JP6313783B2 - 試験システム用インターフェイス - Google Patents
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Description
Claims (19)
- 第1電気的コンタクトを備える、信号を被験デバイス(DUT)とやりとりするためのピンエレクトロニクス(PE)ボードと、
前記ピンエレクトロニクスボードと、第2電気的コンタクトを備えるパドルボードとの間に設けられ、前記第1電気的コンタクトと前記第2電気的コンタクトとの間の電気的経路を形成するために用いられる電気的コネクタを備えるインタポーザと、
前記電気的コネクタを前記第2電気的コンタクトと接触させて前記電気的経路を形成すべく、前記パドルボードと前記インタポーザとを接触させるアクチュエータと、
前記アクチュエータを含むフィールド交換可能ユニット(FRU)と、
他のパドルボードと、
を備え、
前記FRUは複数の挿入スロットを備え、前記複数の挿入スロットのそれぞれは前記パドルボート及び前記他のバドルボードを収容し、前記パドルボートと前記他のパドルボードは前記ピンエレクトロニクスボードを間に挟んで配置されている、
ことを特徴とする試験システム。 - 前記インタポーザは第1インタポーザであり、前記パドルボードは第1パドルボードであり、前記第1電気的コンタクトは前記ピンエレクトロニクスボードの第1側にあり、前記電気的コネクタは第1電気的コネクタであり、前記ピンエレクトロニクスボードは、前記ピンエレクトロニクスボードの第2側にある第3電気的コンタクトを備え、且つ、
前記試験システムが、
前記他のパドルボードは第4電気的コンタクトを備える第2パドルボードであり、前記ピンエレクトロニクスボードの第2側と、前記第2パドルボードとの間に設けられ、前記第3電気的コンタクトと前記第4電気的コンタクトとの間の第2電気的経路を形成するために用いられる第2電気的コネクタを備える第2インタポーザを更に備え、
前記第2電気的コネクタを前記第4電気的コンタクトと接触させて前記第2電気的経路を形成すべく、前記アクチュエータが前記第2パドルボードと前記第2インタポーザとを接触させる、請求項1に記載の試験システム。 - アクチュエータによって加えられる力がない場合に、前記パドルボードと前記インタポーザとの接続を実現するように付勢される1つ以上のばねを更に備える、請求項1に記載の試験システム。
- 1つ以上のそれぞれ対応するばねを圧縮するように制御可能な1つ以上のピストンを含む空圧システムを、前記アクチュエータが備える、請求項3に記載の試験システム。
- 位置揃えガイドを備える粗位置揃え機構を備える位置揃え機構を更に含み、
前記インタポーザが精密位置揃え機構を備え、該精密位置揃え機構は、パドルボードに形成された穴に対応するピンを含む、請求項1に記載の試験システム。 - 前記複数の挿入スロットのそれぞれは、実質的に挿抜力なしで2枚のパドルボードを受容するように構成される、請求項1に記載の試験システム。
- 前記アクチュエータはねじ又はカムを備え、前記電気的コネクタはポゴピンである、請求項1に記載の試験システム。
- 前記ピンエレクトロニクスボードと前記パドルボードとの間に、ケーブルによる接続が存在しない、請求項1に記載の試験システム。
- 前記アクチュエータは、モータ、圧電材料、電磁機器、又は空圧機器のうちの少なくとも1つを備える、請求項3に記載の試験システム。
- 試験システムであって、
それぞれが、該試験システムと1つ以上の被験デバイス(DUT)との間に信号を流す電気的経路を有する1対のパドルボードを、それぞれが収容するための複数の挿入スロットを含むフィールド交換可能ユニット(FRU)を備え、
前記複数の挿入スロットのうちの少なくとも1つの挿入スロットが、
第1電気的コンタクト及び第2電気的コンタクトを第1側及び第2側にそれぞれ備え、DUTと信号をやり取りするためのピンエレクトロニクス(PE)ボードと、
前記ピンエレクトロニクスボードの前記第1側と、前記1対のパドルボードのうちの、第3電気的コンタクトを備える第1パドルボードとの間に設けられ、前記第1電気的コンタクトと前記第3電気的コンタクトとの間の第1電気的経路を形成するために用いられる第1電気的コネクタを備える第1インタポーザと、
前記ピンエレクトロニクスボードの前記第2側と、前記1対のパドルボードのうちの、第4電気的コンタクトを備える第2パドルボードとの間に設けられ、前記第2電気的コンタクトと前記第4電気的コンタクトとの間の第2電気的経路を形成するために用いられる第2電気的コネクタを備える第2インタポーザと、及び
前記第1パドルボード及び前記第2パドルボードに力を加えて、前記第1電気的コネクタ及び前記第2電気的コネクタをそれぞれ前記第3電気的コンタクト及び前記第4電気的コンタクトに接触させて、前記第1電気的経路及び前記第2電気的経路を形成する1つ以上のアクチュエータと、を備える試験システム。 - 前記複数の挿入スロットのそれぞれが、ピンエレクトロニクスボードと、第1インタポーザと、第2インタポーザと、1つ以上のアクチュエータとを備える、請求項10に記載の試験システム。
- 前記少なくとも1つの挿入スロットは、アクチュエータにより力が加えられない場合に、前記第1パドルボード及び前記第2パドルボードがそれぞれ前記第1インタポーザ及び前記第2インタポーザに接続するのを防ぐように付勢される1つ以上のばねを備える、請求項10に記載の試験システム。
- 1つ以上のそれぞれ対応するばねを圧縮するように制御可能な1つ以上のピストンを含む空圧システムを、前記アクチュエータが備える、請求項12に記載の試験システム。
- それぞれのパドルボードを、前記少なくとも1つの挿入スロット内に位置揃えするための位置揃え機構を、前記少なくとも1つの挿入スロットが備える、請求項10に記載の試験システム。
- 前記位置揃え機構は、位置揃えガイドを有する粗位置揃え機構を含み、且つ
前記第1インタポーザ及び前記第2インタポーザのそれぞれが、対応するパドルボードに形成された穴に対応するピンを含む精密位置揃え機構を備える、請求項14に記載の試験システム。 - それぞれのインタポーザ上において、それぞれの信号コンタクトが2つのグラウンドピンに関連付けられて、グラウンド−シグナル−グラウンド(GSG)トリプレットを形成する、請求項10に記載の試験システム。
- 前記少なくとも1つの挿入スロットは、実質的に挿抜力なしで2枚のパドルボードを受容するように構成される、請求項10に記載の試験システム。
- 前記アクチュエータはねじ又はカムを備え、前記電気的コネクタはポゴピンである、請求項10に記載の試験システム。
- 前記ピンエレクトロニクスボードと、前記第1パドルボード又は前記第2パドルボードとの間に、ケーブルによる接続が存在しない、請求項10に記載の試験システム。
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