WO2022123858A1 - 光学フィルムの縁部検出方法 - Google Patents

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Abstract

矩形パネルに貼り合わされた光学フィルムの縁部の確実な検出を可能にする光学フィルム縁部の検出方法を提供する。検出方法は、光学フィルムが積層された矩形パネルを搬送する搬送ステップと、矩形パネル上の光学フィルムの縁部を含む対象領域を撮影する撮影ステップと、対象領域を複数の位置で撮影することによって得られた複数の画像から、縁部を検出するための最適画像を選択する最適画像選択ステップと、最適画像において縁部を検出する縁部検出ステップとを含む。撮影ステップでは、矩形パネルの搬送方向に沿って配置された複数の光源から光を順次照射して、1つの撮像手段によって搬送方向の上流側から下流側にわたる複数の位置で、対象領域を撮影する。

Description

光学フィルムの縁部検出方法
 本発明は、光学表示パネルの検査に用いられる光学フィルムの縁部を検出する方法に関し、より具体的には、矩形パネルと、それに貼り合わされた光学フィルムとの間の貼りずれを検査するにあたり、撮影された複数の画像から、光学フィルムの縁部を最も確実に検出することが可能な最適画像を選択し、当該最適画像を用いて光学フィルムの縁部を検出する、光学フィルムの縁部検出方法に関する。
 光学表示パネルにおいては、光学機能を有する種々の光学フィルムを必要に応じて矩形パネルに貼り合わせることによって、表示機能を実現する。光学表示パネルの製造工程では、矩形パネルの面に光学フィルムを貼り合わせた後に、両者の貼り合わせの精度を確認するために、矩形パネルと光学フィルムとの貼合状態の検査(いわゆる、貼りずれ検査)が行われる。従来の貼りずれ検査方法としては、例えば、特許文献1及び特許文献2に記載される方法が提案されている。
 特許文献1には、偏光板と液晶パネルとが貼り合わされた光学表示パネルの角部を、角部の鉛直上方から撮影可能に配置されたエリアカメラやラインカメラで撮像することが開示されている。貼り合わせのずれ量は、カメラで撮像された画像を用いて算出される。また、特許文献2は、光学セルに光学フィルム片が貼り合わされた光学表示パネルを搬送しながら、エリアセンサカメラを用いてパネルの角部を撮像可能とすることによって、貼りずれを検査する方法を開示する。この方法においては、撮影された画像から光学セルの端部と光学フィルム片の端部との間の距離を算出し、その距離に基づいて貼りずれが判定される。
特開2011-197281号公報 特開2016-118580号公報 特許第4377964号公報
 特許文献1及び特許文献2を含む従来の貼りずれ検査方法では、光学表示パネルにおける矩形パネル及び光学フィルムの両方の角部を含む一定の領域(以下、対象領域という)が、カメラの撮像領域に入り、撮像ポイントに到達したときに、撮影を行っている。撮像ポイントは、通常、光学表示パネル上の光学フィルムの縁部(通常は光学フィルムの移動方向の最前方の辺)がカメラの鉛直下方に到達したときの位置である。撮影された画像では、光学フィルムの縁部は、光源からの光が光学フィルムの縁部で反射されて光る線(輝線)として現れ、この反射光を認識することによって画像内における光学フィルムの縁部を検出することができる。しかしながら、矩形パネルに貼り合わされた光学フィルムの縁部の状態によっては、縁部が撮像ポイントに到達したときに撮影された画像のみからでは、縁部を検出することが難しいことがある。
 例えば、撮影された画像における光学フィルムの端面が、光源からの光を反射しにくい形状になっている場合や、端面からの反射光がカメラに到達しにくい角度になっている場合には、光学フィルムの縁部が検出し難いことがある。
 本発明は、矩形パネルと光学フィルムとの貼りずれ検査を正確に実施できるようにする検査方法に用いるために、矩形パネルに貼り合わされた光学フィルムの縁部の確実な検出を可能にする光学フィルム縁部の検出方法を提供することを目的とする。
 本発明は、矩形パネルの搬送方向の上流側に配置された光源から光を照射して光学フィルムの縁部を撮影したときの画像と、搬送方向の下流側に配置された光源から光を照射して縁部を撮影したときの画像とを比較すると、縁部を検出しやすい画像を得ることができる照射方向が、光学フィルムの搬送方向の位置によって異なるとの知見に基づいて、完成されたものである。
 本発明では、矩形パネルに光学フィルムが積層された光学表示パネルについて、矩形パネルの角部と光学フィルムの角部とを含む対象領域の画像を、複数の光源から順次照射された光によって複数枚取得し、それらの複数枚の画像のうちで最も確実に光学フィルムの縁部を検出することができる最適画像を選択して、その最適画像を用いて光学フィルムの縁部を検出する。
 すなわち、本発明は、矩形パネルに積層された光学フィルムの縁部を検出する光学フィルム縁部検出方法を提供するものであり、光学フィルムが積層された矩形パネルを搬送する搬送ステップと、矩形パネル上の光学フィルムの縁部を含む対象領域を撮影する撮影ステップと、対象領域を複数の位置で撮影することによって得られた複数の画像から、縁部を検出するための最適画像を選択する最適画像選択ステップと、最適画像において縁部を検出する縁部検出ステップとを含む。撮影ステップでは、矩形パネルの搬送方向に沿って配置された複数の光源から光を順次照射して、1つの撮像手段によって搬送方向の上流側から下流側にわたる複数の位置で、対象領域を撮影する。最適画像は、画像の各々における縁部の輝度に基づいて選択される。
 一実施形態においては、複数の光源は、対象領域を撮影する撮像手段に対して搬送方向の上流側に配置された上流側光源と下流側に配置された下流側光源とを少なくとも含むことが好ましい。撮影ステップでは、縁部が撮像手段の鉛直下方に到達したときの位置である撮像ポイントより搬送方向の上流側に縁部があるときに上流側光源から光を照射して撮影し、撮像ポイントより搬送方向の下流側に縁部があるときに下流側光源から光を照射して撮影することが好ましい。
 一実施形態においては、最適画像選択ステップにおいては、縁部に沿って設定された複数の箇所の輝度に基づいて最適画像を選択することが好ましい。また、別の実施形態においては、撮影ステップでは、矩形パネルを撮影ごとに停止させながら複数の画像を撮影することが好ましく、矩形パネルの幅方向に対向して配置された光源からの光をさらに用いて複数の画像を撮影することが好ましい。
 本発明によれば、矩形パネルに貼り合わされた光学フィルムの端部を含む所定の領域を撮影した複数の画像から、光学フィルムの縁部の輝線を確実に検出することができる最適画像を選択するため、その画像を用いて、より容易かつ高精度に光学フィルムの貼りずれを検査することができる。
液晶パネル製造において用いられる、液晶セルに貼り合わされた偏光フィルムの縁部を検出するための縁部検出装置の構成を表す模式図である。 本発明の一実施形態にかかる光学フィルム縁部検出方法において、撮影された複数の画像から最適画像を選択する処理の流れを示すフローである。 本発明の一実施形態にかかる方法において、点数化を行う処理の詳細を示すフローである。 点数化処理の工程を示す画像である。
 以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
 以下の説明においては、光学フィルムとして偏光フィルムが用いられ、矩形パネルとして液晶セルが用いられ、矩形パネルに光学フィルムが貼り合わされた光学表示パネルが液晶パネルである場合を例として説明するが、これらに限定されるものではなく、本発明は、光学機能を有するフィルムを矩形パネルに貼り合わせることによって製造される種々の光学表示パネルの検査において、等しく用いることができる。
[液晶パネル製造装置及び偏光フィルム縁部検出装置の概要]
 本発明に係るフィルム縁部検出方法は、例えば、ロールから繰り出された偏光フィルムを連続的に液晶セルに貼り合わせることによって液晶パネルを製造する装置(RTP方式の装置)において、製造された液晶パネルについて、偏光フィルムが予め定められた貼合位置からずれた状態で液晶セルの面に貼り合わされていること(以下、貼りずれという)を検査するために、偏光フィルムの縁部を検出する目的で用いることができる。RTP方式は、液晶パネルの製造工程において、帯状の離型フィルム上に粘着剤層を介して複数のシート状偏光フィルムが支持された帯状積層体から、欠点の存在しない正常なシート状偏光フィルムのみを粘着剤層と共に離型フィルムから順次剥離し、粘着剤層を介して液晶セルと貼り合わせることによって、液晶パネルを連続的に製造する方式である。こうした方式を実現する連続製造システムは、予め切り出された偏光フィルムのシートを液晶セルに貼り合わせる従来の個別貼り方式を実現する装置と区別して、「連続貼り(RTP;ロール・ツー・パネル)」装置といわれる。RTP方式の装置として、例えば特許文献3に記載の装置を用いることができる。
 図1は、液晶セルに貼り合わされた偏光フィルムの縁部を検出するための偏光フィルム縁部検出装置の構成の一例を示す模式図である。この装置は、例えば、上述のRTP方式による製造の液晶セル偏光フィルムを貼り合わせた後の工程における検査工程に用いられる装置の一部として、組み込むことができる。
 図1に示される装置は、液晶セルCに偏光フィルムFを貼り合わせて製造された液晶パネルPを搬送する搬送路1と、搬送路1の上方に配置された照明2と、照明2の上方に配置されたカメラ3とを備える。搬送路1によって搬送されている液晶パネルPの対象領域Aがカメラ3の撮影範囲内にあるときに、液晶パネルPの搬送方向Dの上流側から下流側にわたって照明2が複数回点灯され、カメラ3によって対象領域Aの複数の画像Isが撮影される。対象領域Aは、液晶セルCと偏光フィルムFとの貼り合わせのずれの検査を行うための領域であり、通常、液晶セルCの縁部CEと角部CCとを含む領域、及び、液晶セルCに貼り合わされた偏光フィルムFの縁部FE(これが検出されるべき縁部である)及び角部FCを含む領域であるが、これに限定されるものではなく、少なくとも縁部CE及びFEを含む領域であればよい。対象領域Aが複数の位置で撮影された複数の画像Isは、汎用的なコンピュータに送信され、コンピュータでは、偏光フィルムFの縁部FEを検出するための最適画像が選択され、選択された最適画像を用いて縁部FEが検出される。
 対象領域Aに対して異なる方向から光が照射されるように、搬送方向Dに沿って配置された複数の照明2を用いることが好ましい。対象領域Aが搬送方向Dの上流側から下流側まで移動する間の複数の位置で、複数の照明2が順次点灯される。複数の照明2は、少なくとも液晶パネルPの搬送方向Dの上流側及び下流側にそれぞれ配置されることが好ましい(図1の照明21、22)が、これに加えて、搬送方向Dを横切る方向(液晶パネルPの幅方向)にも配置されることが好ましい(図1の照明23、24)。液晶パネルPの幅方向にも照明2を配置することによって、偏光フィルムFの幅方向の縁部FSも、より確実に検出することができるため、より高精度な貼りずれ検査を行うことができる。また、照明2として、例えば、複数の光源が円環状に配置され、それらの複数の光源を個別に順次点灯させることができる1つのリング照明を用いてもよい。このようなリング照明を用いた場合には、円周方向の複数の箇所においてそれぞれ個別に光源を点灯させることによって、対象領域Aに対して異なる複数の方向から光を照射することができる。
 本発明において使用されるカメラ3は、目的に応じて、ラインカメラ、エリアカメラなどを用いることができる。例えば、液晶パネルPを移動させながら対象領域Aの撮影を行う場合には、ラインカメラを用いることが好ましい。ラインカメラを用いる場合には、液晶パネルPを停止させた状態でラインカメラを移動させながら対象領域Aを撮影するようにしてもよい。液晶パネルPを移動させながら対象領域Aの撮影を行う方法として、エリアカメラを用い、シャッター速度を液晶パネルPの移動速度より十分に速くして撮影することもできる。エリアカメラは、対象領域Aを撮影する際に液晶パネルPを停止させる場合にも用いることができる。
 以下の本実施形態においては、対象領域Aに対して液晶パネルPの搬送方向Dの上流側及び下流側のそれぞれに1つずつの照明21、22が配置され、液晶パネルPの幅方向のそれぞれに1つずつの照明23、24が配置された構成を用いて、複数の画像Isを1つのカメラ3で撮影し、それらの画像Isから、液晶フィルムFの縁部FEを検出するための最適画像Ibを選択する。以下においては、液晶パネルPの搬送面からの高さが一定でかつ照射方向が異なるように液晶パネルPの搬送方向Dに沿って配置された4つの照明21~24からの光を用い、縁部FEが搬送方向Dの上流側から下流側まで移動する間に照明を順次点灯させて撮影を行う方法を実施形態として、本発明を説明する。
[偏光フィルム縁部の検出]
(液晶パネルの搬送及び撮影)
 図1に示される装置においては、液晶セルCの縁部CE及び角部CCと偏光フィルムFの縁部FE及び角部FCとをいずれも含む対象領域Aについて、複数の画像Isが撮影される。対象領域Aを撮影することができるように配置されたカメラ3が、複数の照明21、22の点灯のタイミングに合わせて、対象領域Aがカメラ3の撮影範囲内に入ってから出るまでの間に複数の画像Isを取得する。具体的には、対象領域Aがカメラ3の撮影範囲内に入ってから出るまでの間に、複数の所定位置で液晶パネルPの搬送の停止及び撮影を行うことによって、複数の画像Isを取得する。所定位置は、偏光フィルムFの縁部FEが撮像ポイントに対して搬送方向Dの上流側にあるとき、撮像ポイント若しくはその近くにあるとき、又は撮像ポイントに対して搬送方向Dの下流側にあるときなどとすることができる。撮影は、例えば縁部FEが撮像ポイントに対して搬送方向Dの上流側にあるときに上流側の照明21を点灯させ、撮像ポイントにあるときに上流側の照明21及び下流側の照明22を順次点灯させ、撮像ポイントに対して搬送方向Dの下流側にあるときに下流側の照明22を点灯させることによって、行われる。取得する画像Isの枚数は限定されるものではなく、偏光フィルムFの縁部FEを検出するにあたって必要な精度と、縁部FEを検出するための最適画像を選択する処理の速度とを勘案して、決定することができる。
 複数の画像Isの撮影は、上述のように上流側から下流側に移動する液晶パネルPを撮影ごとに停止させることによって行われることが好ましいが、これに限定されるものではなく、撮影範囲の上流側から下流側にかけて液晶パネルPを移動させながら順次行われるようにしてもよい。液晶パネルPを移動させながら撮影する場合、複数の画像Isは、対象領域Aがカメラ3の視野に入ってから出るまで、照明21及び照明22のそれぞれの点灯のタイミングに合わせてカメラ3のシャッターを開放して画像を撮影することによって、取得することができる。あるいは、複数の画像Isは、対象領域Aがカメラ3の視野に入ってから出るまでカメラ3のシャッターを開放して撮影を連続的に行い、その間に照明21及び照明22のそれぞれを順次点灯させることによって、取得するようにしてもよい。取得された複数の画像Isは、カメラ3から、例えば、図示されない汎用のコンピュータに有線又は無線を介して送信され、ハードディスク等の記憶部に格納される。
(最適画像の選択)
 取得された複数枚の画像Isは、記憶部から取り出され、それらの画像Isから最適画像Ibが選択される。最適画像Ibは、複数の画像Isのうち、液晶セルCに貼り合わされた偏光フィルムFの縁部FEを最も確実に検出することができる画像である。最適画像の選択は、撮影された複数の画像Isの各々について、偏光フィルムFの縁部FEの輝度を測定し、輝度に基づいて評価点を求め、求められた評価点を画像間で比較し、評価点が最も高い画像を、縁部FEを最も確実に検出することができる最適画像Ibとして選択する。
 図2は、複数の画像Isから最適画像Ibを選択する処理全体の流れを示すフロー200である。また、図3は、複数の画像Isを評価するための評価点を求める点数化工程の具体的な処理の一例を示すフローであり、図4は、点数化工程の処理の一例を示す画像である。以下、図2~図4を参照しながら、最適画像Ibを選択する方法を具体的に説明する。なお、図2~図4に示される最適画像選択処理の内容は一例に過ぎず、光学表示パネルの種類に応じて他の処理も採用し得る。
 まず、フロー200のs201において、液晶パネルPが搬送方向Dの上流側から下流側に搬送される間に、複数の画像Isが得られる。次に、s202において、複数の画像Isの各々について、フィルム縁部の輝度が測定され、輝度に基づいて画像Isの各々の評価点を求める。次に、s203において、複数の画像Is間で評価点を比較し、評価点が最も高い画像を、縁部FEを最も確実に検出することができる最適画像Ibとして選択する。
 次に、フロー200における各処理を具体的に説明する。
 フロー200のs201に記載される画像の取得は、液晶パネルの撮影の項目において上述したとおりである。次に、フロー200のs202に示されるように、得られた複数の画像Isの各々について、偏光フィルムFの縁部FEの確実な検出の可能性を評価する評価点を求める。具体的には、複数の画像Isの各々について縁部FEを含む複数の箇所で輝度を測定して、複数箇所の輝度を点数化し、例えば合計値、平均値、最大値などを求め、これらの値を評価点とする。複数の画像Isのうち、この評価点が最も高い画像が、縁部FEを最も確実に検出することができる最適画像Ibとなる。
 図3は、複数の画像Isの各々について評価点を求め、最適画像を選択するとともに、画像Isの各々において偏光フィルムFの縁部FEの位置を定める処理の一例の詳細を示すフロー300である。まず、s301において、偏光フィルム縁部が存在すると想定される位置とその周辺とを含む複数個の小領域(図4(a)に示される四角形SR1)を、偏光フィルム縁部の長さ方向に沿って設定する。複数個の小領域は、液晶セルCに設けられたアライメントマークを読み取り、アライメントマークの位置に基づいて、液晶パネルCに偏光フィルムFがずれることなく規定通りに貼り合わせられたときの位置を計算し、そのようにして計算された当該位置に設定される。小領域のサイズについて、限定されるものではないが、偏光フィルム縁部を横切る方向の小領域の長さは、仮に偏光フィルムFがずれて液晶パネルCに貼り合わされたとしても、縁部が小領域内に収まるような長さに設定されることが好ましい。また、偏光フィルム縁部の長さ方向に沿った小領域の長さは、縁部の検出精度と処理速度とを考慮して適宜設定されることが好ましい。小領域の個数は、限定されるものではなく、縁部の検出精度と処理速度とを考慮して設定されることが好ましい。複数の小領域において、輝度が測定され、グラフ化される。グラフは、図4(b)に示されるように、小領域の端部から液晶パネルPの内側に向かう方向の距離と輝度との関係として表すことができる。
 次いで、s302で、複数の小領域の各々について生成された各グラフについて、グラフとして表された線と偏光フィルムFの縁部FEの有無を判定する所定のしきい値THとの交点が探索される。しきい値THとして採用される輝度は、その輝度以上であれば画像において縁部FEを確実に検出することができ、且つ、縁部FE以外を表す他の輝線の最大輝度(OBmax)より大きいと想定された数値とすることができる。画像に表れる縁部FEの輝線は幅を持つため、グラフとしきい値THとの交点は、通常、2つ存在する。2つの交点のうち、液晶パネルPの内側方向に相当する交点の位置CP1が、縁部FEを示す輝線の内側エッジの位置であるとされる。このようにして認識された各々の小領域の内側エッジの位置を結ぶと、結んだ直線が、縁部FEを示す輝線の内側エッジであり(s303)、この位置が偏光フィルムFの縁部FEを示す輝線の位置となる。
 一方、s304において、複数の小領域の各々について、小領域内の縁部FEを示す輝線の最大輝度Bmaxを点数化する。点数化は、例えば、カメラ3の受光素子が受け入れることができる最大入射エネルギー量に対応する輝度を100としたときの相対的な輝度として表すことができる。あるいは、測定された最大輝度Bmaxそのものをその小領域の点数とすることもできる。輝度の点数化によって、小領域の点数は、例えば、82点、85点、90点・・・などとして表される。複数の小領域の各々について点数が算出された後、s305において、例えばすべての小領域の点数を合計し、その合計値をその画像の評価点とする。なお、画像の評価点は、画像間における縁部FEの検出確実性を判断することができるものであれば、小領域の点数の合計値であることに限定されるものではない。例えば、画像の評価点は、複数の小領域の点数の平均点や、ある特定の点数以上の点数となった小領域の数などとしてもよい。複数の画像Isの各々についてこのように評価点を求め、評価点の最も高い画像を、最適画像Ibとする。
 具体的な例を挙げると、例えば、撮影された2枚の画像A及び画像Bについて、縁部FEに沿って10個の小領域を設定し、各小領域の輝度を測定する。画像Aのそれぞれの小領域の点数を合計した値が800点であり、画像Bのそれぞれの小領域の点数を合計した値が700点であった場合には、評価点の高い画像Aが、より確実に偏光フィルム縁部の検出が可能となる最適画像Ibであると判断される。なお、この画像Aにおける偏光フィルムFの縁部FEの内側エッジは、10個の小領域における内側エッジを結んだ直線である。
 評価点及び偏光フィルム縁部位置を求める処理(処理フロー200のs202、処理フロー300のs301~305)において生成されたデータは、例えば通信回線を介して、ハードディスク(図示せず)などの記憶部に記憶しておく。記憶されたデータは、必要に応じて記憶部から読み出し、後の工程、例えば貼りずれ量を求める処理などに用いることができる。
 以上のようにして、撮影された複数の画像Isから、液晶セルCに貼り合わされた偏光フィルムFの縁部FEをより正確に検出することができる最適画像Ibが選択される。選択された最適画像Ibを用いて、縁部FEが検出され、例えば、検出された縁部FEの位置と液晶セルCの縁部CEの位置との関係から、当業者に周知の方法を用いて偏光フィルムFEの貼りずれ量を求めることができる。
 選択された最適画像Ibにおける縁部FE及びその位置として、最適画像Ibとして選択された画像において最適画像Ibを選択する処理の過程で検出された縁部及びその位置をそのまま用いることができる。別の方法として、選択された最適画像Ibに、最適画像Ibを選択するために複数の画像Isの各々に対して行われた内側エッジ位置の検出処理(フロー300のs301~s303)と同じ処理を再び行い、最終的に検出された縁部FE及びその位置を、貼りずれ量を求めるための縁部及びその位置として用いることができる。
 以下、本発明の実施例を説明する。
 本実施例では、液晶パネルの搬送路の上方に配置された1台のカメラ(株式会社キーエンス製、CA-035C)と2つの照明(株式会社キーエンス製、CA-DBR8)とを用い、液晶パネルに含まれる偏光フィルムの前端の縁部を含む2枚の画像を取得した。液晶パネルとして、厚み1.6mmの32インチ液晶セルに厚み0.1mmの偏光フィルムを貼り合わせたものを用いた。2つの照明は、カメラの位置に対して液晶パネルの搬送方向の上流側及び下流側にそれぞれ1つずつ配置され、いずれも、カメラの鉛直下方の撮像ポイントに向けて光が照射されるように調整した。カメラの位置と液晶パネルの位置との間の鉛直方向の距離は91mm、照明の位置と液晶パネルの位置との間の鉛直方向の距離は8mmとした。画像処理装置(株式会社キーエンス製、XG-5000)によって測定された輝度を用いて、撮影された2枚の画像を評価した。
 
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 表1は、評価結果を示す。表1において、「偏光フィルム縁部位置」は、2枚の画像(画像1及び画像2)を撮影するために液晶パネルを停止させる位置であり、「上流側」、「撮像ポイント」及び「下流側」は、それぞれ、偏光フィルムの縁部が撮像ポイントの上流側にあるとき、縁部が撮像ポイントにあるとき、及び縁部が撮像ポイントの下流側にあるときを意味する。「照射方向」は、撮影のために液晶パネルを停止させたときに偏光フィルムの縁部に向けて光を照射する照明の位置及び照射方向であり、「上流側から」及び「下流側から」は、それぞれ、カメラの上流側に配置された照明から縁部に向けて光が照射されること、及びカメラの下流側に配置された照明から縁部に向けて光が照射されることを意味する。実施例1から実施例5のそれぞれの「偏光フィルム縁部位置」及び「照射方向」は、表1に示されるとおりである。本実施例では、最適画像の選択を行うための評価点として、輝度を用いた。偏光フィルム縁部が存在する位置とその周辺とを含む小領域(図4参照)を3個選択し、3個の小領域の各々においてBmaxを測定し、そうして得られた3個のBmaxの平均輝度を評価点とした。
 実施例1においては、偏光フィルム縁部が上流側のときに上流側から照射された光によって撮影された画像1と、偏光フィルム縁部が上流側のときに下流側から照射された光によって撮影された画像2とを比較し、最適画像を選択した。画像1の評価点(165)が画像2の評価点(120)より高いことから、偏光フィルム縁部の輝線を確実に検出することができる最適画像として、画像1が選択された。
 実施例2においては、実施例1と同様に撮影された画像1と、偏光フィルム縁部が撮像ポイントのときに下流側から照射された光によって撮影された画像2とを比較し、最適画像を選択した。また、実施例3においては、実施例1と同様に撮影された画像1と、偏光フィルム縁部が下流側のときに下流側から照射された光によって撮影された画像2とを比較し、最適画像を選択した。実施例2及び実施例3のいずれも、画像1が選択された。
 実施例4においては、偏光フィルム縁部が撮像ポイントのときに上流側から照射された光によって撮影された画像1と、偏光フィルム縁部が下流側のときに下流側から照射された光によって撮影された画像2とを比較し、最適画像を選択した。この実施例では、画像2の評価点(150)が画像1の評価点(135)より高いことから、偏光フィルム縁部の輝線を確実に検出することができる最適画像として、画像2が選択された。また、実施例5では、偏光フィルム縁部が下流側のときに上流側から照射された光によって撮影された画像1と、偏光フィルム縁部が下流側のときに下流側から照射された光によって撮影された画像2とを比較し、最適画像を選択した。この実施例においても、画像2が選択された。
 比較例1は、偏光フィルム縁部が撮像ポイントにあるときにカメラ(株式会社キーエンス製、CA-035C)と同軸に配置されたリング照明(株式会社キーエンス製、CA-DRR8)を用いて画像を取得した結果である。実施例1から実施例5までのいずれの場合も、最適画像として選択された画像の評価点は、比較例1の評価点(127)より高かった。したがって、本発明によって選択された最適画像を用いることにより、従来技術によって撮影された画像と比較して、光学フィルムの縁部の輝線をより確実に検出することができる。

Claims (5)

  1.  矩形パネルに積層された光学フィルムの縁部を検出する光学フィルム縁部検出方法であって、
     光学フィルムが積層された矩形パネルを搬送する搬送ステップと、
     前記矩形パネル上の前記光学フィルムの縁部を含む対象領域を、前記矩形パネルの搬送方向に沿って配置された複数の光源から光を順次照射して、1つの撮像手段によって前記搬送方向の上流側から下流側にわたる複数の位置で撮影する、撮影ステップと、
     前記対象領域を複数の位置で撮影することによって得られた複数の画像から、画像の各々における前記縁部の輝度に基づいて、前記縁部を検出するための最適画像を選択する、最適画像選択ステップと、
     前記最適画像において前記縁部を検出する縁部検出ステップと
    を含む、光学フィルム縁部検出方法。
  2.  前記複数の光源は、前記1つの撮像手段に対して前記搬送方向の上流側に配置された上流側光源と下流側に配置された下流側光源とを少なくとも含み、
     前記撮影ステップは、前記縁部が前記撮像手段の鉛直下方に到達したときの位置である撮像ポイントより前記搬送方向の上流側に前記縁部があるときに前記上流側光源から光を照射して撮影し、前記撮像ポイントより前記搬送方向の下流側に前記縁部があるときに前記下流側光源から光を照射して撮影することを含む、
    請求項1に記載の光学フィルム縁部検出方法。
  3.  前記最適画像選択ステップは、前記縁部に沿って設定された複数の箇所の輝度に基づいて、前記最適画像を選択することを含む、
    請求項1又は請求項2に記載の光学フィルム縁部検出方法。
  4.  前記撮影ステップは、前記矩形パネルを撮影ごとに停止させながら前記複数の画像を撮影することを含む、請求項1から請求項3までのいずれか1項に記載の光学フィルム縁部検出方法。
  5.  前記撮影ステップは、前記矩形パネルの幅方向に対向して配置された光源からの光をさらに用いて前記複数の画像を撮影することを含む、請求項1から請求項4までのいずれか1項に記載の光学フィルム縁部検出方法。
     

     
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Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11223608A (ja) * 1998-02-05 1999-08-17 Sumitomo Chem Co Ltd フィルム検査方法およびそれを用いたフィルム検査装置
JP2007256106A (ja) * 2006-03-23 2007-10-04 Sharp Corp 表示パネル検査装置及びそれを用いた表示パネル検査方法
JP4377964B1 (ja) * 2008-04-15 2009-12-02 日東電工株式会社 液晶表示素子の連続製造方法及び装置
JP2011197281A (ja) * 2010-03-18 2011-10-06 Sumitomo Chemical Co Ltd 偏光板の貼合精度検査方法および貼合精度検査装置
WO2014057881A1 (ja) * 2012-10-12 2014-04-17 住友化学株式会社 検出装置、光学部材貼合体の製造装置及び光学部材貼合体の製造方法
JP2015187581A (ja) * 2014-03-27 2015-10-29 日本電気株式会社 検査装置、および、検査方法
JP2016038565A (ja) * 2014-08-07 2016-03-22 日東電工株式会社 光学フィルム貼付位置測定装置
JP2016118580A (ja) * 2014-12-18 2016-06-30 日東電工株式会社 光学表示パネルの製造方法および光学表示パネルの製造システム
US20180009211A1 (en) * 2016-07-08 2018-01-11 Lg Chem, Ltd. System and method for manufacturing display unit
JP2018146581A (ja) * 2017-03-03 2018-09-20 住友化学株式会社 欠陥検査システム、フィルム製造装置、フィルム製造方法、印字装置及び印字方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11223608A (ja) * 1998-02-05 1999-08-17 Sumitomo Chem Co Ltd フィルム検査方法およびそれを用いたフィルム検査装置
JP2007256106A (ja) * 2006-03-23 2007-10-04 Sharp Corp 表示パネル検査装置及びそれを用いた表示パネル検査方法
JP4377964B1 (ja) * 2008-04-15 2009-12-02 日東電工株式会社 液晶表示素子の連続製造方法及び装置
JP2011197281A (ja) * 2010-03-18 2011-10-06 Sumitomo Chemical Co Ltd 偏光板の貼合精度検査方法および貼合精度検査装置
WO2014057881A1 (ja) * 2012-10-12 2014-04-17 住友化学株式会社 検出装置、光学部材貼合体の製造装置及び光学部材貼合体の製造方法
JP2015187581A (ja) * 2014-03-27 2015-10-29 日本電気株式会社 検査装置、および、検査方法
JP2016038565A (ja) * 2014-08-07 2016-03-22 日東電工株式会社 光学フィルム貼付位置測定装置
JP2016118580A (ja) * 2014-12-18 2016-06-30 日東電工株式会社 光学表示パネルの製造方法および光学表示パネルの製造システム
US20180009211A1 (en) * 2016-07-08 2018-01-11 Lg Chem, Ltd. System and method for manufacturing display unit
JP2018146581A (ja) * 2017-03-03 2018-09-20 住友化学株式会社 欠陥検査システム、フィルム製造装置、フィルム製造方法、印字装置及び印字方法

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