JP2016125817A - 検査システム、検査方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】検査対象である透明シートの内部と表面の欠陥を簡易に検査できる検査システム等を提供する。
【解決手段】検査システム1は、導光板2の検査を行うものであり、検査装置10、照明11、13、撮影装置12、14等を備える。照明11、13は、導光板2に検査光を照射する。撮影装置12は、照明11から照射され、導光板2を反射した検査光を受光して導光板2の撮影を行う。撮影装置14は、照明13から照射され、導光板2を透過した検査光を受光して導光板2の撮影を行う。検査装置10は、撮影装置12、14で導光板2を撮影した撮影画像から導光板2の欠陥検査を行う。検査装置10は、導光板2の欠陥として、導光板2の表面と内部の欠陥を切り分けて検出する。
【選択図】図1
【解決手段】検査システム1は、導光板2の検査を行うものであり、検査装置10、照明11、13、撮影装置12、14等を備える。照明11、13は、導光板2に検査光を照射する。撮影装置12は、照明11から照射され、導光板2を反射した検査光を受光して導光板2の撮影を行う。撮影装置14は、照明13から照射され、導光板2を透過した検査光を受光して導光板2の撮影を行う。検査装置10は、撮影装置12、14で導光板2を撮影した撮影画像から導光板2の欠陥検査を行う。検査装置10は、導光板2の欠陥として、導光板2の表面と内部の欠陥を切り分けて検出する。
【選択図】図1
Description
本発明は、検査システムおよび検査方法に関する。
現在、液晶表示パネルなどのディスプレイパネルを組み込んだ各種の表示装置が普及しており、こうした表示装置には様々な光学シートが使用されている。
例えば液晶表示装置では、液晶層を有する液晶表示パネルにバックライトユニットからの光を透過させるが、このバックライトユニットには、LED(light emitting diode)や蛍光管など側方に配置された光源からの光を液晶層の平面に均一に導くため、導光板、拡散シート、プリズムシートなどが使用されている。
このうち導光板は、側方の光源からの光を導き、これを内部で反射して面状に放射するものである。図10は導光板2の一部を示す図である。この例では、導光板2として、ポリエステル樹脂やアクリル樹脂などによる透明シートの表面に凹凸2aを設けたレンズシートが用いられる。
導光板2では、矢印に示す方向に入射した側方からの光が凹凸2aで反射し、対向する出射面2bから出射する。凹凸2aは光路調整のため適当な形状に設計される。例えば凹凸2aは、幅が数十μm、高さが数μm〜数十μm程度のオーダーで形成される。なお、出射面2bにプリズム状の凹凸を設ける場合もあり、この場合も幅と高さが同様のオーダーで形成される。
導光板の製造工程において異物等による欠陥が発生すると、不良品の発生原因となる。そこで、導光板の製造後には導光板の欠陥検査を行う。特許文献1では、白点や光沢を有する異物のように光を透過する欠陥と、黒点やゴミ等の異物のように光を透過しない欠陥を一つの装置で検査することが記載されている。
導光板では、欠陥が導光板内部で発生しているか表面で発生しているかにより製品となったときの見え方が異なる。そのため、これらの欠陥を切り分けて検出することが望ましい。また、このような検査結果は、製造工程にフィードバックして不良品を無くすため有効活用できる。特許文献2では、透明板の端面部から平行光を入射し、透明板内部の欠陥を乱反射させることで、透明板内部の欠陥を透明板表面の欠陥と識別することが記載されている。
しかしながら、特許文献1の方法では導光板を個片に切り取る必要があり、量産時におけるウェブ状の導光板をリアルタイムに検査できないといった課題があった。また、導光板の内部の欠陥と表面の欠陥の切り分けも困難であった。
特許文献2では光ファイバで平行光を入射し、カメラ等を用いて検査しているが、近年では導光板に用いるレンズシートの厚みも500μm以下と薄くなっており、係る薄厚のレンズシートでは検査が困難になる。また上記と同様、量産時におけるウェブ状の導光板をリアルタイムに検査するのも難しい。
本発明は、検査対象である透明シートの内部と表面の欠陥を簡易に検査できる検査システム等を提供することを目的とする。
前述した課題を解決するための第1の発明は、透明シートの検査を行う検査システムであって、前記透明シートに検査光を照射する第1の照明、第2の照明と、前記第1の照明から照射され、前記透明シートを反射した検査光を受光して前記透明シートの撮影を行う第1の撮影装置と、前記第2の照明から照射され、前記透明シートを透過した検査光を受光して前記透明シートの撮影を行う第2の撮影装置と、前記第1の撮影装置、前記第2の撮影装置で前記透明シートを撮影した撮影画像から前記透明シートの欠陥検査を行う検査装置と、を備え、前記検査装置は、前記透明シートの欠陥として、前記透明シートの表面と内部の欠陥を切り分けて検出することを特徴とする検査システムである。
前記透明シートは、例えばレンズシートである。
また、前記第2の照明は、前記透明シートの法線方向から前記透明シートに検査光を照射し、前記第2の撮影装置は、前記透明シートの法線方向に透過した検査光を受光して前記透明シートの撮影を行い、前記第2の照明の光軸の位置は、前記第2の撮影装置からずれていることが望ましい。
さらに、前記第1の照明は、前記透明シートの法線方向に対し傾斜した方向から前記透明シートに検査光を照射し、前記第1の撮影装置は、前記透明シートの法線方向に反射した検査光を受光して前記透明シートの撮影を行うことが望ましい。
また、前記第2の照明は、前記透明シートの法線方向から前記透明シートに検査光を照射し、前記第2の撮影装置は、前記透明シートの法線方向に透過した検査光を受光して前記透明シートの撮影を行い、前記第2の照明の光軸の位置は、前記第2の撮影装置からずれていることが望ましい。
さらに、前記第1の照明は、前記透明シートの法線方向に対し傾斜した方向から前記透明シートに検査光を照射し、前記第1の撮影装置は、前記透明シートの法線方向に反射した検査光を受光して前記透明シートの撮影を行うことが望ましい。
前記検査装置は、前記第1の撮影装置、前記第2の撮影装置で前記透明シートを撮影した撮影画像を、各撮影画像について定められた第1の閾値と比較して欠陥を検出し、前記第1の撮影装置での撮影画像における欠陥部分の輝度が、前記第1の閾値と異なる第2の閾値以上である場合、前記透明シートの表面の欠陥とし、前記第1の撮影装置での撮影画像における欠陥部分の輝度が、前記第2の閾値未満である場合、前記透明シートの内部の欠陥とすることが望ましい。
第2の発明は、透明シートの検査を行う検査方法であって、第1の照明から透明シートに照射され、前記透明シートを反射した検査光を第1の撮影装置により受光して前記透明シートの撮影を行うステップと、第2の照明から透明シートに照射され、前記透明シートを透過した検査光を第2の撮影装置により受光して前記透明シートの撮影を行うステップと、検査装置により、前記第1の撮影装置、前記第2の撮影装置で前記透明シートを撮影した撮影画像から前記透明シートの欠陥検査を行うステップと、を備え、前記検査装置は、前記透明シートの欠陥として、前記透明シートの表面と内部の欠陥を切り分けて検出することを特徴とする検査方法である。
本発明により、LED等の通常の照明を用いた反射光および透過光による2つの撮影画像を用いて、薄い検査対象でも内部と表面の欠陥の検査が簡易にできる。また、特殊な機材を必要としないため簡素かつ安価な構成で検査ができ、量産時においても、広幅かつ連続シート状の検査対象をリアルタイムに検査可能である。また、検査対象の内部と表面の欠陥を切り分けることにより、製造工程へのフィードバックも可能になる。
また本発明は、透明シートのなかでも導光板のようなレンズシートの検査に適用するのが特に好適である。さらに、照明と撮影装置の配置を上記したように定め、暗視野方式によって撮影を行うことで、欠陥が好適に検出できる。さらに、第1の閾値と第2の閾値を上記したように用いて、撮影画像から検査対象の内部の欠陥と表面の欠陥とを好適に切り分けて検出できる。
本発明により、検査対象である透明シートの内部と表面の欠陥を簡易に検査できる検査システム等を提供することができる。
以下、図面に基づいて本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。
(1.検査システム1)
図1は本発明の実施形態に係る検査システム1を示す図である。本実施形態の検査システム1は、導光板2の欠陥検査を行うものであり、検査装置10、照明11(第1の照明)、13(第2の照明)、撮影装置12(第1の撮影装置)、14(第2の撮影装置)、照明制御装置15等を有する。
図1は本発明の実施形態に係る検査システム1を示す図である。本実施形態の検査システム1は、導光板2の欠陥検査を行うものであり、検査装置10、照明11(第1の照明)、13(第2の照明)、撮影装置12(第1の撮影装置)、14(第2の撮影装置)、照明制御装置15等を有する。
導光板2は図10で説明したものと同様である。すなわち、導光板2は、透明シートの表面に凹凸2aを設け、側方から入射した光源からの光を凹凸2aで反射させ、出射面2bから出射するレンズシートである。前記と同様、出射面2bにはプリズム状の凹凸が設けられる場合もある。また導光板2は薄く、その厚さが500μm程度以下であるとする。
検査システム1は導光板2の検査をインラインで行うものであり、ウェブ状に連続する製造後の導光板2を搬送ローラーなどの搬送装置(不図示)で搬送しつつ欠陥検査を行う。図1の矢印Aは導光板2の搬送方向を示す。この搬送方向は図10の左右方向に対応し、導光板2は前記の凹凸2aもしくは出射面2bを照明13側に向けて搬送される。
検査装置10は撮影装置12、14や照明制御装置15と接続し、これらの制御を行って後述するように欠陥検査を行う。特に本実施形態では、導光板2の内部と表面の欠陥を切り分けて検出できるようにしている。導光板2の欠陥には、異物、タンパク、浮遊物、樹脂の凝縮、パターンの欠け、キズ等がある。これらの大きさは様々であるが、樹脂の凝縮の場合、その直径は例えば100μm程度である。
図2は検査装置10のハードウェア構成を示す図である。検査装置10は、例えば、制御部101、記憶部102、入力部103、表示部104、通信部105等をバス106により接続して構成されたコンピュータにより実現できる。但しこれに限ることなく、適宜様々な構成をとることができる。
制御部101は、CPU、ROM、RAMなどから構成される。CPUは、記憶部102、ROM、記録媒体などに格納された検査装置10の処理に係るプログラムをRAM上のワークメモリ領域に呼び出して実行する。ROMは不揮発性メモリであり、コンピュータのブートプログラムやBIOSなどのプログラム、データなどを恒久的に保持している。RAMは揮発性メモリであり、記憶部102、ROM、記録媒体などからロードしたプログラムやデータを一時的に保持するとともに、制御部101が各種処理を行う為に使用するワークエリアを備える。
記憶部102は例えばハードディスクドライブであり、制御部101が実行するプログラム、プログラム実行に必要なデータ、OSなどが格納される。これらのプログラムやデータは、制御部101により必要に応じて読み出され、RAMに移して実行される。
入力部103はデータの入力を行い、例えばキーボード、マウスなどのポインティングデバイス、テンキーなどの入力装置を有する。
表示部104は、液晶表示パネルなどのディスプレイ装置と、ディスプレイ装置と連携して表示機能を実現するための論理回路(ビデオアダプタ等)を有する。
通信部105は、ネットワーク等を介した通信を媒介する通信インタフェースであり、他の装置との間で通信を行う。
バス106は、各部間の制御信号、データ信号等の授受を媒介する経路である。
表示部104は、液晶表示パネルなどのディスプレイ装置と、ディスプレイ装置と連携して表示機能を実現するための論理回路(ビデオアダプタ等)を有する。
通信部105は、ネットワーク等を介した通信を媒介する通信インタフェースであり、他の装置との間で通信を行う。
バス106は、各部間の制御信号、データ信号等の授受を媒介する経路である。
図1の説明に戻る。照明11、13はライン状照明であり、照明11、13の長手方向を、導光板2の幅方向に合わせて配置される。導光板2の幅方向は、導光板2の搬送方向と直交する。照明11、13は、長手方向に沿ったライン状の検査光を導光板2へと照射する。照明11、13には、例えばLEDや光ファイバが用いられる。
撮影装置12は、導光板2から見て照明11と同じ側に配置されており、照明11から照射され導光板2を反射した検査光を受光し、導光板2の撮影を行う。
撮影装置14は、導光板2から見て照明13と逆の側に配置されており、照明13から照射され導光板2を透過した検査光を受光し、導光板2の撮影を行う。
撮影装置14は、導光板2から見て照明13と逆の側に配置されており、照明13から照射され導光板2を透過した検査光を受光し、導光板2の撮影を行う。
撮影装置12、14はそれぞれ、レンズ12a、14aとラインセンサ12b、14bを備え、レンズ12a、14aで集光した検査光をラインセンサ12b、14bで受光することにより導光板2の撮影を行う。ラインセンサ12b、14bは、ライン状に配列した複数の受光素子の各々で検査光を受光するものであり、ラインセンサ12b、14bの長手方向(受光素子の配列方向)を導光板2の幅方向に合わせて配置される。
本実施形態では、上記の照明11、13と撮影装置12、14により、導光板2の全幅に渡って撮影が行われる。
図3は、照明11、13、撮影装置12、14の配置を導光板2の搬送方向に沿って見たものである。図に示すように、本実施形態において、照明11は導光板2の法線方向に対し傾斜した方向から検査光111を照射する。その傾斜角は例えば30°程度である。一方、撮影装置12は、導光板2の法線方向に反射した検査光111を受光して撮影を行う。
照明13は導光板2の法線方向から検査光131を照射し、撮影装置14は導光板2の法線方向に透過した検査光131を受光する。ただし、照明13から照射される検査光131の光軸の位置は、図のdに示すように撮影装置14から若干ずれている。このずれ量dは、図4(a)に示すように、撮影装置14下の撮影範囲に欠陥3がある場合に、導光板2内に斜めに入射した検査光131が欠陥3に向かうように適切な値(例えば、10〜20mm程度)に定められる。
図4(b)に示すように光軸のずれが大きすぎると、斜めに入射した検査光131が導光板2の内部を反射して撮影範囲まで伝播する際に、131’に示すように導光板2の上方や下方に出射して検査光131の量が少なくなり、検査が難しくなる。また検査光131の照射方向が適切でないと、図4(c)の131’に示すように検査光131の大部分が導光板2の下面で反射され、同じく検査が難しくなる。
(2.撮影装置12、14による撮影画像)
照明11と撮影装置12で反射光による撮影を行う場合、導光板2の内部や表面に欠陥が存在すると、図5(a)、(b)に示すように欠陥3により検査光111が乱反射し、導光板2の法線方向に向かう一部が撮影装置12で受光され、撮影画像上で明るい部分として現れる。一方、導光板2に欠陥がなく正常であると、検査光111は導光板2上を正反射したり、導光板2を透過したりして撮影装置12で受光されないので撮影画像上で暗く現れる。こうした輝度差により、撮影画像から導光板2の欠陥が検出できる。このような方式は暗視野方式とも呼ばれる。
照明11と撮影装置12で反射光による撮影を行う場合、導光板2の内部や表面に欠陥が存在すると、図5(a)、(b)に示すように欠陥3により検査光111が乱反射し、導光板2の法線方向に向かう一部が撮影装置12で受光され、撮影画像上で明るい部分として現れる。一方、導光板2に欠陥がなく正常であると、検査光111は導光板2上を正反射したり、導光板2を透過したりして撮影装置12で受光されないので撮影画像上で暗く現れる。こうした輝度差により、撮影画像から導光板2の欠陥が検出できる。このような方式は暗視野方式とも呼ばれる。
図6(a)、(b)は撮影装置12による撮影画像30とその輝度分布を模式的に示す図であり、図6(a)は導光板2の内部に欠陥3が存在する場合(図5(a)参照)、図6(b)は導光板2の表面に欠陥3が存在する場合(図5(b)参照)の例である。
本実施形態では、導光板2の内部に欠陥3が存在する場合、導光板2の表面に欠陥3が存在する場合に比べて若干輝度が低くなる。これは、図5(a)の111’に示すように検査光111の一部が導光板2上を正反射し、導光板2の内部に入射する検査光111の量が減る等の理由による。
一方、照明13と撮影装置14で透過光による撮影を行う場合、導光板2に欠陥がなく正常であると、導光板2を透過した検査光131が撮影装置14では受光されず、撮影画像上で暗く現れる。一方、導光板2の内部や表面に異物等の欠陥が存在すると、図7(a)、(b)に示すように検査光131が欠陥3により乱反射し、導光板2の法線方向に向かう一部が撮影装置14で受光され、撮影画像上で明るい部分として現れる。こうした輝度差により、撮影画像から導光板2の欠陥が検出できる。
図8(a)、(b)は撮影装置14による撮影画像30とその輝度分布を模式的に示す図であり、図8(a)は導光板2の内部に欠陥3が存在する場合(図7(a)参照)、図8(b)は導光板2の表面に欠陥3が存在する場合(図7(b)参照)の例である。この場合では、導光板2の内部に欠陥3が存在する場合と、導光板2の表面に欠陥3が存在する場合の両方で、欠陥が明るく現れており、欠陥3が好適に検出できるようになっている。
(3.導光板2の検査方法)
次に、検査システム1における導光板2の検査方法について説明する。図9は検査方法の手順を示すフローチャートである。図の各ステップは、検査装置10の制御部101により実行される。
次に、検査システム1における導光板2の検査方法について説明する。図9は検査方法の手順を示すフローチャートである。図の各ステップは、検査装置10の制御部101により実行される。
本実施形態では、導光板2の製造ラインにおいて、連続するウェブ状の製造後の導光板2を搬送しつつ、導光板2の欠陥検査を行う。この際、検査装置10は照明制御装置15に制御信号を出力して照明制御装置15による照明11、13の点灯を行い、導光板2に検査光111、131を照射する。
また検査装置10は、撮影装置12、14を制御し、撮影装置12にて前記したように反射光による画像撮影を行う(S1)とともに、撮影装置14にて前記したように透過光による画像撮影を行う(S2)。撮影装置12、14の撮影範囲の導光板2の搬送方向の長さは50μm程度であるが、導光板2を搬送しつつ連続して撮影を行うことで、導光板2が搬送方向に渡って撮影される。
S1、S2で撮影された撮影画像は撮影装置12、14から検査装置10に送信され、検査装置10はこれらの撮影画像を受信して取得する。検査装置10は、各撮影画像に対しフィルタリング等の前処理を行い(S3)、ノイズの除去等を行った後、欠陥検出を行う(S4)。
検査装置10は、欠陥検出の際、撮影装置12、14で導光板2を撮影した各撮影画像の輝度を、それぞれの撮影画像について定める第1の閾値と比較する。図6(a)、(b)の輝度分布に、反射光による撮影画像における第1の閾値の例を示す。また図8(a)、(b)の輝度分布に、透過光による撮影画像における第1の閾値の例を示す。各撮影画像における第1の閾値は、同じでもよいし異なっていてもよい。検査装置10は、反射光による撮影画像、透過光による撮影画像の少なくともいずれかで第1の閾値より輝度の大きい部分があれば欠陥が有るとする。
検査装置10は、このように、少なくともいずれかの撮影画像で第1の閾値との比較により欠陥を検出した場合(S5;YES)、第1の閾値より輝度の大きい欠陥部分を欠陥候補として抽出し(S6)、その導光板2上の位置を欠陥位置として記憶部102等に記録する。
例えば欠陥3が導光板2の内部にある図5(a)、図7(a)の例では、図8(a)に示すように、透過光による撮影画像のみで欠陥部分31が抽出されている。一方、欠陥3が導光板2の表面にある図5(b)、図7(b)の例では、図6(b)、8(b)に示すように、反射光による撮影画像と透過光による撮影画像の双方で、導光板2上の同じ位置に欠陥部分31が抽出されている。
次に、検査装置10は、反射光による撮影画像において、欠陥部分の輝度(例えば輝度の最大値)が第2の閾値を超えているか否かを判定する(S7)。図6(a)、(b)の輝度分布に第2の閾値の例を示す。図に示すように、第2の閾値は前記した第1の閾値と異なり、第1の閾値よりも小さい。
なお、前記のように透過光による撮影画像のみで欠陥部分31が抽出された場合、S7では、反射光による撮影画像において、欠陥部分31と導光板2上の位置が対応する部分(欠陥部分)の輝度による判定を行うことができる。図8(a)の32はこの部分を示す。
検査装置10は、反射光による撮影画像において、欠陥部分の輝度が第2の閾値を超えていれば(S7;YES)、その欠陥を導光板2の表面にある欠陥とし、表面欠陥である旨を当該欠陥の欠陥位置と紐づけて記憶部102等に記録する(S8)。一方、欠陥部分の輝度が第2の閾値以下の場合(S7;NO)、その欠陥を導光板2の内部にある欠陥とし、内部欠陥である旨を当該欠陥の欠陥位置と紐づけて記憶部102等に記録する(S9)。
なお、S4で欠陥が検出されなかった場合(S5;NO)は、問題となる欠陥は無いとして、欠陥位置の記録等は行わない。
このようにして、検出された欠陥の輝度値から導光板2の内部の欠陥と表面の欠陥が切り分けられる。欠陥位置及び当該欠陥が表面欠陥であるか内部欠陥であるかは、記憶部102に記憶するほか、表示部104に表示させることも可能である。また、欠陥部分の大きさや輝度なども、記録したり表示したりすることが可能である。
以上説明したように、本実施形態によれば、LED等の通常の照明11、13を用いた反射光および透過光による2つの撮影画像を用いて、薄い導光板2でも内部と表面の欠陥の検査が簡易にできる。また、特殊な機材を必要としないため簡素かつ安価な構成で検査ができ、量産時においても、広幅かつ連続シート状の導光板2をリアルタイムに検査可能である。また、導光板2の内部と表面の欠陥を切り分けることにより、製造工程へのフィードバックも可能になる。
また、導光板2のようなレンズシートでは、前記したように内部と表面の欠陥で製品となった時の見え方が異なる等の理由から、内部の欠陥と表面の欠陥を切り分けて検出することが重要であり、この点で、本発明の手法を用いて欠陥検査を行うのが特に好適である。
また本実施形態では、照明11、13と撮影装置12、14の配置を前記したように定め、暗視野方式によって撮影を行うことで、欠陥が好適に検出できる。さらに、本実施形態では、第1の閾値と第2の閾値を前記したように用いることで、撮影画像から導光板2の内部の欠陥と表面の欠陥とを好適に切り分けて検出することができる。
しかしながら、本発明はこれに限ることはない。例えば、本発明の検査システム1は導光板2以外のレンズシート、あるいはレンズシート以外の透明シートにも適用可能である。
また、上記の実施形態では暗視野方式による撮影を行ったが、明視野方式で撮影を行ってもよい。例えば撮影装置12については、導光板2の正常部分を正反射した検査光111が受光されるように配置する。また撮影装置14については、導光板2の正常部分を透過した検査光131が受光されるように配置する。これらの場合、欠陥は正常部分よりも暗い部分として撮影画像に現れる。ただし、欠陥が透明の材質による異物等の場合、若干検出されにくくなるという問題もある。
その他、前記した第1の閾値と第2の閾値は、それぞれ適当な値に定めることができ、第2の閾値を第1の閾値より大きくすることも可能である。
以上、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
1;検査システム
2;導光板
3;欠陥
10;検査装置
11、13;照明
12、14;撮影装置
12a、14a;レンズ
12b、14b;ラインセンサ
15;照明制御装置
30;撮影画像
31、32;欠陥部分
2;導光板
3;欠陥
10;検査装置
11、13;照明
12、14;撮影装置
12a、14a;レンズ
12b、14b;ラインセンサ
15;照明制御装置
30;撮影画像
31、32;欠陥部分
Claims (6)
- 透明シートの検査を行う検査システムであって、
前記透明シートに検査光を照射する第1の照明、第2の照明と、
前記第1の照明から照射され、前記透明シートを反射した検査光を受光して前記透明シートの撮影を行う第1の撮影装置と、
前記第2の照明から照射され、前記透明シートを透過した検査光を受光して前記透明シートの撮影を行う第2の撮影装置と、
前記第1の撮影装置、前記第2の撮影装置で前記透明シートを撮影した撮影画像から前記透明シートの欠陥検査を行う検査装置と、
を備え、
前記検査装置は、前記透明シートの欠陥として、前記透明シートの表面と内部の欠陥を切り分けて検出することを特徴とする検査システム。 - 前記透明シートは、レンズシートであることを特徴とする請求項1記載の検査システム。
- 前記第2の照明は、前記透明シートの法線方向から前記透明シートに検査光を照射し、前記第2の撮影装置は、前記透明シートの法線方向に透過した検査光を受光して前記透明シートの撮影を行い、
前記第2の照明の光軸の位置は、前記第2の撮影装置からずれていることを特徴とする請求項1または請求項2記載の検査システム。 - 前記第1の照明は、前記透明シートの法線方向に対し傾斜した方向から前記透明シートに検査光を照射し、前記第1の撮影装置は、前記透明シートの法線方向に反射した検査光を受光して前記透明シートの撮影を行うことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の検査システム。
- 前記検査装置は、前記第1の撮影装置、前記第2の撮影装置で前記透明シートを撮影した撮影画像を、各撮影画像について定められた第1の閾値と比較して欠陥を検出し、
前記第1の撮影装置での撮影画像における欠陥部分の輝度が、前記第1の閾値と異なる第2の閾値以上である場合、前記透明シートの表面の欠陥とし、
前記第1の撮影装置での撮影画像における欠陥部分の輝度が、前記第2の閾値未満である場合、前記透明シートの内部の欠陥とすることを特徴とする請求項4に記載の検査システム。 - 透明シートの検査を行う検査方法であって、
第1の照明から透明シートに照射され、前記透明シートを反射した検査光を第1の撮影装置により受光して前記透明シートの撮影を行うステップと、
第2の照明から透明シートに照射され、前記透明シートを透過した検査光を第2の撮影装置により受光して前記透明シートの撮影を行うステップと、
検査装置により、前記第1の撮影装置、前記第2の撮影装置で前記透明シートを撮影した撮影画像から前記透明シートの欠陥検査を行うステップと、
を備え、
前記検査装置は、前記透明シートの欠陥として、前記透明シートの表面と内部の欠陥を切り分けて検出することを特徴とする検査方法。
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