WO1997029383A1 - Verfahren zum handhaben von elektronischen bauelementen - Google Patents

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Harro MÖWES
Hans-Joachim Kremer
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Mci Computer Gmbh
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    • G—PHYSICS
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    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints

Definitions

  • the invention relates to a method for handling electronic components during the functional and construction check in at least one test station of the final assembly.
  • the integrated circuits of electronic components are tested for their electrical and mechanical functionality in the final assembly by various tests after they have been connected to the connection legs and overmolded with a plastic. As part of the checks in the final assembly, the burn-in, the testing of the electrical functions of the components at different temperatures, the marking and labeling of the plastic housing and the checking of the alignment of the connection legs and the labeling of the housing may be mentioned.
  • the components are immediately sorted out according to the results after the respective tests or checks, so that only those components that have passed the last test are examined in further test stations.
  • the transport from test station to test station is carried out in part by carriers (so-called trays) which have a large number of depressions in which the components are arranged.
  • the invention has for its object to provide a method for handling electronic components during the functional and design check in at least one test station within the final assembly, which allows the electronic components to be classified in many ways.
  • the invention proposes a method for handling electronic components, in which the components are placed in receptacles of carriers, each carrier having a plurality of receptacles for receiving several components, each carrier having a machine-readable, individual marking, the carrier which pass through at least one test station for testing the electrical and / or mechanical properties of the components, the components of each carrier maintain their carrier positions unchanged relative to one another during the passage from the first to the last test station, the marking of each carrier at least once is read and the test results of the components of each carrier obtained per test station are stored in a carrier-related manner by assigning their carrier placement positions, wherein after passing through the last test station for each component of each carrier, all test results are stored, specifically by assigning the carrier on which the component is located and the position of the component on the carrier.
  • the components are arranged in the receptacles of carriers, each carrier having a plurality of receptacles for receiving a plurality of components.
  • Each carrier is provided with a machine-readable, individual marking and passes through at least one test station for testing the electrical and / or mechanical properties of the components.
  • the relative arrangement of the components of each carrier remains unchanged from the first to the last test station. This does not necessarily mean that the components of one carrier are not transferred to another carrier. If this happens, however, their relative arrangement among themselves remains unchanged.
  • the marking of each carrier is read at least once. This can take place, for example, at the first test station, the sequence of the carriers when passing through the subsequent stations always knowing which carrier is currently passing through the test station.
  • test results of the components obtained per test station are related to the carrier saved. After passing through the last TestStation, all test results are stored for each component of each carrier. All test results are stored by assigning the carrier on which the component is located and the placement position of the component within the carrier.
  • the "good and bad" components are therefore not sorted out after each test station, but rather after the last test station. All test results can be included in the classification algorithm.
  • the data can be saved either centrally or decentrally. In any case, the data of the test results of all components are stored. Since each component can be individualized on the basis of the likewise stored marking of the supports and the stored placement position of the components on the supports, each component can be specifically accessed when sorting out the components according to the test results.
  • the components in the at least one test station are removed from the mountings for the purpose of testing and after the test again in the same mountings of the mount or in the same mountings of another similar mount while maintaining them relative placement positions are stored.
  • the marking of this other carrier is of course also read.
  • the markings of the carrier as Barcode or in the form of characters, numbers and / or letters are formed, which are optically readable.
  • the markings can be read magnetically (for example by a transponder).
  • the carriers can be transported from test station to test station either sequentially by means of a corresponding transport mechanism (belt, belt, chain conveyor or similar conveyor) or with the aid of magazines, in which several carriers each passing through the same test station are accommodated.
  • the magazines can preferably be moved automatically and provided with a machine-readable marking in particular, which enables the control of the transport system to locate the individual magazines again or to transport them from station to station in a targeted manner.
  • the components can also be transported from station to station on carriers other than those on which the components rest during the passage through the test stations.
  • the components arranged on a carrier can be transferred to a carrier assigned to the test station or passing through the test stations.
  • it is crucial that the relative position of the components with respect to one another is preferably not changed or changed in a predetermined, specific manner by this conversion process, so that the test results can be stored in relation to the carrier and the position.
  • the components are also transported from a test station to the test station next test station remain in the recordings of the carriers on which they pass through the test stations.
  • the components are transferred from one carrier to another carrier, it is advantageous if all components of a carrier are implemented simultaneously.
  • the components are classified according to their test results or part of their test results, based on the stored data.
  • the classifications determined in accordance with a predefined pattern are stored in a manner related to the carrier and associated with the placement of the individual components.
  • the components can then be removed from the mountings in accordance with the classifications and sorted out into groups of components of the same classification.
  • the markings on the carriers are again read in the sorting station.
  • the carrier markings read in once at the start of the tests are thus assigned to the individual carriers passing through the test stations and the sorting station by counting the carriers, which is preferably done at each test station and, if present, at the sorting station .
  • test results of all components are preferably stored in a central semiconductor memory or another central storage medium.
  • the test results can be decentralized and in particular in the storage media assigned to the carriers, for example in to store magnetic strips arranged on the carriers.
  • the handling method according to the invention makes it possible to access the test results of all components after having completed all the test and processing or processing steps within the final assembly. This means that a significantly larger number of selection criteria, namely all test results, are available for dividing the components into individual classifications.
  • the handling method according to the invention is moreover time-optimized insofar as the examinations in the final assembly are not interrupted by individual sorting-out processes which are carried out after the individual test stations.
  • the electronic components pass through one or more test stations in the handling method according to the invention, wherein they are arranged on supports which are provided with machine-readable individual markings.
  • the components always keep their arrangement on the carriers or, if there is a change in the placement of the components of a carrier, this is known. In this way it is possible to save the test results for each component and to assign the components assigned to the test results on the basis of the machine-readable carriers and on the basis of the known position of the components within the

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Abstract

Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren zum Handhaben von elektronischen Bauelementen bei der Funktions- und Konstruktionsüberprüfung in mindestens einer Teststation der Endmontage durchlaufen die elektronischen Bauelemente eine oder mehrere Teststationen, wobei sie auf Trägern angeordnet sind, die mit maschinenlesbaren individuellen Markierungen versehen sind. Die Bauelemente behalten ihre Anordnung auf den Trägern stets bei oder, sofern es zu einer Veränderung der Plazierung der Bauelemente eines Trägers kommt, ist diese bekannt. Auf diese Weise ist es möglich, für jedes Bauelement die Testergebnisse abzuspeichern und die den Testergebnissen jeweils zugeordneten Bauelemente anhand der maschinenlesbaren Träger und anhand der bekannten Position der Bauelemente innerhalb der Träger zu individualisieren.

Description

Verfahren zum Handhaben von elektronischen Bauelementen
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Handhaben von elektronischen Bauelementen bei der Funktions- und Konstruktionsüberprüfung in mindestens einer Test¬ station der Endmontage.
Die integrierten Schaltungen elektronischer Bauelemente werden in der Endmontage durch verschiedene Prüfungen auf ihre elektrische und mechanische Funktions- tüchtigkeit hin untersucht, nachdem sie zuvor mit den Anschlußbeinen verbunden und mit einem Kunststoff umspritzt worden sind. Im Rahmen der Überprüfungen in der Endmontage sei beispielsweise das Burn-In, das Testen der elektrischen Funktionen der Bauelemente bei verschiedenen Temperaturen, das Markieren und Beschriften der Kunststoffgehäuse und das Überprüfen der Ausrichtung der Anschlußbeine und der Beschriftung des Gehäuses genannt.
Normalerweise werden die Bauelemente im Anschluß an die jeweiligen Tests bzw. Überprüfungen den Ergebnissen entsprechend sofort aussortiert, so daß lediglich noch diejenigen Bauelemente, die den jeweils letzten Test bestanden haben, in weiteren Teststationen untersucht werden. Der Transport von Teststation zu Teststation erfolgt zum Teil durch Träger (sogenannte trays) , die eine Vielzahl von Vertiefungen aufweisen, in denen die Bauelemente angeordnet sind.
Für eine Vielzahl von Anwendungen von insbesondere Speicher-Bauelementen ist es nicht notwendigerweise erforderlich, daß diese Speicher-Bauelemente sämtliche Tests bestehen. Denn je nach Anwendungsfall reicht es beispielsweise aus, wenn ein Speicher-Bauelement nur in Teilen seiner Speicherbereiche ordnungsgemäß funktio¬ niert. Auch ist das Ergebnis der mechanischen Inspektion des Bauelements vieler Anwendungen von untergeordneter Bedeutung.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Handhaben von elektronischen Bauelementen bei der Funktions- und Konstruktionsüberprüfung in mindestens einer Teststation innerhalb der Endmontage zu schaffen, das es erlaubt, die elektronischen Bauelemente in viel¬ facher Hinsicht zu klassieren.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird mit der Erfindung ein Verfahren zum Handhaben von elektronischen Bauelementen vorgeschlagen, bei dem die Bauelemente in Aufnahmen von Trägern plaziert werden, wobei jeder Träger mehrere Aufnahmen zur Aufnahme mehrerer Bauelemente aufweist, jeder Träger eine maschinenlesbare, individuelle Markierung aufweist, die Träger die mindestens eine Teststation zum Testen der elektrischen und/oder mechanischen Eigenschaften der Bauelemente durchlaufen, die Bauelemente eines jeden Trägers während des Durchlaufens von der ersten bis zur letzten Test¬ station ihre Träger-Plazierungen relativ zueinander unverändert beibehalten, - die Markierung jedes Trägers mindestens einmal gelesen wird und die pro Teststation erhaltenen Testergebnisse der Bauelemente eines jeden Trägers trägerbezogen unter Zuordnung ihrer Trägerplazierungspositionen gespeichert werden, wobei nach dem Durchlaufen der letzten Teststation für jedes Bauelement jeden Trägers sämtliche Test- ergebnisse abgespeichert sind, und zwar unter Zuordnung des Trägers, auf dem sich das Bauelement befindet, und der Plazierungsposition des Bau¬ elements auf dem Träger.
Gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren werden die Bau¬ elemente in den Aufnahmen von Trägern angeordnet, wobei jeder Träger mehrere Aufnahmen zum Aufnehmen mehrerer Bauelemente aufweist. Jeder Träger ist mit einer maschinenlesbaren, individuellen Markierung versehen und durchläuft mindestens eine Teststation zum Testen der elektrischen und/oder mechanischen Eigenschaften der Bauelemente. Die relative Anordnung der Bauelemente eines jeden Trägers bleibt von der ersten bis zur letzten Teststation unverändert. Das bedeutet nicht notwendigerweise, daß die Bauelemente eines Trägers nicht auf einen anderen Träger übertragen werden. Wenn dieser Fall aber eintritt, so bleibt ihre Relativ¬ anordnung untereinander unverändert. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird die Markierung jedes Trägers mindestens einmal gelesen. Dies kann beispiels¬ weise bei der ersten Teststation erfolgen, wobei anhand der Reihenfolge der Träger beim Durchlaufen der nach¬ folgenden Stationen stets bekannt ist, welcher Träger gerade die Teststation durchläuft. Dies kann beispiels¬ weise durch Zählen der Träger, deren Markierungen gelesen worden sind und die sukzessive durch sämtliche Teststationen hindurch transportiert werden, geschehen. Alternativ ist es aber auch möglich, vor bzw. in jeder Teststation die Markierung des jeweiligen Trägers erneut zu lesen. Unter Zuordnung ihrer Träger- Plazierungspositionen werden die pro Teststation erhaltenen Testergebnisse der Bauelemente trägerbezogen abgespeichert. Damit liegen nach dem Durchlaufen der letzten TestStation für jedes Bauelement jeden Trägers sämtliche Testergebnisse abgespeichert vor. Die Abspeicherung sämtlicher Testergebnisse erfolgt dabei unter Zuordnung des Trägers, auf dem sich das Bau¬ element befindet, und der Plazierungsposition des Bau¬ elements innerhalb des Trägers.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren erfolgt also das Aussortieren "guter und schlechter" Bauelemente nicht nach jeder Teststation, sondern vielmehr nach der letzten TestStation. Sämtliche Testergebnisse können dabei in den Klassifizierungs-Algorithmus einfließen. Die Abspeicherung der Daten kann entweder zentral oder dezentral erfolgen. In jedem Fall liegen die Daten der Testergebnisse sämtlicher Bauelemente abgespeichert vor. Da anhand der ebenfalls abgespeicherten Markierung der Träger und der abgespeicherten Plazierungsposition der Bauelemente auf den Trägern jedes Bauelement individualisierbar ist, kann beim Aussortieren der Bau¬ elemente entsprechend der Testergebnisse auf jedes Bau¬ element gezielt zugegriffen werden.
In vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung ist vor- gesehen, daß die Bauelemente in der mindestens einen Teststation aus den Aufnahmen der Träger zwecks Prüfung entnommen und nach der Prüfung wieder in dieselben Auf¬ nahmen des Trägers bzw. in gleiche Aufnahmen eines anderen gleichartigen Trägers unter Aufrechterhaltung ihrer relativen Plazierungspositionen abgelegt werden. Die Markierung dieses anderen Trägers wird selbst¬ verständlich ebenfalls gelesen.
In weiterer vorteilhafter Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, daß die Markierungen der Träger als Strichcode oder in Form von Zeichen, Zahlen und/oder Buchstaben ausgebildet sind, die optisch lesbar sind. Schließlich ist auch der Fall denkbar, daß die Markierungen magnetisch lesbar sind (beispielsweise durch einen Transponder) .
Der Transport der Träger von Teststation zu Teststation kann entweder sequentiell durch einen entsprechenden Transportmechanismus (Band-, Gurt-, Kettenförderer oder dergleichen Förderer) oder mit Hilfe von Magazinen erfolgen, in denen mehrere jeweils die gleiche Test¬ station durchlaufende Träger untergebracht werden. Die Magazine sind vorzugsweise automatisch verfahrbar und mit einer insbesondere maschinenlesbaren Markierung versehen, die es der Steuerung des Transportsystems ermöglicht, die einzelnen Magazine wieder aufzufinden bzw. gezielt von Station zu Station zu transportieren.
Der Transport der Bauelemente von Station zu Station kann auch auf anderen Trägern als denjenigen erfolgen, auf denen die Bauelemente während des Durchlaufens der Teststationen ruhen. Mit anderen Worten kann es also vor dem Durchlaufen einer Teststation zu einem Umsetzen der auf einem Träger angeordneten Bauelemente auf einen der Teststation zugeordneten bzw. die Teststationen durchlaufenden Träger kommen. Aber auch hier ist ent¬ scheidend, daß sich durch diesen Umsetzvorgang die Relativposition der Bauelemente untereinander vorzugs¬ weise nicht verändert bzw. in einer vorgegebenen bestimmten Weise verändert, so daß die Testergebnisse trägerbezogen und plazierungsbezogen abgespeichert wer¬ den können. Als eine Alternative für die obige Weiter¬ bildung ist vorgesehen, daß die Bauelemente auch während des Transports von einer Teststation zur nächsten Teststation in den Aufnahmen der Träger ver¬ bleiben, auf denen sie die Teststationen durchlaufen.
Sofern es nach dem erfindungsgemäßen Handhabungs- verfahren vorgesehen ist, daß die Bauelemente von einem Träger auf einen anderen Träger umgesetzt werden, ist es von Vorteil, wenn die Umsetzung sämtlicher Bau¬ elemente eines Trägers gleichzeitig erfolgt.
In vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung ist vor¬ gesehen, daß die Bauelemente ihren Testergebnissen oder einem Teil ihrer Testergebnisse entsprechend klassiert werden, und zwar anhand der abgespeicherten Daten. Die entsprechend einem vorgegebenen Muster ermittelten Klassifikationen werden trägerbezogen und plazierungs¬ bezogen den einzelnen Bauelementen zugeordnet abgespeichert. In einer Sortierstation können die Bau¬ elemente dann entsprechend den Klassifikationen aus den Aufnahmen der Träger entnommen und jeweils zu Gruppen von Bauelementen gleicher Klassifikation aussortiert werden. In der Sortierstation werden die Markierungen der Träger wiederum gelesen. Eine Alternative hierzu besteht darin, daß die zu Beginn der Tests einmal ein¬ gelesenen Trägermarkierungen dadurch den einzelnen die Teststationen und die Sortierstation durchlaufenden Trägern zugeordnet werden, indem die Träger gezählt werden, was vorzugsweise an jeder Teststation und, sofern vorhanden, an der Sortierstation erfolgt.
Vorzugsweise erfolgt die Speicherung sämtlicher Test- ergebnisse sämtlicher Bauelemente in einem zentralen Halbleiterspeicher oder einem anderen zentralen Speichermedium. Als Alternative bietet es sich an, die Testergebnisse dezentral und insbesondere in den Trägern zugeordneten Speichermedien, beispielsweise in auf den Trägern angeordneten Magnetstreifen abzuspeichern.
Durch das erfindungsgemäße Handhabungsverfahren ist es möglich, auf die Testergebnisse sämtlicher Bauelemente nach dem Durchlaufen sämtlicher Test- und Verarbeitungs- bzw. Bearbeitungsschritte innerhalb der Endmontage zuzugreifen. Damit stehen für die Unter¬ teilung der Bauelemente in einzelne Klassifikationen eine wesentlich größere Anzahl an Auswahlkriterien, nämlich sämtliche Testergebnisse, zur Verfügung. Das erfindungsgemäße Handhabungsverfahren ist darüber hin¬ aus insofern zeitoptimiert, als die Untersuchungen in der Endmontage nicht durch einzelne Aussortierungs- Vorgänge, die im Anschluß an die einzelnen Test¬ stationen durchgeführt werden, unterbrochen sind.
Zusammengefaßt ausgedrückt durchlaufen also die elektronischen Bauelemente bei dem erfindungsgemäßen Handhabungsverfahren eine oder mehrere Teststationen, wobei sie auf Trägern angeordnet sind, die mit maschinenlesbaren individuellen Markierungen versehen sind. Die Bauelemente behalten ihre Anordnung auf den Trägern stets bei oder, sofern es zu einer Veränderung der Plazierung der Bauelemente eines Trägers kommt, ist diese bekannt. Auf diese Weise ist es möglich, für jedes Bauelement die Testergebnisse abzuspeichern und die den Testergebnissen jeweils zugeordneten Bau¬ elemente anhand der maschinenlesbaren Träger und anhand der bekannten Position der Bauelemente innerhalb der
Träger zu individualisieren.

Claims

A N S P R U C H E
1. Verfahren zum Handhaben von elektronischen Bau¬ elementen bei der Funktions- und Konstruktions- Überprüfung in mindestens einer Teststation der Endmontage, bei dem - die Bauelemente in Aufnahmen von Trägern plaziert werden, wobei jeder Träger mehrere Aufnahmen zur Aufnahme mehrerer Bauelemente aufweist, jeder Träger eine maschinenlesbare, indivi- duelle Markierung aufweist, die Träger die mindestens eine Teststation zum Testen der elektrischen und/oder mechanischen Eigenschaften der Bauelemente durchlaufen, die Bauelemente eines jeden Trägers während des Durchlaufens von der ersten bis zur letzten
Teststation ihre Träger-Plazierungen relativ zueinander unverändert beibehalten, die Markierung jedes Trägers mindestens einmal gelesen wird und - die pro Teststation erhaltenen Testergebnisse der Bauelemente eines jeden Trägers träger¬ bezogen unter Zuordnung ihrer Träger- plazierungspositionen gespeichert werden, wobei nach dem Durchlaufen der letzten Teststation für jedes Bauelement jeden Trägers sämtliche
Testergebnisse abgespeichert sind, und zwar unter Zuordnung des Trägers, auf dem sich das Bauelement befindet, und der Plazierungs¬ position des Bauelements auf dem Träger.
Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Bauelemente in der mindestens einen Test¬ station jeweils aus den Aufnahmen der Träger zwecks Prüfung entnommen und nach der Prüfung wie¬ der in dieselbe Aufnahme des Trägers oder, unter Aufrechterhaltung ihrer relativen Plazierungs- positionen in Aufnahmen eines anderen gleich- artigen Trägers, dessen Markierung gelesen wird bzw. gelesen worden ist, abgelegt werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn¬ zeichnet, daß die Markierungen der Träger als Strichcode, in Form von Zeichen, Zahlen und/oder
Buchstaben ausgebildet sind oder magnetisch lesbar sind.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3 , dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Träger nach dem Durchlaufen einer Teststation in einem vor¬ zugsweise mit einer insbesondere maschinenlesbaren Markierung versehenen Magazin abgelegt werden und in dem Magazin zur nächsten Teststation transpor- tiert werden.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3 , dadurch gekennzeichnet, daß die Träger sequentiell von einer Teststation zur nächsten Teststation transportiert werden.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß in den Teststationen die nach dem Trimm- und -Form-Vorgang erfolgenden Prüfungen und Bearbeitungsvorgänge, nämlich das
Burn-In, das Testen der elektrischen Funktionen der Bauelemente bei verschiedenen Temperaturen, das Markieren und Beschriften oder das Überprüfen der Anschlußbeine und der Beschriftung durch- geführt werden. 7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Bauelemente während des Transports von einer Teststation zur nächsten Teststation in den Aufnahmen anderer Träger als denjenigen während des Durchlaufens der
Stationen ruhen, wobei vor einer Teststation eine Umsetzung der Bauelemente von den einen Trägern auf die anderen Träger erfolgt .
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Bauelemente auch während des Transports von einer Teststation zur nächsten Teststation in den Aufnahmen der Träger verbleiben.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die zum Zwecke der Prüfung vorgesehene Entnahme der Bauelemente auε den Aufnahmen der Träger für jeden Träger gleich- zeitig erfolgt.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Bauelemente ihren Testergebnissen oder einem Teil ihrer Test- ergebnisse entsprechend klassiert werden und die
Klassifikationen abgespeichert werden, und zwar wiederum unter Zuordnung der Träger, auf denen sich die Bauelemente befinden, und der Plazierungspositionen der Bauelemente auf den Trägern.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekenn¬ zeichnet, daß die Träger einer Sortierstation zugeführt werden, in der die Bauelemente ent- sprechend der abgespeicherten Klassifikation aus den Aufnahmen der Träger entnommen und jeweils zu Gruppen von Bauelementen gleicher Klassifikation aussortiert werden.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekenn¬ zeichnet, daß die Markierungen jedes Trägers in der Sortierstation gelesen werden.
13. Verfahren nach Anspruch 1 bis 12, dadurch gekenn- zeichnet, daß die Testergebnisse der Bauelemente eines jeden Trägers unter Zuordnung ihrer Position auf dem Träger in ein Speichermedium, das in dem betreffenden Träger angeordnet ist, gespeichert werden.
14. Verfahren nach Anspruch 1 bis 12, dadurch gekenn¬ zeichnet, daß die Testergebnisse sämtlicher Bau¬ elemente sämtlicher Träger in einem gemeinsamen Speichermedium gespeichert werden.
PCT/EP1997/000532 1996-02-09 1997-02-06 Verfahren zum handhaben von elektronischen bauelementen WO1997029383A1 (de)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL1008697C2 (nl) * 1998-03-25 1999-09-28 Fico Bv Testinrichting, testsamenstel, werkwijze voor testen en werkwijze voor kalibreren van een testinrichting.
EP1271163A1 (de) * 2001-06-20 2003-01-02 STMicroelectronics Limited Verfahren und Vorrichtungen zum Testen elektronischer Einrichtungen
CN110389293A (zh) * 2018-04-17 2019-10-29 先进科技新加坡有限公司 用于电子器件测试台认证的装置和方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0087286A2 (de) * 1982-02-19 1983-08-31 Precision Monolithics Inc. Vorrichtung und Methode zum Folgen integrierter Schaltungen
JPS6028222A (ja) * 1983-07-27 1985-02-13 Toshiba Corp Ｉｃハンドラにおける分類別収納法
EP0295805A2 (de) * 1987-06-01 1988-12-21 Reliability Incorporated Automatisiertes System zur Voralterung

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0087286A2 (de) * 1982-02-19 1983-08-31 Precision Monolithics Inc. Vorrichtung und Methode zum Folgen integrierter Schaltungen
JPS6028222A (ja) * 1983-07-27 1985-02-13 Toshiba Corp Ｉｃハンドラにおける分類別収納法
EP0295805A2 (de) * 1987-06-01 1988-12-21 Reliability Incorporated Automatisiertes System zur Voralterung

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 009, no. 147 (E - 323) 21 June 1985 (1985-06-21) *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL1008697C2 (nl) * 1998-03-25 1999-09-28 Fico Bv Testinrichting, testsamenstel, werkwijze voor testen en werkwijze voor kalibreren van een testinrichting.
WO1999049328A1 (en) * 1998-03-25 1999-09-30 Fico B.V. Device, assembly and method for testing electronic components, and calibrating method therefor
US6507185B1 (en) 1998-03-25 2003-01-14 Fico B.V. Device, assembly and method for testing electronic components, and calibrating method therefor
EP1271163A1 (de) * 2001-06-20 2003-01-02 STMicroelectronics Limited Verfahren und Vorrichtungen zum Testen elektronischer Einrichtungen
CN110389293A (zh) * 2018-04-17 2019-10-29 先进科技新加坡有限公司 用于电子器件测试台认证的装置和方法
CN110389293B (zh) * 2018-04-17 2022-11-11 先进科技新加坡有限公司 用于电子器件测试台认证的装置和方法

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