CN106970285A - 用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统及其测试方法，该系统包括控制器、安装于所述控制器上的测试工装、两组安装于所述测试工装上的顶针、与所述测试工装连接的顶杆以及用于控制所述顶杆运动的且与所述顶杆连接的进气阀；所述控制器与所述顶针电性连接；所述进气阀与所述控制器电性连接；每一组所述顶针由两根完全一致的探针组成；该方法通过控制器控制进气阀，从而控制顶杆的运动，进一步通过顶杆带动设置于测试工装上的两组平行的顶针与待检测电子产品接触来进行测试。本发明具有测试周期短、测试效率和测试精度高、测试过程不损坏产品的特点。

Description

用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统及其测试方法

技术领域

本发明属于电气性能测试辅助设备技术领域，具体涉及一种用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统及其测试方法。

背景技术

随着科技的发展，现在绝大多数设备、产品均在向智能化、自动化方向上发展；而要实现设备或产品的智能化和自动化均离不开电子控制元件；电子控制元件的好坏直接决定了智能化自动化设备、产品的质量高低。故对电子控制元件的性能测试就显得尤为重要。

现有技术中对电子产品的性能测试方式主要有人工测试和手压式探针测试两种。由于产品测试项目比较多，测试绕组多，采用人工测试单测的话，测试周期比较长，也容易发生漏测试的现象；采用手压式探针测试的方法，经常会产生接触不良而导致的测试误差大的问题，同时也会因为手工所施加的压力不可控制，导致产品损坏的问题。

因此，本领域技术人员致力于设置一种能够缩短测试周期、提高测试效率和测试精度、测试过程不损坏产品的测试系统来克服现有技术中存在的问题就具有重大意义。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的主要目的在于提供一种用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统及其测试方法，旨在解决测试周期长、测试效率和测试精度低、测试过程容易损坏产品的问题。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

一种用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统，包括控制器、安装于所述控制器上的测试工装、两组安装于所述测试工装上的顶针、与所述测试工装连接的顶杆以及用于控制所述顶杆运动的且与所述顶杆连接的进气阀；所述控制器与所述顶针电性连接；所述进气阀与所述控制器电性连接；每一组所述顶针由两根完全一致的探针组成；

所述测试工装包括两块平行间隔设置的测试支架和设置于两块所述测试支架之间的测试台；所述测试台与两块所述测试支架平行；两组所述顶针分别安装于两块所述测试支架的相同位置上；两根所述探针平行安装于同一块所述测试支架上的同一水平截面上；所述顶针与所述测试支架垂直；所述测试台的高度低于所述顶针的高度；

两块所述测试支架相对的外侧底部均设置有用于连接外部测试仪的两根接线脚；安装于同一块所述测试支架上的两根所述接线脚和两根探针分别电性连接。

进一步，为了方便操作者操作，所述控制器上还设置有一键式控制的启动按钮；所述启动按钮与所述顶针和所述进气阀均电性连接。

进一步，为了保护所述顶针和便于检查故障，两块所述测试支架顶部均设置有护板；所述护板为透明塑胶材质制成的方形板状结构，其长度与所述测试支架的长度一致，其宽度大于所述测试支架的宽度。

基于上述的用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统，本发明还公开了一种缩短测试周期、提高测试效率和测试精度、测试过程不损坏产品的测试方法，包括以下步骤：

S1、检查待检测电子产品的外形有无明显缺陷；如无明显缺陷则进行下一步操作；如有，则报废；

S2、检查测试工装有无损坏；检查安装于测试工装上的顶针是否弯曲；检查完毕无异常现象后，将外部测试仪连接到接线脚上；

S3、将经步骤S1检查合格的待检测电子产品安装于测试台上的相应位置；按下控制器上的启动按钮，开始测试；

S4、通过外部测试仪读取检测数据，完成本次测试。

与现有技术相比，本发明至少具有以下优点：

本发明用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统及其测试方法，相对于现有的人工测试和手压式探针测试方法，通过控制器控制进气阀，从而控制顶杆的运动，进一步通过顶杆带动设置于测试工装上的两组平行的顶针与待检测电子产品接触来进行测试，测试周期更短、测试效率和测试精度更高；同时，由于是通过控制器控制进气阀的方式来控制顶杆对顶针施加的压力，这个力度是可以控制的，从而避免了因人工手压的压力不可控制而出现的对待测试电子产品造成损坏的现象，保护了待检测电子产品。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统的结构示意图。

附图标记说明：1-控制器；11-启动按钮；2-测试工装；21-测试支架；22-测试台；23-接线脚；24-护板；3-顶针；31-探针；4-顶杆；5-进气阀。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。

基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。

在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

另外，本发明各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

如图1所示，一种用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统，包括控制器1、安装于所述控制器1上的测试工装2、两组安装于所述测试工装2上的顶针3、与所述测试工装2连接的顶杆4以及用于控制所述顶杆4运动的且与所述顶杆4连接的进气阀5；所述控制器1与所述顶针3电性连接；所述进气阀5与所述控制器1电性连接；每一组所述顶针3由两根完全一致的探针31组成；

所述测试工装2包括两块平行间隔设置的测试支架21和设置于两块所述测试支架21之间的测试台22；所述测试台22与两块所述测试支架21平行；两组所述顶针3分别安装于两块所述测试支架21的相同位置上；两根所述探针31平行安装于同一块所述测试支架21上的同一水平截面上；所述顶针3与所述测试支架21垂直；所述测试台22的高度低于所述顶针3的高度；

两块所述测试支架21相对的外侧底部均设置有用于连接外部测试仪的两根接线脚23；安装于同一块所述测试支架21上的两根所述接线脚23和两根所述探针31分别电性连接。

作为上述实施例的优选实施方式，为了方便操作者操作，所述控制器1上还设置有一键式控制的启动按钮11；所述启动按钮11与所述顶针3和所述进气阀5均电性连接。

作为上述实施例的优选实施方式，为了保护所述顶针3和便于检查故障，两块所述测试支架21顶部均设置有护板24；所述护板24为透明塑胶材质制成的方形板状结构，其长度与所述测试支架21的长度一致，其宽度大于所述测试支架21的宽度。

本发明的用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统的工作过程如下：

将外部测试仪连接在测试支架21底部的接线脚23上，将待检测电子产品放在测试台22上，按下启动按钮11，控制器1会向进气阀5发出进气信号，进气阀5推动顶杆4向左运动，顶杆4则带动两块测试支架21靠拢，安装于测试支架21上的两组顶针3则从两边轻压待检测电子产品，此时，探针31与待检测电子产品接触，开始测试，外部测试仪开始读取数据，完成本次检测；通过控制器1控制进气阀5，从而控制顶杆4的运动，进一步通过顶杆4带动设置于测试工装2上的两组平行的顶针3与待检测电子产品接触来进行测试，测试周期更短、测试效率和测试精度更高；同时，由于是通过控制器1控制进气阀5的方式来控制顶杆4对顶针3施加的压力，这个力度是可以控制的，从而避免了因人工手压的压力不可控制而出现的对待测试电子产品造成损坏的现象，保护了待检测电子产品。

基于上述的用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统，本发明还公开了一种缩短测试周期、提高测试效率和测试精度、测试过程不损坏产品的测试方法，包括以下步骤：

S1、检查待检测电子产品的外形有无明显缺陷；如无明显缺陷则进行下一步操作；如有，则报废；

S2、检查测试工装2有无损坏；检查安装于测试工装2上的顶针3是否弯曲；检查完毕无异常现象后，将外部测试仪连接到接线脚23上；

S3、将经步骤S1检查合格的待检测电子产品安装于测试台22上的相应位置；按下控制器上的启动按钮11，开始测试；

S4、通过外部测试仪读取检测数据，完成本次测试。

表一为现有技术中常用的人工测试方法和手压式探针测试方法与本发明的基于用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统的测试方法的效果对比：

表一

以上，仅为本发明较佳的具体实施方式，但发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。

Claims (4)

1.一种用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统，其特征在于，包括控制器、安装于所述控制器上的测试工装、两组安装于所述测试工装上的顶针、与所述测试工装连接的顶杆以及用于控制所述顶杆运动的且与所述顶杆连接的进气阀；所述控制器与所述顶针电性连接；所述进气阀与所述控制器电性连接；每一组所述顶针由两根完全一致的探针组成；

所述测试工装包括两块平行间隔设置的测试支架和设置于两块所述测试支架之间的测试台；所述测试台与两块所述测试支架平行；两组所述顶针分别安装于两块所述测试支架的相同位置上；两根所述探针平行安装于同一块所述测试支架上的同一水平截面上；所述顶针与所述测试支架垂直；所述测试台的高度低于所述顶针的高度；

两块所述测试支架相对的外侧底部均设置有用于连接外部测试仪的两根接线脚；安装于同一块所述测试支架上的两根所述接线脚和两根探针分别电性连接。

2.根据权利要求1所述的用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统，其特征在于，所述控制器上还设置有一键式控制的启动按钮；所述启动按钮与所述顶针和所述进气阀均电性连接。

3.根据权利要求1所述的用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统，其特征在于，两块所述测试支架顶部均设置有护板；所述护板为透明塑胶材质制成的方形板状结构，其长度与所述测试支架的长度一致，其宽度大于所述测试支架的宽度。

4.基于权利要求1～3中任一项所述的用于平面型电子产品的两边顶针式测试系统的测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

S1、检查待检测电子产品的外形有无明显缺陷；如无明显缺陷则进行下一步操作；如有，则报废；

S2、检查测试工装有无损坏；检查安装于测试工装上的顶针是否弯曲；检查完毕无异常现象后，将外部测试仪连接到接线脚上；

S3、将经步骤S1检查合格的待检测电子产品安装于测试台上的相应位置；按下控制器上的启动按钮，开始测试；

S4、通过外部测试仪读取检测数据，完成本次测试。