CN205080216U - 一种电子产品的性能测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种电子产品的性能测试装置，包括机箱和测试腔，测试腔内设有载物台、升降轴、测试仪器以及导线杆，载物台用于承载电子产品，所述升降轴为两个，分别安装于载物台的左右两侧，升降轴连接驱动机构以及对电子产品进行测试的测试仪器，驱动机构驱动升降轴做升降运动以改变所述测试仪器的位置，导线杆的上端伸出所述测试腔，导线杆上具有检测测试腔内温度的温度传感器以及调节测试腔内温度的温度调节器。本实用新型通过驱动机构驱动升降轴做升降运动以改变测试仪器的位置，以控制测试探头是否和电子产品形成电连接，避免了工作人员对电子产品进行接线，简化了测试步骤，提高了测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子产品性能测试技术领域，具体地讲，本实用新型涉及一种电子产品的性能测试装置。
背景技术
传统的电子产品性能测试台包括测试装置及用于与测试装置和电子产品电连接的导线，其中，测试装置用于检测电子产品性能及显示电子产品性能结果。当需要测试电子产品性能时，工作人员手动将导线与电子产品电连接，然后进行测试。当测试结束后，电子产品性能测试台断电，工作人员将电子产品与导线分离，接着将另一个待测试电子产品与导线电连接，进行下一步电子产品性能测试。
然而，现有的电子产品的性能测试操作步骤较为繁琐，工作人员需手动将电子产品和导线连接或分离，导致电子产品性能测试效率低下，此外，现有的电子产品性能测试装置不能够在恒温下进行，温度的升高或降低往往会导致电子产品性能测试的准确性存在偏差，因此，本领域技术人员亟需提供一种电子产品的性能测试装置，能够提高测试效率和准确性。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是：提供一种电子产品的性能测试装置，能够提高测试效率和准确性。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种电子产品的性能测试装置，包括机箱和测试腔，所述测试腔设置在所述机箱的上方，所述机箱内设有测试主机以及驱动机构，所述测试腔内设有载物台、升降轴、测试仪器以及导线杆，所述载物台用于承载电子产品，所述升降轴为两个，分别安装于所述载物台的左右两侧，所述升降轴连接驱动机构以及对电子产品进行测试的测试仪器，所述驱动机构驱动所述升降轴做升降运动以改变所述测试仪器的位置，所述测试仪器的下方具有测试探头，通过调节测试仪器的位置以控制所述测试探头是否和电子产品形成电连接，所述测试仪器的中间位置连接所述导线杆，所述导线杆的上端伸出所述测试腔，所述导线杆上具有检测所述测试腔内温度的温度传感器以及调节所述测试腔内温度的温度调节器。
优选的，所述升降轴的上端具有限位块。
优选的，所述载物台上具有用于固定电子产品的定位装置。
优选的，所述载物台通过若干支撑件固定在所述机箱上。
优选的，所述温度传感器连接报警装置。
本实用新型提供了一种电子产品的性能测试装置，通过驱动机构驱动升降轴做升降运动以改变测试仪器的位置，以控制测试探头是否和电子产品形成电连接，避免了工作人员对电子产品进行接线，简化了测试步骤，提高了测试效率，同时，通过设置测试腔，并在测试腔内设置温度传感器以及温度调节器，使测试腔内保持恒温环境，避免了温度对电子产品测试的影响，大大提高了电子产品测试准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型的电子产品的性能测试装置优选实施例的结构示意图。
[图中附图标记]：
10.机箱，20.测试腔，30.测试主机，40.驱动机构，50.升降轴，51.限位块，60.测试仪器，61.测试探头，70.载物台，80.电子产品，90.温度传感器，100.温度调节器，110.导线杆。
具体实施方式
为使本实用新型的内容更加清楚易懂，以下结合说明书附图，对本实用新型的内容作进一步说明。当然本实用新型并不局限于该具体实施例，本领域内的技术人员所熟知的一般替换也涵盖在本实用新型的保护范围内。其次，本实用新型利用示意图进行了详细的表述，在详述本实用新型实例时，为了便于说明，示意图不依照一般比例局部放大，不应以此作为对本实用新型的限定。
上述及其它技术特征和有益效果，将结合实施例及附图1对本实用新型的电子产品的性能测试装置进行详细说明。如图1所示，图1是本实用新型的电子产品的性能测试装置优选实施例的结构示意图。
如图1所示，本实用新型提供一种电子产品的性能测试装置，包括机箱10和测试腔20，测试腔20设置在机箱10的上方，机箱10内设有测试主机30以及驱动机构40，测试腔20内设有载物台70、升降轴50、测试仪器60以及导线杆110，载物台70用于承载电子产品，升降轴50为两个，分别安装于载物台70的左右两侧，升降轴50连接驱动机构40以及对电子产品进行测试的测试仪器60，驱动机构40驱动升降轴50做升降运动以改变测试仪器60的位置，测试仪器60的下方具有测试探头61，通过调节测试仪器60的位置以控制测试探头61是否和电子产品80形成电连接，其中，升降轴50的上端具有限位块51，以限定升降轴50的行走路径。
此外，测试仪器60的中间位置连接导线杆110，导线杆110的上端伸出测试腔20，导线杆110上具有检测测试腔20内温度的温度传感器90以及调节测试腔20内温度的温度调节器100。
具体的，本实施例中，载物台70通过若干支撑件固定在机箱10上，载物台70上具有用于固定电子产品80的定位装置。
此外，为了防止测试腔20内的温度过高或过低，温度传感器90连接报警装置。
综上所述，本实用新型提供了一种电子产品的性能测试装置，通过驱动机构40驱动升降轴50做升降运动以改变测试仪器60的位置，以控制测试探头61是否和电子产品形成电连接，避免了工作人员对电子产品进行接线，简化了测试步骤，提高了测试效率，同时，通过设置测试腔，并在测试腔20内设置温度传感器90以及温度调节器100，使测试腔20内保持恒温环境，避免了温度对电子产品测试的影响，大大提高了电子产品测试准确性。
虽然本实用新型主要描述了以上实施例，但是只是作为实例来加以描述，而本实用新型并不限于此。例如，对实施例详示的每个部件都可以修改和运行，与所述变型和应用相关的差异可认为包括在所附权利要求所限定的本实用新型的保护范围内。
本说明书中所涉及的实施例，其含义是结合该实施例描述的特地特征、结构或特性包括在本实用新型的至少一个实施例中。说明书中出现于各处的这些术语不一定都涉及同一实施例。此外，当结合任一实施例描述特定特征、结构或特性时，都认为其落入本领域普通技术人员结合其他实施例就可以实现的这些特定特征、结构或特性的范围内。
Claims (5)
1.一种电子产品的性能测试装置，其特征在于,包括机箱和测试腔，所述测试腔设置在所述机箱的上方，所述机箱内设有测试主机以及驱动机构，所述测试腔内设有载物台、升降轴、测试仪器以及导线杆，所述载物台用于承载电子产品，所述升降轴为两个，分别安装于所述载物台的左右两侧，所述升降轴连接驱动机构以及对电子产品进行测试的测试仪器，所述驱动机构驱动所述升降轴做升降运动以改变所述测试仪器的位置，所述测试仪器的下方具有测试探头，通过调节测试仪器的位置以控制所述测试探头是否和电子产品形成电连接，所述测试仪器的中间位置连接所述导线杆，所述导线杆的上端伸出所述测试腔，所述导线杆上具有检测所述测试腔内温度的温度传感器以及调节所述测试腔内温度的温度调节器。
2.如权利要求1所述的电子产品的性能测试装置，其特征在于,所述升降轴的上端具有限位块。
3.如权利要求1所述的电子产品的性能测试装置，其特征在于,所述载物台上具有用于固定电子产品的定位装置。
4.如权利要求1所述的电子产品的性能测试装置，其特征在于,所述载物台通过若干支撑件固定在所述机箱上。
5.如权利要求1所述的电子产品的性能测试装置，其特征在于,所述温度传感器连接报警装置。
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