TW201521887A - 整料設備及二極體料件篩選方法 - Google Patents

整料設備及二極體料件篩選方法 Download PDF

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Abstract

一種用以篩選並傳送二極體料件的整料設備及使用此整料設備的二極體料件篩選方法。整料設備包括震動盤、第一篩選結構以及第二篩選結構。震動盤具有料件承載區及料件傳送路徑，其中所述料件傳送路徑的一末端與所述料件承載區相連，且所述料件傳送路徑環繞所述料件承載區。第一篩選結構設置於所述料件傳送路徑上，以對所述二極體料件做第一次篩選。第二篩選結構設置於所述料件傳送路徑上，以對所述二極體料件做第二次篩選。

Description

整料設備及二極體料件篩選方法
本發明是有關於一種整料設備與料件篩選方法，且特別是有關於一種對二極體料件進行篩選及整料的整料設備及二極體料件篩選方法。
二極體料件具有兩個不同極性的針腳，其中為了方便組裝人員識別，因此多半是使針腳的長度相異以表示出不同的極性。
然而，目前的二極體料件的辨識方式還是需要人工辨識，或是利用影像處理方式來辨識，二極體料件的辨識工時無法有效縮短。詳細而言，利用人工的方式是以組裝人員的眼睛判斷二極體料件的長針腳與短針腳(其中長、短針腳個別代表不同的極性)，然後對應待組裝的物件上所標誌的極性以組裝。
雖然，目前已經有利用影像處理的方式來對二極體料件的針腳的極性來做辨識(仍多是將二極體料件的針腳設計為不同長度來表示極性的不同)，但是使用影像處理的方式需要有用以對照的圖像、攝取待檢測之二極體料件的鏡頭、用以挾持二極體料 件的機械手臂等，造價較為昂貴。
本發明提供一種對二極體料件進行篩選及整料的整料設備。
本發明提供一種二極體料件篩選方法，其可以對二極體料件進行篩選及整料。
本發明提出一種用以篩選並傳送二極體料件的整料設備，包括震動盤、第一篩選結構以及第二篩選結構。震動盤具有料件承載區及料件傳送路徑，其中所述料件傳送路徑的一末端與所述料件承載區相連，且所述料件傳送路徑環繞所述料件承載區。第一篩選結構設置於所述料件傳送路徑上，以對所述二極體料件做第一次篩選。第二篩選結構設置於所述料件傳送路徑上，以對所述二極體料件做第二次篩選。
在本發明之整料設備的一實施例中，上述之震動盤為圓形震動盤。
在本發明之整料設備的一實施例中，上述之第一篩選結構具有平台以及突出部，其中突出部突出於料件傳送路徑。
在本發明之整料設備的一實施例中，上述之第二篩選結構為弧狀篩料彈臂。
在本發明之整料設備的一實施例中，上述之震動盤更具有導引邊牆，環繞於所述料件傳送路徑並與所述料件傳送路徑相 隔一距離，且連接所述料件承載區，而未通過篩選的所述二極體料件經由所述導引邊牆回到所述料件承載區內。
本發明另提出一種二極體料件篩選方法，其中二極體料件具有兩針腳，且所述兩針腳長度相異。所述二極體料件篩選方法至少包括下列步驟：提供整料設備，包括具有料件承載區及料件傳送路徑的震動盤、設置於所述料件傳送路徑上的第一篩選結構及第二篩選結構；將二極體料件置入所述料件承載區；所述二極體料件自所述料件承載區進入所述料件傳送路徑且經過所述第一篩選結構而被篩選，其中通過所述第一篩選結構的所述二極體料件繼續於所述料件傳送路徑上傳送；通過所述第一篩選結構的所述二極體料件於所述料件傳送路徑上傳送且經過所述第二篩選結構且被篩選，而通過所述第二篩選結構的所述二極體料件繼續於所述料件傳送路徑上傳送。
在本發明之二極體料件篩選方法的一實施例中，上述之經過所述第一篩選結構而被篩選為針對所述二極體料件的兩針腳的其中之一以進行篩選。
在本發明之二極體料件篩選方法的一實施例中，上述之經過所述第二篩選結構而被篩選為針對所述二極體料件的兩針腳的其中另一以進行篩選。
在本發明之二極體料件篩選方法的一實施例中，未通過所述第一篩選結構或所述第二篩選結構的所述二極體料件經由所述震動盤的導引邊牆回到所述料件承載區內。
基於上述，於本發明之整料設備及使用此整料設備的二極體料件篩選方法中，在料件傳送路徑上設置料件的篩選結構，以對料件進行篩選，讓通過篩選結構的二極體料件是以使用者所預期的方向傳送而達到整料的目的。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
100‧‧‧二極體料件
200‧‧‧整料設備
210‧‧‧震動盤
212‧‧‧料件承載區
214‧‧‧料件傳送路徑
220‧‧‧第一篩選結構
222‧‧‧平台
224‧‧‧突出部
226‧‧‧篩孔
230‧‧‧第二篩選結構
240‧‧‧導引邊牆
S110~S140‧‧‧步驟
圖1為本發明之用以篩選並傳送二極體料件的整料設備的示意圖。
圖2為使用圖1之整料設備對二極體料件進行篩選及整料的二極體料件篩選方法的步驟流程圖。
圖3為整料設備對二極體料件進行篩選及整料的示意圖。
習知的二極體料件是利用人工或影像處理方式來辨識，其中人工的方式需要線上人員的細心及認真辨識，且無法有效縮減所需的辨識時間；而影像處理的方式又需要在辨識設備中設置鏡頭、機械手臂等，造價較為昂貴。而在本發明的整料設備及使用此整料設備的二極體料件篩選方法中，藉由在料件傳送路徑上設置簡單的篩選結構，以對二極體料件進行篩選及整料。
以下將舉實施例說明本發明之概念，其中以下所載的內 容僅為舉例說明之用，並非用以侷限本發明。此外，若下文中使用表明元件之間相互位置關係的描述如前、後、上、下、左、右、之間等是以說明內容中某個元件作為基準點來說明，且使用X、Y、Z、順時針、逆時針等方向性的陳述，僅是搭配圖式的表現方式而方便說明，並非用來限制本發明。讀者應能知悉，在作為基準點的元件更動之後，元件之間的相互位置關係也會跟著變動。
本實施例中用以篩檢的二極體料件100(示於圖1)具有兩針腳(未標示)，且所述兩針腳是在同一延伸線上朝向相反的兩個方向延伸，且兩針腳的長度相異，以讓組裝人員能夠識別出長度不同的針腳所代表的極性。
圖1為本發明之用以篩選並傳送二極體料件的整料設備的示意圖。請參考圖1，整料設備200包括震動盤210、第一篩選結構220以及第二篩選結構230。震動盤210具有料件承載區212及料件傳送路徑214，其中所述料件傳送路徑214的一末端(未標示)與所述料件承載區212相連，且所述料件傳送路徑214環繞所述料件承載區212且更向外延伸。第一篩選結構220及第二篩選結構230皆設置於所述料件傳送路徑214上，以分別對所述二極體料件100做第一次篩選以及第二次篩選。
詳細而言，上述的震動盤210為圓形震動盤。此外，設置在料件傳送路徑214上的第一篩選結構220具有較為平坦的平台222以及略向料件傳送路徑214突出的突出部224，而第二篩選結構230為弧狀篩料彈臂。另外，震動盤210更具有環繞於所述 料件傳送路徑214並與所述料件傳送路徑214相隔一距離的導引邊牆240，此導引邊牆240連接所述料件承載區212，而未通過篩選的所述二極體料件100會落下料件傳送路徑214之外，經由所述導引邊牆240回到所述料件承載區212內。
以下將針對使用以上述實施例的整料設備200對二極體料件100進行篩選及整料的二極體料件100篩選方法。
圖2為使用圖1之整料設備對二極體料件進行篩選及整料的二極體料件篩選方法的步驟流程圖，而圖3為整料設備200對二極體料件進行篩選及整料的示意圖。請同時參考圖1、圖2及圖3，所述二極體料件篩選方法至少包括下列步驟：提供上述的整料設備200，並且將二極體料件100置於整料設備200的震動盤210的料件承載區212，如步驟S110。將二極體料件100置入所述料件承載區212，如步驟S120，且啟動震動盤210，讓震動盤210運作。
隨著震動盤210的震動，會將所述二極體料件100自所述料件承載區212震入所述料件傳送路徑214中，且當所述二極體料件100經過所述第一篩選結構220時，可經由第一篩選結構220對所述二極體料件100進行第一次的篩選，如步驟S132。
請同時參考圖1及圖2及圖3，在二極體料件100接觸第一篩選結構220時，二極體料件100會先接觸第一篩選結構220的平台222，然後隨著震動盤210的震動，二極體料件100仍會持續被運送。附帶一提的是，此處之平台222是指第一篩選結構220 在二極體料件100越往前被運送時，二極體料件100會受到第一篩選結構220略為突出於料件傳送路徑214的突出部224對二極體料件100進行第一次的篩選，其中此篩選方式為將二極體料件100稍微整理，將擺置位置或方向不恰當的二極體料件100做出篩選，並且其中一個針腳的長度是否是以組裝人員所預期的方式通過突出部224。需說明的是，由於第一篩選結構220的平台222隨著越深入料件傳送路徑214，平台222的平面會逐漸傾斜並轉直，而二極體料件100也會隨著平台222及突出部224的輪廓以及料件傳送路徑214的軌道(未標示)的導引而漸轉直，以接受突出部224的篩檢。
請同時參考圖1、圖2及圖3，當突出部224接觸到被轉直後的二極體料件100的針腳時，表示二極體料件100的針腳過長，因此被第一篩選結構220的突出部224接觸到的二極體料件100因為未通過篩選而掉落到震動盤210的導引邊牆240。之後，經由導引邊牆240的導引回到所述料件承載區212內，如步驟S136。
通過所述第一篩選結構220的所述二極體料件100繼續於所述料件傳送路徑214上傳送，如步驟S134，且為弧狀篩料彈臂的第二篩選結構230對二極體料件100進行第二次的篩選。其中，被第二篩選結構230接觸到二極體料件100的針腳時，表示二極體料件100的針腳的極性不符預期，因此被判定為未通過篩選而掉落到震動盤210的導引邊牆240，再經由導引邊牆240的導 引回到所述料件承載區212內，如步驟S136。
附帶一提的是，料件傳送路徑214還設置有篩孔216，此篩孔216是用以在料件100是以倒置的方式在料件傳送路徑214中傳送時，使料件100因未受料件傳送路徑214的軌道夾持而下落至料件承載區212內。
需說明的是，由於二極體料件100的兩個針腳的長度相異，因此用於進行篩選的第一篩選結構220的突出部224相對於軌道的高度與為弧狀篩料彈臂的第二篩選結構230相對於軌道的高度並不相同。而依據實際的需求，可以設計使第一次是對長針腳進行篩選，而第二次對短針腳進行篩選；或者相反。
請同時參考圖2及圖3，而通過上述第一篩選結構220及上述第二篩選結構230的所述二極體料件100，會以組裝人員所預期的擺置方式繼續於所述料件傳送路徑214上傳送以利組裝的進行，如步驟S140。此處所說明之二極體料件100的擺置方式是指二極體料件100的長針腳及短針腳的朝向，其也代表二極體料件100的極性方向。
在二極體料件100通過篩選後，二極體料件100進入排料區(未繪示)，而之後會有如貼片機或其他的工具會夾取並移動二極體料件100，以將二極體料件100固定於基板上(未繪示)。
綜上所述，於本發明之整料設備及使用此整料設備的二極體料件篩選方法中，在料件傳送路徑上設置料件的篩選結構，以對料件進行篩選，讓通過篩選結構的二極體料件是以使用者所 預期的方向傳送而達到整料的目的。
此外，相較於習知需要使用較為耗時耗力的人工方式辨識二極體料件的極性以組裝，或是利用設備較為昂貴的影像處理方式來辨識，本發明之整料設備所提供的是一種利用單純物理或機械性質來進行直覺性的篩選方式，因此相較於人工方式較為省時省力，而相較於影像處理方式更能夠節省設備成本。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧二極體料件
200‧‧‧整料設備
210‧‧‧震動盤
212‧‧‧料件承載區
214‧‧‧料件傳送路徑
220‧‧‧第一篩選結構
222‧‧‧平台
224‧‧‧突出部
226‧‧‧篩孔
230‧‧‧第二篩選結構
240‧‧‧導引邊牆

Claims (9)

  1. 一種整料設備，用以篩選並傳送二極體料件，包括：震動盤，具有料件承載區、料件傳送路徑及導引邊牆，其中所述料件傳送路徑的一末端與所述料件承載區相連，且所述料件傳送路徑環繞所述料件承載區，而所述導引邊牆環繞於所述料件傳送路徑並與所述料件傳送路徑相隔一距離並與連接所述料件承載區；第一篩選結構，設置於所述料件傳送路徑上，用以對所述二極體料件做第一次篩選；第二篩選結構，設置於所述料件傳送路徑上，用以對所述二極體料件做第二次篩選，而未通過篩選的所述二極體料件經由所述導引邊牆回到所述料件承載區內。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之整料設備，其中所述震動盤為圓形震動盤。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之整料設備，其中所述第一篩選結構具有平台以及突出部，其中所述突出部突出於所述料件傳送路徑。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之整料設備，其中所述第二篩選結構為弧狀篩料彈臂。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之整料設備，其中所述第一篩選結構的突出部相對於所述料件傳送路徑的軌道的高度與第二篩選結構相對於所述軌道的高度並不相同。
  6. 一種二極體料件篩選方法，其中二極體料件具有兩針腳，且所述兩針腳長度相異，所述二極體料件篩選方法包括：提供整料設備，所述整料設備用以篩選並傳送二極體料件，包括具有料件承載區及料件傳送路徑的震動盤、設置於所述料件傳送路徑上的第一篩選結構及第二篩選結構； 將二極體料件置入所述料件承載區；所述二極體料件自所述料件承載區進入所述料件傳送路徑且經過所述第一篩選結構而被篩選，其中通過所述第一篩選結構的所述二極體料件繼續於所述料件傳送路徑上傳送；通過所述第一篩選結構的所述二極體料件於所述料件傳送路徑上傳送且經過所述第二篩選結構且被篩選，而通過所述第二篩選結構的所述二極體料件繼續於所述料件傳送路徑上傳送。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之二極體料件篩選方法，其中所述經過所述第一篩選結構而被篩選為針對所述二極體料件的兩針腳的其中之一以進行篩選。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之二極體料件篩選方法，其中所述經過所述第二篩選結構而被篩選為針對所述二極體料件的兩針腳的其中另一以進行篩選。
  9. 如申請專利範圍第6項所述之二極體料件篩選方法，其中未通過所述第一篩選結構或所述第二篩選結構的所述二極體料件經由所述震動盤的導引邊牆回到所述料件承載區內。
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