TWI442290B - 光學觸控模組之檢測系統及其自動檢測方法 - Google Patents

Description

光學觸控模組之檢測系統及其自動檢測方法

本發明係關於一種光學觸控模組之檢測系統及其自動檢測方法，特別是一種可自動調整光學式觸控模組之擷取方向之檢測系統及其自動檢測之方法。

隨著科技的進步，現已經發展出一種光學式觸控模組，可以利用光學擷取模組以得到觸控的訊號。因此測試光學式觸控系統中的光學擷取模組之擷取角度是否正確是製造光學式觸控系統的必定測試流程。以先前技術之安裝流程來說，光學擷取模組通常是以螢幕對角線與外框夾45度角的方向來進行組裝，以達到最佳的可視角。但光學擷取模組內部的組裝可能有所偏差，造成擷取出的影像的方向有誤差，因此若用相同的流程組裝，就無法達到最佳可視角的目的。

有鑑於此，因此需要發明一種新的光學觸控模組之檢測系統及其自動檢測之方法，以解決先前技術的缺失。

本發明之主要目的係在提供一種光學觸控模組之檢測系統，其具有可自動調整光學式觸控模組之擷取方向之效果。

本發明之另一主要目的係在提供一種用於上述系統之自動檢測之方法。

為達成上述之目的，本發明之光學觸控模組之檢測系統用以測試光學式觸控模組。光學式觸控模組包括接觸面及光學擷取模組，光學擷取模組係設置於接觸面以對接觸面擷取得影像訊號。檢測系統包括控制模組、第一測試件、第二測試件及旋轉治具。控制模組係電性連接光學擷取模組。第一測試件用以放置於接觸面上以供光學擷取模組擷取得第一測試訊號。第二測試件用以放置於接觸面上以供光學擷取模組擷取得第二測試訊號。旋轉治具係電性連接於控制模組並用以連接至光學擷取模組，其中控制模組係判斷影像訊號中是否同時具有第一測試訊號及第二測試訊號，若否，則控制旋轉治具以轉動光學擷取模組以調整擷取方向。

本發明之自動檢測之方法包括以下步驟：提供第一測試件以放置於接觸面上；提供第二測試件以放置於接觸面上；提供光學擷取模組擷取第一測試件及第二測試件以得到影像訊號；判斷影像訊號中是否同時具有第一測試訊號及第二測試訊號，其中第一測試訊號及第二測試訊號係分別對第一測試件及第二測試件擷取而得；以及若否，則轉動光學擷取模組以調整擷取方向。

為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉出本發明之具體實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

請先參考圖1A係本發明之檢測系統測試光學式觸控模組之第一實施例之示意圖。

本發明之檢測系統10係用以測試光學式觸控模組30內之光學擷取模組31是否正常。光學式觸控模組30具有至少一光學擷取模組31及接觸面32。光學擷取模組31係設置於接觸面32之邊緣，光學擷取模組31較佳之實施方式係設置於接觸面32之相鄰兩角，在圖1A中係以設置於接觸面32之一角為例進行說明，但本發明並不限於此。光學擷取模組31係對接觸面32進行影像擷取，以得到影像訊號。接觸面32之表面係為一光滑平面，以減少光學擷取模組31擷取到之雜訊。接觸面32之四周還可具有反光邊條(圖未示)，使得光學擷取模組31具有較佳的擷取效果。由於光學式觸控模組30之作用原理已經被本發明所屬技術領域者所廣泛應用，故在此不再贅述。

檢測系統10包括第一測試件21、第二測試件22、控制模組11、旋轉治具12與發光模組13。第一測試件21與第二測試件22係靠近接觸面32之邊界，且放置於接觸面32上相對的角落，以代表接觸面32預定提供使用者接觸之最大區域範圍。第一測試件21與第二測試件22可為反光材質，以模擬觸控筆或手指之反射訊號。因此光學擷取模組31可針對第一測試件21與第二測試件22分別擷取出第一測試訊號S1與第二測試訊號S2。

控制模組11可為一硬體、一硬體結合韌體或一硬體結合軟體等方式架構而成。當要測試光學式觸控模組30時，控制模組11係與光學擷取模組31電性連接，以接收光學擷取模組31擷取得之影像訊號，以藉由影像訊號中是否同時具有第一測試訊號S1與第二測試訊號S2來得知光學擷取模組31的組裝是否正常。發光模組13係用以投射一主動光源，讓光學擷取模組31得以擷取出較佳的影像訊號。發光模組13亦可直接設置於光學式觸控模組30中，本發明並不限定發光模組13只能設置於檢測系統10內。

旋轉治具12係與控制模組11電性連接，並接觸於光學擷取模組31，使得光學擷取模組31可藉此旋轉以調整擷取角度。旋轉治具12可為一馬達。在本發明之第一實施例中，若是光學擷取模組31之安裝正常時，光學擷取模組31係可同時擷取到第一測試件21與第二測試件22之第一測試訊號S1與第二測試訊號S2。因此，光學擷取模組31得到的影像訊號之曲線C1就會如同圖1B所示，圖1B係本發明之檢測系統於第一實施例下之影像訊號之曲線座標圖。

由圖1B中可知，在影像訊號之曲線C1的兩側具有第一測試訊號S1與第二測試訊號S2。如此一來控制模組11就判斷此光學擷取模組31的組裝正常。

但光學擷取模組31之組裝也有可能如圖2A所示，圖2A係本發明之檢測系統測試光學式觸控模組之第二實施例之示意圖。

在本發明之第二實施例中，若是光學擷取模組31內部元件組裝有誤差或是安裝於接觸面32有所偏差時，光學擷取模組31的擷取角度就可能偏移，而無法擷取到其中一個測試件。因此，光學擷取模組31得到的影像訊號就會如同圖2B所示，圖2B係本發明之檢測系統於第二實施例下之影像訊號之曲線座標圖。

在圖2B之中可知，影像訊號之曲線C2只在其中一側具有第一測試訊號S1，第二測試訊號S2則無法顯示。如此一來控制模組11就得知光學擷取模組31的擷取方向係偏向第一測試件21，而無法擷取到第二測試件22。此時控制模組11係控制旋轉治具12讓光學擷取模組31逆時針旋轉，以調整光學擷取模組31的擷取方向，直到得到如圖1B所示的影像訊號之曲線C1為止。

接著請參考圖3係本發明之自動檢測之方法之步驟流程圖。此處需注意的是，以下雖以檢測系統10為例說明本發明之自動檢測之方法，但本發明之自動檢測之方法並不以使用在上述的檢測系統10為限。

首先進行步驟300：提供一光學觸控模組。

當檢測系統10要進行檢測之前，係先提供一組已經組裝光學擷取模組31及接觸面32的光學式觸控模組30，並將光學擷取模組31與控制模組11電性連接。而其中光學擷取模組31可以接觸面32對角線與接觸面32之外框夾45度角的方向來進行組裝。

其次進行步驟301：投射一主動式光源。

其次自發光模組13投射主動式光源至接觸面32。發光模組13可根據控制模組11之控制來投射出主動試光源，但本發明並不以此為限。

接著進行步驟302：提供一第一測試件及一第二測試件以放置於該接觸面上。

接著將第一測試件21及第二測試件22放置於接觸面32之邊界且放置於接觸面32上的相對角落，以當作光學擷取模組31擷取邊界之基準。

接著進行步驟303：提供該光學擷取模組擷取該第一測試件及該第二測試件以得到該影像訊號。

接著光學擷取模組31係對接觸面32上的第一測試件21及第二測試件22進行擷取，並將擷取得到之影像訊號傳輸至控制模組11。

再進行步驟304：判斷該影像訊號中是否同時具有一第一測試訊號及一第二測試訊號。

當控制模組11得到影像訊號後，係判斷影像訊號中是否同時具有自第一測試件21擷取得之第一測試訊號S1以及自第二測試件22節取得之第二測試訊號S2。如果同時具有第一測試訊號S1及第二測試訊號S2，例如圖1B所示的影像訊號之曲線C1，控制模組11係判斷光學擷取模組31之組裝正常。因此即結束此自動測試流程。

若影像訊號中只有第一測試訊號S1或是第二測試訊號S2，例如圖2B所示的影像訊號之曲線C2，則進行步驟305：轉動該光學擷取模組以調整擷取方向。

此時控制模組11係判斷光學擷取模組31之組裝有錯誤而導致截取得方向有偏差，因此控制模組11係控制旋轉治具12轉動，以旋轉光學擷取模組31來調整光學擷取模組31的擷取方向。以圖2A為例，當光學擷取模組31只擷取到第一測試訊號S1時，旋轉治具12係帶動光學擷取模組31逆時針旋轉。同樣地，當光學擷取模組31只擷取到第二測試訊號S2時，旋轉治具12係帶動光學擷取模組31順時針旋轉。接著再回到步驟304以重複進行判斷，直到光學擷取模組31的擷取方向正確為止。

此處需注意的是，本發明之自動檢測之方法並不以上述之步驟次序為限，只要能達成本發明之目的，上述之步驟次序亦可加以改變。

藉由上述的系統及測試的流程，檢測系統10可自動地調整光學擷取模組31的擷取方向，而不需藉由人力判斷，可節省下許多人力及時間成本。

綜上所陳，本發明無論就目的、手段及功效，在在均顯示其迥異於習知技術之特徵，懇請　貴審查委員明察，早日賜准專利，俾嘉惠社會，實感德便。惟應注意的是，上述諸多實施例僅係為了便於說明而舉例而已，本發明所主張之權利範圍自應以申請專利範圍所述為準，而非僅限於上述實施例。

10．．．檢測系統

11．．．控制模組

12．．．旋轉治具

13．．．發光模組

21．．．第一測試件

22．．．第二測試件

30．．．光學式觸控模組

31．．．光學擷取模組

32．．．接觸面

C1、C2．．．影像訊號之曲線

S1．．．第一測試訊號

S2．．．第二測試訊號

圖1A係本發明之檢測系統測試光學式觸控模組之第一實施例之示意圖。

圖1B係本發明之檢測系統於第一實施例下之影像訊號之曲線座標圖。

圖2A係本發明之檢測系統測試光學式觸控模組之第二實施例之示意圖。

圖2B係本發明之檢測系統於第二實施例下之影像訊號之曲線座標圖。

圖3係本發明之自動檢測之方法之步驟流程圖。

10．．．檢測系統

11．．．控制模組

12．．．旋轉治具

13．．．發光模組

21．．．第一測試件

22．．．第二測試件

30．．．光學式觸控模組

31．．．光學擷取模組

32．．．接觸面

Claims (8)

1. 一種光學觸控模組之檢測系統，用以測試一光學式觸控模組，該光學式觸控模組包括一接觸面及一光學擷取模組，該光學擷取模組係設置於該接觸面以對該接觸面擷取得一影像訊號，該檢測系統包括：一控制模組，係電性連接該光學擷取模組；一第一測試件，用以放置於該接觸面上以供該光學擷取模組擷取得一第一測試訊號；一第二測試件，用以放置於該接觸面上以供該光學擷取模組擷取得一第二測試訊號；其中該第一測試件及該第二測試件係用以模擬一觸控筆或一手指；其中該第一測試件及該第二測試件之位置係為該接觸面供給一使用者接觸之一最大區域範圍；以及一旋轉治具，係電性連接於該控制模組並用以連接至該光學擷取模組，其中該控制模組係判斷該影像訊號中是否同時具有該第一測試訊號及該第二測試訊號，若否，則控制該旋轉治具以轉動該光學擷取模組以調整擷取方向。
2. 如申請專利範圍第1項所述之光學觸控模組之檢測系統，其中該第一測試件及該第二測試件係分別放置於該接觸面上之相對角落。
3. 如申請專利範圍第1項所述之光學觸控模組之檢測系統，該檢測系統更包括一發光模組，用以投射一主動式光源。
4. 如申請專利範圍第1項所述之光學觸控模組之檢測系統，其中該第一測試件及該第二測試件係為一反光材質。
5. 如申請專利範圍第1項所述之光學觸控模組之檢測系統，其中該旋轉治具係為一馬達。
6. 一種自動檢測之方法，係用於一檢測系統以測試一光學式觸控模組，該光學式觸控模組包括一接觸面及一光學擷取模組，該光學擷取模組係設置於該接觸面以對該接觸面擷取一影像訊號，該方法包括以下步驟：提供一第一測試件以放置於該接觸面上；提供一第二測試件以放置於該接觸面上；其中該第一測試件及該第二測試件係用以模擬一觸控筆或一手指；其中該第一測試件及該第二測試件之位置係為該接觸面供給一使用者接觸之一最大區域範圍；提供該光學擷取模組擷取該第一測試件及該第二測試件以得到該影像訊號；判斷該影像訊號中是否同時具有一第一測試訊號及一第二測試訊號，其中該第一測試訊號及該第二測試訊號係分別對該第一測試件及該第二測試件擷取而得；以及若否，則轉動該光學擷取模組以調整擷取方向。
7. 如申請專利範圍第6項所述之自動檢測之方法，更包括以下步驟：分別放置該第一測試件及該第二測試件於該接觸面上之相對角落。
8. 如申請專利範圍第6項所述之自動檢測之方法，更包括投射一主動式光源之步驟。