TW201727807A - 晶體管搬運檢測之結構 - Google Patents

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Abstract

本發明為一種晶體管搬運檢測之結構，包含中心轉盤、上蓋盤部、上通氣道、下蓋盤部以及下通氣道，其中心轉盤之周緣設有多個承載槽，其中各承載槽之槽面由中心轉盤之一側向中心轉盤之另一側之間形成階梯狀，在上蓋盤部與中心轉盤之間形成上通氣道，及在下蓋盤部與中心轉盤之另一側之間形成下通氣道，並藉由上通氣道真空吸氣及下通氣道吹氣，讓有接腳的晶體管或無接腳的晶體管保持在懸空的狀態，以減少搬運所產生的摩擦。

Description

晶體管搬運檢測之結構
本發明係為一種晶體管搬運檢測之結構，特別為一種晶體管搬運檢測之承載中心轉盤結構，讓有接腳的晶體管或無接腳的晶體管保持在懸空的狀態，以減少搬運所產生的摩擦。
在電子元件製程中，因各製程步驟間無法避免的原因而產生缺陷，因此為維持產品品質的穩定，需針對生產之電子元件各製程步驟持續改良，以達到提升電子元件製程良率以及可靠度之目的。
在搬運電子元件的技術上，現有砲塔式搬運結構，係利用吸嘴真空吸附搬運有接腳的晶體管或無接腳的晶體管時，此結構除速度慢、容易掉料及不易維修外，更有因搬運時容易造成有接腳的晶體管或無接腳的晶體管與機台摩擦而受損之缺點，因此不但減緩整體電子元件搬運的速度和增加工時外，亦無法精準掌握精確的電子元件的完整無缺，因此一擁有效率的搬運且兼顧保持電子元件良率之搬運機構，為各方所期盼達成及欲解決之課題。
由此可見，上述現有電子元件搬運檢測之結構仍有諸多缺失，實非一良善之設計，而亟待加以改良。
有鑑於上述現有技術之問題，本發明之目的在提供一種晶體管搬運檢測之結構，以減少搬運有接腳的晶體管或無接腳的晶體管產生的摩擦。
本發明提供一種晶體管搬運檢測之結構，包含中心轉盤、上蓋盤部、上通氣道、下蓋盤部以及下通氣道，其中心轉盤之周緣設有多個承載槽，其中各承載槽之槽面由中心轉盤之一側向中心轉盤之另一側之間形成階梯狀，或是由中心轉盤之一側向中心轉盤之另一側之間設有一第一階層，或更進一步設有一第二階層，上蓋盤部設置於中心轉盤之一側一距離處，並在上蓋盤部與中心轉盤之間形成上通氣道，下蓋盤部設置於中心轉盤之另一側一距離處，並在下蓋盤部與中心轉盤之間形成下通氣道。
其中，本發明之上通氣道係保持真空吸氣，以及下通氣道係保持吹氣，此有助於搬運中的有接腳的晶體管或無接腳的晶體管於承載槽內保持懸浮的狀態，以減少搬運所產生的摩擦。
相較於現有技術中的吸嘴真空吸附，速度慢容易掉料，不易維修之缺點。本發明利用改良齒輪式的中心轉盤的承載槽來搬運有接腳的晶體管或無接腳的晶體管，並藉由中心轉盤上方上通氣道真空吸氣及中心轉盤下方的下通氣道吹氣，配合階梯狀的承載槽，讓有接腳的晶體管或無接腳的晶體管保持在懸空的狀態，以減少搬運所產生的摩擦。
上列詳細說明係針對本發明之一可行實施例之具體說明，惟該實施例並非用以限制本發明之專利範圍，凡未脫離本發明技藝精神所為 之等效實施或變更，均應包含於本案之專利範圍中。
綜上所述，本案不但在空間型態上確屬創新，並能較習用物品增進上述多項功效，應已充分符合新穎性及進步性之法定發明專利要件，爰依法提出申請，懇請 貴局核准本件發明專利申請案，以勵發明，至感德便。
100‧‧‧中心轉盤
200‧‧‧上蓋盤部
300‧‧‧上通氣道
400‧‧‧下蓋盤部
500‧‧‧下通氣道
600‧‧‧有接腳的晶體管
700‧‧‧無接腳的晶體管
110‧‧‧承載槽
111‧‧‧第一階層
112‧‧‧第二階層
圖1為本發明之晶體管搬運檢測之結構之示意圖。
圖2為本發明之晶體管搬運檢測之結構之側視示意圖。
圖3為本發明之另一晶體管搬運檢測之結構之示意圖。
圖4為本發明之另一晶體管搬運檢測之結構之側視示意圖。
為利 貴審查委員了解本發明之技術特徵、內容與優點及其所能達到之功效，茲將本發明配合附圖，並以實施例之表達形式詳細說明如下，而其中所使用之圖式，其主旨僅為示意及輔助說明書之用，未必為本發明實施後之真實比例與精準配置，故不應就所附之圖式的比例與配置關係解讀、侷限本發明於實際實施上的權利範圍，合先敘明。
請參閱圖1及圖2，係為本發明之晶體管搬運檢測之結構之示意圖及側視示意圖。如圖所示，本發明之晶體管搬運檢測之結構，包含中心轉盤100、上蓋盤部200、上通氣道300、下蓋盤部400以及下通氣道500，其中心轉盤100之周緣設有多個承載槽110，其中各承載槽100之槽 面由中心轉盤100之一側向中心轉盤100之另一側之間有一第一階層111以及一第二階層112，上蓋盤部200與中心轉盤100相距一距離設置，並在上蓋盤部200與中心轉盤100之間形成保持真空吸氣的上通氣道300，下蓋盤部400與中心轉盤100相距一距離設置，並在下蓋盤部400與中心轉盤100之間形成保持吹氣的下通氣道500。
請再次參閱圖2，當有接腳的晶體管600由輸送帶導入本發明之晶體管搬運檢測之結構後，首先進入中心轉盤100的承載槽110中，其有接腳的晶體管600之主體對應被置入第一階層111以及一第二階層112間，而有接腳的晶體管600之接腳則對應被置入第二階層112中，並配合下通氣道500持續吹氣將有接腳的晶體管600浮起，以及配合上通氣道300的真空吸氣保持有接腳的晶體管600之浮起穩定性，而使有接腳的晶體管600保持懸空的狀態，此特色在於利用保持懸空的狀態的搬運，以減少有接腳的晶體管600與晶體管搬運檢測之結構之間所產生的摩擦，保持有接腳的晶體管600良好及完整度。
請參閱圖3及圖4，係為本發明之另一晶體管搬運檢測之結構之示意圖及側視示意圖。如圖所示，本發明之晶體管搬運檢測之結構，包含中心轉盤100、上蓋盤部200、上通氣道300、下蓋盤部400以及下通氣道500，其中心轉盤100之周緣設有多個承載槽110，其中各承載槽100之槽面由中心轉盤100之一側向中心轉盤100之另一側之間有一第一階層111，上蓋盤部200與中心轉盤100相距一距離設置，並在上蓋盤部200與中心轉盤100之間形成保持真空吸氣的上通氣道300，下蓋盤部400與中心 轉盤100相距一距離設置，並在下蓋盤部400與中心轉盤100之間形成保持吹氣的下通氣道500。
請再次參閱圖4，當無接腳的晶體管700由輸送帶導入本發明之另一晶體管搬運檢測之結構後，首先進入中心轉盤100的承載槽110中，其無接腳的晶體管700之主體對應被置入第一階層111間，並配合下通氣道500持續吹氣將無接腳的晶體管700浮起，以及配合上通氣道300的真空吸氣保持無接腳的晶體管700之浮起穩定性，而使無接腳的晶體管700保持懸空的狀態，此特色在於利用保持懸空的狀態的搬運，以減少無接腳的晶體管700與晶體管搬運檢測之結構之間所產生的摩擦，保持無接腳的晶體管700良好及完整度。
綜上所述，本案不僅於技術思想上確屬創新，並具備習用之傳統方法所不及之上述多項功效，已充分符合新穎性及進步性之法定發明專利要件，爰依法提出申請，懇請 貴局核准本件發明專利申請案，以勵發明，至感德便。
100‧‧‧中心轉盤
200‧‧‧上蓋盤部
400‧‧‧下蓋盤部
110‧‧‧承載槽
111‧‧‧第一階層
112‧‧‧第二階層

Claims (9)

  1. 一種晶體管搬運檢測之結構，包含：一中心轉盤，該中心轉盤之周緣設有複數個承載槽，其中各該承載槽之槽面由該中心轉盤之一側向該中心轉盤之另一側之間形成階梯狀；一上蓋盤部，該上蓋盤部係設於該中心轉盤之一側一距離處；一上通氣道，該上通氣道係設於該上蓋盤部與該中心轉盤之一側之間；一下蓋盤部，該下蓋盤部係設於該中心轉盤之另一側一距離處；以及一下通氣道，該下通氣道係設於該下蓋盤部與該中心轉盤之另一側之間。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之晶體管搬運檢測之結構，其中各該承載槽之槽面由該中心轉盤之一側向該中心轉盤之一側之間設有一第一階層。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之晶體管搬運檢測之結構，其中各該承載槽之槽面由該中心轉盤之一側向該中心轉盤之一側之間依序設有一第一階層及一第二階層。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之晶體管搬運檢測之結構，其中該上通氣道係保持真空吸氣狀態。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之晶體管搬運檢測之結構，其中該下通氣道係保持吹氣狀態。
  6. 一種晶體管搬運檢測之結構，包含：一中心轉盤，該中心轉盤之周緣設有複數個承載槽，其中各該承載槽之槽面由該中心轉盤之一側向該中心轉盤之另一側之間設有一第一階層； 一上蓋盤部，該上蓋盤部係設於該中心轉盤之一側一距離處；一上通氣道，該上通氣道係設於該上蓋盤部與該中心轉盤之一側之間；一下蓋盤部，該下蓋盤部係設於該中心轉盤之另一側一距離處；以及一下通氣道，該下通氣道係設於該下蓋盤部與該中心轉盤之另一側之間。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之晶體管搬運檢測之結構，其中該上通氣道係保持真空吸氣狀態，以及該下通氣道係保持吹氣狀態。
  8. 一種晶體管搬運檢測之結構，包含：一中心轉盤，該中心轉盤之周緣設有複數個承載槽，其中各該承載槽之槽面由該中心轉盤之一側向該中心轉盤之另一側之間依序設有一第一階層及一第二階層；一上蓋盤部，該上蓋盤部係設於該中心轉盤之一側一距離處；一上通氣道，該上通氣道係設於該上蓋盤部與該中心轉盤之一側之間；一下蓋盤部，該下蓋盤部係設於該中心轉盤之另一側一距離處；以及一下通氣道，該下通氣道係設於該下蓋盤部與該中心轉盤之另一側之間。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之晶體管搬運檢測之結構，其中該上通氣道係保持真空吸氣狀態，以及該下通氣道係保持吹氣狀態。
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