TW201344661A - 有機發光二極體顯示器及其測試方法 - Google Patents

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Abstract

一種有機發光二極體顯示器，其包含：基板；第一像素及第二像素，係於該基板上，第一像素及第二像素具有不同尺寸；以及第一驅動電壓線及第二驅動電壓線，分別連接至第一像素及第二像素，第一驅動電壓線能供應第一驅動電壓至第一像素且第二驅動電壓線能供應第二驅動電壓至第二像素。第二像素係大於第一像素，而且第二驅動電壓係小於第一驅動電壓。

Description

有機發光二極體顯示器及其測試方法
本發明係關於一種有機發光二極體顯示器及其測試方法。
有機發光二極體(OLED)顯示器包含兩電極及設置於其間之有機發光層。從一電極注入之電子及從另一電極注入之電洞係於有機發光層彼此耦合而形成激子，且於發出能量時，激子發光。
實施例可藉由提供一種有機發光二極體顯示器而實現，其包含：基板；第一像素及一第二像素，係於基板上，第一像素及第二像素具有不同尺寸；以及第一驅動電壓線及第二驅動電壓線，分別連接至第一像素及第二像素，第一驅動電壓線能供應第一驅動電壓至第一像素且第二驅動電壓線能供應第二驅動電壓至第二像素。第二像素係大於第一像素，而且第二驅動電壓係小於第一驅動電壓。
第一像素與第二像素可具有與形成於第一像素與第二像素之像素電極相同尺寸。第一像素可包含紅色像素及綠色像素，且第二像素可包含藍色像素。紅色像素與綠色像素可具有相同尺寸。
有機發光二極體顯示器可更包含：供應閘極訊號至第一像素及第二像素之閘極線；覆蓋閘極線之層間絕緣層；以及與閘極線交錯且形成於層間絕緣層上，並能供應資料訊號至第一像素與第二像素之資料線。第一驅動電壓線可包含：第一水平驅動電壓線，形成以平行於閘極線且與閘極線形成於相同層；以及第一垂直驅動電壓線，形成以垂直於第一水平驅動電壓線，且與資料線形成於相同層。
第一水平驅動電壓線可透過形成於層間絕緣層中之第一接觸孔連接至第一垂直驅動電壓線。第二驅動電壓線可包含：第二水平驅動電壓線，形成以平行於第一水平驅動電壓線，且與第一水平驅動電壓線形成於相同層；以及第二垂直驅動電壓線，形成以垂直於第二水平驅動電壓線，且與第一垂直驅動電壓線形成於相同層。
第二水平驅動電壓線可透過形成於層間絕緣層中之第二接觸孔而連接至第二垂直驅動電壓線。有機發光二極體顯示器可更包含：第一外部連接線，其係與第一垂直驅動電壓線形成於相同層，且連接至外部第一驅動電壓源。
有機發光二極體顯示器可更包含與第一水平驅動電壓線形成於相同層，且連接第一垂直驅動電壓線之端點及第一外部連接線之第一連接橋。有機發光二極體顯示器可更包含第二水平連接線，其係與第二垂直驅動電壓線形成於相同層，其連接至第二垂直驅動電壓線，且形成以平行於第二水平驅動電壓線。
第一連接橋可以絕緣方式與第二水平連接線交錯。有機發光二極體顯示器可更包含與第二垂直驅動電壓線於相同層且連接至外部第二驅動電壓源之第二外部連接線。
有機發光二極體顯示器可更包含與第二水平驅動電壓線於相同層，且連接第二水平驅動連接線及第二外部連接線之第二連接橋。第二連接橋可以絕緣方式與第一外部連接線交錯。
實施例亦可藉由提供一種用以測試有機發光二極體顯示器之方法而實現，該方法包含：製造有機發光二極體顯示器，於其中第一像素及大於第一像素之第二像素係形成於基板上，且用以供應第一驅動電壓及第二驅動電壓之第一驅動電壓線及第二驅動電壓線以不同尺寸分別形成於第一像素及第二像素；提供用於有機發光二極體顯示器上之陣列測試(array test)之調變器；以及藉供應小於第一驅動電壓之第二驅動電壓至有機發光二極體顯示器之第二像素而執行陣列測試。
第一像素可包含紅色像素及綠色像素，且第二像素可包含藍色像素。
1 有機發光二極體顯示器
2 調變器
70 驅動電壓線
71 第一驅動電壓線
71a第一水平驅動電壓線
71b 第一垂直驅動電壓線
71c第一外部連接線
71d 第一連接橋
72 第二驅動電壓線
72a第二水平驅動電壓線
72b 第二垂直驅動電源線
72c第二水平連接線
72d 第二連接橋
72e 第二外部連接線
91 第一像素
92 第二像素
110 基板
111 緩衝層
121 閘極線
140 閘極絕緣層
150 半導體層
160 層間絕緣層
161 第一接觸孔
162 第二接觸孔
163 第三接觸孔
164 第四接觸孔
171 資料線
180 保護層
191 像素電極
270 共同電極
350 像素定義層
370 有機發光構件
R 紅色像素
G 綠色像素
B 藍色像素
PX 像素
LD 有機發光二極體
Qd 驅動薄膜電晶體
Qs 開關薄膜電晶體
I LD輸出電流
Cst 電容
Vdd 驅動電壓
Vss 共同電壓
第1圖表示根據例示性實施例之有機發光二極體顯示器之等效電路。
第2圖表示有機發光二極體之例示性像素與驅動電壓線之剖面圖。
第3圖表示根據例示性實施例之像素陣列的配置圖。
第4圖表示對應第3圖所示之線IV-IV之剖面圖。
第5圖表示對應第3圖所示之線V-V之剖面圖。
第6圖表示藉由使用根據例示性實施例之有機發光二極體顯示器而執行陣列測試之製程。

例示性實施例現在將參考附圖而於下文中更詳細描述；然而，可以不同形式實施且不應解釋為受限於此展示的實施例。相反地，此實施例係提供以使本揭露徹底且完整，且將完全涵蓋本發明之範疇予所屬領域具有通常知識者。
於圖式中，層和區域的尺度會為了討論清晰而放大。亦將了解當層或元件被標示為於另一層或基板“上(on)”或“連接至其(connected to)”，其可直接於另一層或基板上或直接連接至其，或也可出現中介層。全文中相似參考符號代表相似元件。
第1圖表示根據例示性實施例之有機發光二極體顯示器之等效電路。
參閱第1圖，有機發光二極體顯示器包含複數個訊號線(121、171、70)及與其連接且排成矩陣形式以形成像素陣列之複數個像素(PX)。
訊號線包含用以傳輸閘極訊號(或掃描訊號)之複數個閘極線121、用以傳輸資料訊號之複數個資料線171、以及用以傳輸驅動電壓(Vdd)之複數個驅動電壓線70。閘極線121可實質上於列(row)方向延伸且可實質上彼此平行。資料線171及驅動電壓線70之垂直部份可實質上於行(column)方向延伸且可實質上彼此平行。
像素(PX)包含開關薄膜電晶體(Qs)、驅動薄膜電晶體(Qd)、儲存電容(Cst)以及有機發光二極體(LD)。
開關薄膜電晶體(Qs)包含連接至閘極線121之控制端、連接至資料線171之輸入端、以及連接至驅動薄膜電晶體(Qd)之輸出端。開關薄膜電晶體(Qs)傳輸供應至資料線171之資料訊號至驅動薄膜電晶體(Qd)以響應供應至閘極線121之掃描訊號。
驅動薄膜電晶體(Qd)包含連接至開關電晶體(Qs)之控制端、連接至驅動電壓線70之輸入端、以及連接至有機發光二極體(LD)之輸出端。驅動薄膜電晶體(Qd)輸出隨控制端與輸出端間之電壓而變的輸出電流(I LD)。
電容(Cst)係連接於驅動薄膜電晶體(Qd)之控制端及輸入端之間。電容(Cst)對供應至驅動薄膜電晶體(Qd)之控制端之資料訊號充電並於開關薄膜電晶體(Qs)關閉時維持。
有機光二極體(LD)包含連接至驅動薄膜電晶體(Qd)之輸出端之陽極及連接至共同電壓(Vss)之陰極。有機發光二極體(LD)藉由區分根據驅動薄膜電晶體(Qd)之輸出電流(I LD)之強度而發光且顯示影像。
開關薄膜電晶體(Qs)及驅動薄膜電晶體(Qd)可為n-通道場效電晶體(FETs)。更進一步，開關薄膜電晶體(Qs)及驅動薄膜電晶體(Qd)之至少其一可為p-通道場效電晶體。同樣地，薄膜電晶體(Qs、Qd)、電容Cst以及有機發光二極體(LD)之連接狀態係可變的。
於第1圖所示之有機發光二極體顯示器之詳細配置現在將參考第2圖至第5圖而描述。
第2圖顯示根據例示性實施例之有機發光二極體顯示器之像素與驅動電壓線之剖面圖，第3圖表示根據第2圖之像素之像素陣列的配置圖，第4圖表示對應第3圖所示之線IV-IV之剖面圖，以及第5圖表示對應第3圖所示之線V-V之剖面圖。
如第2圖及第3圖所示，有機發光二極體顯示器包含基板110、形成於基板上且具有彼此不同尺寸之第一像素91、以及第二像素92、以及分別連接至第一像素91及第二像素92之第一驅動電壓線71及第二驅動電壓線72。
現在將描述根據例示性實施例之有機發光二極體顯示器之第一像素91及第二像素92之層狀結構。
如第2圖所示，關於有機發光二極體顯示器之第一像素91及第二像素92，緩衝層111係形成於由透明玻璃或塑膠製成的基板110上，半導體層150係形成於緩衝層111上，閘極絕緣層140係形成於半導體層150上，且用於傳輸閘極訊號(或掃描訊號)之閘極線121係形成於閘極絕緣層140上。層間絕緣層160係形成於閘極線121上，而與閘極線121交錯且傳輸資料訊號之資料線171係形成於層間絕緣層160上。半導體層150、閘極線121、以及資料線171形成驅動薄膜電晶體(Qd)。
由無機材料或有機材料製成的保護層180係形成於驅動薄膜電晶體上(Qd)。當保護層180係由有機材料製成時，其表面可為平坦。連接至驅動薄膜電晶體(Qd)且由例如氧化銦錫或氧化銦鋅之透明導體製成之像素電極191係形成於保護層180上。由有機薄膜製成之像素定義層350係形成於像素電極191上。像素定義層350包含圍繞像素電極191之邊緣且暴露像素電極191之開口。
有機發光構件370係形成於像素定義層350上。除用以發光之有機發光層之外，有機發光構件370可包含用以改進發光層之發光效率之輔助層(未示)。輔助層可為電子傳輸層(ETL)、電洞傳輸層(HTL)、電子注入層(EIL)以及電洞注入層(HIL)之至少其中之一。
共同電極270係形成於有機發光構件370上。共同電極270可由具高反射性之金屬製成。共同電極270係形成基板之整個表面上且與像素電極191形成配對以提供電流至有機發光構件370。
像素電極191、有機發光構件370及共同電極270形成有機發光二極體(LD)，且像素電極191可為陽極且共同電極270可為陰極，或像素電極191可為陰極且共同電極270可為陽極。
如第2圖至第5圖所示，用以供應驅動電壓之複數個驅動電壓線70係形成於像素電極191上。複數個驅動電壓線70包含分別用以供應第一驅動電壓及第二驅動電壓至第一像素91及第二像素92之第一驅動電壓線71及第二驅動電壓線72。
第二像素92係大於第一像素91。例如就相對尺寸而言，關於形成於第一像素91與第二像素92之像素電極191，第一像素91及第二像素92可具有相同配置。
第一像素91可為紅色像素(R)及綠色像素(G)，且第二像素92可為藍色像素(B)。於第一像素91之紅色像素(R)及綠色像素(G)之尺寸可相同。紅色像素(R)及綠色像素(G)可小於藍色像素(B)之尺寸。
連接至第一像素91之第一驅動電壓線71包含形成於形成以實質上平行閘極線121之第一水平驅動電壓線71a、以及第一垂直驅動電壓線71b，其係形成為垂直，例如於上方，且朝向與第一水平驅動電壓線71a交錯，例如實質上垂直之方向而延伸。
第一水平驅動電壓線71a係與閘極線121形成於相同層，且第一垂直驅動電壓線71b係與資料線171形成於相同層。層間絕緣層160係形成於第一水平驅動電壓線71a及第一垂直驅動電壓線71b之間。第一水平驅動電壓線71a係透過形成於層間絕緣層160之第一接觸孔161而連接至第一垂直驅動電壓線71b。
第一外部連接線71c係與第一垂直驅動電壓線71b形成於相同層，且第一外部連接線71c係連接至外部第一驅動電壓源(未示)。所以，第一外部連接線71c從第一驅動電壓源接收第一驅動電壓。
第一連接橋71d係與第一水平驅動電壓線71a形成於相同層，且第一連接橋71d之對應端係部份重疊於第一垂直驅動電壓線71b與第一外部連接線71c之端。所以，第一連接橋71d透過形成於層間絕緣層160之第三接觸孔163連接第一垂直驅動電壓線71b與第一外部連接線71c之端。
所以，由第一驅動電壓源供應之第一驅動電壓係透過第一外部連結線71c、第一連接橋71d、第一水平驅動電壓線71以及第一垂直驅動電壓線71b傳輸至第一像素91。
連接至大於第一像素91之第二像素92之第二驅動電壓線72包含形成為實質上平行第一水平驅動電壓線71a之第二水平驅動電壓線72a，以及第二垂直驅動電源線72b，其係形成為垂直，例如於上方，並朝向與第二水平驅動電壓線72a交錯，例如實質上垂直之方向而延伸。
第二水平驅動電壓線72a係與第一水平驅動電壓線71a形成於相同層，第二垂直驅動電壓線72b係與第一垂直驅動電壓線71b形成於相同層。所以，層間絕緣層160係形成於第二水平驅動電壓線72a與第二水平垂直驅動電壓線72b之間，且第二水平驅動電壓線72a係透過形成於層間絕緣層160之第二接觸孔162連接至第二垂直驅動電壓線72b。
第二水平連接線72c係與第二垂直驅動電壓線72b形成於相同層，第二水平連接線72c係連接至第二垂直驅動電壓線72b之端，且第二水平連接線72c係形成以平行第二水平驅動電壓72a。於此例中，第一連接橋71d以絕緣方式與第二水平連接線72c交錯。
第二外部連接線72e係與第二垂直驅動電壓線72b形成於相同層，且第二外部連接線72e係連接至外部第二驅動電壓源(未示)。所以第二外部連接線72e從第二驅動電壓源接收小於第一驅動電壓之第二驅動電壓。
第二連接橋72d係與第二水平驅動電壓線72a形成於相同層，且第二連接橋72d之對應端係部份重疊於第二水平連接線72c與第二外部連接線72e之端。所以，第二連接橋72d透過形成於層間絕緣層160之第四接觸孔164連接第二水平連接線72c與第二外部連接線72e之端。於此例中，第二連接橋72d以絕緣方式與第一外部連接線71c交錯。
所以，由第二驅動電壓源供應之第二驅動電壓係透過第二外部連接線72e、第二連接橋72d、第二水平連接線72c、第二水平驅動電壓線72a以及第二垂直驅動電壓線72b而傳輸至第二像素92。
因此，藉由形成用以分別供應第一驅動電壓及第二驅動電壓至第一像素91及第二像素92之第一驅動電壓線71及第二驅動電壓線72，可控制透過用於陣列測試(array test)之調變器2而傳輸之光的量為彼此相同。
為此目的，第一驅動電壓線71形成第一水平驅動電壓線71a及第一垂直驅動電壓線71b，第二驅動電壓線72形成彼此絕緣之第二水平驅動電壓線72a及第二垂直驅動電壓線72b，且第一驅動電壓及第二驅動電壓係分別供應至第一像素91及第二像素92。
所以，藉由控制用於陣列測試之調變器2之影像畫面以變成均勻，包含不同尺寸之第一像素91及第二像素92之有機發光二極體顯示器1可偵測細微像素缺陷。
根據例示性實施例，測試有機發光二極體顯示器之方法現在將參考第3圖及第6圖而描述。
第6圖表示藉由使用根據例示性實施例之有機發光二極體顯示器而執行陣列測試之製程。
如第1圖至第5圖所示，製造根據例示性實施例之有機發光二極體顯示器1。亦即，關於製造有機發光二極體顯示器1，第一像素91及大於第一像素91之第二像素92係形成於基板110上，且用以供應彼此不同之第一驅動電壓及第二驅動電壓之第一驅動電壓線71及第二驅動電壓線72係分別形成於第一像素91及第二像素92上。
如第6圖所示，用於陣列測試之調變器2提供於有機發光二極體顯示器1上方。小於第一驅動電壓之第二驅動電壓係供應至有機發光二極體顯示器1之第二像素92以執行陣列測試。
因此，較大的第一驅動電壓係供應至較小的第一像素91，且較小的第二驅動電壓係供應至較大的第二像素92，所以由第一像素91產生的電場可等效於由第二像素92產生的電場。因此，當用於陣列測試之調變器2內之液晶傾角係設定為等效，透過調變器2傳輸之光的量可於不同尺寸的第一像素91及第二像素92設定為等效。
所以，藉由控制用於陣列測試之調變器2之影像畫面以變成均勻，於具有不同尺寸之第一像素91及第二像素92之有機發光二極體顯示器1中，可偵測細微像素缺陷。
總結與回顧，有機發光二極體顯示器可包含開關電晶體、驅動電晶體、電容、以及有機發光二極體(OLED)。驅動電晶體及電容可從驅動電壓線得到驅動電壓Vdd。驅動電壓線可控制流經驅動電晶體流至有機發光二極體之電流。連接至陰極之共同電壓線可供應共同電壓Vss至陰極以藉由形成於源極與汲極間之電壓以及陰極之間的電位差而形成電流。
於製造有機發光二極體顯示器製程期間，可執行用以降低及/或預防有問題的中間產品至下一階段的機率之測試製程。測試製程可分為於薄膜電晶體完成時執行之陣列測試、於面板製程結束時執行之單元測試、以及於驅動電路及背光單元安裝時執行之調變測試。
陣列測試可使用探針或調變器。例如，陣列測試可使用可直接接觸供應測試訊號且偵測儲於像素之電荷以分析薄膜電晶體基板上的斷路、短路、及像素缺陷之閘極墊及資料墊之探針。使用調變器之測試係施加測試訊號至閘極墊及資料墊且藉由使用提供於薄膜電晶體基板頂側之調變器而分析。
然而，當陣列測試係藉由使用用於具有不同像素尺寸之有機發光二極體顯示器之調變器而執行時，對於個別像素，像素之不同尺寸造成發生於像素之不同電壓且像素傳遞不同影響至調變器內側的液晶。所以，透過調變器傳輸之光的量對於個別像素不同，且調變器之影像畫面變成非均勻，所以難以偵測細微像素缺陷。
相反地，所述技術係關於一種有機發光二極體顯示器及其測試方法。關於這點，所述技術已盡力提供一種有機發光二極體顯示器，其係用以控制用於陣列測試以變得均勻之調變器之影像畫面並偵測具不同像素尺寸之有機發光二極體顯示器之細微像素缺陷，及其測試方法。
例如，根據例示性實施例，有機發光二極體顯示器形成第一驅動電壓線及第二驅動電壓線，其係用以分別以供應不同值之第一驅動電壓及第二驅動電壓至具不同尺寸以控制通過陣列測試調變器之光的量為彼此相等的第一像素及第二像素。所以，包含不同尺寸之第一像素及第二像素之有機發光二極體顯示器中的用於陣列測試之調變器之影像畫面可控制為均勻且可偵測細微像素缺陷。
例示性實施例已於此揭露，且雖然使用特定術語，其係只用於一般性的解釋及敘述而並不以限制為目的。因此，所屬技術領域具通常知識者將理解的是，在不脫離於後附申請專利範圍所陳述之本發明的精神與範疇下可進行各種形式及細節修改。
70 驅動電壓線
121 閘極線
171 資料線
PX 像素
LD 有機發光二極體
Qd 驅動薄膜電晶體
Qs 開關薄膜電晶體
Cst 電容
Vdd 驅動電壓
Vss 共同電壓
I LD輸出電流

Claims (17)

  1. 一種有機發光二極體顯示器，其包含：
    一基板；
    一第一像素及一第二像素，係於該基板上，該第一像素及該第二像素具有不同尺寸；以及
    一第一驅動電壓線及一第二驅動電壓線，分別連接至該第一像素及該第二像素，該第一驅動電壓線能供應一第一驅動電壓至該第一像素且該第二驅動電壓線能供應一第二驅動電壓至該第二像素，其中：
    該第二像素係大於該第一像素，以及
    該第二驅動電壓係小於該第一驅動電壓。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光二極體顯示器，其中該第一像素與該第二像素係分別與形成於該第一像素與該第二像素之一像素電極為相同尺寸。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光二極體顯示器，其中該第一像素包含一紅色像素及一綠色像素，且該第二像素包含一藍色像素。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之有機發光二極體顯示器，其中該紅色像素與該綠色像素係為相同尺寸。
  5. 如申請專利範圍第2項所述之有機發光二極體顯示器，更包含：
    一閘極線，供應一閘極訊號至該第一像素及該第二像素；
    一層間絕緣層，覆蓋該閘極線；以及
    一資料線，與該閘極線交錯且於該層間絕緣層上，且能供應一資料訊號至該第一像素與該第二像素，其中該第一驅動電壓線包含：
    一第一水平驅動電壓線，於實質上平行至該閘極線之方向延伸，該第一水平驅動電壓線係與該閘極線於相同層；以及
    一第一垂直驅動電壓線，於實質上垂直該第一水平驅動電壓線之方向延伸，該第一垂直驅動電壓線係與該資料線於相同層。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之有機發光二極體顯示器，其中該第一水平驅動電壓線係透過形成於該層間絕緣層之一第一接觸孔連接至該第一垂直驅動電壓線。
  7. 如申請專利範圍第5項所述之有機發光二極體顯示器，更包含與該第一垂直驅動電壓線於相同層之一第一外部連接線，該第一外部連接線係連接至一外部第一驅動電壓源。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之有機發光二極體顯示器，更包含於該第一水平驅動電壓線相同層之一第一連接橋，該第一連接橋係連接該第一垂直驅動電壓線之一端點及該第一外部連接線。
  9. 如申請專利範圍第5項所述之有機發光二極體顯示器，其中該第二驅動電壓線包含：
    一第二水平驅動電壓線，於實質上平行至該第一水平驅動電壓線之方向延伸，該第二水平驅動電壓線係與該第一水平驅動電壓線於相同層；以及
    一第二垂直驅動電壓線，於實質上垂直該第二水平驅動電壓線之方向延伸，該第二垂直驅動電壓線係與該第一垂直驅動電壓線於相同層。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之有機發光二極體顯示器，其中該第二水平驅動電壓線係透過形成於該層間絕緣層之一第二接觸孔而連接至該第二垂直驅動電壓線。
  11. 如申請專利範圍第9項所述之有機發光二極體顯示器，更包含與該第二垂直驅動電壓線於相同層之一第二水平連接線，其連接至該第二垂直驅動電壓線，且其與該第二水平驅動電壓線平行配置。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之有機發光二極體顯示器，其中一第一連接橋以絕緣方式與該第二水平連接線交錯。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之有機發光二極體顯示器，更包含於與該第二垂直驅動電壓線於相同層之一第二外部連接線，其連接至一外部第二驅動電壓源。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之有機發光二極體顯示器，更包含於與該第二水平驅動電壓線於相同層之一第二連接橋，該第二連接橋連接該第二水平連接線及該第二外部連接線。
  15. 如申請專利範圍第14項所述之有機發光二極體顯示器，其中該第二連接橋以絕緣方式與一第一外部連接線交錯，該第一外部連接線係與該第一垂直驅動電壓線於相同層。
  16. 一種用以測試有機發光二極體顯示器之方法，其方法包含：
    製造該有機發光二極體顯示器，於其中一第一像素及大於該第一像素之一第二像素係形成於一基板上，且用以供應一第一驅動電壓及一第二驅動電壓之一第一驅動電壓線及一第二驅動電壓線以不同尺寸分別形成於該第一像素及該第二像素；
    提供用於該有機發光二極體顯示器上之一陣列測試之一調變器；以及
    藉供應小於該第一驅動電壓之該第二驅動電壓至該有機發光二極體顯示器之該第二像素而執行該陣列測試。
  17. 如申請專利範圍第16項所述之方法，其中該第一像素包含一紅色像素及一綠色像素，且該第二像素包含一藍色像素。
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