TW201902062A - 被動q開關脈衝雷射裝置、加工裝置及醫療裝置 - Google Patents

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Abstract

於使用非晶質材料作為雷射介質之母材之情形時，能夠抑制脈衝雷射中之脈衝寬度之增加與峰值強度之降低，使光共振器與雷射裝置小型化，並且產生偏光方向穩定之脈衝雷射。 本發明提供一種被動Q開關脈衝雷射裝置，其具備：雷射介質，其配置於構成光共振器之一對反射器件間，由特定之激發光激發而發射出發射光；及可飽和吸收體，其於上述一對反射器件間，配置於上述光共振器之光軸上且上述雷射介質之下游側，透過率伴隨上述發射光之吸收而增加；上述一對反射器件之至少一者為偏光元件，且上述偏光元件對於相互正交之偏光方向之上述發射光具有各不相同之反射率。

Description

被動Q開關脈衝雷射裝置、加工裝置及醫療裝置
本發明係關於一種被動Q開關脈衝雷射裝置、加工裝置及醫療裝置。
近年來，開發出各種各樣之雷射裝置。例如，開發出了能夠以規定之間隔進行具有相當等級以上之能量之脈衝雷射之照射的雷射裝置、即Q開關脈衝雷射裝置。例如，利用如可飽和吸收體之被動元件改變Q值之被動Q開關脈衝雷射裝置得到大力開發。
然，為了進行利用非線性光學結晶之波長轉換、或利用直線偏光之形狀計測等，較佳為自雷射裝置射出之雷射光之偏光方向受到控制而穩定。作為控制雷射光之偏光方向之方法，例如於下述之非專利文獻1～非專利文獻3，揭示有將偏光元件配置於光共振器中之雷射介質與可飽和吸收體之間的技術。
但是，若於光共振器內配置偏光元件，則光共振器長度變長，因此會導致脈衝寬度擴大(換言之，脈衝之時間寬度變長)，或者雷射之峰值強度降低，從而光共振器本身或雷射裝置之小型化變得困難。
作為應對該問題之方法，例如於下述之專利文獻1中揭示有如下技術，該技術係藉由將作為具有3方向之晶軸之結晶體之可飽和吸收體以對於相互正交之偏光方向之雷射發射光具有各不相同之透過率之方式配置於光共振器內，而相對於沿著透過率較高之晶軸之偏光方向產生雷射振盪。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2006-73962號公報 [非專利文獻]
[非專利文獻1]A.V.Kir' yanov and V. Ablites, “Enhancing type-2 optical second-harmonic generation by the use of a laser beam with a rotating azimuth of polarization” Applied Physics Letters, 12 Feburary 2001, Vol.78, N0.7, pp874-876. [非專利文獻2]Alexander V,Kir' yanov and Vicente Aboites, “Second-harmonics generation by Nd3+ : YAG/Cr4+ : YAG-laser pulses with chaning state of polarization”, J.0pt.Soc.Am.B, October 2000, Vol.17, N0.10, pp1657-1664. [非專利文獻3]A.V.Kir' yanov, J.J.Soto-Bernal, and V.J.Pinto-Robledo, “SHG by a Nd3+ : YAG/Cr4+ : YAG laser pulse with changing-in-time polaraization”, Advanced Solid-State Lasers, 2002, Vol.68, pp88-92.
[發明所欲解決之問題]
但是，於使用非晶質材料作為雷射介質之母材之情形時，產生之雷射光具有光學等向性，不會產生透過率之晶軸依存性，因此，雷射裝置無法藉由晶軸而控制振盪偏光方向。
因此，本發明係鑒於上述情況而完成者，本發明之目的在於提供一種新穎且經改良之被動Q開關脈衝雷射裝置、加工裝置及醫療裝置，其等於使用非晶質材料作為雷射介質之母材之情形時，能夠抑制脈衝雷射中之脈衝寬度之增加與峰值強度之降低，使光共振器與雷射裝置小型化，並且產生偏光方向穩定之脈衝雷射。 [解決問題之技術手段]
根據本發明而提供一種被動Q開關脈衝雷射裝置，其具備：雷射介質，其配置於構成光共振器之一對反射器件間，由特定之激發光激發而發射出發射光；及可飽和吸收體，其於上述一對反射器件間，配置於上述光共振器之光軸上且上述雷射介質之下游側，透過率伴隨上述發射光之吸收而增加；上述一對反射器件之至少一者為偏光元件，且上述偏光元件對於相互正交之偏光方向之上述發射光具有各不相同之反射率。
又，根據本發明而提供一種加工裝置，其具備：被動Q開關脈衝雷射裝置，其具有：雷射介質，其配置於構成光共振器之一對反射器件間，由特定之激發光激發而發射出發射光；及可飽和吸收體，其於上述一對反射器件間，配置於上述光共振器之光軸上且上述雷射介質之下游側，且透過率伴隨上述發射光之吸收而增加；上述一對反射器件之至少一者為偏光元件，且上述偏光元件對於相互正交之偏光方向之上述發射光具有各不相同之反射率；及激發光源部，其出射上述激發光；藉由自上述被動Q開關脈衝雷射裝置發射之發射光對被加工物進行加工。
又，根據本發明而提供一種醫療裝置，其具備：被動Q開關脈衝雷射裝置，其具有：雷射介質，其配置於構成光共振器之一對反射器件間，由特定之激發光激發而發射出發射光；及可飽和吸收體，其於上述一對反射器件間，配置於上述光共振器之光軸上且上述雷射介質之下游側，且透過率伴隨上述發射光之吸收而增加；上述一對反射器件之至少一者為偏光元件，且上述偏光元件對於相互正交之偏光方向之上述發射光具有各不相同之反射率；及激發光源部，其出射上述激發光；將自上述被動Q開關脈衝雷射裝置發射之發射光照射至活體部位。 [發明之效果]
如以上說明，根據本發明，於使用非晶質材料作為雷射介質之母材之情形時，能夠抑制脈衝雷射中之脈衝寬度之增加與峰值強度之降低，使光共振器與雷射裝置小型化，並且產生偏光方向穩定之脈衝雷射。
再者，上述效果未必為限定性者，亦可與上述效果一同地或者代替上述效果，發揮本說明書所示之任一種效果、或可自本說明書掌握之其他效果。
以下，一面參照隨附圖式，一面對本發明之較佳之實施形態進行詳細說明。再者，於本說明書及圖式中，對於具有實質上相同之功能構成之構成要素標附相同符號，藉此省略重複說明。
再者，說明係按照以下之順序進行。 1.背景 2.本實施形態之概要 3.本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置之構成 4.用作偏光元件之構件 5.變化例 6.總結
＜1.背景＞ 近年來，開發出各種各樣之雷射裝置。例如，開發出能夠以規定之間隔進行具有相當等級以上之能量之脈衝雷射之照射的雷射裝置、即Q開關脈衝雷射裝置。Q開關脈衝雷射裝置係將光共振器之Q值設為較低之狀態(損耗較大之狀態)而進行泵浦，使之成為反轉分佈狀態。繼而，於反轉分佈狀態達到規定之等級之時點，若Q值急遽升高，則瞬時引起雷射振盪，射出具有相當等級以上之峰值之短脈衝之雷射。
Q開關脈衝雷射裝置中，存在利用如光電調變元件之主動元件改變Q值之主動Q開關脈衝雷射裝置、及利用如可飽和吸收體之被動元件改變Q值之被動Q開關脈衝雷射裝置。
主動Q開關脈衝雷射裝置由於主動元件較大，故而無法縮短光共振器間隔，無法縮短脈衝之時間寬度。又，主動Q開關脈衝雷射裝置亦有需要高電壓以驅動主動元件之問題。
另一方面，被動Q開關脈衝雷射裝置由於能解決上述主動Q開關脈衝雷射裝置之問題，故而近年來得到大力開發。
作為被動Q開關脈衝雷射裝置之構成，考慮於構成光共振器之一對反射器件間配置雷射介質及可飽和吸收體之構成。該構成中，當來自雷射介質之發射光入射至可飽和吸收體時，發射光由可飽和吸收體吸收。伴隨該發射光之吸收，可飽和吸收體之激發能級之電子密度逐漸增加，若於某時點達到激發能階，激發能階之電子密度飽和，則可飽和吸收體透明化。此時，光共振器之Q值急遽升高而產生雷射振盪，從而產生雷射光。
然，為了進行利用非線性光學結晶之波長轉換、或利用直線偏光之形狀計測等，較佳為自雷射裝置射出之雷射光之偏光方向受到控制而穩定。作為控制雷射光之偏光方向之方法，例如於上述之非專利文獻1～非專利文獻3，揭示有將偏光元件配置於雷射介質與可飽和吸收體之間的技術。
但是，若於光共振器內配置偏光元件，則光共振器長度變長，因此導致脈衝寬度擴大(換言之，脈衝之時間寬度變長)，或者雷射之峰值強度降低，從而光共振器本身或雷射裝置之小型化變得困難。
作為應對該問題之方法，例如於上述之專利文獻1中揭示有一種技術，該技術係藉由將作為具有3方向之晶軸之結晶體之可飽和吸收體以對於相互正交之偏光方向之雷射發射光具有各不相同之透過率之方式配置於光共振器內，而相對於沿著透過率較高之晶軸之偏光方向產生雷射振盪。
但是，於使用非晶質材料作為雷射介質之母材之情形時，產生之雷射光具有光學等向性，不產生透過率之晶軸依存性，因此，雷射裝置例如無法藉由晶軸而控制振盪偏光方向。
又，以非晶質材料為母材之雷射介質近年來不斷開發，藉由該雷射介質所產生之雷射光之光學特性得到提昇。又，以非晶質材料為母材之雷射介質具有易於在維持著均一之組成之狀態下大面積化之優點。
因此，本案之發明者係鑒於上述情況而完成了本技術之開發。以下，按照「2.本實施形態之概要」「3.本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置之構成」「4.用作偏光元件之構件」「5.變化例」之順序，對本發明之一實施形態進行詳細說明。
＜2.本發明之概要＞ 上文中對本發明之背景進行了說明。繼而，對本發明之概要進行說明。
本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置具備：雷射介質，其配置於構成光共振器之一對反射器件間，並且被激發而發射光；及可飽和吸收體，其於一對反射器件間，配置於光共振器之光軸上且雷射介質之下游側，吸收自雷射介質發射之發射光，且透過率伴隨該吸收而增加；一對反射器件中之至少一者為偏光元件，且該偏光元件對於相互正交之偏光方向之發射光具有各不相同之反射率。
包含具有偏光選擇功能之偏光元件之反射器件對於正交之偏光方向之發射光之反射率各不相同，因此，對於反射率更高之偏光方向之發射光，產生雷射振盪。即，藉由偏光元件控制發射光之偏光方向之結果為產生偏光方向穩定之雷射光。
於本實施形態中，一對反射器件中之至少一者為偏光元件，因此，本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置與如上述之非專利文獻1～非專利文獻3所記載之技術般將板型之偏光元件傾斜插入至反射器件間之情形相比，能夠縮短光共振器之長度。其結果，本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置不僅能夠產生偏光方向穩定之脈衝雷射，而且能夠抑制因光共振器之長度變長所致之脈衝寬度之增加及峰值強度之降低，從而能夠使光共振器與雷射裝置小型化。
再者，以下，將雷射介質及可飽和吸收體以非晶質材料為母材之情形作為一例進行說明，但並不限定於此，雷射介質或可飽和吸收體亦可適當地將晶質材料作為母材。再者，於雷射介質以單晶材料為母材之情形時，必須考慮晶軸之透過率與偏光元件之反射率之兩者，於損耗更少之偏光方向上產生雷射振盪。
＜3.本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置之構成＞ 上文中對本實施形態之概要進行了說明。繼而，參照圖1，對本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置之構成進行說明。圖1係表示本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置之構成之一例的圖。
如圖1所示，本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置10具備：雷射介質11，其配置於構成光共振器之一對反射器件12(於圖1中，顯示為反射器件12A及反射器件12B)間，並且受到激發而發射出發射光21；激發光源部13，其輸出用以激發雷射介質11之激發光22；及可飽和吸收體14，其於一對反射器件12間，配置於光共振器之光軸上且雷射介質11之下游側，並且吸收自雷射介質11發射之發射光21，且透過率伴隨該吸收而增加。而且，如上所述，本實施形態之一對反射器件12中之一者為具有偏光選擇功能之偏光元件。
此處，激發光源部13發射出激發雷射介質11之激發光22。更具體而言，激發光源部13配置於一對反射器件12之外側，發射出激發作為雷射介質11之例如Nd3 ＋ ：YAG(Yttrium Aluminum Garnet，釔鋁石榴石)陶瓷之808[nm]附近之波長之激發光22。又，本說明書中，作為一例，假設記載如下情形，即，激發光源部13具備發射出激發光22之半導體雷射元件、及將該激發光22經由反射器件12A入射至雷射介質11之光學系統(透鏡等)。
再者，只要激發光源部13能夠發射出可激發雷射介質11之激發光22，則亦可藉由半導體雷射元件以外之構件來產生激發光22。又，用於激發光源部13之材料可為晶質材料，亦可為非晶質材料。又，只要激發光源部13能夠使激發光22入射至雷射介質11，則激發光源部13亦可不具備透鏡等光學系統。
又，如上所述，於本實施形態中，一對反射器件12中之至少一者為具有偏光選擇功能之偏光元件。例如，一對反射器件12之中，激發光源部13側所具備之反射器件12A可為偏光元件，以與反射器件12A對向之方式配置之反射器件12B亦可為偏光元件，反射器件12A及反射器件12B亦可為偏光元件。再者，本說明書中，以反射器件12B為偏光元件之情形作為一例進行說明。
一對反射器件12之中，激發光源部13側所具備之反射器件12A係例如透過自激發光源部13發射之具有約808[nm]之波長之激發光22，且將自雷射介質11發射之約1064[nm]之發射光21以規定之反射率反射的反射鏡。反射器件12A中使用反射鏡僅為一例，可適當變更。例如，反射器件12A中亦可使用包含介電多層膜之元件。於使用介電多層膜之情形時，一般而言，層之厚度為雷射振盪波長之四分之一，且總數為數層至數百層，材料中可使用SiO2 或SiN等。再者，上述為一例，作為實施例並不限於此。
又，如上所述，以與反射器件12A對向之方式設置之反射器件12B係發射光21之透過率與反射率因偏光方向而不同之偏光元件。再者，用作本實施形態之偏光元件之構件並無特別限定。又，雖主要假設藉由本實施形態之偏光元件而實現直線偏光之情形進行說明，但並不限定於此，亦可藉由本實施形態之偏光元件，而實現圓偏光、橢圓偏光、徑向偏光等各種偏光狀態。用作本實施形態之偏光元件之構件之詳情下文敍述。
雷射介質11中使用例如Nd3 ＋ ：YAG陶瓷，雷射介質11由808[nm]附近之波長之激發光22激發。繼而，雷射介質11於能級自上向下躍遷時發射波長約1064[nm]之光。再者，以下之說明中，將由雷射介質11發射之光稱為發射光21。
可飽和吸收體14例如為包含Cr4 ＋ ：YAG陶瓷且具有光吸收率因光吸收之飽和而變小之性質的構件，且於被動Q開關脈衝雷射裝置10中作為被動Q開關發揮功能。即，可飽和吸收體14係當來自雷射介質11之發射光21入射時不斷吸收該發射光21，且伴隨該吸收，可飽和吸收體14之透過率不斷增加。而且，於激發能階之電子密度增大，達到激發能階之情形時，可飽和吸收體14透明化，藉此，光共振器之Q值升高，產生雷射振盪。
作為一例，本實施形態之可飽和吸收體14配置於雷射介質11與反射器件12B之間。再者，可飽和吸收體14及反射器件12B各自相對於光軸垂直之方向之端面彼此可接合。更具體而言，可飽和吸收體14及反射器件12B各自之端面藉由具有透過性之接合層而接合。藉由接合層具有透過性，發射光21可透過接合層，從而適當地產生雷射振盪。
此處，接合層之材料為任意。例如，接合層之材料可為光硬化性樹脂或熱固性樹脂，亦可為YAG、藍寶石或鑽石等對振盪波長具有透過性之材料。又，雖接合層之透過率為任意，但較佳為接合層之透過率對於振盪波長為10[%]以上，以便能更有效率地進行雷射振盪。
＜4.用作偏光元件之構件＞ 上文中對本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置10之構成進行了說明。繼而，於本實施形態中，對一對反射器件12中之至少一者中使用之偏光元件之構件進行說明。
如上所述，用作本實施形態之偏光元件之構件並無特別限定。例如，作為本實施形態之偏光元件，可使用利用光子晶體之光子晶體偏光元件、利用線柵之線柵偏光元件、或利用樹脂材料之配向之偏光元件。
再者，於本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置10射出之雷射光之輸出較高之情形時，光共振器內部之電場振幅較大，即，施加於偏光元件之負載變高，因此，更佳為使用能耐受需求輸出之偏光元件。就此方面而言，光子晶體根據材料或結構等而能夠對伴隨雷射振盪所產生之負載表現更高之耐受性。又，線柵具有吸收發射光21之特性，相對於此，光子晶體不具有此種特性，因此，光子晶體偏光元件與線柵偏光元件相比，易於實現更高之振盪效率。藉由以上情況，以使用利用光子晶體之光子晶體偏光元件作為本實施形態之偏光元件之情形為一例進行說明。
再者，較佳為，對於相互正交之偏光方向之發射光21，光子晶體偏光元件所具有之反射率之差為1[%]以上，以便能更有效率地進行對於所期望之偏光方向之發射光21之雷射振盪。但是，並不限定於此，對於相互正交之偏光方向之發射光21，光子晶體偏光元件所具有之反射率之差亦可適當變更。
又，為了更有效率之雷射振盪及耐受性之提高，構成光子晶體偏光元件之光子晶體之每一層之厚度較佳為與發射光21之波長大致相同。但是，並不限定於此，光子晶體之每一層之厚度亦可適當變更。例如，光子晶體之每一層之厚度亦可較發射光21之波長薄(或厚)規定值。
又，為了更有效率之雷射振盪及耐受性之提高，光子晶體之積層數較佳為數週期至數百週期程度。但是，並不限定於此，光子晶體之積層數亦可適當變更。
又，作為光子晶體之材料，可使用例如SiO2 、SiN、Si、Ta2 O5 等。但是，並不限定於此，光子晶體之材料亦可適當變更。
再者，此種光子晶體可藉由利用蒸鍍或濺鍍而於預先具有週期結構之基板上交替積層SiO2 、Si、Nb2 O5 、Ta2 O5 、Al2 O3 等而形成。
＜5.變化例＞ 上文中對用作偏光元件之構件進行了說明。繼而，對本發明之變化例進行說明。
於上述之實施形態中，對於將Nd3 ＋ ：YAG陶瓷用作雷射介質11且將Cr4 ＋ ：YAG陶瓷用作可飽和吸收體14之情形進行了說明。但是，此情形僅為一例，雷射介質11與可飽和吸收體14之組合可適當變更。
因此，作為本發明之變化例，參照圖2，對於可適用於被動Q開關脈衝雷射裝置10之雷射介質11及可飽和吸收體14之組合進行說明。圖2係表示可適用於被動Q開關脈衝雷射裝置10之雷射介質11及可飽和吸收體14之組合的表。
如圖2所示，雷射介質11中除使用Nd3 ＋ ：YAG陶瓷以外，亦可使用例如Nd：YAG(發射1064[nm]附近之波長之發射光21)、Nd：YVO4 (發射1064[nm]附近之波長之發射光21)、Yb：YAG(發射1030[nm]附近或1050[nm]附近之波長之發射光21)。
再者，於將Nd：YAG、Nd：YVO4 或Yb：YAG用作雷射介質11之情形時，作為可飽和吸收體14，可使用Cr：YAG或SESAM(Semiconductor Saturable Absorber Mirror，半導體可飽和吸收鏡)等。
又，雷射介質11中亦可使用Er玻璃(發射1540[nm]附近之波長之發射光21)。再者，於將Er玻璃用作雷射介質11之情形時，作為可飽和吸收體14，可使用Co：MALO、Co2 ＋ ：LaMgAl、U2 ＋ ：CaF2 或Er3 ＋ ：CaF2 等。
＜6.總結＞ 本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置10具備：雷射介質11，其配置於構成光共振器之一對反射器件12間，並且受到激發而發射出發射光21；及可飽和吸收體14，其於一對反射器件12間，配置於光共振器之光軸上且雷射介質11之下游側，吸收自雷射介質11發射之發射光21，且透過率伴隨該吸收而增加；一對反射器件12中之一者為偏光元件。藉此，與偏光元件插入至反射器件12間之情形相比，光共振器之長度更短，因此，本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置10不僅能夠產生偏光方向穩定之脈衝雷射，而且能夠抑制因光共振器之長度變長所致之脈衝寬度之增加及峰值強度之降低，從而能夠使光共振器與雷射裝置小型化。
再者，本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置10可適用於各種裝置、系統等。例如，本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置10可適用於：金屬、半導體、介電體、樹脂或活體等之加工處理中使用之裝置、LIDAR(Light Detection and Ranging、Laser Imaging Detection and Ranging，光達)中使用之裝置、LIBS(Laser Induced Breakdown Spectroscopy，雷射誘導擊穿光譜)中使用之裝置、眼球折射率矯正手術(例如，LASIK(laser-assisted in situ keratomileusis，雷射屈光角膜層狀重塑術)等)中使用之裝置、或者深度感測或霧劑等大氣觀測用LIDAR中使用之裝置等。再者，適用本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置10之裝置並不限定於上述情形。
於本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置10適用於加工裝置或醫療裝置之情形時，例如圖3所示，可構成為使用本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置10作為雷射光源，藉由控制驅動器控制快門、反射鏡、聚焦力調整機構，藉由聚光透鏡對自動台上之靶進行照射。
以上，一面參照隨附圖式，一面對本發明之較佳之實施形態進行了詳細說明，但本發明之技術範圍並不限定於該例。顯然，只要具有本發明之技術領域內之普通知識者，便能在申請專利範圍所記載之技術思想之範疇內設想各種變更例或修正例，且應當瞭解該等變更例或修正例當然亦屬於本發明之技術範圍。
又，本說明書所記載之效果僅為說明性或例示性者而並非限定性者。亦即，本發明之技術可與上述效果一同地或者代替上述效果，根據本說明書之記載對於業者發揮明確之其他效果。
再者，如下所述之構成亦屬於本發明之技術範圍。 (1) 一種被動Q開關脈衝雷射裝置，其具備： 雷射介質，其配置於構成光共振器之一對反射器件間，由特定之激發光激發而發射出發射光；及 可飽和吸收體，其於上述一對反射器件間，配置於上述光共振器之光軸上且上述雷射介質之下游側，且透過率伴隨上述發射光之吸收而增加； 上述一對反射器件之至少一者為偏光元件，且上述偏光元件對於相互正交之偏光方向之上述發射光具有各不相同之反射率。 (2) 如上述(1)之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 上述可飽和吸收體為非晶質材料。 (3) 如上述(1)或(2)之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 配置於上述可飽和吸收體之下游側之反射器件為上述偏光元件，且上述偏光元件與上述可飽和吸收體接合。 (4) 如上述(3)之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 於上述偏光元件與上述可飽和吸收體之間具有接合層。 (5) 如上述(4)之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 上述接合層係透過上述發射光。 (6) 如上述(1)至(5)中任一項之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 上述偏光元件係以無機材料之週期結構構成之光子晶體。 (7) 如上述(1)至(5)中任一項之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 上述偏光元件係線柵偏光元件。 (8) 如上述(1)至(5)中任一項之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 上述偏光元件係利用樹脂材料之配向之偏光元件。 (9) 一種加工裝置，其具備： 被動Q開關脈衝雷射裝置，其具有： 雷射介質，其配置於構成光共振器之一對反射器件間，由特定之激發光激發而發射出發射光；及 可飽和吸收體，其於上述一對反射器件間，配置於上述光共振器之光軸上且上述雷射介質之下游側，且透過率伴隨上述發射光之吸收而增加； 上述一對反射器件之至少一者為偏光元件，且上述偏光元件對於相互正交之偏光方向之上述發射光具有各不相同之反射率；以及 激發光源部，其出射上述激發光； 藉由自上述被動Q開關脈衝雷射裝置發射之發射光對被加工物進行加工。 (10) 一種醫療裝置，其具備： 被動Q開關脈衝雷射裝置，其具有： 雷射介質，其配置於構成光共振器之一對反射器件間，由特定之激發光激發而發射出發射光；及 可飽和吸收體，其於上述一對反射器件間，配置於上述光共振器之光軸上且上述雷射介質之下游側，且透過率伴隨上述發射光之吸收而增加； 上述一對反射器件之至少一者為偏光元件，且上述偏光元件對於相互正交之偏光方向之上述發射光具有各不相同之反射率；以及 激發光源部，其出射上述激發光； 將自上述被動Q開關脈衝雷射裝置發射之發射光照射至活體部位。
10‧‧‧被動Q開關脈衝雷射裝置
11‧‧‧雷射介質
12‧‧‧反射器件
12A‧‧‧反射器件
12B‧‧‧反射器件
13‧‧‧激發光源部
14‧‧‧可飽和吸收體
21‧‧‧發射光
22‧‧‧激發光
圖1係表示本實施形態之被動Q開關脈衝雷射裝置之構成之一例的圖。 圖2係表示可適用於被動Q開關脈衝雷射裝置之雷射介質及可飽和吸收體之組合的表。 圖3係表示被動Q開關脈衝雷射裝置適用於加工裝置或醫療裝置之情形時之構成的圖。

Claims (10)

  1. 一種被動Q開關脈衝雷射裝置，其具備： 雷射介質，其配置於構成光共振器之一對反射器件間，由特定之激發光激發而發射出發射光；及 可飽和吸收體，其於上述一對反射器件間，配置於上述光共振器之光軸上且上述雷射介質之下游側，且透過率伴隨上述發射光之吸收而增加； 上述一對反射器件之至少一者為偏光元件，且上述偏光元件對於相互正交之偏光方向之上述發射光具有各不相同之反射率。
  2. 如請求項1之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 上述可飽和吸收體為非晶質材料。
  3. 如請求項1之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 配置於上述可飽和吸收體之下游側之反射器件為上述偏光元件，且上述偏光元件與上述可飽和吸收體接合。
  4. 如請求項3之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 於上述偏光元件與上述可飽和吸收體之間具有接合層。
  5. 如請求項4之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 上述接合層係透過上述發射光。
  6. 如請求項1之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 上述偏光元件係以無機材料之週期結構構成之光子晶體。
  7. 如請求項1之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 上述偏光元件係線柵偏光元件。
  8. 如請求項1之被動Q開關脈衝雷射裝置，其中 上述偏光元件係利用樹脂材料之配向之偏光元件。
  9. 一種加工裝置，其具備： 被動Q開關脈衝雷射裝置，其具有： 雷射介質，其配置於構成光共振器之一對反射器件間，由特定之激發光激發而發射出發射光；及 可飽和吸收體，其於上述一對反射器件間，配置於上述光共振器之光軸上且上述雷射介質之下游側，且透過率伴隨上述發射光之吸收而增加； 上述一對反射器件之至少一者為偏光元件，且上述偏光元件對於相互正交之偏光方向之上述發射光具有各不相同之反射率；以及 激發光源部，其出射上述激發光； 藉由自上述被動Q開關脈衝雷射裝置發射之發射光對被加工物進行加工。
  10. 一種醫療裝置，其具備： 被動Q開關脈衝雷射裝置，其具有： 雷射介質，其配置於構成光共振器之一對反射器件間，由特定之激發光激發而發射出發射光；及 可飽和吸收體，其於上述一對反射器件間，配置於上述光共振器之光軸上且上述雷射介質之下游側，且透過率伴隨上述發射光之吸收而增加； 上述一對反射器件之至少一者為偏光元件，且上述偏光元件對於相互正交之偏光方向之上述發射光具有各不相同之反射率；以及 激發光源部，其出射上述激發光； 將自上述被動Q開關脈衝雷射裝置發射之發射光照射至活體部位。
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