TW202004721A - 顯示裝置及陣列基板 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種可抑制畫質之降低之顯示裝置及陣列基板。 本發明之顯示裝置具備：基板；複數個像素，其等排列於基板；無機發光元件，其設置於複數個像素之各者；電晶體，其設置於基板之其中一面側，且連接於無機發光元件；配線，其設置於基板之其中一面側，且連接於電晶體；及圓偏光板，其設置於基板之其中一側。

Description

顯示裝置及陣列基板
本發明係關於一種顯示裝置及陣列基板。
近年來，使用無機發光二極體(微型LED(micro LED))作為顯示元件之無機EL顯示器受到關注(例如參照專利文獻1)。無機EL顯示器將出射不同顏色之光之複數個發光元件排列於陣列基板上。無機EL顯示器由於使用自發光元件，故而不需要光源，又，由於不經由彩色濾光片而出射光，故而光之利用效率較高。又，無機EL顯示器與使用有機發光二極體(OLED：Organic Light Emitting Diode)作為顯示元件之有機EL顯示器相比耐環境性優異。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特表2017-529557號公報
[發明所欲解決之問題]
於無機EL顯示器所具有之複數個像素中配置有複數個電晶體。複數個電晶體經由低電阻配線而連接於電源線、閘極線或信號線。低電阻配線之可見光之反射率較大。因此，於無機EL顯示器在屋外等使用之情形時，存在低電阻配線反射外界光而圖像之亮度降低，從而畫質降低之可能性。
本發明係鑒於此種情況而完成者，其目的在於提供一種可抑制畫質降低之顯示裝置及陣列基板。 [解決問題之技術手段]
一態樣之顯示裝置具備：基板；複數個像素，其等排列於上述基板；無機發光元件，其設置於上述複數個像素之各者；電晶體，其設置於上述基板之其中一面側，且連接於上述無機發光元件；配線，其設置於上述基板之其中一面側，且連接於上述電晶體；及圓偏光板，其設置於上述基板之其中一側。
一態樣之陣列基板係安裝複數個無機發光元件者，且具備：基板；電晶體，其設置於上述基板之其中一面側，且連接於上述無機發光元件；及配線，其設置於上述基板之其中一面側，且連接於上述電晶體；且於自上述基板之其中一個面之法線方向俯視時，上述配線為黑色。
以下，一面參照圖式，一面對本發明之各實施形態進行說明。再者，揭示終究僅為一例，關於業者對於保持發明之主旨之適當變更可容易地想到者，當然包含於本發明之範圍內。又，圖式為了使說明更明確，有時與實際之態樣相比，對各部分之寬度、厚度、形狀等模式性地進行表示，但終究為一例，並非限定本發明之解釋。又，於本說明書及各圖中，有時對與上文關於已出現之圖所敍述之要素相同之要素附註相同之符號並適當省略詳細之說明。
圖1係表示實施形態之顯示裝置之構成例之俯視圖。如圖1所示，顯示裝置1包含陣列基板2、像素Pix、驅動電路12、驅動IC(Integrated Circuit，積體電路)210、及陰極配線60。陣列基板2係用以驅動各像素Pix之驅動電路基板，亦稱為底板或主動矩陣基板。
如圖1所示，顯示裝置1具有顯示區域AA、及周邊區域GA。顯示區域AA係配置複數個像素Pix之區域，且係顯示圖像之區域。周邊區域GA係不與複數個像素Pix重疊之區域，且配置於顯示區域AA之外側。
複數個像素Pix於顯示區域AA排列於第1方向Dx及第2方向Dy。再者，第1方向Dx及第2方向Dy係相對於陣列基板2之基板10之其中一面10a(參照圖4)平行之方向。第1方向Dx與第2方向Dy正交。但是，第1方向Dx亦可不與第2方向Dy正交而交叉。第3方向Dz係與第1方向Dx及第2方向Dy正交之方向。例如，與基板10之法線方向對應。再者，以下，所謂俯視係表示自第3方向Dz觀察之情形之位置關係。
驅動電路12係基於來自驅動IC210之各種控制信號驅動複數條閘極線(第1閘極線GCL1及第2閘極線GCL2(參照圖3))之電路。驅動電路12依序或同時選擇複數條閘極線，並對所選擇之閘極線供給閘極驅動信號。藉此，驅動電路12選擇連接於閘極線之複數個像素Pix。
驅動IC210係控制顯示裝置1之顯示之電路。驅動IC210亦可作為COG(Chip On Glass，覆晶玻璃)安裝於基板10之周邊區域GA。並不限定於此，驅動IC210亦可作為COF(Chip On Film，覆晶薄膜)安裝於連接於基板10之周邊區域GA之軟性印刷基板或硬質基板上。
陰極配線60設置於基板10之周邊區域GA。陰極配線60包圍顯示區域AA之複數個像素Pix及周邊區域GA之驅動電路12而設置。複數個無機發光元件100(參照圖4)之陰極(參照圖4)連接於共通之陰極配線60，被供給固定電位(例如接地電位)。更具體而言，無機發光元件100之陰極端子55p(第2端子)經由TFT基板側之陰極電極55e(第2電極)而連接於陰極配線60。
圖2係表示像素之構成例之俯視圖。如圖2所示，1個像素Pix包含複數個像素49。例如，像素Pix具有第1像素49R、第2像素49G、及第3像素49B。第1像素49R顯示作為第1色之原色之紅色。第2像素49G顯示作為第2色之原色之綠色。第3像素49B顯示作為第3色之原色之藍色。如圖2所示，於1個像素Pix中，第1像素49R及第3像素49B於第1方向Dx上排列。又，第2像素49G及第3像素49B於第2方向Dy上排列。再者，第1色、第2色、第3色分別不限於紅色、綠色、藍色，可選擇補色等任意之顏色。以下，於無須分別區別第1像素49R、第2像素49G、及第3像素49B之情形時，稱為像素49。
像素49分別具有無機發光元件100。顯示裝置1於第1像素49R、第2像素49G及第3像素49B中，針對每個無機發光元件100出射不同之光，藉此顯示圖像。無機發光元件100係於俯視下具有3 μm以上300 μm以下左右之大小之無機發光二極體(LED：Light Emitting Diode)晶片，被稱為微型LED(micro LED)。於各像素具備微型LED之顯示裝置亦被稱為微型LED顯示裝置。再者，微型LED之微型並不限定無機發光元件100之大小。
圖3係表示實施形態之顯示裝置之像素電路之構成例之電路圖。像素電路PIC係驅動無機發光元件100之驅動電路。如圖3所示，電路PIC具有開關用之電晶體Tr1、電流切換用之電晶體Tr2、Tr4、驅動用之電晶體Tr3、及無機發光元件100。電晶體Tr1至Tr4、及下述電晶體Tr5(參照圖4)分別係薄膜電晶體(Thin Film Transistor：以下稱為TFT)。
電晶體Tr1之閘極連接於第1閘極線GCL1，源極連接於信號線SGL，汲極連接於電晶體Tr3之閘極。電晶體Tr2之閘極連接於第1閘極線GCL1，源極連接於信號線SGL，汲極連接於電晶體Tr3之源極及電晶體Tr4之汲極。電晶體Tr3之閘極連接於電晶體Tr1之汲極，源極連接於電晶體Tr2、Tr4之各汲極，汲極連接於無機發光元件100之陽極。電晶體Tr4之閘極連接於第2閘極線GCL2，源極連接於電源線LVDD，汲極連接於電晶體Tr2之汲極及電晶體Tr3之源極。
第1電容CS1之一端連接於電晶體Tr1之汲極及電晶體Tr3之閘極，另一端連接於電晶體Tr3之汲極及無機發光元件100之陽極。第2電容CS2之一端連接於電源線LVDD，另一端連接於無機發光元件100之陽極。第1電容CS1及第2電容CS2附加於像素電路PIC，以抑制因電晶體Tr1之寄生電容及漏電流導致之閘極電壓之變動。無機發光元件100之陰極電極55連接於基準電位。作為基準電位例示接地電位。
電源線LVDD連接於定電壓源。電源線LVDD對電晶體Tr4之源極、及第2電容CS2之一端供給直流之定電壓Vdd。信號線SGL連接於定電流源。信號線SGL對電晶體Tr1、Tr2之各源極供給直流之定電流Idata。第1閘極線GCL1及第2閘極線GCL2連接於驅動電路12(參照圖1)。
若顯示裝置1將第1閘極線GCL1之電位設為高(High)，將第2閘極線GCL2之電位設為低(Low)，則電晶體Tr1、Tr2變為接通(ON)，電晶體Tr4變為斷開(Off)。藉此，自信號線SGL對無機發光元件100供給定電流Idata。若顯示裝置1將第1閘極線GCL1之電位設為低，將第2閘極線GCL2之電位設為高，則電晶體Tr1、Tr2變為斷開(Off)，電晶體Tr4變為接通(ON)。藉此，自電源線LVDD對無機發光元件100供給定電壓Vdd。
圖4係表示顯示裝置之構成例之剖視圖。圖4表示以IV-IV’線將圖1所示之俯視圖切斷所得之剖面。圖5係於顯示裝置中將無機發光元件、及連接於無機發光元件之電晶體放大表示之剖視圖。如圖4及圖5所示，顯示裝置1具備基板10、設置於基板10之其中一面10a上之底塗層20、及設置於底塗層20上之複數個電晶體。例如，於基板10之顯示區域AA，作為複數個電晶體，分別設置有包含於像素49之電晶體Tr1、Tr2、Tr3、Tr4。於基板10之周邊區域GA，作為複數個電晶體，設置有包含於驅動電路12之電晶體Tr5。
基板10例如係玻璃基板、石英基板、或丙烯酸樹脂、環氧樹脂、聚醯亞胺樹脂、或聚對苯二甲酸乙二酯(PET)樹脂製之可撓性基板。又，電晶體Tr1至Tr5例如係雙面閘極構造之TFT。電晶體Tr1至Tr5分別具有設置於底塗層20上之第1閘極電極21、設置於底塗層20上並覆蓋第1閘極電極21之絕緣膜24、設置於絕緣膜24上之半導體層25、設置於半導體層25上之絕緣膜29、及設置於絕緣膜29上之第2閘極電極31。絕緣膜24、29係無機絕緣膜，例如包含SiO2 或SiN等。於第3方向Dz上，第1閘極電極21與第2閘極電極31介隔絕緣膜24、半導體層25及絕緣膜29而對向。於絕緣膜24、29中，夾於第1閘極電極21與第2閘極電極31之間之部分作為閘極絕緣膜發揮功能。又，於半導體層25中，夾於第1閘極電極21與第2閘極電極31之間之部分成為TFT之通道27。於半導體層25中，與下述源極電極41s連接之部分係TFT之源極，與下述汲極電極41d連接之部分係TFT之汲極。
再者，於實施形態中，電晶體Tr1至Tr5並不限定於雙面閘極構造。電晶體Tr1至Tr5亦可為閘極電極僅由第1閘極電極21構成之底閘極型。又，電晶體Tr1至Tr5亦可為閘極電極僅由第2閘極電極31構成之頂閘極型。又，亦可無底塗層20。
又，顯示裝置1具備：絕緣膜35，其設置於基板10之其中一面上，且覆蓋複數個電晶體Tr1至Tr5；源極電極41s，其貫通絕緣膜35而連接於複數個電晶體Tr1至Tr5之各源極；汲極電極41d，其貫通絕緣膜35而連接於複數個電晶體Tr1至Tr5之各汲極；陰極配線60，其設置於絕緣膜35上；及絕緣膜42，其覆蓋源極電極41s、汲極電極41d及陰極配線60。絕緣膜35為無機絕緣膜，絕緣膜42為有機絕緣膜。
又，顯示裝置1具備：源極連接配線43s，其貫通絕緣膜42而連接於源極電極41s；汲極連接配線43d，其貫通絕緣膜42而連接於汲極電極41d；及絕緣膜45，其設置於絕緣膜42上，且覆蓋源極連接配線43s及汲極連接配線43d。又，顯示裝置1具備設置於絕緣膜45上之陽極電極50e(第1電極)、及陰極電極55e(第2電極)。陽極電極50e貫通絕緣膜45而連接於電晶體Tr3之汲極連接配線43d。陰極電極55e經由部分陰極配線而連接於設置於周邊區域GA之下述連接部75。連接部75於下述接觸孔H1之底部電性連接於陰極配線60。藉此，各無機發光元件100之陰極(陰極端子55p)經由下述導電部76及陰極電極55e而電性連接於陰極配線60。
又，顯示裝置1具備：絕緣膜70，其設置於絕緣膜45上，且覆蓋陽極電極50e及陰極電極55e之各側面；連接部75；絕緣膜71，其覆蓋無機發光元件100之側面100b；及導電部76，其將無機發光元件100之上表面100a(陰極電極55a)與陰極電極55e連接。絕緣膜70、71為無機絕緣膜。
於周邊區域GA中，於絕緣膜70、45、42設置有以陰極配線60為底面之接觸孔H1。連接部75經由接觸孔H1而連接於陰極配線60。
導電部76介隔絕緣膜71與無機發光元件100之側面100b對向地設置。導電部76覆蓋自無機發光元件100之上表面100a通過側面100b而到達至陰極電極55e上之區域。導電部76之上端連接於無機發光元件100之上表面100a(陰極端子55p)。導電部76之下端經由設置於絕緣膜70之接觸孔H2而與陰極電極55e連接。
又，顯示裝置1具備設置於絕緣膜70上且覆蓋無機發光元件100、導電部76及連接部75之透光性之接著層80、及設置於接著層80上之圓偏光板150。接著層80係用以將圓偏光板150安裝於基板10之其中一面10a側之偏光板糊劑。接著層80之材料例如為丙烯酸系聚合物。再者，接著層80並不限定於單層膜，亦可為積層膜。例如，接著層80亦可為將具有抗反射功能之第1層、及具有密接功能之第2層積層而成之積層膜。
圓偏光板150例如具備直線偏光板、及設置於直線偏光板之其中一面側之1/4相位差板(亦稱為1/4波長板)。較之直線偏光板而1/4相位差板位於更靠近基板10之側。例如，外界光(入射光)藉由通過直線偏光板而變更為直線偏光。直線偏光藉由通過1/4相位差板而變更為圓偏光。圓偏光於配線進行反射，變為與入射光逆轉之圓偏光(反射光)。反射光藉由再次通過1/4相位差板而成為與入射時正交之直線偏光，並被直線偏光板吸收。藉此，於顯示裝置1中，可抑制外界光之反射。
於顯示裝置1中，陣列基板2包含基板10至陽極電極50e及陰極電極55e之各層。於陣列基板2中，不包含絕緣膜70、71、導電部76、無機發光元件100、接著層80及圓偏光板150。
對形成於基板10之其中一面10a側之各層之材料進行說明。第1閘極電極21、第2閘極電極31、源極電極41s、汲極電極41d、源極連接配線43s、汲極連接配線43d、陽極電極50e、陰極電極55e、陰極配線60、連接部75、導電部76例如包含鈦(Ti)、鉬(Mo)、鎢(W)、鉭(Ta)、鈮、銦錫氧化物(ITO)、鋁(Al)、Al合金、銀(Ag)、Ag合金、銅(Cu)、Cu合金、碳奈米管、石墨、石墨烯或碳奈米芽。第1閘極電極21、第2閘極電極31、源極電極41s、汲極電極41d、源極連接配線43s、汲極連接配線43d、陽極電極50、陰極電極55、陰極配線60、連接部75、導電部76可為單層膜，亦可為積層膜。
半導體層25例如包含非晶矽、微晶氧化物半導體、非晶氧化物半導體、多晶矽、低溫多晶矽(以下表示為LTPS(Low Temperature Polycrystalline Silicon))或氮化鎵(GaN)。作為氧化物半導體，例示IGZO、氧化鋅(ZnO)、ITZO。IGZO係銦鎵鋅氧化物。ITZO係銦錫鋅氧化物。
絕緣膜24、29、35、45、70、71例如包含氧化矽膜(SiO2 )、氮化矽膜(SiN)、氮氧化矽膜(SiON)等無機絕緣材料。絕緣膜24、29、35、45、70、71並不限定於單層，亦可為積層膜。絕緣膜71亦可為化學性穩定之鋁氧化物(例如Al2 O3 )。絕緣膜42例如包含丙烯酸樹脂或環氧樹脂等有機絕緣材料。絕緣膜42亦不限定於單層，亦可為積層膜。
圖6係表示實施形態之無機發光元件之構成例之剖視圖。如圖6所示，無機發光元件100具有複數個局部發光元件100s、覆蓋複數個局部發光元件100s之保護層108、p型電極104(包含陽極端子50p)、及n型電極105(包含陰極端子55p)。複數個局部發光元件100s分別呈柱狀形成於p型電極104與n型電極105之間。複數個局部發光元件100s具有n型包覆層103、活性層102、及p型包覆層101。n型電極105電性連接於n型包覆層103。p型電極104電性連接於p型包覆層101。於p型電極104上依序積層p型包覆層101、活性層102、n型包覆層103。
n型包覆層103、活性層102及p型包覆層101係發光層，例如使用氮化鎵(GaN)、磷化鋁銦(AlInP)等化合物半導體。
n型電極105係ITO等透光性之導電性材料。n型電極105係無機發光元件100之陰極端子55p，經由導電部76而連接於陰極電極55。又，p型電極104係無機發光元件100之陽極端子50p，具有Pt層104a、及藉由鍍覆而形成之厚膜Au層104b。厚膜Au層104b與陽極電極50e之載置面50a連接。保護層108例如係SOG(Spin on Glass，旋塗式玻璃)。保護層108之側面成為無機發光元件100之側面100b。
圖7係表示無機發光元件之高度與接著層之厚度之關係之剖視圖。如圖7所示，以陽極電極50e之載置面50a為基準面，將無機發光元件100之高度設為a，將接著層80之厚度設為b。高度a係自陽極電極50之載置面50a至無機發光元件100之上表面100a之距離。厚度b係於遠離無機發光元件100且接著層80形成為平坦之區域，自陽極電極50之載置面50a至接著層80之上表面80a之距離。作為遠離無機發光元件100且接著層80形成為平坦之區域，例如例示周邊區域GA(參照圖4)。
於實施形態中，接著層80之厚度b較佳為無機發光元件100之高度a之1.5倍以上(b÷a≧1.5)。藉此，可減小於接著層80之上表面80a出現之階差，從而可提高接著層80之平坦化度。例如，於顯示區域AA，將接著層80之上表面80a之最大階差設為c。若b÷a≧1.5，則接著層80之平坦化度可實現30以上。平坦化度以100×(b－c)÷b表示。若接著層80之平坦化度為30以上，則容易將圓偏光板150(參照圖4)平行地貼附於基板10之其中一面10a(參照圖4)。
如以上所說明般，實施形態之顯示裝置1具備：基板10；複數個像素49，其等排列於基板10，且顯示不同之顏色；無機發光元件100，其設置於複數個像素49之各者；電晶體Tr1至Tr5，其等設置於基板10之其中一面10a側，且連接於無機發光元件100；配線(例如，第1閘極線GCL1、第2閘極線GCL2、信號線SGL及電源線LVDD、源極電極41s、汲極電極41d、連接部75及導電部76)，其設置於基板10之其中一面10a側，且連接於電晶體Tr1至Tr5；及圓偏光板150，其設置於基板10之其中一側。據此，圓偏光板150吸收通過圓偏光板150並於配線之表面反射之反射光。藉此，例如，即便於屋外外界光(例如較強之可見光)入射至顯示裝置1之畫面，顯示裝置1亦可抑制外界光之反射從而抑制亮度之降低。藉此，顯示裝置1可抑制畫質之降低。
又，顯示裝置1進而具備透光性之第1接著層(例如接著層80)，其設置於基板10與圓偏光板150之間，且與圓偏光板150相接。據此，藉由接著層80而將圓偏光板150安裝於基板10之其中一面10a側。
(變化例1) 於上述實施形態中，說明了藉由接著層80而使基板10之其中一面10a側平坦化。然而，於實施形態中，負責平坦化之絕緣材料並不限定於接著層80。亦可藉由與接著層80分開形成之絕緣材料使基板10之其中一面10a側平坦化。
圖8係表示實施形態之變化例1之顯示裝置之剖視圖。如圖8所示，變化例1之顯示裝置1A具備設置於基板10與接著層80之間之透光性之平坦化層160。平坦化層160例如包含環氧樹脂、矽酮樹脂等絕緣材料。平坦化層160之厚度較接著層80之厚度厚。平坦化層160覆蓋無機發光元件100及連接部75，使基板10之其中一面10a側平坦化。
於變化例1中，將平坦化層160之厚度與接著層80之厚度之和設為b1。平坦化層160之厚度係於遠離無機發光元件100且接著層80形成為平坦之區域(例如周邊區域GA)，自陽極電極50e之載置面50a(參照圖7)至平坦化層160之上表面160a之距離。於變化例1中，厚度b1較佳為無機發光元件100之高度a(參照圖7)之1.5倍以上(b1÷a≧1.5)。據此，可與上述實施形態同樣地減小於接著層80之上表面80a出現之階差，從而可提高接著層80之平坦化度。藉此，容易將圓偏光板150平行地貼附於基板10之其中一面10a。
(變化例2) 實施形態之顯示裝置亦可具備檢測手指等接觸或接近於輸入面之觸摸檢測部。圖9係表示實施形態之變化例2之顯示裝置之剖視圖。如圖9所示，變化例2之顯示裝置1B具備設置於基板10與接著層80之間之觸摸檢測部5、及透光性之第2接著層(例如接著層170)。接著層170設置於觸摸檢測部5與基板10之間，且與觸摸檢測部5相接。觸摸檢測部5例如係帶有觸摸感測器之膜。觸摸檢測部5經由接著層170而安裝於基板10之其中一面10a側。又，於觸摸檢測部5上經由接著層80而安裝有圓偏光板150。
觸摸檢測部5依照自驅動電極驅動器供給之驅動信號，對每一檢測區塊依序進行掃描而進行觸摸檢測。觸摸檢測部5例如係靜電電容方式之觸控面板。觸摸檢測部5具有感測器基體53、設置於感測器基體53之驅動電極Tx、檢測電極Rx及配線L1。
例如，驅動電極Tx及檢測電極Rx配置於顯示區域AA，配線L1配置於周邊區域GA。驅動電極Tx經由配線L1而連接於顯示裝置1之端子部。又，檢測電極Rx經由配置於與配線L1不同之層之另一配線而連接於顯示裝置1之端子部。驅動電極Tx及檢測電極Rx包含ITO(Indium Tin Oxide)等透光性之導電材料。又，驅動電極Tx及檢測電極Rx亦可包含複數條金屬細線。
觸摸檢測部5供給與伴隨手指等外部物體之接近或接觸產生之驅動電極Tx與檢測電極Rx之間之電容變化對應的觸摸檢測信號。觸摸檢測部5執行相互靜電電容方式之觸摸檢測及自我靜電電容方式之觸摸檢測之兩者。或者，觸摸檢測部5亦可執行相互靜電電容方式之觸摸檢測及自我靜電電容方式之觸摸檢測之任一者。
感測器基體53例如使用透光性之膜狀之樹脂。再者，感測器基體53只要係可藉由施加於輸入面IS之按壓而變形之材料即可，例如，亦可為玻璃基板。
接著層170係透光性，例如，係光學用黏著樹脂片材(OCA：Optical Clear Adhesive，光學透明膠)。藉由接著層170，觸摸檢測部5安裝於基板10之其中一面10a側。又，接著層170覆蓋無機發光元件100及連接部75，使基板10之其中一面10a側平坦化。以陽極電極50之載置面50a(參照圖7)為基準面，接著層170之厚度較無機發光元件100之高度厚。接著層170之厚度d1係於遠離無機發光元件100且接著層170形成為平坦之區域(例如周邊區域GA)自陽極電極50e之載置面50a(參照圖7)至接著層170之上表面170a之距離。於變化例2中，厚度d1較佳為無機發光元件100之高度a(參照圖7)之1.5倍以上(d1÷a≧1.5)。
(變化例3) 於上述變化例2中，說明了藉由將觸摸檢測部5安裝於基板10之接著層170而使基板10之其中一面10a側平坦化。然而，於具有觸摸檢測部之顯示裝置中，負責平坦化之絕緣材料並不限定於接著層170。亦可藉由與接著層170分開形成之絕緣材料而使基板10之其中一面10a側平坦化。
圖10係表示實施形態之變化例3之顯示裝置之剖視圖。如圖10所示，變化例3之顯示裝置1C具備設置於基板10與接著層170之間之透光性之平坦化層180。平坦化層180之厚度較接著層170之厚度厚。平坦化層180覆蓋無機發光元件100及連接部75，且使基板10之其中一面10a側平坦化。將平坦化層180之厚度與接著層170之厚度之和設為e1。平坦化層180之厚度係於遠離無機發光元件100且平坦化層180形成為平坦之區域(例如周邊區域GA)自陽極電極50e之載置面50a(參照圖7)至平坦化層180之上表面180a之距離。於變化例3中，厚度e1較佳為無機發光元件100之高度a(參照圖7)之1.5倍以上(e1÷a≧1.5)。
(變化例4) 於實施形態中，亦可於連接於電晶體Tr1至Tr5之配線上設置有黑色構件。圖11係表示實施形態之變化例4之顯示裝置之剖視圖。如圖11所示，變化例4之顯示裝置1D具備黑色之導電構件41BK、60BK、75BK、76BK作為黑色構件。黑色之導電構件41BK分別設置於源極電極41s上及汲極電極41d上。黑色之導電構件60BK設置於陰極配線60上。黑色之導電構件75BK設置於連接部75上。黑色之導電構件76BK設置於導電部76上。黑色之導電構件41BK、60BK、75BK、76BK例如包含碳或藉由薄膜干涉而呈黑色之金屬氧化物。又，亦可於第1閘極線GCL1、第2閘極線GCL2、信號線SGL及電源線LVDD(參照圖3)上亦設置有碳或藉由薄膜干涉而呈黑色之金屬氧化物等黑色之導電構件。黑色之導電構件41BK、60BK、75BK、76BK等吸收入射光，因此，可防止配線之表面之入射光之反射。
或者，連接於電晶體Tr1至Tr5之配線亦可為黑色之導電體。亦即，亦可為配線本身為黑色。例如，第1閘極線GCL1、第2閘極線GCL2、信號線SGL、電源線LVDD、源極電極41s、汲極電極41d、連接部75及導電部76亦可包含碳等黑色之導電體。據此，配線本身吸收入射光，因此，可防止配線之表面之入射光之反射。
如此，根據變化例4之顯示裝置1D、及變化例4之陣列基板2，於自基板10之其中一面10a之法線方向(例如第3方向Dz)俯視時，配線變為黑色，可防止配線之表面之入射光之反射。藉此，顯示裝置1D可進而抑制圖像之亮度之降低，從而可進而抑制畫質之降低。
(變化例5) 於上述實施形態中，說明了陰極電極55e設置於絕緣膜45上。又，說明了陰極電極55e經由導電部76而連接於無機發光元件100之n型電極105。然而，於實施形態中，陰極電極55e相對於n型電極105之連接之態樣並不限定於此。
圖12係表示實施形態之變化例5之顯示裝置之剖視圖。如圖12所示，變化例5之顯示裝置1E並非於絕緣膜45上而係於平坦化層160上具備陰極電極55e。於顯示裝置1E中，無機發光元件100之上表面100a自平坦化層160露出。於自平坦化層160露出之無機發光元件100之上表面100a(陰極端子55p)相接有陰極電極55e。
又，於周邊區域GA，於平坦化層160、及絕緣膜70、45、42設置有以陰極配線60為底面之接觸孔H11。陰極電極55e自平坦化層160之上表面160a通過接觸孔H11之內側面而連接於陰極配線60。又，於陰極電極55e上依序設置有接著層80及圓偏光板150。接著層80配置於接觸孔H11內，使基板10之其中一面10a側平坦化。
圖13係表示周邊區域之階差與接著層之厚度之關係之剖視圖。如圖13所示，於顯示裝置1E中，平坦化層160之階差於周邊區域GA之接觸孔H11周邊成為最大。將自接觸孔H11之底部之陰極電極55e之上表面55a1至圓偏光板150之距離設為d。將於接觸孔H11之外側自陰極電極55e之上表面55a2至圓偏光板150之距離設為e。距離e係接著層80之厚度。接著層80之厚度(距離)e較無機發光元件100(參照圖6)之厚度厚。無機發光元件100之厚度係自陽極電極50e之載置面50a(參照圖6)至無機發光元件100之上表面100a(參照圖6)之距離。
於圖13中，將自絕緣膜70之上表面至陰極電極55e之距離設為g。距離g係平坦化層160之厚度。平坦化層160之厚度(距離)g較無機發光元件100(參照圖6)之厚度厚。如圖13所示，平坦化層160之厚度g較接著層80之厚度e厚(e＜g)。藉此，無機發光元件100之階差主要藉由平坦化層160而緩和。
於變化例5中，距離d較佳為距離e之1.5倍以下(d÷e≦1.5)。藉此，可減小於接著層80之上表面80a出現之階差，從而可提高接著層80之平坦化度。例如，於周邊區域GA，將接著層80之上表面80a之最大階差設為f。若d÷e≦1.5，則接著層80之平坦化度可實現30以上。平坦化度以100×(e－f)÷e表示。若接著層80之平坦化度為30以上，則容易將圓偏光板150平行地貼附於基板10之其中一面10a。
(變化例6) 於變化例5中，說明了平坦化層160之厚度較接著層80之厚度厚。然而，實施形態並不限定於此。圖14係表示實施形態之變化例6之顯示裝置之剖視圖。如圖14所示，於變化例6之顯示裝置1F中，平坦化層160之厚度g亦較無機發光元件100之厚度厚。又，接著層80之厚度e亦較無機發光元件100之厚度厚。進而，接著層80之厚度e較平坦化層160之厚度g厚(e＞g)。即便為此種構成，無機發光元件100之階差也可藉由平坦化層160而緩和。又，即便於在形成平坦化層160後階差殘留之情形時，該階差也能藉由接著層80而進一步緩和。
於變化例6中亦然，距離d較佳為距離e之1.5倍以下(d÷e≦1.5)。藉此，可減小於接著層80之上表面80a出現之階差，從而可提高接著層80之平坦化度。
(變化例7) 圖15係表示實施形態之變化例7之顯示裝置之剖視圖。如圖15所示，於變化例7之顯示裝置1G中，無機發光元件100除與導電部76連接之部分(陰極端子55p)以外，係由絕緣膜71覆蓋。據此，絕緣膜71可阻礙水分自接著層80向無機發光元件100滲透。無機發光元件100與水分接觸之可能性減少。可防止因與水分接觸而導致無機發光元件100之特性或可靠性降低。
如顯示裝置1G般，除與導電部76連接之部分以外，利用絕緣膜71覆蓋無機發光元件100之態樣亦可分別應用於顯示裝置1(參照圖4、圖5)、顯示裝置1A(圖8)、顯示裝置1B(參照圖9)、顯示裝置1C(圖10)、顯示裝置1D(圖11)。藉此，於顯示裝置1、1A、1B、1C、1D中，絕緣膜71亦可阻礙水分自接著層80向無機發光元件100滲透。
(變化例8) 實施形態之無機發光元件並不限定於圖6所示之態樣。圖16係表示實施形態之變化例8之無機發光元件之剖視圖。如圖16所示，變化例8之無機發光元件100A具有基板111、緩衝層112、n型包覆層113、活性層114、p型包覆層115、p型電極層116(陽極端子50p)、及n型電極層117(陰極端子55p)。自基板111之其中一面側依序積層有緩衝層112、n型包覆層113、活性層114、p型包覆層115、及p型電極層116。又，於n型包覆層113設置有自活性層114露出之區域。於該區域設置有n型電極層117。
例如，基板111包含藍寶石。n型包覆層113包含n型之GaN。活性層114包含InGaN。p型包覆層115包含p型之GaN。p型電極層116包含鈀(Pd)及金(Au)，具有於Pd上積層有Au之積層構造。n型電極層117包含銦(In)。
於無機發光元件100A中，p型包覆層115與n型包覆層113未直接接合，而於中間導入有其他層(活性層114)。藉此，可使電子或電洞等載子集中於活性層114中，從而可高效率地使之再結合(發光)。為了高效率化，亦可採用使包含若干原子層之井層及障壁層週期性地積層而成之多重量子井構造(MQW構造)作為活性層114。
(變化例9) 本實施形態之像素電路之構成並不限定於圖3。圖17係表示實施形態之變化例9之像素電路之電路圖。如圖17所示，實施形態之變化例9之像素電路PICA具有驅動電晶體Tr6、點亮開關Tr7、寫入開關Tr8、發光控制開關Tr9、初始化開關Tr10、及重設開關Tr11。
無機發光元件100之陰極(陰極端子90p)連接於電源線274。又，無機發光元件100之陽極(陽極端子50p)經由驅動電晶體Tr6及點亮開關Tr7而連接於電源線276。
電源線276自驅動電源被施加特定之高電位作為驅動電位VDD ，電源線274自電源電路被施加特定之低電位作為基準電位VSS 。
無機發光元件100藉由該等驅動電位VDD 與基準電位VSS 之電位差(VDD －VSS )被供給順向電流(驅動電流)而發光。亦即，驅動電位VDD 相對於基準電位VSS 具有使無機發光元件100發光之電位差。無機發光元件100係於陽極端子50p-陰極端子90p間並聯連接電容291作為等效電路而構成。又，於無機發光元件100之陽極端子50p與供給驅動電位VDD 之電源線276之間設置有附加電容299。再者，電容291亦可連接於陽極端子50p及陰極端子90p以外之基準電位。
於本實施形態中，驅動電晶體Tr6、點亮開關Tr7、及發光控制開關Tr9分別包含n型TFT。驅動電晶體Tr6之源極電極連接於無機發光元件100之陽極端子50p，汲極電極連接於發光控制開關Tr9之源極電極。發光控制開關Tr9之閘極電極連接於發光控制線279。發光控制開關Tr9之汲極電極連接於點亮開關Tr7之源極電極。點亮開關Tr7之閘極電極連接於點亮控制線266。點亮開關Tr7之汲極電極連接於電源線276。重設開關Tr11之閘極電極連接於重設控制線270。寫入開關Tr8之閘極電極連接於寫入控制線268。初始化開關Tr10之閘極電極連接於初始化控制線314。
又，驅動電晶體Tr6之汲極電極經由重設開關Tr11亦連接於重設電源。於本變化例中，針對每個像素列設置重設線278及重設開關Tr11。各重設線278沿著像素列延伸，且經由該像素列之發光控制開關Tr9而共通連接於該像素列之驅動電晶體Tr6之汲極電極。即，構成像素列之複數個像素49共有重設線278及重設開關Tr11。重設開關Tr11例如配置於像素列之端部，切換重設線278與重設電源之間之接斷、亦即將其等之間連接或遮斷。於本變化例中，重設開關Tr11與驅動電晶體Tr6、點亮開關Tr7、及發光控制開關Tr9同樣地包含n型TFT。
作為驅動電晶體Tr6之控制端子之閘極電極經由寫入開關Tr8而連接於影像信號線272，且經由初始化開關Tr10而連接於初始化信號線310。於驅動電晶體Tr6之閘極電極與源極電極之間連接保持電容298。於本實施形態中，寫入開關Tr8及初始化開關Tr10與驅動電晶體Tr6、點亮開關Tr7、及重設開關Tr11同樣地包含n型TFT。
再者，於本實施形態中，示出了驅動電晶體Tr6、點亮開關Tr7、重設開關Tr11、寫入開關Tr8、發光控制開關Tr9、及初始化開關Tr10包含n型TFT之電路例，但並不限於此。例如，驅動電晶體Tr6、點亮開關Tr7、重設開關Tr11、寫入開關Tr8、發光控制開關Tr9、及初始化開關Tr10亦可為包含p型TFT之電路。又，亦可設為將p型TFT及n型TFT組合而成之電路構成。
於圖17中，作為各種信號，示出有相對於寫入開關Tr8之寫入控制信號SG、相對於點亮開關Tr7之點亮控制信號BG、相對於重設開關Tr11之重設控制信號RG、相對於發光控制開關Tr9之發光控制信號CG、及相對於初始化開關Tr10之初始化控制信號IG。
於本變化例中，針對每1幀圖像重複如下動作，即，自開頭列(例如，於圖1中之顯示區域AA，位於最上部之像素列)依序選擇複數個像素列，於所選擇之像素列之像素49寫入影像電壓信號VSIG之電位Vsig(影像寫入電位)，使無機發光元件100發光。驅動電路於每一水平掃描期間，對影像信號線272施加影像電壓信號VSIG之電位Vsig(影像寫入電位)，對初始化信號線310施加初始化電壓信號VINI之電位Vini(初始化電位)。
本變化例中之寫入動作詳細而言分為重設動作、偏移消除動作、及影像信號設置動作。重設動作係對保持於電容291、保持電容298、及附加電容299之電壓進行重設之動作。偏移消除動作係對驅動電晶體Tr6之閾值電壓Vth之偏差進行補償之動作。影像信號設置動作係將影像電壓信號VSIG之電位Vsig(影像寫入電位)寫入至像素49之動作。
上述寫入動作(重設動作、偏移消除動作、影像信號設置動作)、及發光動作係針對每個像素列依序進行。像素列例如以影像信號之1水平掃描期間為週期依序選擇，每個像素列之寫入動作及發光動作以1幀週期重複。
各像素列之可發光期間設定於自上述影像信號設置動作結束至下一幀圖像之該像素列之寫入動作開始之期間內。顯示裝置1於可發光期間，設定有使無機發光元件100以與寫入至各像素49之影像電壓信號VSIG之電位Vsig(影像寫入電位)對應之強度發光之發光期間、及使供給至無機發光元件100之驅動電流強制停止之非發光期間。具體而言，於發光期間，將發光控制信號CG設為H位準，並接通發光控制開關Tr9，藉此，自驅動電源對無機發光元件100供給順向電流(驅動電流)，於非發光期間，將發光控制信號CG設為L位準，將發光控制開關Tr9斷開，藉此，將驅動電源與保持為導通狀態之驅動電晶體Tr6之間遮斷，使供給至無機發光元件100之順向電流(驅動電流)強制地停止。
以上，對本發明之較佳之實施形態進行了說明，但本發明並不限定於此種實施形態。實施形態中揭示之內容終究僅為一例，可於不脫離本發明之主旨之範圍內進行各種變更。可將實施形態與變化例組合，亦可將變化例彼此組合。對於在不脫離本發明之主旨之範圍內進行之適當之變更，當然亦屬於本發明之技術範圍。可於不脫離上述實施形態及各變化例之主旨之範圍內進行構成要素之各種省略、置換及變更中之至少1種。
1‧‧‧顯示裝置 1A‧‧‧顯示裝置 1B‧‧‧顯示裝置 1C‧‧‧顯示裝置 1D‧‧‧顯示裝置 1E‧‧‧顯示裝置 1F‧‧‧顯示裝置 1G‧‧‧顯示裝置 2‧‧‧陣列基板 5‧‧‧觸摸檢測部 10‧‧‧基板 10a‧‧‧基板之其中一面 12‧‧‧驅動電路 20‧‧‧底塗層 21‧‧‧第1閘極電極 24‧‧‧絕緣膜 25‧‧‧半導體層 27‧‧‧通道 29‧‧‧絕緣膜 31‧‧‧第2閘極電極 35‧‧‧絕緣膜 41BK‧‧‧導電構件 41d‧‧‧汲極電極 41s‧‧‧源極電極 42‧‧‧絕緣膜 43d‧‧‧汲極連接配線 43s‧‧‧源極連接配線 45‧‧‧絕緣膜 49‧‧‧像素 49R‧‧‧第1像素 49G‧‧‧第2像素 49B‧‧‧第3像素 50‧‧‧陽極電極 50a‧‧‧載置面 50e‧‧‧陽極電極 50p‧‧‧陽極端子 53‧‧‧感測器基體 55‧‧‧陰極電極 55a1‧‧‧陰極電極55e之上表面 55a2‧‧‧陰極電極55e之上表面 55e‧‧‧陰極電極 55p‧‧‧陰極端子 60‧‧‧陰極配線 60BK‧‧‧導電構件 70‧‧‧絕緣膜 71‧‧‧絕緣膜 75‧‧‧連接部 75BK‧‧‧導電構件 76‧‧‧導電部 76BK‧‧‧導電構件 80‧‧‧接著層 80a‧‧‧接著層80之上表面 100‧‧‧無機發光元件 100A‧‧‧無機發光元件 100a‧‧‧無機發光元件100之上表面 100b‧‧‧無機發光元件100之側面 100s‧‧‧局部發光元件 101‧‧‧p型包覆層 102‧‧‧活性層 103‧‧‧n型包覆層 104‧‧‧p型電極 104a‧‧‧Pt層 104b‧‧‧厚膜Au層 105‧‧‧n型電極 108‧‧‧保護層 111‧‧‧基板 112‧‧‧緩衝層 113‧‧‧n型包覆層 114‧‧‧活性層 115‧‧‧p型包覆層 116‧‧‧p型電極層 117‧‧‧n型電極層 150‧‧‧圓偏光板 160‧‧‧平坦化層 160a‧‧‧平坦化層160之上表面 170‧‧‧接著層 210‧‧‧驅動IC 266‧‧‧點亮控制線 268‧‧‧寫入控制線 270‧‧‧重設控制線 272‧‧‧影像信號線 274‧‧‧電源線 276‧‧‧電源線 278‧‧‧重設線 279‧‧‧發光控制線 291‧‧‧電容 298‧‧‧保持電容 299‧‧‧附加電容 310‧‧‧初始化信號線 314‧‧‧初始化控制線 AA‧‧‧顯示區域 a‧‧‧高度 b‧‧‧厚度 BG‧‧‧點亮控制信號 c‧‧‧最大階差 CG‧‧‧發光控制信號 CS1‧‧‧第1電容 CS2‧‧‧第2電容 d‧‧‧距離 Dx‧‧‧第1方向 Dy‧‧‧第2方向 Dz‧‧‧第3方向 e‧‧‧距離 f‧‧‧最大階差 g‧‧‧厚度 GA‧‧‧周邊區域 GCL1‧‧‧第1閘極線 GCL2‧‧‧第2閘極線 H1‧‧‧接觸孔 H2‧‧‧接觸孔 H11‧‧‧接觸孔 Idata‧‧‧定電流 IG‧‧‧初始化控制信號 L1‧‧‧配線 LVDD‧‧‧電源線 PIC‧‧‧電路 PICA‧‧‧像素電路 Pix‧‧‧像素 RG‧‧‧重設控制信號 Rx‧‧‧檢測電極 SG‧‧‧寫入控制信號 SGL‧‧‧信號線 Tr1‧‧‧電晶體 Tr2‧‧‧電晶體 Tr3‧‧‧電晶體 Tr4‧‧‧電晶體 Tr5‧‧‧電晶體 Tr6‧‧‧驅動電晶體 Tr7‧‧‧點亮開關 Tr8‧‧‧寫入開關 Tr9‧‧‧發光控制開關 Tr10‧‧‧初始化開關 Tr11‧‧‧重設開關 Tx‧‧‧驅動電極 VDD‧‧‧驅動電位 VINI‧‧‧初始化電壓信號 VSIG‧‧‧影像電壓信號 VSS‧‧‧基準電位
圖1係表示實施形態之顯示裝置之構成例之俯視圖。 圖2係表示像素之構成例之俯視圖。 圖3係表示實施形態之顯示裝置之像素之構成例之電路圖。 圖4係表示顯示裝置之構成例之剖視圖。 圖5係於顯示裝置中將無機發光元件、及連接於無機發光元件之電晶體放大表示之剖視圖。 圖6係表示實施形態之無機發光元件之構成例之剖視圖。 圖7係表示無機發光元件之高度與接著層之厚度之關係之剖視圖。 圖8係表示實施形態之變化例1之顯示裝置之剖視圖。 圖9係表示實施形態之變化例2之顯示裝置之剖視圖。 圖10係表示實施形態之變化例3之顯示裝置之剖視圖。 圖11係表示實施形態之變化例4之顯示裝置之剖視圖。 圖12係表示實施形態之變化例5之顯示裝置之剖視圖。 圖13係表示周邊區域之階差與接著層之厚度之關係之剖視圖。 圖14係表示實施形態之變化例6之顯示裝置之剖視圖。 圖15係表示實施形態之變化例7之顯示裝置之剖視圖。 圖16係表示實施形態之變化例8之無機發光元件之剖視圖。 圖17係表示實施形態之變化例9之像素電路之電路圖。
1‧‧‧顯示裝置
2‧‧‧陣列基板
10‧‧‧基板
10a‧‧‧基板之其中一面
20‧‧‧底塗層
21‧‧‧第1閘極電極
24‧‧‧絕緣膜
25‧‧‧半導體層
27‧‧‧通道
29‧‧‧絕緣膜
31‧‧‧第2閘極電極
35‧‧‧絕緣膜
41d‧‧‧汲極電極
41s‧‧‧源極電極
42‧‧‧絕緣膜
45‧‧‧絕緣膜
50e‧‧‧陽極電極
50p‧‧‧陽極端子
55e‧‧‧陰極電極
55p‧‧‧陰極端子
60‧‧‧陰極配線
70‧‧‧絕緣膜
71‧‧‧絕緣膜
75‧‧‧連接部
76‧‧‧導電部
80‧‧‧接著層
100‧‧‧無機發光元件
150‧‧‧圓偏光板
AA‧‧‧顯示區域
Dx‧‧‧第1方向
Dz‧‧‧第3方向
GA‧‧‧周邊區域
H1‧‧‧接觸孔

Claims (9)

  1. 一種顯示裝置，其具備： 基板； 複數個像素，其等排列於上述基板； 無機發光元件，其設置於上述複數個像素之各者； 電晶體，其設置於上述基板之其中一面側，且連接於上述無機發光元件； 配線，其設置於上述基板之其中一面側，且連接於上述電晶體；及 圓偏光板，其設置於上述基板之其中一側。
  2. 如請求項1之顯示裝置，其進而具備設置於上述基板與上述圓偏光板之間且與上述圓偏光板相接之透光性之第1接著層。
  3. 如請求項2之顯示裝置，其進而具備設置於上述第1接著層與上述基板之間之透光性之平坦化層， 上述平坦化層之厚度較上述無機發光元件之厚度厚， 上述第1接著層之厚度較上述無機發光元件之厚度厚，且 上述平坦化層之厚度較上述第1接著層之厚度厚。
  4. 如請求項2之顯示裝置，其進而具備設置於上述第1接著層與上述基板之間之透光性之平坦化層， 上述平坦化層之厚度較上述無機發光元件之厚度厚， 上述第1接著層之厚度較上述無機發光元件之厚度厚，且 上述平坦化層之厚度較上述第1接著層之厚度薄。
  5. 如請求項2之顯示裝置，其進而具備設置於上述基板與上述第1接著層之間之觸摸檢測部。
  6. 如請求項5之顯示裝置，其進而具備設置於上述基板與上述觸摸檢測部之間且與上述觸摸檢測部相接之透光性之第2接著層。
  7. 如請求項1至6中任一項之顯示裝置，其進而具備設置於上述配線上之黑色構件。
  8. 如請求項1至6中任一項之顯示裝置，其中上述配線為黑色之導電體。
  9. 一種陣列基板，其係安裝複數個無機發光元件者，且具備： 基板； 電晶體，其設置於上述基板之其中一面側，且連接於上述無機發光元件；及 配線，其設置於上述基板之其中一面側，且連接於上述電晶體；且 於自上述基板之其中一面之法線方向俯視時，上述配線為黑色。
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