TW201606279A - 檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法 - Google Patents

Abstract

本發明之檢測裝置DA1包含有：支撐體B1，具有支撐光學薄膜OP1的第一面OP1a之支撐面B1a，並於支撐面B1a內的至少一部分具有反射面RS1；光源部IL1，朝向位於反射面RS1上之光學薄膜OP1而從光學薄膜OP1的第二面OP1b側照射光；攝影部CM1，從光學薄膜OP1的第二面OP1b側攝影位於反射面RS1上之光學薄膜OP1的反射光像；以及圖案檢測部IP1，依據光學薄膜OP1的反射光像，檢測位於反射面RS1上之偏光圖案行OP12a、OP12b。

Description

檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法

本發明係關於檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法。

本申請案依據2014年6月30日於日本申請之日本特願2014-134351號主張優先權，並於此援用內容。

就顯示立體圖像之方式而言，已知有稱為FPR(Film Patterned Retarder，薄膜式偏光)方式之方式。在FPR方式之3D液晶顯示器中，為了分離右眼用圖像及左眼用圖像，係在液晶面板的表面配置稱為FPR薄膜之圖像化相位差薄膜(請參閱專利文獻1)。

FPR薄膜係包含有左眼用偏光圖案行及右眼用偏光圖案行。右眼用偏光圖案行與左眼用偏光圖案行係對應於液晶面板的右眼用畫素行與左眼用畫素行而交互配置。右眼用偏光圖案行與左眼用偏光畫素行，其慢軸的方向為互相垂直。在配置有右眼用偏光圖案行與左眼用偏光圖案行之主動區域的外側，亦有配置定位用的偏光圖案 行之情形。

[先前技術文獻] [專利文獻]

專利文獻1：日本特開2012-32445號公報

於FPR薄膜係以細微的寬度形成有多數個偏光圖案行。因此，在將FPR薄膜切斷成預定的寬度或形狀，或在將FPR薄膜貼合於液晶面板時，必須正確地檢測偏光圖案行的位置，並依據該位置將FPR薄膜予以定位。

例如，於專利文獻1中，記載有從FPR薄膜的下面側照射光，並從FPR薄膜的上面側以攝影機進行攝影之裝置，作為偏光圖案行的檢測裝置。

在FPR薄膜與光源之間配置有偏光板，於FPR薄膜與攝影機之間係自FPR薄膜側開始依序配置相位差板(1/4波長板)與偏光板。右眼用偏光圖案行與左眼用偏光圖案行係沿著薄膜的長邊方向延伸。該等偏光圖案行係隨著FPR薄膜的拉出及搬運而連續地被檢測。

然而，就專利文獻1的構成而言，由於在FPR薄膜的下面側設置光源，故在FPR薄膜的下面側無法配置支撐體。因此，FPR薄膜必須在未由支撐體支撐之不穩定的位置進行偏光圖案行的檢測。雖亦考量在支撐體設置貫穿孔，惟僅靠通過貫穿孔之光，並無法充分的照亮FPR 薄膜。

再者，在FPR薄膜的最表面係設有防護膜 或分隔膜等保護薄膜。保護膜具有雙折射性，會產生未預期之相位差。若保護膜不存在，則右眼用偏光圖案行與左眼用偏光圖案行會作為亮圖案與暗圖案而被顯示，惟在保護膜存在時，則亮圖案與暗圖案的對比會降低，而無法明確地區別兩圖案。因此，在進行光學測量前，必須進行剝離保護膜之作業。

再者，FPR薄膜雖貼合於液晶面板的顯示面 側之偏光板的表面，惟在最近亦研討將偏光板與FPR薄膜一體成形之偏光板一體型FPR薄膜貼合於液晶面板的表面。在該構成中，會由於偏光板面內的光學軸的偏差，導致上述亮圖案與暗圖案的對比更加降低，而更加難以區別兩圖案。

本發明之目的在於提供能夠精密度良好地 檢測偏光圖案行之檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法。

本發明第一形態之檢測裝置係檢測光學薄膜的複數個偏光圖案行之檢測裝置，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層、及偏光片層，該檢測裝置係包含：支撐體，具有支撐前述光學薄膜的前述第一面之支撐面，並於前述支撐面內的至少 一部分具有將從前述第二面側往前述第一面側穿透前述光學薄膜之光反射之反射面；光源部，朝向位於前述反射面上之前述光學薄膜而從前述光學薄膜的前述第二面側照射光；攝影部，從前述光學薄膜的前述第二面側攝影位於前述反射面上之前述光學薄膜的反射光像；以及圖案檢測部，依據前述光學薄膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上之前述複數個偏光圖案行。

本發明之第一形態之檢測裝置中，前述圖 案檢測部可依據前述複數個偏光圖案行的反射光像的亮度或顏色之差異，檢測前述複數個偏光圖案行。

本發明之第二形態之檢測裝置，係檢測光 學薄膜的複數個偏光圖案行之檢測裝置，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、偏光片層、及包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層，該檢測裝置係包含：支撐體，具有支撐前述光學薄膜的前述第一面之支撐面，並於前述支撐面內的至少一部分具有將從前述第二面側往前述第一面側穿透前述光學薄膜之光予以反射之反射面；光源部，朝向位於前述反射面上之前述光學薄膜而從前述光學薄膜的前述第二面側照射光；偏光板，設於從前述光源部朝向前述光學薄膜之前述光的光路上；攝影部，從前述光學薄膜的前述第二面側攝影位於前述反射面上之前述光學薄膜的反射光像；以及圖案檢測部，依據前述光學薄膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上之前述複數個偏光圖案行。

本發明之第二形態之檢測裝置中，前述圖 案檢測部係可依據前述複數個偏光圖案行的反射光像的亮度或顏色差異而檢測前述複數個偏光圖案行。

本發明之第二形態之檢測裝置中，可包 含：調整部，係調整前述偏光板的偏光軸與前述偏光圖案行的慢軸之相對角度。

本發明之第一形態之檢測方法，係檢測光 學薄膜的複數個偏光圖案行之檢測方法，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層、及偏光片層，該檢出方法係包含：支撐步驟，係藉由支撐體支撐前述光學薄膜的前述第一面，該支撐體具有支撐前述光學薄膜的前述第一面之支撐面，並於前述支撐面內的至少一部分具有將從前述第二面側往前述第一面側穿透前述光學薄膜之光予以反射之反射面；照射步驟，朝向位於前述反射面上之前述光學薄膜而從前述光學薄膜的前述第二面側照射光；攝影步驟，從前述光學薄膜的前述第二面側攝影位於前述反射面上之前述光學薄膜的反射光像；以及圖案檢測步驟，依據前述光學薄膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上之前述複數個偏光圖案行。

本發明之第一形態之檢測方法中，前述圖 案檢測步驟可依據前述複數個偏光圖案行的反射光像的亮度或顏色之差異，檢測前述複數個偏光圖案行。

本發明之第二形態之檢測方法，係檢測光 學薄膜的複數個偏光圖案行之檢測方法，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、偏光片層、及包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層，該檢測方法係包含：支撐步驟，係藉由支撐體支撐前述光學薄膜的前述第一面，該支撐體具有支撐前述光學薄膜的前述第一面之支撐面，並於前述支撐面內的至少一部分具有將從前述第二面側往前述第一面側穿透前述光學薄膜之光予以反射之反射面；照射步驟，朝向位於前述反射面上之前述光學薄膜而從前述光學薄膜的前述第二面側隔著偏光板照射光；攝影步驟，從前述光學薄膜的前述第二面側攝影位於前述反射面上之前述光學薄膜的反射光像；以及圖案檢測步驟，依據前述光學薄膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上之前述複數個偏光圖案行。

本發明之第二形態之檢測方法中，前述圖 案檢測步驟係可依據前述複數個偏光圖案行的反射光像的亮度或顏色差異而檢測前述複數個偏光圖案行。

本發明之第二形態之檢測方法中，可包 含：調整步驟，係調整前述偏光板的偏光軸與前述偏光圖案行的慢軸之相對角度。

本發明之第一形態之處理裝置係使用本發 明之第一形態之檢測裝置檢測光學薄膜的複數個偏光圖案行，並依據前述偏光圖案行的位置對前述光學薄膜進行預定處理，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有 相位差層、包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層、及偏光片層。

本發明之第二形態之處理裝置係使用本發 明之第二形態之檢測裝置檢測光學薄膜的複數個偏光圖案行，並依據前述偏光圖案行的位置對前述光學薄膜進行預定處理，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、偏光片層、及包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層。

本發明之第一形態之處理方法係使用本發 明之第一形態之檢測方法檢測光學薄膜的複數個偏光圖案行，並依據前述偏光圖案行的位置對前述光學薄膜進行預定處理，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層、及偏光片層。

本發明之第二形態之處理方法係使用本發 明之第二形態之檢測方法檢測光學薄膜的複數個偏光圖案行，並依據前述偏光圖案行的位置對前述光學薄膜進行預定處理，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、偏光片層、及包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層。

另外，本發明之「對光學薄膜進行預定的處理」，是指依據偏光圖案行的位置而控制光學薄膜相對於被貼合物的位置，或是在對光學薄膜進行切割加工時控制光學薄膜的寬度方向之蛇行。

依據本發明，可提供能夠精密度良好地檢測偏光圖案行之檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法。

13‧‧‧貼合裝置(處理裝置)

25、70‧‧‧控制裝置

32‧‧‧貼合筒(支撐體)

32a‧‧‧保持面(支撐面)

35、36、62、U1、U2‧‧‧攝影單元

35a、62a、IL1、IL2‧‧‧光源部

35b、62b、CM1、CM2‧‧‧攝影部

39、RS1、RS2‧‧‧反射面

41‧‧‧貼合台

42‧‧‧驅動裝置

50‧‧‧縫隙加工裝置(處理裝置)

51‧‧‧薄膜供應部

52、53‧‧‧薄膜捲繞部

54‧‧‧廢材捲繞部

55‧‧‧第一蛇行控制部

56‧‧‧第二蛇行控制部

57‧‧‧第二檢測裝置

58‧‧‧切斷部

61、66、B1、B2‧‧‧支撐體

61a、B1a、B2a‧‧‧支撐面

62c、PLF‧‧‧偏光板

63、PLR‧‧‧調整部

64‧‧‧第一導輥

65‧‧‧第二導輥

AC‧‧‧主動區域

DA1、DA2、DA3、DA4‧‧‧檢測裝置

EGP‧‧‧角部的位置

Ep1‧‧‧起點

Ep2‧‧‧終點

F1、F2、OP1、OP2、OP3、OP45‧‧‧光學薄膜

FA‧‧‧保持區域

FCL‧‧‧搬運路徑

IP1、IP2、IP3、IP4‧‧‧圖案檢測部

Lc‧‧‧攝影機間距離

Le‧‧‧起點/終點偏差

OP1a、OP2a‧‧‧第一面

OP1b、OP2b‧‧‧第二面

OP11、OP21、OP31、OP41‧‧‧相位差層

OP12、OP23、OP35‧‧‧圖案化相位差層

OP12a、OP12b、OP23a、OP23b、APAa、APAb、DPAa、DPAb‧‧‧偏光圖案行

OP13、OP22、OP37‧‧‧偏光片層

OP33‧‧‧基材層

OP35a‧‧‧第一偏光圖案行

OP35b‧‧‧第二偏光圖案行

OP36‧‧‧第一接著層

OP38‧‧‧第二接著層

OP39‧‧‧偏光片保護層

OP40‧‧‧黏接層

OPC1、OPC2、OP42‧‧‧光學薄膜本體部

P‧‧‧液晶面板

PLAX、PLAX1‧‧‧偏光軸

PLAX2‧‧‧偏光板的偏光軸

Pm、Pm1、Pm2、Pm3‧‧‧標記

R1、R2、R3‧‧‧原生組構輥

RTAX‧‧‧偏光圖案行的慢軸

SR‧‧‧周邊區域

第1圖係本發明之第一實施形態之檢測裝置之概略圖。

第2圖係本發明之第二實施形態之檢測裝置之概略圖。

第3圖係顯示光學薄膜的一例之剖面圖。

第4圖係顯示光學薄膜的反射光像的光量分布及色分布之圖。

第5圖係顯示本發明之第三實施形態之檢測裝置之概略圖。

第6圖係說明液晶面板與光學薄膜的相對貼合位置的調整方法之圖。

第7A圖係說明使用貼合鼓輪進行光學薄膜對於液晶面板之貼合步驟之圖。

第7B圖係說明使用貼合鼓輪進行光學薄膜對於液晶面板之貼合步驟之圖。

第8圖係本發明第四實施形態之檢測裝置之概略圖。

第9圖係顯示光學薄膜的一例之俯視圖。

第10圖係切割加工裝置之概略圖。

[第一實施形態]

第1圖係本發明之第一實施形態之檢測裝置DA1之概略圖。

本實施形態之檢測裝置DA1包含有支撐體B1、攝影單元U1、以及圖案檢測部IP1。檢測裝置DA1對包含於光學薄膜OP1之偏光圖案行OP12a、OP12b進行檢測。

光學薄膜OP1係至少含有相位差層OP11、圖案化相位差層OP12、以及偏光片層OP13。相位差層OP11、圖案化相位差層OP12、以及偏光片層OP13，係依上述順序從光學薄膜OP1的第一面(由支撐體B1所支撐之側之面)OP1a側往第二面(與支撐體B1所支撐之側相反側之面)OP1b側設置。光學薄膜OP1中，除了相位差層OP11以外之部分，為光學薄膜本體部OPC1。

圖案化位相位差層OP12係包含有慢軸RTAX的方向彼此不同之複數個偏光圖案行OP12a、OP12b。圖案化相位差層OP12係包含例如慢軸RTAX的方向互相正交之第一偏光圖案行OP12a與第二偏光圖案行OP12b。從光學薄膜OP1的法線方向觀看，第一偏光圖案行OP12a的慢軸RTAX係例如相對於偏光片層OP13的偏光軸(穿透軸)PLAX呈現向右轉45°之角度。從光學薄膜OP1的法線方向觀看，第二偏光圖案行OP12b的慢軸RTAX係例如相對於偏光片層OP13的偏光軸PLAX呈現向左轉45° 之角度。第一偏光圖案行OP12a與第二偏光圖案行OP12b係朝與其長邊方向正交之方向交互地配置。

相位差層OP11係以對於光學薄膜本體部 OPC1可剝離之方式設置，以作為光學薄膜本體部OPC1的保護膜(防護膜)。保護膜通常是藉由二軸延伸而製造，並具有雙折射性。保護膜相較於圖案化相位差層OP12及偏光片層OP13等，其相位差並未被充分地控制。因此，保護膜會對穿透圖案化相位差層OP12後之光賦予非預期之相位差。如此之相位差由於會使光學測量的精密度降低，故必須加以排除，惟在本實施形態中係積極地利用如此之相位差，來進行偏光圖案行OP12a、OP12b的檢測。針對此點係於後述。

光學薄膜OP1亦可包含有相位差層OP11、 圖案化相位差層OP12及偏光片層OP13以外之層。例如，可使用第3圖所示之光學薄膜OP3的一部分或全部作為光學薄膜OP1。

第3圖之光學薄膜OP3係在厚度方向依序 包含有第一相位差層(防護膜)OP31、基材層OP33、光定向層OP34、圖案化相位差層OP35、第一接著層OP36、偏光片層OP37、第二接著層OP38、偏光片保護層OP39、黏接層OP40及第二相位差層(分隔薄膜)OP41。光學薄膜OP3中，第一相位差層OP31與第二相位差層OP41以外之部分，為光學薄膜本體部OP42。

第一相位差層OP31係對應於第1圖之相位 差層OP11，圖案化相位差層OP35對應於第1圖之圖案化相位差層OP12，偏光片層OP37對應於第1圖之偏光片層OP13，光學薄膜本體部OP42對應於第1圖之光學膜博本體部OPC1。在本實施形態中，例如使用從光學薄膜OP3剝離第二相位差層OP41而得到之光學薄膜OP45作為光學薄膜OP1。

以下，說明光學薄膜OP3之具體構成。

<偏光片層>

偏光片層OP37係使射入之光之中具有某個方向之振盪面之光穿透，並吸收具有與該某個方向正交之振盪面之光。經過偏光片層OP37而射出之光會成為線偏振光。

就偏光片層OP37而言，可利用經由例如下 述步驟而製造之偏光膜：將聚乙烯醇(polyvinyl alcohol)系樹脂膜予以一軸延伸之步驟；以二色性色素將聚乙烯醇系樹脂膜予以染色而吸附二色性色素之步驟；以硼酸水溶液處理吸附了二色性色素之聚乙烯醇系樹脂之步驟；以及於硼酸水溶液之處理後進行水洗之步驟。

聚乙烯醇系樹脂可藉由將聚乙烯乙酯 (polyvinyl acetate)系樹脂予以皂化而製得。聚乙烯乙酯系樹脂可為乙酸乙烯酯的同元聚合物之聚乙烯乙酯，亦可為乙酸乙烯酯與可與其共聚合之共聚物。就可與乙酸乙烯酯共聚合之其他單體而言，可舉例如不飽和羧酸類、烯烴類、乙烯醚類、不飽和磺酸類、具有銨基之丙烯醯胺類等。

就二色性色素而言，可使用碘或二色性有 機染料。在使用碘作為二色性色素時，可採用將聚乙烯醇系樹脂浸漬於含有碘或碘化鉀之水溶液中而進行染色之方法。

聚乙烯醇系樹脂膜的一軸延伸可在以二色 性色素進行染色之前進行，亦可與以二色性色素進行染色時同時進行，亦可在以二色性色素進行染色之後，例如在硼酸處理中進行。

偏光片層OP37的厚度，例如可設成平均厚 度為5μm以上40μm以下。

<圖案化相位差層>

圖案化相位差層OP35係將射入之線偏振光作為二種偏光狀態之光而射出。圖案化相位差層OP35係形成於光定向層OP34上。

光定向層OP34係對於具有液晶性之材料 (以下稱為液晶材料)具有定向限制力。光定向層OP34係使用聚合性的光定向材料而形成。就光定向材料而言，係使用藉由被偏振光曝光而顯現出定向限制力者。藉由在對光定向材料曝光偏振光，而顯現出定向限制力之狀態下使其聚合，而形成維持了定向限制力之光定向層OP34。就如此之光定向材料而言，可採用一般習知之材料。

光定向層OP34例如包含定向限制力的方向 互相正交之第一定向區域及第二定向區域。第一定向區域及第二定向區域係分別朝與光學薄膜OP3的一邊平行之方向以帶狀延伸。第一定向區域及第二定向區域係朝與本身 延伸之方向正交之方向交互地設置。

圖案化相位差層OP35係包含對應於光定向 層OP34的第一定向區域之第一偏光圖案行OP35a、以及對應於第二定向區域之第二偏光圖案行OP35b。第一偏光圖案行OP35a及第二偏光圖案行OP35b係慢軸互相正交。第一偏光圖案行OP35a係使線偏振光變化成第一圓偏光。第二偏光圖案行OP35b係使線偏振光變化成旋轉方向與第一圓偏光不同之第二圓偏光。

圖案化相位差層OP35係使用具有聚合性之 官能基之液晶材料而形成。圖案化相位差層OP35係藉由因應於光定向層OP34所具有之第一定向區域及第二定向區域的定向限制力而將液晶材料朝二方向排列，並且，使液晶材料所具有之聚合性的官能基產生反應，而維持所用之液晶材料的液晶相來使其硬化而製得。就該種聚合性的液晶材料而言，可採用一般所習知之材料。

<基材層>

基材層OP33係被用作為支撐光定向層OP34及圖案化相位差層OP35之基材。光定向層OP34及圖案化相位差層OP35係藉由在基材層OP33的表面塗覆光定向材料及液晶材料而形成。

就基材層OP33的材料而言，可舉例如三醋 酸纖維(TAC)系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、聚乙烯酯系樹脂、聚苯乙烯系樹脂、(甲基)丙烯酸酯系樹脂、包含環狀聚烯烴系樹脂或聚丙烯系樹脂之聚烯烴系樹脂、聚芳基酸酯系 樹脂、聚醯亞胺系樹脂、聚醯胺系樹脂等。

基材層OP33的厚度可設成例如平均厚度為40μm以上100μm以下。

<偏光片保護層>

就偏光片保護層OP39的形成材料而言，可利用與上述之基材層OP33同樣的材料。就這類材料而言，可舉例如三醋酸纖維(TAC)系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、聚乙烯酯系樹脂、聚苯乙烯系樹脂、(甲基)丙烯酸酯系樹脂、包含環狀聚烯烴系樹脂或聚丙烯系樹脂之聚烯烴系樹脂、聚芳基酸酯系樹脂、聚醯亞胺系樹脂、聚醯胺系樹脂等。

偏光片保護層OP39的厚度可設成例如平均厚度為5μm以上80μm以下。

<接著層>

第一接著層OP36及第二接著層OP38的形成材料可舉例如使用以聚乙烯酯系樹脂或胺甲酸乙酯樹脂之組成物為主要成分而溶解於水而得之材料或於水中分散而得之水系接著劑，包含有光硬化性樹脂及光陽離子聚合起始劑等之無溶劑之光硬化性接著劑。就第一接著層OP36及第二接著層OP38的形成材料而言，就製造時的體積收縮較少、厚度控制容易之觀點而言，使用光硬化性接著劑較佳，使用紫外線硬化型接著劑更佳。

就紫外線硬化型接著劑而言，只要是以液狀之可塗覆之狀態下供應，則可利用在以往偏光板的製造中所使用之各種接著劑。就耐候性及聚合性之觀點而言， 紫外線硬化型接著劑係使用包含有陽離子聚合性之化合物作為紫外線硬化性成分之一者為佳，該陽離子聚合性之化合物例如為環氧化合物，更具體而言，為日本特開2004-245925號公報所記載之在分子內不具有芳香環之環氧化合物。

就此類環氧化合物而言，可舉例如將以雙 酚A之二氧化丙烯醚為代表例之芳香族還氧化合物原料之芳香族多羥基化合物予以核氫化，並再予以環氧丙基醚化而製得之氫化環氧化合物、於分子內至少具有一個結合於脂環式環之環氧基之脂環式環氧化合物、以脂肪族多羥基化合物之環氧丙基醚為代表例之脂肪族環氧化合物等。

紫外線硬化型接著劑係除了以環氧化合物 為代表例之陽離子聚合性化合物以外，亦調配有聚合起始劑，尤其是藉由紫外線的照射而產生陽離子種或路易士酸，用以使陽離子聚合性化合物的聚合開始之光陽離子聚合起始劑。再者，紫外線硬化型接著劑亦可調配有藉由加熱而使聚合開始之熱陽離子聚合開始劑、以及其他如光敏化劑等各種添加劑。

第一接著層OP36及第二接著層OP38的形 成材料雖可為相同亦可為不同者，惟就生產性之觀點而言，在可得到適度的接著力之前提下，以使用相同接著劑形成第一接著層OP36及第二接著層OP38為佳。

第一接著層OP36及第二接著層OP38的厚 度可設成例如平均厚度為0.5μm以上5μm以下。

<黏接層>

黏接層OP40係例如用以將光學薄膜OP45貼合於液晶面板的顯示面。就形成黏接層OP40之黏接劑而言，可舉例如以丙烯酸系樹脂、聚矽氧系樹脂、聚酯、聚氨酯、聚醚等作為基礎樹脂之黏接劑。其中，以丙烯酸系樹脂作為基礎樹脂之丙烯酸系黏接劑由於光學性透明性優良，並保持適度的濕性及凝聚力，並且耐候性及耐熱性等優異，而在加熱及加濕之條件下不易產生浮起或剝落等剝離問題，故適於利用。

於構成丙烯酸系黏接劑之丙烯酸系樹脂， 醚部分適合利用具有如甲基、乙基、丁基、或2-乙基己基之碳數20以下之烷基之丙烯酸烷基醚、與具有如(甲基)丙烯酸或(甲基)丙烯酸-2-羥乙酯之官能基之(甲基)丙烯酸系單體之丙烯酸系聚合物。

包含有該種丙烯酸系聚合物之黏接層OP40 係在貼合於液晶面板後若發生不良狀況而必須加以剝離時，不會在玻璃基板產生殘膠，而可比較容易加以剝離。 丙烯酸系聚合物其玻璃轉化溫度較佳為25℃以下，更佳為0℃以下。再者，該丙烯酸系聚合物一般具有10萬以上之重量平均分子量。

黏接層OP40的厚度可設成例如平均厚度為 1μm以上40μm以下。

第一相位差層(防護膜)OP31係與基材層 OP33一起保護圖案化相位差層OP35。第一相位差層OP31 係設成為可對於基材層OP33自由剝離。

第一相位差層OP31係使用於透明樹脂膜形 成黏接、剝離性之樹脂層或附著性之樹脂層，而賦予弱黏接性者。就透明樹脂膜而言，可舉例如聚乙烯對苯二甲酸酯、聚乙烯萘甲醛、聚乙烯、以及聚丙烯等熱可塑性樹脂的壓出膜、將此等材料組合而成的共壓出膜、將此等材料一軸或二軸延伸而成的膜等。就透明樹脂膜而言，較佳係利用透明性及均勻性優良，且廉價之聚乙烯對苯二甲酸酯或聚乙烯的一軸或二軸延伸膜。

就黏接、剝離性之樹脂層而言，可舉例如 丙烯酸系黏接劑、天然橡膠系黏接劑、苯乙烯-丁二烯共聚合樹脂系黏接劑、聚異丁烯系黏接劑、乙烯基醚系樹脂黏接劑、聚矽氧系樹脂黏接劑等。再者，就附著性的樹脂層而言，可舉例如苯乙烯-醋酸乙烯共聚合樹脂等。就黏接、剝離性之樹脂層而言，使用透明性優異之丙烯酸系黏接劑較佳。

第一相位差層OP31的厚度可設成例如平均 厚度為15μm以上75μm以下。

<第二相位差層>

第二相位差層(分隔層)OP41係覆蓋黏接層OP40而保護黏接層OP40。第二相位差層OP41係以可對於黏接層OP40自由剝離之方式設置。就第二相位差層OP41而言，可用與第一相位差層OP31同樣的透明樹脂膜。

第二相位差層OP41的厚度可設成例如平均 厚度為15μm以上75μm以下。

回到第1圖，支撐體B1具有支撐光學薄膜 OP1的第一面OP1a之支撐面B1a。支撐體B1係於支撐面B1a內的至少一部分具有反射面RS1，該反射面RS1係將從第二面OP1b側朝第一面OP1a側穿透光學薄膜OP1之光予以反射。反射面RS1的材料及構成並未特別限定。反射面RS1係可藉由對支撐體B1的表面進行鏡面加工而形成，亦可藉由在支撐體B1的表面配置金屬反射膜或反射型偏光板等反射構件而形成。再者，可使支撐面B1a整體形成為反射面RS1，亦可僅使支撐面B1a的一部分之區域成為反射面RS1。支撐體B1只要為可穩定地保持光學薄膜OP1者即可。支撐體B1的形狀並未特別限定，可採用板狀、柱狀、筒狀等任意的形狀。支撐面B1a的形狀亦可採用平面、彎曲面等任意的形狀。

攝影單元U1包含有光源部IL1、攝影部 CM1。攝影單元U1係以例如穿透一偏光圖案行而在反射面RS1被反射之光會穿透同一個偏光圖案行並射入攝影部CM1之方式，使光源部1L1與攝影部CM1接近且一體地加以保持。

光源部IL1係朝向位於反射面RS1上之光學 薄膜OP1，從光學薄膜OP1的第二面OP1b側照射光。就光源部IL1而言，可利用LED等周知的光源。光源部IL1雖例如朝光學薄膜OP1照射白色光，惟光源部IL1所照射之光並不限於此。在本實施形態中，因應於相位差層 OP11、圖案化相位差層OP12及偏光片層OP13的相位差及波長分散特性等，而可從光源部IL1照射適當波長之光。

攝影部CM1係從光學薄膜OP1的第二面 OP1b側攝影位於反射面RS1上之光學薄膜OP1的反射光像。就攝影部CM1而言，可利用CCD攝影機等周知的攝影手段。

圖案檢測部IP1係依據光學薄膜OP1的反射 光像，檢測位於反射面RS1上之偏光圖案行OP12a、OP12b，並抽出偏光圖案行OP12a、OP12b的邊界線的位置資訊。就圖案檢測部IP1而言，可使用周知之圖像處理手段。藉由攝影部CM1所攝影之反射光像的圖像訊號會由圖案檢測部IP1轉換成數位資料化之圖像資料，並施加色抽出處理或二值化處理等周知的圖像處理。

第一偏光圖案行OP12a及第二偏光圖案行 OP12b之相對於偏光片層OP13的偏光軸PLAX之慢軸RTAX所呈之方向為彼此不同。因此，穿透偏光片層OP13、圖案化相位差層OP12及相位差層OP11，並由反射面RS1反射，且再度穿透相位差層OP11、圖案化相位差層OP12及偏光片層OP13之光的亮度及顏色，會因是穿透第一偏光圖案行OP12a之光還是穿透第二偏光圖案行OP12b之光而不同。因此，圖案檢測部IP1係依據第一偏光圖案行OP12a及第二偏光圖案行OP12b的反射光像的亮度或顏色之差異，而檢測第一偏光圖案行OP12a及第二偏光圖案行OP12b。

例如第4圖中的(a)及(b)所示，當從光源部 IL1照射白色光時，會產生穿透第一偏光圖案行OP12a並射入攝影部CM1之光為紅色R且光量較大，而穿透第二偏光圖案行OP12b並射入攝影部CM1之光為綠色G且光量較小之現象。圖案檢測部IP1藉由對於反射光像的圖像資料施加色抽出處理或二值化處理等周知的圖像處理，而檢測第一偏光圖案行OP12a及第二偏光圖案行OP12b。色抽出處理及二值化處理雖可選擇其中之一來使用，惟亦可併用兩者。例如，圖案檢測部IP1可抽出在反射光像的圖像資料中具有顯示得較明亮的顏色(在第4圖中例如為紅色R)之部分，並進一步對抽出之圖像資料進行二值化處理，而藉此將第一偏光圖案行OP12a及第二偏光圖案行OP12b作為亮圖案及暗圖案來進行檢測。色抽出處理及二值化處理的演算法已習知有多數種，並不限定於特定之檢測方法。

為了調整複數個偏光圖案行OP12a、OP12b 的反射光像的對比(反射光像的亮度的比)，光源部IL1係亦可照射紅色、綠色等色光。例如在從光源部IL1照射紅色R之光時，不包含紅色R之第二偏光圖案行OP12b的反射光像會成為黑色。藉此，第一偏光圖案行OP12a的反射光像的亮度與第二偏光圖案行OP12b的反射光像的亮度的比(以下稱為「第一偏光圖案行與第二偏光圖案行的反射光像之對比」)變大，第一偏光圖案行OP12a與第二偏光圖案行OP12b的檢測會變得容易。

光源部IL1亦可照射綠色G之光。不過， 就提高第一偏光圖案行OP12與第二偏光圖案行OP12b的反射光像的對比而言，利用照射顯示得更加明亮之顏色(在第4圖中例如為紅色R)之光源部IL1則更為有利。

如上述，第一偏光圖案行OP12a及第二偏 光圖案行OP12b的反射光像的對比會由於射入光學薄膜OP1之光的波長而不同。從光源部IL1照射之光的波長，可設定成第一偏光圖案行OP12a與第二偏光圖案行OP12b的反射光像的對比會比照射白色光之情形相對地較大之波長。

如上述，在本實施形態之檢測裝置DA1 中，使穿透偏光片層OP13及圖案化相位差層OP12之光經由相位差層OP11而射入反射面RS1，並使由反射面RS1所反射之光再度經由相位差層OP11而射入圖案化相位差層OP12及偏光片層OP13。因此，藉由攝影部CM1所攝影之反射光像會與第一偏光圖案行OP12a及第二偏光圖案行OP12b對應地顯示出顏色及亮度不同之複數個圖案行。藉此，只要對該反射光像的圖案資料施加色抽出處理或二值化處理等圖像處理，即可精密度良好地檢測第一偏光圖案行OP12a及第二偏光圖案行OP12b。

例如，在未將相位差層OP11設於圖案化相 位差層OP12與反射面RS1之間時，由攝影部CM1所攝影之反射光像會成為整面黑之圖像。因此，會無法檢測第一偏光圖案行OP12a及第二偏光圖案行OP12b。藉由將相位差層OP11設於圖案化相位差層OP12與反射面RS1之間， 產生從偏光片層OP13漏出之光，該光的顏色及亮度亦會因是穿透第一偏光圖案行OP12a之光還是穿透第二偏光圖案行OP12b之光而不同。

相位差層OP11係相較於圖案化相位差層 OP12及偏光片層OP13等，由於其相位差並未被充分地控制，故在光學測量中常會發生不良之情形。因此，在光學測定前必須要進行如預先剝離相位差層等作業，惟在本實施形態中，是積極地利用相位差層OP11的相位差，而不剝離相位差層OP11來對偏光圖案行OP12a、OP12b進行檢測。藉此，可提供能夠精密度良好且有效率地檢測偏光圖案行OP12a、OP12b之檢測裝置及檢出方法。

[第二實施形態]

第2圖係本發明第二實施形態之檢測裝置DA2之概略圖。

本實施形態之檢測裝置DA2具有支撐體 B2、攝影單元U2、圖案檢測部IP2、及調整部PLR。檢測裝置DA2係檢測包含於光學薄膜OP2之偏光圖案行OP23a、OP23b。

光學薄膜OP2至少包含有相位差層OP21、 偏光片層OP22、圖案化相位差層OP23。從光學薄膜OP2的第一面(由支撐體B2所支撐之側之面)OP2a側朝向第二面(與由支撐體B2所支撐之側之面相反側之面)OP2b側，依序設置相位差層OP21、偏光片層OP22、圖案化相位差層OP23。光學薄膜OP2中，相位差層OP21以外之部分為 光學薄膜本體部OPC2。

圖案化相位差部OP23係包含有慢軸RTAX的方向彼此不同之複數個偏光圖案行OP23a、OP23b。圖案相位差部OP23包含有例如慢軸RTAX的方向互相正交之第一偏光圖案行OP23a及第二偏光圖案行OP23b。從光學薄膜OP2的法線方向觀看，第一偏光圖案行OP23a的慢軸RTAX係例如相對於偏光片層OP22的偏光軸(穿透軸)PLAX1呈現向右轉45°之角度。從光學薄膜OP2的法線方向觀看，第二偏光圖案行OP23b的慢軸RTAX係例如相對於偏光片層OP22的偏光軸PLAX1呈現向左轉45°之角度。第一偏光圖案行OP23a與第二偏光圖案行OP23b係朝與其長邊方向正交之方向交互地配置。

相位差層OP21係以對於光學薄膜本體部OPC2可剝離之方式設置，以作為光學薄膜本體部OPC2的保護膜(分隔膜)。保護膜通常是藉由二軸延伸而製造，並具有雙折射性。保護膜相較於圖案化相位差層OP23及偏光片層OP22等，其相位差並未被充分地控制。因此，保護膜會對穿透圖案化相位差層OP23之光賦予非預期之相位差。如此之相位差由於會使光學測量的精密度降低，故必須加以排除，惟在本實施形態中係積極地利用如此之相位差，來進行偏光圖案行OP23a、OP23b的檢測。針對此點係於後述。

光學薄膜OP2可包含相位差層OP21、偏光片層OP22及圖案化相位差層OP23以外的層。在本實施形 態中例如可使用第3圖所示之光學薄膜OP3作為光學薄膜OP2。此時，第二相位差層OP41對應於第2圖之相位差層OP21，偏光片層OP37對應於第2圖之偏光片層OP22，圖案化相位差層OP35對應於第2圖之圖案化相位差層OP23，光學薄膜本體部OP42對應於第2圖之光學薄膜本體部OPC2。

支撐部B2具有支撐光學薄膜OP2的第一面 OP2a之支撐面B2a。支撐部B1係於支撐面B2a內的至少一部分具有反射面RS2，該反射面RS2係將從第二面OP2b側往第一面OP2a側穿透光學薄膜OP2之光予以反射。反射面RS2的材料及構成並未特別限定。反射面RS2可藉由對支撐體B2的表面進行鏡面加工而形成，亦可藉由於支撐體B2的表面配置金屬反射膜或反射型偏光板等反射構件而形成。再者，可將支撐面B2a整體形成為反射面RS2，亦可僅將支撐面B2a的一部分之區域形成為反射面RS2。

支撐體B2只要是能夠穩定地支撐光學薄膜OP2者即可。支撐體B2的形狀並未特別限定，可採用板狀、柱狀、筒狀等任意的形狀。支撐面B2a的形狀亦可採用平面、彎曲面等任意的形狀。

攝影單元U2包含有光源部IL2、攝影部CM2、及偏光板PLF。攝影單元U2係以例如穿透一偏光圖案行並由反射面RS2所反射之光會穿透同一偏光圖案行並射入攝影部CM2之方式，使光源部IL2與攝影部CM2接近並一體地保持。

光源部IL2係向位於反射面RS2上之光學薄 膜OP2，從光學薄膜OP2的第二面OP2b側照射光。偏光板PLF係設於從光源部IL2朝向光學薄膜OP2之光的光路上。從光源部IL2照射之光會穿透偏光板PLF而轉換成線偏振光。就光源部IL2而言，可利用LED等周知的光源。 光源部IL2雖例如朝光學薄膜OP2照射白色光，惟光源部IL2所照射之光並不限定於此。在本實施形態中，可因應於相位差層OP21、偏光片層OP22、圖案化相位差層OP23及偏光板PLF之相位差及波長分散特性等，而從光源部IL2照射適當波長的光。

攝影部CM2係從光學薄膜OP2的第二面 OP2b側攝影位於反射面RS2上之光學薄膜OP2的反射光像。就攝影部CM2而言，可使用CCD攝影機等周知的攝影手段。

圖案檢測部IP2係依據光學薄膜OP2的反射 光像，檢測位於反射面RS2上之偏光圖案行OP23a、OP23b，並抽出偏光圖案行OP23a、OP23b的邊界線之位置資訊。就圖案檢測部IP2而言，可利用周知的圖像處理手段。由攝影部CM2所攝影之反射光像的圖像訊號，係由圖案檢測部IP2轉換成數位資料化之圖像資料，並施加色抽出處理或二值化處理等周知的圖像處理。

第一偏光圖案行OP23a及第二偏光圖案行 OP23b其對於偏光板PLF的偏光軸(穿透軸)PLAX2之慢軸RTAX所呈之方向彼此不同。因此，穿透偏光板PLF、圖 案化相位差層OP23、偏光片層OP22及相位差層OP21，並由反射面RS2反射，而再度穿透相位差層OP21、偏光片層OP22及圖案化相位差層OP23之光的亮度及顏色，會因是穿透第一偏光圖案行OP23a的光還是穿透第二偏光圖案行OP23b的光而不同。因此，圖案檢測部IP2係依據第一偏光圖案行OP23a及第二偏光圖案行OP23b的反射光像的亮度或顏色之差異，來檢測第一偏光圖案行OP23a及第二偏光圖案行OP23b。

圖案檢測部IP2藉由對反射光像的圖像資料施加色抽出處理或二值化處理等周知的圖像處理，而檢測第一偏光圖案行OP23a及第二偏光圖案行OP23b。色抽出處理及二值化處理雖可選擇使用其中一種，惟亦可併用兩者來使用。例如，圖案檢測部IP2可抽出在反射光像的圖像資料中具有顯示得較明亮的顏色之部分，並進一步對抽出之圖像資料進行二值化處理，而藉此將第一偏光圖案行OP23a及第二偏光圖案行OP23b作為亮圖案及暗圖案來進行檢測。上述色抽出處理及二值化處理的演算法已習知有多數種，並不限定於特定之檢測方法

為了調整複數個偏光圖案行OP23a、OP23b的反射光像的對比(反射光像的亮度的比)，光源部IL2係亦可照射紅色、綠色等色光。第一偏光圖案行OP23a與第二偏光圖案行OP23b的反射光像的對比會因射入光學薄膜OP2之光的波長而不同。自光源部IL2照射來之光的波長可設定成第一偏光圖案行OP23a與第二偏光圖案行OP23b 的反射光像的對比會比照射白色光時相對地變大之方式設定波長。

調整部PLR係調整偏光板PLF的偏光軸 PLAX2與偏光圖案行OP23a、OP23b的慢軸RTAX之相對角度。藉由調整部PLR將相對於偏光板PLF的偏光軸PLAX2之第一偏光圖案行OP23a、及第二偏光圖案行OP23b的慢軸RTAX所呈之角度予以調整，藉此可使第一偏光圖案行OP23a與第二偏光圖案行OP23b的反射光像的非對稱性(顏色及亮度等之差異)變大。藉此，圖案檢測部IP2可精密度良好地檢測位於反射面RS2上之偏光圖案行OP23a、OP23b。

另外，上述偏光板PLF的偏光軸PLAX2與偏光圖案行OP23a、OP23b的慢軸RTAX之相對角度的調整，例如藉由調整部PLR，在將偏光板PLF貼合於可旋轉之治具後，操作員可一面確認光學薄膜OP2的反射光像，一面使貼合於可旋轉之治具之偏光板PLF跟治具一併旋轉。此時，在操作員一面確認光學薄膜OP2的反射光像一面使治具旋轉，而在判斷為第一偏光圖案行OP23a與第二偏光圖案行OP23b的非對稱性變得最大之位置，可進行停止治具旋轉之步驟。另一方面，上述相對角度之調整，亦可藉由調整部PLR以省略圖示之馬達等使治具旋轉而自動地進行。再者，上述對稱角度之調整，雖可在每一次步驟都實施，惟亦可在原生組構輥(請參閱第10圖中的元件符號10)的交換時確認光學薄膜OP2的反射光像，而在該反射光像之非對 稱性較大時不進行相對角度之調整，僅在非對稱性較小圖案辨識不佳時進行調整。

如上述，於本實施形態之檢測裝置DA2 中，亦積極地利用相位差層OP21的相位差，而以不剝離相位差層OP21的方式檢測偏光圖案行OP23a、OP23b。因此，可提供能夠精密度良好且有效率地檢測偏光圖案行OP23a、OP23b之檢測裝置及檢出方法。再者，在本實施形態中，藉由調整部PLR，可使第一偏光圖案行OP23a與第二偏光圖案行OP23b的反射光像的非對稱性變大。藉此，偏光圖案行OP23a、OP23b的檢測精密度變高。

[第三實施形態]

第5圖係本發明實施形態之檢測裝置DA3的概略圖。

第6圖係用以說明調整液晶面板P與光學薄膜F1之相對貼合位置之方法之圖。

第7A圖及第7B圖係用以說明對於液晶面板P之光學薄膜F1之貼合步驟之圖。

如第5圖所示，本實施形態之檢測裝置DA3 包含有支撐體(貼合筒)32、攝影單元35、以及圖案檢測部IP3。檢測裝置DA3係檢測包含於光學薄膜F1之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb(請參閱第6圖)。

如第5圖至第7A圖、第7B圖所示，本實 施形態之檢測裝置DA3係構成依據偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb(請參閱第6圖)的位置(例如，偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置)，將光 學薄膜F1定位於液晶面板P並加以貼合之貼合裝置13的一部分。貼合裝置13係除了檢測裝置DA3以外，亦包含有控制裝置25、驅動裝置42、貼合台41、攝影單元36等。 支撐體32係將保持於保持面32a之光學薄膜F1貼合於液晶面板P之筒狀的貼合構件。因此在以下係將「支撐體」標記成「貼合筒」來進行說明。

光學薄膜F1係與第1圖所示之光學薄膜 OP1同樣地從第一面(由貼合筒32所支撐之側之面)側朝向第二面(與由貼合筒32所支撐之側相反側之面)側依序包含至少相位差層、圖案化相位差層、以及偏光片層。在本實施形態中，例如可使用第3圖所示之光學薄膜OP45作為光學薄膜F1。偏光圖案行APAa及偏光圖案行DPAa係對應於第3圖之第一偏光圖案行OP35a，偏光圖案行APAb及偏光圖案行DPAb係對應於地3圖之第二偏光圖案行OP35b。

如第5圖所示，光學薄膜F1係包含有與液 晶面板P的顯示區域相對向之主動區域AC、及與位於液晶面板P的顯示區域的周邊部之周邊區域相對向之周邊區域SR之葉片狀之薄膜。

如第5圖及第6圖所示，於主動區域AC係 對應於液晶面板P的複數個畫素行而設置有慢軸的方向彼此不同之複數個偏光圖案行DPAa、DPAb。於液晶面板P的顯示區域係交互的配置有顯示右眼用圖像之右眼用畫素行、及顯示左眼用圖像之左眼用畫素行。因此，主動區域 AC係交互地配置有對應於右眼用畫素行之右眼用偏光圖案行DPAa、以及對應於左眼用畫素行之左眼用偏光圖案行DPAb。

周邊區域SR係交互地配置有慢軸的方向與 右眼用偏光圖案行DPAa平行之第一偏光圖案行APAa、及慢軸的方向與左眼用偏光圖案行DPAb平行之第二偏光圖案行APAb。設於周邊區域SR之偏光圖案行APAa、APAb可單獨地，或是與設於主動區域AC之偏光圖案行DPAa、DPAb一起使用作為用以將光學薄膜F1定位於液晶面板P之定位基準。為了容易地進行偏光圖案行APAa、APAb的檢測，例如設於周邊區域SR之偏光圖案行APAa、APAb中至少一個偏光圖案行的寬度，可設成比設於主動區域AC之偏光圖案行DPAa、DPAb的寬度更寬。

如第5圖所示，貼合筒32係具有與光學薄 膜F1的寬度方向平行之圓筒狀的保持面32a。保持面32a係用以支撐光學薄膜F1的第一面(第3圖的第一相位差層OP31的下面)之支撐面。保持面32a例如具有比光學薄膜F1的貼合面(第3圖的黏接層OP40的表面)更弱的黏貼力，而可反覆黏貼、剝離光學薄膜F1的表面保護膜(第3圖的第一相位差層OP31)。貼合筒32例如為藉由在金屬製之筒的外周面捲繞黏貼片而製得者。該黏貼片的表面成為保持面32a。保持面32a的寬度方向中央部為保持光學薄膜F1之保持區域FA。

貼合筒32係於保持面32a內的複數個處所 具有將從第二面側朝第一面側穿透光學薄膜F1之光予以反射之反射面39。反射面39係例如藉由在保持面32a的表面配置金屬反射膜或反射型偏光板等反射構件而形成。

反射面39係設於在保持面32a內配置有成 為定位基準之偏光圖案行之部分。配置反射面39之位置係成為可檢測偏光圖案行之檢測區域。可將在設於保持面32a之複數個檢測區域中的一個或複數個檢測區域所檢測出之偏光圖案行設為定位基準。在本實施形態中，例如於保持區域FA的中央部及兩端部之各者，沿著貼合筒32的旋轉方向以互相等間隔設置相同形狀之複數個反射面39。設於保持區域FA的中央部之反射面39係與光學薄膜F1的主動區域AC的中央部相對向。設於保持區域FA的端部之反射面39係與光學薄膜FA1的主動區域與周邊區域SR之邊界線相對向。

驅動裝置42係使貼合筒32以旋轉軸RA為 中心旋轉，並使貼合筒32朝與旋轉軸RA正交之水平方向及垂直方向移動。驅動裝置42係電性連接於控制裝置25，並由控制裝置25控制驅動裝置42之驅動。

攝影單元35係包含光源部35a、及攝影部35b。攝影單元35以例如穿透一偏光圖案行而在反射面39被反射之光會穿透同一個偏光圖案行並射入攝影部35b之方式，使光源部35a與攝影部35b接近且一體地加以保持。在第5圖中，雖僅簡單地顯示一個攝影單元35，惟攝影單元35可例如對應於反射面39的設置位置，而沿貼合筒32 的寬度方向(與旋轉軸RA平行之方向)設置複數個。再者，亦可設置使攝影單元35沿著貼合筒32的寬度方向移動之移動機構，而藉由一個攝影單元35檢測複數個檢測區域的偏光圖案行。

光源部35a係朝位於反射面39上之光學薄 膜F1，從光學薄膜F1的第二面側照射光。就光源部35a而言，可利用LED等周知之光源。光源部35a雖例如朝光學薄膜F1照射白色光，惟光源部35a所照射之光並不限於此。例如可因應於光學薄膜F1所包含之相位差層、圖案化相位差層及偏光片層的相位差及波長分散特性等，而從光源部35a照射適當波長之光。

攝影部35b係從光學薄膜F1的第二面側攝 影位於反射面39上之光學薄膜F1的反射光像。就攝影部35b而言，可利用CCD攝影機等周知的攝影手段。

圖案檢測部IP3係依據光學薄膜F1的反射 光像，檢測位於反射面39上之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb(請參閱第6圖)，並抽出偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊。就圖案檢測部IP3而言，可使用周知之圖像處理手段。藉由攝影部35b所攝影之反射光像的圖像訊號會由圖案檢測部IP3轉換成數位資料化之圖像資料，並施加色抽出處理或二值化處理等周知的圖像處理。如前述，慢軸方向不同之二個偏光圖案行的反射光像其顏色及亮度會彼此不同。因此，藉由對圖像資料施加色抽出處理或二值化處理等圖像處理，可精 密度良好地檢測偏光圖案。

為了調整複數個偏光圖案行APAa、APAb、 DPAa、DPAb的反射光像的對比(反射光像的亮度的比)，光源部35a係亦可照射紅色、綠色等色光。複數個偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的反射光像的對比會因射入光學薄膜F1之光的波長而不同。自光源部35a照射來之光的波長可設定成複數個偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的反射光像的對比會比照射白色光時相對地變大之方式設定波長。

控制裝置25係取得圖案檢測部IP3所抽出 之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb(請參閱第6圖)的邊界線的位置資訊。控制裝置25係依據偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，確認相對於貼合筒32之光學薄膜F1的配置位置。控制裝置25係依據偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，藉由驅動裝置(未圖示)使貼合台41(請參閱第6圖)分別朝與貼合筒32的旋轉軸RA正交之方向及與貼合筒32的旋轉軸RA平行之方向移動，並藉由旋轉裝置使貼合台41在水平面內旋轉。藉此，為了調整保持於貼合台之液晶面板P與保持在貼合筒32之光學薄膜F1的相對貼合位置而進行定位。

控制裝置25係包含有電腦系統而構成。電 腦系統包含有CPU等演算處理部、及記憶體或硬碟等記憶部。圖案檢測部IP3的功能係藉由演算處理部而實現。控 制裝置25係包含可與電腦系統之外部裝置執行通訊之介面，而統括地控制檢測裝置DA3、驅動裝置42及貼合台41(參閱第6圖)等外部裝置的動作。

以下，使用第6圖，說明液晶面板P與光學 薄膜F1之相對貼合位置的調整方法。在第6圖中，右段之圖係貼合於貼合筒32之光學薄膜F1的配置位置之說明圖，左段之圖係保持於貼合台41之液晶面板P的配置位置之說明圖，下段之圖係貼合台41的調整量之說明圖。在第6圖中，為求簡便而省略反射面39之圖示。

如第6圖之右段所示，藉由攝影單元35攝 影被黏貼保持在保持面32a之光學薄膜F1的角部。於光學薄膜F1係朝與沿著貼合筒32的旋轉軸之一邊平行的方向排列設置有複數個偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb。 攝影單元35係隨著貼合筒32之旋轉來攝影沿著該旋轉方向之光學薄膜F1的一邊的兩角部。

第5圖所示之圖案檢測部IP3係依據攝影單 元35所攝影之光學薄膜F1的角部的反射光像，檢測位於光學薄膜F1的角部之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb，並抽出偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊。再者，圖案檢測部IP3係檢測位於光學薄膜F1的角部之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb之中的特定的2個偏光圖案行(例如，最接近主動區域之周邊區域的2個偏光圖案行APAa、APAb)的邊界線的端部的位置，來作為光學薄膜F1的角部的位置EGP。由圖案檢測 部IP3所檢測出之光學薄膜F1的角部的位置EGP係成為在將光學薄膜F1貼合於液晶面板P時之光學薄膜F1的定位基準。

在以下說明中，將由攝影單元35所攝影之 光學薄膜F1的兩個角部之間的沿著貼合筒32的周方向之距離，稱為攝影機間距離Lc。攝影機間距離Lc係與上述之沿著光學薄膜F1的旋轉方向之一邊的長度大致相等。

例如，隨著貼合筒32的旋轉而光學薄膜F1 移動了相當於攝影機間距離Lc之距離時，光學薄膜F1的角部EGP的位置會從起點Ep1移動至終點Ep2。由攝影單元35及圖案檢測部IP3所檢測出之起點Ep1及終點Ep2之位置資訊係傳送至控制裝置25。如第6圖之下段所示，控制裝置25係依據攝影機間距離Lc、以及與貼合筒32的旋轉軸平行之方向之起點Ep1及終點Ep2之間的距離Le(以下稱為起點/終點偏差Le)，而算出修正角度α(tan α=Le/Lc)。

如第6圖之左段所示，藉由後述之攝影單元 36(請參閱第7A圖及第7B圖)，攝影被保持在貼合台41之液晶面板P的角部。例如，在液晶面板P的各角部附加有標記Pm(例如本實施形態之3個標記Pm1、Pm2、Pm3)。由攝影單元36所檢測出之第一標記Pm1、第二標記Pm2、第三標記Pm3的位置資訊係傳送至控制裝置25。控制裝置25係依據攝影單元36之檢測資訊，控制貼合台41的驅動，而進行保持在貼合台41之液晶面板P的定位。控制裝置 25係依據修正角度α，驅動控制未圖示之旋轉裝置而使貼合台41在水平面內旋轉角度α之角度。藉此，進行對於貼合筒32之液晶面板P之定位。

以下，使用第7A圖及第7B圖，說明以貼合筒32進行之對於液晶面板P之光學薄膜F1的貼合步驟。

如第7A圖所示，控制裝置25係使貼合筒32移動至貼合台41的上方的預定位置。控制裝置25係依據光學薄膜F1的角部EGP的位置資訊、液晶面板P的第一標記Pm1、第二標記Pm2及第三標記Pm3的位置資訊，以光學薄膜F1的右眼用偏光圖案行DPAa及左眼用偏光圖案行DPAb會在平面上重疊於設在液晶面板P之右眼用畫素及左眼用畫素之方式，進行貼合筒32與貼合台41之定位。

控制裝置25係在貼合時藉由使貼合筒32下降，而使黏貼於保持面32a之光學薄膜F1的前端部成為從上方推壓於液晶面板P之端部的狀態。

貼合筒32係以光學薄膜F1成為被推壓於液晶面板P之狀態之方式下降。此時，貼合筒32係藉由使保持於保持面32a之光學薄膜F1推壓於液晶面板並使其旋轉，而將光學薄膜F1貼合於液晶面板P。

如第7B圖所示，控制裝置25係在貼合時，隨著貼合筒32的旋轉，而使貼合台41朝與貼合筒32的旋轉軸正交之方向相對移動。在本實施形態中，貼合筒32係從左向右旋轉，而貼合台41係往紙面右方向移動。另 外，亦可作成為不使貼合台41移動，而一面使貼合筒32旋轉一面使貼合筒32往紙面左方向移動之構成。

例如，同步進行貼合筒32之旋轉驅動及貼 合台41之液晶面板P之移動動作。藉此，可抑制在光學薄膜F1與液晶面板P之間產生摩擦。藉此，使光學薄膜F1相對於液晶面板P抑制偏移並進行貼合。

貼合筒32係例如具有比光學薄膜F1的貼合 面(第3圖之黏接層OP40的表面)更弱的黏貼力，而可反覆黏貼、剝離光學薄膜F1的表面保護膜(第3圖的第一相位差層OP31)，故貼合面被推壓於液晶面板P之光學薄膜F1係從保持面32a剝離並被貼合於液晶面板P側。

雖省略圖示，惟在液晶面板P的與貼合有 光學薄膜F1之面相反側之面係貼合有偏光板或亮度提生膜等光學薄膜。藉此，可提供能夠進行立體顯示之光學顯示裝置。

如上述，在本實施形態之檢測裝置DA3 中，第一實施形態同樣地，能夠精密度良好且有效率地檢測偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb。本實施形態之貼合裝置13係依據由檢測裝置DA3所抽出之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，而進行光學薄膜F1與液晶面板P之定位，故可提高光學薄膜F1與液晶面板P的貼合精密度。藉此，可提供顯示品質優良之光學顯示裝置。

[第四實施形態]

第8圖係第四實施形態之檢測裝置DA4之概略圖。

第9圖係光學薄膜F2的概略構成之俯視圖。

第10圖係縫隙加工裝置50的概略圖。

本實施形態之檢測裝置DA4係包含支撐體 61、攝影單元62、圖案檢測部IP4及調整部63。檢測裝置DA4係檢測光學薄膜F2所包含之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb(參閱第9圖)。

如第8圖至第10圖所示，本實施形態之檢 測裝置DA3係構成沿著縫隙線SL1、SL2、SL3而對光學薄膜F2進行縫隙加工之縫隙加工裝置50的一部分。縫隙加工裝置50係除了檢測裝置(第一檢測裝置)DA4以外，亦包含薄膜供應部51、薄膜捲繞部52、53、廢材捲繞部54、第一蛇行控制部55、第二蛇行控制部56、第二檢測裝置57、切斷部58以及控制裝置70等。

光學薄膜F2係與第2圖所示之光學薄膜 OP2同樣地，從第一面(由支撐體61所支撐之側之面)側朝第二面(與由支撐體61所之稱之側相反側之面)依序包含至少相位差層、偏光片層及圖案化相位差層。在本實施形態中，例如使用第3圖所示之光學薄膜OP3作為光學薄膜F2。

如第9圖所示，光學薄膜F2係於與長邊方 向正交之寬度方向交互的包含有主動區域AC及周邊區域SR之長條狀之薄膜。主動區域AC係例如與第6圖所示之液晶面板P的顯示區域相對向之部分，周邊區域SR係與位於液晶面板P的顯示區域的周邊部之周邊區域相對向之 部分。

光學薄膜F2係具有相對於複數個液晶面板(第9圖之例中為2個)之寬度。使用後述之縫隙加工裝置50(參閱第10圖)，沿著縫隙線SL1、SL2、SL3切斷光學薄膜F2。縫隙線SL1、SL2、SL3係被設定於周邊區域SR內。藉此，光學薄膜F2係被分割成具有相對於一個液晶面板1之框度之複數個長條薄膜。分割所得之一個長條薄膜係被切割成液晶面板P的尺寸，並使用第7A圖及第7B圖所示之貼合裝置13而貼合於液晶面板P。

光學薄膜F2的主動區域AC及周邊區域SR之構成係與第三實施形態所說明者相同。因此，在此係省略其詳細說明。隙縫線SL1、SL2、SL3係例如係設定於設於周邊區域SR之偏光圖案行APAa、APAb的邊界線的位置。

如第8圖所示，支撐體61係具有與光學薄膜F2的寬度方向平行之圓柱狀之支撐面61a。支撐體61係例如為構成光學薄膜F2的搬運路徑FCL(參閱第10圖)之複數個搬運輥中的一個。支撐體61係支撐光學薄膜F2的第一面(第3圖的第二相位差層41的上面)，並隨著光學薄膜F2的搬運旋轉。支撐體61係例如為施加過鏡面加工之金屬製的輥，支撐面61整體為反射面。

攝影單元62係包含有光源部62a、攝影部62b及偏光板62c。攝影單元62係以例如穿透一偏光圖案行並由反射面(支撐面61a)所反射之光會穿透同一偏光圖 案行並射入攝影部62b之方式，使光源部62a與攝影部62b接近並一體地保持。

光源部62a係向位於反射面上之光學薄膜 F2，從光學薄膜F2的第二面(第3圖的第一相位差層OP31的下面)側照射光。偏光板62c係設於從光源部62a朝向光學薄膜F1之光的光路上。從光源部62a照射之光會穿透偏光板62c而轉換成線偏振光。就光源部62a而言，可利用LED等周知的光源。光源部62a雖例如朝光學薄膜F2照射白色光，惟光源部62a所照射之光並不限定於此。例如，可因應於光學薄膜F2所包含之相位差層、圖案化相位差層及偏光片或偏光板62c之相位差及波長分散特性等，而從光源部62a照射適當波長的光。

攝影部62b係從光學薄膜F2的第二面側攝 影位於反射面上之光學薄膜F2的反射光像。就攝影部62b而言，可使用CCD攝影機等周知的攝影手段。

圖案檢測部IP4係依據光學薄膜F2的反射 光像，檢測位於反射面上之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb，並抽出偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb(參閱第9圖)的邊界線之位置資訊。就圖案檢測部IP4而言，可利用周知的圖像處理手段。由攝影部62b所攝影之反射光像的圖像訊號，係由圖案檢測部IP4轉換成數位資料化之圖像資料，並施加色抽出處理或二值化處理等周知的圖像處理。如前述，慢軸方向不同之2個偏光圖案行的反射光像係顏色與亮度彼此不同。因此，藉由對圖像資 料施加色抽出處理或二值化處理等圖像處理，可精密度良好地檢測偏光圖案行。

為了調整複數個偏光圖案行APAa、APAb、 DPAa、DPAb的反射光像的對比(反射光像的亮度的比)，光源部62a係亦可照射紅色、綠色等色光。複數個偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的反射光像的對比會因射入光學薄膜F2之光的波長而不同。自光源部62a照射來之光的波長可設定成複數個偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的反射光像的對比會比照射白色光時相對地變大之方式設定波長。

調整部63係調整偏光板62c的偏光軸與偏 光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb(參閱第9圖)的慢軸之相對角度。藉由調整部63將相對於偏光板62c的偏光軸之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的慢軸所呈之角度予以調整，藉此可使偏光圖案行APAa、DPAa與偏光圖案行APAb、DPAb的反射光像的非對稱性(顏色及亮度等之差異)變大。藉此，圖案檢測部IP4可精密度良好地檢測位於反射面上之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb。

控制裝置70係取得圖案檢測部IP4所抽出 之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊。控制裝置70係依據偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，確認相對於支撐體61之光學薄膜F2之配置位置。控制裝置70係依據偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，檢測相 對於預先設定之行走位置，實際的光學薄膜F2的行走位置有何種程度的偏移。

控制裝置70係以減低光學薄膜F2的行走位置的偏移之方式，藉由第10圖所示之第一蛇行控制部55使薄膜供應部51往與光學薄膜F2的搬運方向正交之寬度方向移動。

控制裝置70係包含有電腦系統而構成。電 腦系統包含有CPU等演算處理部、及記憶體或硬碟等記憶部。圖案檢測部IP4的功能係藉由演算處理部而實現。控制裝置70係包含可與電腦系統之外部裝置執行通訊之介面，而統括地控制第一檢測裝置DA4、薄膜供應部51、薄膜捲繞部52、53、廢材捲繞部54、第一蛇行控制部55、第二蛇行控制部56、第二檢測裝置57及切斷部58等外部裝置的動作。

以下使用第10圖說明縫隙加工裝置50的構成。

薄膜供應部51係保持捲繞光學膜F2之原生組構輥R1，並且將光學薄膜F2往其長邊方向拉出。於從薄膜供應部51拉出之光學薄膜F2的搬運路徑FCL係從搬運方向上游方向依序配置第一蛇行控制部55、第一檢測裝置DA4、第二蛇行控制部56、第二檢測裝置57及切斷部58。

從薄膜供應部51拉出之光學薄膜F2的被拉出瞬間後的行走位置係使用第一檢測裝置DA4予以檢測。第一檢測裝置DA4係檢測設於光學薄膜F2之複數個 偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb(參閱第9圖)。控制裝置70係依據由第一檢測裝置DA4所檢測出之複數個偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的位置(例如，偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置)，而檢測光學薄膜F2的行走位置之偏移，並控制第一蛇行控制部55來控制光學薄膜F2的蛇行。

在由第一蛇行控制部55控制過蛇行之後之 光學薄膜F2的行走位置係由第二檢測裝置57檢測。第二檢測裝置57係檢測設於光學薄膜F2之複數個偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb(參閱第9圖)。控制裝置70係依據由第二檢測裝置57所檢測出之複數個偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的位置(例如，偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置)，而檢測光學薄膜F2的行走位置之偏移，並控制第二蛇行控制部56來控制光學薄膜F2之蛇行。

第一蛇行控制部55係例如依據由第一檢測 裝置DA4及控制裝置70所檢測出之光學薄膜F2的行走位置的偏移，藉由薄膜供應部51使光學薄膜F2被拉出之位置(原生組構輥R1的位置)往光學薄膜F2之寬度方向移動。藉由第一蛇行控制部55將光學薄膜F2的行走位置予以粗淺地控制。

第二檢測裝置57具有與第一檢測裝置DA4 同樣的構成。第二檢測裝置57藉由攝影單元67攝影在支撐體66的反射面被反射之光學薄膜F2的反射光像，並依 據該攝影結果，檢測位於反射面上之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb(參閱第9圖)，並抽出偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線之位置資訊。

控制裝置70係取得第二檢測裝置57所抽出 之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb(參閱第9圖)的邊界線的位置資訊。控制裝置70係依據偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，確認相對於支撐體66之光學薄膜F2之配置位置。控制裝置70係依據偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，檢測相對於預先設定之行走位置，實際的光學薄膜F2的行走位置有何種程度的偏移。控制裝置70係以使光學薄膜F2的行走位置與預先設定之行走位置一致之方式，控制第二蛇行控制部56來調整光學薄膜F2的行走位置。

第二蛇行控部56例如依據第二檢測裝置57 及控制裝置70所檢測出之光學薄膜F2的行走位置之偏移，使支撐光學薄膜F2之第一導輥64及第二導輥65相對於光學薄膜F2的搬運方向傾斜。第一導輥64及第二導輥65係互相使旋轉軸平行而配置。第二蛇行控制部56係使第一導輥64及第二導輥65的旋轉軸的方向相對於光學薄膜F2的行走方向一體地傾斜。藉此，光學薄膜F2的行走位置會往寬度方向被微調整，使光學薄膜F2會在預先設定之行走位置行走。

另外，第二蛇行控制部56亦可為使支撐光 學薄膜F2之一支導輥相對於光學薄膜F2的搬運方向傾斜之構成。

搬運至切斷部58之光學薄膜F2之行走位置 係被第一蛇行控制部55及第二蛇行控制部56精密地控制。第一蛇行控制部55及第二蛇行控制部56的構成並不限於上述之構成。就第一蛇行控制部55而言，較佳為相較於第二蛇行控制部56可更大幅度地調整光學薄膜F2的行走位置者。就第二蛇行控制部56而言，較佳為相較於第一蛇行控制部55可更精密地調整光學薄膜F2的行走位置者。

再者，第一蛇行控制部55、第一檢測裝置 DA4、第二蛇行控制部56及第二檢測裝置57的配置並非限定於上述者。第一檢測裝置DA4可位於第一蛇行控制部55的上游側亦可為下游側。第二檢測裝置57可位於第二蛇行控制部56的上游側亦可為下游側。第二檢測裝置57只要是在比由第一蛇行控制部55控制光學薄膜F2的蛇行之位置更下游側，且在由切斷部58切斷光學薄膜F2之位置更上游側對光學薄膜F2的複數個偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb進行檢測者即可。第二蛇行控制部56只要是在比由第一蛇行控制部55控制光學薄膜F2的蛇行之位置更下游側，且在由切斷部58切斷光學薄膜F2之位置更上游側對光學薄膜F2的蛇行進行控制者即可。

切斷部58係沿著第9圖中所示之縫隙線 SL1、SL2、SL3切斷光學薄膜F2。切斷部58可例如由切斷刀、雷射刀等構成。切斷部58係以與縫隙線SL1、SL2、 SL3的配置間隔相同之間隔，而往光學薄膜的寬度方向配置複數個。控制裝置70係以將縫隙線SL1、SL2、SL3配置於切斷部58之正下方之方式，藉由第一蛇行控制部55及第二蛇行控制部56控制光學薄膜F2的行走位置。切斷部58係在由第一蛇行控制部55及第二蛇行控制部56控制光學薄膜F2的蛇行之位置更下游側，沿著與其搬運方向平行之縫隙線SL1、SL2、SL3切斷光學薄膜F2。

由切斷部58沿寬度方向分割出之光學薄膜F2中，包含有主動區域AC之部分係被薄膜捲繞部52、53捲繞，而作為具有相當於一個液晶面板的寬度之長條狀薄膜之原生組構輥R2、R3來被供應。切斷部58所分割之光學薄膜F2之中，不包含主動區域AC之部分係被廢材捲繞部54捲繞並予以丟棄。

如上述，本實施形態之第一檢測裝置DA4及第二檢測裝置57，亦與第二實施形態同樣地可精密度良好且有效率地檢測偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb。本實施形態之縫隙加工裝置50係依據第一檢測裝置DA4及第二檢測裝置57所檢測出之偏光圖案行APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，而控制光學薄膜F2的行走位置。因此，可精密度良好地進行行走位置的控制。再者，由於使用第一蛇行控制部55及第二蛇行控制部56以二階段進行行走位置的控制，故可幾乎消除光學薄膜F2的行走位置的偏移。因此，可降低因行走位置的偏移而導致之出錯切斷主動區域AC之虞，而提高良率。再者，由 於可使考量了行走位置的偏差之剩餘部分(周邊區域)的寬度縮小，故光學薄膜F2的無謂的區域變少，從而減低製造成本。

以上，雖一面參閱圖式一面針對本發明之較佳實施形態例進行了說明，惟本發明並不限定於該例。上述之例中所示之各構成構件的各個形狀或組合等僅為一例，只要在未脫離本發明主旨之範圍內，可依據設計要求等而施以各種變更。

例如，在上述實施形態中，雖舉例貼合裝置及縫隙加工裝置作為具備本發明之檢測裝置之處理裝置之一例，惟處理裝置並不限於此。本發明之檢測裝置及檢出方法可應用於需要依據偏光圖案行的位置進行處理之各種處理裝置及處理方法。

再者，在上述實施形態中，說明了二種類之偏光圖案行作為圖案化相位差層所包含之偏光圖案行。不過，圖案化相位差層所包含之偏光圖案行並不限於二種類，亦可設為三種類以上。此時，複數個偏光圖案行的反射光像會成為亮度或顏色等彼此不同者。因此，圖案檢測部可依據複數個偏光圖案行的反射光像的亮度或顏色之差異，來檢測複數個偏光圖案行。

[產業上之可利用性]

依據本發明之檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法可提供能夠精密度良好地檢測偏光圖案行之檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法。

B1‧‧‧支撐體

B1a‧‧‧支撐面

CM1‧‧‧攝影部

DA1‧‧‧檢測裝置

IL1‧‧‧光源部

IP1‧‧‧圖案檢測部

OP1‧‧‧光學薄膜

OP1a‧‧‧第一面

OP1b‧‧‧第二面

OP11‧‧‧相位差層

OP12‧‧‧圖案化相位差層

OP12a‧‧‧偏光圖案行

OP12b‧‧‧偏光圖案行

OP13‧‧‧偏光片層

OPC1‧‧‧光學薄膜本體部

PLAX‧‧‧偏光軸

RS1‧‧‧反射面

RTAX‧‧‧偏光圖案行的慢軸

U1‧‧‧攝影單元

Claims (14)

1. 一種檢測裝置，係檢測光學薄膜的複數個偏光圖案行者，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層、及偏光片層，該檢測裝置係包含：支撐體，具有支撐前述光學薄膜的前述第一面之支撐面，並於前述支撐面內的至少一部分具有將從前述第二面側往前述第一面側穿透前述光學薄膜之光予以反射之反射面；光源部，朝向位於前述反射面上之前述光學薄膜而從前述光學薄膜的前述第二面側照射光；攝影部，從前述光學薄膜的前述第二面側攝影位於前述反射面上之前述光學薄膜的反射光像；以及圖案檢測部，依據前述光學薄膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上之前述複數個偏光圖案行。
2. 如申請專利範圍地1項所述之檢測裝置，其中，前述圖案檢測部係依據前述複數個偏光圖案行的反射光像的亮度或顏色之差異，檢測前述複數個偏光圖案行。
3. 一種檢測裝置，係檢測光學薄膜的複數個偏光圖案行者，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、偏光片層、及包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層，該檢測裝置係包含： 支撐體，具有支撐前述光學薄膜的前述第一面之支撐面，並於前述支撐面內的至少一部分具有將從前述第二面側往前述第一面側穿透前述光學薄膜之光予以反射之反射面；光源部，朝向位於前述反射面上之前述光學薄膜而從前述光學薄膜的前述第二面側照射光；偏光板，設於從前述光源部朝向前述光學薄膜之前述光的光路上；攝影部，從前述光學薄膜的前述第二面側攝影位於前述反射面上之前述光學薄膜的反射光像；以及圖案檢測部，依據前述光學薄膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上之前述複數個偏光圖案行。
4. 如申請專利範圍第3項所述之檢測裝置，其中，前述圖案檢測部係依據前述複數個偏光圖案行的反射光像的亮度或顏色差異而檢測前述複數個偏光圖案行。
5. 如申請專利範圍第3項或第4項所述之檢測裝置，更包含：調整部，係調整前述偏光板的偏光軸與前述偏光圖案行的慢軸之相對角度。
6. 一種檢測方法，係檢測光學薄膜的複數個偏光圖案行之方法，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層、及偏光片層，該檢出方法係包含： 支撐步驟，係藉由支撐體支撐前述光學薄膜的前述第一面，該支撐體具有支撐前述光學薄膜的前述第一面之支撐面，並於前述支撐面內的至少一部分具有將從前述第二面側往前述第一面側穿透前述光學薄膜之光予以反射之反射面；照射步驟，朝向位於前述反射面上之前述光學薄膜而從前述光學薄膜的前述第二面側照射光；攝影步驟，從前述光學薄膜的前述第二面側攝影位於前述反射面上之前述光學薄膜的反射光像；以及圖案檢測步驟，依據前述光學薄膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上之前述複數個偏光圖案行。
7. 如申請專利範圍第6項所述之檢測方法，其中，前述圖案檢測步驟依據前述複數個偏光圖案行的反射光像的亮度或顏色之差異，檢測前述複數個偏光圖案行。
8. 一種檢測方法，係檢測光學薄膜的複數個偏光圖案行之方法，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、偏光片層、及包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層，該檢測方法係包含：支撐步驟，係藉由支撐體支撐前述光學薄膜的前述第一面，該支撐體具有支撐前述光學薄膜的前述第一面之支撐面，並於前述支撐面內的至少一部分具有將從前述第二面側往前述第一面側穿透前述光學薄膜之光予以反射之反射面； 照射步驟，朝向位於前述反射面上之前述光學薄膜而從前述光學薄膜的前述第二面側隔著偏光板照射光；攝影步驟，從前述光學薄膜的前述第二面側攝影位於前述反射面上之前述光學薄膜的反射光像；以及圖案檢測步驟，依據前述光學薄膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上之前述複數個偏光圖案行。
9. 如申請專利範圍第8項所述之檢測方法，其中，前述圖案檢測步驟係依據前述複數個偏光圖案行的反射光像的亮度或顏色差異而檢測前述複數個偏光圖案行。
10. 如申請專利範圍第8項或第9項所述之檢測方法，更包含：調整步驟，係調整前述偏光板的偏光軸與前述偏光圖案行的慢軸之相對角度。
11. 一種處理裝置，係使用申請專利範圍第1項或第2項所述之檢測裝置檢測光學薄膜的複數個偏光圖案行，並依據前述偏光圖案行的位置對前述光學薄膜進行預定處理，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層、及偏光片層。
12. 一種處理裝置，係使用申請專利範圍第3項至第5項中任一項所述之檢測裝置檢測光學薄膜的複數個偏光圖案行，並依據前述偏光圖案行的位置對前述光學薄膜進行預定處理，該光學薄膜係自第一面側朝向第二 面側依序設有相位差層、偏光片層、及包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層。
13. 一種處理方法，係使用申請專利範圍第6項或第7項所述之檢測方法檢測光學薄膜的複數個偏光圖案行，並依據前述偏光圖案行的位置對前述光學薄膜進行預定處理，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層、及偏光片層。
14. 一種處理方法，係使用申請專利範圍第8項至第10項中任一項所述之檢測方法檢測光學薄膜的複數個偏光圖案行，並依據前述偏光圖案行的位置對前述光學薄膜進行預定處理，該光學薄膜係自第一面側朝向第二面側依序設有相位差層、偏光片層、及包含有慢軸的方向彼此不同之複數個前述偏光圖案行之圖案化相位差層。