TW201602543A - 檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法 - Google Patents

Abstract

本發明的檢測裝置DA1，係包括支持體B1、光源部IL1、攝像部CM1、彩色濾光片CF1及圖形檢測部IP1。支持體B1係具有支持光學膜OP1的第一面OP1a的支持面B1a，並於支持面B1a內的至少一部分具有反射面RS1；光源部IL1係朝位於反射面RS1上的光學膜OP1，從光學膜OP1的第二面OP1b側照射光；攝像部CM1係從光學膜OP1的第二面OP1b側，拍攝位於反射面RS1上的光學膜OP1的反射光像；彩色濾光片CF1係藉由反射或吸收指定的波長成分的光，以調整複數偏光圖形列OP12a、OP12b的反射光像的對比；圖形檢測部IP1係依據光學膜OP1的反射光像，檢測位於反射面RS1上的偏光圖形列OP12a、OP12b。

Description

檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法

本發明係關於檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法。本申請案係依據2014年6月30日在日本申請的特願2014-134352號，主張優先權，於此處引用其內容。

作為顯示立體圖像的方式，已知有稱為FPR(Film Patterned Retarder；薄膜圖形化相位延遲)方式之方式。FPR方式的3D液晶顯示器，為了分離右眼用圖像及左眼用圖像，於液晶面板的表面配置稱為FPR膜之圖形化相位差膜(參考專利文獻1)。

FPR膜包含右眼用偏光圖形列及左眼用偏光圖形列。右眼用偏光圖形列及左眼用偏光圖形列，係對應於液晶面板的右眼用像素列及左眼用像素列交替配置。右眼用偏光圖形列及左眼用偏光圖形列，係在延遲相位軸的方向互相垂直。於配置有右眼用偏光圖形列及左眼用偏光圖形列的主動區域的外側，也配置有對準用的偏光圖形列。

[先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]特開2012-32445號公報

於FPR膜係以細微的寬度形成有多數的偏光圖形列。所以，將FPR膜切割為指定寬度或形狀，將FPR膜貼合於液晶面板時，必須正確地檢測偏光圖形列的位置，依據該位置，對準FPR膜。

例如於專利文獻1，記載作為偏光圖形列的檢測裝置，從FPR膜的下面側照射光，從FPR膜的上面側以照相機拍攝的裝置。

於FPR膜與光源之間配置偏光板，於FPR膜與照相機之間，從FPR膜側依序配置相位差板(1/4波長板)及偏光板。右眼用偏光圖形列及左眼用偏光圖形列係沿著膜的長度方向延伸存在。隨著FPR膜的捲出及輸送而連續地檢測該等偏光圖形列。

但是，於專利文獻1的構成中，係因於FPR膜的下面側設置光源，無法在FPR膜的下面側設置支持體。因而，FPR膜必須在不被支持體支持的不安定的位置，進行偏光圖形列的檢測。雖可想到於貫通孔設置於支持體，但只通過貫通孔之光，無法充分照明FPR膜。

而且，於FPR膜的最表面，設置保護膜、 離型膜等的保護膜。保護膜具有雙折射性，產生非意圖的相位差。若不存在保護膜，右眼用偏光圖形列及左眼用偏光圖形列顯示為亮圖形及暗圖形，若存在保護膜，亮圖形及暗圖形的對比降低，無法明確地分辨兩者。因此，進行光學測定之前，變得必需剝離保護膜等的手段。

而且，FPR膜係貼合於液晶面板的顯示面側的偏光板的表面，但最近亦研究將偏光板與FPR膜一體化而成的偏光板一體型的FPR膜貼合於液晶面板的表面。於該構成中，藉由偏光板的面內的光學軸的散亂，上述亮圖形及暗圖形的對比更降低，分辨兩者變得更困難。

本發明的目的，在於提供可精度良好地檢測偏光圖形列之檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法。

本發明的第一態樣的檢測裝置，係檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、包含延遲相位軸的方向互異的複數偏光圖形列之圖形化相位差層以及偏光片層的光學膜的前述複數偏光圖形列之檢測裝置，前述檢測裝置係包括支持體、光源部、攝像部、彩色濾光片及圖形檢測部，其中支持體具有支持前述光學膜的前述第一面的支持面，並於前述支持面內的至少一部分，具有反射從前述第二面側至前述第一面側穿透前述光學膜的光之反射面；光源部係朝位於前述反射面上的前述光學膜，從前述光學膜的前述第二面側照射光；攝像部係從前述光學 膜的前述第二面側，拍攝位於前述反射面上的前述光學膜的反射光像；彩色濾光片係設置於從前述光源部朝向前述攝像部的前述光的光程上，藉由反射或吸收指定的波長成分的光，調整前述複數偏光圖形列的反射光像的對比；圖形檢測部係依據前述光學膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上的前述複數偏光圖形列。

關於本發明的第一態樣的檢測裝置，前述圖形檢測部係依據前述複數偏光圖形列的反射光像的亮度或顏色之差異，可檢測前述複數偏光圖形列。

關於本發明的第二態樣的檢測裝置，其係檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、偏光片層以及包含延遲相位軸的方向互異的複數偏光圖形列之圖形化相位差層的光學膜的前述複數偏光圖形列之檢測裝置，前述檢測裝置包括支持體、光源部、偏光板、攝像部、彩色濾光片及圖形檢測部，其中支持體係具有支持前述光學膜的前述第一面的支持面，並於前述支持面內的至少一部分，具有反射從前述第二面側至前述第一面側穿透前述光學膜的光的反射面；光源部係朝位於前述反射面上的前述光學膜，從前述光學膜的前述第二面側照射光；偏光板係設置於從前述光源部朝向前述光學膜的前述光的光程上；攝像部係從前述光學膜的前述第二面側，拍攝位於前述反射面上的前述光學膜的反射光像；彩色濾光片係設置於從前述光源部朝向前述攝像部的前述光的光程上，藉由反射或吸收指定的波長成分的光，調整前述複數偏光圖形 列的反射光像的對比；圖形檢測部係依據前述光學膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上的前述複數偏光圖形列。

在本發明的第二態樣的檢測裝置，前述圖形檢測部係依據前述複數偏光圖形列的反射光像的亮度或顏色之差異，可檢測前述複數偏光圖形列。

關於本發明的第二態樣的檢測裝置，可包括調整前述偏光板的偏光軸與前述偏光列的延遲相位軸的相對角度之調整部。

本發明的第一態樣的檢測方法，其係檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、包含延遲相位軸的方向互異的複數偏光圖形列之圖形化相位差層以及偏光片層的光學膜的前述複數偏光圖形列之檢測方法，包括：支持步驟、照射步驟、攝像步驟、對比調整步驟及圖形檢測步驟，其中，支持步驟係藉由具有支持前述光學膜的前述第一面的支持面，並於前述支持面內的至少一部分，具有反射從前述第二面側至前述第一面側穿透前述光學膜的光的反射面之支持體，支持前述光學膜的前述第一面；照射步驟係朝位於前述反射面上的前述光學膜，從前述光學膜的前述第二面側照射光；攝像步驟係從前述光學膜的前述第二面側，拍攝位於前述反射面上的前述光學膜的反射光像；對比調整步驟係藉由設置於前述光的光程上的彩色濾光片，藉由反射或吸收指定的波長成分的光，調整前述複數偏光圖形列的反射光像的對比；圖形檢測步驟 係依據前述光學膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上的前述複數偏光圖形列。

在本發明的第一態樣的檢測方法，前述圖形檢測步驟係依據前述複數偏光圖形列的反射光像的亮度或顏色之差異，可檢測前述複數偏光圖形列。

本發明的第二態樣的檢測方法，其係檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、偏光片層以及包含延遲相位軸的方向互異的複數偏光圖形列之圖形化相位差層的光學膜的前述複數偏光圖形列之檢測方法，包括：支持步驟、照射步驟、攝像步驟、對比調整步驟及圖形檢測步驟，其中支持步驟係藉由具有支持前述光學膜的前述第一面的支持面，並於前述支持面內的至少一部分，具有反射從前述第二面側至前述第一面側穿透前述光學膜的光的反射面之支持體，支持前述光學膜的前述第一面；照射步驟係朝位於前述反射面上的前述光學膜，從前述光學膜的前述第二面側，隔著偏光板照射光；攝像步驟係從前述光學膜的前述第二面側，拍攝位於前述反射面上的前述光學膜的反射光像；對比調整步驟係藉由設置於前述光的光程上的彩色濾光片，藉由反射或吸收指定的波長成分的光，調整前述複數偏光圖形列的反射光像的對比；圖形檢測步驟係依據前述光學膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上的前述複數偏光圖形列。

於本發明的第二態樣的檢測方法，前述圖形檢測步驟係依據前述複數偏光圖形列的反射光像的亮度 或顏色之差異，可檢測前述複數偏光圖形列。

於本發明的第二態樣的檢測方法，可包括調整前述偏光板的偏光軸與前述偏光圖形列的延遲相位軸的相對角度之調整步驟。

本發明的第一態樣的處理裝置，係使用本發明的第一態樣的檢測裝置，檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、包含延遲相位軸的方向互為不同的複數偏光圖形列之圖形化相位差層以及偏光片層的光學膜的前述複數偏光圖形列，依據前述偏光圖形列的位置，對前述光學膜進行指定的處理。

關於本發明的第二態樣的處理裝置，係使用關於本發明的第二態樣的檢測裝置，檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、偏光片層以及包含延遲相位軸的方向互為不同的複數偏光圖形列之圖形化相位差層的光學膜的前述複數偏光圖形列，依據前述偏光圖形列的位置，對前述光學膜進行指定的處理。

關於本發明的第一態樣的處理方法，係使用關於本發明的第一態樣的檢測方法，檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、包含延遲相位軸的方向互為不同的複數偏光圖形列之圖形化相位差層以及偏光片層的光學膜的前述複數偏光圖形列，依據前述偏光圖形列的位置，對前述光學膜進行指定的處理。

關於本發明的第二態樣的處理方法，係使用關於本發明的第二態樣的檢測方法，檢測從第一面側朝 向第二面側依序設置有相位差層、偏光片層以及包含延遲相位軸的方向互為不同的複數偏光圖形列之圖形化相位差層的光學膜的前述複數偏光圖形列，依據前述偏光圖形列的位置，對前述光學膜進行指定的處理。

再者，本發明所謂「對光學膜進行指定的處理」，係指依據偏光圖形列的位置，控制對光學膜的被貼合物的位置，或者分條加工光學膜時，控制光學膜的寬度方向的蛇行。

根據本發明，可提供可精度良好地檢測偏光圖形列之檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法。

13‧‧‧貼合裝置(處理裝置)

25‧‧‧控制裝置

32‧‧‧貼合滾筒(支持體)

32a‧‧‧保持面(支持面)

35、36、67、62‧‧‧攝像單元

35a、62a‧‧‧光源部

35b、62b、CM1、CM2‧‧‧攝像部

35d、CF1、CF2‧‧‧彩色濾光片

39‧‧‧反射面

41‧‧‧貼合檯

42‧‧‧驅動裝置

50‧‧‧分條加工裝置(處理裝置)

51‧‧‧膜供應部

52、53‧‧‧膜捲取部

54‧‧‧耳捲取部

55‧‧‧第一蛇行控制部

56‧‧‧第二蛇行控制部

57‧‧‧第二檢測裝置

58‧‧‧切割部

61、66、B1、B2‧‧‧支持體

61a、B1a、B2a‧‧‧支持面

62c、PLF‧‧‧偏光板

62d‧‧‧彩色濾光片

63、PLR‧‧‧調整部

64‧‧‧第一引導滾輪

65‧‧‧第二引導滾輪

70‧‧‧控制裝置

APAa、APAb、DPAa、DPAb‧‧‧偏光圖形列

DA1、DA2、DA3、DA4‧‧‧檢測裝置

F1、F2、OP1、OP2、OP3、OP4‧‧‧光學膜

IL1、IL2‧‧‧光源部

IP1、IP2、IP3、IP4‧‧‧圖形檢測部

OP1a、OP2a‧‧‧第一面

OP1b、OP2b‧‧‧第二面

OP11、OP21、OP31、OP41‧‧‧相位差層

OP12、OP23、OP35‧‧‧圖形化相位差層

OP12a、OP12b、OP23a、OP23b‧‧‧偏光圖形列

OP13、OP22、OP37‧‧‧偏光片層

PLAX‧‧‧偏光軸(穿透軸)

PLAX2‧‧‧偏光板的偏光軸

RS1、RS2‧‧‧反射面

RTAX‧‧‧偏光圖形列的延遲相位軸

OPC1、OPC2‧‧‧光學膜本體部

P‧‧‧液晶面板

SL1、SL2、SL3‧‧‧分條線

FCL‧‧‧傳送路徑

R1、R2、R3‧‧‧原材捲

U1‧‧‧攝像單元

第1圖係關於本發明的第一實施態樣的檢測裝置的示意圖。

第2圖係關於本發明的第一實施態樣的變形例之檢測裝置的示意圖。

第3圖係關於本發明的第二實施態樣的檢測裝置的示意圖。

第4圖係關於本發明的第二實施態樣的變形例之檢測裝置的示意圖。

第5圖係表示光學膜的一例之剖面圖。

第6圖(a)至(c)係表示光學膜的反射光像的光量分佈及顏色分佈的圖。

第7圖係關於本發明的第三實施態樣的檢測裝置的示意圖。

第8圖係說明液晶面板與光學膜的相對貼合位置的調整方法之圖。

第9A圖係說明光學膜藉由貼合滾筒朝液晶面板的貼合步驟。

第9B圖係說明光學膜藉由貼合滾筒朝液晶面板的貼合步驟。

第10圖係關於本發明的第四實施態樣的檢測裝置的示意圖。

第11圖係表示光學膜的一例之平面圖。

第12圖係分條加工裝置的示意圖。

〔第一實施態樣〕

第1圖係關於本發明的第一實施態樣的檢測裝置DA1的示意圖。

第2圖係關於本發明的第一實施態樣的變形例之檢測裝置的示意圖。

本實施態樣的檢測裝置DA1，包括支持體B1、攝像單元U1、圖形檢測部IP1。檢測裝置DA1係檢測包含於光學膜OP1的偏光圖形列OP12a、OP12b。

光學膜OP1係至少包含相位差層OP11、圖形化相位差層OP12及偏光片層OP13。相位差層OP11、圖 形化相位差層OP12及偏光片層OP13，係從光學膜OP1的第一面(被支持體B1支持的側的面)OP1a側，朝第二面(與被支持體B1支持的側相反側的面)OP1b側，依序設置。光學膜OP1中，除相位差層OP11的部分外為光學膜本體部OPC1。

圖形化相位差層OP12係包含延遲相位軸RTAX的方向互為不同的複數偏光圖形列OP12a、OP12b。圖形化相位差層OP12係例如包含延遲相位軸RTAX的方向互相垂直的第一偏光圖形列OP12a及第二偏光圖形列OP12b。第一偏光圖形列OP12a的延遲相位軸RTAX，從光學膜OP1的法線方向觀察，例如對於偏光片層OP13的偏光軸(穿透軸)PLAX成為向右旋轉45°的角度。第二偏光圖形列OP12b的延遲相位軸RTAX，從光學膜OP1的法線方向觀察，例如對於偏光片層OP13的偏光軸PLAX成為向左旋轉45°的角度。第一偏光圖形列OP12a及第二偏光圖形列OP12b，在垂直於其長度方向的方向上交替配置。

相位差層OP11係作為光學膜本體部OPC1的保護膜(protection film)，對於光學膜本體部OPC1可剝離地設置。保護膜通常藉由二軸延伸製造，具有雙折射性。保護膜係與圖形化相位差層OP12、偏光片層OP13比較，無法充分地控制相位差。因此，保護膜係對穿透圖形化相位差層OP12的光賦予非意圖的相位差。如此的相位差，因使光學測定的精度降低，應被排除，但於本實施態樣中，積極地利用如此的相位差，進行偏光圖形列OP12a、OP12b 的檢測。關於該點，於後述。

光學膜OP1係可包含相位差層OP11、圖形化相位差層OP12及偏光片層OP13以外的層。例如，使用第5圖所示的光學膜OP3的一部分或全部作為光學膜OP1。

第5圖所示的光學膜OP3，在厚度方向依序包含第一相位差層(保護膜)OP31、基材層OP33、光配向層OP34、圖形化相位差層OP35、第一接著層OP36、偏光片層37、第二接著層OP38、偏光片保護層OP39、黏著層OP40及第二相位差層(離型膜)OP41。光學膜OP3中，除第一相位差層OP31及第二相位差層OP41外的部分為光學膜本體部OP42。

第一相位差層OP31係對應於第1圖的相位差層OP11，圖形化相位差層OP35係對應於第1圖的圖形化相位差層OP12，偏光片層OP37係對應於第1圖的偏光片層OP13，光學膜本體部OP42係對應於第1圖的光學膜本體部OPC1。於本實施態樣，例如可使用從光學膜OP3剝離第二相位差層OP41所得之光學膜OP45作為光學膜OP1。

以下，說明光學膜OP3的具體構成。

〈偏光片層〉

偏光片層OP37係入射之光中穿透具有某方向的振動面的光，吸收具有與其垂直的振動面的光。隔著偏光片層OP37所射出的光變成直線偏光。

作為偏光片層OP37，可使用經過例如一軸延伸聚乙烯醇系樹脂膜的步驟、將聚乙烯醇系樹脂膜藉由以二色性色素染色而使二色性色素吸附的步驟、吸附有二色性色素的聚乙烯醇系樹脂膜以硼酸水溶液處理的步驟及以硼酸水溶液處理後進行水洗的步驟所製造的偏光膜。

聚乙烯醇系樹脂膜係可藉由將聚乙酸乙烯酯系樹脂皂化而得。聚乙酸乙烯酯系樹脂係除乙酸乙烯酯的均聚物之聚乙酸乙烯酯外，可為乙酸乙烯酯及可與其共聚合的其他單體的共聚物。作為可與乙酸乙烯酯共聚合的其他單體，例如不飽和羧酸類、烯烴類、乙烯醚類、不飽和磺酸類、具有銨基的丙烯醯胺類等。

作為二色性色素，例如可使用碘、二色性的有機染料。於使用碘作為二色性色素時，可採用將聚乙烯醇系樹脂膜浸漬於含有碘及碘化鉀的水溶液進行染色之方法。

聚乙烯醇系樹脂膜的一軸延伸，可在以二色性色素進行染色之前進行，亦可與以二色性色素進行染色同時地進行，亦可於以二色性色素之染色後，例如亦可在硼酸處理中進行。

偏光片層OP37的厚度，例如以平均厚度，可設為5μm以上40μm以下。

〈圖形化相位差層〉

圖形化相位差層OP35係以入射的直線偏光作為2種 偏光狀態的光而射出。圖形化相位差層OP35係形成於光配向層OP34上。

光配向層OP34係對於具有液晶性的材料(以下稱為液晶材料)具備配向約束力。光配向層OP34係使用聚合性之光配向材料所形成。作為光配向材料，可使用藉由以偏光的光曝光而顯現配向約束力者。使偏光的光曝光於光配向材料，顯現配向約束力後，藉由聚合，形成保持配向約束力的光配向層OP34。作為如此的光配向材料，可使用通常習知者。

光配向層OP34係例如包含配向約束力的方向互相垂直的第一配向區域以及第二配向區域。第一配向區域以及第二配向區域係分別與光學膜OP3的一邊平行的方向上延伸成帶狀。第一配向區域以及第二配向區域係在與自身的延伸方向垂直的方向上交替設置。

圖形化相位差層OP35係包含對應於光配向層OP34的第一配向區域之第一偏光圖形列OP35a以及對應於第二配向區域之第二偏光圖形列OP35b。第一偏光圖形列OP35a以及第二偏光圖形列OP35b，係延遲相位軸互相垂直。第一偏光圖形列OP35a係使直線偏光改變為第一圓偏光。第二偏光圖形列OP35b係使直線偏光改變為不同於第一圓偏光旋轉方向的第二圓偏光。

圖形化相位差層OP35係使用具有聚合性官能基的液晶材料而形成。圖形化相位差層OP35係依據光配向層OP34具有的第一配向區域以及第二配向區域的配 向約束力，而使液晶材料排列於2方向，再使液晶材料具有的聚合性之官能基反應，維持所使用的液晶材料的液晶相而使其硬化而得。作為如此的聚合性的液晶材料，可使用通常習知者。

〈基材層〉

基材層OP33係使用來作為支持光配向層OP34及圖形化相位差層OP35的基材。光配向層OP34及圖形化相位差層OP35係於基材層OP33的表面藉由塗布光配向材料及液晶材料而形成。

作為基材層OP33的形成材料，例如三乙醯基纖維素(TAC)系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、聚乙烯醇系樹脂、聚苯乙烯系樹脂、(甲基)丙烯酸酯系樹脂、包含環狀聚烯烴系樹脂或聚丙烯系樹脂的聚烯烴系樹脂、聚芳酯系樹脂、聚醯亞胺系樹脂、聚醯胺系樹脂等。

基材層OP33的厚度，例如以平均厚度，可設為40μm以上100μm以下。

〈偏光片保護層〉

作為偏光片保護層OP39的形成材料，可使用與上述基材層OP33相同者。作為如此的材料，例如三乙醯基纖維素(TAC)系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、聚乙烯醇系樹脂、聚苯乙烯系樹脂、(甲基)丙烯酸酯系樹脂、包含環狀聚烯烴系樹脂或聚丙烯系樹脂的聚烯烴系樹脂、聚芳酯系樹 脂、聚醯亞胺系樹脂、聚醯胺系樹脂等。

偏光片保護層OP39的厚度，例如以平均厚度，可設為5μm以上80μm以下。

〈接著層〉

第一接著層OP36及第二接著層OP38的形成材料，例如使用聚乙烯醇系樹脂或胺酯(urethane)樹脂的組成物為主成分而溶解於水者或分散於水的水系接著劑、或含有光硬化性樹脂及光陽離子聚合引發劑等的無溶劑的光硬化性接著劑。作為第一接著層OP36及第二接著層OP38的形成材料，從製造時體積收縮少、容易控制厚度的觀點，使用光硬化性接著劑較佳，使用紫外線硬化型接著劑更佳。

作為紫外線硬化型接著劑，只要是在液狀可塗布的狀態下供給，可使用以往偏光板的製造所使用的各種接著劑。紫外線硬化型接著劑從耐候性、聚合性等的觀點，含有陽離子聚合性化合物，例如環氧化合物，更具體地如特開2004-245925號公報記載的於分子內不具有芳香環的環氧化合物作為紫外線硬化性成分之一較佳。

作為如此的環氧化合物係例如雙酚A的二環氧丙基醚為代表例之芳香族環氧化合物的原料之芳香族聚羥基化合物進行核氫化，再將其環氧丙基醚化所得之氫化環氧化合物、於分子內至少具有1個鍵結於脂環式環的環氧基之脂環式環氧化合物、脂肪族聚羥基化合物的環氧丙基醚為代表例之脂肪族環氧化合物等。

於紫外線硬化型接著劑係除以環氧化合物為代表例之陽離子聚合性化合物之外，調配聚合引發劑特別是藉由紫外線的照射產生陽離子物質或路易斯酸，且用以引發陽離子聚合性化合物的聚合之光陽離子聚合引發劑。再者，於紫外線硬化型接著劑亦可調配藉由加熱而引發聚合的熱陽離子聚合引發劑、其他光增感劑等的各種添加劑。

第一接著層OP36及第二接著層OP38的形成材料，可為相同亦可為相異，從生產性的觀點，在可得到適度的接著力的前提，將第一接著層OP36及第二接著層OP38使用相同的接著劑形成為較佳。

第一接著層OP36及第二接著層OP38的厚度，例如以平均厚度，可設為0.5μm以上5μm以下。

〈黏著層〉

黏著層OP40係例如使用於用以將光學膜OP45貼合於液晶面板的顯示面。作為形成黏著層OP40的黏著劑，例如丙烯酸系樹脂、聚矽氧系樹脂、聚酯、聚胺酯、聚醚等為基質樹脂者。其中，以丙烯酸系樹脂作為基質樹脂的丙烯酸系黏著劑，因光學透明性佳，保持適度的潤濕性或凝聚力，又耐候性或耐熱性等佳，在加熱或加濕的條件下不易產生浮起、剝落等的剝離問題，故適合使用。

構成丙烯酸系黏著劑的丙烯酸系樹脂，係適合使用酯部分為具有如甲基、乙基、丁基或2-乙基己基 的碳數20以下的烷基之丙烯酸烷酯、與(甲基)丙烯酸或如(甲基)丙烯酸2-羥基乙酯的含有官能基之(甲基)丙烯酸系單體的丙烯酸系共聚物。

包含如此的丙烯酸系共聚物的黏著層OP40，貼合於液晶面板後有任何缺陷而產生剝離的必要時，不會在玻璃基板產生殘膠等，可比較容易地剝離。丙烯酸系共聚物，其玻璃轉化溫度為25℃以下較佳，0℃以下更佳。而且，該丙烯酸系共聚物通常具有10萬以上的重量平均分子量。

黏著層OP40的厚度，例如以平均厚度，可設為1μm以上40μm以下。

〈第一相位差層〉

第一相位差層(保護膜)OP31，係與基材層OP33一起保護圖形化相位差層OP35。第一相位差層OP31係可對於基材層OP33自由剝離地設置。

第一相位差層OP31係使用黏著/剝離性的樹脂層或附著性的樹脂層形成於透明樹脂膜，賦予弱黏著性者。作為透明樹脂膜，可舉例如聚對苯二甲酸乙二酯、聚萘二甲酸乙二酯、聚乙烯及聚丙烯的熱塑性樹脂的擠出膜、組合該等的共擠出膜、該等一軸或二軸延伸的膜等。作為透明樹脂膜，使用透明性及均質性佳、廉價的聚對苯二甲酸乙二酯或聚乙烯的一軸或二軸之延伸膜為較佳。

作為黏著/剝離性的樹脂層，例如丙烯酸系 黏著劑、天然橡膠系黏著劑、苯乙烯-丁二烯共聚合樹脂系黏著劑、聚異丁烯系黏著劑、乙烯基醚系樹脂黏著劑、聚矽氧系黏著劑等。而且，作為附著性的樹脂層，例如乙烯-乙酸乙烯酯共聚合樹脂等。作為黏著/剝離性的樹脂層，使用透明性佳的丙烯酸系黏著劑為較佳。

第一相位差層OP31的厚度，例如以平均厚度，可設為15μm以上75μm以下。

〈第二相位差層〉

第二相位差層(離型膜)OP41係覆蓋黏著層OP40，保護黏著層OP40。第二相位差層OP41係可對於黏著層OP40自由剝離地設置。作為第二相位差層OP41，可使用與第一相位差層OP31相同的透明樹脂膜。

第二相位差層OP41的厚度，例如以平均厚度，可設為15μm以上75μm以下。

返回第1圖，支持體B1係具有支持光學膜OP1的第一面OP1a的支持面B1a。支持體B1係於支持面B1a內的至少一部分，具有反射從第二面OP1b側至第一面OP1a側穿透光學膜OP1的光之反射面RS1。反射面RS1的材料、構成，無特別限制。反射面RS1係可藉由使支持體B1的表面鏡面加工而形成，亦可藉由於支持體B1的表面配置金屬反射膜、反射型偏光板等的反射構件而形成。而且，支持面B1a全體可成為反射面RS1，亦可只有支持面B1a的一部分區域成為反射面RS1。支持體B1只要可安 定地保持光學膜OP1即可。支持體B1的形狀，無特別限制，可採用板狀、柱狀、筒狀等的任意形狀。支持面B1a的形狀，也可採用平面、彎曲面等的任意形狀。

攝像單元U1包括光源部IL1、攝像部CM1及彩色濾光片CF1。攝像單元U1例如使光源部IL1與攝像部CM1靠近而保持一體，以使穿透一偏光圖形列而在反射面RS1反射的光，再穿透相同的偏光圖形列而入射攝像部CM1。

光源部IL1係朝向位於反射面RS1上的光學膜OP1，從光學膜OP1的第二面OP1b側照射光。彩色濾光片CF1係設置於從光源部IL1朝向攝像部CM1的光的光程上。彩色濾光片CF1係藉由吸收或反射指定波長成分的光，以調整複數偏光圖形列OP12a、OP12b的反射光像之對比(反射光像的亮度比)。彩色濾光片CF1係例如設置於從光源部IL1朝向光學膜OP1的光之光程上，如第2圖所示，但可設置於從光學膜OP1朝向攝像部CM1的光之光程上、或光學膜OP1與反射面RS1之間的光之光程上。

作為光源部IL1，可使用LED等習知的光源。光源部IL1例如朝向光學膜OP1照射白色光，但光源部IL1照射的光不限於此。於本實施態樣，依照相位差層OP11、圖形化相位差層OP12及偏光片層OP13的相位差、波長分散特性等，可從光源部IL1照射適當波長的光。

作為彩色濾光片CF1，可使用吸收指定波長成分的光，穿透剩餘波長成分的光之吸收型濾光片，亦可 使用反射指定波長成分的光，穿透剩餘波長成分的光之反射型濾光片。作為吸收型濾光片及反射型濾光片，可使用習知者。

攝像部CM1係從光學膜OP1的第二面OP1b側，拍攝位於反射面RS1上的光學膜OP1的反射光像。作為攝像部CM1，可使用CCD照相機等的習知之攝像手段。

圖形檢測部IP1係依據光學膜OP1的反射光像，檢測位於反射面RS1上的偏光圖形列OP12a、OP12b，抽出偏光圖形列OP12a、OP12b的邊界線的位置資訊。作為圖形檢測部IP1，可使用習知的圖像處理手段。藉由攝像部CM1所拍攝的反射光像的圖像訊號，係藉由圖形檢測部IP1轉換為被數位數據化的圖像數據，實施顏色抽出處理或二進位化處理等的習知圖像處理。

第一偏光圖形列OP12a及第二偏光圖形列OP12b，係延遲相位軸RTAX對偏光片層OP13的偏光軸PLAX所構成的方向互相不同。因此，穿透偏光片層OP13、圖形化相位差層OP12及相位差層OP11，而在反射面RS1反射，再度，穿透相位差層OP11、圖形化相位差層OP12及偏光片層OP13之光的亮度或顏色，係穿透第一偏光圖形列OP12a者與穿透第二偏光圖形列OP12b者不同。因而，圖形檢測部IP1係依據第一偏光圖形列OP12a與第二偏光圖形列OP12b的反射光像的亮度或顏色的差異，而檢測第一偏光圖形列OP12a及第二偏光圖形列OP12b。

於本實施態樣中，藉由彩色濾光片CF1，而 轉換照射於光學膜OP1的光之波長，可使第一偏光圖形列OP12a與第二偏光圖形列OP12b的反射光像的亮度或顏色的差異變大。因而，變得容易檢測第一偏光圖形列OP12a及第二偏光圖形列OP12b。

例如，第6圖中所示的(a)，係表示於光源部IL1的前面不配置彩色濾光片CF1，而從光源部IL1照射白色光時的光學膜OP1的反射光像之顏色分佈。第6圖中所示的(b)，係表示於光源部IL1的前面不配置彩色濾光片CF1，而從光源部IL1照射白色光時的光學膜OP1的光量分佈。第6圖中所示的(c)，係表示於光源部IL1的前面配置彩色濾光片CF1，從光源部IL1照射白色光時的光學膜OP1的反射光像的光量分佈。

如第6圖中(a)及(b)所示，從光源部IL1照射白色光時，例如產生穿透第一偏光圖形列OP12a而入射於攝像部CM1的光，在紅色R光量亦大，但穿透第二偏光圖形列OP12b而入射於攝像部CM1的光，在綠色G光量亦小的現象。

另一方面，如第6圖中(c)所示，於光源部IL1的前面，配置例如吸收或反射綠色G的光，穿透紅色R的光之彩色濾光片CF1時，幾乎不含紅色R的第二偏光圖形列OP12b的反射光像變成黑色。因而，第一偏光圖形列OP12a的反射光像的亮度、與第二偏光圖形列OP12b的反射光像的亮度之比(以下，稱為「第一偏光圖形列與第二偏光圖形列的反射光像的對比」)變大，變得容易檢測第一 偏光圖形列OP12a及第二偏光圖形列OP12b。

作為彩色濾光片CF1，亦可使用吸收或反射紅色R的光，穿透綠色G的光之彩色濾光片。但是，使用穿透更明亮地顯示的顏色(於第6圖中例如紅色R)的彩色濾光片者，係在提高第一偏光圖形列OP12a與第二偏光圖形列OP12b的反射光像的對比上有利。

如上述，第一偏光圖形列OP12a與第二偏光圖形列OP12b的反射光像的對比，隨入射於光學膜OP1的光之波長而異。彩色濾光片CF1係轉換從光源部IL1所照射的光之波長，以使第一偏光圖形列OP12a與第二偏光圖形列OP12b的反射光像的對比，與不使用彩色濾光片CF1的情況比較相對地變大。

結果，例如第6圖中的(b)所示，於從光源部IL1所照射的第一光的波長分佈中，即使第一偏光圖形列OP12a與第二偏光圖形列OP12b的反射光像之對比不充分時，藉由彩色濾光片CF1將第一光的波長轉換成相異的波長，如第6圖中的(c)所示，可實現高的對比。

圖形檢測部IP1係對於反射光像的圖像數據，藉由實施顏色抽出處理、二進位化處理等的習知的圖像處理，檢測第一偏光圖形列OP12a及第二偏光圖形列OP12b。顏色抽出處理、二進位化處理係可選擇任一者而使用，亦可併用兩者而使用。例如，圖形檢測部IP1係於反射光像的圖像數據中，抽出具有明亮顯示的顏色(於第6圖中所示的(c)係例如紅色R)的部分，所抽出的圖像數據再 藉由二進位化處理，檢測第一偏光圖形列OP12a及第二偏光圖形列OP12b為亮圖形及暗圖形。如上述的顏色抽出處理、二進位化處理的演算法大多為已知，不限於特定的檢測方法。

如以上，於本實施態樣的檢測裝置DA1中，穿透偏光片層OP13及圖形化相位差層OP12的光，隔著相位差層OP11而入射於反射面RS1，以反射面RS1反射的光，再度隔著相位差層OP11，入射於圖形化相位差層OP12及偏光片層OP13。因此，藉由攝像部CM1所拍攝的反射光像，係顏色、亮度不同的複數圖形列為對應於第一偏光圖形列OP12a及第二偏光圖形列OP12b而表示。於本實施態樣，從光源部IL1所照射的光的一部分藉由彩色濾光片CF1吸收或反射，以使第一偏光圖形列OP12a及第二偏光圖形列OP12b的反射光像之對比變大。因而，若對於該反射光像的圖像數據實施顏色抽出處理、二進位化處理等的圖像處理，可精度良好地檢測第一偏光圖形列OP12a及第二偏光圖形列OP12b。

例如，相位差層OP11未設置於圖形化相位差層OP12與反射面RS1之間時，藉由攝像部CM1所拍攝的反射光像變成全面黑色的圖像。因而，無法檢測第一偏光圖形列OP12a及第二偏光圖形列OP12b。藉由將相位差層OP11設置於圖形化相位差層OP12與反射面RS1之間，產生從偏光片層OP13所漏出的光，該光的顏色、亮度也與穿透第一偏光圖形列OP12a者及穿透第二偏光圖形列 OP12b者不同。

相位差層OP11係與圖形化相位差層OP12、偏光片層OP13等比較，因其沒有充分地控制相位差，於光學測定上大多會產生不便。因此，於光學測定前，必須事先剝離相位差層等的手段，於本實施態樣中，積極地利用相位差層OP11的相位差，不剝離相位差層OP11，檢測偏光圖形列OP12a及偏光圖形列OP12b。藉此，可提供可有效率地精度良好地檢測偏光圖形列OP12a、OP12b之檢測裝置及檢測方法。

〔第二實施態樣〕

第3圖係關於本發明的第二實施態樣的檢測裝置DA2的示意圖。

第4圖係關於本發明的第二實施態樣的變形例之檢測裝置的示意圖。

本實施態樣的檢測裝置DA2係包括支持體B2、攝像單元U2、圖形檢測部IP2、調整部PLR。檢測裝置DA2係檢測包含於光學膜OP2的偏光圖形列OP23a、OP23b。

光學膜OP2係至少包含相位差層OP21、偏光片層OP22及圖形化相位差層OP23。相位差層OP21、偏光片層OP22及圖形化相位差層OP23係從光學膜OP2的第一面(被支持體B2支持之側的面)OP2a側，朝第二面(與被支持體B2支持的側相反側的面)OP2b側，而依序設置。光 學膜OP2中，除相位差層OP21的部分外為光學膜本體部OPC2。

圖形化相位差層OP23係包含延遲相位軸RTAX的方向互為不同的複數偏光圖形列OP23a、OP23b。 圖形化相位差層OP23例如包含延遲相位軸RTAX的方向互相垂直的第一偏光圖形列OP23a及第二偏光圖形列OP23b。第一偏光圖形列OP23a的延遲相位軸RTAX，從光學膜OP2的法線方向觀察，例如對於偏光片層OP22的偏光軸(穿透軸)PLAX1成為向右旋轉45°的角度。第二偏光圖形列OP23b的延遲相位軸RTAX，從光學膜OP2的法線方向觀察，例如對於偏光片層OP22的偏光軸(穿透軸)PLAX1成為向左旋轉45°的角度。第一偏光圖形列OP23a及第二偏光圖形列OP23b，在垂直其長度方向的方向上交替配置。

相位差層OP21係作為光學膜本體部OPC2的保護膜(離型膜)，可剝離地設置於光學膜本體部OPC2。保護膜通常藉由二軸延伸而製造，具有雙折射性。保護膜係與圖形化相位差層OP23、偏光片層OP22等比較，無法充分地控制相位差。因此，保護膜係對穿透圖形化相位差層OP23的光賦予非意圖的相位差。如此的相位差係因使光學測定的精度降低，故理被排除，但於本實施態樣中，積極地利用如此的相位差，進行偏光圖形列OP23a、OP23b的檢測。有關該點係後述。

光學膜OP2係可包含相位差層OP21、偏光片層OP21及圖形化相位差層OP23以外的層。於本實施態 樣中，例如可使用第5圖所示的光學膜OP3作為光學膜OP2。此時，第二相位差層OP41對應於第3圖的相位差層OP21，偏光片層OP37對應於第3圖的偏光片層OP22，圖形化相位差層OP35對應於第3圖的圖形化相位差層OP23，光學膜本體部OP42對應於第3圖的光學膜本體部OPC2。

支持體B2具有支持光學膜OP2的第一面OP2a的支持面B2a。支持體B2係於支持面B2a內的至少一部分，具有反射從第二面OP2b側至第一面OP2a側穿透光學膜OP2的光之反射面RS2。反射面RS2的材料、構成，無特別限制。反射面RS2係可藉由將支持體B2的表面鏡面加工而形成，亦可藉由於支持體B2的表面配置金屬反射膜、反射型偏光板等的反射構件而形成。而且，支持面B2a全體可成為反射面RS2，亦可只支持面B2a的一部分區域成為反射面RS2。

支持體B2只要為可安定地保持光學膜OP2即可。支持體B2的形狀係無特別限制，而可採用板狀、柱狀、筒狀等的任意形狀。支持面B2a的形狀，也可採用平面、彎曲面等的任意形狀。

攝像單元U2包括光源部IL2、攝像部CM2、偏光板PLF及彩色濾光片CF2。攝像單元U2係例如光源部IL2與攝像部CM2靠近而保持一體，以使穿透一偏光圖形列而在反射面RS2反射的光，穿透相同的偏光圖形列而入射於攝像部CM2。

光源部IL2係朝向位於反射面RS2上的光學膜OP2，從光學膜OP2的第二面OP2b側照射光。偏光板PLF係設置於從光源部IL2朝光學膜OP2的光之光程上。從光源部IL2所照射的光，係穿透偏光板PLF而轉換為直線偏光。作為光源部IL2，可使用LED等的習知的光源。光源部IL2係例如朝向光學膜OP2而照射白色光，但光源部IL2照射的光係不限於此。於本實施態樣中，依照相位差層OP21、偏光片層OP22、圖形化相位差層OP23及偏光板PLF的相位差、波長分散特性等，可從光源部IL2照射適當波長的光。

彩色濾光片CF2係設置於從光源部IL2朝攝像部CM2的光之光程上。彩色濾光片CF2係藉由吸收或反射指定波長成分的光，調整複數偏光圖形列OP23a、OP23b的反射光像的對比(反射光像的亮度之比)。彩色濾光片CF2例如設置於從光源部IL2朝向光學膜OP2的光之光程上，但如第4圖所示，可設置於從光學膜OP2朝向攝像部CM2的光之光程上、或光學膜OP2與反射面RS2之間的光之光程上。彩色濾光片CF2亦可設置於偏光板PLF與光學膜OP2之間的光的光程上，亦可設置於光源部IL2與偏光板PLF之間的光之光程上。

作為彩色濾光片CF2，亦可使用吸收指定波長成分的光而穿透剩餘波長成分的光之吸收型濾光片，亦可使用反射指定波長成分的光而穿透剩餘波長成分的光之反射型濾光片。作為吸收型濾光片及反射型濾光片，係可 使用習知者。

攝像部CM2係從光學膜OP2的第二面OP2b側，拍攝位於反射面RS2上的光學膜OP2的反射光像。作為攝像部CM2，可使用CCD照相機等的習知的攝像手段。

圖形檢測部IP2係依據光學膜OP2的反射光像，檢測位於反射面RS2上的偏光圖形列OP23a、OP23b，抽出偏光圖形列OP23a、OP23b的邊界線的位置資訊。作為圖形檢測部IP2，可使用習知的圖像處理手段。由攝像部CM2所拍攝的反射光像的圖像訊號，藉由圖形檢測部IP2轉換為數位數據化的圖像數據，實施顏色抽出處理、二進位化處理等的習知的圖像處理。

第一偏光圖形列OP23a及第二偏光圖形列OP23b係延遲相位軸RTAX對偏光板PLF的偏光軸(穿透軸)PLAX2所構成的方向互相不同。因此，穿透偏光板PLF、圖形化相位差層OP23、偏光片層OP22及相位差層OP21而在反射面RS2反射，再度，穿透相位差層OP21、偏光片層OP22及圖形化相位差層OP23的光之亮度、顏色，係穿透第一偏光圖形列OP23a者與穿透第二偏光圖形列OP23b者不同。因而，圖形檢測部IP2係依據第一偏光圖形列OP23a與第二偏光圖形列OP23b的反射光像的亮度或顏色的差異，檢測第一偏光圖形列OP23a及第二偏光圖形列OP23b。

於本實施態樣，係藉由彩色濾光片CF2，轉換照射於光學膜OP2的光之波長，可使第一偏光圖形列 OP23a與第二偏光圖形列OP23b的反射光像的亮度或顏色的差異變大。因此，變得容易檢測第一偏光圖形列OP23a及第二偏光圖形列OP23b。

圖形檢測部IP2係對反射光像的圖像數據，藉由實施顏色抽出處理、二進位化處理等的習知之圖像處理，檢測第一偏光圖形列OP23a及第二偏光圖形列OP23b。可選擇顏色抽出處理、二進位化處理的任一者而使用，亦可併用兩者而使用。例如，圖形檢測部IP2係於反射光像的圖像數據中，抽出具有明亮顯示的顏色的部分，所抽出的圖像數據再藉由二進位化處理，檢測第一偏光圖形列OP23a及第二偏光圖形列OP23b作為亮圖形及暗圖形。如上述的顏色抽出處理、二進位化處理的演算法大多為已知，不限於特定的檢測方法。

調整部PLR係調整偏光板PLF的偏光軸PLAX2與偏光圖形列OP23a、OP23b的延遲相位軸RTAX的相對角度。藉由調整部PLR，調整第一偏光圖形列OP23a及第二偏光圖形列OP23b的延遲相位軸RTAX對偏光板PLF的偏光軸PLAX2所構成的角度，可使第一偏光圖形列OP23a及第二偏光圖形列OP23b的反射光像的非對稱性(顏色、亮度等的差異)變大。因而，圖形檢測部IP2可精度良好地檢測位於反射面RS2上的偏光圖形列OP23a、OP23b。

再者，上述偏光板PLF的偏光軸PLAX2與偏光圖形列OP23a、OP23b的延遲相位軸RTAX的相對角度之調整，例如藉由調整部PLR，將偏光板PLF貼附於可旋轉的治具 後，操作者一邊確認光學膜OP2的反射光像，一邊可使貼附於可旋轉的治具之偏光板PLF對每一治具進行旋轉。此時，可設為操作步驟係操作者一邊確認光學膜OP2的反射光像，一邊旋轉治具，在判斷為第一偏光圖形列OP23a及第二偏光圖形列OP23b的非對稱性成為最大的位置，停止治具的旋轉。另一方面，上述相對角度的調整，藉由調整部PLR，可使治具以圖式省略的馬達等旋轉自動地進行。而且，上述相對角度的調整，係亦可於每一次之步驟實施，但交換原材捲(參考第12圖中的符號R1)時，確認光學膜OP2的反射光像，於該反射光像的非對稱性大時係不調整相對角度，而只在非對稱性小，且無法良好辨識圖形時調整。

如以上，即使於本實施態樣的檢測裝置DA2，也積極地利用相位差層OP21的相位差，不剝離相位差層OP21，檢測偏光圖形列OP23a、OP23b。因此，可提供可有效率地精度良好地檢測偏光圖形列OP23a、OP23b之檢測裝置及檢測方法。於本實施態樣，從光源部IL2所照射的光的一部分藉由彩色濾光片CF2吸收或反射，以使第一偏光圖形列OP23a及第二偏光圖形列OP23b的反射光像的對比變大。再者，於本實施態樣，藉由調整部PLR，可使第一偏光圖形列OP23a及第二偏光圖形列OP23b的反射光像的非對稱性變大。因此，偏光圖形列OP23a、OP23b的檢測精度會提高。

〔第三實施態樣〕

第7圖係關於本發明的第三實施態樣的檢測裝置DA3的示意圖。

第8圖係說明液晶面板P與光學膜F1的相對貼合位置的調整方法之圖。

第9A圖及第9B圖係說明光學膜F1朝液晶面板P的貼合步驟之圖。

如第7圖所示，本實施態樣的檢測裝置DA3，係包括支持體(貼合滾筒)32、攝像單元35及圖形檢測部IP3。檢測裝置DA3係檢測包含於光學膜F1的偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參考第8圖)。

如第7圖至第9A圖、第9B圖所示，本實施態樣的檢測裝置DA3，係依據偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參考第8圖)的位置(例如偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置)，構成將光學膜F1對準於液晶面板F1而貼合之貼合裝置13的一部分。貼合裝置13係除檢測裝置DA3外，包括控制裝置25、驅動裝置42、貼合檯41及攝像單元36等。支持體32係將保持於保持面32a的光學膜F1貼合於液晶面板P的滾筒狀的貼合構件。因而，以下係將「支持體」記為「貼合滾筒」而進行說明。

光學膜F1係與第1圖所示的光學膜OP1同樣地，至少從第一面(被貼合滾筒32支持的側的面)側朝第二面(與被貼合滾筒32支持的側相反側的面)側依序包含相 位差層、圖形化相位差層、偏光片層。於本實施態樣，例如可使用第5圖所示的光學膜OP45作為光學膜F1。偏光圖形列APAa及偏光圖形列DPAa係對應於第5圖的第一偏光圖形列OP35a，偏光圖形列APAb及偏光圖形列DPAb係對應於第5圖的第二偏光圖形列OP35b。

如第7圖所示，光學膜F1係包含與液晶面板P的顯示區域對向的主動區域AC、以及與位於液晶面板P的顯示區域的周圍部之周圍區域對向的周圍區域SR之片狀膜。

如第7圖及第8圖所示，於主動區域AC係延遲相位軸的方向互為不同的複數偏光圖形列DPAa、DPAb係對應於液晶面板P的複數像素列而設置。於液晶面板P的顯示區域係表示右眼用圖像的右眼用像素列以及表示左眼用圖像的左眼用像素列為交替配置。因此，於主動區域AC係對應於右眼用像素列的右眼用偏光圖形列DPAa及對應於左眼用像素列的左眼用偏光圖形列DPAb為交替配置。

於周圍區域SR係延遲相位軸的方向與右眼用偏光圖形列DPAa平行的第一偏光圖形列APAa、及延遲相位軸的方向與左眼用偏光圖形列DPAb平行的第二偏光圖形列APAb為交替配置。設置於周圍區域SR的偏光圖形列APAa、APAb，單獨或與設置於主動區域AC的偏光圖形列DPAa、DPAb一起，可使用作為光學膜F1對準於液晶面板P用的對準基準。為了容易檢測偏光圖形列APAa、 APAb，例如設置於周圍區域SR的偏光圖形列APAa、APAb的至少一偏光圖形列的寬度，可比設置於主動區域AC的偏光圖形列DPAa、DPAb的寬度寬。

如第7圖所示，貼合滾筒32具有平行光學膜F1的寬度方向的圓筒狀保持面32a。保持面32a係支持光學膜F1的第一面(第5圖的第一相位差層OP31的下面)之支持面。保持面32a例如具有比光學膜F1的貼合面(第5圖的黏著層OP40的表面)弱的貼附力，可以重複貼附、剝離光學膜F1的表面保護膜(第5圖的第一相位差層OP31)。貼合滾筒32例如可藉由捲繞黏著片於金屬製的滾筒的外圍面而製作。該黏著片的表面成為保持面32a。保持面32a的寬度方向中央部，係保持光學膜F1的保持區域FA。

貼合滾筒32係於保持面32a內的複數處，具有反射從第二面側穿透光學膜F1至第一面側的光之反射面39。反射面39例如於保持面32a的表面藉由配置金屬反射膜、反射型偏光板等的反射構件而形成。

反射面39係於保持面32a內，設置於成為對準基準的偏光圖形列所配置的部分。配置有反射面39的位置，成為可檢測偏光圖形列的檢測區域。設置於保持面32a的複數檢測區域中，於一或複數的檢測區域所檢測的偏光圖形列可設為對準基準。於本實施態樣，例如於保持區域FA的中央部及兩端部，分別沿著貼合滾筒32的旋轉方向互相等間隔地設置相同形狀的複數反射面39。設置於保持區域FA的中央部之反射面39，係與光學膜F1的主 動區域AC的中央部對向。設置於保持區域FA的端部之反射面39，係與光學膜F1的主動區域AC及周圍區域SR的邊界線對向。

驅動裝置42係使貼合滾筒32繞旋轉軸RA旋轉，同時使貼合滾筒32在垂直旋轉軸RA的水平方向及垂直方向移動。驅動裝置42係電性上連接控制裝置25，藉由控制裝置25控制驅動裝置42。

攝像單元35係包括光源部35a、攝像部35b及彩色濾光片35d。攝像單元35例如光源部35a與攝像部35b靠近而保持一體，以使穿透一偏光圖形列而在反射面39反射的光，穿透相同的偏光圖形列而入射於攝像部35b。於第7圖，係權宜上只顯示一個攝像單元35，攝像單元35例如對應於反射面39的設置位置，而在貼合滾筒32的寬度方向(平行於旋轉軸RA的方向)上設置複數個。而且，亦可設置使攝像單元35在貼合滾筒32的寬度方向上移動的移動機構，藉由一個攝像單元35而檢測複數檢測區域的偏光圖形列。

光源部35a係朝向位於反射面39上的光學膜F1，從光學膜F1的第二面側照射光。彩色濾光片35d係設置於從光源部35a朝向攝像部35b的光之光程上。彩色濾光片35d係藉由吸收或反射指定波長成分的光，調整複數偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的反射光像之對比(反射光像的亮度之比)。彩色濾光片35d例如設置於從光源部35a朝向光學膜F1的光之光程上，但亦可設置於 從光學膜F1朝向攝像部35b的光之光程上、或光學膜F1與反射面39之間的光之光程上。

作為光源部35a，可使用LED等的習知的光源。光源部35a例如朝向光學膜F1照射白色光，但光源部35a照射的光不限於此。例如，依照光學膜F1所包含的相位差層、圖形化相位差層及偏光片層的相位差、波長分散特性等，可從光源部35a照射適當波長的光。

作為彩色濾光片35d，可使用吸收指定波長成分的光、且穿透剩餘波長成分的光之吸收型濾光片，亦可使用反射指定波長成分的光、且穿透剩餘波長成分的光之反射型濾光片。如上述之吸收型濾光片及反射型濾光片，係可使用習知者。

攝像部35b係將位於反射面39上的光學膜F1的反射光像從光學膜F1的第二面側拍攝。作為攝像部35b，可使用CCD照相機等的習知之攝像手段。

圖形檢測部IP3係依據光學膜F1的反射光像，檢測位於反射面39上的偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參考第8圖)，抽出偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊。作為圖形檢測部IP3，可使用習知的圖像處理手段。藉由攝像部35b所拍攝的反射光像的圖像訊號，係藉由圖形檢測部IP3轉換為數位數據化的圖像數據，實施顏色抽出處理、二進位化處理等的習知的圖像處理。如前述，延遲相位軸方向不同的二個偏光圖形列的反射光像，係顏色、亮度互為不同。因此，藉 由對圖像數據實施顏色抽出處理、二進位化處理等的圖像處理，可精度良好地檢測偏光圖形列。

於本實施態樣中，藉由彩色濾光片35d，轉換照射於光學膜F1的光之波長，可使偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參考第8圖)的反射光像的亮度或顏色的差異變大。因而，變得容易檢測偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb。

控制裝置25係取得圖形檢測部IP3所抽出的偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參考第8圖)的邊界線的位置資訊。控制裝置25係根據偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，確認光學膜F1對貼合滾筒32的配置位置。控制裝置25係根據偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，藉由驅動裝置(未圖式)，使貼合檯41(參考第8圖)分別在垂直於貼合滾筒32的旋轉軸RA的方向以及平行於貼合滾筒32的旋轉軸RA的方向移動，藉由旋轉裝置(未圖式)，使貼合檯41在水平面內旋轉。藉此，進行為了調整保持於貼合檯41的液晶面板P、與保持於貼合滾筒32的光學膜F1的相對貼合位置之對準。

控制裝置25係包含電腦系統而構成。電腦系統包含CPU等的運算處理部及記憶體或硬碟等的記憶部。圖形檢測部IP3的功能，藉由運算處理部而實現。控制裝置25包含可與電腦系統外部的裝置進行通訊的介面，總括地控制檢測裝置DA3、驅動裝置42及貼合檯41(參 考第8圖)等的外部的裝置的動作。

以下，使用第8圖，說明液晶面板P與光學膜F1的相對貼合位置的調整方法。於第8圖中，右邊的圖係貼附於貼合滾筒32的光學膜F1的配置位置的說明圖，左邊的圖係保持於貼合檯41的液晶面板P的配置位置的說明圖，下邊的圖係貼合檯41的調整量的說明圖。於第8圖，權宜上省略反射面39的圖示。

如第8圖的右邊所示，藉由攝像單元35拍攝貼附保持於保持面32a的光學膜F1的角落部。於光學膜F1係在平行於沿著貼合滾筒32的旋轉軸的一邊的方向，排列設置複數偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb。攝像單元35係伴隨貼合滾筒32的旋轉，沿著其旋轉方向拍攝光學膜F1的一邊之兩角落部。

第7圖所示的圖形檢測部IP3係依據攝像單元35所拍攝的光學膜F1的角落部之反射光像，檢測位於光學膜F1的角落部的偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb，抽出偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊。而且，圖形檢測部IP3係在位於光學膜F1的角落部的偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb中檢測特定的2個偏光圖形列(例如最靠近主動區域的周圍區域的2個偏光圖形列APAa、APAb)的邊界線之端部的位置，作為光學膜F1的角落部的位置EGP。藉由圖形檢測部IP3所檢測的光學膜F1之角落部的位置EGP，成為將光學膜F1貼合於液晶面板P時的光學膜F1之對準基準。

於以下的說明中，以攝像單元35所拍攝的光學膜F1的2個角落部之間的沿著貼合滾筒32之圓周方向的距離稱為照相機間距離Lc。照相機間距離Lc係與沿著上述光學膜F1的旋轉方向的一邊之長度約為相等。

例如，伴隨貼合滾筒32的旋轉，光學膜F1只移動照相機間距離Lc時，光學膜F1的角落部EGP的位置從起點Ep1移動至終點Ep2為止。藉由攝像單元35及圖形檢測部IP3所檢測的起點Ep1及終點Ep2的位置資訊，傳送至控制裝置25。控制裝置25如第8圖的下邊所示，依據照相機間距離Lc、以及在平行於貼合滾筒32的旋轉軸的方向之起點Ep1與終點Ep2之間的距離Le(以下稱為起點/終點偏差Le)，算出修正角度α(tan α=Le/Lc)。

如第8圖的左邊所示，藉由後述的攝像單元36(參考第9A圖及第9B圖)，拍攝保持於貼合檯41的液晶面板P的角落部。例如，於液晶面板P的各角落，附有標記Pm(例如於本實施態樣為3個標記Pm1、Pm2、Pm3)。藉由攝像單元36所檢測的第一標記Pm1、第二標記Pm2及第三標記Pm3的位置資訊，傳送至控制裝置25。控制裝置25係根據攝像單元36的檢測資訊，控制貼合檯41的驅動，進行保持於貼合檯41的液晶面板P的對準。控制裝置25係根據修正角度α，驅動控制圖式省略的旋轉裝置，使貼合檯41在水平面內只旋轉角度α。藉此，進行液晶面板對貼合滾筒32的對準。

以下，使用第9A圖及第9B圖，說明以貼 合滾筒將光學膜F1對液晶面板P的貼合步驟。

如第9A圖所示，控制裝置25係使貼合滾筒32移動至貼合檯41的上方的指定位置。控制裝置25係依據光學膜F1的角落部EGP的位置資訊、與液晶面板P的第一標記Pm1、第二標記Pm2及第三標記Pm3的位置資訊，使光學膜F1的右眼用偏光圖形列DPAa及左眼用偏光圖形列DPAb與設置於液晶面板P的右眼用像素及左眼用像素在平面上重疊，進行貼合滾筒32與貼合檯41的對準。

控制裝置25係貼合時，藉由使貼合滾筒下降，使貼附於保持面32a的光學膜F1的前端部變成從上方按壓在液晶面板P的端部之狀態。

貼合滾筒32係以光學膜F1成為按壓於液晶面板P的狀態之方式下降。此時，貼合滾筒32係藉由將保持於保持面32a之光學膜F1按壓在液晶面板P而旋轉，於液晶面板P貼合光學膜F1。

如第9B圖所示，控制裝置25係貼合時伴隨貼合滾筒32的旋轉，使貼合檯41朝垂直於貼合滾筒32的旋轉軸的方向上相對移動。於本實施態樣，貼合滾筒32向左旋轉，貼合檯41朝紙面右方向上移動。再者，亦可為不使貼合檯41移動，而使貼合滾筒32旋轉，同時使貼合滾筒32朝紙面左方向移動的構成。

例如，貼合滾筒32的旋轉驅動、及藉由貼合檯41之液晶面板P的移動動作係同步進行。藉此，可抑制於光學膜F1與液晶面板P之間產生摩擦。藉此，可使 光學膜F1相對於液晶面板P而一邊抑制偏位一邊貼合。

貼合滾筒32係例如具有比光學膜F1的貼合面(第5圖的黏著層OP40的表面)更弱的附著力，因可重複貼附、剝離光學膜F1的表面保護膜(第5圖的第一相位差層OP31)，故貼合面側被按壓於液晶面板P的光學膜F1，從保持面32a剝離而貼合於液晶面板P側。

圖式雖省略，但於與貼合液晶面板P的光學膜F1的面相反側的面，貼合偏光板、增亮膜等的光學膜。藉此，提供可能立體顯示的光學顯示器。

如以上，即使於本實施態樣的檢測裝置DA3，也可有效率地精度良好地檢測偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb。本實施態樣的貼合裝置13，係依據檢測裝置DA3所抽出的偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，因進行光學膜F1與液晶面板P的對準，故可提高光學膜F1與液晶面板P的貼合精度。因而，可提供顯示品質佳的光學顯示器。

〔第四實施態樣〕

第10圖係關於本發明的第四實施態樣的檢測裝置DA4的示意圖。

第11圖係表示光學膜F2的概略構成之平面圖。

第12圖係分條加工裝置50的示意圖。

本實施態樣的檢測裝置DA4，包括支持體61、攝像單元62、圖形檢測部IP4及調整部63。檢測裝置 DA4係檢測於光學膜F2所含的偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參考第11圖)。

如第10圖至第12圖所示，本實施態樣的檢測裝置DA4之構成係將光學膜F2沿著分條線SL1、SL2、SL3進行分條加工之分條加工裝置50的一部分。分條加工裝置50係除檢測裝置DA4(第一檢測裝置)外，包括膜供應部51、膜捲取部52、耳捲取部54、第一蛇行控制部55、第二蛇行控制部56、第二檢測裝置57、切割部58及控制裝置70等。

光學膜F2係與第3圖所示的光學膜OP2同樣地，至少從第一面(被支持體61支持的側之面)側，朝第二面(與被支持體61支持的側相反側的面)側依序包含相位差層、偏光片層及圖形化相位差層。於本實施態樣，例如可使用第5圖所示的光學膜OP3作為光學膜F2。

如第11圖所示，光學膜F2係在垂直長度方向的寬度方向上交替包括主動區域AC與周圍區域SR之長條狀膜。主動區域AC例如為與第8圖所示的液晶面板P的顯示區域對向的部分，周圍區域SR為與位於液晶面板P的顯示區域的周圍部的周圍區域對向的部分。

光學膜F2係具有液晶面板的複數份(於第11圖中例如2份)的寬度。光學膜F2係使用後述的分條加工裝置50(參照第12圖)，沿著分條線SL1、SL2、SL3而被切割。分條線SL1、SL2、SL3係設定於周圍區域SR內。藉此，光學膜F2係被切割為具有液晶面板一份的寬度之複 數長條膜。切割所得之一長條膜係被切割為液晶面板P的大小，使用第9A圖及第9B圖所示的貼合裝置13，貼合於液晶面板P。

光學膜F2的主動區域AC及周圍區域SR的構成，係與第三實施態樣所說明者相同。因而，此處省略其詳細說明。分條線SL1、SL2、SL3係例如設定於周圍區域SR所設的偏光圖形列APAa、APAb的邊界線的位置。

如第10圖所示，支持體61具有與光學膜F2的寬度方向平行的圓柱狀的支持面61a。支持體61例如為構成光學膜F2的傳送路徑FCL(參考第12圖)的複數輸送滾輪中之一。支持體61係支持光學膜F2的第一面(第5圖的第二相位差層41的上面)，同時並隨光學膜F2的輸送而旋轉。支持體61例如為施予鏡面加工的金屬製之滾輪，支持面61a全部成為反射面。

攝像單元62包括光源部62a、攝像部62b、偏光板62c及彩色濾光片62d。攝像單元62係例如光源部62a與攝像部62b靠近而保持一體，以使穿透一偏光圖形列而在反射面(支持面61a)反射的光，穿透相同的偏光圖形列而入射於攝像部62b。

光源部62a係朝向位於反射面上的光學膜F2，從光學膜F1的第二面(第5圖的第一相位差層OP31的下面)側照射光。偏光板62c係設置於從光源部62a朝光學膜F2的光之光程上。從光源部62a所照射的光，穿透偏光板62c，轉換為直線偏光。作為光源部62a，可使用LED 等的習知的光源。光源部62a例如朝向光學膜F2而照射白色光，但光源部62a照射的光係不限於此。例如，依照光學膜F2所包含的相位差層、圖形化相位差層及偏光片層、偏光板62c的相位差、波長分散特性等，可從光源部62a照射適當波長的光。

彩色濾光片62d係設置於從光源部62a朝向攝像部62b的光之光程上。彩色濾光片62d係藉由吸收或反射指定波長成分的光，調整複數偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的反射光像的對比(反射光像的亮度之比)。彩色濾光片62d係例如設置於從光源部62a朝向光學膜F2的光之光程上，但亦可設置於從光學膜F2朝向攝像部62b的光之光程上、或光學膜F2與反射面(支持面61a)之間的光之光程上。彩色濾光片62d係亦可設置於偏光板62c與光學膜F2的光之光程上，亦可設置於光源部62a與偏光板62c的光之光程上。

作為彩色濾光片62d，可使用吸收指定波長成分的光，且穿透剩餘波長成分的光之吸收型濾光片，亦可使用反射指定波長成分的光並穿透剩餘波長成分的光之反射型濾光片。作為如上述之吸收型濾光片及反射型濾光片，係可使用習知者。

攝像部62b係從光學膜F2的第二面側，拍攝位於反射面上的光學膜F2的反射光像。作為攝像部62b係可使用CCD照相機等的習知的攝像手段。

圖形檢測部IP4係依據光學膜F2的反射光 像，檢測位於反射面上的偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb，抽出偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參考第11圖)的邊界線之位置資訊。作為圖形檢測部IP4，可使用習知的圖像處理手段。藉由攝像部62b所拍攝的反射光像的圖像訊號，藉由圖形檢測部IP4而轉換為數位數據化的圖像數據，實施顏色抽出處理、二進位化處理等的習知的圖像處理。如前述，延遲相位軸方向不同的二偏光圖形列的反射光像，係顏色、亮度互為不同。因此，藉由對於圖像數據實施顏色抽出處理、二進位化處理等的圖像處理，可精度良好地檢測偏光圖形列。

於本實施態樣中，藉由彩色濾光片62d，轉換照射於光學膜F2的光之波長，可使偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參考第11圖)的反射光像之亮度或顏色的差異變大。因而，變得容易檢測偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb。

調整部63係調整偏光板62c的偏光軸與偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參考第11圖)的延遲相位軸之相對角度。藉由調整部63，調整偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的延遲相位軸對偏光板62c的偏光軸所構成的角度，可使偏光圖形列APAa、DPAa與偏光圖形列APAb、DPAb的反射光像的非對稱性(顏色、亮度等的差異)變大。因而，藉由圖形檢測部IP4，可精度良好地檢測位於反射面上的偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb。

控制裝置70係取得圖形檢測部IP4所抽出的偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線之位置資訊。控制裝置70係根據偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線之位置資訊，確認光學膜F2對支持體61的配置位置。控制裝置70係根據偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，檢測實際光學膜F2的行進位置相對於事先設定的行進位置為何種程度的偏差。

控制裝置70係為了減少光學膜F2的行進位置的偏差，藉由第12圖所示的第一蛇行控制部55，使膜供應部51朝垂直於光學膜F2的輸送方向的寬度方向移動。

控制裝置70係包含電腦系統而構成。電腦系統包含CPU等的運算處理部及記憶體、硬碟等的記憶部。圖形檢測部IP4的功能係藉由運算處理部來實現。控制裝置70係包含可與電腦系統外部的裝置進行通訊的介面，總括地控制第一檢測裝置DA4、膜供應部51、膜捲取部52,53、耳捲取部54、第一蛇行控制部55、第二蛇行控制部56、第二檢測裝置57及切割部58等的外部之裝置的動作。

以下，使用第12圖，說明分條加工裝置50的構成。

膜供應部51係保持捲取光學膜F2的原材捲R1，同時將光學膜F2朝長度方向放出。於從膜供應部51放出的光學膜F2的傳送路徑FCL，係從輸送方向上游側依序配置第一蛇行控制部55、第一檢測裝置DA4、第二蛇行 控制部56、第二檢測裝置57及切割部58。

從膜供應部51放出的光學膜F2的剛放出後之行進位置，係使用第一檢測裝置DA4而檢測。第一檢測裝置DA4係檢測設置於光學膜F2的複數偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參考第11圖)。控制裝置70係依據第一檢測裝置DA4所檢測的複數偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的位置(例如偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置)，檢測光學膜F2的行進位置之偏差，控制第一蛇行控制部55而控制光學膜F2的寬度方向的蛇行。

藉由第一蛇行控制部55控制蛇行後的光學膜F2的行進位置，係使用第二檢測裝置57檢測。第二檢測裝置57係檢測設置於光學膜F2的複數偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參考第11圖)。控制裝置70係依據第二檢測裝置57所檢測的複數偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的位置(例如偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線之位置)，檢測光學膜F2的行進位置之偏差，控制第二蛇行控制部56而控制光學膜F2的寬度方向的蛇行。

第一蛇行控制部55係例如依據藉由第一檢測裝置DA4及控制裝置70所檢測的光學膜F2的行進位置的偏差，使藉由膜供應部51而放出光學膜F2的位置(原材捲R1的位置)朝光學膜F2的寬度方向移動。藉由第一蛇行控制部55，粗略地控制光學膜F2的行進位置的偏差。

第二檢測裝置57係具有與第一檢測裝置DA4相同的構成。第二檢測裝置57係藉由攝像單元67拍攝在支持體66的反射面反射的光學膜F2的反射光像，依據該拍攝結果，檢測位於反射面上的偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參考第11圖)，抽出偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊。

控制裝置70係取得第二檢測裝置57抽出的偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參考第11圖)的邊界線的位置資訊。控制裝置70係根據偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，確認光學膜F2對支持體66的配置位置。控制裝置70係根據偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，檢測實際光學膜F2的行進位置相對於事先設定的行進位置為何種程度的偏差。控制裝置70係為了使光學膜F2的行進位置與事先設定的行進位置一致，控制第二蛇行控制部56而調整光學膜F2的行進位置。

第二蛇行控制部56例如依據藉由第二檢測裝置57及控制裝置70所檢測的光學膜F2的行進位置之偏差，使支持光學膜F2的第一引導滾輪64及第二引導滾輪65對光學膜F2的輸送方向傾斜。第一引導滾輪64及第二引導滾輪65係使旋轉軸互相平行而配置。第二蛇行控制部56係使第一引導滾輪64及第二引導滾輪65的旋轉軸的方向，對於光學膜F2的行進方向整體傾斜。藉此，光學膜F2的行進位置朝寬度方向微調，使光學膜F2變成在事先 設定的行進位置行進。

再者，第二蛇行控制部56亦可為使支持光學膜F2的一支引導滾輪對光學膜F2的輸送方向傾斜之構成。

輸送至切割部58的光學膜F2的行進位置，係藉由第一蛇行控制部55及第二蛇行控制部56而被精密地控制。第一蛇行控制部55及第二蛇行控制部56的構成，不限於上述。作為第一蛇行控制部55，較佳為比第二蛇行控制部56更可大幅地調整光學膜F2的行進位置者。作為第二蛇行控制部56，較佳為比第一蛇行控制部55更可精密地調整調整光學膜F2的行進位置者。

而且，第一蛇行控制部55、第一檢測裝置DA4、第二蛇行控制部56及第二檢測裝置57的配置，不限於上述。第一檢測裝置DA4可在第一蛇行控制部55的上游側，亦可在下游側。第二檢測裝置57可在第二蛇行控制部56的上游側，亦可在下游側。第二檢測裝置57可在比藉由第一蛇行控制部55控制光學膜F2的寬度方向的蛇行的位置更下游側，且在比藉由切割部58切割光學膜F2的位置更上游側，只要檢測光學膜F2的複數偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb即可。第二蛇行控制部56係只要可在比藉由第一蛇行控制部55控制光學膜F2的寬度方向的蛇行的位置更下游側，且在比藉由切割部58切割光學膜F2的位置更上游側，控制光學膜F2的寬度方向的蛇行即可。

切割部58係將光學膜F2沿著第11圖所示的分條線SL1、SL2、SL3切割。切割部58例如可藉由切割刀、雷射刀等構成。切割部58係以與分條線SL1、SL2、SL3的配置間隔相同間隔，配置複數個於光學膜F2的寬度方向。控制裝置70係以使分條線SL1、SL2、SL3配置於切割部58的正下方之方式，藉由第一蛇行控制部55及第二蛇行控制部56，控制光學膜F2的行進位置。切割部58可在藉由第一蛇行控制部55及第二蛇行控制部56控制光學膜F2的寬度方向之蛇行的位置更下游側，將光學膜F2沿著平行於其輸送方向的分條線SL1、SL2、SL3切割。

藉由切割部58切割寬度方向的光學膜F2中，包含主動區域AC的部分，係藉由膜捲取部52,53捲取，提供作為具有液晶面板一份的寬度之長條狀原材捲R2,R3。藉由切割部58所切割的光學膜F2中，不包含主動區域AC的部分，藉由耳捲取部54捲取，廢棄。

如以上，本實施態樣的第一檢測裝置DA4及第二檢測裝置57，與第二實施態樣同樣地，可有效率地精度良好地檢測偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb。本實施態樣的分條加工裝置50，根據第一檢測裝置DA4及第二檢測裝置57所檢測的偏光圖形列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置資訊，控制光學膜F2的行進位置。因此，可精度良好地進行行進位置的控制。而且，因使用第一蛇行控制部55及第二蛇行控制部56以2階段進行行進位置的控制，故光學膜F2的行進位置幾乎沒有偏 差。因而，減少因行進位置的偏差誤切割主動區域AC的可能性，提高良率。而且，因考量縮減行進位置的偏差之剩餘部分(周圍區域)的寬度，故光學膜F2的浪費變少，製造成本降低。

以上，一邊參考所附的圖式，一邊說明關於本發明的較佳實施的形態例，但並非限定關於本發明的例。於上述的例所示的各構成構件的各種形狀、組合等為一例，在不脫離本發明的主旨的範圍下，可依據設計的要求等，做各種變更。

例如於上述實施態樣中，作為具備關於本發明的檢測裝置的處理裝置之一例，例如貼合裝置、分條加工裝置，但處理裝置不限於此。關於本發明的檢測裝置及檢測方法，可適用於必須根據偏光圖形列的位置進行處理的各種處理裝置及處理方法。

而且，於上述實施態樣，說明2種的偏光圖形列，作為包含於圖形化相位差層的偏光圖形列。但是，包含於圖形化相位差層的偏光圖形列不限於2種，亦可為3種以上。此時，複數偏光圖形列的反射光像也成為亮度、顏色等互相不同者。因而，圖形檢測部係根據複數偏光圖形列的反射光像的亮度或顏色的差異，可檢測複數偏光圖形列。

此時，彩色濾光片例如複數偏光圖形列的反射光像的對比，與上述不使用彩色濾光片的情況相比，相對地比較變大，可調整複數偏光圖形列的反射光像的對 比。

上述所謂「複數偏光圖形列的反射光像的對比與上述不使用彩色濾光片的情況相比，相對地比較變大」，係指從成為藉由圖形檢測部的檢測對象之複數偏光圖形列中，全部抽出互相鄰接的2個偏光圖形列的組合，對於所抽出的全部的組合，算出2個偏光圖形列的反射光像的亮度比時，在全部的組合所算出的前述比中最小者的值，與不使用彩色濾光片的情況相比，相對地比較變大。

[產業上的利用可能性]

根據關於本發明的檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法，可提供可精度良好地檢測偏光圖形列的檢測裝置、檢測方法、處理裝置及處理方法。

B1‧‧‧支持體

B1a‧‧‧支持面

CM1‧‧‧攝像部

CF1‧‧‧彩色濾光片

DA1‧‧‧檢測裝置

IL1‧‧‧光源部

IP1‧‧‧圖形檢測部

OP1‧‧‧光學膜

CP1a‧‧‧第一面

OP1b‧‧‧第二面

CP11‧‧‧相位差層

OP12‧‧‧圖形化相位差層

CP12a、OP12b‧‧‧偏光圖形列

CP13‧‧‧偏光片層

OPC1‧‧‧光學膜本體部

PLAX‧‧‧偏光軸(穿透軸)

RS1‧‧‧反射面

RTAX‧‧‧偏光圖形列的延遲相位軸

U1‧‧‧攝像單元

Claims (14)

1. 一種檢測裝置，其係檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、包含延遲相位軸的方向互異的複數偏光圖形列之圖形化相位差層以及偏光片層的光學膜的前述複數偏光圖形列之檢測裝置；前述檢測裝置包括支持體、光源部、攝像部、彩色濾光片及圖形檢測部；其中前述支持體係具有支持前述光學膜的前述第一面的支持面，並於前述支持面內的至少一部分具有反射從前述第二面側至前述第一面側穿透前述光學膜的光之反射面；前述光源部係朝位於前述反射面上的前述光學膜，從前述光學膜的前述第二面側照射光；前述攝像部係從前述光學膜的前述第二面側，拍攝位於前述反射面上的前述光學膜的反射光像；前述彩色濾光片係設置於從前述光源部朝向前述攝像部的前述光的光程上，藉由反射或吸收指定的波長成分的光，以調整前述複數偏光圖形列的反射光像的對比；前述圖形檢測部係依據前述光學膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上的前述複數偏光圖形列。
2. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中前述圖形檢測部係依據前述複數偏光圖形列的反射光像的亮度或顏色之差異，而檢測前述複數偏光圖形列。
3. 一種檢測裝置，其係檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、偏光片層以及包含延遲相位軸的方向互異的複數偏光圖形列之圖形化相位差層的光學膜的前述複數偏光圖形列之檢測裝置；前述檢測裝置包括支持體、光源部、偏光板、攝像部、彩色濾光片及圖形檢測部；其中前述支持體係具有支持前述光學膜的前述第一面的支持面，並於前述支持面內的至少一部分，具有反射從前述第二面側至前述第一面側穿透前述光學膜的光之反射面；前述光源部係朝位於前述反射面上的前述光學膜，從前述光學膜的前述第二面側照射光；前述偏光板係設置於從前述光源部朝向前述光學膜的前述光的光程上；前述攝像部係從前述光學膜的前述第二面側，拍攝位於前述反射面上的前述光學膜的反射光像；前述彩色濾光片係設置於從前述光源部朝向前述攝像部的前述光的光程上，藉由反射或吸收指定的波長成分的光，以調整前述複數偏光圖形列的反射光像之對比；前述圖形檢測部係依據前述光學膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上的前述複數偏光圖形列。
4. 如申請專利範圍第3項所述之檢測裝置，其中前述圖形檢測部係依據前述複數偏光圖形列的反射光像的亮度 或顏色差異，檢測前述複數偏光圖形列。
5. 如申請專利範圍第3或4項所述之檢測裝置，係更包括：調整前述偏光板的偏光軸與前述偏光圖形列的延遲相位軸的相對角度之調整部。
6. 一種檢測方法，其係檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、包含延遲相位軸的方向互異的複數偏光圖形列之圖形化相位差層以及偏光片層的光學膜的前述複數偏光圖形列之檢測方法，包括：支持步驟、照射步驟、攝像步驟、對比調整步驟及圖形檢測步驟；其中前述支持步驟係藉由具有支持前述光學膜的前述第一面的支持面，並於前述支持面內的至少一部分，具有反射從前述第二面側至前述第一面側穿透前述光學膜的光的反射面之支持體，而支持前述光學膜的前述第一面；前述照射步驟係朝位於前述反射面上的前述光學膜，從前述光學膜的前述第二面側照射光；前述攝像步驟係從前述光學膜的前述第二面側，拍攝位於前述反射面上的前述光學膜的反射光像；前述對比調整步驟係藉由設置於前述光的光程上的彩色濾光片，藉由反射或吸收指定的波長成分的光，調整前述複數偏光圖形列的反射光像的對比；前述圖形檢測步驟係依據前述光學膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上的前述複數偏光圖形列。
7. 如申請專利範圍第6項所述之檢測方法，其中前述圖形檢測步驟係依據前述複數偏光圖形列的反射光像的亮度或顏色之差異，檢測前述複數偏光圖形列。
8. 一種檢測方法，其係檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、偏光片層以及包含延遲相位軸的方向互異的複數偏光圖形列之圖形化相位差層的光學膜的前述複數偏光圖形列之檢測方法，包括：支持步驟、照射步驟、攝像步驟、對比調整步驟及圖形檢測步驟；其中前述支持步驟係藉由具有支持前述光學膜的前述第一面的支持面，並於前述支持面內的至少一部分，具有反射從前述第二面側至前述第一面側穿透前述光學膜的光的反射面之支持體，以支持前述光學膜的前述第一面；前述照射步驟係朝位於前述反射面上的前述光學膜，從前述光學膜的前述第二面側，隔著偏光板照射光；前述攝像步驟係從前述光學膜的前述第二面側，拍攝位於前述反射面上的前述光學膜的反射光像；前述對比調整步驟係藉由設置於前述光的光程上的彩色濾光片，藉由反射或吸收指定的波長成分的光，以調整前述複數偏光圖形列的反射光像的對比；前述圖形檢測步驟係依據前述光學膜的前述反射光像，檢測位於前述反射面上的前述複數偏光圖形列。
9. 如申請專利範圍第8項所述之檢測方法，其中前述圖形 檢測步驟係依據前述複數偏光圖形列的反射光像的亮度或顏色之差異，檢測前述複數偏光圖形列。
10. 如申請專利範圍第8或9項所述之檢測方法，係更包括：調整前述偏光板的偏光軸與前述偏光圖形列的延遲相位軸的相對角度之調整步驟。
11. 一種處理裝置，係使用如申請專利範圍第1或2項所述之檢測裝置，檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、包含延遲相位軸的方向互異的複數偏光圖形列之圖形化相位差層以及偏光片層的光學膜的前述複數偏光圖形列，依據前述偏光圖形列的位置，對前述光學膜進行指定的處理。
12. 一種處理裝置，係使用如申請專利範圍第3項至第5項中任一項所述之檢測裝置，檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、偏光片層以及包含延遲相位軸的方向互異的複數偏光圖形列之圖形化相位差層的光學膜的前述複數偏光圖形列，依據前述偏光圖形列的位置，對前述光學膜進行指定的處理。
13. 一種處理方法，係使用如申請專利範圍第6或7項所述之檢測方法，檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、包含延遲相位軸的方向互異的複數偏光圖形列之圖形化相位差層以及偏光片層的光學膜的前述複數偏光圖形列，依據前述偏光圖形列的位置，對前述光學膜進行指定的處理。
14. 一種處理方法，係使用如申請專利範圍第8項至第10 項中任一項所述之檢測方法，檢測從第一面側朝向第二面側依序設置有相位差層、偏光片層以及包含延遲相位軸的方向互異的複數偏光圖形列之圖形化相位差層的光學膜的前述複數偏光圖形列，依據前述偏光圖形列的位置，對前述光學膜進行指定的處理。