TW201425960A

TW201425960A - 測試系統介面

Info

Publication number: TW201425960A
Application number: TW102142239A
Authority: TW
Inventors: Michael Caradonna; Jacob Fern; Stephen Wilkinson
Original assignee: Teradyne Inc
Priority date: 2012-12-27
Filing date: 2013-11-20
Publication date: 2014-07-01
Also published as: WO2014105243A1; KR102091461B1; US20140184257A1; CN104813172B; JP6313783B2; CN104813172A; JP2016503889A; US9063170B2; KR20150102953A; TWI592675B

Abstract

一種例示性測試系統包括：一接腳介面電路板，其用於與一受測裝置(DUT)交換信號，其中該接腳介面電路板包括第一電觸點；一中介層，其在該接腳介面電路板與一槳板之間，其中該槳板包括第二電觸點，並且其中該中介層包括用於在該等第一電觸點與該等第二電觸點之間建立電通路的電連接器；以及一致動器，其經組態以迫使該槳板與該中介層接觸，使該等電連接器與該等第二電觸點接觸，並且藉此建立該等電通路。

Description

測試系統介面

本專利申請案一般係關於測試系統介面。

自動測試設備(ATE)通常稱為「測試器」，包括用於測試受測裝置(下稱「DUT」)的電子器件。測試器的一個組件即為其介面。介面將受測裝置的儀器信號傳輸給客戶測試夾具。挑戰在於需在適當成本下傳輸具有適當電信號保真度的多個信號。

前一代測試器包括內部纜線總成，可從內部儀器卡產生並傳輸信號至標準測試器介面(DUT連接到該介面)。這樣做是出於多方面考慮。例如，纜線介面為客戶應用、測試夾具和校準提供標準介面。纜線介面亦幫助解決儀器與客戶DUT板之間的潛在對準問題。纜線介面亦可幫助解決儀器節距與客戶測試夾具之間的空間變換問題。儘管存在這些屬性，僅使用纜線的測試頭介面仍存在相關聯問題。例如，纜線介面會增加同軸纜線終端的阻抗不連接性，這會影響信號保真度。纜線長度本身也會導致額外的信號衰減。同時，內部信號纜線成本相對較高。

一種例示性測試系統可包括下列特徵中的一或多項：一接腳介面電路(pin electronics；PE)板，其用於與一受測裝置(DUT)交換信號，其中該接腳介面電路板包括第一電觸點；一中介層，其在該接腳介面電路板與一槳板之間，其中該槳板包括第二電觸點，且其中該中介層包括用於在該等第一電觸點與該等第二電觸點之間建立電通路的電連接器；一致動器，其經組態以迫使該槳板與該中介層接觸，使該等電連接器與該等第二電觸點接觸，並且藉此建立該等電通路。該例示性測試系統可單獨或組合地包括下列特徵中的一或多項。

該中介層可為一第一中介層；該槳板可為一第一槳板；該等第一電觸點可在該接腳介面電路板的一第一側上；該等電連接器可為第一電連接器；並且該接腳介面電路板可包括在該接腳介面電路板之一第二側上的第三電觸點。該例示性測試系統可包括下列特徵：一第二中介層，其在該接腳介面電路板之該第二側與一第二槳板之間，其中該第二槳板包括第四電觸點，且其中該第二中介層包括用於在該等第三電觸點與該等第四電觸點之間建立第二電通路的第二電連接器。該致動器亦可經組態以使該第二槳板與該第二中介層接觸，使該等第二電連接器與該等第四電觸點接觸，並且藉此建立該等第二電通路。

該例示性測試系統可包括一或多個彈簧，該一或多個彈簧經偏置以抵消該致動器施加的力，使該槳板與該中介層連接。該致動器可包括一氣動系統，該氣動系統包括一或多個活塞，該一或多個活塞係可控制以壓縮一或多個對應彈簧。

例示性測試系統可包括一現場可更換單元(FRU)，該現場可更換單元(FRU)包含該致動器。該FRU可安裝在該PE板之複數個插槽中之一者中。該等對準特徵可包括粗略對準特徵，該等粗略對準特徵包含對準導引器。該等對準特徵可包括精細對準特徵，該等精細對準特徵可包括對應於槳板中之孔的接腳。

該FRU可包括多個插槽。該多個插槽中之各者均可容納兩個槳板。該兩個槳板可經配置以使該接腳介面電路板在該兩個槳板之間。該多個插槽中之各者可經組態以使用實質上零插入力接納兩個槳板。

該致動器可包括一螺釘或一凸輪，電連接器可為彈簧探針(pogo pin)。在一些情況中，該接腳介面電路板與該槳板之間無需纜線連接。該致動器可包括馬達、壓電材料、電磁鐵或氣動裝置中之至少一者。

一種例示性測試系統可包括下列特徵中的一或多項：一現場可更換單元(FRU)，其包括多個插槽，其中該多個插槽中之各者係用於容納一對槳板，並且其中該等槳板之各者經組態有電通路，用以在該測試系統與一或多個受測裝置(DUT)之間傳輸信號。該多個插槽中之至少一個插槽可包括：一接腳介面電路(PE)板，其用於與一DUT交換信號，其中該接腳介面電路板包括第一電觸點及第二電觸點，該等第一電觸點在該接腳介面電路板之一第一側上，該等第二電觸點在該接腳介面電路板之一第二側上；一第一中介層，該第一中介層在該接腳介面電路板之該第一側與該對槳板中之一第一槳板之間，其中該第一槳板包括第三電觸點，並且其中該第一中介層包括用於在該等第一電觸點與該等第三電觸點之間建立第一電通路的第一電連接器；一第二中介層，該第二中介層在該接腳介面電路板之該第二側與該對槳板中之一第二槳板之間，其中該第二槳板包括第四電觸點，並且其中該第二中介層包括用於在該等第二電觸點與該等第四電觸點之間建立第二電通路的第二電連接器；以及一或多個致動器，該一或多個致動器經組態用於施力於該第一槳板及該第二槳板，以使該等第一電連接器及該等第二電連接器分別與該等第三電觸點及該等第四電觸點接觸，並且藉此建立該等第一電通路及該等第二電通路。該例示性測試系統可單獨或組合地包括下列特徵中之一或多項。

該多個插槽中之各者可包括一接腳介面電路板、一第一中介層、一第二中介層及一或多個致動器。至少一個插槽包括一或多個彈簧，該一或多個彈簧經偏置以抵消該致動器施加的力，抑制該第一槳板連接至該第一中介層並且抑制該第二槳板連接至該第二中介層。

該至少一個插槽可包括對準特徵，用於在該至少一個插槽內對準各槳板。該等對準特徵可包括粗略對準特徵，該等粗略對準特徵包含對準導引器。該第一中介層及該第二中介層之各者可包括精細對準特徵。該等精細對準特徵可包括接腳，該等接腳對應於在一對應槳板中之孔。

該致動器可包括一氣動系統，該氣動系統包括一或多個活塞，該一或多個活塞係可控制以壓縮一或多個對應彈簧。在每個中介層上，各信號觸點可與兩個接地接腳相關聯，以形成接地-信號-接地(GSG)三重線。該至少一個插槽可經組態以使用實質上零插入力接納兩個槳板。該致動器可包括一螺釘或一凸輪，並且該等電連接器可為彈簧探針。在一些情況中，該接腳介面電路板與該第一槳板或該第二槳板之間無需纜線連接。

本文所述之任何兩項或多項特徵(包括在發明內容中)可相互結合，形成未在本文具體說明的其他實施例。

前文的部分內容可實施為由指令組成的電腦程式產品，儲存在一或多個非暫時性、機器可讀取儲存媒體上，並可在一或多個處理裝置上執行。前文的全部或部分內容可實施為一設備、方法或系統，可包括一或多個處理裝置及儲存可執行指令的記憶體，以實現其功能。

在圖式與下文敘述中提出一或多個實例的細節。自以下說明、圖式及申請專利範圍，可明白本發明的進一步特徵、態樣與優點。

10‧‧‧接腳

12‧‧‧中介層

14‧‧‧三重線

16‧‧‧中介層

17‧‧‧接腳介面電路(PE)板

18‧‧‧中介層

20‧‧‧PE板之底側

23‧‧‧PE板

24‧‧‧中介層

25‧‧‧中介層

26‧‧‧槳板

28‧‧‧槳板

30‧‧‧中介層

32‧‧‧中介層

34‧‧‧PE板

38‧‧‧H接腳

40‧‧‧槳板

42‧‧‧致動器總成

44‧‧‧現場可更換單元(FRU)插槽

46‧‧‧槳板

48‧‧‧槳板

50‧‧‧粗略對準特徵/插槽導引器

52‧‧‧槳板

53‧‧‧中介層

54‧‧‧對準接腳

55‧‧‧PE板

56‧‧‧孔

60‧‧‧彈簧

62‧‧‧槳板

64‧‧‧槳板

66‧‧‧活塞

68‧‧‧活塞

70‧‧‧活塞室

72‧‧‧活塞室

76‧‧‧客戶測試器介面單元(TIU)壓印觸點陣列連接器(SCA)中介層槳板總成

78‧‧‧載具組塊

圖1展示中介層中使用的例示性連接器的側視圖(兩個不同方向)。

圖2及圖3是例示性中介層的透視圖。

圖3是例示性中介層的俯視圖。

圖4是側視圖，展示接腳介面電路(PE)板及在PE板上下方的中介層的例示性互連。

圖5是連接到PE板頂部及底部的例示性中介層的透視圖。

圖6是斷開組態之例示性零插入力(ZIF)連接側視圖，其中ZIF連接由PE板、位於PE板頂部與底部的中介層以及與相應中介層配合的槳板組成。

圖7及圖8是閉合組態之例示性ZIF連接的側視圖，其中ZIF連接由PE板、位於PE板頂部與底部的中介層以及與相應中介層配合的槳板組成。

圖9是例示性槳板的透視圖。

圖10A及圖10B是固持ZIF介面之多個插槽的例示性致動器總成的前後透視圖。

圖11A是例示性槳板及用於對準插槽中槳板的粗略對準特徵的側視圖。

圖11B是插槽結構透視圖。

圖12是例示性ZIF連接及精細對準特徵(在本例示性接腳中，精細對準特徵包含在中介層上)的透視圖。

圖13是包含致動器的斷開例示性ZIF連接的前橫截面視圖，在此實例中，致動器為活塞及彈簧，用於控制槳板至中介層的連接。

圖14是包含致動器的閉合例示性ZIF連接的前橫截面視圖，在此實例中，致動器為活塞及彈簧，用於控制槳板到中介層的連接。

圖15是自受測裝置觀點的例示性槳板總成透視圖。

圖16是自測試器儀器觀點的例示性槳板總成透視圖。

圖17是例示性槳板總成之一部份之透視圖，其中展示槳板載具組塊。

諸如記憶體製造商及其他半導體製造商等裝置製造商通常會在生產的各階段對裝置進行測試。在製造期間，於單一矽晶圓上製成大量的積體電路。將晶圓切割成稱為晶粒的個別積體電路。將每一晶粒裝載入一框架中，並且可附接接合導線來將晶粒連接至自框架開始延伸的引線。接著將裝載的框架囊封在塑膠或另一封裝材料中，以製成成品。在製造過程中，盡可能早地偵測並丟棄缺陷零件，對製造商而言是一經濟誘因。因此，許多製造商在將晶圓切割為晶粒前，先在晶圓層級進行積體電路的測試。標記出缺陷電路，且通常在封裝前將缺陷電路丟棄，從而省下封裝缺陷晶粒的成本。作為最終檢查，許多製造商在裝運前會測試每一件成品。

為了測試大量組件，製造商通常使用測試器。回應於測試程式中的機器可執行指令，一測試器自動產生欲施加至積體電路的輸入訊號，並監控輸出訊號。測試器比較輸出訊號與預期的回應，以決定被測裝置或「DUT」是否有缺陷。信號處理與傳輸通常使用接腳介面電路執行。

習慣上將零件測試器設計成兩個不同部分。第一部分稱為「測試頭」，包括位置接近DUT的電路系統(例如，驅動電路系統、接收電路系統及短電路徑對其有利的其他電路系統)。第二部分稱為「測試器主體」，經由纜線連接至測試頭，並包含可不接近DUT的電子器件。在一些實施中，特殊機器移動並經由機械及電氣方法將裝置連續連接到測試器。在半導體晶圓層級使用「探測器」來移動裝置。在封裝裝置層級係使用「機械手」來移動裝置。探測器、機械手及其他用於相對測試器定位DUT的裝置通常名為「周邊設備」。周邊設備通常包括為了測試而放置DUT的一位點。周邊設備將DUT饋送至測試位點，測試器測試DUT，且周邊設備移動DUT遠離測試位點，以便可對另一DUT進行測試。

測試頭及周邊設備為通常具有獨立支撐結構的個別機器件。因此，在一些實施中，在測試開始之前，會將測試頭及周邊設備附接在一起。一般而言，這是藉由移動測試頭朝向周邊設備、對準測試頭及將測試頭閂鎖至周邊設備來實現。一旦經過閂鎖，銜接機構便將測試頭與周邊設備拉在一起，導致測試頭與周邊設備之間的彈簧負載接點產生壓縮並形成測試器與DUT之間的電連接。

測試器包括連接客戶夾具的介面，該介面是連接DUT的中間介面。在一些實例中，介面包括以下所述之零插入力(ZIF)類型介面。在此內容脈絡中，ZIF指可使用任何適當方法斷開及閉合的介面。斷開時，可無需用壓力或在一些情況中用較小壓力來插入配合連接器。然後介面閉合，使介面與配合連接器之間形成電連接及機械連接。雖然以下說明著重於ZIF介面，但本文所述測試系統不限於搭配ZIF介面使用，也可搭配非 ZIF介面使用。然而，在這兩種情況下，用於經由介面傳輸信號的纜線數量(例如同軸纜線及/或其他佈線)減少，在一些情況中會減少至零或個位數。

如下所述，本文所述之例示性ZIF介面使用中介層板(或僅使用「中介層」)在測試器上的接腳介面電路(PE)板與包含電觸點及所連接佈線的槳板(也簡稱為「槳」)之間形成電連接及機械連接。在一些實例中，中介層連接到PE板之頂部及底部，並且對應的槳板連接到各中介層。藉由迫使槳板與其各自中介層接觸而使連接閉合，藉此在PE板與槳板之間建立電通路。PE板與槳板之間的信號經由中介層建立的電通路傳輸。使槳板與中介層分離，連接即斷開。多種組態特徵(例如此組態)將在下文詳述。

更具體地說，使用ZIF介面時，使用適當的中介層提供充分的接觸、循環壽命、接觸密度及可靠性。在一些實例中，中介層是包含連接器的電路板，該等連接器提供介於客戶電路板與測試器上之接腳介面電路(PE)之間的電連接。在一些例示性實施中，中介層板是壓印觸點陣列連接器(SCA)。此連接器通常提供密度合規的電介面，所提供的電介面強度足以承受ZIF介面要求的循環。

SCA中介層的建置組塊是連接器(或「觸點」)。在此實例中，為滿足密度要求，使用垂直觸點(然而在其他實施中可使用非垂直觸點)。彈簧探針即為垂直觸點例示性，然而也可能使用其他類型垂直觸點。

如圖1之H接腳10的例示性彈簧探針可在處理器及燒機測試插座中使用。圖2中展示包含H接腳的例示性SCA中介層12。例示性SCA中介層12經組態以固持一陣列或多陣列H接腳10。雖然本文所述之中介層使用H接腳，但本文可使用任意類型的中介層。本文所述之介面可搭配任意適當類型的中介層使用，並且不限於本文所述之實例。

在一些實例中，SCA中介層12具有特定接腳型樣，以便滿足測試器及/或DUT的繞線、密度及效能要求。亦可選擇使相同SCA中介層連接器能夠連接到PE板兩側(例如頂部及底部)的型樣，藉此增加介面信號密度。在一些實例中，SCA中介層上的每個高速信號接腳都被兩個接地H接腳包圍，形成接地-信號-接地(GSG)三重線。圖3及圖4中展示三重線14。具體而言，圖4展示例示性PE板17，中介層16及18連接到其頂部及底部，中介層上帶有例示性H接腳。可配置三重線14使得PE板17之底側20上的連接器共用相同接地，但這並非必要條件。

為減少連接之間的串擾，可將H接腳配置在PE板之一側(例如頂部)，使其相對於PE板之另一側上(例如底部)的H接腳，從而減少電相互作用。例如，不同側上的H接腳不存在重疊或幾乎不存在重疊。就此點而言，SCA中介層之高速區域中的H接腳密度係考量到串擾，而非考量接腳尺寸。為了進一步減少串擾，應在無H接腳墊片的PE側上背部鑽出高速信號導通孔。PE板上的墊片應使用硬金電鍍，以便減少重複連接器循環損壞接腳墊片，循環數量較大時應考慮此因素。

圖5展示安裝在PE板23之頂部及底部的SCA中介層24及25之實例。

例示性ZIF介面的另一部件是上文所述之槳板。槳板是客戶/DUT板，其經組態有至客戶/DUT電路的纜線觸點。在一些實例中，槳板與在PE板上的SCA中介層配合，用於將介面電信號傳輸至同軸(或其他)纜線。為此，槳板包括經由SCA中介層連接器(例如H接腳)從PE接收電信號的電觸點。槳板上的電觸點電連接到電路，電路電連接到與客戶夾具相連的同軸(或其他)纜線。槳板通常不是測試頭的部件，但在一些實施中也可作為測試頭的部件。替代地，槳板通常是客戶夾具的部件。

除將信號傳輸至纜線外，槳板亦具有對準特徵，可提供PE板及客戶測試器介面單元(TIU)之間的粗略對準，以及槳板與各SCA中介層上的墊片之間的精細對準特徵。

圖6展示相對於的SCA中介層30、32及PE板34處於ZIF斷開位置的槳板26、28，圖7展示處於ZIF閉合位置的槳板26、28。在一些實例中，各槳板經組態以在SCA中介層H接腳墊片與同軸纜線之間提供高效能信號路徑。在一些實施中，高速路徑使用帶狀線構造及背部鑽出的導通孔以減少串擾並控制阻抗。圖8展示槳板佈線橫截面。即，圖8展示：槳板26、28；各自SCA中介層30、32；以及連接到PE板34上之佈線的各槳板/SCA中介層對之間的H接腳38。

如上所述，槳板亦充當同軸纜線或其他纜線或到客戶TIU的非纜線連接的起始點。在一些實施中，各槳板都使用成本相對較低的熱壓焊接終點組裝技術建構。在槳板上使用同軸纜線的實施中，為將所有同軸纜線安裝到可用的空間中，可使用不同尺寸及/或類型的同軸纜線，取決於纜線是傳輸高速信號還是電力。圖9展示附接有纜線的槳板40之實例。

本文所述之ZIF介面的另一特徵是致動器總成，圖10A與圖10B中繪示一例示性致動器總成42。圖中所示致動器總成分別為測試器側(圖10A)及客戶側(圖10B)。例示性總成42經組態以提供以下功能。例如，總成42可提供在槳板與對應SCA中介層之間的適當預對準。總成42亦可提供如下文所述之夾緊力以壓縮SCA中介層的H接腳，確保PE板上之觸點與槳板上之觸點之間經由H接腳的電接觸(藉此在PE板與槳板之間經由SCA中介層建立電通路)。總成42亦可提供電氣斷開機構。

在一些實例中，可按每測試插槽基礎將例示性ZIF機構致動器總成42併入至一現場可更換單元(FRU)中。因此，可按需要在現場安裝ZIF致動器總成。這些特徵可降低測試頭的零接腳機械成本，此係客戶通常不會訂購已裝滿儀器的測試系統。但是客戶仍可在需要升級時，在現場靈活安裝額外的ZIF致動器。ZIF機構致動器總成42的特徵亦包括對準特徵。在此內容脈絡中，對準特徵使被插入於FRU插槽44中的槳板與SCA中介層對準。如圖10A所示，例示性FRU可包括多個插槽。此外，在本文所述實例中，槳板垂直對準，以便與PE板上下方的SCA中介層對準。圖16繪示用於插入於FRU插槽中的槳板46及48。

例示性對準特徵經組態以隨著TIU連接到測試器而使SCA中介層與TIU上之槳板粗略對準。在一些例示性實施中，每個致動器總成有8個注射模製的TIU對準導引器；但是，可使用任意適當數量的對準導引器。達成初始粗略對準使得可安裝TIU的後，ZIF致動器總成提供第二層級粗略對準以確保每個槳板均處於SCA中介層致動器對準接腳對準範圍內的插槽中。圖11A及圖11B展示例示性粗略對準特徵50，即，接納對應槳板的插槽導引器。就此點而言，圖11A展示槳板52位於包含中介層53及PE板55的插槽中。可使用SCA中介層上的對準接腳54實現槳板52與SCA中介層之間的最終對準(圖12)。即，對準接腳與槳板上的對應孔56配合。可使用任意適當數量的對準接腳及孔。在一些實例中，可自訂設計這些接腳以具有大浮動捕獲範圍，使其足以捕獲就位的板。

例示性ZIF致動器總成的另一功能是提供夾緊力，使槳板與對應的SCA中介層接觸，藉此在PE板之頂部及底部與對應的槳板之間經由SCA中介層建立電通路(例如，請參見圖7)。在一些實例中，已預定義SCA中介層所需的標稱壓縮力。因此，在這些實例中，ZIF致動器提供比此處更大的力以克服摩擦力、纜線力及其他損耗。

在例示性ZIF中，介面機構無需受電力及空氣壓力損失的影響。因此，在一些實例中，可使用致動器產生夾緊力。在一些實施中，致動器可包括彈簧、氣動裝置(例如活塞)、凸輪及/或螺釘。但本文所述之介面不限於搭配這些機構的使用。而是，可使用任意適當類型的致動器，包括但不限於包括馬達、壓電材料、電磁鐵等裝置的致動器。在本文所述之例示性實施中，使用氣動裝置。

圖13及圖14展示ZIF連接的側視圖，其中使用氣動裝置來控制活塞以在斷開及閉合連接時使用。在圖13及圖14中，彈簧60被偏置，使得彈簧在未壓縮時推動對應的槳板62、64以使槳板與SCA中介層接觸。在此實例中，氣動裝置(圖中未展示)使活塞66、68從閉合位置(圖14，彈簧未壓縮)移至斷開位置(圖13，彈簧壓縮)，藉此斷開連接，因此機械且電斷開槳板與對應的SCA中介層。

為在閉合位置提供額外的夾緊力，各活塞排氣應抽成真空。可使用文氏型真空產生器(圖中未展示)產生真空，在一些情況中只能在ZIF移動期間使用，以便幫助克服移動部件中的摩擦。在此內容脈絡中，ZIF的移動可包括藉由移動槳板而使連接斷開或閉合。

上述實例中，在ZIF介面斷開時執行維修操作(例如更換儀器或TIU)，此可經由加壓於活塞室70、72實現。在一些實例中，由於活塞直徑相對較小，可使用大約120psi的空氣壓力產生完全壓縮彈簧所需的力，使ZIF介面接觸斷開(從而斷開PE板及槳板之間的電通路，然而在其他實施中可使用其他閥)。

在一些實例中，因為在粗略浮動範圍內捕獲各槳板，所以當加壓於圖13及圖14的活塞室70、72時，槳板移動遠離會H接腳觸點，從而實現電及機械斷開(圖13)。機械斷開使得可移除或安裝TIU或儀器而幾乎不損壞TIU或儀器。電斷開使得能夠執行測試器診斷(此操作期間客戶應用夾具與測試器電應氣隔離)。

ZIF介面的另一組件是可缷除式客戶應用夾具，如圖15及圖16所示。TIU SCA中介層槳板總成76是用於將介面信號傳輸至該夾具的組件。意欲在各種不同類型的客戶夾具上使用此子總成。就此點而言，圖15展示測試器側的總成(例如介面到測試器)，及圖16展示DUT側的總成(例如介面到DUT)。

總成76有多項功能特徵。例如，在一些情況中，在TIU已安裝在測試器上時，總成76提供將槳板放置在已知位置的機構。總成76亦允許藉由ZIF鉸接槳板。

如上所述，TIU SCA中介層槳板總成76經組態以將槳板放置在已知位置。在一些實施中，可使用屬於總成76的部分且提供受限槳板浮動範圍的組塊(如乙縮醛載具組塊)來固持槳板，從而達到上述目的。載具組塊可使用彈簧加壓，以便在槳板未與ZIF致動器接合時將其放置在已知位置，確保將TIU安裝到測試器之前槳板處於預先確定的位置。圖17中相對於例示性槳板46、48展示這些載具組塊78。

在一些實施中，槳板載具組塊可能位於軸件上並且可在軸件上自由滑動。此使得SCA中介層槳板安裝到ZIF致動器中時可鉸接SCA中介層槳板。

可至少部分經由電腦程式產品來實施本文所述之控制特徵(例如，測試頭、氣動裝置的控制等)，例如，電腦程式產品為有形地體現於一或多個資訊載體(例如，一或多個有形非暫時性機器可讀取儲存媒體)中的電腦程式，用於由資料處理裝置(例如，可程式化處理器、電腦或多台電腦等)執行或控制資料處理裝置的操作。

可用包括編譯或解譯語言之任何形式的程式設計語言撰寫的電腦程式可部署為任何形式，包括單獨程式或一模組、組件、副常式或其他適用於運算環境中的單元。可將電腦程式部署成在一台電腦或多台電腦上執行，多台電腦可位於同一現場或分散在多個現場並以網路互連。

與實施控制特徵相關聯的動作可藉由一或多個可程式化處理器來執行，該一或多個可程式化處理器執行一或多個電腦程式，以執行校準程序的功能。全部或部分的程序可實施為特殊用途邏輯電路系統，例如，FPGA(現場可程式化閘陣列)及/或ASIC(特殊應用積體電路)。

舉例來說，適於執行電腦程式的處理器包括通用及特殊用途之微處理器兩種、及任何種類數位電腦的任何一或多個處理器。一般而言，處理器將接收來自唯讀儲存區或隨機存取儲存區或兩者的指令與資料。電腦(包括伺服器)之元件包括用於執行指令的一或多個處理器及用於儲存指令與資料的一或多個儲存區裝置。一般而言，電腦亦將包括一或多個機器可讀取儲存媒體，或在操作上耦合至一或多個機器可讀取儲存媒體，以接收來自機器可讀取儲存媒體的資料及/或傳送至機器可讀取儲存媒體資料，該一或多個機器可讀取儲存媒體為例如用於儲存資料的大容量儲存裝置(例如，磁碟、磁光碟或光碟)。適用於體現電腦可程式指令及資料的機器可讀取儲存媒體包括所有形式非揮發性儲存區，舉例而言，包括：半導體儲存區裝置，例如EPROM、EEPROM及快閃儲存區裝置；磁碟，例如內部硬碟或可缷除式磁碟；磁光碟；以及CD-ROM及DVD-ROM光碟。

本文所述之不同實施的元件可相結合，以形成在上文未具體提出的其他實施例。在未對操作產生負面影響的情況下，元件可不列入本文所述之結構中。此外，各種分開的元件可結合為一或多個個別元件，以執行本文所述之功能。

本文所述之不同實施方式的元件可相結合，以形成在上文未具體提出的其他實施方式。未在本文具體陳述的其他實施方式亦屬於下列申請專利範圍的範疇內。

14‧‧‧三重線

16‧‧‧中介層

17‧‧‧接腳介面電路(PE)板

18‧‧‧中介層

20‧‧‧PE板之底側

Claims

一種測試系統，其包括：一接腳介面電路(PE)板，用於與一受測裝置(DUT)交換信號，該接腳介面電路板包括第一電觸點；一中介層，其在該接腳介面電路板與一槳板之間，該槳板包括第二電觸點，該中介層包括用於在該等第一電觸點與該等第二電觸點之間建立電通路的電連接器；以及一致動器，其經組態以迫使該槳板與該中介層接觸，使該等電連接器與該等第二電觸點接觸，並且藉此建立該等電通路。
如請求項1所述之測試系統，其中該中介層為一第一中介層，該槳板為一第一槳板，該等第一電觸點位於該接腳介面電路板之一第一側上，該等電連接器為第一電連接器，並且該接腳介面電路板包括在該接腳介面電路板之一第二側上的第三電觸點；以及其中該測試系統進一步包括：一第二中介層，其在該接腳介面電路板之該第二側與一第二槳板之間，該第二槳板包括第四電觸點，該第二中介層包括用於在該等第三電觸點與該等第四電觸點之間建立第二電通路的第二電連接器；其中該致動器亦經組態以使該第二槳板與該第二中介層接觸，使該等第二電連接器與該等第四電觸點接觸，並且藉此建立該等第二電通路。
如請求項1所述之測試系統，其進一步包括一或多個彈簧，該一或多個彈簧經偏置以抵消該致動器施加的力，使該槳板與該中介層連接。
如請求項3所述之測試系統，其中該致動器包括一氣動系統，該氣動系統包含一或多個活塞，該一或多個活塞係可控制以壓縮一或多個對應彈簧。
如請求項1所述之測試系統，其進一步包括：一現場可更換單元(FRU)，其包括該致動器，其中該現場可更換單元安裝在該接腳介面電路板之複數個插槽之一者中。
如請求項5所述之測試系統，其中該等對準特徵包括粗略對準特徵，該等粗略對準特徵包含對準導引器；以及其中該中介層包括精細對準特徵，該等精細對準特徵包括接腳，該等接腳對應於在該槳板中之孔。
如請求項5所述之測試系統，其中該現場可更換單元包括多個插槽，該多個插槽之各者均容納兩個槳板，該兩個槳板經垂直配置以使該接腳介面電路板在該兩個槳板之間。
如請求項5所述之測試系統，其中該多個插槽中之各者經組態以使用實質上零插入力接納兩個槳板。
如請求項1所述之測試系統，其中該致動器包含一螺釘或一凸輪，並且其中該等電連接器為彈簧探針。
如請求項1所述之測試系統，其中該接腳介面電路板與該槳板之間不存在纜線連接。
如請求項3所述之測試系統，其中該致動器包含一馬達、一壓電材料、一電磁鐵或氣動裝置之至少一者。
一種測試系統，其包括：一現場可更換單元(FRU)，其包括多個插槽，該多個插槽中之各者用於容納一對槳板，該等槳板之各者經組態有電通路，用於在該測試系統與一或多個受測裝置(DUT)之間傳輸信號；其中該多個插槽中之至少一個插槽包括：一接腳介面電路(PE)板，其用於與一受測裝置交換信號，該接腳介面電路板包括第一電觸點及第二電觸點，該等第一電觸點在該接腳介面電路板之一第一側上，該等第二電觸點在該接腳介面電路板之一第二側上；一第一中介層，該第一中介層在該接腳介面電路板之該第一側與該對槳板中之一第一槳板之間，該第一槳板包括第三電觸點，該第一中介層包括用於在該等第一電觸點與該等第三電觸點之間建立第一電通路的第一電連接器；一第二中介層，該第二中介層在該接腳介面電路板之該第二側與該對槳板中之一第二槳板之間，該第二槳板包括第四電觸點，該第二中介層包括用於在該等第二電觸點與該等第四電觸點之間建立第二電通路的第二電連接器；以及一或多個致動器，該一或多個致動器經組態用於施力於該第一槳板及該第二槳板，以使該等第一電連接器及該等第二電連接器分別與該等第三電觸點及該等第四電觸點接觸，並且藉此建立該等第一電通路及該等第二電通路。
如請求項12所述之測試系統，其中該多個插槽中之各者包括一接腳介面電路板、一第一中介層、一第二中介層及一或多個致動器。
如請求項12所述之測試系統，其中該至少一個插槽包括一或多個彈簧，該一或多個彈簧經偏置以抵消該致動器施加的力，抑制該第一槳板連接至該第一中介層並且抑制該第二槳板連接至該第二中介層。
如請求項14所述之測試系統，其中該致動器包括一氣動系統，該氣動系統包含一或多個活塞，該一或多個活塞係可控制以壓縮一或多個對應彈簧。
如請求項12所述之測試系統，其中該至少一個插槽包括對準特徵，用於在該至少一個插槽內對準各槳板。
如請求項16所述之測試系統，其中該等對準特徵包括粗略對準特徵，該等粗略對準特徵包含對準導引器；以及其中該第一中介層及該第二中介層之各者包括精細對準特徵，該等精細對準特徵包括接腳，該等接腳對應於在一對應槳板中之孔。
如請求項12所述之測試系統，其中在各中介層上，各信號觸點與兩個接地接腳相關聯以形成接地-信號-接地(GSG)三重線。
如請求項12所述之測試系統，其中該至少一個插槽經組態以使用實質上零插入力接納兩個槳板。
如請求項12所述之測試系統，其中該致動器包含一螺釘或一凸輪，並且其中該等電連接器為彈簧探針。
如請求項11所述之測試系統，其中該接腳介面電路板與該第一槳板或該第二槳板之間不存在纜線連接。