TW201944085A - 用於電子器件測試台認證的裝置和方法 - Google Patents

用於電子器件測試台認證的裝置和方法

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Abstract

提供了一種用於測試電子器件的測試裝置和方法。該裝置包括：多個可拆卸安裝的測試台，其用於對電子器件執行測試；以及多個拾取頭，用於將電子器件傳送到多個測試台中的至少一個以進行測試。該裝置還包括：包含在每個測試台中的識別元件，其指示測試台的特徵；以及能夠相對於多個測試台移動的識別元件檢測器，識別元件檢測器可操作以在利用測試台測試電子器件之前，通過檢測包含在測試台中的識別元件來識別和認證至少一個測試台的特徵。

Description

用於電子器件測試台認證的裝置和方法
本發明涉及一種用於識別和認證電子器件測試台的裝置和方法。特別地，電子器件測試台適用於半導體器件測試裝置。
通常在電子器件的製造過程的各個階段測試電子器件，特別是在將完成的電子器件發送給客戶之前。被測電子器件通常放置在測試台中，該測試台包括電接觸條以與被測電子器件電連通。連接到測試台的測試模組將運行測試程式演算法並通過測試台提供適當的電信號以測試電子器件。因此，測試台充當被測電子器件與測試模組之間的仲介。
因此，應當理解，在製造過程的不同階段，不同類型的電子器件或相同類型的電子器件將需要不同類型的測試台以允許被測電子器件與測試模組之間的通信。實際上，需要不同類型的測試台來滿足可以在同一電子器件上執行的不同類型的測試。
人工作業者通常負責將特定測試台和特定測試程式與特定被測電子器件相匹配。由於通常存在大量測試台和甚至 更多數量的可用於選擇的測試程式，這經常被證明是易於發生人為錯誤的任務。此外，如果測試台或測試程式與被測電子器件錯誤匹配，則可能會產生嚴重後果。可能獲得錯誤的測試結果，導致錯誤地處置掉良好的電子器件或錯誤地將有故障的電子器件發送給客戶。另外，測試台和被測電子器件可能由於在測試期間被錯誤匹配而受損。
因此，尋求提供一種改善現有技術的至少一些上述問題的裝置和方法將是有益的。
因此，本發明的一個目的是尋求提供一種用於自動認證測試台並確保該測試台已被正確安裝的裝置和方法。
根據本發明的第一方面，提供了一種用於測試電子器件的測試裝置，該裝置包括：多個可拆卸安裝的測試台，用於對所述電子器件執行測試；多個拾取頭，用於將所述電子器件傳送到所述多個測試台中的至少一個以進行測試；包含在每個測試台中的識別元件，指示所述測試台的特徵；以及識別元件檢測器，其相對於多個測試台能移動，所述識別元件檢測器用於在利用測試台測試所述電子器件之前通過檢測包含在所述測試台中的所述識別元件來識別和認證所述至少一個測試台的特徵。
根據本發明的第二方面，提供了一種用於測試電子器件的方法，該方法包括以下步驟：可拆卸地安裝多個測試台，用於對所述電子器件執行測試；相對於包含在每個測試台中的相應識別元件移動識別元件檢測器，每個識別元件指示所述測試台的特徵；利用所述識別元件檢測器檢測所述識別元件，以識別並認證所述測試台的特徵；利用多個拾取頭將所述電子器件傳送到 所述多個測試台中的至少一個；並且然後在所述至少一個測試台處測試所述電子器件。
將參考描述部分、所附申請專利範圍和附圖更好地理解這些和其他特徵、方面和優點。
100‧‧‧測試台
100a‧‧‧測試台
100b‧‧‧測試台
102‧‧‧接觸條
104‧‧‧印刷電路板
106‧‧‧被測電子器件
108‧‧‧連接器
110‧‧‧器件接收區域
120‧‧‧識別標籤
122‧‧‧第一觸點保持器
123‧‧‧第二觸點保持器
124‧‧‧器件接觸區域
130‧‧‧第一排
132‧‧‧第二排
134‧‧‧引線
136‧‧‧壁
200‧‧‧測試模組
200a‧‧‧測試模組
200b‧‧‧測試模組
202a‧‧‧信號放大器
202b‧‧‧信號放大器
300‧‧‧測試處置器組件
400‧‧‧旋轉轉檯
410‧‧‧拾取臂
412‧‧‧主體
414‧‧‧拾取頭
500‧‧‧識別標籤檢測器
510‧‧‧電腦
512‧‧‧處理器
514‧‧‧記憶體
600‧‧‧過程
602‧‧‧步驟
604‧‧‧步驟
606‧‧‧步驟
608‧‧‧步驟
610‧‧‧步驟
612‧‧‧步驟
614‧‧‧步驟
618‧‧‧步驟
620‧‧‧步驟
700‧‧‧測試裝置
圖1示出了根據本發明較佳實施例的測試台的立體圖。
圖2示出了圖1的測試台的器件接收區域的立體圖。
圖3示出了兩個測試台的立體圖，這兩個測試台電連接到兩個測試模組。
圖4示出了包括測試處置器元件和測試模組的測試裝置的立體圖。
圖5是說明用於確定測試台是否正確安裝在圖4的測試裝置中的示例性過程中涉及的步驟的流程圖。
在附圖中，相同的部件由相同的附圖標記表示。
圖1示出了根據本發明較佳實施例的測試台100的立體圖。測試台100包括基板，例如印刷電路板104，以及位於印刷電路板104的一個邊緣處的連接器108，用於與測試模組200建立通信(參見圖3)。印刷電路板104包括內部電線(未示出)，用於將連接器108電連接到可操作以接收被測電子器件106(例如積體電路晶片)的器件接收區域110。器件接收區域110通常位於印刷電路板104的中心。測試台100還包括位於印刷電路板104的頂表面上並且與器件接收區域110相鄰的識別元件， 例如識別標籤120，然而，識別元件可以位於測試台100上或測試台100中的任何位置。
圖2示出了圖1的測試台100的器件接收區域110的立體圖。器件接收區域110包括位於器件接收區域110的相對側上的第一觸點保持器122和第二觸點保持器123。第一排130的電觸點或接觸條102在其第一端由第一觸點保持器122保持，使得接觸條102從第一觸點保持器122延伸，其第二端終止於位於器件接收區域110的中心的器件接觸區域124。識別標籤120可以定位在與器件接觸區域124鄰近的位置處。
類似地，第二排132的接觸條102在其第一端由第二觸點保持器123保持，使得接觸條102從第二觸點保持器123延伸，其第二端終止於器件接觸區域124。第一排130和第二排132的接觸條102的第二端彼此鄰近地終止，並且定位成使得每個第二端可操作以接觸被測電子器件106(例如積體電路晶片)的相應引線134。當被測電子器件106放置在器件接觸區域124中時，被測電子器件106的引線134的底面與接觸條102的第二端的頂面接觸。因此，器件接觸區域124可操作以與電子器件106的引線134建立電接觸以便執行測試。印刷電路板104的內部電線將連接器108電連接到接觸條102和被測電子器件106的引線134。器件接收區域110還包括兩個相對的壁136，以說明將被測電子器件106正確地對準和定位在器件接觸區域124中。
識別標籤120可以包括視覺上可感知的或不同的標記，例如條碼、QR碼或字體和字元，這種標記可以由例如相機或光感測器等識別標籤檢測器500(參見圖4)檢測。視覺上可感知或不同的識別標籤120可以定位在測試台100的任何外表面上，只要它允許通過適當的識別標籤檢測器500進行檢測或檢 查。可替代地，識別標籤120可以包括例如RFID標籤。在那種情況下，識別標籤120不需要是可見的，而是可以隱藏在測試台100內，只要它能夠被附近的RFID讀取器(未示出)檢測到。除了視覺上不同的標記或RFID標籤之外，識別標籤120還可以包括接觸型識別標籤，例如觸摸記憶體。
圖3示出了電連接到兩個測試模組200a、200b的兩個測試台100a、100b的立體圖。這兩個測試台100a、100b包括在測試處置器組件300中。第一測試台100a可以通過可選的第一信號放大器202a與第一測試模組200a通信，以放大發送的信號。同樣地，第二測試台100b可以經由可選的第二信號放大器202b與第二測試模組200b通信。測試台100a、100b、測試模組200a、200b與信號放大器202a、202b之間的通信可以通過例如電纜等有線連接來實現。應該理解，通信也可以是無線的。
另外，測試模組200a、200b可以通過有線或無線通訊與測試處置器元件300的其餘部分通信。此外，第一和第二測試模組200a、200b可替代地包括單個測試模組200，該單個測試模組可操作以同時與多個測試台100通信。測試模組200與測試台100a、100b可操作地通信，用於操作測試程式以測試電子器件106。測試處置器元件300可以包括另外的測試台100，每個測試台用於對被測電子器件106執行不同的測試。例如，測試處置器元件300可以包括三個測試台100，每個測試台100分別執行電流特徵測試、電壓特徵測試和電阻特徵測試。
圖4示出了包括測試處置器元件300和測試模組200的測試裝置700的立體圖。測試裝置700可操作用於測試電子器件106。測試處置器組件300包括測試台100和旋轉轉檯400。旋轉轉檯400包括在旋轉轉檯400的圓周處彼此等距間隔開的多 個拾取臂410。每個拾取臂410包括豎直定向的細長主體412和位於主體412底端的用於拾取電子器件106的拾取頭414。拾取頭414可操作以將電子器件106傳送到測試台100。測試台100可拆卸地安裝在拾取臂410下方。測試台100定位使得拾取臂410可以向下移動以將電子器件106放置在測試台100的器件接觸區域124上。旋轉轉檯400可操作以相對於測試台100的位置移動拾取頭414，拾取頭414可以安裝在旋轉轉檯400上。包含在測試台100中的識別標籤120位於與器件接觸區域124鄰近的位置。識別元件(例如識別標籤120)可操作以指示測試台100的特徵，例如測試台100的類型或測試台100能夠執行的測試類型。儘管圖4中僅示出了一個測試台100，應當理解，測試處置器組件300通常包括多個可拆卸安裝的測試台100，每個測試台100是不同類型的測試台100。例如，測試處置器元件300可包括多個測試台100，每個測試台100位於相對於拾取臂410的不同位置。
諸如成像設備等的識別標籤檢測器500定位在旋轉轉檯400的圓周處，在兩個相鄰拾取臂410之間。旋轉轉檯400可操作以相對於測試台100的位置移動識別標籤檢測器500，識別標籤檢測器500可安裝在旋轉轉檯400上。識別標籤檢測器500向下指向，以便可操作以檢測或檢查位於與測試台100的器件接觸區域124鄰近的位置處的識別標籤120。識別標籤檢測器500可操作以檢測或檢查識別標籤120，從而識別和認證正在使用的測試台100的特徵。識別標籤檢測器500可操作以將資訊發送到包括處理器512和記憶體514的電腦510。電腦510可以包含在或嵌入在識別標籤檢測器500中，是外部終端或者是測試模組200的一部分。處理器512可操作以接收關於測試台100的特 徵的資訊，並將該資訊與系統指定的資料進行比較，以確定是否將使用正確的測試台來測試電子器件。記憶體514(例如包括在電腦510中的記憶體設備)可操作以存儲測試台100的歷史處理資訊。電腦510可操作以檢查所識別的測試台100是否是用於對待測試的電子器件106執行所需測試的正確類型。如果正確類型的測試台100與待測試的電子器件106匹配，則可以在測試台100處自動選擇並運行適當的測試程式。然後，測試台100將對電子器件106執行所需的測試。然而，如果發現安裝的測試台100是不正確的類型，則可以發出警報以警告操作者該錯誤，從而防止相對於現有技術通常遇到的損失或損壞。
此外，關於唯一測試台100的資訊(例如由唯一測試台100執行的測試的數量)可以存儲在記憶體514中。這樣的資訊可以是有用的，例如，用於確定測試台100是否仍然是在其使用壽命內或是否需要維修或更換。
圖5是說明用於確定測試台100是否正確安裝在圖4的測試裝置700中的示例性過程600中涉及的步驟的流程圖。較佳地，應在測試裝置700開始測試被測電子器件106之前執行過程600。
測試處置器元件300在過程600的步驟602處開始測試台識別過程。在步驟604，旋轉轉檯400將識別標籤檢測器500旋轉到位於拾取臂410和拾取頭414下方的每個測試台100。識別標籤檢測器500在步驟606檢測或檢查各個測試台100上所使用的每個識別標籤120。在步驟608，測試處置器元件300確定識別標籤檢測器500是否能夠讀取識別標籤120。如果識別標籤120不能被讀取，例如因為它已被污損、損壞或丟失，則在步驟610產生錯誤信號以警告操作者。然後，過程600可以終止， 以允許操作者採取適當的補救措施。
當成功讀取識別標籤120時，識別標籤檢測器500將資訊發送到電腦510以進行檢查。在步驟614，電腦510確定測試台100是否已經正確定位，然後在步驟616，電腦確定測試程式是否已經正確設置，並且最後在步驟618，確定所有測試台100是否仍然是在其有用的工作壽命內。在步驟614、616、618，電腦510根據存儲在記憶體514中的系統指定資料來檢查當前過程資料。系統指定資料可以例如指示應安裝在每個拾取臂410下方的測試台100的相應類型以及應由每個測試台100運行的特定測試程式。電腦510還可以存儲每個測試台100所使用的歷史記錄，這些歷史記錄可以用於確定任何測試台100是否已到達其有用的工作壽命的終點。
如果步驟614、616、618的所有確定的結果是肯定的，則過程600前進到步驟620，此後提示測試裝置700開始測試電子器件106。拾取頭414將電子器件106傳送到測試台100以進行測試。然而，如果這些確定中的任何一個是否定的，則過程600在步驟610終止並且將發出適當的警報以請求操作者干預以解決檢測到的問題。
因此，可以避免或至少減少上述現有技術的至少一些問題。特別地，如果安裝了錯誤的測試台100，則可以在測試處置器元件300開始測試電子器件106之前檢測到錯誤，從而可以防止任何不必要的損失或損壞。另外，如果電腦510自動選擇適當的測試程式，較佳地基於固定的訣竅，則這將消除操作人員在每次安裝或更改測試台100時從大量可用的測試程式中手動選擇正確的測試程式的需要。識別標籤120還有助於確定測試台100是否已被正確安裝。例如，如果識別標籤檢測器500不能讀 取識別標籤120，則表明測試台100安裝不正確或未對準。另一個優點是可以監控每個測試台100的壽命。
應該認識到，上述各種方法的細節僅用於說明目的，並且可以被提供等效結果的其它方法和材料替代。
儘管已經參考某些實施例相當詳細地描述了本發明，但是其他實施例也是可能的。
例如，代替將識別標籤檢測器500定位在旋轉轉檯400上，可以將相應的識別標籤檢測器500放置在每個測試台100附近，以檢測和識別所使用的所有測試台100。
因此，所附申請專利範圍的精神和範圍不應限於這裡包含的實施例的描述。

Claims (17)

  1. 一種用於測試電子器件之測試裝置，所述裝置包括：多個可拆卸安裝的測試台，用於對所述電子器件執行測試；多個拾取頭，用於將所述電子器件傳送到所述多個測試台中的至少一個以進行測試；包含在每個測試台中的識別元件，指示所述測試台的特徵；以及識別元件檢測器，其能夠相對於多個測試台移動，所述識別元件檢測器用於在利用測試台測試所述電子器件之前通過檢測包含在所述測試台中的所述識別元件來識別和認證所述至少一個測試台的特徵。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之裝置，其中，所述多個拾取頭和所述識別元件檢測器安裝在轉檯上，所述轉檯可操作以相對於所述多個測試台的相應位置移動所述拾取頭和所述識別元件檢測器。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之裝置，其中，所述識別元件檢測器位於所述轉檯的圓周上，在兩個相鄰拾取頭之間。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之裝置，其中，每個識別元件包括視覺上不同的標記。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之裝置，其中，所述識別元件檢測器包括可操作以檢測所述視覺上不同的標記的成像設備。
  6. 如申請專利範圍第4項所述之裝置，其中，每個識別元件包括條碼或QR碼。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之裝置，其中，每個識別元件包括RFID標籤。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之裝置，其中，每個測試台包 括用於與所述電子器件的引線建立電接觸以進行測試的器件接觸區域，並且其中，每個識別元件位於與所述器件接觸區域鄰近的位置。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之裝置，更包括處理器，用於接收關於每個測試台的特徵的資訊，並將所述資訊與系統指定的資料進行比較，以確定是否將正確的測試台用於測試所述電子器件。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之裝置，其中，所述處理器包含在所述識別元件檢測器中。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之裝置，更包括記憶體設備，用於存儲所述測試台的歷史處理資訊。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之裝置，其中，所述記憶體設備包含在所述識別元件檢測器中。
  13. 如申請專利範圍第1項所述之裝置，更包括與每個測試台可操作地通信的測試模組，用於操作測試程式以測試所述電子器件。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之裝置，其中，所述測試模組通過有線通信與所述測試台通信。
  15. 如申請專利範圍第13項所述之裝置，其中，所述測試模組通過無線通訊與所述測試台通信。
  16. 一種用於測試電子器件的方法，所述方法包括以下步驟：可拆卸地安裝多個測試台，用於對所述電子器件執行測試；相對於包含在每個測試台中的相應識別元件移動識別元件檢測器，每個識別元件指示所述測試台的特徵；利用所述識別元件檢測器檢測所述識別元件，以識別並認證所述測試台的特徵； 利用多個拾取頭將所述電子器件傳送到所述多個測試台中的至少一個；並且然後在所述至少一個測試台處測試所述電子器件。
  17. 如申請專利範圍第16項所述之方法，更包括如果所述識別元件檢測器檢測到不正確類型的測試台或者不能檢測到識別元件則產生錯誤信號的步驟。
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