TW201829792A - 高爐操作方法 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種即便燒結原料之成分濃度發生變動亦可將高爐原料之成分濃度控制為目標成分濃度之高爐操作方法。

本發明之高爐操作方法係將包含成品燒結礦、塊鐵礦及副原料之高爐原料裝入至高爐中之方法，且具有：燒結步驟，其將燒結原料進行燒結而製成燒結餅；破碎步驟，其對燒結餅進行破碎而製成燒結礦；冷卻步驟，其將燒結礦進行冷卻；篩分步驟，其將經冷卻之燒結礦篩分為成品燒結礦與返礦；測定步驟，其對經冷卻之燒結礦、成品燒結礦及返礦中之至少一種成分濃度進行測定；及調整步驟，其對高爐原料所含有之成品燒結礦、塊鐵礦及副原料之調配量進行調整；於調整步驟中，使用測定步驟中所測得之成分濃度來調整高爐原料之調配量。

Description

高爐操作方法

本發明係關於一種調整高爐原料之調配量之高爐操作方法，具體而言係關於一種測定作為高爐原料之燒結礦之成分濃度，並使用該成分濃度來調整高爐原料之調配量之高爐操作方法。

目前，於高爐製鐵法中，作為鐵源，主要使用燒結礦或塊鐵礦、團礦(pellet)等含鐵原料作為高爐原料。此處，燒結礦係集塊岩之一種，其係除添加粒徑為10mm以下之鐵礦石以外，將製鐵廠內產生之各種灰塵等雜鐵源、石灰石、生石灰、爐渣等含CaO原料、包含矽石或蛇紋石、白雲石或精煉鎳渣等之作為SiO₂源或MgO源之副原料、及包含焦炭屑或無煙炭等之作為凝結材之固體燃料(炭材)利用轉筒混合機一面添加水分一面進行混合‧造粒，並進行煅燒而成。

近年來，作為燒結礦原料之燒結原料中所含有之鐵成分濃度降低，反而SiO₂或Al₂O₃等脈石成分濃度增加，如於同種礦石內亦存在進口時每艘船中成分濃度不同之情況之程度般，所出產之礦石之成分濃度變得不穩定。

燒結原料中成分濃度之偏差關係到作為成品之燒結礦之成分濃度之偏差。一般而言，裝入至高爐中之原料之成分濃度基於爐渣之品質管理等原因，而時常管理其濃度。若某成分濃度變 高，則為了降低其濃度而必須添加其他成分作為副原料，因此，必須及早檢測燒結礦或塊鐵礦、團礦之成分濃度之變化。塊鐵礦或團礦由於其本身為成品，故而於卸貨等時進行成分濃度之分析，但實際情況係目前關於燒結礦之成分濃度之線上分析並未得到實施，而僅以頻率極低之次數進行成分濃度之分析。

假設於因燒結礦之成分濃度之變動導致高爐原料之成分濃度發生變動而大幅背離目標成分濃度，藉此導致爐渣之黏性變差之情形時，為了維持爐渣之黏度而必須提升熔鐵溫度。爐渣之黏性變差牽涉到高爐爐下部之爐渣排出之變差，藉此阻礙氣體流通而使透氣性變差，因此為了彌補熔鐵溫度與透氣性，而有必須增加焦炭之調配量之可能性。如此，於高爐原料之成分濃度大幅背離目標成分濃度之情形時，高爐操作變得不穩定，而必須採取各種對策。

作為把握燒結礦之品質之進行技術，例如專利文獻1中揭示有如下進行技術：根據燒結原料之填充狀況預測成品燒結礦之被還原性或還原粉化性，調整燒結原料之調配而不調整高爐原料之調配比例，藉此調整高爐原料。

專利文獻2中揭示有如下技術：測定成品燒結礦之FeO，根據與所需目標值之差調整燒結原料之凝結材或造粒水分、排風量。又，專利文獻3中揭示有如下技術：同樣地測定成品燒結礦之FeO，根據與所需目標值之差調整燒結機中吹入之都市煤氣之量。

專利文獻4中揭示有如下技術：根據藉由設置於燒結機上之雷射式成分測定機所獲得之燒結原料表層之成分推測成品燒結礦之成分，並反映於燒結原料之調配上。

[先前技術文獻] [專利文獻]

專利文獻1：日本專利特開平10-324929號公報

專利文獻2：日本專利特開昭57-149433號公報

專利文獻3：日本專利特開2011-038735號公報

專利文獻4：日本專利特開昭60-262926號公報

然而，專利文獻1至專利文獻4中揭示之進行技術係測定燒結礦中之某些成分之濃度，並使用所測得之成分濃度來調整燒結原料，或者係調整燒結礦之製造條件之進行技術。專利文獻1至專利文獻4中，對於使用所測得之燒結礦之成分濃度來調整裝入至高爐中之高爐原料之調配量未有任何揭示。燒結礦之成分濃度有可能根據燒結反應中之熱階而發生變化，故而即便抑制燒結原料之成分濃度之變動，亦未必能夠抑制燒結礦之成分濃度之變動。因此，存在無法將裝入至高爐中之高爐原料之成分濃度控制為目標成分濃度等課題。本發明係鑒於此種先前技術之課題而完成者，其目的在於提供一種即便燒結原料之成分濃度發生變動亦可將高爐原料之成分濃度控制為目標成分濃度之高爐操作方法。

解決此種課題之本發明之特徵如下所述。

(1)一種高爐操作方法，其係將包含成品燒結礦、塊鐵礦及副原料之高爐原料裝入至高爐中之方法；其具備有：燒結步驟，其將燒 結原料進行燒結而製成燒結餅；破碎步驟，其對前述燒結餅進行破碎而製成燒結礦；冷卻步驟，其將前述燒結礦進行冷卻；篩分步驟，其將前述經冷卻之燒結礦篩分為成品燒結礦與返礦；測定步驟，其對前述經冷卻之燒結礦、前述成品燒結礦及前述返礦中之至少一種成分濃度進行測定；及調整步驟，其對前述高爐原料所含有之前述成品燒結礦、前述塊鐵礦及前述副原料之調配量進行調整；於前述調整步驟中，使用前述測定步驟中所測得之成分濃度，調整前述高爐原料之調配量。

(2)如(1)記載之高爐操作方法，其中，前述高爐原料進而含有團礦，且於前述調整步驟中，調整前述高爐原料所含有之前述成品燒結礦、前述團礦、前述塊鐵礦及前述副原料之調配量。

(3)如(1)或(2)記載之高爐操作方法，其中，於前述測定步驟中，對在輸送機上搬送之前述經冷卻之燒結礦、前述成品燒結礦及前述返礦中之至少一種之成分濃度進行連續測定。

(4)如(1)至(3)中任一項記載之高爐操作方法，其中，於前述測定步驟中，對前述成品燒結礦及前述返礦中之至少一種成分濃度進行測定。

(5)如(1)至(3)中任一項記載之高爐操作方法，其中，於前述測定步驟中，對前述成品燒結礦之成分濃度進行測定。

(6)如(1)至(5)中任一項記載之高爐操作方法，其中，於前述測定步驟中，對總CaO、SiO₂、MgO、Al₂O₃、FeO之1種以上之成分濃度進行測定。

藉由實施本發明之高爐操作方法，可將高爐原料之成 分濃度控制為目標成分濃度。藉此，可抑制高爐渣之黏性之變動等，能夠有助於高爐之穩定操作。

10‧‧‧燒結礦製造裝置

12‧‧‧燒結機

14‧‧‧初級破碎機

16‧‧‧冷卻機

18‧‧‧二級破碎機

20‧‧‧篩分裝置

22‧‧‧篩分裝置

24‧‧‧篩分裝置

26‧‧‧篩分裝置

28‧‧‧紅外線分析儀

30‧‧‧成品線

32‧‧‧返礦線

34‧‧‧高爐

圖1係表示能夠實施本實施形態之高爐操作方法之燒結礦製造裝置10之一例的示意圖。

圖2(a)及(b)係表示高爐渣之鹼度之變動的圖表。

圖3係表示焦炭比之變動的圖表。

圖4(a)及(b)係表示高爐原料之鹼度之變動、及焦炭比之變動的圖表。

圖5係表示發明例3、發明例4及比較例3之FeO濃度之測定值的圖表。

圖6係表示發明例3、發明例4及比較例3之焦炭比之削減量的圖表。

於本發明中，設置對燒結礦之成分濃度進行測定之測定步驟，於該測定步驟中測定燒結礦之成分濃度。使用該成分濃度，調整作為高爐原料之成品燒結礦、團礦、塊鐵礦及副原料之調配量。發現藉此能夠以成為目標成分濃度之方式控制高爐原料之成分濃度，其結果為，可使高爐操作穩定化，從而完成了本發明。以下，通過本發明之實施形態，對本發明進行說明。

圖1係表示能夠實施本實施形態之高爐操作方法之燒結礦製造裝置10之一例的示意圖。燒結礦製造裝置10具備：燒結機12、初級破碎機14、冷卻機16、二級破碎機18、複數個篩分 裝置20、22、24、26、紅外線分析儀28、成品線30、及返礦線32。

於燒結機12中實施燒結步驟。燒結機12例如為下方抽吸式之DL型帶式(DL，Dwight Lloyd)燒結機。燒結機12具有：燒結原料供給裝置、環形移動式托板、點火爐、及風箱。將燒結原料自燒結原料供給裝置裝入至托板，形成燒結原料之裝入層。裝入層係藉由利用點火爐點火並且通過風箱將裝入層內之空氣抽吸至下方，而使裝入層內之燃燒‧熔融帶移向裝入層之下方。藉此，裝入層被燒結而形成燒結餅。於通過風箱將裝入層內之空氣抽吸至下方時，亦可自裝入層之上方供給氣體燃料及/或富氧空氣。氣體燃料係選自高爐氣體、焦炭爐氣體、高爐‧焦炭爐混合氣體、轉爐氣體、都市煤氣、天然氣、甲烷氣體、乙烷氣體、丙烷氣體及其等之混合氣體中之任一可燃性氣體。

於初級破碎機14中實施破碎步驟，燒結餅藉由初級破碎機14進行破碎而形成燒結礦。於冷卻機16中實施冷卻步驟，燒結礦藉由冷卻機16進行冷卻，而成為經冷卻之燒結礦。

於篩分裝置20、22、24、26中實施篩分步驟。於篩分裝置20中，經冷卻之燒結礦被篩分為粒徑超過75mm之燒結礦、及粒徑75mm以下之燒結礦。於本實施形態中，粒徑意指由篩所篩分之粒徑，例如粒徑超過75mm之燒結礦係指使用網眼75mm之篩被篩分於篩上之粒徑，粒徑75mm以下之燒結礦意指使用網眼75mm之篩被篩分於篩下之粒徑。

由篩分裝置20篩分於篩上之粒徑超過75mm之燒結礦係藉由二級破碎機18以粒徑成為50mm以下之方式進行粉碎。經粉碎之燒結礦於篩下進行混合，藉由篩分裝置22進行篩分。藉 此，可使成品燒結礦之粒徑上限成為75mm以下。

由篩分裝置20篩分於篩下之粒徑75mm以下之燒結礦其後利用篩分裝置22、24、26，篩分為粒徑超過5mm之成品燒結礦與粒徑5mm以下之返礦。經篩分裝置22、24、26篩分之成品燒結礦利用成品線30之帶式輸送機搬送至高爐34。另一方面，經篩分裝置22、24、26篩分之返礦利用返礦線32之帶式輸送機被再次搬送至燒結機12之燒結原料供給裝置。使用篩分裝置20、22、24、26所篩分之燒結礦之粒徑、成品燒結礦之粒徑及返礦之粒徑之各值僅為一例，並不限定於該值。

於成品線30之帶式輸送機設置有紅外線分析儀28。於紅外線分析儀28中實施測定步驟。測定步驟中，對成品燒結礦所含有之總CaO、SiO₂、MgO、Al₂O₃、FeO之1種以上之成分濃度進行測定。紅外線分析儀28係對燒結礦照射波長0.5μm~50.0μm之範圍內之紅外線，並接收來自燒結礦之反射光。燒結礦所含有之總CaO、SiO₂、MgO、Al₂O₃、FeO之各者之分子振動由於吸收所照射之紅外線之固有之波長成分，故而該等成分對反射紅外線賦予固有之波長成分。因此，藉由分析照射光與反射光，可測定成品燒結礦中之總CaO、SiO₂、MgO、Al₂O₃、FeO之成分濃度。總CaO係將CaO、CaCO₃、Ca(OH)₂或Fe₂CaO₄等具有Ca與O之全部化合物中之Ca換算成CaO者。

紅外線分析儀28係例如以1分鐘128次之頻率照射波長20以上之紅外線，接收由成品燒結礦反射之反射光。藉由如此以短時間照射紅外線，紅外線分析儀28可在線上連續測定在成品線30之帶式輸送機上搬送之成品燒結礦之成分濃度。紅外線分 析儀28為成分分析裝置之一例，不限定於使反射光分光之方式之裝置，亦可使用使透射光分光之方式之裝置。進而，亦可使用對測定對象照射雷射之雷射分析儀、對測定對象照射中子之中子分析儀、或對測定對象照射微波之微波分析儀代替紅外線分析儀28。

測得成分濃度之成品燒結礦被搬送至高爐34，實施調整包含成品燒結礦、團礦、塊鐵礦及副原料之高爐原料之調配量之調整步驟。高爐原料可含有上述以外之原料，亦可不含團礦。於調整步驟中，使用利用紅外線分析儀28所測得之成品燒結礦之成分濃度、以及預先測得之團礦、塊鐵礦及副原料之成分濃度，計算高爐原料之合計成分量，使用該計算值，以成為目標成分濃度之方式對高爐原料之調配量進行前饋控制。例如為了將高爐原料之鹼度(CaO/SiO₂)控制為目標成分濃度，只要調整高爐原料所含有之副原料之調配量即可。

若成品燒結礦之FeO濃度變高而高爐原料之FeO濃度變高，則高爐原料之被還原性變差。若高爐原料之被還原性變差，則放熱反應之間接還原減少，吸熱反應之直接還原增加，導致高爐內熱不足。為了消除該熱不足，而向高爐中進而裝入還原材，使高爐操作時之焦炭比增加。因此，藉由將高爐原料之FeO濃度控制為目標成分濃度，可抑制高爐操作之焦炭比之增加，能夠有助於高爐之穩定操作。例如為了將高爐原料之FeO控制為目標成分濃度，只要調整高爐原料所含有之塊礦石之調配量即可。

如此以使高爐原料之成分濃度成為目標成分濃度之方式調整高爐原料之調配量。於本實施形態中，利用紅外線分析儀28之成分濃度之測定頻率係1分鐘128次，將該128次之成分濃度 之平均值以1分鐘1次之頻率算出，使用所算出之成分濃度之平均值，每分鐘調整高爐原料之調配量。

如此，本實施形態之高爐操作方法係使用紅外線分析儀28，對在成品線30上搬送之成品燒結礦之成分濃度進行測定，使用該成分濃度，以成為目標成分濃度之方式調整高爐原料之調配量。藉此，即便燒結原料之成分濃度變動而使成品燒結礦之成分濃度發生變動，亦可將高爐原料之成分濃度控制為目標成分濃度，藉由將該高爐原料裝入至高爐中，可使高爐操作穩定，抑制高爐操作時焦炭比之增加。

於本實施形態中，例示出將紅外線分析儀28設置於成品線30之帶式輸送機，對成品燒結礦之成分濃度進行測定之例，但並不限定於此，亦可將紅外線分析儀28設置於燒結礦製造裝置10之任一位置，測定經冷卻之燒結礦、成品燒結礦及返礦中之至少一種以上之成分濃度。

於托板裝有燒結原料之裝入層中，表層之成分濃度與下層之成分濃度大幅不同，並且成分濃度根據燒結原料之水分量及/或燒結原料供給裝置之狀態而變動。利用紅外線分析於其性質上僅能將分析對象之表層進行分析。因此，表層之成分濃度與下層之成分濃度不同，即便利用紅外線分析儀28測定該成分濃度會變動之裝入層，亦無法以高精度測定裝入層整體之成分濃度。另一方面，於冷卻步驟之後，燒結原料被燒結、粉碎、冷卻，並以某種程度進行混合，因此，表層之成分濃度與下層之成分濃度並無較大不同。因此，於本實施形態之測定步驟中，對於冷卻步驟後之燒結礦、成品燒結礦及返礦中之至少一種成分濃度進行測定。藉此，即便為僅 能將分析對象之表層進行分析之紅外線分析儀28，亦可以高精度測定成分濃度。

於燒結礦之粒度分佈寬廣之狀態下，例如無法對隱藏在粒徑較大之燒結礦中之粒徑較小之燒結礦照射紅外線等般，僅能對燒結礦之一部分照射紅外線，來自燒結礦之反射光亦不穩定。另一方面，於篩分步驟後被篩分為粒徑超過5mm之成品燒結礦、及粒徑5mm以下之返礦，故而燒結礦之粒度分佈狹窄。因此，於測定步驟中，較佳為對篩分步驟後之成品燒結礦及返礦之至少1種成分濃度進行測定。藉此，紅外線分析儀28可對燒結礦均勻地照射紅外線，來自燒結礦之反射光亦穩定，因此可以更高之精度測定成分濃度。

於篩分步驟後，於測定步驟中對成品燒結礦或返礦之成分濃度進行測定，但相較於測定返礦，測定成品燒結礦可直接測定用作高爐原料之一的成品燒結礦之成分濃度，因此進而較佳。

[實施例1]

使用於成品線30設置有紅外線分析儀28之燒結礦製造裝置10，以1分鐘1次之頻率測定成品燒結礦所含有之總CaO、SiO₂、MgO、Al₂O₃及FeO之成分濃度。發明例1係使用該測定結果以1分鐘1次之頻率調整了高爐原料之副原料之調配量的操作例。比較例1係不調整高爐原料之副原料之調配量的操作例。對比較例1及發明例1中之高爐渣之鹼度變動及高爐之焦炭比進行測定。

圖2係表示高爐渣之鹼度之變動的圖表。圖2(a)表示比較例1之鹼度之變動，圖2(b)表示發明例1之鹼度之變動。圖2 中，橫軸為時間(天)，縱軸為總CaO/SiO₂(-)。圖2所示之鹼度之值係離線對自高爐出鐵之熔鐵及高爐渣之成分進行化學分析所測得之值。

如圖2所示，比較例1中，鹼度大幅偏離目標值附近。另一方面，發明例1中，以1分鐘1次之頻率測定成品燒結礦之成分濃度，使用該成分濃度，以使高爐原料之成分濃度成為目標值之方式調整高爐原料之調配，因此與鹼度之目標值之偏差縮小。如此，確認出藉由實施本實施形態之高爐操作方法，可使與高爐渣之鹼度之目標值之偏差縮小。

圖3係表示焦炭比之變動的圖表。圖3中，橫軸為時間(天)，縱軸為焦炭比(kg/t-pig)。0~19天係裝入未調整調配量之高爐原料進行高爐操作的比較例1之焦炭比，20~39天為止係裝入以1分鐘1次之頻率調整了調配量之高爐原料進行高爐操作的發明例1之焦炭比。

如圖3所示，與比較例1相比，發明例1於高爐操作時之焦炭比降低。如此確認出藉由實施本實施形態之高爐操作方法，高爐操作穩定，其結果為，可抑制高爐操作之焦炭比之增加。

[實施例2]

圖4係表示高爐原料之鹼度之變動及焦炭比之變動的圖表。圖4(a)表示比較例2及發明例2之高爐原料之鹼度之變動。圖4(a)中，橫軸為時間(小時)，縱軸為高爐原料之總CaO/SiO₂(-)。圖4(b)表示比較例2及發明例2之高爐操作之焦炭比之變動。圖4(b)中，橫軸為時間(小時)，縱軸為焦炭比(kg/t-pig)。

圖4中，比較例2為如下操作例：使用螢光X射線， 以2小時1次之頻率進行測定成品燒結礦之總CaO、SiO₂，使用該測定結果，以同一頻率調整高爐原料之副原料之調配量。發明例2為如下操作例：與發明例1同樣地，使用設置於成品線30之紅外線分析儀28，以1分鐘1次之頻率求出成品燒結礦之總CaO、SiO₂成分濃度，使用該測定結果，以同一頻率調整高爐原料之副原料之調配量。

圖4所示之例中，於0~6小時為止以比較例2之條件進行高爐操作，於6小時起至19小時為止以發明例2之條件實施高爐操作。如圖4(a)所示，於比較例2中，亦以2小時1次之頻率調整副原料之調配量，因此發現於2小時1次之測定時，高爐原料之鹼度之變動得到抑制。然而，自比較例2變更為發明例2，以1分鐘1次之頻率調整高爐原料之副原料之調配量，結果如圖4(b)所示，自認為高爐中裝入有調整了該調配量之高爐原料之時間帶開始，高爐操作之焦炭比降低。一般而言，自燒結機排出之燒結礦於由冷卻機冷卻並經過整粒後經由高爐之貯礦槽，裝入至高爐中。雖亦取決於貯礦槽之大小，但可推測本實施例中使用之貯礦槽中原料之滯留時間約為8小時，8小時後高爐中逐漸表現出效果。

根據以上內容，認為雖可見以2小時1次之測定中鹼度之變動得到抑制，但在此期間高爐原料之鹼度發生變動，受其影響而比較例2之焦炭比變高。另一方面，發明例2中，於成品線30設置紅外線分析儀28，以1分鐘1次之頻率進行測定成品燒結礦之總CaO、SiO₂，使用該測定結果，以使高爐原料之鹼度成為目標值之方式調整副原料之調配量，因此，認為即便於2小時之期間，高爐原料之鹼度之變動亦得到抑制，其結果為，成功抑制高爐操作之 焦炭比之增加。

[實施例3]

圖5係表示發明例3、發明例4及比較例3之FeO濃度之測定值的圖表。圖5中，縱軸為某特定時間之FeO濃度之測定值(質量%)。

發明例3為如下操作例：將紅外線分析儀28設置於成品線30，以1分鐘1次之頻率測定成品燒結礦之總CaO、SiO₂、MgO、Al₂O₃及FeO之成分濃度，使用該測定結果，以1分鐘1次之頻率調整高爐原料之副原料之調配量。發明例4為如下操作例：將紅外線分析儀28設置於返礦線32，以1分鐘1次之頻率測定成品燒結礦之總CaO、SiO₂、MgO、Al₂O₃及FeO之成分濃度，使用該測定結果，以1分鐘1次之頻率調整高爐原料之副原料之調配量。比較例3為如下操作例：將紅外線分析儀28設置於能夠測定燒結機12之燒結餅表面之位置，以1分鐘1次之頻率測定燒結餅表面之總CaO、SiO₂、MgO、Al₂O₃及FeO之成分濃度，使用該測定結果，以1分鐘1次之頻率調整高爐原料之副原料之調配量。

如圖5所示，於測定成品燒結礦之情形時之FeO濃度為7.1質量%，相對於此，於測定由相同燒結原料製造之返礦之情形時之FeO濃度為6.9質量%。根據該結果，使用紅外線分析儀測定返礦之FeO濃度所得之結果與測定成品燒結礦之FeO濃度所得之結果之間無較大差值。另一方面，於使用紅外線分析儀28，對將相同燒結原料進行燒結而得之燒結餅之表面進行測定之情形時之FeO濃度為5.6質量%，與測定成品燒結礦之情形時之FeO濃度大幅不同。

紅外線分析儀於其性質上僅能測定經紅外線照射之表面之成分濃度。成品燒結礦或返礦被破碎，因該粉碎過程而經某種程度混合，因此，藉由對表面照射紅外線而可求出整體之平均成分。另一方面，由於裝入至托板之燒結原料之成分濃度於上層與下層有所不同、及於燒結時之上層與下層之熱階不同，故而於燒結餅之上層與下層，成分濃度產生較大之差。因此，如圖5所示，認為利用紅外線分析儀測定了燒結餅之表面的比較例3之成分濃度與測定了成品燒結礦之表面的發明例3之成分濃度大幅不同。

圖6係表示發明例3、發明例4及比較例3之焦炭比之削減量的圖表。圖6中，縱軸為焦炭比削減量(kg/t-pig)。圖6所示之焦炭比削減量係經過120小時後之焦炭比之削減量，該削減量係推測於調整高爐原料之調配量之前、及由發明例3、發明例4、比較例3調整高爐原料之調配量之後，操作變動之影響平復而成為常規條件下之操作。

於使用作為高爐原料裝入至高爐之成品燒結礦之成分濃度來調整了高爐原料之副原料之調配量的發明例3、及使用與成品燒結礦之成分濃度不存在差值之返礦之成分濃度來調整了高爐原料之副原料之調配量的發明例4中，於經過120小時後之時間點之焦炭比係減少。另一方面，於使用與裝入至高爐中之成品燒結礦之成分濃度差較大之燒結餅之測定值來調整了高爐原料之副原料之調配量的比較例3中，於經過120小時後之時間點之焦炭比反而增加。認為其反映出如下結果：於比較例3中無法將裝入至高爐中之高爐原料之成分濃度調整為目標成分濃度。

Claims (6)

1. 一種高爐操作方法，其係將包含成品燒結礦、塊鐵礦及副原料之高爐原料裝入至高爐中之方法；其具備有：燒結步驟，其將燒結原料進行燒結而製成燒結餅；破碎步驟，其對前述燒結餅進行破碎而製成燒結礦；冷卻步驟，其將前述燒結礦進行冷卻；篩分步驟，其將前述經冷卻之燒結礦篩分為成品燒結礦與返礦；測定步驟，其對前述經冷卻之燒結礦、前述成品燒結礦及前述返礦中之至少一種成分濃度進行測定；及調整步驟，其對前述高爐原料所含有之前述成品燒結礦、前述塊鐵礦及前述副原料之調配量進行調整；於前述調整步驟中，使用前述測定步驟中所測得之成分濃度，調整前述高爐原料之調配量。
2. 如請求項1之高爐操作方法，其中，前述高爐原料進而含有團礦(pellet)，且於前述調整步驟中，對前述高爐原料所含有之前述成品燒結礦、前述團礦、前述塊鐵礦及前述副原料之調配量進行調整。
3. 如請求項1或2之高爐操作方法，其中，於前述測定步驟中，對在輸送機上搬送之前述經冷卻之燒結礦、前述成品燒結礦及前述返礦中之至少一種之成分濃度進行連續測定。
4. 如請求項1至3中任一項之高爐操作方法，其中，於前述測定步驟中，對前述成品燒結礦及前述返礦中之至少一種成分濃度進行測定。
5. 如請求項1至3中任一項之高爐操作方法，其中，於前述測定 步驟中，對前述成品燒結礦之成分濃度進行測定。
6. 如請求項1至5中任一項之高爐操作方法，其中，於前述測定步驟中，對總CaO、SiO ₂、MgO、Al ₂O ₃、FeO之1種以上之成分濃度進行測定。