TW201344170A - 測試裝置、檢測系統及其自動檢測之方法 - Google Patents

Abstract

本發明為一種測試裝置、檢測系統及其自動檢測之方法。檢測系統用以測試光學擷取模組。檢測系統包括控制模組以及測試裝置。控制模組係電性連接光學擷取模組。測試裝置包括底座、固定件、測試件及軌道。固定件係設置於底座上，用以固定光學擷取模組。測試件用以供光學擷取模組擷取影像感測訊號。軌道係設置於底座，用以供測試件沿著軌道連續移動；當測試件於該軌道上連續移動時，光學擷取模組得以根據測試件之移動位置擷取連續之感測訊號曲線，控制模組係判斷感測訊號曲線是否超過設定值。

Description

測試裝置、檢測系統及其自動檢測之方法

本發明係關於一種測試裝置、檢測系統及其自動檢測之方法，特別是一種藉由軌道達到檢測目的之測試裝置、檢測系統及其自動檢測之方法。

隨著科技的進步，現已經發展出一種光學式觸控系統光學式觸控系統之架構與作動機制為在一背景範圍內藉由打光模組提供光源以照射在待辨識物上。當辨識物反光後，再經由光學擷取模組接收其反光，之後再產生影像感測訊號。因此在光學式觸控系統的生產製造流程上，光學擷取模組所能擷取之訊號強弱與其分佈係為光學式觸控系統的品質檢驗之重要參數之一流程。

請先參考圖1係先前技術之測試裝置之架構示意圖以及圖1A係先前技術之光學擷取模組之架構示意圖。

在先前技術中，係利用圖1所示之測試裝置90來測試光學擷取模組80。測試裝置90包括底座91、二固定件92、一測試件93及複數定位孔94。二固定件92係設置於底座91上側之左、右邊角上，各用來固定將使用在光學觸控面板左、右邊角上之一光學擷取模組80。測試件93為一模擬人類手指之圓柱狀物，用以供光學擷取模組80擷取其反光影像而產生反光感測訊號。當要進行任一光學擷取模組80之功能測試時，測試人員將測試件93依一定順序插入不同的定位孔94中，讓光學擷取模組80可擷取不同測試點位置的反光感測訊號。如此一來，透過呈現在測試軟體上各測試點之亮度值是否皆在一預設值之上，即可得知光學擷取模組80對各個位置的物體是否都能正常擷取反光影像。但在先前技術中，必須在每一定位孔94中分別定點測量感測訊號。因此會造成在測試時的測試人員必須有技巧地將測試件93不斷地在不同的定位孔94間對準插入、取出以及移動至下一個定位孔94位置，如此不但整個測試作業流程繁複，測試時間增加，進一步浪費了不必要的成本，並且又只能做有限的抽樣定點檢測，而無法完全含蓋所有可能的觸控位置之檢測。

有鑑於此，因此需要發明一種新的測試裝置、檢測系統及其自動檢測之方法，以解決先前技術的缺失。

本發明之主要目的係在提供一種測試裝置，其係藉由軌道達到檢測之目的。

本發明之另一主要目的係在一種具有其測試裝置檢測系統。

本發明之又一主要目的係在一種自動檢測之方法。

為達成上述之目的，本發明之測試裝置用以測試光學擷取模組。測試裝置包括底座、固定件、測試件及軌道。固定件係設置於底座，用以固定光學擷取模組。測試件用以供光學擷取模組擷取影像感測訊號。軌道係設置於底座，用以供測試件沿著軌道連續移動；當測試件於該軌道上連續移動時，光學擷取模組得以根據測試件之移動位置以擷取得到連續之感測訊號曲線。

本發明之檢測系統用以測試光學擷取模組。檢測系統包括控制模組以及測試裝置。控制模組係電性連接光學擷取模組。測試裝置包括底座、固定件、測試件及軌道。固定件係設置於底座上，用以固定光學擷取模組。測試件用以供光學擷取模組擷取影像感測訊號。軌道係設置於底座，用以供測試件沿著軌道連續移動；當測試件於該軌道上連續移動時，光學擷取模組得以根據測試件之移動位置以擷取得到連續之感測訊號曲線，控制模組係判斷感測訊號曲線是否超過設定值。

本發明之自動檢測之方法係用於檢測系統以測試光學擷取模組。該方法包括以下步驟：提供具有固定件之底座而以固定件夾持光學擷取模組；於底座上提供可供測試件於其上連續移動之軌道；光學擷取模組根據測試件於該軌道上之移動以擷取連續之感測訊號曲線；判斷連續之感測訊號曲線之每一點是否都超過設定值；以及若否，則判斷光學擷取模組為異常狀況。

為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉出本發明之具體實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

請先參考圖2係本發明之檢測系統之架構示意圖。

本發明之檢測系統1係用以測試光學擷取模組2。此光學擷取模組2可用於一光學觸控系統(圖未示)內，但本發明並不限定光學擷取模組2之用途。檢測系統1包括控制模組10及測試裝置20。控制模組10係由硬體、軟體或硬體結合軟體等方式架構而成，其可為一具有處理器、輸入裝置、顯示裝置、記憶裝置以及檢測軟體程式11之電腦或是電腦之一部份，但本發明並不限於此。控制模組10係與要被測試之光學擷取模組2電性連接，以處理光學擷取模組2所擷取得到的感測訊號，再進一步判斷此感測訊號是否正常。其自動測試之方式在之後會有詳細說明，故在此先不贅述。

測試裝置20具有底座21、固定件22、軌道23與測試件31，其中固定件22與軌道23皆設置於底座21上。固定件22係用以固定光學擷取模組2，使得光學擷取模組2可固定朝向一特定角度。測試件31係藉由測試者或是藉由自動化測試設備以於軌道23上滑動。軌道23係設置於底座21之邊緣，以代表光學擷取模組2在未來真正使用的觸控面板上要擷取的最遠位置。如此一來，光學擷取模組2可對連續滑動之測試件31連續擷取出影像感測訊號，透過檢測軟體程式11以得到並呈現感測訊號曲線C(如圖4所示)，控制模組10再藉由感測訊號曲線C判斷光學擷取模組2是否正常。

而關於測試裝置20的其中一種實施構造請參考圖3A係本發明之測試裝置之立體示意圖及圖3B係本發明之測試裝置之外觀俯視圖。

在本發明之一實施方式中，測試裝置20可包括底座21、第一固定件22a、第二固定件22b、第一軌道23a、第二軌道23b及第三軌道23c。底座21可為具有四個邊之矩形，且其大小係配合光學擷取模組2所要實際組裝之光學觸控面板尺寸，但本發明並不限於此，底座21亦可設計為其他的形狀。底座21上還可設置光滑的玻璃板或壓克力板，以增加平整度來減少擷取影像時的誤差。第一固定件22a及第二固定件22b係位於底座21上側邊相對應的兩邊角，以分別固定第一光學擷取模組2a及第二光學擷取模組2b。在本實施方式中，第一固定件22a及第二固定件22b係利用夾持之方式以固定第一光學擷取模組2a及第二光學擷取模組2b，使得第一光學擷取模組2a及第二光學擷取模組2b可朝向一固定角度而不會任意移動。但第一固定件22a及第二固定件22b亦可利用螺絲鎖固等方法來進行固定，本發明並不限於此。

底座21之左側、底側、右側之近邊緣各設置有第一邊條21a、第二邊條21b、以及第三邊條21c，而於各邊條內緣所形成可限制物件移動軌跡之第一軌道23a、第二軌道23b及第三軌道23c。並且第二邊條21b之二端分別與第一邊條21a及第三邊條21c一端相接，而使三軌道相連形成U形移動路徑，形成可提供測試件31於其上滑動之路徑。測試件31可由塑膠材質製成一柱狀體，其上塗佈相當於手指的反射係數之漆料，以模擬手指之觸控。此外，第一邊條21a及第三邊條21c鄰近於第一光學擷取模組2a及第二光學擷取模組2b之一端還可具有止擋塊231a與止擋塊231b，以分別作為測試件31移動的起始點。

以圖3A所示的實施方式為例，當要測試第一光學擷取模組2a時，測試操作者可將測試件31從第一軌道23a起始點之止擋塊231a的位置連續滑動移動直至第二軌道23b與第三軌道23c之交界處，使得第一光學擷取模組2a會擷取到連續之第一感測訊號曲線。另一方面，當要測試第二光學擷取模組2b時，測試件31係從第三軌道23c起始點之止擋塊231b的位置移動到第二軌道23b與第一軌道23a之交界處，使得第二光學擷取模組2b會擷取到連續之第二感測訊號曲線。控制模組10之檢測軟體程式11再分別分析第一感測訊號曲線與第二感測訊號曲線以確定第一光學擷取模組2a或第二光學擷取模組2b是否作用正常。

接著請參考圖4係本發明之檢測系統測量呈現在檢測軟體程式11上所得到之感測訊號曲線圖。

就如同圖4所示，控制模組10係根據第一光學擷取模組2a或第二光學擷取模組2b得到的感測訊號曲線C，以判斷其中每一影像感測訊號是否在一設定值V之上。如果都超出設定值V，則代表第一光學擷取模組2a或第二光學擷取模組2b可正常擷取到測試件31之反光影像訊號。如果有部分的影像感測訊號低於設定值V，則代表第一光學擷取模組2a或第二光學擷取模組2b之品質不良。

另一方面，控制模組10亦判斷感測訊號曲線C中，第一個擷取到的起始感測訊號S1及最後一個擷取到的最終感測訊號S2是否分別在第一預設範圍A1及第二預設範圍A2內，以判斷第一光學擷取模組2a或第二光學擷取模組2b之結構組裝是否正常。舉例而言，若第一光學擷取模組2a或第二光學擷取模組2b可擷取範圍約在1像素(pixel)至500像素之間，因此起始感測訊號S1應位於靠近1像素的位置而最終感測訊號S2應位於靠近500像素之位置。但本發明並不以此列舉的數值為限。由圖4可知，第一預設範圍A1可設定為靠近1像素之範圍，但並不限定需包括1像素。同樣地第二預設範圍A2可設定為靠近500像素之範圍，但並不限定需包括500像素。如果第一光學擷取模組2a或第二光學擷取模組2b之結構組裝異常，例如鏡頭組裝歪斜，則起始感測訊號或是最終感測訊號就會超出第一預設範圍A1及第二預設範圍A2。因此控制模組10可藉此判斷第一光學擷取模組2a或第二光學擷取模組2b之組裝是否正常。

接著請參考圖5係本發明之自動檢測之方法之步驟流程圖。此處需注意的是，以下雖以具有上述的測試裝置20之檢測系統1為例說明本發明之自動檢測之方法，但本發明之自動檢測之方法並不以使用在上述的測試裝置20或檢測系統1為限。

首先進行步驟501：提供一具有固定件之底座以利用該固定件夾持該光學擷取模組。

首先當檢測系統1要測試光學擷取模組2時，係先提供具有固定件22之底座21，以將光學擷取模組2利用固定件22進行固定。在本發明之一實施例中係由第一固定件22a與第二固定件22b分別夾持第一光學擷取模組2a與第二光學擷取模組2b，但本發明並不限於此。

接著進行步驟502：於該底座上提供可供一測試件於其上連續移動之一軌道。

接著測試裝置20提供測試件31係於兩個相連接的軌道23上連續移動，例如從第一軌道23a之止擋塊231a的位置連續移動到第二軌道23b與第三軌道23c之交界處，或從第三軌道23c之止擋塊231b的位置連續移動到第二軌道23b與第一軌道23a之交界處。

再進行步驟503：該光學擷取模組根據該測試件於軌道上之移動擷取連續的一感測訊號曲線。

接著光學擷取模組2係對移動的測試件31進行反光影像擷取，以擷取得到連續的感測訊號曲線。亦即第一光學擷取模組2a會根據測試件31從第一軌道23a到第二軌道23b的移動以擷取到連續之第一感測訊號曲線，第二光學擷取模組2b會根據測試件31從第三軌道23c移動到第二軌道23b的方式以擷取連續之第二感測訊號曲線。

接著進行步驟504：判斷該連續的感測訊號曲線之每一點是否都超過一設定值。

光學擷取模組2擷取得到連續的感測訊號曲線C後，控制模組10判斷該連續的感測訊號曲線C是否都超過一設定值V。

若該連續的感測訊號曲線C都超過一設定值V時，則控制模組10進一步執行步驟505：判斷該感測訊號曲線之一起始感測訊號是否在一第一預設範圍內及判斷一最終感測訊號是否在一第二預設範圍內。

控制模組10進一步判斷該連續的感測訊號曲線C內的起始感測訊號S1是否在第一預設範圍A1內及最終感測訊號S2是否在第二預設範圍A2內。

若是，則進行步驟506：確認光學擷取模組為正常狀況。

當該連續的感測訊號曲線C的每一點都超過設定值V，以及起始感測訊號S1在第一預設範圍A1內與最終感測訊號S2在第二預設範圍A2內時，控制模組10則可確認所測試的光學擷取模組2為正常狀況。

若步驟504或步驟505有任一個結果超出標準，則進行步驟507：確認光學擷取模組為異常狀況。

當該連續的感測訊號曲線C有任一點沒有超過設定值V，或是起始感測訊號S1沒有在第一預設範圍A1內，或最終感測訊號S2沒有在第二預設範圍A2內時，控制模組10則可確認所測試的光學擷取模組2為異常狀況。

此處需注意的是，本發明之自動檢測之方法並不以上述之步驟次序為限，只要能達成本發明之目的，上述之步驟次序亦可加以改變。

藉由上述的測試裝置20，即可快速地檢測光學擷取模組2之功能是否正常，測試操作者將不用再如傳統測試裝置般地必須將測試件不斷地在不同的定位孔間對準插入、取出以及移動至下一個定位孔位置，而只需要很滑順地沿著連續的軌道移動測試件即可，如此不但整個測試作業流程可簡化，縮短測試時間，而進一步浪費了不必要的勞力與時間成本，並且又只能做連續且完整的檢測，而能完全含蓋所有可能的觸控位置之檢測。

綜上所陳，本發明無論就目的、手段及功效，在在均顯示其迥異於習知技術之特徵，懇請　貴審查委員明察，早日賜准專利，俾嘉惠社會，實感德便。惟應注意的是，上述諸多實施例僅係為了便於說明而舉例而已，本發明所主張之權利範圍自應以申請專利範圍所述為準，而非僅限於上述實施例。

先前技術：

80．．．光學擷取模組

90．．．測試裝置

91．．．底座

92．．．固定件

93．．．測試件

94．．．定位孔

本發明：

1．．．檢測系統

2．．．光學擷取模組

2a．．．第一光學擷取模組

2b．．．第二光學擷取模組

10．．．控制模組

20．．．測試裝置

21．．．底座

21a．．．第一邊條

21b．．．第二邊條

21c．．．第三邊條

22．．．固定件

22a．．．第一固定件

22b．．．第二固定件

23．．．軌道

231a、231b．．．止擋塊

23a．．．第一軌道

23b．．．第二軌道

23c．．．第三軌道

31．．．測試件

A1．．．第一預設範圍

A2．．．第二預設範圍

C．．．感測訊號曲線

S1．．．起始感測訊號

S2．．．最終感測訊號

V．．．設定值

圖1係先前技術之測試裝置之架構示意圖。

圖1A係先前技術之光學擷取模組之架構示意圖。

圖2係本發明之檢測系統之架構示意圖。

圖3A係本發明之測試裝置之外觀立體圖。

圖3B係本發明之測試裝置之外觀俯視圖。

圖4係本發明之檢測系統測量得到之感測訊號曲線圖。

圖5係本發明之自動檢測之方法之步驟流程圖。

2a．．．第一光學擷取模組

2b．．．第二光學擷取模組

20．．．測試裝置

21．．．底座

21a．．．第一邊條

21b．．．第二邊條

211c．．．第三邊條

22．．．固定件

22a．．．第一固定件

22b．．．第二固定件

231a、231b．．．止擋塊

23a．．．第一軌道

23b．．．第二軌道

23c．．．第三軌道

31．．．測試件

Claims (20)

1. 一種測試裝置，用以測試一光學擷取模組，該測試裝置包括：一底座；一固定件，係設置於該底座，用以固定該光學擷取模組；一測試件，用以供該光學擷取模組擷取一影像感測訊號；以及一軌道，係設置於該底座，用以供該測試件沿著該軌道連續移動；當該測試件於該軌道上連續移動時，該光學擷取模組得以根據該測試件之移動位置以擷取得到連續之一感測訊號曲線。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該固定件包括一第一固定件及一第二固定件，係分別位於該底座之一側邊之對應兩邊角，以分別夾持一第一光學擷取模組及一第二光學擷取模組。
3. 如申請專利範圍第2項所述之測試裝置，其中該底座之異於該側邊之其它側邊設置有相連接之邊條，以於邊條內側緣形成可供所述測試件移動之該軌道。
4. 如申請專利範圍第3項所述之測試裝置，其中該底座為具有四側邊之矩形，該第一光學擷取模組及該第二光學擷取模組固定於上側之二邊角，而該底座之左側、底側以及右側則各設置有一第一邊條、一第二邊條以及一第三邊條，以於各邊條內側緣形成相連之一第一軌道、一第二軌道及一第三軌道。
5. 如申請專利範圍第4項所述之測試裝置，其中：當該測試件從該第一軌道移動到該第二軌道時，該第一光學擷取模組得以根據該測試件之移動以擷取得到連續之一第一感測訊號曲線；以及當該測試件從該第三軌道移動到該第二軌道時，該第二光學擷取模組得以根據該測試件之移動以擷取得到連續之一第二感測訊號曲線。
6. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該軌道之一端更包括一止擋塊，以作為測試件移動的起始點。
7. 一種檢測系統，用以測試一光學擷取模組，該檢測系統包括：一控制模組，係電性連接該光學擷取模組；以及一測試裝置，包括：一底座；一固定件，係設置於該底座上，用以固定該光學擷取模組；一測試件，用以供該光學擷取模組擷取一影像感測訊號；以及一軌道，係設置於該底座，用以供該測試件沿著該軌道連續移動；當該測試件於該軌道上連續移動時，該光學擷取模組得以根據該測試件之移動位置以擷取得到連續之一感測訊號曲線，該控制模組係判斷該感測訊號曲線是否超過一設定值。
8. 如申請專利範圍第7項所述之檢測系統，其中該控制模組係進一步判斷該感測訊號曲線之一起始感測訊號是否在一第一預設範圍內及判斷一最終感測訊號是否在一第二預設範圍內。
9. 如申請專利範圍第7項所述之檢測系統，其中該固定件包括一第一固定件及一第二固定件，係分別位於該底座之一側邊之對應兩邊角，以分別夾持一第一光學擷取模組及一第二光學擷取模組。
10. 如申請專利範圍第9項所述之檢測系統，其中該底座之異於該側邊之其它側邊設置有相連接之邊條，以於邊條內側緣形成可供所述測試件移動之該軌道。
11. 如申請專利範圍第10項所述之檢測系統，其中該底座為具有四側邊之矩形，該第一光學擷取模組及該第二光學擷取模組固定於上側之二邊角，而該底座之左側、底側以及右側則各設置有一第一邊條、一第二邊條以及一第三邊條，以於各邊條內側緣形成相連之一第一軌道、一第二軌道及一第三軌道。
12. 如申請專利範圍第11項所述之檢測系統，其中：當該測試件從該第一軌道移動到該第二軌道時，該第一光學擷取模組得以根據該測試件之移動以擷取得到連續之一第一感測訊號曲線；以及當該測試件從該第三軌道移動到該第二軌道時，該第二光學擷取模組得以根據該測試件之移動以擷取得到連續之一第二感測訊號曲線。
13. 如申請專利範圍第12項所述之檢測系統，其中該軌之一端道更包括一止擋塊，以作為測試件移動的起始點。
14. 一種自動檢測之方法，係用於一檢測系統以測試一光學擷取模組，該方法包括以下步驟：提供一具有固定件之底座而以該固定件夾持該光學擷取模組；於該底座上提供可供一測試件於其上連續移動之一軌道；該光學擷取模組根據該測試件於該軌道上之移動以擷取連續之一感測訊號曲線；判斷該連續之感測訊號曲線之每一點是否都超過一設定值；以及若否，則判斷該光學擷取模組為一異常狀況。
15. 如申請專利範圍第14項所述之自動檢測之方法，更包括以下步驟：判斷該連續之感測訊號曲線之一起始感測訊號是否在一第一預設範圍內及判斷一最終感測訊號是否在一第二預設範圍內；以及若否，則判斷該光學擷取模組為該異常狀況。
16. 如申請專利範圍第14項所述之自動檢測之方法，更包括：在該底座之一側邊之對應兩邊角分別提供一第一固定件及一第二固定件，以分別夾持一第一光學擷取模組及一第二光學擷取模組。
17. 如申請專利範圍第16項所述之自動檢測之方法，更包括在該底座之異於所述側邊之其它側邊設置有相連接之邊條，以於該邊條內側緣形成可供所述測試件移動之該軌道。
18. 如申請專利範圍第17項所述之自動檢測之方法，更包括：提供該底座為具有四側邊之矩形，並固定該第一光學擷取模組及該第二光學擷取模組於上側之二邊角，而該底座之左側、底側、右側則各設置有一第一邊條、一第二邊條以及一第三邊條，以於各邊條內側緣形成相連之一第一軌道、一第二軌道及一第三軌道。
19. 如申請專利範圍第18項所述之自動檢測之方法，更包括以下步驟：當該測試件從該第一軌道移動到該第二軌道時，提供該第一光學擷取模組得以根據該測試件之移動以擷取得到連續之一第一感測訊號曲線；以及當該測試件從該第三軌道移動到該第二軌道時，提供該第二光學擷取模組得以根據該測試件之移動以擷取得到連續之一第二感測訊號曲線。
20. 如申請專利範圍第14項所述之自動檢測之方法，更包括於該軌道之一端設置一止擋塊，以作為測試件移動的起始點。