料盤或收料盤載送至作業區,以共用取像裝置70及分揀裝置80而執行預設作業,進而縮減作業裝置之配置數量,以有效節省作業機之成本及利於空間配置。
取像裝置70之至少一作業器為可作至少一方向位移之取像器71,取像器71可為CCD,以供取像二載盤機構所輸送之供料盤或收料盤上的電子元件。
分揀裝置80之至少一作業器包含分揀器81及分料盤,分揀器81可作至少一方向位移,以供分揀載盤機構所輸送之至少一電子元件收置於分料盤 ;更進一步,分揀裝置80設置第一分揀區82及第二分揀區83,第一分揀區82供承置一待分揀且具電子元件之收料盤,第二分揀區83供承置一分料盤,分料盤可為暫置料盤或不同等級之收料盤;於本實施例,分料盤(圖未示出)為不同等級之收料盤。
以供料區之承盤機構、運盤機構及載盤機構的作動為例作一說明 ,搬匣機構以搬匣驅動器61驅動一搬匣器62作X-Z方向位移於第一暫置匣區63取用一具供料盤92之供料倉匣91,供料盤92盛裝複數個待作業之電子元件,搬匣器62將供料倉匣91搬移至供料區之承盤機構的承盤架21上,承盤架21以導位件23導引供料倉匣91之對位孔套合對位放置;載盤機構以第二馬達46經皮帶輪組47帶動移動台41沿載盤路徑作X方向位移至運盤機構之下方,請配合參閱圖5,運盤機構以調位壓缸34驅動一運盤架31作X方向向外位移,一運盤架31利用連動組35而帶動另一運盤架31沿X方向位移作相互遠離而調整位置,亦即使二運盤具33分別由承載位置調整至讓位位置而調寛彼此間距,以供通過供料盤92;載盤機構以第一馬達43經螺桿螺座組44及移動桿45帶動托架42作Z方向位移通過運盤機構而托置供料倉匣91之一供料盤92。
承盤機構之控匣單元以控匣壓缸24驅動一作動片25作Y方向位移 ,並利用作動片25之第一導引槽251及第一承導件263帶動開匣件26樞擺作動,開匣件26之掣動桿262沿承盤架21之第二導引槽213位移,令掣動桿262帶動供料倉匣91之擋塊911向外擺動開啟;載盤機構之第一馬達43經螺桿螺座組44及移動桿45帶動托架42托移供料盤92作Z方向向下位移,承盤機構以承盤器22之承具221承置供料倉匣91內之上一供料盤定位,由於二運盤架31及運盤具33位於讓位位置,托架42托移供料盤92通過二運盤具33之間,使供料盤92位於運盤機構之下方。
載盤機構以第二馬達46經皮帶輪組47帶動移動台41、托架42及所承載之供料盤92沿載盤路徑由供料區作X方向位移至作業區之取像裝置70,取像裝置70以取像器71對供料盤92之電子元件進行外觀、型號等檢查作業,以檢查電子元件之外觀是否受損及型號資料是否正確,依作業需求,取像器71亦可對電子元件檢查其他項目;於檢查完畢,移動台41載送托架42及供料盤92沿載盤路徑由作業區作X方向位移至供料區復位;載盤機構以第一馬達43經螺桿螺座組44及移動桿45帶動托架42及供料盤92作Z方向向上位移通過運盤機構;運盤機構以調位壓缸34驅動一運盤架31作X方向向內位移,一運盤架31利用連動組35而帶動另一運盤架31沿X方向位移作相互靠近而調整位置,亦即使二運盤具33分別由讓位位置調整至承載位置而調縮彼此間距,以供承置供料盤92,載盤機構之托架42即可作Z方向向下位移將供料盤92放置於運盤機構之二運盤具33,使二運盤具33承載供料盤92執行預設作業,例如二運盤具33輸送供料盤92作Y方向位移而供料。
然,收料區之承盤機構的承盤架21A可承載空的收料倉匣,由於二載盤機構之移動台41、41A均可於載盤路徑作X方向位移,以及取像裝置70、分揀裝置80位於載盤路徑,使得另一載盤機構之移動台41A可將收料區之運盤機構的運盤具33A所承置之收料盤載送至取像裝置70而執行取像檢查作業,並將取像完畢之收料盤載送至分揀裝置80,並將收料盤放置於第一分揀區82上,以供分揀器81依檢查結果將收料盤內之部分電子元件揀拾至第二分揀區83的預設等級收料盤而分類收置,另一載盤機構再將第一分揀區82之收料盤載送收置於承盤架21A之收料倉匣收置,以利搬匣機構之搬匣器62搬運一容置有複數個收料盤之收料倉匣。
請參閱圖2至圖5及圖12至圖13,置盤裝置應用於第二實施例之作業機,其承盤機構、運盤機構及載盤機構的設計大致相同第一實施例,第二實施例與第一實施例之差異在於作業機更包含測試裝置,置盤裝置更包含接盤機構,接盤機構於至少一機架設有至少一接盤器,以供沿第三方向輸入料盤於運盤機構或承接運盤機構輸出之料盤;更進一步,接盤機構設有至少一接盤驅動器,以供驅動接盤器作第二方向位移而調整位置;於本實施例,置盤裝置於第一機架51之後方配置一第三機架53,接盤機構於第三機架53上且相對於供料區之區域設置一呈Y方向配置之第一接盤器101,並以第一接盤驅動器102驅動第一接盤器101作X方向位移,使第一接盤器101依作業需求選擇性對位於供料區之其一運盤機構,以接收運盤機構之運盤具33所輸出一具有待作業電子元件之供料盤;接盤機構另於第三機架53上且相對於收料區之區域設置複數個呈Y方向配置之第二接盤器103,並以第二接盤驅動器104驅動第二接盤器103作X方向位移,使第二接盤器103依作業需求選擇性對位於收料區之其一運盤機構的運盤具33A,以將所承載一具有已作業電子元件之收料盤輸出至運盤機構之運盤具33A;置盤裝置以第三機架53上之外罩54作為機架,搬匣機構於外罩54上設置複數個第二暫置匣區64,以供暫置供料倉匣或收料倉匣。測試裝置設有至少一測試器,以供對置盤裝置輸出之電子元件執行測試作業;更進一步,測試裝置設有至少一移料器及至少一載台,移料器作至少一方向位移以供取放電子元件 ,載台作至少一方向位移,以供於測試器與移料器間載送電子元件;於本實施例,測試裝置配置於置盤裝置之第三機架53,測試器包含電性連接之電路板1101及具探針之測試座1102,以供對電子元件執行測試作業,測試裝置於測試器與接盤機構間設有可作X-Y-Z方向位移之第一移料器1103,以於第一接盤器101之供料盤取出待作業之電子元件,並移載至第一載台1104,第一載台1104作X方向位移載送待作業之電子元件至測試座1102之一側,一第二移料器1105於第一載台1104取出待作業之電子元件,並移載至測試座1102而執行測試作業,以及將已作業電子元件移載至第二載台1106,一第三移料器1107於第二載台1106取出已作業之電子元件,並移載至第二接盤器103之收料盤收置,由第二接盤器103將收料盤輸出至收料區之運盤機構之運盤具33A,載盤機構載送收料盤經取像裝置70及分揀裝置80執行取像作業及分揀作業,而後將收料盤收置於承盤機構上之收料倉匣收置。
[習知] 11:供料裝置 111:供料作業區 112:供料區 113:供料輸送皮帶 114:第一料盤 12:收料裝置 121:收料區 122:收料作業區 123:收料輸送皮帶 124:第二料盤 [本發明] 21、21A:承盤架 211:通道 212:立桿 213:第二導引槽 214:第二承導件 22:承盤器 221:承具 23:導位件 24:控匣壓缸 25:作動片 251:第一導引槽 252:第三導引槽 26:開匣件 261:軸桿 262:掣動桿 263:第一承導件 31:運盤架 32:運盤馬達 33、33A:運盤具 34:調位壓缸 35:連動組 351:連結件 41、41A:移動台 42:托架 43:第一馬達 44:螺桿螺座組 441:螺座 45:移動桿 46:第二馬達 47:皮帶輪組 51:第一機架 52:第二機架 53:第三機架 54:外罩 61:搬匣驅動器 62:搬匣器 63:第一暫置匣區 64:第二暫置匣區 70:取像裝置 71:取像器 80:分揀裝置 81:分揀器 82:第一分揀區 83:第二分揀區 91:供料倉匣 911:擋塊 92:供料盤 101:第一接盤器 102:第一接盤驅動器 103:第二接盤器 104:第二接盤驅動器 1101:電路板 1102:測試座 1103:第一移料器 1104:第一載台 1105:第二移料器 1106:第二載台 1107:第三移料器
圖1:習知供料裝置與收料裝置之配置圖。 圖2:本發明置盤裝置之俯視圖。 圖3:本發明控匣單元之示意圖。 圖4:本發明置盤裝置之前視圖。 圖5:本發明運盤機構之俯視圖。 圖6:本發明置盤裝置應用於第一實施例作業機之示意圖。 圖7至圖11:本發明置盤裝置之使用示意圖。 圖12至圖13:本發明置盤裝置應用於第二實施例作業機之示意圖。
21:承盤架
211:通道
22:承盤器
23:導位件
31:運盤架
33:運盤具
35:連動組
351:連結件
41:移動台
42:托架
43:第一馬達
44:螺桿螺座組
441:螺座
45:移動桿
46:第二馬達
47:皮帶輪組

Claims (19)

  1. 一種置盤裝置,包含: 承盤機構:設有至少一承盤架,該承盤架沿第一方向設有通道,以供通過料盤,該承盤架上設置至少一承盤器,以承置該料盤; 運盤機構:配置於該承盤機構之下方,並設有至少一可作第二方向位移調整之運盤器,該運盤器以供沿第三方向輸送該料盤; 載盤機構:配置於該運盤機構之下方,並設有至少一載盤器,以供沿該第一方向位移而於該承盤機構與該運盤機構之間移載該料盤,該載盤器並能夠沿該運盤機構下方之載盤路徑作該第二方向或該第三方向位移載送該料盤。
  2. 如請求項1所述之置盤裝置,其該運盤機構設置複數個運盤架以供 裝配複數個該運盤器,並設置至少一調位單元,以供調整複數個該運盤器沿該第二方向位移作相互靠近或遠離而調整位置。
  3. 如請求項2所述之置盤裝置,其該調位單元包含調位驅動器及至少 一連動組,至少一該連動組連結複數個該運盤架,該調位驅動器與該連動組以供調整複數個該運盤器沿該第二方向位移。
  4. 如請求項1所述之置盤裝置,其該載盤機構之該載盤器包含移動台 及托架,該托架配置於該移動台上,該載盤機構設置第一載盤驅動器及第二載盤驅動器,該第一載盤驅動器以供驅動該托架沿該第一方向位移而托移該料盤 ,該第二載盤驅動器以供驅動該移動台沿該第二方向位移或該第三方向位移而載送該料盤。
  5. 如請求項1所述之置盤裝置,包含複數個承盤機構、複數個運盤機 構及至少一載盤機構,複數個該承盤機構的下方分別配置該運盤機構,複數個該運盤機構之下方設有該載盤路徑,至少一該載盤機構沿該載盤路徑載送該料盤。
  6. 如請求項1至5任一項中所述之置盤裝置,更包含至少一機架,該機架供裝配該承盤機構、該運盤機構及該載盤機構。
  7. 如請求項6所述之置盤裝置,其該承盤機構之該承盤架供承置至少 一具該料盤之倉匣,更包含設有至少一控匣單元,該控匣單元以供啟閉該倉匣。
  8. 如請求項7所述之置盤裝置,其該控匣單元包含控匣驅動器、作動 片及至少一開匣件,該控匣驅動器以供驅動該作動片沿該第三方向位移,該開匣件樞設於該承盤架,該作動片與該開匣件間設有傳動結構,該作動片以該傳動結構傳動該開匣件位移,使該開匣件啟閉該倉匣。
  9. 如請求項8所述之置盤裝置,其該開匣件之一端樞設於該承盤架, 另一端具有掣動桿,該傳動結構於該作動片與該開匣件間設有相互配合之斜向第一導引槽及第一承導件,並於該承盤架設有呈該第二方向配置之第二導引槽供穿置該開匣件之該掣動桿。
  10. 如請求項9所述之置盤裝置,其該傳動結構於該作動片開設呈該第三方向配置之第三導引槽,以供穿置該承盤架之第二承導件,使該作動片沿該第三方向作線性位移。
  11. 如請求項7所述之置盤裝置,更包含搬匣機構,該搬匣機構配置 於該機架,並設有作至少一方向位移之搬匣器,該搬匣器以供於該承盤機構搬移該倉匣。
  12. 如請求項11所述之置盤裝置,其該搬匣機構於至少一該機架設有 至少一暫置匣區,以供暫置該倉匣。
  13. 如請求項6所述之置盤裝置,更包含接盤機構,該接盤機構配置 於該機架,並設有至少一接盤器,以供沿該第三方向輸入該料盤於該運盤機構或承接該運盤機構輸出之該料盤。
  14. 如請求項13所述之置盤裝置,其該接盤機構設有至少一接盤驅動 器,以供驅動該接盤器作該第二方向位移而調整位置。
  15. 一種作業機,包含: 至少一如請求項6所述之置盤裝置:包含至少一機架、承盤機構、運盤機構及 載盤機構,以供輸送至少一具電子元件之料盤; 至少一作業裝置:裝配於該機架,且位於載盤路徑,並設有至少一作業器,以 供對該電子元件執行預設作業; 中央控制裝置:以控制及整合各裝置作動而執行自動化作業。
  16. 如請求項15所述之作業機,其該作業裝置為取像裝置,該取像裝 置之該作業器為取像器,以供取像該置盤裝置輸送之該電子元件。
  17. 如請求項15所述之作業機,其該作業裝置為分揀裝置,該分揀裝 置之至少一該作業器包含分揀器及分料盤,該分揀器以供分揀拾取該載盤機構輸送之該料盤的至少一該電子元件,該分料盤以供承置該分揀器拾取之該電子元件。
  18. 如請求項15所述之作業機,更包含測試裝置,該測試裝置配置於 該機架,並設有至少一測試器,以供對該置盤裝置輸出之該電子元件執行測試作業。
  19. 如請求項18所述之作業機,其該測試裝置包含該測試器、至少一 移料器及至少一載台,該移料器作至少一方向位移以供移載該電子元件,該載台作至少一方向位移,以供載送該電子元件。
TW111111413A 2022-03-25 2022-03-25 置盤裝置及作業機 TWI800330B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW111111413A TWI800330B (zh) 2022-03-25 2022-03-25 置盤裝置及作業機

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW111111413A TWI800330B (zh) 2022-03-25 2022-03-25 置盤裝置及作業機

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI800330B TWI800330B (zh) 2023-04-21
TW202337801A true TW202337801A (zh) 2023-10-01

Family

ID=86948972

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW111111413A TWI800330B (zh) 2022-03-25 2022-03-25 置盤裝置及作業機

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI800330B (zh)

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4417470B2 (ja) * 1998-05-11 2010-02-17 株式会社アドバンテスト トレイ移送アーム、電子部品ハンドリング装置および電子部品試験装置
KR100517074B1 (ko) * 2003-06-05 2005-09-26 삼성전자주식회사 트레이 트랜스퍼 유닛 및 그를 포함하는 자동 테스트 핸들러
WO2008107959A1 (ja) * 2007-03-02 2008-09-12 Advantest Corporation トレイ交換方法
WO2008142753A1 (ja) * 2007-05-18 2008-11-27 Advantest Corporation トレイ格納装置、電子部品試験装置及びトレイ格納方法
TWI333930B (en) * 2007-06-15 2010-12-01 King Yuan Electronics Co Ltd Tray transportation device
TWI409899B (zh) * 2008-08-28 2013-09-21 King Yuan Electronics Co Ltd Automatic conversion disk device
TWI385396B (zh) * 2009-02-20 2013-02-11 Hon Tech Inc Test machine used to test the flash drive
TWM453238U (zh) * 2012-09-07 2013-05-11 Hai Hong Prec Co Ltd 自動換載盤機及其收納卡匣結構
TWI748508B (zh) * 2020-06-08 2021-12-01 鴻勁精密股份有限公司 置料裝置及其應用之作業設備
TWI766311B (zh) * 2020-07-10 2022-06-01 鴻勁精密股份有限公司 電子元件轉運裝置及其應用之作業設備

Also Published As

Publication number Publication date
TWI800330B (zh) 2023-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6518745B2 (en) Device test handler and method for operating the same
US8056698B2 (en) Tray handling apparatus and semiconductor device inspecting method using the same
CN111604220B (zh) 一种高效点胶组装设备及采用该设备的组装方法
KR101327455B1 (ko) 테스트 핸들러 및 그 반도체 소자 공급 배출 방법
US20070296448A1 (en) Burn-in sorter and sorting method using the same
KR102269567B1 (ko) 소자소팅장치
KR20060087850A (ko) 반도체 소자 검사장치
KR102401058B1 (ko) 소자핸들러
CN113415485B (zh) 一种全自动散装电子元器件分拣外观检测测试包装设备
KR100833716B1 (ko) 반도체 소자 비전 검사 시스템
KR20180046549A (ko) 렌즈유닛 분류장치 및 이를 구비하는 렌즈유닛 분류 시스템
KR20180089325A (ko) 소자소팅장치
CN205309782U (zh) 一种智能手表自动生产线
TWI448680B (zh) 視覺檢測設備
TWI671847B (zh) 電子元件作業設備
KR100914219B1 (ko) 테스트 핸들러
TWI468676B (zh) Semiconductor element appearance inspection classification machine
KR100815131B1 (ko) 트레이 로딩/언로딩장치 및 이를 포함하는 테스트 핸들러
JP7102029B2 (ja) 自動選別仕分けシステム
CN210982264U (zh) 一种镜头缺陷自动检测设备
TW202337801A (zh) 置盤裝置及作業機
KR101496047B1 (ko) 반도체 패키지 분류 장치
TWI804322B (zh) 置盤裝置及作業機
KR101508507B1 (ko) 비전검사장비의 픽커 유니트
KR100663385B1 (ko) 반도체 소자의 비전 검사 시스템