TW201811017A - 一種顯示裝置以及用於顯示裝置之畫素補償模組及畫素補償方法 - Google Patents

一種顯示裝置以及用於顯示裝置之畫素補償模組及畫素補償方法 Download PDF

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Abstract

本發明係關於透過將用於補償劣化之補償資料與其中產生了劣化之畫素相加以驅動畫素,進而解決執行補償導致畫素劣化的問題。本案提供了一種畫素補償模組,係用於依據顯示面板之多個畫素的每一畫素所對應的劣化資料檢測劣化區域,確定第一補償增益以降低劣化區域內所包含畫素之最終補償資料,以及確定第二補償增益,以增加相鄰劣化區域內所包含畫素的最終補償資料,進而校正畫素之補償資料。

Description

一種顯示裝置以及用於顯示裝置之畫素補償模組及畫素補償方法
本發明係關於顯示裝置、模組及用於對顯示裝置之畫素進行補償的方法。
作為習知的陰極射線管的替代品,平板顯示器可包含:液晶顯示器、場發射顯示器、電漿顯示面板、有機發光二極體(OLED,organic light-emitting diode)顯示器及類似裝置。
在這些顯示器中,有機發光二極體顯示器中所使用的有機發光二極體具有亮度高且作業電壓低之特徵。由於有機發光二極體顯示器是自發光的,所以其具有較高的對比度。而且,也可以較為容易地實現具有有機發光二極體顯示器之超薄顯示器。此外,這種有機發光二極體顯示器具有若干微秒(μs)的響應時間,並且因此而適於表現運動影像。同時,這種顯示器還不受視角的限制,而且甚至在低溫下也能被穩定地驅動。
在有機發光二極體顯示器內,每一個包含有有機發光二極體的畫素都被安置於矩陣中。與影像資料相對應之資料電壓可被施加於每一畫素,藉以在機發光二極體中形成驅動電流,進而使有機發光二極體以恒定亮度發光。在理想狀況下,當驅動有機發光二極體顯示器時,每一畫素之亮度是均勻的。但是,各個畫素中每一驅動電晶體間的電特性差異、畫素間之單元驅動電壓的差異,各個畫素中有機發光二極體間劣化的差異等因素都會使畫素之間的亮度不均勻。
特別的是,有機發光二極體間的劣化差異會引起影像殘留現象,進而導致有機發光二極體顯示器的影像品質發生劣化。
目前,人們已經提出了一種方法來對由有機發光二極體間的劣化差異所導致的畫素間亮度差異進行補償。在上述方法中,可依據影像資料的累積量決定補償資料,透過所決定的補償資料對影像資料進行補償,而後將經過補償的影像資料轉換為資料電壓,進而將此資料電壓施加於畫素。
圖1為習知的劣化補償模組10之結構圖。
如圖1所示,這種習知的劣化補償模組10包含:影像對準單元11、記憶體12、查詢表13及劣化補償單元14。其中,影像對準單元11對應於影像資料DATA,並輸出從影像訊號被轉換為顯示面板大小與解析度的影像資料DATA。記憶體12用於儲存每一畫素中資料的累積量,其中對每一圖框中施加於每一畫素的影像資料DATA都進行累積。查詢表13用於存儲具有相互映射關係的資料累積量的平均累積量及累積驅動時間所對應之補償資料。
參照查詢表13與記憶體12,劣化補償單元14可依據查詢表13中每一畫素的資料累積量讀出亮度減少量。其中,劣化補償單元14依據來自查詢表13的每一畫素亮度減少量讀出補償資料Cdata,並透過使補償資料Cdata與對應各畫素之影像資料DATA相加而輸出補償影像資料DATA’。因此,與補償影像資料DATA’對應之資料電壓被施加於各畫素,藉以使每個畫素所發出之光達到目標亮度。
圖2為對影像資料進行補償前的畫素亮度L1 、用於補償影像資料之補償資料Cdata與對影像資料進行補償後的畫素亮度L2 的曲綫圖。
如圖1與圖2所示,對影像資料進行補償前發生劣化之畫素區域AR2的畫素亮度L1 的數值a與未產生劣化之畫素區域AR1與AR3的畫素亮度L1 的數值b相比,產生了一個亮度差c。因此,會在產生了劣化的畫素區域AR2與未產生劣化的畫素區域AR1與AR3之間的邊界上產生影像條紋(image streaking)。
為了減小這種亮度差異,劣化補償單元14會參考查詢表13與記憶體12依據發生了劣化的畫素區域AR2之數值b的減少量將補償資料Cdata設定為數值b。進而,劣化補償單元14可使設定為數值b的補償資料Cdata與其中產生劣化的畫素區域AR2處所要顯示之影像資料DATA相加,藉以輸出補償影像資料DATA’。
依據這種習知的補償方法,補償影像資料DATA’被輸入至其中產生劣化的AR2,藉以使其中產生劣化的畫素區域AR2的畫素亮度L2 在補償之後從數值a上升到補償之前的亮度差c。因此,在對影像資料進行補償之後,其中產生劣化的畫素區域AR2的畫素亮度L2 與其中未產生劣化的畫素區域AR1或AR3中每一個畫素區域的畫素亮度L2 之具有相同的數值b,進而中產生劣化的畫素區域AR2與其中未產生劣化的畫素區域AR1或AR3之間不存在亮度差異。
但是,依據這種習知的補償方法,電流的大小需要不間斷地與補償資料Cdata保持對應並流經產生劣化之畫素。如上所述,由於流經產生劣化之畫素的電流大小是增大的,所以會因執行劣化補償而使畫素劣化的問題加劇。
本發明之目的在於提供一種顯示裝置、一種模組及一種方法用以對顯示裝置的畫素進行補償,藉以降低劣化區域中所包含之最終補償資料並降低劣化區域中所包含畫素的劣化程度,同時防止因相鄰劣化區域所包含之畫素的最終補償資料增大所導致的劣化使畫素品質降低。
同時,本發明之另一目的在於提供一種顯示裝置、一種模組及一種方法用以對顯示裝置的畫素進行補償,藉以基於畫素之劣化資料間之差異透過對更為被使用者所察覺的劣化區域進行檢測而更有效地對差異進行補償,並對所檢測出之劣化區域進行補償。
此外,本發明之又一目的在於提供一種顯示裝置、一種模組及一種方法,藉以透過對是否基於影像特徵常數進行校正進行判斷,進而在必要時進行補償。
同時,本發明之目的也不限於上述諸項目的,本領域內具有通常技藝者可依據下文描述了解本發明其它目的與優點。此外,能夠輕易地知悉,可透過本案請求項所界定技術方案及其組合理解本發明之目的與優點。
通常,習知技術中一個技術問題在於:當透過僅將發生劣化之畫素與用於補償劣化的補償資料相加而驅動畫素時,會加速被補償之畫素的劣化。
為了解決這一技術問題,本發明提供了一種畫素補償方法,藉以依據顯示面板所包含之各畫素所對應的劣化資料對劣化區域進行檢測。此外,可確定第一補償增益與第二補償增益,其中第一補償增益用於校正劣化區域所包含之畫素的補償資料,第二補償增益用於校正距離劣化區域之外圍畫素第一預設距離範圍內的相鄰劣化區域所包含之畫素的補償資料。接下來,用第一補償增益與第二補償增益對劣化區域所包含之畫素的補償資料與相鄰劣化區域內所包含之畫素的補償資料進行校正。
同時,本案提供了一種畫素補償模組,係包含:劣化區域檢測單元,係用於依據顯示面板之多個畫素的每一畫素所對應的劣化資料檢測劣化區域;補償增益確定單元,係用於確定第一補償增益與第二補償增益,其中第一補償增益用於校正劣化區域所包含之畫素的補償資料,第二補償增益用於校正距離劣化區域之外圍畫素第一預設距離範圍內的相鄰劣化區域所包含之畫素的補償資料;以及補償資料校正單元,用於用第一補償增益校正劣化區域所包含之畫素的補償資料,並用第二補償增益校正相鄰劣化區域內所包含之畫素的補償資料。
此外,本發明還提供了一種顯示裝置,係包含:多個畫素,每一畫素位於資料線與閘極線的交叉點;驅動單元,用於向閘極線提供閘極訊號;時序控制單元,用於控制驅動單元與資料驅動單元,並且用於產生顯示面板內所包含之各畫素所對應之劣化資料與補償資料;及畫素補償模組,用於依據劣化資料對劣化區域進行檢測,用於確定校正劣化區域所包含之畫素的補償資料的第一補償增益與用於校正距離劣化區域之外圍畫素第一預設距離範圍內的相鄰劣化區域所包含之畫素的補償資料的第二補償增益,並且用於用第一補償增益校正劣化區域所包含之畫素的補償資料並用第二補償增益校正相鄰劣化區域內所包含之畫素的補償資料。
此處,時序控制單元用於使用透過畫素補償模組校正的補償資料對輸入影像資料進行補償;並用於向資料驅動單元提供補償後之輸入畫素資料。
依據本發明,可參照各畫素之劣化資料設定劣化區域與相鄰劣化區域。如上所述,習知技術中一個技術問題在於:當透過僅將發生劣化之畫素與用於補償劣化的補償資料相加而驅動畫素時,會使被補償之畫素的劣化加速,但相較於習知技術,本發明對相鄰劣化區域進行補償而非減少劣化區域之補償。
依據本發明之補償方法,可防止因劣化而降低畫素品質並可降低劣化區域所包含之畫素的劣化程度,進而可延長顯示裝置的壽命。
如上所述,依據本發明實施例,可降低劣化區域中所包含之畫素的最終補償資料並可增加相鄰劣化區域中所包含之畫素的最終補償資料,藉以防止因劣化而降低影像品質並降低劣化區域中所包含之畫素的劣化度,進而延長顯示器的壽命。
同時,依據本案實施例,可依據畫素之劣化資料間的差異檢測易於被使用者感知的劣化區域並在檢測出的劣化區域上執行補償,藉以更有效地對劣化進行補償。
此外,依據本發明實施例,可依據所輸入影像資料中所產生的影像特徵常量確定是否對畫素的補償資料執行校正,藉以在必要時有效地執行補償。
以下將結合本發明之圖式詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點進行詳述、在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點,其內容足以使任何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容並據以實施,且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式,任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。以下之實施例係進一步詳細說明本發明之觀點,但非以任何觀點限制本發明之範疇。
圖3為本發明實施例之顯示裝置1000的結構示意圖。
如圖3所示,本發明實施例之顯示裝置1000包含:顯示面板100、資料驅動單元200、閘極驅動單元300、時序控制單元400及畫素補償模組500。
本發明實施例之顯示裝置1000的顯示面板100包含有多個畫素P,其中每一畫素被設計為一有機發光二極體,並且一根參考電壓線RL可形成於多個單元畫素P’中,其中每一單元畫素至少具有三個畫素P,且此參考電壓線連接於資料驅動單元200。
同時,顯示面板100形成有多條訊號線,藉以於形成畫素P處定義畫素區域並對畫素P的驅動進行控制。
訊號線可包含:第一條閘極線GL1至第g條閘極線GLg(其中,g為自然數),第一條感測線SL1至第g條感測線SLg,第一條資料線DL1至第d條資料線DLd(其中,d為大於g的自然數),第一條參考電壓線RL1至第d/4條參考電壓線RL(d/4),複數根高壓驅動電壓線HPL1至HPLd及低壓驅動電壓線LPL1至LPLd中的至少一根低壓驅動電壓線。
其中單元畫素P’被設計為具有三個或四個畫素P。特別的是,四個畫素(即,紅色畫素、白色畫素、綠色畫素及藍色畫素)可形成一個單元畫素P’,並且一根參考電壓線RL形成於一個單元畫素P’上。
資料驅動單元200可將從畫素P處感測到的感測資料Sdata傳送至時序控制單元400,並且還可依據資料控制訊號DCS將從時序控制單元400接收到的補償輸入影像資料DATA’傳送至畫素P。
閘極驅動單元300可從時序控制單元400接收閘極控制訊號GCS,藉以控制每一畫素P內所包含之電晶體的開關。
進而,時序控制單元400可將輸入影像RGB轉換為輸入的影像資料DATA,而從畫素補償模組500得到補償的最終補償資料Cdata’可對輸入的影像資料DATA進行補償,進行形成補償輸入影像資料DATA’。
同時,時序控制單元400可接收並存儲感測資料Sdata以作為劣化資料Ddata,並將此劣化資料Ddata傳送至畫素補償模組500。
畫素補償模組500可對從時序控制單元400接收的劣化資料Cdata進行補償並形成經過校正的最終補償資料Cdata’,進而此最終補償資料Cdata’被傳送至時序控制單元400。爲了校正此最終補償資料Cdata’, 畫素補償模組500可根據劣化資料Ddata對顯示面板100上之劣化區域及相鄰的劣化區域進行檢測。而後,畫素補償模組500可按不同方式對劣化區域之補償資料與相鄰劣化區域之補償資料進行校正。
依據本發明一實施例,此畫素補償模組500可接收影像資料DATA,藉以產生影像特徵常數。進而,此畫素補償模組500可依據所產生的影像特徵常數確定劣化區域內所包含畫素之最終補償資料Cdata’的最小值或相鄰劣化區域內所包含畫素之最終補償資料Cdata’的最大值。
下文中,會結合圖7對畫素補償模組500對劣化區域及相鄰劣化區域進行檢測並對補償資料進行校正的過程進行詳述。
此處,將結合圖4對畫素P之結構與作業方式進行詳述。
圖4為本發明實施例中顯示裝置1000的畫素P和資料驅動單元200之示意圖。
如圖4所示,畫素P可包含畫素驅動電路PDC與有機發光二極體。
其中,此畫素驅動電路PDC包含:掃描電晶體Tsc、感測電晶體Tss、驅動電晶體Tdr及存儲電容Cst,圖中,EVDD為高電壓源,EVSS為低電壓源。
依照透過訊號線輸入的掃描電晶體Tsc、感測電晶體Tss與驅動電晶體Tdr之控制訊號,可透過用於感測驅動電晶體Tdr的感測電特性(即,閾值電壓或電子遷移率)之感測模式以及用於對應資料電壓Vdata發出光照之驅動模式中的一種模式對畫素P進行驅動。
下面,先對畫素之驅動模式進行描述。
在驅動模式中,資料驅動單元200可依據驅動模式之資料控制訊號DCS將從時序控制單元400接收到的影像資料DATA’轉化為資料電壓Vdata,進而將此資料電壓Vdata傳送至相應的資料線DL。
為達成這一目的,資料驅動單元200用數位類比轉化器DAC可將從時序控制單元400接收的補償輸入影像資料DATA’轉化為資料電壓Vdata。
響應第一掃描脉衝SP1,掃描電晶體Tsc被開啟,藉以輸出施加於資料線DL的資料電壓Vdata。
響應第二掃描脉衝SP2,感測電晶體Tss被開啟,藉以將施加於參考電壓線RL之參考電壓Vref提供到作為驅動電晶體Tdr之源極端的第二節點n2。
依據按照掃描電晶體Tsc與感測電晶體Tss之開關作業,可透過被分別施加於第一節點n1與第二節點n2的電壓差對存儲電容Cst進行充電。
進而,可依據存儲電容Cst處的充電電壓開啟驅動電晶體Tdr,同時分別響應第一掃描脉衝SP1與第二掃描脉衝SP2關閉掃描電晶體Tsc與感測電晶體Tss。
此處,可透過存儲電容Cst之電壓開啟驅動電晶體Tdr,進而向有機發光二極體OLED提供驅動電流Ioled。
此時,有機發光二極體OLED可透過來自驅動電晶體Tdr之驅動電流Ioled發出光照並發射單色光,且此單色光之亮度對應驅動電流Ioled。
接下來,將闡釋畫素P之感測模式。
在感測模式中,響應第一掃描脉衝SP1關閉掃描電晶體Tsc。進而,不再向驅動電晶體Tdr之閘極端提供資料電壓Vdata。
此時,響應第二掃描脉衝SP2開啟感測電晶體Tss,藉以透過參考電壓線RL向資料驅動單元200傳送感測電壓Vsen。進而,可透過閘極驅動單元200將感測電壓Vsen轉換為感測資料Sdata,進而將此感測資料Sdata傳送至時序控制單元400。
此感測電路SC還可包含:一預充電開關SW1,依據資料控制訊號DCS控制開啟或關閉狀態,藉以向感測電晶體Tss之源極端提供參考電壓Vref;以及取樣開關SW2,係用於形成或阻斷感測線SL與類比數位轉化器ADC間之連接。
同時,在感測模式中,資料驅動單元200將取樣開關SW2控制於開啟狀態並將來自第一條感測線SL1至第d/4條感測線SLd/4之感測電壓Vsen輸入ADC,藉以將感測電壓Vsen轉換為數位形式,進而產生感測資料Sdata。
下面,將結合圖5對圖2中所示時序控制單元400之結構與功能進行詳述。
圖5示出了依據本發明實施例的時序控制單元400之結構及時序控制單元400之多個部件間的資料流。
如圖5所示,此時序控制單元400包含有:訊號控制單元410、資料轉換單元420、資料補充單元430、劣化資料存儲單元440及補償資料產生單元450。
訊號控制單元410可使用從外界輸入之同步訊號SYNC輸出複數個控制訊號。此處,這些控制訊號包含:多個資料控制訊號DCS與多個閘極控制訊號GCS。其中,資料控制訊號DCS係為用於控制資料驅動單元200的訊號,而閘極控制訊號GCS係為用於控制閘極驅動單元300的訊號。並且,其中同步訊號SYNC包含:點時脈、資料使能訊號、水平同步訊號及垂直同步訊號。
資料轉換單元420可將從外界接收到的輸入影像RGB轉換為影像資料DATA,進而可向資料驅動單元200輸入影像資料DATA。
而後,資料補充單元430可使來自下文將描述之補償資料產生單元450所產生並透過畫素補償模組500所校正的最終補償資料Cdata’與補償輸入影像資料DATA相加,進而透過補償形成補償輸入影像資料DATA’。
其中,劣化資料存儲單元440可將感測模式中感測每一畫素P所得到之感測資料Sdata當做劣化資料Ddata進行存儲。
同時,劣化資料存儲單元440還可存儲每一畫素之資料的累積量,其中此累積量係透過對每一框輸入資料驅動單元200之補償輸入影像資料DATA’進行累積而得到。
進而,依據當劣化資料Ddata所儲存的資料為感測資料Sdata時之感測資料Sdata與參考感測資料間的差值,補償資料產生單元450可從亮度曲綫中確定亮度補償值,進而產生補償資料Cdata。
當作為劣化資料Ddata儲存的資料為每一畫素之資料的累積量時,補償資料產生單元450可依據與每一畫素之資料的預儲存累積量相關的查詢表確定亮度補償值,而後產生補償資料Cdata。
同時,雖然發明實施例描述了補償資料產生單元450僅在劣化資料Ddata為感測資料Sdata或為每一畫素之資料的累積量時才產生補償資料Cdata,但當劣化資料Ddata為除感測資料Sdata與每一畫素之資料的累積量以外的用於表現劣化程度的數值時,可使用任意一種劣化資料Ddata。
下面,將結合圖6對本發明實施例之畫素補償模組500進行描述。
圖6為本發明一實施例之畫素補償模組500的結構及其組件間資料流的示意圖。
如圖6所示,本發明實施例之畫素補償模組500可包含:劣化區域檢測單元510、影像特徵常數產生單元520、補償增益確定單元530及補償資料校正單元540。
其中,劣化區域檢測單元510可依據從時序控制單元400接收到的各畫素之劣化資料Ddata產生顯示面板100之劣化映射MAP。此處,劣化映射MAP可以是數字值映射,其中的座標為相互映射之顯示面板100所包含的各畫素與劣化資料Ddata。
劣化區域檢測單元510可參照顯示面板100所包含之各畫素所對應之劣化資料Ddata對劣化區域進行檢測。
此處,劣化區域為所包含畫素中相鄰畫素間的亮度突然變化之區域。
下面,將結合圖7對本發明中劣化區域檢測單元510所檢測之劣化區域的含義進行描述。
如圖7所示,畫素區域AR1之畫素部份與畫素區域AR2之畫素部份各自具有相同的最大亮度與最小亮度。但是,畫素區域AR1兩端的亮度是突然變化的,而畫素區域AR2兩端的亮度卻是逐漸降低後逐漸增大的。
而當畫素區域AR1與畫素區域AR2之影像殘留具有相同的最大亮度與最小亮度時,使用者只能感知到兩端亮度突然變化的畫素區域AR1之畫素部份。換言之,當相鄰畫素間亮度差異較大時,相應的區域會因影像殘留而易於被使用者所感知到。也就是說,當指定畫素部份之最大亮度與最小亮度間之亮度差異較大但亮度逐漸變化時,使用者難以察覺到影像殘留。
同時,這種畫素中之亮度變化也是和畫素之劣化資料相稱的。
如上所述,劣化資料可以是一個表示畫素劣化程度的數值,它既可以是於各畫素所感測到之感測資料,也可以是各畫素之資料的累積量。
因此,可依據圖7所示之畫素的劣化資料計算出相鄰畫素間劣化資料的差異,進而可確定其影像殘留易於被使用者感知到的畫素部份。
接下來,參照顯示面板中所包含之各畫素所對應的劣化資料,本發明實施例之劣化區域檢測單元510可對劣化區域進行檢測。
下面,將返回圖6,再對劣化區域檢測單元510進行詳述。
依據本發明實施例,劣化區域檢測單元510可依據劣化資料Ddata確定畫素是否為劣化畫素。
為此,劣化區域檢測單元510可向包含於預設的檢測區域內之畫素的劣化資料Ddata施加檢測遮罩(detection mask)。此外,劣化區域檢測單元510可由施加有檢測遮罩之劣化資料Ddata計算出劣化差異值,進而根據所計算出的劣化差異值檢測到劣化區域。
此處,檢測遮罩可以是位於劣化映射上具有任意矩陣形式的結構。例如,此檢測遮罩可以是如3×3方形矩陣、5×5方形矩陣或7×7方形矩陣的方形矩陣,但這並不對此檢測遮罩構成限制。這種檢測遮罩還可包含:博維特遮罩(prewitt mask)、索貝爾遮罩(sobel mask)、洛貝爾遮罩(Roberts mask)及拉普拉斯算符遮罩(Laplacian mask),但這也不對此檢測遮罩構成限制。
劣化區域檢測單元510可將檢測遮罩至於劣化映射上,進而於劣化映射上用此檢測遮罩之每一算符處理與各算符位置相對應的劣化資料Ddata進行運算,藉以算出劣化差異值。當此劣化差異值大於或等於劣化差異參考值時,此劣化區域檢測單元510可將位於檢測遮罩中心之畫素確定為劣化畫素。此處,可將預定的化差異參考值做為一個標準,藉以判斷檢測遮罩中心之畫素與檢測遮罩中心附近之畫素的劣化資料的差異是否可以被使用者感知為影像殘留。
透過在列方向與行方向上移動檢測遮罩,劣化區域檢測單元510可確定顯示面板100上所有畫素中是否存在劣化畫素。
而在確定劣化畫素為相鄰畫素之狀況中,當此相鄰的劣化畫素之數量大於或等於預設的劣化區域參考值時,劣化區域檢測單元510可將相鄰的劣化畫素確定為劣化區域。
圖8用於描述本發明一實施例中劣化區域檢測單元510的劣化區域檢測過程。
如圖8所示,劣化區域檢測單元510用一個X軸索貝爾遮罩與一個Y軸索貝爾遮罩作為檢測遮罩,當透過將劣化差異參考值與劣化區域參考值分別設定為20與10來檢測劣化區域時,可用下列〈方程式1〉計算劣化差異值。 〈方程式1〉
此處,I(i,j)為畫素之劣化資料,Sobelh(i,j) 為X軸索貝爾遮罩的運算符,Eh 為X軸索貝爾遮罩的運算值,Sobelv(i, j) 為Y軸索貝爾遮罩的運算符,Ev 為Y軸索貝爾遮罩的運算值,TP 為索貝爾遮罩之畫素數量,而SI 為索貝爾遮罩中心處畫素的劣化差異值。
其中,劣化區域檢測單元510可透過向(2,2)處之畫素的劣化資料提供索貝爾遮罩,使X軸索貝爾遮罩的運算符(1,0,-1)、(1,0,-1)及(1,0,-1)與X軸索貝爾遮罩位置所對應之畫素的劣化資料(10,10,10)、(10,10,10)及(10,10,10)相乘,並使上述乘積相加,進而可算出X軸索貝爾遮罩的運算值為0。
而後,劣化區域檢測單元510可使Y軸索貝爾遮罩的運算符(1,1,1)、(0,0,0)及(-1,-1,-1)與Y軸索貝爾遮罩位置所對應之畫素的劣化資料(10,10,10)、(10,10,10)及(10,10,10)相乘,並使上述乘積相加,進而可算出Y軸索貝爾遮罩的運算值為0。
此處,劣化區域檢測單元510還可以將X軸索貝爾遮罩的運算值的絕對值與Y軸索貝爾遮罩的運算值的絕對值的和除以軸索貝爾遮罩的畫素數量,即9,進而計算出(2,2)處之畫素的劣化差異值為0。
此處,由於(2,2)處之劣化差異值(即,0)並非大於或等於劣化差異參考值20,所以劣化區域檢測單元510並未將(2,2)處之畫素確定為劣化畫素。
而後,劣化區域檢測單元510使用X軸索貝爾遮罩與Y軸索貝爾遮罩確定(2,2)處之畫素是否為劣化畫素,並且沿X軸與Y軸分別移動X軸索貝爾遮罩與Y軸索貝爾遮罩,進而可對所有畫素中是否存在劣化畫素進行判斷。
圖9為從本發明實施例中劣化區域檢測單元510檢測出之劣化區域的示意圖。
與圖8類似,請參見圖9,劣化區域檢測單元510可對所有畫素中是否存在劣化畫素進行判斷,由此可檢測(3,3)至(3,7)、(4,3)至(4,7)、(5,3)、(5,4)、(5,6)、(5,7)、(6,3)至(6,7)以及(7, 3) 至(7,7)範圍內的畫素是否為劣化畫素。
此處,由於相鄰的劣化畫素之數量(即,24)超出了預設的劣化區域參考值(即,10),所以劣化區域檢測單元510可將相鄰的劣化畫素確定為劣化的畫素區域AR1。
對此而言,例如,當位於(5,5)處的畫素並非劣化畫素而被多個劣化畫素圍繞時,劣化區域檢測單元510可確定相應之畫素也被包含於此劣化的畫素區域AR1中。
另一方面,由於習知的劣化區域檢測方法會將推測其可長時間輸出如特定特此證明、數字、符號等標誌的某一區域作為劣化區域,所以此方法並不能反應畫素之真實的劣化程度。
但是,本發明實施例之劣化區域檢測單元510可依據顯示面板100所包含之各畫素的劣化資料對劣化區域進行檢測,進而透過準確反應所有畫素中每一畫素之劣化程度對劣化區域進行檢測。
如圖6所示,影像特徵常數產生單元520可從輸入的影像資料DATA產生影像特徵常數fn,此影像特徵常數刻表示將顯示於顯示面板100上之影像的特徵。具體而言,影像特徵常數產生單元520可對影像資料DATA進行分析,進而產生影像特徵常數fn。
此處,影像特徵常數fn可包含:整體運動常數f1、局部運動常數f2、局部平均畫素水平常數f3、局部色彩常數f4與局部邊沿常數f5中的一個或多個。
在本發明實施例中,整體運動常數f1為拍攝影像時因攝像機移動而於影像內產生運動所對應之常數。局部運動常數f2為因影像中物體移動而於影像內產生運動所對應之常數。局部平均畫素水平常數f3為從影像中某一區域所獲得之平均亮度所對應之常數。局部色彩常數f4為從影像中某一區域所獲得之色彩所對應之常數。最後,局部邊沿常數f5為從影像中邊緣區域之解析度所獲得之清晰度所對應之常數。
同時,上述影像特徵常數可作為補償資料校正單元540內所使用的常數,藉以判斷是否對補償資料進行校正。下面,將對此過程進行詳述。
此處,下面將結合圖7與圖10對透過上述方法確定劣化區域時畫素補償模組500對補償資料進行校正之過程。
圖10示出了畫素區域AR1與相鄰的畫素區域AR2之亮度、補償資料及補償增益的曲綫。
如圖10所示,本發明實施例之畫素補償模組500可將距離劣化的畫素區域AR1之外圍畫素第一預設距離R1 範圍內的區域設定為相鄰之發生劣化的畫素區域AR2。
同時,畫素補償模組500可將距離發生劣化的區域AR1之外圍畫素第二預設距離R2 範圍內的區域設定為第一相鄰劣化區域AR2-1。
而畫素補償模組500還將第一相鄰劣化區域AR2-1的外圍畫素與發生劣化的畫素區域AR2的外圍畫素之間的區域設定為第二相鄰劣化區域AR2-2。
換言之,當透過劣化區域檢測單元510檢測到發生劣化的區域AR1時,可圍繞發生劣化的區域AR1之外圍以第二預設距離R2 為寬度設定第一相鄰劣化區域AR2-1,同時可圍繞此第一相鄰劣化區域AR2-1以第一預設距離R1 與第二預設距離R2 之差為寬度設定第二相鄰劣化區域AR2-2。
補償增益確定單元530可用於確定第一補償增益G1與第二補償增益G2,其中第一補償增益G1用於對發生劣化的區域AR1所包含之畫素的補償資料Cdata進行校正,而第二補償增益G2用於對發生劣化的區域AR2所包含之畫素的補償資料Cdata進行校正。
更為特別的是,補償增益確定單元530可確定第一補償增益G1,藉以在從發生劣化的區域AR1之邊緣畫素向其中心畫素CP移動過程中減少最終補償資料Cdata’之大小。
換言之,此補償增益確定單元530可透過確定第一補償增益G1使發生劣化的區域AR1的邊緣畫素之最終補償資料Cdata’具有發生劣化的區域AR1所包含眾多畫素中最終補償資料Cdata’的最大值。
而且,補償增益確定單元530還可透過確定第一補償增益G1使發生劣化的區域AR1的中心畫素CP之最終補償資料Cdata’具有發生劣化的區域AR1所包含眾多畫素中最終補償資料Cdata’的最小值。
同時,補償增益確定單元530還可確定第二補償增益G2,進而在從第一相鄰劣化區域AR2-1之邊緣畫素向第二相鄰劣化區域AR2-2之邊緣畫素移動過程中減小第二相鄰劣化區域AR2-2所包含之畫素的最終補償資料Cdata’之大小。
或者,依照本發明實施例,可透過補償增益確定單元530預先設定發生劣化的區域AR1所包含之畫素的最終補償資料Cdata’的最小值與發生劣化的區域AR2所包含之畫素的最終補償資料Cdata’的最大值。
在本發明一實施例中,補償增益確定單元530可依據影像特徵常數之方差調整發生劣化的區域AR1所包含之畫素的最終補償資料Cdata’的最小值與發生劣化的區域AR2所包含之畫素的最終補償資料Cdata’的最大值。
例如,此補償增益確定單元530可對發生劣化的區域AR1所包含之畫素的最終補償資料Cdata’的最小值與發生劣化的區域AR2所包含之畫素的最終補償資料Cdata’的最大值進行調整,而這種調整是與影像特徵常數所包含的整體運動常數f1、局部運動常數f2、局部平均畫素水平常數f3、局部色彩常數f4與局部邊沿常數f5中的一個或多個的方差相稱的。
例如,當局部色彩常數f4增加時,補償增益確定單元530可增大發生劣化的區域AR1所包含之畫素的Cdata’的最小值與發生劣化的區域AR2所包含之畫素的最終補償資料Cdata’的最大值。
而在另一實例中,當透過使局部平均畫素水平常數f3與局部色彩常數f4相加所獲得數值或透過使局部平均畫素水平常數f3與局部色彩常數f4相乘所獲得數值增大時,補償增益確定單元530可依據加和或乘積之增大使發生劣化的區域AR1所包含之畫素的最終補償資料Cdata’的最小值增大或者使發生劣化的區域AR2所包含之畫素的最終補償資料Cdata’的最大值增大。
此處,當整體運動常數f1、局部運動常數f2、局部平均畫素水平常數f3、局部色彩常數f4與局部邊沿常數f5增大而使補償值增大時,即使在畫素的亮度與影像之色彩中的一個或多個之變化範圍增大時,使用者的知覺能力也會降低。
例如,由於當整體運動常數f1較高時存在大量移動,所以即使在補償資料增大而引起畫素的亮度與影像之色彩中的一個或多個增大時,使用者也不會感知到畫素的亮度與影像之色彩中的一個或多個有所增加。
因此,當整體運動常數f1、局部運動常數f2、局部平均畫素水平常數f3、局部色彩常數f4與局部邊沿常數f5的大小,補償增益確定單元530可調節並增加大發生劣化的區域AR1所包含之畫素的最終補償資料Cdata’的最小值與發生劣化的區域AR2所包含之畫素的最終補償資料Cdata’的最大值。
比較各區域補償前後之亮度,在進行補償之前,發生劣化的區域AR1所包含之畫素的亮度會於發生劣化的區域AR1與第一相鄰劣化區域AR2-1間之邊界處急劇增加與減小。另一方面,在進行補償之後,發生劣化的區域AR1所包含之畫素的亮度可於發生劣化的區域AR1與第一相鄰劣化區域AR2-1間之邊界處逐漸降低。同時,即使在發生劣化的區域AR1內,當朝向中心畫素CP移動時,補償資料的大小也是減少的,而不是像習知方法那樣按統一大小進行補償。
此外,當從發生劣化的區域AR1之邊緣畫素向第一相鄰劣化區域AR2-1之邊緣畫素移動時,發生劣化的區域AR2所包含之畫素的亮度在補償之後逐漸地上升到最大值;而當從第一相鄰劣化區域AR2-1之邊緣畫素向第二相鄰劣化區域AR2-2之邊緣畫素移動時,發生劣化的區域AR2所包含之畫素的亮度逐漸降低。
因此,當執行補償時,發生劣化的區域AR1的邊緣較之進行補償以前是模糊的,進而令使用者難以察覺到發生劣化的區域AR1屬於實際面板的劣化。而且,較之習知技術,發生劣化的區域AR1之補償資料的大小較小,進而有助於延緩發生劣化的區域AR1的劣化速度。
同時,當發生劣化的區域AR1所包含之畫素的劣化資料Ddata大於或等於預設的補償參考值時,本發明另一實施例之補償增益確定單元530可將發生劣化的區域AR1中所包含之畫素的第一補償增益G1確定為0。
換言之,依據本發明另一實施例,當發生劣化的區域AR1所包含之畫素的劣化度小於依據所預設的補償參考值的劣化度時,僅對發生劣化的區域AR2進行補償,而不對發生劣化的區域AR1進行補償。
在本發明所屬領域中,即使在發生劣化的區域AR1所包含之畫素的劣化度小於依據所預設的補償參考值的劣化度也不對發生劣化的區域AR1進行補償,所以發生劣化的區域AR1會作為面板之劣化區域為使用者所察覺。但在本發明中,由於執行了習知技術中未曾執行的對發生劣化的區域AR2之補償,所以即使在不對發生劣化的區域AR1進行補償時,使用者也難將發生劣化的區域AR1視為面板之劣化區域。
回顧圖7與圖10,補償資料校正單元540可使用第一補償增益G1與第二補償增益G2對發生劣化的區域AR1中所包含之畫素的補償資料Cdata與發生劣化的區域AR2所包含之畫素的補償資料Cdata進行校對。
在對補償資料Cdata進行校對之前,補償資料校正單元540可根據輸入的影像資料確定是否對發生劣化的區域AR1中所包含之畫素的補償資料Cdata與發生劣化的區域AR2所包含之畫素的補償資料Cdata進行校對。換言之,補償資料校正單元540可依據影像特徵常數確定所輸入之影像資料是否適於進行補償。此時,如上所述,影像特徵常數包含有整體運動常數f1、局部運動常數f2、局部平均畫素水平常數f3、局部色彩常數f4與局部邊沿常數f5中的一種或多種。
例如,補償資料校正單元540可使整體運動常數f1、局部運動常數f2、局部平均畫素水平常數f3、局部色彩常數f4與局部邊沿常數f5相乘,進而對乘積與預設的校正決定參考值進行比較。
當此乘積超過預設的校正決定參考值時,補償資料校正單元540可對發生劣化的區域AR1中所包含之畫素的補償資料Cdata與發生劣化的區域AR2所包含之畫素的補償資料Cdata進行校對。
另一方面,當此乘積小於或等於預設的校正決定參考值時,補償資料校正單元540可決定不對發生劣化的區域AR1中所包含之畫素的補償資料Cdata與發生劣化的區域AR2所包含之畫素的補償資料Cdata進行校對。
透過上述過程,即使畫素之亮度與色彩發生變化時,補償資料校正單元540也可以僅僅對具有難以為使用者所察覺之影像特徵的影像執行補償資料的校正,進而可對應影像特徵有效地執行補償資料的校正。
圖11為本發明實施例中畫素補償方法之流程圖。
如圖11所示,根據影像特徵常數確定是否執行補償資料之校正與確定輸入影像資料是否適於進行補償在步驟S1中執行。在步驟S1中,當因為所輸入影像資料不適於進行補償而確定不對補償資料進行校對時,根據影像特徵常數週期性地確定是否對補償資料進行校對。
而當在步驟S1中因所輸入影像資料適於進行補償而確定對補償資料進行校對時,可在步驟S2中參照與顯示面板所包含之各個畫素相對應之劣化資料來檢測劣化區域。
此處,對步驟S2進行詳述,依據劣化資料對各個畫素是否為劣化畫素係劣化資料進行判斷,當相鄰劣化畫素之數量大於或等於預先設定之劣化區域參考值時,包含有這些相鄰劣化畫素之區域被認定為劣化區域。
接下來,在步驟S3中確定用於對劣化區域中所包含畫素之補償資料進行校正的第一補償增益以及用於對相鄰劣化區域中所包含畫素之補償資料進行校正的第二補償增益。
此處,對步驟S3進行詳述,當從劣化區域之邊緣畫素向其中心畫素移動時,確定第一補償增益可減小劣化區域內所包含之最終補償資料的大小。
因此,劣化區域之邊緣畫素之最終補償資料的大小可以是此劣化區域中所包含多個畫素之最終補償資料大小中的最大值。
並且,劣化區域之中心畫素之最終補償資料的大小可以是此劣化區域中所包含多個畫素之最終補償資料大小中的最小值。
同時,當從劣化區域之邊緣畫素向第一相鄰劣化區域之邊緣畫素移動時,確定第二補償增益可增大第一相鄰劣化區域所包含畫素之最終補償資料的大小。
並且,當從第一相鄰劣化區域之邊緣畫素向第二相鄰劣化區域之邊緣畫素移動時,確定第二補償增益可減小第二相鄰劣化區域所包含畫素之最終補償資料的大小。
此時,劣化區域中所包含畫素之最終補償資料的最小值或相鄰劣化區域中所包含畫素之最終補償資料的最大值可依圖形特徵常數而定。
在步驟S4中,可用步驟S3中所確定的第一補償增益與第二補償增益對劣化區域中所包含畫素之補償資料與相鄰劣化區域中所包含畫素之補償資料進行校對。
如上所述,依據本發明實施例之畫素補償方法,可減小劣化區域中所包含畫素之最終補償資料並可增大相鄰劣化區域中所包含畫素之最終補償資料,藉以防止因劣化而降低影像品質並同時減小劣化區域中所包含畫素之劣化度,進而延長顯示裝置的使用壽命。
雖然本發明以前述之實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明。在不脫離本發明之精神和範圍內,所為之更動與潤飾,均屬本發明之專利保護範圍。關於本發明所界定之保護範圍請參考所附之申請專利範圍。
10‧‧‧劣化補償模組
11‧‧‧影像對準單元
12‧‧‧記憶體
13‧‧‧查詢表
14‧‧‧劣化補償單元
100‧‧‧顯示面板
200‧‧‧資料驅動單元
300‧‧‧閘極驅動單元
400‧‧‧時序控制單元
410‧‧‧訊號控制單元
420‧‧‧資料轉換單元
430‧‧‧資料補充單元
440‧‧‧劣化資料存儲單元
450‧‧‧補償資料產生單元
500‧‧‧畫素補償模組
510‧‧‧劣化區域檢測單元
520‧‧‧影像特徵常數產生單元
530‧‧‧補償增益確定單元
540‧‧‧補償資料校正單元
1000‧‧‧顯示裝置
AR1、AR2‧‧‧畫素區域
AR3‧‧‧畫素區域
L1‧‧‧畫素亮度
L2‧‧‧畫素亮度
a、b‧‧‧數值
c‧‧‧亮度差
fn‧‧‧影像特徵常數
DCS‧‧‧資料控制訊號
GCS‧‧‧閘極控制訊號
DATA‧‧‧影像資料
Cdata‧‧‧補償資料
DATA’‧‧‧補償輸入影像資料
Ddata‧‧‧劣化資料
Cdata’‧‧‧最終補償資料
Sdata‧‧‧感測資料
GL、GL1‧‧‧閘極線
GL2、GLg‧‧‧閘極線
SL、SL1‧‧‧感測線
SL2、SLg‧‧‧感測線
DL、DL1‧‧‧資料線
DL2、DLd‧‧‧資料線
HPL1、HPL2‧‧‧高壓驅動電壓線
HPLd-1、HPLd‧‧‧高壓驅動電壓線
LPL1、LPL2‧‧‧低壓驅動電壓線
LPLd-1、LPLd‧‧‧低壓驅動電壓線
PDC‧‧‧畫素驅動電路
RL、RL1‧‧‧參考電壓線
RL(d/4)‧‧‧參考電壓線
P‧‧‧畫素
P’‧‧‧單元畫素
RGB‧‧‧輸入影像
EVDD‧‧‧高電壓源
EVSS‧‧‧低電壓源
Tsc‧‧‧掃描電晶體
Tss‧‧‧感測電晶體
Tdr‧‧‧驅動電晶體
Cst‧‧‧存儲電容
n1‧‧‧第一節點
n2‧‧‧第二節點
DAC‧‧‧數位類比轉化器
ADC‧‧‧類比數位轉化器
Ioled‧‧‧驅動電流
SW1‧‧‧預充電開關
SW2‧‧‧取樣開關
SYNC‧‧‧同步訊號
Vdata‧‧‧資料電壓
Vref‧‧‧參考電壓
Vsen‧‧‧感測電壓
MAP‧‧‧劣化映射
G1‧‧‧第一補償增益
G2‧‧‧第二補償增益
CP‧‧‧中心畫素
SP1‧‧‧第一掃描脉衝
SP2‧‧‧第二掃描脉衝
OLED‧‧‧有機發光二極體
SC‧‧‧感測電路
R1‧‧‧第一預設距離
R2‧‧‧第二預設距離
AR2-1‧‧‧第一相鄰劣化區域
AR2-2‧‧‧第二相鄰劣化區域
S1、S2‧‧‧步驟
S3、S4‧‧‧步驟
圖1係為習知的劣化補償模組之結構示意圖。 圖2係為對影像資料進行補償前的畫素亮度、用於補償影像資料之補償資料與對影像資料進行補償後的畫素亮度的曲綫圖。 圖3係為根據本發明一實施例所繪示之顯示裝置的示意圖。 圖4係為根據本發明一實施例所繪示之顯示裝置之畫素與資料驅動單元的結構示意圖。 圖5係為根據本發明一實施例所繪示之時序控制單元之結構及時序控制單元之多個部件間的資料流。 圖6係為根據本發明一實施例所繪示之畫素補償模組之結構及畫素補償模組之多個部件間的資料流。 圖7係為具有不同劣化形式之畫素部分的亮度與劣化資料的曲線圖。 圖8係為用於描述本發明一實施例所繪示之從劣化區域檢測單元之劣化區域的示意圖。 圖9係為根據本發明一實施例所繪示之來自劣化區域檢測單元之劣化區域的示意圖。 圖10係為根據劣化區域及相鄰劣化區域之亮度、補償資料與補償增益的示意圖。 圖11係為根據本發明一實施例所繪示之畫素補償方法之順序的流程圖。
100‧‧‧顯示面板
200‧‧‧資料驅動單元
300‧‧‧閘極驅動單元
400‧‧‧時序控制單元
500‧‧‧畫素補償模組
DCS‧‧‧資料控制訊號
GCS‧‧‧閘極控制訊號
DATA‧‧‧影像資料
Cdata‧‧‧補償資料
DATA’‧‧‧補償輸入影像資料
Ddata‧‧‧劣化資料
Cdata’‧‧‧最終補償資料
Sdata‧‧‧感測資料
GL1‧‧‧閘極線
GL2、GLg‧‧‧閘極線
SL1‧‧‧感測線
SL2、SLg‧‧‧感測線
DL1‧‧‧資料線
DL2、DLd‧‧‧資料線
HPL1、HPL2‧‧‧高壓驅動電壓線
HPLd-1、HPLd‧‧‧高壓驅動電壓線
LPL1、LPL2‧‧‧低壓驅動電壓線
LPLd-1、LPLd‧‧‧低壓驅動電壓線
RL1、RL(d/4)‧‧‧參考電壓線
P’‧‧‧單元畫素
RGB‧‧‧輸入影像
EVDD‧‧‧高電壓源
EVSS‧‧‧低電壓源
SYNC‧‧‧同步訊號

Claims (17)

  1. 一種畫素補償模組,係包含:一劣化區域檢測單元,係用於依據一顯示面板之多個畫素的每一畫素所對應的劣化資料檢測一劣化區域;一補償增益確定單元,係用於確定一第一補償增益與一第二補償增益,其中該第一補償增益用於校正該劣化區域所包含之畫素的補償資料,該第二補償增益用於校正距離該劣化區域之外圍畫素第一預設距離範圍內的一相鄰劣化區域所包含之畫素的補償資料;以及一補償資料校正單元,用於用該第一補償增益校正該劣化區域所包含之畫素的補償資料,並用該第二補償增益校正一相鄰劣化區域內所包含之畫素的補償資料。
  2. 如請求項1所述之畫素補償模組,其中該劣化區域檢測單元依據該劣化資料確定該等畫素中之每一畫素是否為一劣化畫素,並且當多個相鄰的劣化畫素之數量大於或等於一預設的劣化區域參考值時,該劣化區域檢測單元將包含有該等相鄰的劣化畫素的一區域確定為該劣化區域。
  3. 如請求項1所述之畫素補償模組,其中該劣化區域檢測單元透過向一預定檢測區域所包含之畫素的劣化資料施加遮一檢測罩來計算一劣化差異值,並且該劣化區域檢測單元根據該劣化差異值檢測該劣化區域。
  4. 如請求項1所述之畫素補償模組,其中該補償增益確定單元確定該第一補償增益,藉以在從該劣化區域之邊緣畫素向該劣化區域之中心畫素移動過程中減少該劣化區域所包含之該等畫素的最終補償資料之大小。
  5. 如請求項1所述之畫素補償模組,其中該相鄰劣化區域包含:一第一相鄰劣化區域,係位於距離該劣化區域之外圍畫素一第二預設距離的範圍內;及一第二相鄰劣化區域,係位於該第一相鄰劣化區域的外圍畫素與該相鄰劣化區域的外圍畫素之間,並且該補償增益確定單元確定該第二補償增益,當從該劣化區域之邊緣畫素向該第一相鄰劣化區域之邊緣畫素移動時,增大該第一相鄰劣化區域所包含畫素之最終補償資料的大小;當從該第一相鄰劣化區域之邊緣畫素向該第二相鄰劣化區域之邊緣畫素移動時,減小該第二相鄰劣化區域所包含畫素之最終補償資料的大小。
  6. 如請求項1所述之畫素補償模組,其中該補償資料校正單元依據由輸入影像資料產生之一影像特徵常數確定是對該劣化區域中所包含之畫素的該補償資料進行校正還是對該相鄰劣化區域所包含之畫素的該補償資料進行校正。
  7. 如請求項1所述之畫素補償模組,其中根據來自該輸入影像資料之一影像特徵常數,該補償增益確定單元對該劣化區域所包含之畫素的最終補償資料的最小值進行調整或對該相鄰劣化區域所包含之畫素的最終補償資料的最大值進行調整。
  8. 如請求項1所述之畫素補償模組,其中當該劣化區域所包含之畫素的劣化資料大於或等於預設的一補償參考值時,該補償增益確定單元將該劣化區域中所包含之畫素的該第一補償增益確定為0。
  9. 一種用於校正分配至畫素之補償資料的畫素補償方法,係包含:依據一顯示面板所包含之多個畫素的每一畫素所對應的劣化資料檢測一劣化區域;確定至少一個第一補償增益與一第二補償增益,其中該至少一個第一補償增益用於校正該劣化區域所包含之畫素的補償資料,該第二補償增益用於校正距離該劣化區域之外圍畫素第一預設距離範圍內的一相鄰劣化區域所包含之畫素的補償資料;以及用該至少一個第一補償增益校正該劣化區域所包含之畫素的補償資料的至少一個,並用該第二補償增益校正一相鄰劣化區域內所包含之畫素的補償資料。
  10. 如請求項9所述之畫素補償方法,其中檢測該劣化區域之步驟包含:依據該劣化資料確定該等畫素中之每一畫素是否為一劣化畫素;當多個相鄰的劣化畫素之數量大於或等於一預設的劣化區域參考值時,將包含有該等相鄰的劣化畫素的一區域確定為該劣化區域。
  11. 如請求項9所述之畫素補償方法,其中檢測該劣化區域之步驟包含:透過向一預定檢測區域所包含之畫素的劣化資料施加一檢測遮罩來計算一劣化差異值並根據該劣化差異值檢測該劣化區域。
  12. 如請求項9所述之畫素補償方法,其中確定該至少一個第一補償增益與該第二補償增益之步驟包含:確定該第一補償增益,藉以在從該劣化區域之邊緣畫素向該劣化區域之中心畫素移動過程中減少該劣化區域所包含之該等畫素的最終補償資料之大小。
  13. 如請求項9所述之畫素補償方法,其中該相鄰劣化區域包含:一第一相鄰劣化區域,係位於距離該劣化區域之外圍畫素一第二預設距離的範圍內;及一第二相鄰劣化區域,係位於該第一相鄰劣化區域的外圍畫素與該相鄰劣化區域的外圍畫素之間,以及其中確定該至少一個第一補償增益與該第二補償增益之步驟包含:確定該第二補償增益,當從該劣化區域之邊緣畫素向該第一相鄰劣化區域之邊緣畫素移動時,增大該第一相鄰劣化區域所包含畫素之最終補償資料的大小;並且確定該第二補償增益,當從該第一相鄰劣化區域之邊緣畫素向該第二相鄰劣化區域之邊緣畫素移動時,減小該第二相鄰劣化區域所包含畫素之最終補償資料的大小。
  14. 如請求項9所述之畫素補償方法,其中校正補償資料之步驟包含:依據由輸入影像資料產生之一影像特徵常數確定是對該劣化區域中所包含之畫素的該補償資料進行校正還是對該相鄰劣化區域所包含之畫素的該補償資料進行校正。
  15. 如請求項9所述之畫素補償方法,其中確定該至少一個第一補償增益與該第二補償增益之步驟包含:根據來自該輸入影像資料之一影像特徵常數對該劣化區域所包含之畫素的最終補償資料的最小值進行調整或對該相鄰劣化區域所包含之畫素的最終補償資料的最大值進行調整。
  16. 如請求項9所述之畫素補償方法,其中確定該至少一個第一補償增益與該第二補償增益之步驟包含:當該劣化區域所包含之畫素的劣化資料大於或等於預設的一補償參考值時,將畫素的該第一補償增益確定為0。
  17. 一種顯示裝置,包含如請求項1至8中任意一項所述之畫素補償模組。
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