CN110389293A - 用于电子器件测试台认证的装置和方法 - Google Patents
用于电子器件测试台认证的装置和方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110389293A CN110389293A CN201910275339.5A CN201910275339A CN110389293A CN 110389293 A CN110389293 A CN 110389293A CN 201910275339 A CN201910275339 A CN 201910275339A CN 110389293 A CN110389293 A CN 110389293A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- testboard
- recognition component
- test
- electronic device
- pick
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
提供了一种用于测试电子器件的测试装置和方法。该装置包括:多个可拆卸安装的测试台,其用于对电子器件执行测试;以及多个拾取头,用于将电子器件传送到多个测试台中的至少一个以进行测试。该装置还包括:包含在每个测试台中的识别元件,其指示测试台的特征;以及能够相对于多个测试台移动的识别元件检测器,识别元件检测器可操作以在利用测试台测试电子器件之前,通过检测包含在测试台中的识别元件来识别和认证至少一个测试台的特征。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于识别和认证电子器件测试台的装置和方法。特别地,电子器件测试台适用于半导体器件测试装置。
背景技术
通常在电子器件的制造过程的各个阶段测试电子器件,特别是在将完成的电子器件发送给客户之前。被测电子器件通常放置在测试台中,该测试台包括电接触条以与被测电子器件电连通。连接到测试台的测试模块将运行测试程序算法并通过测试台提供适当的电信号以测试电子器件。因此,测试台充当被测电子器件与测试模块之间的中介。
因此,应当理解,在制造过程的不同阶段,不同类型的电子器件或相同类型的电子器件将需要不同类型的测试台以允许被测电子器件与测试模块之间的通信。实际上,需要不同类型的测试台来满足可以在同一电子器件上执行的不同类型的测试。
人工操作者通常负责将特定测试台和特定测试程序与特定被测电子器件相匹配。由于通常存在大量测试台和甚至更多数量的可用于选择的测试程序,这经常被证明是易于发生人为错误的任务。此外,如果测试台或测试程序与被测电子器件错误匹配,则可能会产生严重后果。可能获得错误的测试结果,导致错误地处置掉良好的电子器件或错误地将有故障的电子器件发送给客户。另外,测试台和被测电子器件可能由于在测试期间被错误匹配而受损。
因此,寻求提供一种改善现有技术的至少一些上述问题的装置和方法将是有益的。
发明内容
因此,本发明的一个目的是寻求提供一种用于自动认证测试台并确保该测试台已被正确安装的装置和方法。
根据本发明的第一方面,提供了一种用于测试电子器件的测试装置,该装置包括:多个可拆卸安装的测试台,用于对所述电子器件执行测试;多个拾取头,用于将所述电子器件传送到所述多个测试台中的至少一个以进行测试;包含在每个测试台中的识别元件,指示所述测试台的特征;以及识别元件检测器,其相对于多个测试台能移动,所述识别元件检测器用于在利用测试台测试所述电子器件之前通过检测包含在所述测试台中的所述识别元件来识别和认证所述至少一个测试台的特征。
根据本发明的第二方面,提供了一种用于测试电子器件的方法,该方法包括以下步骤:可拆卸地安装多个测试台,用于对所述电子器件执行测试;相对于包含在每个测试台中的相应识别元件移动识别元件检测器,每个识别元件指示所述测试台的特征;利用所述识别元件检测器检测所述识别元件,以识别并认证所述测试台的特征;利用多个拾取头将所述电子器件传送到所述多个测试台中的至少一个;并且然后在所述至少一个测试台处测试所述电子器件。
将参考描述部分、所附权利要求和附图更好地理解这些和其他特征、方面和优点。
附图说明
现在将仅通过示例的方式参考附图描述本发明的实施例。
图1示出了根据本发明优选实施例的测试台的立体图。
图2示出了图1的测试台的器件接收区域的立体图。
图3示出了两个测试台的立体图,这两个测试台电连接到两个测试模块。
图4示出了包括测试处置器组件和测试模块的测试装置的立体图。
图5是说明用于确定测试台是否正确安装在图4的测试装置中的示例性过程中涉及的步骤的流程图。
在附图中,相同的部件由相同的附图标记表示。
具体实施方式
图1示出了根据本发明优选实施例的测试台100的立体图。测试台100包括基板,例如印刷电路板104,以及位于印刷电路板104的一个边缘处的连接器108,用于与测试模块200建立通信(参见图3)。印刷电路板104包括内部电线(未示出),用于将连接器108电连接到可操作以接收被测电子器件106(例如集成电路芯片)的器件接收区域110。器件接收区域110通常位于印刷电路板104的中心。测试台100还包括位于印刷电路板104的顶表面上并且与器件接收区域110相邻的识别元件,例如识别标签120,然而,识别元件可以位于测试台100上或测试台100中的任何位置。
图2示出了图1的测试台100的器件接收区域110的立体图。器件接收区域110包括位于器件接收区域110的相对侧上的第一触点保持器122和第二触点保持器123。第一排130的电触点或接触条102在其第一端由第一触点保持器122保持,使得接触条102从第一触点保持器122延伸,其第二端终止于位于器件接收区域110的中心的器件接触区域124。识别标签120可以定位在与器件接触区域124邻近的位置处。
类似地,第二排132的接触条102在其第一端由第二触点保持器123保持,使得接触条102从第二触点保持器123延伸,其第二端终止于器件接触区域124。第一排130和第二排132的接触条102的第二端彼此邻近地终止,并且定位成使得每个第二端可操作以接触被测电子器件106(例如集成电路芯片)的相应引线134。当被测电子器件106放置在器件接触区域124中时,被测电子器件106的引线134的底面与接触条102的第二端的顶面接触。因此,器件接触区域124可操作以与电子器件106的引线134建立电接触以便执行测试。印刷电路板104的内部电线将连接器108电连接到接触条102和被测电子器件106的引线134。器件接收区域110还包括两个相对的壁136,以帮助将被测电子器件106正确地对准和定位在器件接触区域124中。
识别标签120可以包括视觉上可感知的或不同的标记,例如条形码、QR码或字体和字符,这种标记可以由例如相机或光传感器等识别标签检测器500(参见图4)检测。视觉上可感知或不同的识别标签120可以定位在测试台100的任何外表面上,只要它允许通过适当的识别标签检测器500进行检测或检查。可替代地,识别标签120可以包括例如RFID标签。在那种情况下,识别标签120不需要是可见的,而是可以隐藏在测试台100内,只要它能够被附近的RFID读取器(未示出)检测到。除了视觉上不同的标记或RFID标签之外,识别标签120还可以包括接触型识别标签,例如触摸存储器。
图3示出了电连接到两个测试模块200a、200b的两个测试台100a、100b的立体图。这两个测试台100a、100b包括在测试处置器组件300中。第一测试台100a可以通过可选的第一信号放大器202a与第一测试模块200a通信,以放大发送的信号。同样地,第二测试台100b可以经由可选的第二信号放大器202b与第二测试模块200b通信。测试台100a、100b、测试模块200a、200b与信号放大器202a、202b之间的通信可以通过例如电缆等有线连接来实现。应该理解,通信也可以是无线的。
另外,测试模块200a、200b可以通过有线或无线通信与测试处置器组件300的其余部分通信。此外,第一和第二测试模块200a、200b可替代地包括单个测试模块200,该单个测试模块可操作以同时与多个测试台100通信。测试模块200与测试台100a、100b可操作地通信,用于操作测试程序以测试电子器件106。测试处置器组件300可以包括另外的测试台100,每个测试台用于对被测电子器件106执行不同的测试。例如,测试处置器组件300可以包括三个测试台100,每个测试台100分别执行电流特征测试、电压特征测试和电阻特征测试。
图4示出了包括测试处置器组件300和测试模块200的测试装置700的立体图。测试装置700可操作用于测试电子器件106。测试处置器组件300包括测试台100和旋转转台400。旋转转台400包括在旋转转台400的圆周处彼此等距间隔开的多个拾取臂410。每个拾取臂410包括竖直定向的细长主体412和位于主体412底端的用于拾取电子器件106的拾取头414。拾取头414可操作以将电子器件106传送到测试台100。测试台100可拆卸地安装在拾取臂410下方。测试台100定位使得拾取臂410可以向下移动以将电子器件106放置在测试台100的器件接触区域124上。旋转转台400可操作以相对于测试台100的位置移动拾取头414,拾取头414可以安装在旋转转台400上。包含在测试台100中的识别标签120位于与器件接触区域124邻近的位置。识别元件(例如识别标签120)可操作以指示测试台100的特征,例如测试台100的类型或测试台100能够执行的测试类型。尽管图4中仅示出了一个测试台100,应当理解,测试处置器组件300通常包括多个可拆卸安装的测试台100,每个测试台100是不同类型的测试台100。例如,测试处置器组件300可包括多个测试台100,每个测试台100位于相对于拾取臂410的不同位置。
诸如成像设备等的识别标签检测器500定位在旋转转台400的圆周处,在两个相邻拾取臂410之间。旋转转台400可操作以相对于测试台100的位置移动识别标签检测器500,识别标签检测器500可安装在旋转转台400上。识别标签检测器500向下指向,以便可操作以检测或检查位于与测试台100的器件接触区域124邻近的位置处的识别标签120。识别标签检测器500可操作以检测或检查识别标签120,从而识别和认证正在使用的测试台100的特征。识别标签检测器500可操作以将信息发送到包括处理器512和存储器514的计算机510。计算机510可以包含在或嵌入在识别标签检测器500中,是外部终端或者是测试模块200的一部分。处理器512可操作以接收关于测试台100的特征的信息,并将该信息与系统指定的数据进行比较,以确定是否将使用正确的测试台来测试电子器件。存储器514(例如包括在计算机510中的存储器设备)可操作以存储测试台100的历史处理信息。计算机510可操作以检查所识别的测试台100是否是用于对待测试的电子器件106执行所需测试的正确类型。如果正确类型的测试台100与待测试的电子器件106匹配,则可以在测试台100处自动选择并运行适当的测试程序。然后,测试台100将对电子器件106执行所需的测试。然而,如果发现安装的测试台100是不正确的类型,则可以发出警报以警告操作者该错误,从而防止相对于现有技术通常遇到的损失或损坏。
此外,关于唯一测试台100的信息(例如由唯一测试台100执行的测试的数量)可以存储在存储器514中。这样的信息可以是有用的,例如,用于确定测试台100是否仍然是在其使用寿命内或是否需要维修或更换。
图5是说明用于确定测试台100是否正确安装在图4的测试装置700中的示例性过程600中涉及的步骤的流程图。优选地,应在测试装置700开始测试被测电子器件106之前执行过程600。
测试处置器组件300在过程600的步骤602处开始测试台识别过程。在步骤604,旋转转台400将识别标签检测器500旋转到位于拾取臂410和拾取头414下方的每个测试台100。识别标签检测器500在步骤606检测或检查各个测试台100上所使用的每个识别标签120。在步骤608,测试处置器组件300确定识别标签检测器500是否能够读取识别标签120。如果识别标签120不能被读取,例如因为它已被污损、损坏或丢失,则在步骤610产生错误信号以警告操作者。然后,过程600可以终止,以允许操作者采取适当的补救措施。
当成功读取识别标签120时,识别标签检测器500将信息发送到计算机510以进行检查。在步骤614,计算机510确定测试台100是否已经正确定位,然后在步骤616,计算机确定测试程序是否已经正确设置,并且最后在步骤618,确定所有测试台100是否仍然是在其有用的工作寿命内。在步骤614、616、618,计算机510根据存储在存储器514中的系统指定数据来检查当前过程数据。系统指定数据可以例如指示应安装在每个拾取臂410下方的测试台100的相应类型以及应由每个测试台100运行的特定测试程序。计算机510还可以存储每个测试台100所使用的历史记录,这些历史记录可以用于确定任何测试台100是否已到达其有用的工作寿命的终点。
如果步骤614、616、618的所有确定的结果是肯定的,则过程600前进到步骤620,此后提示测试装置700开始测试电子器件106。拾取头414将电子器件106传送到测试台100以进行测试。然而,如果这些确定中的任何一个是否定的,则过程600在步骤610终止并且将发出适当的警报以请求操作者干预以解决检测到的问题。
因此,可以避免或至少减少上述现有技术的至少一些问题。特别地,如果安装了错误的测试台100,则可以在测试处置器组件300开始测试电子器件106之前检测到错误,从而可以防止任何不必要的损失或损坏。另外,如果计算机510自动选择适当的测试程序,优选地基于固定的诀窍,则这将消除操作人员在每次安装或更改测试台100时从大量可用的测试程序中手动选择正确的测试程序的需要。识别标签120还有助于确定测试台100是否已被正确安装。例如,如果识别标签检测器500不能读取识别标签120,则表明测试台100安装不正确或未对准。另一个优点是可以监控每个测试台100的寿命。
应该认识到,上述各种方法的细节仅用于说明目的,并且可以被提供等效结果的其它方法和材料替代。
尽管已经参考某些实施例相当详细地描述了本发明,但是其他实施例也是可能的。
例如,代替将识别标签检测器500定位在旋转转台400上,可以将相应的识别标签检测器500放置在每个测试台100附近,以检测和识别所使用的所有测试台100。
因此,所附权利要求的精神和范围不应限于这里包含的实施例的描述。
Claims (17)
1.一种用于测试电子器件的测试装置,其特征在于,所述装置包括:
多个可拆卸安装的测试台,用于对所述电子器件执行测试;
多个拾取头,用于将所述电子器件传送到所述多个测试台中的至少一个以进行测试;
包含在每个测试台中的识别元件,指示所述测试台的特征;以及
识别元件检测器,其能够相对于多个测试台移动,所述识别元件检测器用于在利用测试台测试所述电子器件之前通过检测包含在所述测试台中的所述识别元件来识别和认证所述至少一个测试台的特征。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述多个拾取头和所述识别元件检测器安装在转台上,所述转台可操作以相对于所述多个测试台的相应位置移动所述拾取头和所述识别元件检测器。
3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,所述识别元件检测器位于所述转台的圆周上,在两个相邻拾取头之间。
4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,每个识别元件包括视觉上不同的标记。
5.如权利要求4所述的装置,其特征在于,所述识别元件检测器包括可操作以检测所述视觉上不同的标记的成像设备。
6.如权利要求4所述的装置,其特征在于,每个识别元件包括条形码或QR码。
7.如权利要求1所述的装置,其特征在于,每个识别元件包括RFID标签。
8.如权利要求1所述的装置,其特征在于,每个测试台包括用于与所述电子器件的引线建立电接触以进行测试的器件接触区域,并且其中,每个识别元件位于与所述器件接触区域邻近的位置。
9.如权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括处理器,用于接收关于每个测试台的特征的信息,并将所述信息与系统指定的数据进行比较,以确定是否将正确的测试台用于测试所述电子器件。
10.如权利要求9所述的装置,其特征在于,所述处理器包含在所述识别元件检测器中。
11.如权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括存储器设备,用于存储所述测试台的历史处理信息。
12.如权利要求11所述的装置,其特征在于,所述存储器设备包含在所述识别元件检测器中。
13.如权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括与每个测试台可操作地通信的测试模块,用于操作测试程序以测试所述电子器件。
14.如权利要求13所述的装置,其特征在于,所述测试模块通过有线通信与所述测试台通信。
15.如权利要求13所述的装置,其特征在于,所述测试模块通过无线通信与所述测试台通信。
16.一种用于测试电子器件的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
可拆卸地安装多个测试台,用于对所述电子器件执行测试;
相对于包含在每个测试台中的相应识别元件移动识别元件检测器,每个识别元件指示所述测试台的特征;
利用所述识别元件检测器检测所述识别元件,以识别并认证所述测试台的特征;
利用多个拾取头将所述电子器件传送到所述多个测试台中的至少一个;并且然后
在所述至少一个测试台处测试所述电子器件。
17.如权利要求16所述的方法,其特征在于,还包括如果所述识别元件检测器检测到不正确类型的测试台或者不能检测到识别元件则产生错误信号的步骤。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/954,680 US10996308B2 (en) | 2018-04-17 | 2018-04-17 | Apparatus and method for authentication of electronic device test stations |
US15/954,680 | 2018-04-17 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110389293A true CN110389293A (zh) | 2019-10-29 |
CN110389293B CN110389293B (zh) | 2022-11-11 |
Family
ID=68161632
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201910275339.5A Active CN110389293B (zh) | 2018-04-17 | 2019-04-08 | 用于电子器件测试台认证的装置和方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10996308B2 (zh) |
CN (1) | CN110389293B (zh) |
MY (1) | MY195211A (zh) |
TW (1) | TWI698651B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102017218296A1 (de) | 2017-10-12 | 2019-04-18 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Mehrbenutzer-Testsystem und Verfahren zur Konfiguration eines Mehrbenutzer-Testsystems |
Citations (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4845843A (en) * | 1985-10-28 | 1989-07-11 | Cimm, Inc. | System for configuring, automating and controlling the test and repair of printed circuit boards |
EP0561550A1 (en) * | 1992-03-19 | 1993-09-22 | Allegheny Ludlum Corporation | Method and apparatus for flux scanning magnetic steel material |
WO1997029383A1 (de) * | 1996-02-09 | 1997-08-14 | Mci Computer Gmbh | Verfahren zum handhaben von elektronischen bauelementen |
CN1208858A (zh) * | 1997-07-07 | 1999-02-24 | 日本电气株式会社 | 操作损耗减小的半导体器件测试系统 |
TW200540944A (en) * | 2004-05-11 | 2005-12-16 | Olympus Corp | Substrate processing device, and substrate processing system |
US20060190871A1 (en) * | 2005-02-08 | 2006-08-24 | Likovich Robert B Jr | Methods, systems and media for managing functional verification of a parameterizable design |
US20080133165A1 (en) * | 2006-12-04 | 2008-06-05 | Advantest Corporation | Test apparatus and device interface |
US20090224778A1 (en) * | 2006-11-30 | 2009-09-10 | Fujitsu Limited | Test apparatus, test method, and manufacturing method |
CN101996116A (zh) * | 2009-08-10 | 2011-03-30 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 测试方法 |
CN102012461A (zh) * | 2010-10-27 | 2011-04-13 | 峨嵋半导体材料研究所 | 一种高阻硅的电阻率测试方法 |
CN102236034A (zh) * | 2010-04-12 | 2011-11-09 | 先进自动器材有限公司 | 用于电子器件的测试装置 |
CN202631650U (zh) * | 2012-04-12 | 2012-12-26 | 绵阳富临精工机械股份有限公司 | 汽车电控系统执行机构电磁阀综合性能测试台 |
CN103286076A (zh) * | 2012-02-10 | 2013-09-11 | 先进科技新加坡有限公司 | 用于测试电子元件的分选系统 |
TW201341803A (zh) * | 2012-02-06 | 2013-10-16 | Apple Inc | 具有測試托盤之測試系統與自動測試托盤處置 |
CN103972138A (zh) * | 2013-01-25 | 2014-08-06 | 艾希思科技有限公司 | 用于拾取,放置和压迫半导体元件的装置 |
CN104200238A (zh) * | 2014-09-22 | 2014-12-10 | 北京酷云互动科技有限公司 | 台标识别方法和台标识别装置 |
CN104216328A (zh) * | 2014-09-17 | 2014-12-17 | 上海兰宝传感科技股份有限公司 | 传感器自动测试系统 |
US20150035541A1 (en) * | 2013-07-30 | 2015-02-05 | Fih (Hong Kong) Limited | Signal integrity test apparatus and method for testing signal integrity of electronic product |
CN104641673A (zh) * | 2012-10-04 | 2015-05-20 | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 | 用于自动配置测试仪的方法和测试系统 |
US20150204943A1 (en) * | 2014-01-23 | 2015-07-23 | Shing Kai Yip | Test handler that picks up electronic devices for testing and an orientation-changing apparatus for use in a test handler |
JP2015229027A (ja) * | 2014-06-05 | 2015-12-21 | 国立大学法人 熊本大学 | 刺激特定方法、刺激特定装置及びプログラム |
CN205080216U (zh) * | 2015-11-13 | 2016-03-09 | 常州信息职业技术学院 | 一种电子产品的性能测试装置 |
CN105983538A (zh) * | 2015-01-28 | 2016-10-05 | 先进科技新加坡有限公司 | 一种高产能的测试分选机系统 |
CN106290991A (zh) * | 2015-06-10 | 2017-01-04 | 鸿劲科技股份有限公司 | 电子元件测试设备 |
TW201709377A (zh) * | 2015-08-31 | 2017-03-01 | 先進科技新加坡有限公司 | 用於操縱電子部件的操縱裝置的調節設備和方法 |
CN207001673U (zh) * | 2017-04-28 | 2018-02-13 | 深圳安博电子有限公司 | 一种集成电路板自动测试设备 |
CN107771024A (zh) * | 2016-08-22 | 2018-03-06 | 先进科技新加坡有限公司 | 用于转移电子装置的设备和方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6027019A (en) * | 1997-09-10 | 2000-02-22 | Kou; Yuen-Foo Michael | Component feeder configuration monitoring |
US6137303A (en) | 1998-12-14 | 2000-10-24 | Sony Corporation | Integrated testing method and apparatus for semiconductor test operations processing |
US9606171B2 (en) * | 2015-01-28 | 2017-03-28 | Asm Technology Singapore Pte Ltd | High throughput test handler system |
US10656206B1 (en) * | 2017-05-15 | 2020-05-19 | Amazon Technologies, Inc. | Multi-function electronic device testing |
-
2018
- 2018-04-17 US US15/954,680 patent/US10996308B2/en active Active
-
2019
- 2019-03-15 TW TW108108763A patent/TWI698651B/zh active
- 2019-03-20 MY MYPI2019001483A patent/MY195211A/en unknown
- 2019-04-08 CN CN201910275339.5A patent/CN110389293B/zh active Active
Patent Citations (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4845843A (en) * | 1985-10-28 | 1989-07-11 | Cimm, Inc. | System for configuring, automating and controlling the test and repair of printed circuit boards |
EP0561550A1 (en) * | 1992-03-19 | 1993-09-22 | Allegheny Ludlum Corporation | Method and apparatus for flux scanning magnetic steel material |
WO1997029383A1 (de) * | 1996-02-09 | 1997-08-14 | Mci Computer Gmbh | Verfahren zum handhaben von elektronischen bauelementen |
CN1208858A (zh) * | 1997-07-07 | 1999-02-24 | 日本电气株式会社 | 操作损耗减小的半导体器件测试系统 |
TW200540944A (en) * | 2004-05-11 | 2005-12-16 | Olympus Corp | Substrate processing device, and substrate processing system |
US20060190871A1 (en) * | 2005-02-08 | 2006-08-24 | Likovich Robert B Jr | Methods, systems and media for managing functional verification of a parameterizable design |
US20090224778A1 (en) * | 2006-11-30 | 2009-09-10 | Fujitsu Limited | Test apparatus, test method, and manufacturing method |
US20080133165A1 (en) * | 2006-12-04 | 2008-06-05 | Advantest Corporation | Test apparatus and device interface |
CN101996116A (zh) * | 2009-08-10 | 2011-03-30 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 测试方法 |
CN102236034A (zh) * | 2010-04-12 | 2011-11-09 | 先进自动器材有限公司 | 用于电子器件的测试装置 |
CN102012461A (zh) * | 2010-10-27 | 2011-04-13 | 峨嵋半导体材料研究所 | 一种高阻硅的电阻率测试方法 |
TW201341803A (zh) * | 2012-02-06 | 2013-10-16 | Apple Inc | 具有測試托盤之測試系統與自動測試托盤處置 |
CN104205784A (zh) * | 2012-02-06 | 2014-12-10 | 苹果公司 | 自动化测试托盘处理和具有测试托盘的测试系统 |
CN103286076A (zh) * | 2012-02-10 | 2013-09-11 | 先进科技新加坡有限公司 | 用于测试电子元件的分选系统 |
CN202631650U (zh) * | 2012-04-12 | 2012-12-26 | 绵阳富临精工机械股份有限公司 | 汽车电控系统执行机构电磁阀综合性能测试台 |
CN104641673A (zh) * | 2012-10-04 | 2015-05-20 | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 | 用于自动配置测试仪的方法和测试系统 |
CN103972138A (zh) * | 2013-01-25 | 2014-08-06 | 艾希思科技有限公司 | 用于拾取,放置和压迫半导体元件的装置 |
US20150035541A1 (en) * | 2013-07-30 | 2015-02-05 | Fih (Hong Kong) Limited | Signal integrity test apparatus and method for testing signal integrity of electronic product |
US20150204943A1 (en) * | 2014-01-23 | 2015-07-23 | Shing Kai Yip | Test handler that picks up electronic devices for testing and an orientation-changing apparatus for use in a test handler |
JP2015229027A (ja) * | 2014-06-05 | 2015-12-21 | 国立大学法人 熊本大学 | 刺激特定方法、刺激特定装置及びプログラム |
CN104216328A (zh) * | 2014-09-17 | 2014-12-17 | 上海兰宝传感科技股份有限公司 | 传感器自动测试系统 |
CN104200238A (zh) * | 2014-09-22 | 2014-12-10 | 北京酷云互动科技有限公司 | 台标识别方法和台标识别装置 |
CN105983538A (zh) * | 2015-01-28 | 2016-10-05 | 先进科技新加坡有限公司 | 一种高产能的测试分选机系统 |
CN106290991A (zh) * | 2015-06-10 | 2017-01-04 | 鸿劲科技股份有限公司 | 电子元件测试设备 |
TW201709377A (zh) * | 2015-08-31 | 2017-03-01 | 先進科技新加坡有限公司 | 用於操縱電子部件的操縱裝置的調節設備和方法 |
CN205080216U (zh) * | 2015-11-13 | 2016-03-09 | 常州信息职业技术学院 | 一种电子产品的性能测试装置 |
CN107771024A (zh) * | 2016-08-22 | 2018-03-06 | 先进科技新加坡有限公司 | 用于转移电子装置的设备和方法 |
CN207001673U (zh) * | 2017-04-28 | 2018-02-13 | 深圳安博电子有限公司 | 一种集成电路板自动测试设备 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
BY RON KOEPP等: "Achieving high speed RFID die pick and place operation", 《2008 33RD IEEE/CPMT INTERNATIONAL ELECTRONICS MANUFACTURING TECHNOLOGY CONFERENCE (IEMT)》 * |
王云峰: "IGBT全自动装片机工艺方法研究", 《电子与封装》 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI698651B (zh) | 2020-07-11 |
CN110389293B (zh) | 2022-11-11 |
MY195211A (en) | 2023-01-11 |
TW201944085A (zh) | 2019-11-16 |
US20190317174A1 (en) | 2019-10-17 |
US10996308B2 (en) | 2021-05-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10497199B2 (en) | Card reader tampering detector | |
US20210318117A1 (en) | System and Method For Verifying ADAS Calibration Target Selection | |
TWI554767B (zh) | 操作測試分選機的方法 | |
EP1074917A2 (en) | System and method for determining connection accuracy at an interface | |
JP2005233936A (ja) | 回路板モジュールの運動をカードケージスロットに沿って制御するための技法 | |
CN110389293A (zh) | 用于电子器件测试台认证的装置和方法 | |
JP7135184B2 (ja) | テープフィーダのサポートプレート種/部品種組み合わせ確認システム及びサポートプレート種/部品種組み合わせ確認方法 | |
US20040166725A1 (en) | Plug-connection verification for detecting a properly made electrical plug connection | |
CN111880820A (zh) | 一种自动化控制电路板检测烧录方法 | |
KR101551934B1 (ko) | 와이어 하네스 검사 필증 제작 장치 | |
CN105806848B (zh) | 印刷电路板装配检测系统及其检测方法 | |
JP4189094B2 (ja) | 検査システム | |
US20230237642A1 (en) | System and method for tracing components of electronic assembly | |
KR20150104766A (ko) | 검사공정에서의 불량 이력 추적 방법 | |
US20170097249A1 (en) | Sensor and cable with local wireless read and write capability and methods of using same | |
JPH06207908A (ja) | 狭小部品実装ユニット検査システム | |
KR102261314B1 (ko) | 머신비전 장치 | |
CN109884455B (zh) | 承载盘组件和辨识系统 | |
WO2023055375A1 (en) | Image comparison to determine device abnormalities | |
US20130091804A1 (en) | Tape and reel orientation system | |
CN110472711A (zh) | 一种检测系统、设备生产系统及检测方法 | |
JP2023037245A (ja) | 試験システム | |
KR100985909B1 (ko) | 반도체 소자 픽업용 피커 및 이를 이용하는 트레이 내반도체 소자 위치 확인 방법 | |
JPH0715919B2 (ja) | 半導体ウエハプロ−バ装置 | |
CN114882102A (zh) | 一种空中运输小车的行走定位控制装置和方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |