TW201838709A - 逆滲透膜裝置的運轉管理方法以及逆滲透膜處理系統 - Google Patents

Abstract

一種基於逆滲透膜裝置之給水及/或濃縮水之鋁離子及/或鐵離子濃度，而管理逆滲透膜裝置之運轉之逆滲透膜裝置的運轉管理方法。此方法係基於給水及/或濃縮水之鋁離子及/或鐵離子濃度，管理原水之作為給水適當與否、給水之水溫、濃縮倍率(回收率)、壓力(逆滲透膜之給水供給壓力、濃縮水壓力、處理水壓力)、濃縮水水量、連續運轉期間、洗淨時間、洗淨頻度、及逆滲透膜之更換時期之中之任一者以上。

Description

逆滲透膜裝置的運轉管理方法以及逆滲透膜處理系統

[0001] 本發明係有關一種於逆滲透膜裝置中，即使在低水溫條件下(例如，水溫5～10℃)，仍能長時間安定地持續運轉之逆滲透膜裝置的運轉管理方法以及逆滲透膜處理系統。本發明中，「逆滲透膜」意指包含「逆滲透膜」與「奈米過濾膜」之廣義性的「逆滲透膜」。

[0002] 利用由表面緻密層與多孔質支持層所構成、可使溶媒分子通過但不使溶質分子通過的逆滲透膜，能夠將海水進一步淡水化。用於此一用途後，逆滲透膜之利用領域增廣，業界已開發出一種可以低壓力運轉之低壓逆滲透膜，而且在汙水二次處理水、工廠排水、河川水、湖沼水、垃圾掩埋滲出水等之淨化，變得也可利用逆滲透膜。 　　[0003] 逆滲透膜其溶質之阻止率高，因此利用逆滲透膜處理所得之透過水具有良好之水質，因此可有效利用於各種用途。逆滲透膜裝置若持續運轉，則漸漸地處理水量不斷降低，因此將逆滲透膜裝置之給水水質及運轉方法適當地管理乃有所重要。特別是在低水溫條件下，以二氧化矽為主體之積垢發生的可能性高，因此起因於膜面之二氧化矽積垢的通量之降低，將會成為問題。 　　[0004] 例如，自來水為原水的情況下，給水之二氧化矽濃度約為10～20 mg/L，相對於此，低水溫、特別是水溫5℃之條件下，二氧化矽之溶解度(平衡時)低至20 mg/L，因此利用逆滲透膜之濃縮變得困難。 　　[0005] 逆滲透膜裝置中，儘管以成為二氧化矽之飽和溶解度以下的條件運轉，但仍有膜面發生二氧化矽積垢，以致通量降低之情況。 　　[0006] 針對此等問題，一般而言，係以pH調整給水或使用積垢分散劑來因應。例如，採用的是於給水中添加積垢分散劑，將給水之pH調整成5.5左右的方法(專利文獻1)。又，另外還採用添加積垢分散劑，以將濃縮水之朗傑利亞指數抑制於0.3以下、及將濃縮水之二氧化矽濃度抑制於150 mg/L以下之方式運轉的方法(專利文獻2～4)。 　　[0007] 然而，為了進行pH調整而添加過量之酸時，給水之碳酸氫離子與碳酸離子將會成為溶存之二氧化碳，由於其會透過逆滲透膜，因此處理水質有惡化的可能性。至於使用積垢分散劑之方法，則有藥劑添加不良時生成積垢之危險。此一方法，藥劑成本將會成為經濟的負擔。 　　[0008] 專利文獻5中，曾記載一種因應供給水及濃縮水任一種之水質，而變化逆滲透膜透過模組中之循環比的逆滲透膜分離裝置。專利文獻5中，曾記載計測供給水中之二氧化矽濃度Cs，將根據檢測溫度值所決定之二氧化矽溶解度Ss與Cs比較，藉而決定目標排水流量Qd’，藉由以成為此一流量之方式進行調整而抑制二氧化矽系積垢之析出。專利文獻5中，並未有暗示基於逆滲透膜裝置之給水與濃縮水之鋁離子及/或鐵離子濃度而進行運轉管理之記載。 　　[0009] 專利文獻6中，曾記載一種為使濃縮水之朗傑利亞指數與二氧化矽濃度維持於一定之數值範圍內，而藉由控制pH調整機構及透過水之回收率調整機構而抑制逆滲透膜元件上積垢附著的方法。專利文獻6中，也未有暗示基於逆滲透膜裝置之給水與濃縮水之鋁離子及/或鐵離子濃度而進行運轉管理之記載。 　　[0010] 專利文獻7中，曾記載一種基於根據供給水之二氧化矽濃度及透過水或濃縮水之溫度值所決定之二氧化矽溶解度，來演算濃縮水中之二氧化矽的容許濃縮倍率，自此一容許濃縮倍率之演算值及透過水之目標流量值而演算出第1排水流量值，藉由以實際排水量成為第1排水量值之方式控制排水閥，而可在不使用藥劑下，抑制對於RO膜表面析出積垢或發生汙垢的方法。專利文獻7中，也未有暗示基於逆滲透膜裝置之給水與濃縮水之鋁離子及/或鐵離子濃度而進行運轉管理之記載。 　　[0011] 專利文獻8、9及非專利文獻1，曾記載於逆滲透膜模組中，因被處理水中之鋁離子與鐵離子之存在而促進二氧化矽積垢之析出之意旨。此等敘述無非均是作為二氧化矽之「共存離子」的鋁離子與鐵離子之影響，並未暗示逆滲透膜裝置之濃縮水中之鋁離子與鐵離子，係與二氧化矽完全無關之作為獨立指標的對於逆滲透膜之通量的降低帶來影響此一本發明之技術思想。 [先行技術文獻] [專利文獻] 　　[0012] 　　[專利文獻1] 日本特開平9-206749號公報 　　[專利文獻2] 日本特許第5287908號公報 　　[專利文獻3] 日本特許第5757109號公報 　　[專利文獻4] 日本特許第5757110號公報 　　[專利文獻5] 日本特開2014-188439號公報 　　[專利文獻6] 日本特開2012-183473號公報 　　[專利文獻7] 日本特開2013-154274號公報 　　[專利文獻8] 日本特開平10-128075號公報 　　[專利文獻9] 日本特開2003-326259號公報 　　[0013] 　　[非專利文獻1] S. Salvador Cob et al., “Silica and silicate precipitation as limiting factors in high-recovery reverse osmosis operations”,Journal of Membrane Science, 2012年7月23日, Vol.423-424, pp. 1-10

[發明解決之課題] 　　[0014] 逆滲透膜面若發生積垢，則處理水量會極度地降低，因此為了實現長期之安定運轉，有必要適切地設定給水濃度以及運轉方法。先前並未提供能充分令人滿意之技術。 [用以解決課題之手段] 　　[0015] 本發明之課題係在提供一種逆滲透膜裝置的運轉管理方法以及逆滲透膜處理系統，其可在無須pH調整與積垢分散劑之添加之下，即便是水溫5～10℃如此般之低水溫條件下，仍可抑制逆滲透膜裝置中之二氧化矽積垢之發生，而可長時間持續安定運轉。 　　[0016] 本發明人等，針對逆滲透膜之通量之降低的機構再三研討，結果發現逆滲透膜之通量的降低，不只是二氧化矽積垢，水中之鋁離子與鐵離子本身也有重大影響。本發明人等解明的是，對於逆滲透膜裝置之運轉之長期安定化，除適切地管理給水及/或濃縮水中之二氧化矽濃度以外，作為與二氧化矽獨立之指標，適切地管理某濃度領域中鋁離子及/或鐵離子濃度也事屬重要。 　　本發明係以下述內容為其要旨。 　　[0017] [1] 一種逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其特徵在於：於將原水以逆滲透膜裝置處理時，基於被導入該逆滲透膜裝置的水(以下稱為「給水」)及/或該逆滲透膜裝置之濃縮水的鋁離子及/或鐵離子濃度，而管理該逆滲透膜裝置之運轉。 　　[0018] [2] 如[1]之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中係基於上述給水及/或濃縮水之鋁離子及/或鐵離子濃度，管理原水之作為給水適當與否、給水之水溫、濃縮倍率(回收率)、壓力(逆滲透膜之給水供給壓力、濃縮水壓力、處理水壓力)、濃縮水水量、連續運轉期間、洗淨時間、洗淨頻度、及逆滲透膜之更換時期之中之任一者以上。 　　[0019] [3] 如[1]或[2]之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中係基於上述給水及/或濃縮水之鋁離子與鐵離子之合計濃度，進行上述管理。 　　[0020] [4] 如[1]至[3]中任一項之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中上述鋁離子及/或鐵離子濃度，係以所期望之連續運轉期間、洗淨時間、濃縮倍率及給水水質之中之任意一種以上為指標而設定。 　　[0021] [5] 如[1]至[4]中任一項之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中係以上述濃縮水之鋁離子濃度成為0.2 mg/L以下、鐵離子濃度成為0.2 mg/L以下、或鋁離子與鐵離子之合計濃度成為0.2 mg/L以下的方式，進行上述管理。 　　[0022] [6] 如[1]至[5]中任一項之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中係基於上述給水及/或濃縮水之鋁離子及/或鐵離子濃度與二氧化矽單獨之飽和溶解度，進行上述管理。 　　[0023] [7] 如[6]之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中係以上述濃縮水之二氧化矽濃度成為80 mg/L以下的方式進行上述管理。 　　[0024] [8] 如[1]至[6]中任一項之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中上述給水之水溫有5～10℃之期間、與超過10℃之期間，在水溫為5～10℃之期間，一併進行根據上述逆滲透膜裝置的運轉管理方法的上述管理、及根據二氧化矽濃度及/或朗傑利亞指數的運轉管理。 　　[0025] [9] 一種逆滲透膜處理系統，其特徵在於具備：將原水作逆滲透膜處理之逆滲透膜裝置、以及對於導入該逆滲透膜裝置的水(以下稱為「給水」)及/或該逆滲透膜裝置之濃縮水的鋁離子及/或鐵離子濃度進行測定之測定機構。 　　[0026] [10] 如[9]之逆滲透膜處理系統，其中具有控制機構，其係基於上述測定機構所測定之鋁離子及/或鐵離子濃度，管理上述原水之作為給水適當與否、給水之水溫、濃縮倍率(回收率)、壓力(逆滲透膜之給水供給壓力、濃縮水壓力、處理水壓力)、濃縮水水量、連續運轉期間、洗淨時間、洗淨頻度、及逆滲透膜之更換時期之中之任一者以上。 　　[0027] [11] 如[10]之逆滲透膜處理系統，其中上述控制機構係基於上述測定機構所測定之給水及/或濃縮水之鋁離子與鐵離子之合計濃度，進行上述管理。 　　[0028] [12] 如[10]或[11]之逆滲透膜處理系統，其中上述控制機構係以上述濃縮水之鋁離子濃度成為0.2 mg/L以下、鐵離子濃度成為0.2 mg/L以下、或鋁離子與鐵離子之合計濃度成為0.2 mg/L以下的方式，進行上述管理。 　　[0029] [13] 如[10]至[12]中任一項之逆滲透膜處理系統，其中進而具有測定上述給水及/或濃縮水之二氧化矽濃度的機構，上述控制機構係基於上述鋁離子及/或鐵離子濃度之測定值、與以該二氧化矽單獨之飽和溶解度為基礎的濃度之測定值，進行上述管理。 　　[0030] [14] 如[13]之逆滲透膜處理系統，其中上述控制機構係以上述濃縮水之二氧化矽濃度成為80 mg/L以下的方式進行上述管理。 [發明之效果] 　　[0031] 根據本發明，於逆滲透膜裝置中，可在無須進行pH調整與積垢分散劑之添加下，利用基於水質之運轉管理，以長期間安定之通量持續運轉。根據本發明，即使給水為低溫(例如5～10℃)，仍可抑制積垢之析出而以高通量進行安定之運轉。 　　[0032] 根據本發明，例如，作為換算通量成為初期值之70%的期間，可至少3個月以上在無洗淨下連續運轉。 　　[0033] 如先前方法般之使用積垢分散劑的情況下，會有藥劑添加不良時造成積垢之危險，但本發明可在不使用積垢分散劑下做出因應，因此可解消如此般之問題。

[0035] 以下，針對本發明之實施方式進行詳細說明。 　　[0036] [給水] 　　本發明中，作為以逆滲透膜處理之原水，可列舉的有自來水、或去濁之工業用水、井水等，但不受其等之任何限制。 　　[0037] 針對逆滲透膜之給水之水質，迄今為了進行長期連續運轉，所進行的是將給水以JIS K3802所定義之積垢指數(FI)或ASTM D4189所定義之汙染密度指數(SDI)、或是更簡便之評估方法之由谷口所提案的MF值(Desalina-tion, vol.20, p.353-364, 1977)評估，以此值成為既定值以下之方式因應必要將原水前處理。例如以FI值或SDI值成為3～4或其以下之方式，因應必要將原水前處理，而將給水作某種程度之澄清。於本發明中亦然，因應必要進行除濁處理等之前處理，較佳的是將給水之FI值設為4以下。 　　[0038] [逆滲透膜處理系統之構成] 　　第1圖為顯示本發明之逆滲透膜處理系統之實施方式的模式性流程圖。來自原水槽(圖未示)之原水，係藉由圖未示之給水泵與逆滲透膜裝置用高壓泵2，經由給水配管3被導入至逆滲透膜裝置4。透過逆滲透膜之透過水係自處理水配管6排出，濃縮水係自濃縮水配管5排出。 　　[0039] 給水配管3中設有管理計器1，測定給水之鋁離子及/或鐵離子濃度，基於此一測定結果進行逆滲透膜裝置之運轉管理。 　　[0040] 管理計器1既可設於濃縮水配管5，也可設於濃縮水配管5及給水配管3之二者。給水配管3及/或濃縮水配管5中，也可設置測定二氧化矽濃度及朗傑利亞指數並基於其值進行運轉管理之管理計器。管理計器1可為兼而進行二氧化矽濃度及/或朗傑利亞指數之測定與控制者。 　　[0041] 逆滲透膜裝置之基本運轉條件並無特別制限，然濃縮水量確保為3.6 m³ /hr以上。若為超低壓逆滲透膜，標準壓力為0.735 MPa、膜面積為35～41 m² 、初期純水通量為1.0 m/day(25℃)以上、初期脱鹽率為98%以上。若為逆滲透膜，鋁離子與鐵離子之排除率幾乎不會變化，因此膜之種類並不以此為依據。 　　[0042] [逆滲透膜裝置之運轉管理] 　　本發明中，係測定給水及/或濃縮水之鋁離子及/或鐵離子濃度，並基於此測定值(以下或有稱為「Al/Fe測定值」之情形)，來管理逆滲透膜裝置之運轉。作為運轉管理項目，可舉出的是原水之作為給水之適當與否、給水之水溫、濃縮倍率(回收率)、壓力(逆滲透膜之給水供給壓力、濃縮水壓力、處理水壓力)、濃縮水水量、連續運轉期間、洗淨時間、洗淨頻度及逆滲透膜之更換時期中之任一者以上。具體而言，可舉出的是進行以下之運轉管理的方法。 　　[0043] 1) Al/Fe測定值為特定值以下之情況下，係逕行導入至逆滲透膜裝置。Al/Fe測定值較特定值為高的情況下，判斷原水作為給水不適當，而停止對於逆滲透膜之原水之給水，或是進行降低原水之鋁離子及/或鐵離子濃度而將Al/Fe測定值設為特定值以下的處理，例如，在實施除鐵/除錳處理及離子更換處理後，導入逆滲透膜裝置。於上游側進行以PAC或氯化鐵進行凝集處理的情況下，由於對洗淨週期帶來影響，因此宜將凝集條件適當變更。 　　[0044] 2) Al/Fe測定值為特定值以下之情況下，原狀繼續運轉。Al/Fe測定值較特定值為高的情況下，提高給水之水溫。 　　[0045] 3) Al/Fe測定值較特定值為高之情況下，降低通量與壓力、濃縮倍率(回收率)。Al/Fe測定值較特定值為低之情況下，提高通量與壓力、濃縮倍率(回收率)。 　　[0046] 4) Al/Fe測定值較特定值為高的情況下，設定成縮短連續運轉期間、增加洗淨時間、提高洗淨頻度、縮短逆滲透膜之更換時間(降低更換頻度)。Al/Fe測定值較特定值為低之情況下，設定成增長連續運轉期間、縮短洗淨時間、降低洗淨頻度、增長逆滲透膜之更換時間(提高更換頻度)。 　　[0047] Al/Fe測定值之特定值，係基於逆滲透膜裝置之規格與其他之運轉條件等而適當設定，以能夠進行所期望之安定運轉。例如給水之水溫無論為低溫(5～10℃)之情況或10℃以上之情況，作為濃縮水之Al/Fe測定值，鋁離子濃度係以0.01～0.2 mg/L之範圍、鐵離子濃度係以0.01～0.2 mg/L之範圍的範圍適當決定，鋁離子離子與鐵離子之合計濃度係以0.02～0.2 mg/L之範圍的範圍適當決定。 　　[0048] 本發明中，可根據Al/Fe測定值，設定濃縮水之連續運轉期間、洗淨時間、濃縮水倍率、水溫中之任一者。可以濃縮水之Al/Fe測定值成為特定值以下的方式，將其等管理。 　　[0049] 例如，藉由以濃縮水之鋁離子濃度成為0.2 mg/L以下、較佳為0.15 mg/L以下，鐵離子濃度成為0.2 mg/L以下、較佳為0.15 mg/L以下，鋁離子與鐵離子之合計濃度成為0.2 mg/L以下、較佳為0.15 mg/L以下的方式進行運轉管理，即便給水之水溫為5～10℃之低溫，也仍可在長時間不用維護、無洗淨下持續運轉。 　　[0050] 例如，如後述之表3所示，藉由將濃縮水中之鋁離子濃度設為0.2 mg/L以下、鐵離子濃度設為0.2 mg/L以下、鋁離子與鐵離子之合計濃度設為0.2 mg/L以下進行管理，可在3個月以上無須維護下繼續運轉。於將濃縮水中之鋁離子濃度與鐵離子濃度管理之際，也可在濃縮水配管中設置管理感測器。基於給水配管中設置之管理感測器的測定值，可利用調整濃縮倍率等以成為上述範圍之方式進行管理。 　　[0051] 與Al/Fe測定值一起，給水及/或濃縮水之二氧化矽濃度也可作為管理指標。此一情況下，濃縮水之二氧化矽濃度宜管理成為80 mg/L以下，特別是成為60 mg/L以下。 　　[0052] 基於Al/Fe測定值之運轉管理，在給水之全水溫域均為有效。給水之水溫較10℃為低的情況下，較佳的是一併進行其他之運轉管理，例如，較佳的是一併進行基於濃縮水之二氧化矽濃度及/或朗傑利亞指數的運轉管理。 　　[0053] 作為具體之運轉管理方法，如以下所示，可例舉的是在給水之水溫為5～10℃之情況下，根據給水或濃縮水之二氧化矽濃度及鈣硬度，或是根據濃縮水之鋁離子濃度、鐵離子濃度來決定回收率，而選定在基於各值而算出之回收率中最低回收率的方法。 　　[0054] 首先，決定濃縮水二氧化矽濃度成為80 mg/L以下、較佳成為60 mg/L以下之回收率。例如，給水之二氧化矽濃度為20 mg/L之情況下，考慮二氧化矽單獨之飽和溶解度而將回收率設為70%左右。 　　又，以濃縮水之朗傑利亞指數成為0以下之方式決定回收率。 　　再者，以濃縮水之鋁離子濃度成為0.2 mg/L以下，鐵離子濃度成為0.2 mg/L以下，或其等之合計濃度成為0.2 mg/L以下之方式決定回收率。 　　[0055] 藉由在上述3個回收率中以最低的回收率進行運轉，可在抑制通量之降低下長期進行安定運轉。通量若是成為初始值之70%以下，則即使利用洗淨，無法回復之可能性也會增高。然而，藉由進行基於Al/Fe測定值之運轉管理，可在通量降低至初期值之70%以下為止3個月間之期間，進行無灌注藥液的運轉。 　　[0056] [有關沖洗] 　　本發明中，較佳的是在滲透膜裝置之運轉停止時進行以下所述般之低壓沖洗。 　　[0057] 水溫5℃下之二氧化矽之平衡濃度為20 mg/L。因二氧化矽之聚合速度慢，故濃縮水中二氧化矽濃度可容許至80 mg/L為止。惟若直接停止裝置之運轉，濃縮水側有二氧化矽之析出發生的可能性，因此實施低壓沖洗。 　　[0058] 低壓沖洗，在裝置停止之際，係藉由停止逆滲透膜裝置用高壓泵、僅使給水泵作動，根據以下之壓力及水量流通給水，並確保其間之時間而實施。 　　壓力：0.1～0.3 MPa左右 　　水量：逆滲透膜容槽之保有水量的3倍份以上，例如3～5倍左右 　　[0059] 於運轉停止時實施上述之低壓沖洗，而後，最好是在5小時以上裝置之運轉停止狀態持續的情況下再次實施低壓沖洗。 　　[0060] [其他之處理] 　　本發明之逆滲透膜裝置之後段，可設置電性去離子裝置或離子更換裝置，而將逆滲透膜透過水進一步處理。逆滲透膜裝置之前段，可設置保安過濾器，在原水之殘留氯濃度高的情況下，可於逆滲透膜裝置之前段設置活性碳塔等之殘留氯除去器。 [實施例] 　　[0061] 以下茲舉代替實施例之實驗例而將本發明更具體說明。 　　[0062] [實驗例1] 　　根據以下之條件使逆滲透膜裝置運轉。 　　[0063] ＜試驗條件＞ 　　原水：野木町水 　　處理水量：0.6～0.8 m/day 　　逆滲透膜：日東電工公司製超低壓逆滲透膜「ES-20」 　　回收率：75% 　　給水(逆滲透膜入口)水溫：5～8℃ 　　給水二氧化矽濃度：約16 mg/L 　　[0064] 運轉1係對野木町水未添加藥品下進行。運轉2中，係對野木町水以成為特定濃度之方式作為Mg源、Fe源、Al源而分別添加氯化鎂、氯化鐵、氯化鋁。 　　[0065] 調查運轉1、2中之逆滲透膜裝置的給水與濃縮水之各成分濃度，求得各成分之濃縮倍率與水量之濃縮倍率。又，根據4日間之運轉前後之差壓，調查差壓上升速度。結果乃如表1所示。 　　[0066][0067] 由表1可知以下事項。運轉2中，確認到差壓上升傾向。運轉2中，由Fe之物質失去平衡可推定發生因逆滲透膜面之Fe成分所致之閉塞。Al亦然，與其他之共存離子比較誤差大，可考慮到的是因為對於膜面之附著。 　　[0068] 進行運轉2之運轉後之逆滲透膜的膜面附著物之元素分析，結果示於表2。由表2可知，共存離子之中也特別是Al、Fe多量附著。 　　[0069][0070] [實驗例2] 　　使用水溫5℃、二氧化矽20 mg/L且殘留氯經除去之自來水作為逆滲透膜裝置之給水，作為Al源、Fe源分別添加氯化鋁、氯化鐵，調整成特定之Al濃度、Fe濃度，並使用日東電工公司製超低壓逆滲透膜「ES-20」作3倍濃縮(濃縮水二氧化矽60 mg/L)。 　　[0071] 將給水之Al濃度及Fe濃度作各種變更，將利用計算求得之逆滲透膜處理所獲得的濃縮水之Al濃度、Fe濃度、及Fe與Al之合計濃度，與由通量之降低速度求得的換算通量降低至初期值之70%為止之運轉期間(以下，或稱為「70%運轉繼續可能日數」)的關係標繪線圖化。其結果彙總於表3中。表3中，70%運轉繼續可能日數係以月數表示。 　　[0072][0073] 由表3可知以下事項。70%運轉繼續可能日數，係依存於濃縮水之Al濃度、Fe濃度、及Al與Fe之合計濃度。自實施例之條件1與2、條件3與4、條件6與7可知，較之Fe濃度，以Al濃度對於運轉繼續可能日數會造成影響。 　　[0074] 自實施例之條件1～6與比較例之條件1～3及實施例之條件7明顯可知，藉由將濃縮水中之Al濃度(計算值)設定為0.2 mg/L以下，Fe濃度(計算值)設定為0.2 mg/L以下，Al與Fe之合計濃度(計算值)設定為0.2 mg/L以下，可長期間使逆滲透膜安定地運轉。 　　[0075] 表3中所示的是，自標繪線圖化之一部分的數值計算70%運轉繼續可能日數之結果。利用此等結果可如以下般進行運轉管理。 　　[0076] 例如，自標繪線圖化之結果的斜率求得運轉繼續可能日數與Al/Fe測定值的關係式，於此一關係式中作為運轉繼續可能日數代入特定之日數算出Al/Fe測定值。而後，以濃縮水中之Al/Fe測定值成為該算出之值的方式，控制濃縮倍率(回收率)等。 　　[0077] 或者，藉由於上述關係式中代入Al/Fe測定值，求得70%運轉繼續可能日數，而可設定連續運轉可能時間，據此可預測洗淨週期。又，亦可算出相對給水之Al/Fe測定值，可濃縮至何種程度。 　　[0078] 表3之中，係對於算式通量降低至70%為止之運轉期間進行評估，自初期通量之降低，並未限定於70%。自初期通量之降低、洗淨頻度，係經適當決定以能夠在繼續所期望之運轉條件下之運轉。 　　[0079] [實驗例3] 　　此例進行用以證明以下事實之實驗：濃縮水中之鋁離子及鐵離子，並非作為用以析出二氧化矽之共存離子，而是與二氧化矽獨立地對於逆滲透膜之通量的降低造成影響之因子。 　　[0080] 對於純水，以成為下述表4中所示之Al濃度、Fe濃度的方式添加氯化鐵及氯化鋁而調製模擬給水1。另外，對於純水，添加氯化鐵、氯化鋁及二氧化矽，而調製下述表4中所示之Al濃度、Fe濃度、SiO₂ 濃度之模擬給水2。 　　[0081][0082] 將模擬給水1、2分別利用以下之試驗條件對於逆滲透膜通水，調查通量之經時變化。結果係示於第2圖中。 　　[0083] ＜試驗條件＞ 　　逆滲透膜：日東電工公司製超低壓逆滲透膜「ES-20」 　　回收率：80% 　　給水(逆滲透膜入口)水溫：23℃ 　　初期通量：1.0 m/day 　　[0084] 由第2圖可明確得知，與給水之二氧化矽之有無無關，給水中之Al濃度與Fe濃度若相同，通量之降低傾向為同等級。根據此一結果，可知以下事實。 　　[0085] 假設鋁離子及鐵離子作為二氧化矽之共存離子發揮影響，則不含二氧化矽之模擬給水1與含有二氧化矽之模擬給水2應不會成為相同之通量降低傾向。根據實驗例3之結果明顯地，含二氧化矽之模擬給水2與不含二氧化矽之模擬給水1顯示相同之通量降低傾向。此一事實意味著，鋁離子與鐵離子乃為必須與二氧化矽獨立地控制、管理之指標。 　　[0086] [實驗例4] 　　在給水中進而添加二氧化矽，而變更給水之二氧化矽濃度、Al濃度及Fe濃度，以根據計算所求得之由逆滲透膜處理所獲得的濃縮水之Al濃度、Fe濃度、Fe與Al之合計濃度、及二氧化矽濃度成為表5所示濃度的方式，與實驗例2同樣地調查與水溫5℃或25℃下之70%運轉繼續可能日數的關係。結果示於表5中。 　　[0087][0088] 同樣地將濃縮水之Al與Fe之合計濃度作各種改變，於5℃或25℃下，調查濃縮水Al+Fe濃度之計算值與70%運轉繼續可能日數之關係。結果乃示於第3圖中。 　　[0089] 由表5可知以下事項。與水溫無關，Al、Fe濃度若為同等，則70%運轉繼續可能日數將成為同等。對於70%運轉繼續可能日數，Al濃度與Fe濃度會有影響。 　　[0090] 由第3圖可知以下事項。若濃縮水之Al與Fe之合計濃度愈大，則70%運轉繼續可能日數變得愈短。為了使70%運轉繼續可能日數成為3個月以上，Al+Fe濃度有必要設為0.20 mg/L以下。 　　[0091] 本發明雖以特定之方式詳細說明如上，但此業界當可自明的是，在不脫離本發明之意圖與範圍內尚可作各種各樣之變更。 　　本申請案係以2017年3月7日申請之日本特許出願2017-043002號為基礎，其全部內容可藉由引用而於此援用。

[0092]

1‧‧‧管理計器

2‧‧‧高壓泵

3‧‧‧給水配管

4‧‧‧逆滲透膜裝置

5‧‧‧濃縮水配管

6‧‧‧處理水配管

[0034] 　　第1圖為顯示本發明之逆滲透膜處理系統之實施方式的模式性流程圖。 　　第2圖為實驗例3之結果的標繪線圖。 　　第3圖為實驗例4之結果的標繪線圖。

Claims (14)

1. 一種逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其特徵在於：於將原水以逆滲透膜裝置處理時，基於被導入該逆滲透膜裝置的水(以下稱為「給水」)及/或該逆滲透膜裝置之濃縮水的鋁離子及/或鐵離子濃度，而管理該逆滲透膜裝置之運轉。
2. 如申請專利範圍第1項之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中係基於上述給水及/或濃縮水之鋁離子及/或鐵離子濃度，管理原水之作為給水適當與否、給水之水溫、濃縮倍率(回收率)、壓力(逆滲透膜之給水供給壓力、濃縮水壓力、處理水壓力)、濃縮水水量、連續運轉期間、洗淨時間、洗淨頻度、及逆滲透膜之更換時期之中之任一者以上。
3. 如申請專利範圍第1或2項之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中係基於上述給水及/或濃縮水之鋁離子與鐵離子之合計濃度，進行上述管理。
4. 如申請專利範圍第1至3項中任一項之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中上述鋁離子及/或鐵離子濃度，係以所期望之連續運轉期間、洗淨時間、濃縮倍率及給水水質之中之任意一種以上為指標而設定。
5. 如申請專利範圍第1至4項中任一項之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中係以上述濃縮水之鋁離子濃度成為0.2 mg/L以下、鐵離子濃度成為0.2 mg/L以下、或鋁離子與鐵離子之合計濃度成為0.2 mg/L以下的方式，進行上述管理。
6. 如申請專利範圍第1至5項中任一項之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中係基於上述給水及/或濃縮水之鋁離子及/或鐵離子濃度與二氧化矽單獨之飽和溶解度，進行上述管理。
7. 如申請專利範圍第6項之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中係以上述濃縮水之二氧化矽濃度成為80 mg/L以下的方式進行上述管理。
8. 如申請專利範圍第1至6項中任一項之逆滲透膜裝置的運轉管理方法，其中上述給水之水溫有5～10℃之期間、與超過10℃之期間，在水溫為5～10℃之期間，一併進行根據上述逆滲透膜裝置的運轉管理方法的上述管理、及根據二氧化矽濃度及/或朗傑利亞指數的運轉管理。
9. 一種逆滲透膜處理系統，其特徵在於具備：將原水作逆滲透膜處理之逆滲透膜裝置、以及對於導入該逆滲透膜裝置的水(以下稱為「給水」)及/或該逆滲透膜裝置之濃縮水的鋁離子及/或鐵離子濃度進行測定之測定機構。
10. 如申請專利範圍第9項之逆滲透膜處理系統，其中具有控制機構，其係基於上述測定機構所測定之鋁離子及/或鐵離子濃度，管理上述原水之作為給水適當與否、給水之水溫、濃縮倍率(回收率)、壓力(逆滲透膜之給水供給壓力、濃縮水壓力、處理水壓力)、濃縮水水量、連續運轉期間、洗淨時間、洗淨頻度、及逆滲透膜之更換時期之中之任一者以上。
11. 如申請專利範圍第10項之逆滲透膜處理系統，其中上述控制機構係基於上述測定機構所測定之給水及/或濃縮水之鋁離子與鐵離子之合計濃度，進行上述管理。
12. 如申請專利範圍第10或11項之逆滲透膜處理系統，其中上述控制機構係以上述濃縮水之鋁離子濃度成為0.2 mg/L以下、鐵離子濃度成為0.2 mg/L以下、或鋁離子與鐵離子之合計濃度成為0.2 mg/L以下的方式，進行上述管理。
13. 如申請專利範圍第10至12項中任一項之逆滲透膜處理系統，其中進而具有測定上述給水及/或濃縮水之二氧化矽濃度的機構，上述控制機構係基於上述鋁離子及/或鐵離子濃度之測定值、與以該二氧化矽單獨之飽和溶解度為基礎的濃度之測定值，進行上述管理。
14. 如申請專利範圍第13項之逆滲透膜處理系統，其中上述控制機構係以上述濃縮水之二氧化矽濃度成為80 mg/L以下的方式進行上述管理。