TW202045375A - 包含亂數用以控制流體施配裝置之資料封包 - Google Patents

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Abstract

於某些實例中，一流體施配裝置包含：含有一流體之一儲存室、流體致動器、以及用以接收一資料封包的一介面，該資料封包包含控制該等流體致動器之啟動的資訊，該資料封包包含藉著一亂數產生器產生之一亂數。

Description

包含亂數用以控制流體施配裝置之資料封包
發明領域 本發明係有關於一種包含亂數用以控制流體施配裝置之資料封包。
發明背景 一種流體施配系統可施配流體至一目標。於某些實例中，一流體施配系統可包含一列印系統，諸如一二維(2D)列印系統或一三維(3D)列印系統。一列印系統可包含列印頭裝置而該列印頭裝置包含流體致動器以導致列印流體之施配。
發明概要 本發明係有關於一種流體施配裝置包含一含有流體之儲存室；流體致動器；以及一介面以接收一資料封包而該資料封包包含控制該等流體致動器之啟動之資訊，該資料封包包含藉著一亂數產生器產生之一亂數。
詳細說明 本揭露內容中，術語”一(a)”、”一(an)”、或”該“亦意圖包含多數型式，除非本文清楚地做相反指示。另，術語”包含(includes)”、”包含(including)”、”包含(comprises)”、”包含(comprising)”、”具有(have)”、或”具有(having)”當在此揭露內容中使用時係指定所陳述元件之存在，但不排除其他元件之存在或添加。
一流體施配裝置可包含流體致動器而該流體致動器當啟動時導致一流體之施配(例如，噴出或其他流動)。例如，流體之施配可包含藉著已啟動之流體致動器由流體施配裝置之個別噴嘴中噴出流體液滴。於其他實例中，一已啟動之流體致動器(諸如一泵)可導致流體流經一流體導管或流體室。啟動一流體致動器以施配流體因此可指啟動該流體致動器以自一噴嘴噴出流體或啟動該流體致動器以導致流體經由一流動結構，諸如一流動導管、一流體室、等，之一流動。
啟動一流體致動器亦可指起動該流體致動器。於某些實例中，流體致動器包含熱型流體致動器而該流體致動器包含加熱元件，諸如電阻式加熱器。當一加熱元件啟動時，該加熱元件產生熱量而該熱量可導致一流體之氣化以造成鄰近熱型流體致動器之一蒸氣泡(例如，一蒸汽泡)之成核而此舉依序導致一流體量之施配，諸如自一噴嘴之一孔口噴出或流經一流體導管或流體室。於其他實例中，一流體致動器可為一壓電薄膜型流體致動器而該流體致動器當啟動時施加一機械力以施配一流體量。
於一流體施配裝置包含噴嘴之實例中，每一噴嘴包含一流體室，亦稱為一起動室。此外，一噴嘴可包含一孔口而流體係經由該孔口施配、一流體致動器、以及一感測器。每一流體室提供流體以藉著個別噴嘴施配。
通常，一流體致動器可為一噴出式流體致動器以導致一流體之噴出，諸如經由一噴嘴之一孔洞、或一非噴出式流體致動器以導致一流體之流動。
一流體施配裝置包含一介面以接收來自一流體施配系統之一系統控制器之控制資料。於某些案例中，介面可經歷一功能性問題而該功能性問題可能導致該介面無法正確地接收來自系統控制器之控制資料。例如，短路、斷路、或其他電路瑕疵或電器互連瑕疵之存在可能導致控制資料在流體施配裝置中錯誤地接收。於其他案例中，介面可能在流體施配裝置之一操作期間因該流體施配裝置之振動所造成之振動感應連接問題而故障。於另外案例中，介面可能在流體施配裝置之一操作期間因靜電放電而故障。
於某些實例中，一流體施配裝置之介面驗證可能在該流體施配裝置之實際操作前(例如，在一列印系統中之實際列印前)、或在另一時間(例如，當包含流體施配裝置之一系統基於維護或服務而空檔時)實施。於此類實例中，在流體施配裝置實際使用之操作期間介面之即時驗證係不可能的。因此，基於流體施配裝置之操作所致之流體施配裝置之介面故障可能無法檢測。
一流體施配裝置亦可具有大量流體致動器而該等流體致動器以相當高之速度操作，使得資料與控制信號之大量轉移可能發生。此類高頻之信號轉移可導致流體施配裝置產生高電磁(EM)輻射而該等高電磁輻射可能違反政府規定、工業標準、或其他政策。
依據本揭露內容之某些建置，為了容許一流體施配裝置之即時驗證，於是技術或機制在包含控制資訊之資料封包中提供亂數俾控制一流體施配裝置中之流體致動器之啟動。亂數係藉著一亂數產生器產生，該亂數產生器可為一系統控制器之部分。一資料封包之亂數係藉著流體施配裝置之一介面接收。介面接收之亂數依序係藉著流體施配裝置之一感測輸出予以輸出，以及藉著系統控制器接收。系統控制器接著可驗證由流體施配裝置輸出之亂數是否與系統控制器提供至流體施配裝置之資料封包中所包含之亂數相同。
於本揭露內容之進一步建置中，一資料封包中所包含之亂數之一長度亦係隨機化者。因此，一第一資料封包中之一第一亂數可具有一隨機長度而該長度不同於一第二資料封包中之一第二亂數之一長度。系統控制器啟動提供至流體施配裝置之一啟動信號(亦稱為一起動信號)之時間係以一資料封包之終端之一時間為依據。此外，藉著在不同資料封包中包含不同長度之亂數，該等不同資料封包之整體長度改變，此舉影響每一資料封包之終端之時序且因此影響起動信號之時序以及整體啟動週期(亦稱為一起動週期)。起動週期係指起動信號被啟動之一時間區間的整體時間長度(包含起動信號處於不作用之任何閒置或空檔時間)。個別之起動信號啟動與起動週期之隨機式改變時序係指該等起動信號啟動與起動週期之一高頻振動程序。因此，回應不同資料封包之啟動流體致動器用之起動信號之頻率係分散跨越一頻率範圍，此舉相較於起動信號之頻率係恆定跨越不同啟動區間之建置而言可有效地減少EM輻射。
圖1係，依據某些實例，一流體施配系統100之一方塊圖。流體施配系統100可為一列印系統，諸如一2D列印系統或一3D列印系統。於其他實例中，流體施配系統100可為一不同型式之流體施配系統。其他型式之流體施配系統之實例包含那些在流體感測系統、醫療系統、車輛、流體流動控制系統、等中所使用者。
流體施配系統100包含一流體施配裝置102，該流體施配裝置可安裝至流體施配系統100之一托架103(或其他型式之支撐結構)。於某些實例中，流體施配裝置102可為一流體卡匣(例如，一列印卡匣)之型式而該流體卡匣係可移除式安裝至托架103。於其他實例中，流體施配裝置102可固定式安裝至流體施配系統100內。
流體施配裝置102包含一流體施配部104(或多數流體施配部104)俾將流體施配至一目標106。於某些實例中，托架103與目標106可相互移動(托架可移動或目標106可移動或托架與目標106兩者皆可移動)。
於某些實例中，一流體施配部104可為一流體晶粒之型式。一”晶粒”係指一組合件其中各種層材均形成在一基材上以製作電路、流體室、及流體導管。多數流體晶粒可安裝或附接至一支撐結構。於其他實例中，一流體施配部104可包含一流體晶粒薄片，該流體晶粒薄片可形成具有，舉例而言，一長寬(L/W)比至少為三之一薄基材(例如，具有650微米(µm)或更小等級之一厚度)。一晶粒薄片於其他實例中可為其他尺寸。多數流體晶粒薄片可模製在一單片式模製結構內，舉例而言。
於一2D列印系統中，流體施配裝置102包含一列印頭而該列印頭將列印流體(例如，墨水)噴出至一列印媒介上，諸如一紙張媒介、一塑膠媒介、等。
於一3D列印系統中，流體施配裝置102包含一列印頭而該列印頭可將任何各種不同之液態劑噴出至一列印目標，其中該等液態劑可包含下列之任何或某種組合：墨水、用以熔融或聚合一層造型材料之粉末之一製劑、細部化一層造型材料之一製劑(諸如藉著界定該層造型材料之邊緣或形狀)、等。於一3D列印系統中，一3D目標係藉著將連續之造型材料層材沉積在3D列印系統之一構建平台上的方式製作。每一層造型材料可利用來自一列印頭之列印流體加以處理以形成該層造型材料所期望之形狀、結構、及/或其他特性。
一流體施配部104包含一陣列之流體致動器108。該陣列之流體致動器108可包含一列流體致動器，或多數列之流體致動器。流體致動器108可編制成多數基元，其中每一基元包含一特定數量之流體致動器。流體致動器108可為噴嘴之部分或可關聯於其他型式之流動結構，諸如流體導管、流體室、等。每一流體致動器係藉著流體施配系統100中之一控制器(例如，一系統控制器110)所提供之一個別不同位址選擇。
如此處所使用者，一”控制器”可指一硬體處理電路，該硬體處理電路可包含一微處理器、一多核心微處理器之一核心、一微控制器、一可程式積體電路(例如，可程式應用積體電路(ASIC)、等)、一可程式閘陣列、一數位信號處理器、若干分離式硬體組件(例如，計時器、計數器、狀態機器、等)、或另一硬體處理電路之任何或某種組合。替代地，一"控制器"可指一硬體處理電路及可在該硬體處理電路上執行之機器可讀指令(軟體及/或韌體)之一種組合。
雖然圖1顯示系統控制器110為一個方塊，然而可注意的是系統控制器110可實際上代表實施個別工作之多數控制器。例如，系統控制器110可利用多數ASICs執行，其中一ASIC可配置在托架103上，以及另一ACIC可為一主要ASIC用以控制流體施配操作(例如，列印操作)。
系統控制器110傳送各種資訊112至流體施配裝置102。雖然圖1顯示資訊112係藉著系統控制器110經由一鏈路直接地傳送至流體施配裝置102，然而注意到的是於其他實例中資訊112可經由托架103之一電氣連接器傳送至流體施配裝置102。
藉著系統控制器110提供至流體施配裝置102之資訊112包含一資料信號(或多數資料信號)用以攜帶一資料封包114至流體施配裝置102。資訊112亦包含一時脈信號116及一起動信號118。於某些實例中，可有多數不同時脈信號116。於其他實例中，系統控制器110可僅提供一時脈信號至流體施配裝置102。資訊112亦可包含其他資訊(未顯示)。
系統控制器110包含一控制資訊產生器120以產生將包含在資料封包114內之控制資訊。作為實例而言，控制資訊產生器120產生之控制資訊包含基元資料及位址資料。基元資料係在流體施配裝置102中之流體致動器108以基元配置之實例內提供。更普遍地，基元資料亦可稱為”起動資料”，該起動資料係用以控制一基元內之一流體致動器(或多數流體致動器)之啟動或不啟動之資料。
在流體致動器108組成基元之實例中，基元資料可包含對應位元以代表當一起動脈衝傳送至一基元時該基元之哪個(些)流體致動器係被啟動。一起動脈衝對應被啟動之起動信號118。
位址資料包含位址位元而該等位址位元界定一位址俾選擇將要啟動之流體致動器108。在流體致動器108組成基元之實例中，每一基元包含一組流體致動器，以及該基元之流體致動器係藉著位址位元所代表之個別不同位址予以選擇。
控制資訊亦可包含其他資訊而該其他資訊可包含在由系統控制器110傳送至流體施配裝置102之資料封包114內。
依據本揭露內容之某些建置，一亂數亦可包含在由系統控制器110傳送至流體施配裝置102之資料封包114內。亂數係藉著一亂數產生器(RNG) 122產生。
RNG 122可包含一虛擬-RNG，以硬體或機器可讀指令(例如，軟體及/或韌體)執行。一虛擬-RNG依據提供至虛擬-RNG之一種子產生一亂數。一”種子”係一數值而該數值係用以初始化虛擬-RNG，該虛擬-RNG接著進行以產生亂數之一集合。
RNG 122產生之亂數亦可在長度上作改變。例如，RNG 120產生之亂數可在一長度範圍內，諸如0位元、2位元、4位元、6位元、或8位元，舉例而言，改變長度。一0-位元亂數意為並無亂數包含在資料封包114內。
相同RNG 122(或一不同RNG)可用以界定一亂數之隨機長度。例如，假設RNG 122為每一啟動區間輸出一N-位元(N>1)亂數，亂數之N個位元之一第一子集可界定該亂數，而N個位元之一第二子集可界定長度。N個位元之該第二子集可映射以提供長度之一目標分佈。例如，對於一近乎均勻之分佈(略微傾向至零長度)而言，四個位元可配置給第二子集以及0-3之數值可映射至0-位元長度、4-6之數值可映射至2-位元長度、7-9之數值可映射至4-位元長度、10-12之數值可映射至6-位元長度、以及13-15之數值可映射至8-位元長度。映射及/或映射之大小(4-位元、8-位元、或其他)可改變以修改或產生長度之一目標分佈，諸如一高斯分佈、均勻分佈、等。
流體施配裝置102包含一介面130而該介面與系統控制器110連通。於某些案例中，介面130可為一流體施配部104之部分。假設有多數流體施配部，可有多數對應介面130。
於某些實例中，介面130包含一移位暫存器132而系統控制器110提供之資料封包114可在該移位暫存器內串列式一次移位一位元。例如，資料封包114可在一資料時脈之每一次轉換時移位至移位暫存器132內，該資料時脈可為系統控制器110所提供之時脈信號116中之一者。一移位暫存器包含一儲存元件鏈(例如D正反器)而該儲存元件鏈隨同一時脈信號(所述實例中之資料時脈)之轉換沿著該儲存元件鏈連續式傳送資料位元。移位暫存器132係一串列式介面之一例示性型式而資料封包114之位元係在該介面處接收。
圖2A顯示一資料封包114之一實例，而該封包可藉著一系統控制器110提供至流體施配裝置102。資料封包114係移位至移位暫存器132內，如箭號202所指示者。資料封包114包含一隨機資料204充作資料封包114之前部。資料封包114之前部係資料封包114之第一部分而該第一部分係移位至移位暫存器132內。隨機資料204包含藉著系統控制器110之RNG 122產生之一亂數。
於圖2A所示之實例中，隨著隨機資料204之後，資料封包114之次一部分包含頭標資料206。頭標資料206係隨著隨機資料204之後移位至移位暫存器132內。
此外，隨著頭標資料206後之資料封包114之次一部分包含基元資料208，該基元資料可包含進一步之控制資訊，包含藉著資料封包114傳送之一位址之位址位元之第一子集。基元資料208係隨著頭標資料206之後移位至移位暫存器132內。
資料封包114之終端部分包含尾標資料210，該尾標資料包含進一步之控制資訊，諸如連同其他控制資訊之位址位元之一第二子集。尾標資料210係在資料封包114之全部其他資料均已移位至移位暫存器132內之後始移位至移位暫存器132內。資料封包114之終端係藉著圖2A中之212來指示。
資料封包114可包含其他資訊(未顯示)。另，雖然一特定次序之資訊單元(204、206、208、210)係顯示於圖2A中，然而注意到的是於其他實例中，資料封包114之資訊單元可為一不同次序。又，於進一步實例中，不同資訊單元可包含在資料封包114內。
如圖1中進一步顯示者，系統控制器110包含一起動信號產生器124用以控制起動信號118之一啟動。起動信號產生器124可檢測資料封包114之終端212而該終端係傳送至流體施配裝置102之介面130之移位暫存器132。回應檢測到資料封包114之終端212，起動信號產生器124啟動該起動信號118。
於某些實例中，在一起動週期內，起動信號118可具有二個啟動脈衝：一前標脈衝及一起動脈衝。一"脈衝”係指當設定為作用時起動信號118之一狀態(例如，作用高或作用低)。前標脈衝及起動脈衝係在一個起動週期內之二個各別脈衝，而前標脈衝與起動脈衝之間具有一閒置時間(或空檔時間)。因此，在一個起動週期內，起動信號118係啟動二次—第一啟動產生前標脈衝，以及第二啟動產生起動脈衝。
於其他實例中，起動信號118可在每一個起動週期內僅啟動一次。
回應檢測到資料封包114之終端212，起動信號產生器124啟動起動號118以產生前標脈衝。假設起動信號118為作用高，前標脈衝之上升邊緣導致移位暫存器132之內容傳送至一鎖存器134內而該鎖存器亦為介面130之部分。傳送至鎖存器134之內容包含資料封包114之控制資訊。
一”鎖存器”係指任何用以緩衝資料俾藉著一裝置控制器136擷取之儲存元件而該裝置控制器係流體施配裝置102之部分。於某些實例中，個別流體施配部 104中可能有多數裝置控制器136之實例。
裝置控制器136可依據鎖存器132中之控制資訊(基元資料、位址、等)控制一流體控制部104(或多數流體控制部104)之流體致動器118之選擇性啟動。
移位暫存器132之輸出端係耦接至介面130之一感測墊140。一”墊”可指任何電氣連接結構而該電氣連接結構可連接至一通訊鏈路。於圖1之實例中，感測墊140係經由一通訊鏈路連接至系統控制器110。雖然圖1顯示感測墊140係經由一鏈路直接地耦接至系統控制器110，然而注意到的是感測墊140可經由托架103之一連接器耦接至系統控制器110。
於圖1之實例中，移位暫存器132之輸出端係連接至多工器142之一第一輸入。多工器142之另一輸入可耦接至提供不同資料之另一電路144。一測試模式信號可提供至多工器142之一選擇輸入，以在第一與第二輸入間作選擇俾輸出至感測墊140。假設測試模式信號係作用(高或低)，則多工器142之第一輸入係選擇將移位暫存器132之輸出耦接至感測墊140。然而，假設測試模式信號係不作用(低或高)，則多工器142之第二輸入係被選擇且藉著多工器142耦接至感測墊140。
測試模式信號可藉著系統控制器110，諸如藉著系統控制器110中之一驗證器146，提供。因此，於一測試模式期間(當測試模式信號係作用時)，多工器142將移位暫存器132之輸出耦接至感測墊140。於其他實例中，測試模式信號可藉著裝置控制器136提供。例如，流體施配裝置102中之一內部暫存器組態可藉著裝置控制器136控制測試模式信號。
於測試模式期間，移位至移位暫存器132外部之資料封包114的隨機資料204係提供至感測墊140俾藉著系統控制器110檢測。注意因為隨機資料204係在資料封包114之前部處，所以隨機資料204依資料時脈之連續週期係將要移位至移位暫存器132外部之資料封包114的第一部分。
系統控制器110中之驗證器146於測試模式期間接收提供至感測墊140之隨機資料204。注意在某些案例中，一零位元之隨機資料可包含在資料封包114中，其意為並無隨機資料在資料封包內因此在此腳本中藉著感測墊140輸出之”隨機資料”204係缺乏隨機資料。
驗證器146知曉哪個亂數係提供在由系統控制器110傳送至流體施配裝置102之資料封包114內。例如，RNG 122產生之亂數可提供至驗證器146(且暫時性儲存)俾與包含在來自感測墊140之接收隨機資料204內之一亂數作比較。
驗證器146將來自感測墊資料140之接收隨機資料204與來自RNG 122之亂數作比較。假設接收之隨機資料204匹配來自RNG 122之亂數，則驗證器146可確認介面130於資料封包114之接收期間並未引入任何錯誤。然而，假設接收之隨機資料204不匹配來自RNG 122之亂數，則驗證器146可輸出介面130中存有一錯誤之一錯誤指示148。錯誤指示148可由系統控制器110(或一不同控制器)使用以傳送一警報至一使用者或另一個體，諸如一機器或程式以採取補救行動，以便關閉流體施配系統100之操作或一不同補救行動。
圖2B顯示具有二個不同資料封包(資料封包1及資料封包2)之一實例。資料封包1包含連同隨機資料RD1之控制資訊1(包含基元資料、頭標資料、尾標資料、等)。資料封包2包含連同隨機資料RD2之控制資訊2。於圖2B之實例中，隨機資料RD1具有較隨機資料RD2為長之一長度。因此，資料封包1之整體長度1係較資料封包2之整體長度2為長。
如圖2B中進一步顯示者，移位暫存器132具有一長度(長度3)而該長度係一資料封包之控制資訊(例如，控制資訊1或控制資訊2)之長度。不同資料封包之控制資訊具有相同長度。因此，於某些實例中，資料封包1中之控制資訊1具有與資料封包2中之控制資訊2相同之長度(長度3)。資料封包1與2中之長度不同係基於隨機資料RD1與RD2之長度不同所致。
因此，因為隨機資料係在每一資料封包之前部提供，所以當資料封包依資料時脈之 連續週期移位至移位暫存器132內時每一資料封包中之隨機資料之位元將首先移位至移位暫存器132外部。一旦資料封包之終端212移位至移位暫存器132內時，資料封包中之任何隨機資料將已移位至移位暫存器132外部。
圖3係一時序圖其顯示各種信號之波形，包含系統時脈、資料時脈、資料信號(資料封包114係經由該資料信號傳送)、以及起動信號118。系統時脈係系統控制器110產生之另一時脈信號116(圖1)。於某些實例中系統時脈可以一較資料時脈為高之頻率運作。
圖3顯示在一啟動區間n(或起動週期n)內之一資料傳送，以及在次一啟動區間n+1(或次一起動週期n+1)內之一資料傳送。於圖3之實例中，一啟動區間係描述充作一起動脈衝群(FPG)。每一資料封包包含一個別啟動區間(例如，一FPG)用之控制資訊。於圖3之實例中，FPGn 用之資料傳送係以302代表，而次一FPG用之資料傳送，FPGn+1 ，係以304代表。
資料時脈脈衝306係FPGn 用之最後資料時脈脈衝(亦即，資料時脈脈衝306係將資料封包114(圖2)之尾標資料210之最後位元移位至移位暫存器132內之時脈)。
於圖3之實例中，隨著FPGn 用之資料封包114之終端212移位至移位暫存器132內之後(如資料時脈脈衝306之下降邊緣所指示者)，起動信號118係隨著資料時脈脈衝306之下降邊緣後之一延遲310時啟動(308) 。雖然圖3在資料時脈脈衝306之下降邊緣與FPGn 用之起動信號118之一第一上升邊緣308之間顯示一微小延遲310，然而注意到的是起動信號118之第一上升邊緣308可與資料時脈脈衝306之下降邊緣重合。於某些實例中，延遲310係等於系統時脈之二個週期。
對次一FPGn+1 用之資料傳送304而言，隨機資料312係提供在次一FPGn+1 用之資料封包114上，以及資料封包114係回應FPGn+1 用之資料時脈脈衝314而移位至移位暫存器132內。
於某些實例中，如上文所註解者，起動信號118可在每一個起動週期(例如，FPG)內啟動二次。FPGn 用之起動信號118之第一啟動(308)產生一前標脈衝(320)以將來自移位暫存器132之資料閂鎖至鎖存器134，如圖1中所示。FPGn 用之起動信號118之第二啟動(316)產生一起動脈衝322而該起動脈衝導致基元中之流體致動器之啟動如同藉著FPGn 用之資料封包中之基元資料所指定者。
注意FPGn+1 用之資料封包之資料傳送可於FPGn 用之前標與起動脈衝320與322之產生期間發生。
一個起動週期之長度在圖3中係以350代表。起動週期自FPGn 用之前標脈衝之上升邊緣308開始，以及在次一FPGn+1 用之前標脈衝之上升邊緣352處結束。起動週期350包含前標脈衝320之寬度、前標脈衝320與起動脈衝322間之一閒置時間之寬度、起動脈衝322之寬度、以及起動脈衝322與次一FPGn+1 用之前標脈衝間之一閒置時間之寬度。
一資料封包中所包含之隨機資料之長度的改變導致起動週期350之長度之一改變。注意一資料封包中所包含之隨機資料之長度之一改變不會導致前標脈衝320之寬度、前標脈衝320與起動脈衝322間之一閒置時間之寬度、以及起動脈衝322之寬度的改變。然而，一資料封包中所包含之隨機資料之長度改變導致一現行FPG之起動脈衝之下降邊緣與次一FPG之前標脈衝間之一閒置時間之寬度之一對應改變。
圖4係一流體施配裝置400(例如，圖1之流體施配裝置102)之一方塊圖，該流體施配裝置可為一流體卡匣之型式(例如，列印卡匣)，舉例而言。流體施配裝置400包含一含有一流體(例如，一列印材料)之儲存室402。流體施配裝置400進一步包含流體致動器404，諸如流體致動器108。
流體施配裝置400額外地包含一介面406以接收一資料封包408而該封包包含控制流體致動器之啟動之資訊，該資料封包包含藉著一亂數產生器產生之一亂數408。額外地，資料封包中之亂數之長度係隨機式導出。
於某些實例中，介面400包含一串列式介面以接收資料封包之一系列位元。串列式介面可為一移位暫存器之型式。
於進一步實例中，流體施配裝置400包含耦接至介面406之一感測輸出(例如，圖1之感測墊140)，該感測輸出係提供亂數至流體施配裝置400外部之一控制器(例如，系統控制器110)，其中所提供之亂數可由控制器使用以檢測流體施配裝置400之一問題。
圖5係一流體施配系統500之一方塊圖而該流體施配系統包含一支撐結構501(例如，圖1之托架103)以收納一流體施配裝置。流體施配系統500包含一控制器502(例如圖1之系統控制器110)以實施各種工作。控制器502可實施一亂數產生工作504而該工作產生一亂數。控制器502進一步實施一資料封包產生工作506以將亂數及控制資訊(而該控制資訊係控制流體施配裝置中之流體致動器之啟動) 包含至一資料封包內。
控制器502實施一資料封包傳送工作508以將資料封包傳送至流體施配裝置，以及一亂數接收工作510以在資料封包被流體施配裝置之一介面接收之後接收，自流體施配裝置之一輸出，一型式之亂數。
控制器502進一步實施一問題判定工作512以回應產生之亂數與自流體施配裝置之輸出接收之該型式之亂數之一比較來判定是否流體施配裝置中存在一問題。
於進一步實例中，控制器502可隨機式導出亂數之一長度使得資料封包中包含之亂數與包含控制流體施配裝置中之流體致動器之啟動之資訊之另一資料封包中包含之一亂數之一長度不同。
圖6係依據某些實例之一程序之一流程圖。圖6之程序包含串列式輸入(在步驟602處)，至一流體施配裝置中之一移位暫存器內(例如，圖1中之132)，一自該流體施配裝置外部之一系統控制器(例如，110)接收之資料封包，該資料封包包含控制該流體施配裝置之流體致動器之啟動之資訊，以及藉著一亂數產生器產生之一亂數。
圖6之程序進一步包含回應檢測到移位至該移位暫存器內之該資料封包之一終端以啟動(在步驟604處)，藉著該流體施配裝置之一裝置控制器(例如，136)，一啟動信號(例如，起動信號118)，該啟動信號係控制啟動該等流體致動器中之一流體致動器之一時序。
在控制器110或502包含機器可讀指令之實例中，該等機器可讀指令可儲存在一非暫時性機器可讀或電腦可讀儲存媒介內。儲存媒介可包含下列之任何或某種組合：一半導體記憶裝置諸如一動態或靜態隨機存取記憶體(一DRAM或SRAM)、一可抹除與可程式唯讀記憶體(EPROM)、一電氣式可抹除與可程式唯讀記憶體(EEPROM)及快閃記憶體；一磁碟諸如一固定式、軟式及可移除式磁碟；另一磁性媒介包含磁帶；一光學媒介諸如一光碟(CD)或一數位光碟(DVD)；或另一型式之儲存裝置。注意上文所討論之指令可在一電腦可讀或機器可讀儲存媒介上提供，或替代地，可在一可能具有多數節點之大型系統中分佈之多數電腦可讀或機器可讀儲存媒介上提供。此種電腦可讀或機器可讀之儲存媒介或多數媒介係視為一物品(或製品)之部分。一物品或製品可指任何製成之單一組件或多數組件。儲存媒介或多數媒介可安置在操作機器可讀指令之機器中，或安置在一遠端位置處而機器可讀指令可經由一網路自該遠端位置下載以供執行之用。
於前述說明中，各種細節係陳述以提供對此處所揭示之標的之一理解。然而，建置可加以實施而無需某些此類細節。其他建置可包含來自上文所討論細節之修改或變異。意圖係隨附請求項涵蓋此類修改及變異。
100、500:流體施配系統 102、400:流體施配裝置 103:托架 104:流體施配部/流體控制部 106:目標 108、404:流體致動器 110:系統控制器 112:資訊 114:資料封包/資料 116:時脈信號 118:起動信號/起動 120:控制資訊產生器 122:亂數產生器 124:起動信號產生器 130、406:介面 132:移位暫存器 134:鎖存器 136:裝置控制器 140:感測墊 142:多工器 144:電路 146:驗證器 148:錯誤指示/錯誤 202:箭號 204:隨機資料 206:頭標資料 208:基元資料 210:尾標資料 212:終端 302:FPGn資料傳送 304:FPGn+1資料傳送 306、314:資料時脈脈衝 308:上升邊緣/第一啟動 310:延遲 312:隨機資料 316:第二啟動 320:前標脈衝 322:起動脈衝 350:起動週期 352:上升邊緣 402:儲存室 408:資料封包/亂數 501:支撐結構 502:控制器 504:亂數產生工作 506:資料封包產生工作 508:資料封包傳送工作 510:亂數接收工作 512:問題判定工作 602、604:步驟
本揭露內容之某些建置係關於下列圖式加以說明。
圖1係依據某些實例之一流體施配系統之一方塊圖。
圖2A揭示，依據某些實例，移位至一移位暫存器內用之一資料封包。
圖2B揭示，依據某些實例，具有不同長度之亂數之資料封包。
圖3係揭示依據某些實例之各種信號之一時序圖。
圖4係依據某些實例之一流體施配裝置之一方塊圖。
圖5係依據進一步實例之一流體施配系統之一方塊圖。
圖6係依據某些實例之一程序之一流程圖。
通篇圖式中，相同參考號碼標定類似、但不必然相同，之元件。本圖式不必然按照比例，且某些零件之尺寸可予以放大以更清楚地揭示所顯示之實例。此外，本圖式提供與說明一致之實例及/或建置；然而，本說明不限於圖式中所提供之實例及/或建置。
400:流體施配裝置
402:儲存室
404:流體致動器
406:介面
408:亂數

Claims (15)

  1. 一種流體施配裝置包含： 一儲存室，包含一流體； 流體致動器；以及 用以接收一資料封包的一介面，該資料封包包含控制該等流體致動器之啟動的資訊，該資料封包包含藉著一亂數產生器產生之一亂數。
  2. 如請求項1之流體施配裝置，其中該亂數係包括在該資料封包之一前部內。
  3. 如請求項1之流體施配裝置，其中該介面包含一串列式介面，以接收該資料封包之一系列位元。
  4. 如請求項3之流體施配裝置，其中該串列式介面包含一移位暫存器而該資料封包係串列式移位至該移位暫存器內。
  5. 如請求項1之流體施配裝置，其中該資料封包中之該亂數之一長度係隨機式導出。
  6. 如請求項1之流體施配裝置，進一步包含： 耦接至該介面的一感測輸出介面，該感測輸出將該亂數提供至該流體施配裝置外部之一控制器，提供之該亂數可由該控制器使用以檢測該流體施配裝置之一問題。
  7. 如請求項6之流體施配裝置，進一步包含： 一移位暫存器，以接收該資料封包及當該資料封包移位至該移位暫存器內時輸出該亂數；以及 一多工器，包含連接至該移位暫存器之一輸出的一第一輸入，及連接至該流體施配裝置之一電路的一第二輸入，該多工器當設定在一測試模式中時係選擇式輸出該亂數至該感測輸出。
  8. 如請求項1之流體施配裝置，其中該資料封包係一第一資料封包，且該第一資料封包中之該亂數具有一第一長度，以及其中該介面接收一第二資料封包而該第二資料封包包含控制該等流體致動器之啟動的資訊，該第二資料封包包含一亂數而該亂數具有與該第一長度不同之一第二長度。
  9. 如請求項8之流體施配裝置，其中該等第一與第二資料封包中之每一個別資料封包中之該亂數係包括在該個別資料封包之一前部中，該流體施配裝置進一步包含： 一移位暫存器，以經由該移位暫存器移位該等第一與第二資料封包中之每一資料封包；以及 一鎖存器，以在一信號之啟動時接收該移位暫存器內之資料，該信號之該啟動回應移位至該移位暫存器內之該等第一與第二資料封包中之一資料封包之一終端，以及其中個別的該等第一與第二封包中之該等第一與第二亂數之不同長度導致該信號之該啟動之一時序不同。
  10. 如請求項9之流體施配裝置，其中個別的該等第一與第二封包中之該等第一與第二亂數之該等不同長度導致回應該等第一與第二封包之起動週期不同。
  11. 如請求項9之流體施配裝置，其中該移位暫存器之一長度係等於一資料封包中之控制資訊的一長度，該控制資訊排除該亂數。
  12. 一種流體施配系統包含： 一支撐結構，以收納一流體施配裝置；以及 一控制器以： 產生一亂數且將該亂數包括在一資料封包內而該資料封包進一步包含控制該流體施配裝置中之流體致動器之啟動的資訊； 傳送該資料封包至該流體施配裝置； 在該資料封包藉著該流體施配裝置之一介面接收之後，從該流體施配裝置之一輸出接收一型式之該亂數；以及 回應產生之該亂數與從該流體施配裝置之該輸出接收的該型式之該亂數的一比較以判定是否該流體施配裝置中存在一問題。
  13. 如請求項12之流體施配系統，其中該控制器係： 隨機式導出該亂數之一長度使得包括在該資料封包內之該亂數係與包含控制該流體施配裝置中之流體致動器之啟動的資訊之另一資料封包中包括之一亂數的一長度不同。
  14. 一種方法包含： 串列式輸入從該流體施配裝置外部之一系統控制器接收之一資料封包至一流體施配裝置中之一移位暫存器內，該資料封包包含控制該流體施配裝置之流體致動器的啟動之資訊，以及藉著一亂數產生器產生之一亂數；以及 回應檢測到移位至該移位暫存器內之該資料封包的一終端，藉著該流體施配裝置之一裝置控制器啟動一啟動信號，該啟動信號控制啟動該等流體致動器中之一流體致動器的一時序。
  15. 如請求項14之方法，進一步包含： 藉著該系統控制器從該流體施配裝置之一感測輸出接收經由該移位暫存器移位且滾離該移位暫存器之一終端的該亂數；以及 回應從該感測輸出接收之該亂數與該亂數產生器產生之該亂數的一比較，藉著該系統控制器判定是否該流體施配裝置中存在一問題。
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