TW201514492A - 含有含氟表面處理劑之物品的分析方法 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種容易地辨別在含有含氟表面處理劑之物品(例如纖維、衣著及紙)中是否有使用全氟辛酸的簡便之分析方法。 本發明之分析方法係一種含有含氟表面處理劑之物品的分析方法，該分析方法係求出含氟表面處理劑所具有之氟烷基的碳數，其特徵係：(1)將含有含氟表面處理劑之物品進行加熱之步驟、以及(2)對從物品所產生之氣體進行測定之步驟。

Description

含有含氟表面處理劑之物品的分析方法
本發明係有關一種求出含有含氟表面處理劑之物品中的氟烷基之碳數的分析方法。特別是，有關一種對經撥水撥油劑及/或防污加工劑等表面處理劑所處理(加工)過的物品中之全氟辛酸及其前驅物(例如：C8F17I、C8F17CH2CH2I、C8F17CH2CH2OH、C8F17CH=CH2、C8F17CH2CH2OCOCH=CH2)進行分析之方法。
全氟辛酸係作為在聚四氟乙烯(PTFE)等氟樹脂之合成時使用的添加劑、界面活性劑等所使用之化合物。已確認全氟辛酸係在河川水、地下水等環境試樣中是以ppt至ppb之程度的單位之量被檢測出等而廣泛地擴散於環境中。
此外，已確認全氟辛酸有生物累積性，而擔心危害到健康，因此，美國環境保護局(US EPA)於2006年1月呼籲主要的8家氟化工廠商自主性地全面廢止全氟辛酸的排放直到2015年為止(PFOA2010/2015年管理計 劃)，而該8家公司亦皆表達參與。
屬於全氟辛酸之合成原料的C8F17I及其衍生物(例如：C8F17CH2CH2I、C8F17CH2CH2OH、C8F17CH=CH2、C8F17CH2CH2OCOCH=CH2)係含在含氟工業製品中，被指稱有可能會在環境中分解而無意地生成全氟辛酸，亦可能成為全氟辛酸在環境中擴散的原因。因此，在PFOA2010/2015年管理計劃中，係將可生成全氟辛酸之化合物(例如：C8F17I、C8F17CH2CH2I、C8F17CH2CH2OH、C8F17CH=CH2、C8F17CH2CH2OCOCH=CH2)稱為全氟辛酸前驅物，與對於全氟辛酸相同地，參與的各廠商亦全面廢止全氟辛酸前驅物的排放直到2015年為止。
因此，尋求一種辨別含氟工業製品中是否有使用全氟辛酸前驅物的方法。尤其在含有含氟表面處理劑之物品(例如纖維、衣著及紙等的加工品)的領域中有強烈的需求。
存在有將全氟辛酸進行定量之方法(例如：在水等環境試樣中則為ISO 25101：2009，在撥水撥油劑水性分散液中則為日本特開2011-237385號公報)。然而，將該等定量方法利用在含氟工業製品時，僅可得到試樣中的全氟辛酸之含量，由此結果並無法判斷含氟工業製品中是否有使用全氟辛酸前驅物。
日本特開2011-526675號公報係揭示一種在包含經撥水撥油劑所處理過之化學纖維的布中之碳數為20以下的低分子有機化合物之分析方法。該方法係將包含 化學纖維的布試樣中所含之游離的全氟辛酸及/或全氟辛酸前驅物進行萃取/分析之方法，惟在大多數的情況下，游離的全氟辛酸及/或全氟辛酸前驅物並不含有足以進行分析之濃度，而無法判斷試樣中是否有使用全氟辛酸前驅物。
日本特開2010-54274號公報係揭示一種將含有氟系化合物之混合物進行分析之方法。該方法不僅繁瑣，且為了得到定量性而必須將試樣加熱至高溫(根據第9圖為1000℃)，因此，雖然當基材包含如化妝品用粉體等在高溫中亦不分解的物質時係可利用，然而大多數的基材並不耐高溫，因此，會因基材之熱分解而產生氣體，將干擾氟系化合物的分析。亦即，可利用的基材極為有限。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2011-526675號公報
[專利文獻2]日本特開2010-54274號公報
本發明之目的之一係提供一種容易地辨別在含有含氟表面處理劑之物品(例如纖維、衣著及紙等之加工品)中是否有使用全氟辛酸前驅物的簡便之分析方法。
本發明係提供一種辨別在物品中是否有使用全氟辛酸前驅物的方法，其特徵係：採集含有含氟表面 處理劑(亦即，含氟有機化合物)之物品(例如：經撥水撥油加工過之纖維、衣著及紙等的加工品)的碎片，將該碎片加熱而得到揮發性成分，求出該揮發性成分中之含氟有機化合物的碳數。
本發明之主旨係含有含氟表面處理劑之物品的分析方法，其特徵係包含下述步驟：(1)將含有含氟表面處理劑之物品進行加熱之步驟、以及(2)對從物品所產生之氣體進行測定之步驟。
本發明之分析方法無需複雜的操作，為簡便之分析方法。
根據本發明之分析方法，即可求出含氟表面處理劑所具有之氟烷基(特別是全氟烷基)之碳數。例如，可容易辨別含氟表面處理劑是否具有碳數8之氟烷基(特別是全氟烷基)。更具體言之，可容易辨別氟烷基之碳數為8以上(例如8、10或12)或為6以下(例如6或4)。
第1圖係實施例1中得到之氣相層析質譜分析圖(GC圖)。
第2圖係實施例2中得到之氣相層析質譜分析圖(GC圖)。
第3圖係實施例12中得到之氣相層析質譜分析圖(GC圖)。
第4圖係實施例12中得到之氣相層析質譜分析圖(MS圖)。
本發明之分析方法係具有下述步驟：(1)將含有含氟表面處理劑之物品進行加熱之步驟、以及(2)對從物品所產生之氣體進行測定之步驟。
「含有含氟表面處理劑之物品」一般係指經含氟表面處理劑所處理過之物品。含氟表面處理劑一般為含氟撥水撥油劑及/或含氟防污加工劑。「物品」，特別是經含氟表面處理劑(例如：含氟撥水撥油劑)所處理過之被處理物(基材)係可列舉如：纖維製品(紗線、編織物、紡織物、不織布、及使用該等而製作之衣著、寢具、窗簾、墊物類)、石材、濾器(例如：靜電濾器)、防塵罩、燃料電池之零件(例如：氣體擴散電極及氣體擴散支撐體)、玻璃、紙、木材、皮革、毛皮、石棉、磚、水泥、金屬及金屬氧化物、窯業製品、塑膠、塗層面以及石膏等。纖維製品尤其可為地毯。「處理」係指將處理劑藉由浸漬、噴霧及塗佈等而適用於被處理物(基材)之意。經由處理，使屬於處理劑之有效成分的含氟聚合物滲透至被處理物之內部及/或附著於被處理物之表面。
以下，對於各步驟進行說明。
(1)加熱步驟：
將含有含氟表面處理劑之物品進行加熱。加熱溫度係以不會從基材產生熱分解氣體之溫度為佳。此係因由基材 熱分解所產生之氣體會妨礙氟烷基的分析之故。因此，加熱係以不使該物品之重量實質上產生變化之方式進行者為佳。由加熱所導致之物品重量變化(重量減少)，係根據加熱前之物品重量，而為5重量%以下，例如以1重量%以下為佳，特別是以0.5重量%以下更佳。
加熱溫度一般為100至250℃，例如可為150℃至210℃，特別是180℃至200℃。加熱時間一般為1分鐘至300分鐘，例如可為2分鐘至150分鐘，特別是5分鐘至60分鐘。
可在恆溫下進行加熱，亦可改變溫度進行加熱。例如：可藉由從低溫(例如70℃)升溫至高溫(例如250℃)而進行加熱。
加熱所使用之容器可為密閉容器亦可為開放容器。密閉容器係例示如：在玻璃製小瓶上將包含丁基橡膠、聚矽氧(silicone)橡膠等密封材料的隔膜片(Septum seal)以鋁製蓋予以固定之形式的容器。在使用開放容器時，則例示如：從具有兩個開口部之容器的其中一個開口部使空氣、氮氣等氣體流入，並在另一個開口部具備袋狀之收集容器或苯乙烯-二乙烯基苯共聚物等吸附材的裝置。
(2)測定步驟：
經加熱，而從物品產生氣體。該氣體係包含由含氟表面處理劑經分解所產生之氣體。將從物品所產生之氣體收集並進行測定。
關於收集法，在使用密閉容器時，可例示如：使用注 射器等收集密閉容器中之氣相部的靜態頂空取樣法(static headspace sampling method)。靜態頂空取樣法中，可利用市售裝置，該市售裝置係與氣相層析裝置連接，可自動進行從加熱至收集及氣相層析測定。並且，在使用開放容器時，可例示如：使用動態頂空取樣法(dynamic headspace sampling method)，該方法係在從上述具有兩個開口部之容器的其中一個開口部使空氣、氮氣等氣體流入並在另一個開口部具備苯乙烯-二乙烯基苯共聚物等吸附材的裝置中，將吸附材所收集的氣體以加熱等方法回收，作為測定試樣。
由於含氟表面處理劑具有Rf基(氟烷基)，因此，分解時產生之氣體係包含具有Rf基之物質。
含氟表面處理劑一般係包含含氟聚合物作為有效成分。含氟聚合物通常具有由下述式所示之含氟單體所衍生的重複單元，CH2=C(-X)-C(=O)-Y-Z-Rf式中，X為氫原子、一價有機基或鹵素原子；Y為-O-或-NH-；Z為直接鍵結或二價有機基；Rf為碳數1至20之氟烷基。
因此，具有Rf基之分解氣體之例係如下述。Rf-Z-A式中， Rf為碳數1至20之氟烷基；Z為直接鍵結或二價有機基(例如伸烷基)；A為-OH、-CH=CH2、-OCOCH=CH2、-COOH或鹵素(例如氯或碘)。
分解氣體係以Rf-Z-OH為佳。
Rf係以全氟烷基為佳。Rf之具體例係-CF3、-C2F5、-C3F7、-C4F9、-C5F11、-C6F13、-C8F17、-C10F21、-C12F25。
Z之具體例係：直接鍵結、碳數1至20之直鏈伸烷基或分枝狀伸烷基[例如：式-(CH2)x-(式中，x為1至10)所示之基]、或者是式-SO2N(R1)R2-或式-CON(R1)R2所示之基(式中，R1為碳數1至10之烷基；R2為碳數1至10之直鏈伸烷基或分枝狀伸烷基)、或者是式-CH2CH(OR3)CH2-(式中，R3表示氫原子或碳數1至10之醯基(例如甲醯基或乙醯基等))所示之基、或者是式-Ar-CH2-(式中，Ar係依必要而具有取代基之伸芳基)所示之基、或者是-(CH2)m-SO2-(CH2)n-基或-(CH2)m-S-(CH2)n-基(惟m為1至10，n為0至10)。
本發明中，Z係以直接鍵結、碳數1至20之伸烷基、-SO2N(R1)R2-為佳。
分解氣體之具體例中包含：全氟辛酸及其前驅物(例如：C8F17I、C8F17CH2CH2I、C8F17CH2CH2OH、 C8F17CH=CH2、C8F17CH2CH2OCOCH=CH2、C8F17SO2N(CH3)CH2CH2OH)。
測定分解氣體，以辨別具有Rf基之分解氣體是否存在。測定係以藉由氣相層析儀(GC)進行為佳。分解氣體之檢測係藉由質譜儀(MS)、氫焰游離偵測器(FID)、熱導偵測器(TCD)、電子捕獲偵測器(ECD)或光游離偵測器(PID)等而進行。碳數之測定係可利用滯留時間(Retention time)法、質譜分析(mass spectrometry)法等。在質譜分析法中，因可鑑定化合物，且不易受到由基材熱分解所產生之氣體的干擾，因此，檢測係以藉由質譜分析(MS)而進行為佳。亦即，以使用GC-MS(氣相層析質譜分析儀)者為佳。
本發明中，由於無須將全氟辛酸前驅物進行定量，因此，不須求出因加熱所導致之物品重量變化。本發明之分析法一般為定性分析。
根據本發明的方法，即可分析物品中所含的Rf基之碳數(1至20之整數，特別是4、6、8、10)。特別是，可容易分析碳數8之Rf基(特別是全氟烷基)是否存在。
[實施例]
以下，呈示實施例以具體地說明本發明。
下述中，%或份如無特別記載，係重量%或重量份之意。
進行如下之分析。
<揮發性分解物之定性分析>
使用下述GC-MS裝置進行揮發性分解物之定性分析。
裝置：Turbomass型(Perkin-Elmer製造)
管柱：DB624(長度60m、內徑0.32mm、膜厚1.8μm)
管柱溫度：50℃(5分鐘)→10℃/分鐘→250℃(5分鐘)
注入口溫度：250℃
傳輸線溫度：250℃
載氣：氦氣(He)
流量控制法：恆流模式，1.4ml/分鐘
注入量：2ml
電離法：電子衝擊電離法(EI)
電離電壓：70V
測定模式：掃描法
掃描範圍：10至600
合成例1：
在1L之高壓釜中加入C8F17CH2CH2OCOC(CH3)=CH2/C10F21CH2CH2OCOC(CH3)=CH2(重量比80/20)179g、丙烯酸硬脂酯25g、三丙二醇75.8g、純水446g、聚氧伸乙基月桂基醚12.7g、聚氧伸乙基油基醚2.47g、聚氧伸乙基異十三烷基醚5.05g及氯化二烷基(牛脂)二甲基銨2.66g，加熱至60℃後，以高壓均質機使之乳化分散。乳化後，加入月桂硫醇0.025g，並將氯乙烯60g加壓充填。進一步添加2,2-偶氮雙(2-脒基丙烷)二鹽酸鹽1.92g，使在60℃下反應3小時，得到聚合物之水性分散液。以使其固形分濃度成為30重量%之方式使用純水調整濃度。
合成例2：
在1L之高壓釜中加入C6F13CH2CH2OCOC(CH3)=CH2 154g、丙烯酸硬脂酯25g、甲基丙烯酸異莰酯25g、三丙二醇 75.8g、純水446g、聚氧伸乙基月桂基醚12.7g、聚氧伸乙基油基醚2.47g、聚氧伸乙基異十三烷基醚5.05g及氯化二烷基(牛脂)二甲基銨2.66g，加熱至60℃後，以高壓均質機使之乳化分散。乳化後，加入月桂硫醇0.025g，並將氯乙烯60g加壓充填。進一步添加2,2-偶氮雙(2-脒基丙烷)二鹽酸鹽1.92g，使在60℃下反應3小時，得到聚合物之水性分散液。以使其固形分濃度成為30重量%之方式使用純水調整濃度。
合成例3：
在300mL之四口燒瓶中加入C6F13CH2CH2OCOCH=CH2 60g、甲基丙烯酸羥乙酯10g、丙烯酸羥乙酯30g、MEK 200g，加熱至60℃後，添加過氧化三甲基乙酸三級丁酯0.5g，使在60℃下反應8小時。所得聚合物係經蒸發而除去MEK後，以使其固形分濃度成為20重量%之方式使用純水調整濃度。
合成例4：
在300mL之四口燒瓶中加入C4F9SO2N(CH3)CH2CH2OCOCH=CH2 51g、丙烯酸硬脂酯16g、三丙二醇25.3g、純水148g、聚氧伸乙基月桂基醚4.23g、聚氧伸乙基油基醚0.82g、聚氧伸乙基異十三烷基醚1.68g及氯化二烷基(牛脂)二甲基銨0.88g，加熱至60℃後，以高壓均質機使之乳化分散。乳化後，加入月桂硫醇0.008g，進一步添加2,2-偶氮雙(2-脒基丙烷)二鹽酸鹽0.64g，使在60℃下反應3小時，得到聚合物之水性分散液。以使其固 形分濃度成為30重量%之方式使用純水調整濃度。
實施例1：
以使合成例1所得之聚合物的水性分散液成為4重量%、乙二醛樹脂成為6重量%、MDI系封端型異氰酸酯乳液(固形分30%)成為1.5重量%之方式以水稀釋調製成處理液。將棉布(斜紋(twill)；25cm×25cm)浸漬在處理液中，再用碾壓機以4kg/cm2、4m/分鐘擠壓，在170℃下進行2分鐘之熱處理，得到處理布。
將處理布3cm×3cm(210mg)採集至小瓶(vial)加以密封。小瓶在200℃下加熱30分鐘之後，以注射器採集小瓶內之揮發性分解物，並使用GC-MS(氣相層析質譜分析儀)，將揮發性分解物以GC/MS進行定性分析。在17.4分鐘時觀察到C8F17CH2CH2OH之波峰，在19分鐘時觀察到C10F21CH2CH2OH之波峰。GC圖係如第1圖所示。
實施例2：
除了使合成例2所得之聚合物的水性分散液以成為4重量%之方式以水稀釋調製成處理液之外，係以與實施例1相同之方法得到處理布，並使用處理布3cm×3cm(219mg)進行定性分析。在15.5分鐘時觀察到C6F13CH2CH2OH之波峰。GC圖係如第2圖所示。
實施例3：
以使合成例2所得之聚合物的水性分散液成為2重量%之方式以水稀釋調製成處理液。將聚酯布(塔夫塔綢(taffeta)；25cm×25cm)浸漬在處理液中，再用碾壓機以4 kg/cm2、4m/分鐘擠壓，在170℃下進行1分鐘之熱處理，得到處理布。
將處理布3cm×3cm(37mg)採集至小瓶加以密封。小瓶在200℃下加熱30分鐘之後，以注射器採集小瓶內之揮發性分解物，並使用GC-MS將揮發性分解物進行定性分析。在15.5分鐘時觀察到C6F13CH2CH2OH之波峰。並未觀察到C8F17CH2CH2OH及C10F21CH2CH2OH之波峰。
實施例4：
除了以使合成例2所得之聚合物的水性分散液成為5重量%、TDI系封端型異氰酸酯乳液(固形分30%)成為1.5重量%之方式以水稀釋調製成處理液之外，係以與實施例3相同之方法得到處理布，使用處理布3cm×3cm(54mg)進行定性分析。在15.5分鐘時觀察到C6F13CH2CH2OH之波峰。
實施例5：
除了以使合成例2所得之聚合物的水性分散液成為3重量%、二甲基矽氧烷乳液(固形分20%)成為2.0重量%之方式以水稀釋調製成處理液之外，係以與實施例3相同之方法得到處理布，使用處理布3cm×3cm(39mg)進行定性分析。在15.4分鐘時觀察到C6F13CH2CH2OH之波峰。
實施例6：
以使合成例2所得之聚合物的水性分散液成為2重量%之方式以水稀釋調製成處理液。除了將尼龍布浸漬在處理液中之外，係以與實施例3相同之方法得到處理布，使用處理布3cm×3cm(33mg)進行定性分析。在15.5分鐘時 觀察到C6F13CH2CH2OH之波峰。
實施例7：
以使合成例2所得之聚合物的水性分散液成為3重量%之方式以水稀釋調製成處理液。將尼龍布(塔夫塔綢；25cm×25cm)浸漬在處理液中，再用碾壓機以4kg/cm2、4m/分鐘擠壓，在170℃下進行1分鐘之熱處理，得到處理布後，將MEK/甲苯作為溶劑之濃度30%的丙烯酸系樹脂均勻地塗佈在尼龍布的單面，在100℃乾燥1分鐘之後，再於150℃熱處理1分鐘。
將處理布3cm×3cm採集至小瓶加以密封。小瓶在200℃下加熱30分鐘之後，以注射器採集小瓶內之揮發性分解物，並使用GC-MS將揮發性分解物進行定性分析。在15.5分鐘時觀察到C6F13CH2CH2OH之波峰。
實施例8：
以使合成例2所得之聚合物的水性分散液成為4重量%之方式以水稀釋調製成處理液。以使浸吸量(wet pick up)成為15%之方式在割絨尼龍毯上噴塗霧氣，於120℃進行5分鐘之熱處理，得到處理毯。將處理毯絨210mg採集至小瓶加以密封。小瓶在200℃下加熱30分鐘之後，以注射器採集小瓶內之揮發性分解物，並使用GC-MS將揮發性分解物進行定性分析。在15.4分鐘時觀察到C6F13CH2CH2OH之波峰。
實施例9：
以使合成例3所得之聚合物的水性分散液成為1重量 %、澱粉成為2重量%之方式以水稀釋調製成處理液。將紙(牛皮紙漿；基重70g/m2、25cm×25cm)浸漬在處理液中，再用碾壓機以0.2kg/cm2、4m/分鐘擠壓，在110℃下進行1分鐘之熱處理，得到處理紙。將處理紙0.2g採集至小瓶加以密封。小瓶在200℃下加熱30分鐘之後，以注射器採集小瓶內之揮發性分解物，並使用GC-MS將揮發性分解物進行定性分析。在15.5分鐘時觀察到C6F13CH2CH2OH之波峰。
實施例10：
以使合成例3所得之聚合物的水性分散液成為1重量%、澱粉成為2重量%之方式以水稀釋調製成處理液。將紙(牛皮紙漿；基重70g/m2、25cm×25cm)浸漬在處理液中，再用碾壓機以0.2kg/cm2、4m/分鐘擠壓，在110℃下進行1分鐘之熱處理，得到處理紙。將處理紙0.2g採集至小瓶加以密封。小瓶在150℃下加熱30分鐘之後，以注射器採集小瓶內之揮發性分解物，並使用GC-MS將揮發性分解物進行定性分析。在15.3分鐘時觀察到C6F13CH2CH2OH之波峰。
實施例11：
以使合成例3所得之聚合物的水性分散液成為1重量%、澱粉成為2重量%之方式以水稀釋調製成處理液。將紙(牛皮紙漿；基重70g/m2、25cm×25cm)浸漬在處理液中，再用碾壓機以0.2kg/cm2、4m/分鐘擠壓，在110℃下進行1分鐘之熱處理，得到處理紙。將處理紙0.2g採集至小瓶 加以密封。小瓶在100℃下加熱30分鐘之後，以注射器採集小瓶內之揮發性分解物，並使用GC-MS將揮發性分解物進行定性分析。在15.3分鐘時觀察到C6F13CH2CH2OH之波峰。
實施例12：
以使合成例4所得之聚合物的水性分散液成為2重量%之方式以水稀釋調製成處理液。將聚酯布(塔夫塔綢；25cm×25cm)浸漬在處理液中，再用碾壓機以4kg/cm2、4m/分鐘擠壓，在170℃下進行1分鐘之熱處理，得到處理布。
將處理布3cm×3cm(39mg)採集至小瓶加以密封。小瓶在200℃下加熱30分鐘之後，以注射器採集小瓶內之揮發性分解物，並使用GC-MS將揮發性分解物進行定性分析。在滯留時間23.5分鐘時觀察到C4F9SO2N(CH3)CH2CH2OH之波峰。並未觀察到C6F13CH2CH2OH、C8F17CH2CH2OH及C10F21CH2CH2OH之波峰。
GC圖係如第3圖所示。GC圖之滯留時間23.5分鐘時的MS圖係如第4圖所示。
比較例1：
以使澱粉成為2重量%之方式以水稀釋調製成處理液。將紙(牛皮紙漿；基重70g/m2、25cm×25cm)浸漬在處理液中，再用碾壓機以4kg/cm2、4m/分鐘擠壓，在110℃下進行1分鐘之熱處理，得到處理紙。將處理紙0.2g採集至小瓶加以密封。小瓶在200℃下加熱30分鐘之後，以注射器採集小瓶內之揮發性分解物，並使用GC-MS將揮 發性分解物進行定性分析。並未觀察到源自全氟化合物之波峰。
[產業上之可利用性]
藉由使用本發明的分析方法，在經表面處理劑，特別是經撥水撥油劑所處理過之物品中，可容易求出表面處理劑中之氟烷基的碳數。對於經表面處理劑所處理過之物品，可容易分析氟烷基之碳數。例如，可容易辨別氟烷基之碳數為8或為6以下(例如6)。
本案之第1圖至第4圖為實施例所得到之氣相層析質譜分析圖，並不足以代表本案所請分析方法之步驟內容特徵。

Claims (13)

  1. 一種含有含氟表面處理劑之物品的分析方法，該分析方法係求出含氟表面處理劑所具有之氟烷基的碳數，其特徵係：(1)將含有含氟表面處理劑之物品進行加熱之步驟，以及(2)對從物品所產生之氣體進行測定之步驟。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之分析方法，其係辨別含氟表面處理劑所具有之氟烷基的碳數為4、6、8、10和12之何者。
  3. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之分析方法，其中，含有含氟表面處理劑之物品係經含氟表面處理劑所處理過之物品。
  4. 如申請專利範圍第1至3項中任一項所述之分析方法，其中，含氟表面處理劑包含含氟聚合物作為有效成分，且含氟聚合物具有由下述式所示之含氟單體所衍生的重複單元，CH2=C(-X)-C(=O)-Y-Z-Rf式中，X為氫原子、一價有機基或鹵素原子；Y為-O-或-NH-；Z為直接鍵結或二價有機基；Rf為碳數1至20之氟烷基。
  5. 如申請專利範圍第1至4項中任一項所述之分析方法， 其中，物品係由纖維製品、石材、濾器、防塵罩、燃料電池之零件、玻璃、紙、木材、皮革、毛皮、石棉、磚、水泥、金屬及金屬氧化物、窯業製品、塑膠、塗層面以及石膏所成群組中選出者。
  6. 如申請專利範圍第1至5項中任一項所述之分析方法，其中，從物品所產生之氣體包含具有Rf基之分解氣體。
  7. 如申請專利範圍第1至6項中任一項所述之分析方法，其中，具有Rf基之分解氣體係：Rf-Z-A式中，Rf為碳數1至20之氟烷基；Z為直接鍵結或二價有機基；A為-OH、-CH=CH2、-OCOCH=CH2、-COOH或鹵素。
  8. 如申請專利範圍第1至7項中任一項所述之分析方法，其中，在加熱步驟(1)中，加熱係以不使物品之重量實質上產生變化之方式進行。
  9. 如申請專利範圍第1至8項中任一項所述之分析方法，其中，在加熱步驟(1)中，加熱溫度為100℃至250℃。
  10. 如申請專利範圍第1至9項中任一項所述之分析方法，其中，在測定步驟(2)中，收集分解時產生之氣體並進行測定。
  11. 如申請專利範圍第1至10項中任一項所述之分析方法，其中，在測定步驟(2)中，分解氣體之檢測係藉由質譜儀(MS)、氫焰游離偵測器(FID)、熱導偵測器(TCD)、 電子捕獲偵測器(ECD)或光游離偵測器(PID)而進行。
  12. 如申請專利範圍第1至11項中任一項所述之分析方法，其中，不求出因加熱所導致之物品重量變化。
  13. 如申請專利範圍第1至12項中任一項所述之分析方法，其中，含氟表面處理劑係含氟撥水撥油劑或含氟防污加工劑。
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