CN103970371B - 基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法和设备 - Google Patents
基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法和设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103970371B CN103970371B CN201410150993.0A CN201410150993A CN103970371B CN 103970371 B CN103970371 B CN 103970371B CN 201410150993 A CN201410150993 A CN 201410150993A CN 103970371 B CN103970371 B CN 103970371B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- screen
- touch
- test
- touch screen
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 179
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 claims abstract description 21
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 35
- 238000010200 validation analysis Methods 0.000 claims description 18
- 238000003012 network analysis Methods 0.000 claims description 12
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 7
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 6
- 241000203475 Neopanax arboreus Species 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000003556 assay Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)
- User Interface Of Digital Computer (AREA)
Abstract
本发明公开了一种基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法，包括以下步骤：AOI系统解析出待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量；方向识别系统根据所述AOI系统解析的待测触摸屏的测试位置以及测试手指数量进行识别和分析，确认触摸屏的测试路径和方向；五指控制系统根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向，调整落笔数量和落笔间隔；五指联动控制系统根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向执行相应动作。本发明进一步提供一种基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的设备，本发明对触摸屏采用全自动测试的方式，所能实现的有益效果为测试通过率高，耗费时间少。
Description
技术领域
本发明属于触摸屏测试领域，尤其涉及一种基于Windows HCK（硬件认证工具包）的自动测试触摸屏性能的方法和设备。
背景技术
随着触摸屏行业的迅速发展以及Windows8的普及，Windows HCK也开始在业界流行起来，但现有的Windows HCK测试系统对触摸屏性能的测试几乎都使用手工测试的办法，比如说出现触摸屏的测试图形以后采用手工对位，使用手工治具进行划线测试。这种测试方式往往需要反复测试多次才能获得一次全部测试通过的检验结果，存在着测试过程复杂，手工操作繁琐，测试精准度低，测试通过率低，耗费时间长等问题。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法，旨在解决Windows HCK测试系统存在的测试过程复杂，手工操作繁琐，测试精准度低，测试通过率低，耗费时间长的问题。
为实现上述目的，本发明提供的基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法，包括以下步骤：
AOI（Automatic Optic Inspection，自动光学检测）系统解析出待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量；
方向识别系统根据所述AOI系统解析的待测触摸屏的测试位置以及测试手指数量进行识别和分析，确认触摸屏的测试路径和方向；
五指控制系统根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向，调整落笔数量和落笔间隔；
五指联动控制系统根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向执行相应动作。
优选地，所述AOI系统解析出待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量的步骤之前包括：
采集系统采集待测触摸屏的屏幕显示内容并传输给所述AOI系统。
优选地，所述AOI系统解析出待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量的步骤具体包括：
所述AOI系统接收所述采集系统采集到的所述待测触摸屏的屏幕显示内容；
所述AOI系统解析待测触摸屏的屏幕显示内容，识别出待测触摸屏靶标的起始点、终点和触摸屏测试手指数量。
优选地，所述五指控制系统根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向，调整落笔数量和落笔间隔的步骤具体包括：
所述五指控制系统的全自动机械平台中的落笔采取中指固定、其余四指活动的方式对落笔间距做出对应调整；
所述五指控制系统的全自动机械平台中的落笔的五指中均设置有气缸，根据待测触摸屏测试中对相应落笔数量的需求，控制五指中的相应手指运动。优选地，所述五指联动控制系统根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向执行相应动作的步骤具体包括：
所述五指联动控制系统的XYZ Alpha联动平台的水平运动控制模块根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向，控制落笔在待测触摸屏表面的XYZ三轴方向做轴向点击或/和划线运动；
所述五指联动控制系统的XYZ Alpha联动平台的旋转运动控制模块根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向，控制落笔在待测触摸屏表面的角位移方向做旋转点击或/和划线运动。
本发明进一步提供一种基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的设备，包括：
AOI系统，用于解析待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量；
方向识别系统，与所述AOI系统相连，用于根据所述AOI系统解析的待测触摸屏的测试位置以及测试手指数量进行识别和分析，确认触摸屏的测试路径和方向；
五指控制系统，与所述方向识别系统相连，根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向，调整落笔数量和落笔间隔；
五指联动控制系统，与所述方向识别系统相连，用于根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向执行相应动作。
优选地，所述的基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的设备，还包括，
采集系统，与所述AOI系统相连，用于采集待测触摸屏的屏幕显示内容并传输给所述AOI系统。
优选地，所述AOI系统包括，
接收模块，与所述采集系统相连，用于接收所述采集系统采集到的所述待测触摸屏的屏幕显示内容；
解析模块，与所述接收模块相连，用于解析待测触摸屏的屏幕显示内容，识别出待测触摸屏靶标的起始点、终点和触摸屏测试手指数量。
优选地，所述五指控制系统包括全自动机械平台，
其中，所述全自动机械平台包括：
间隔调整模块，与所述方向识别系统相连，用于根据落笔采取的中指固定、其余四指活动的方式对落笔间距做出对应调整；
数量调整模块，与所述方向识别系统相连，用于根据待测触摸屏测试中对相应落笔数量的需求，控制五指中的相应手指运动。
优选地，所述五指联动控制系统包括XYZ Alpha联动平台，
其中，所述XYZ Alpha联动平台包括：
水平运动控制模块，与所述方向识别系统相连，用于根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向，控制落笔在待测触摸屏表面的XYZ三轴方向做轴向点击或/和划线运动；
旋转运动控制模块，与所述方向识别系统相连，用于根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向，控制落笔在待测触摸屏表面的Alpha角位移方向做旋转点击或/和划线运动。
本发明提供的基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法，包括以下步骤：AOI系统解析出待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量；方向识别系统根据所述AOI系统解析的待测触摸屏的测试位置以及测试手指数量进行识别和分析，确认触摸屏的测试路径和方向；五指控制系统根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向，调整落笔数量和落笔间隔；五指联动控制系统根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向执行相应动作。本发明对触摸屏采用全自动测试的方式，所能实现的有益效果为测试通过率高，耗费时间少。
附图说明
图1为本发明基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法一实施例的流程示意图；
图2为图1中S100的步骤的细化流程示意图；
图3为图1中S300的步骤的细化流程示意图；
图4为图1中S400的步骤的细化流程示意图；
图5为本发明基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的设备一实施例的功能模块示意图；
图6为图5中AOI系统的功能模块示意图；
图7为图5中五指控制系统的功能模块示意图；
图8为图5中五指联动控制系统的功能模块示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明提供一种基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法，参照图1，在一实施例中，该实施例包括以下步骤：
步骤S100、AOI系统解析出待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量。
本实施例AOI系统对Windows8的Windows HCK测试系统的待测触摸屏进行解析，分析出测试位置以及触摸屏测试手指数量。比如说触摸屏测试点的靶标，靶标的坐标，测试点的起点、终点以及多点触摸屏时的测试手指的数量。
步骤S200、方向识别系统根据所述AOI系统解析的待测触摸屏的测试位置以及测试手指数量进行识别和分析，确认触摸屏的测试路径和方向。
本实施例方向识别系统包括路径识别模块和方向识别模块，路径识别模块将要走比的路径进行分析，比如说直线、斜线，也可以是半圆以及其它的图形轨迹；方向识别模块对将待测触摸屏的方向进行分析，比如说是从左到右，也可能是顺时钟方向或是逆时钟方钟，以及从何点开始至何点结束等等。
步骤S300、五指控制系统根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向，调整落笔数量和落笔间隔。
本实施例五指控制系统根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径以及测试的方向，适当调整落笔的数量和落笔的间隔，以符合测试的具体需求。
步骤S400、五指联动控制系统根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向执行相应动作。
本实施例五指联动控制系统，根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向的要求设置好要走的路径，方向和线特性等参数后，将设置参数传输到XYZ Alpha联动平台进行控制，XYZ Alpha联动平台通过模拟手指的动作、将输入的路径信息按照设置需求执行到位，XYZ Alpha联动平台根据测试的需要，既可以作在XYZ轴方向上做直线运动，也可以在做弧线动动，为现有技术中使用的一种设备。
本实施例提供的基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法，包括：步骤S100、AOI系统解析出待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量；步骤S200、方向识别系统根据所述AOI系统解析的待测触摸屏的测试位置以及测试手指数量进行识别和分析，确认触摸屏的测试路径和方向；步骤S300、五指控制系统根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向，调整落笔数量和落笔间隔；步骤S400、五指联动控制系统根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向执行相应动作。本实施例对触摸屏采用全自动测试的方式，所能实现的有益效果为测试通过率高，耗费时间少。
具体地，进一步参见图1，本实施例所述步骤S100之前还包括：
步骤S100A、采集系统采集待测触摸屏的屏幕显示内容并传输给所述AOI系统。
本实施例采集系统采用高精度高分辨率的CCD相机，对Windows8的Windows HCK测试系统的待测触摸屏进行拍照，将屏幕上的内容全收其中，然后通过数据接口传输给PC，由PC中的操作系统将数据传输给AOI系统。其中，所述的CCD相机的分辨率要大于待测触摸屏显示的分辨率，这样才能保证CCD可以捕捉到待测触摸屏显示的每一个点。
具体地，参见图2，步骤S100具体包括：
步骤S100a、所述AOI系统接收所述采集系统采集到的所述待测触摸屏的屏幕显示内容；
本实施例AOI系统通过PC中的操作系统和数据接口，接收采集系统采集到的待测触摸屏的屏幕显示的整个内容。
步骤S100b、所述AOI系统解析待测触摸屏的屏幕显示内容，识别出待测触摸屏靶标的起始点、终点和触摸屏测试手指数量。
本实施例AOI系统接收到采集系统采集的待测触摸屏的屏幕显示的内容后，识别到Windows触摸屏硬件认证系统中固定形状的几个靶标，靶标即测试点，并根据每个靶标设置颜色的不同，识别出相应的起始点、终点；以及根据测试轨迹的划痕和手指的动作，识别出测试手指的数量。
具体地，如图3所示，步骤S300具体包括：
步骤S300a、所述五指控制系统的全自动机械平台中的落笔采取中指固定、其余四指活动的方式对落笔间距做出对应调整。
本实施例五指控制系统的全自动机械平台中的落笔根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向，采取中指固定、其余四指活动的调节方式，对落笔间距做出对应调整，以符合整个触摸屏测试中对测试间距的要求，其中全自动机械平台包括升降平台，可控制落笔整体上下运动，落笔相当于机械手的手掌，可以模拟手指做伸缩动作。
步骤S300b、所述五指控制系统的全自动机械平台中的落笔的五指中均设置有气缸，根据待测触摸屏测试中对相应落笔数量的需求，控制五指中的相应手指运动。
本实施例为了满足待测触摸屏测试中对相应落笔数量的需求，五指控制系统的全自动机械平台中的落笔的五指中均设置有气缸，可单独控制五指中任一手指运动。
具体地，如图4所示，步骤S400具体包括：
步骤S400a、所述五指联动控制系统的XYZ Alpha联动平台的水平运动控制模块根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向，控制落笔在待测触摸屏表面的XYZ三轴方向做轴向点击或/和划线运动。
本实施例五指联动控制系统的XYZ Alpha联动平台的水平运动控制模块采用伺服马达进行驱动，控制落笔在待测触摸屏表面的XYZ三轴方向上做轴向的点击或/和划线运动，从而完成水平方向的触摸屏测试动作。
步骤S400b、所述五指联动控制系统的XYZ Alpha联动平台的旋转运动控制模块根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向，控制落笔在待测触摸屏表面的角位移方向做旋转点击或/和划线运动。
本实施例五指联动控制系统的XYZ Alpha联动平台的旋转运动控制模块采用一个10:1的减速器和步进马达进行驱动，控制落笔在待测触摸屏表面的XYZ三轴方向上做轴向点击或/和划线运动，从而完成弧线或半圆的触摸屏测试动作。
参见图5，本发明进一步提供一种基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的设备，在本实施例1中，具体包括：
AOI系统20，用于解析待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量。
本实施例AOI系统20对Windows8的Windows HCK测试系统的待测触摸屏进行解析，分析出测试位置以及触摸屏测试手指数量。比如说触摸屏测试点的靶标，靶标的坐标，测试点的起点、终点以及多点触摸屏时的测试手指的数量。
方向识别系统30，与所述AOI系统20相连，用于根据所述AOI系统20解析的待测触摸屏的测试位置以及测试手指数量进行识别和分析，确认触摸屏的测试路径和方向。
本实施例方向识别系统30包括路径识别模块和方向识别模块，路径识别模块将要走比的路径进行分析，比如说直线、斜线，也可以是半圆以及其它的图形轨迹；方向识别模块对将待测触摸屏的方向进行分析，比如说是从左到右，也可能是顺时钟方向或是逆时钟方钟，以及从何点开始至何点结束等等。
五指控制系统40，与所述方向识别系统30相连，根据所述方向识别系统30确认的触摸屏的测试路径和方向，调整落笔数量和落笔间隔。
本实施例五指控制系统40根据所述方向识别系统30确认的触摸屏的测试路径以及测试的方向，适当调整落笔的数量和落笔的间隔，以符合测试的具体需求
五指联动控制系统50，与所述方向识别系统30相连，用于根据所述方向识别系统30确认的触摸屏的测试路径和方向执行相应动作。
本实施例五指联动控制系统50，根据所述方向识别系统30确认的触摸屏的测试路径和方向的要求设置好要走的路径，方向和线特性等参数后，将设置参数传输到XYZ Alpha联动平台进行控制，XYZ Alpha联动平台通过模拟手指的动作、将输入的路径信息按照设置需求执行到位。
本实施例基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的设备，包括：AOI系统20，用于解析待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量；方向识别系统30，与所述AOI系统20相连，用于根据所述AOI系统20解析的待测触摸屏的测试位置以及测试手指数量进行识别和分析，确认触摸屏的测试路径和方向；五指控制系统40，与所述方向识别系统30相连，根据所述方向识别系统30确认的触摸屏的测试路径和方向，调整落笔数量和落笔间隔；五指联动控制系统50，与所述方向识别系统30相连，用于根据所述方向识别系统30确认的触摸屏的测试路径和方向执行相应动作。本实施例对触摸屏采用全自动测试的方式，所能实现的有益效果为测试通过率高，耗费时间少。
具体地，进一步参见图5，所述的基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的设备，还包括，
采集系统10，与所述AOI系统20相连，用于采集待测触摸屏的屏幕显示内容并传输给所述AOI系统20。
本实施例采集系统10采用高精度高分辨率的CCD相机，对Windows8的Windows HCK测试系统的待测触摸屏进行拍照，将屏幕上的内容全收其中，然后通过数据接口传输给PC，由PC中的操作系统将数据传输给AOI系统20。其中，所述的CCD相机的分辨率要大于待测触摸屏显示的分辨率，这样才能保证CCD可以捕捉到待测触摸屏显示的每一个点。
具体地，参见图6，所述AOI系统20包括，
接收模块21，与所述采集系统10相连，用于接收所述采集系统10采集到的所述待测触摸屏的屏幕显示内容。
本实施例AOI系统20的接收模块21，通过PC中的操作系统和数据接口，接收采集系统10采集到的待测触摸屏的屏幕显示的整个内容。
解析模块22，与所述接收模块21相连，用于解析待测触摸屏的屏幕显示内容，识别出待测触摸屏靶标的起始点、终点和触摸屏测试手指数量。
本实施例AOI系统20的解析模块22，接收到采集系统10采集的待测触摸屏的屏幕显示的内容后，识别到Windows触摸屏硬件认证系统中固定形状的几个靶标，并根据每个靶标设置颜色的不同，识别出相应的起始点、终点；以及根据测试轨迹的划痕和手指的动作，识别出测试手指的数量。
具体地，参见图7，所述五指控制40系统包括全自动机械平台，
其中，所述全自动机械平台包括：
间隔调整模块41，与所述方向识别系统30相连，用于根据落笔采取的中指固定、其余四指活动的方式对落笔间距做出对应调整；
本实施例五指控制系统40的全自动机械平台中的间隔调整模块41的落笔根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向，采取中指固定、其余四指活动的调节方式，对落笔间距做出对应调整，以符合整个触摸屏测试中对测试间距的要求。
数量调整模块42，与所述方向识别系统30相连，用于根据待测触摸屏测试中对相应落笔数量的需求，控制五指中的相应手指运动。
本实施例为了满足待测触摸屏测试中对相应落笔数量的需求，五指控制系统40的全自动机械平台中的数量调整模块42的落笔的五指中均设置有气缸，可单独控制五指中任一手指运动。
具体地，参见图8，所述五指联动控制系统50包括XYZ Alpha联动平台，
其中，所述XYZ Alpha联动平台包括：
水平运动控制模块51，与所述方向识别系统30相连，用于根据所述方向识别系统30分析所得到的路径和方向，控制落笔在待测触摸屏表面的XYZ三轴方向做轴向点击或/和划线运动。
本实施例五指联动控制系统60的XYZ Alpha联动平台的水平运动控制模块51采用伺服马达进行驱动，控制落笔在待测触摸屏表面的XYZ三轴方向上做轴向点击或/和划线运动，从而完成水平方向的触摸屏测试动作。
旋转运动控制模块52，与所述方向识别系统30相连，用于根据所述方向识别系统30分析所得到的路径和方向，控制落笔在待测触摸屏表面的Alpha角位移方向做旋转点击或/和划线运动。
本实施例五指联动控制系统50的XYZ Alpha联动平台的旋转运动控制模块52采用一个10:1的减速器和步进马达进行驱动，控制落笔在待测触摸屏表面的XYZ三轴方向上做轴向点击或/和划线运动，从而完成弧线或半圆的触摸屏测试动作。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法，其特征在于，包括以下步骤：
AOI系统解析出待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量；
方向识别系统根据所述AOI系统解析的待测触摸屏的测试位置以及测试手指数量进行识别和分析，确认触摸屏的测试路径和方向；
五指控制系统根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向，调整落笔数量和落笔间隔；
五指联动控制系统根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向执行相应动作。
2.如权利要求1所述的基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法，其特征在于，所述AOI系统解析出待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量的步骤之前包括：
采集系统采集待测触摸屏的屏幕显示内容并传输给所述AOI系统。
3.如权利要求2所述的基于Windows HCK的自动测试触屏性能的方法，其特征在于，所述AOI系统解析出待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量的步骤具体包括：
所述AOI系统接收所述采集系统采集到的待测触摸屏的屏幕显示内容；
所述AOI系统解析待测触摸屏的屏幕显示内容，识别出待测触摸屏靶标的起始点、终点和触摸屏测试手指数量。
4.如权利要求1至3任一项所述的基于Windows HCK的自动测试触屏性能的方法，其特征在于，所述五指控制系统根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向，调整落笔数量和落笔间隔的步骤具体包括：
所述五指控制系统的全自动机械平台中的落笔采取中指固定、其余四指活动的方式对落笔间距做出对应调整；
所述五指控制系统的全自动机械平台中的落笔的五指中均设置有气缸，根据待测触摸屏测试中对相应落笔数量的需求，控制五指中的相应手指运动。
5.如权利要求1至3任一项所述的基于Windows HCK的自动测试触屏性能的方法，其特征在于，所述五指联动控制系统根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向执行相应动作的步骤具体包括：
所述五指联动控制系统的XYZ Alpha联动平台的水平运动控制模块根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向，控制落笔在待测触摸屏表面的XYZ三轴方向做轴向点击或/和划线运动；
所述五指联动控制系统的XYZ Alpha联动平台的旋转运动控制模块根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向，控制落笔在待测触摸屏表面的角位移方向做旋转点击或/和划线运动。
6.一种基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的设备，其特征在于，包括：
AOI系统，用于解析待测触摸屏的测试位置以及触摸屏测试手指数量；
方向识别系统，与所述AOI系统相连，用于根据所述AOI系统解析的待测触摸屏的测试位置以及测试手指数量进行识别和分析，确认触摸屏的测试路径和方向；
五指控制系统，与所述方向识别系统相连，根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向，调整落笔数量和落笔间隔；
五指联动控制系统，与所述方向识别系统相连，用于根据所述方向识别系统确认的触摸屏的测试路径和方向执行相应动作。
7.如权利要求6所述的基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的设备，其特征在于，还包括，
采集系统，与所述AOI系统相连，用于采集待测触摸屏的屏幕显示内容并传输给所述AOI系统。
8.如权利要求7所述的基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的设备，其特征在于，所述AOI系统包括，
接收模块，与所述采集系统相连，用于接收所述采集系统采集到的所述待测触摸屏的屏幕显示内容；
解析模块，与所述接收模块相连，用于解析待测触摸屏的屏幕显示内容，识别出待测触摸屏靶标的起始点、终点和触摸屏测试手指数量。
9.如权利要求6至8任一项所述的基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的设备，其特征在于，所述五指控制系统包括全自动机械平台，
其中，所述全自动机械平台包括：
间隔调整模块，与所述方向识别系统相连，用于根据落笔采取的中指固定、其余四指活动的方式对落笔间距做出对应调整；
数量调整模块，与所述方向识别系统相连，用于根据待测触摸屏测试中对相应落笔数量的需求，控制五指中的相应手指运动。
10.如权利要求6至8任一项所述的基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的设备，其特征在于，所述五指联动控制系统包括XYZ Alpha联动平台，
其中，所述XYZ Alpha联动平台包括：
水平运动控制模块，与所述方向识别系统相连，用于根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向，控制落笔在待测触摸屏表面的XYZ三轴方向做轴向点击或/和划线运动；
旋转运动控制模块，与所述方向识别系统相连，用于根据所述方向识别系统分析所得到的路径和方向，控制落笔在待测触摸屏表面的Alpha角位移方向做旋转点击或/和划线运动。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201410150993.0A CN103970371B (zh) | 2014-04-15 | 2014-04-15 | 基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法和设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201410150993.0A CN103970371B (zh) | 2014-04-15 | 2014-04-15 | 基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法和设备 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN103970371A CN103970371A (zh) | 2014-08-06 |
| CN103970371B true CN103970371B (zh) | 2017-01-18 |
Family
ID=51239954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201410150993.0A Active CN103970371B (zh) | 2014-04-15 | 2014-04-15 | 基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法和设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN103970371B (zh) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106442548A (zh) * | 2016-11-25 | 2017-02-22 | 北京兆维电子(集团)有限责任公司 | 一种基于cell屏的全自动检测系统 |
| CN109324239A (zh) * | 2017-07-31 | 2019-02-12 | 英业达科技有限公司 | 测试系统及测试方法 |
| CN108983001A (zh) * | 2018-07-27 | 2018-12-11 | 昆山国显光电有限公司 | 曲面屏触控性能测试控制方法、装置及测试系统 |
| CN115046733B (zh) * | 2022-05-09 | 2024-05-10 | 中国电器科学研究院股份有限公司 | 触控屏性能检测方法及设备 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102222031A (zh) * | 2011-03-25 | 2011-10-19 | 苏州瀚瑞微电子有限公司 | 一种触控装置的测试方法 |
| CN102901898A (zh) * | 2012-10-22 | 2013-01-30 | 北京山海树科技有限公司 | 一种对触摸屏及相应软件进行自动测试的系统和方法 |
| TW201346681A (zh) * | 2012-05-09 | 2013-11-16 | Wistron Corp | 光學觸控模組之檢測系統及其自動檢測方法 |
-
2014
- 2014-04-15 CN CN201410150993.0A patent/CN103970371B/zh active Active
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102222031A (zh) * | 2011-03-25 | 2011-10-19 | 苏州瀚瑞微电子有限公司 | 一种触控装置的测试方法 |
| TW201346681A (zh) * | 2012-05-09 | 2013-11-16 | Wistron Corp | 光學觸控模組之檢測系統及其自動檢測方法 |
| CN102901898A (zh) * | 2012-10-22 | 2013-01-30 | 北京山海树科技有限公司 | 一种对触摸屏及相应软件进行自动测试的系统和方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN103970371A (zh) | 2014-08-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103970371B (zh) | 基于Windows HCK的自动测试触摸屏性能的方法和设备 | |
| US10816951B2 (en) | Emulation of a control system and control method for abnormality detection parameter verification | |
| CN101408862B (zh) | 一种嵌入式系统测试方法 | |
| EP3171236A1 (en) | Simulator, simulation method, and simulation program | |
| Ledin | Hardware-in-the-loop simulation | |
| US8019583B1 (en) | Selective functional group simulation of automation control and information systems | |
| CN103153553A (zh) | 视觉引导对准系统和方法 | |
| CN105740148A (zh) | 一种移动终端自动化测试的脚本引擎系统及测试方法 | |
| CN108984403A (zh) | Fpga逻辑代码的验证方法及装置 | |
| CN101308365A (zh) | 一种快速控制原型系统及实现方法 | |
| CN111055275A (zh) | 一种动作模仿方法、装置、计算机可读存储介质及机器人 | |
| CN102128637A (zh) | 光纤陀螺仪测试方法 | |
| Bindal et al. | An undergraduate system-on-chip (SoC) course for computer engineering students | |
| CN107562040A (zh) | 故障诊断流程的获取方法以及系统 | |
| CN102879732A (zh) | 板卡的测试方法及其系统 | |
| CN105807792A (zh) | 扫描离子电导显微镜的片上化控制器及控制方法 | |
| US20110107275A1 (en) | Method of testing a cursor interactive with a pointing device on a displaying device | |
| CN102779090A (zh) | 一种桌面虚拟化系统性能测量方法和系统 | |
| CN103033690B (zh) | 一种三维近场扫描系统 | |
| CN109977953A (zh) | 基于yolov3的目标检测算法在嵌入式设备上的实现方法 | |
| CN107317811B (zh) | 一种模拟plc的实现方法 | |
| CN109614999A (zh) | 一种数据处理方法、装置、设备及计算机可读存储介质 | |
| WO2020184892A1 (ko) | 모바일 앱 사용자의 빅데이터 분석 모델 실시간 생성을 위한 딥러닝 오차 최소화 시스템 및 그 제어방법 | |
| Avishay et al. | Designing and testing a calibrating procedure for combining the coordination systems of a handling robot and a stationed video camera | |
| CN108829081B (zh) | 一种控制系统的测试方法及系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| TR01 | Transfer of patent right | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20200716 Address after: 518000 East floor 1, building D, 101 Industrial Park, fuanna company, Qinghu village, Qinghu community, Longhua street, Longhua District, Shenzhen City, Guangdong Province Patentee after: SHENZHEN SEICHITECH TECHNOLOGY Co.,Ltd. Address before: 518000, 3D building, E garden, Taining Road, Luohu District Patriotic Road, Shenzhen, Guangdong Patentee before: Zhang Bin |