JP2016099314A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】プリズム形状の微小な歪みを好適に検査できる検査システム等を提供する。【解決手段】検査システム1は、検査装置10、撮影装置20、照明25等を有し、搬送中のプリズムシート3の欠陥検査をインラインで行うものである。照明25は、プリズムシート3のプリズム面に対し検査光251を照射する。撮影装置20は、プリズムシート3を透過した検査光251を受光して、プリズムシート3の撮影を行う。検査装置10は、撮影装置20でプリズムシート3の撮影を行った撮影画像に基づき、プリズムシート3の欠陥検査を行う。検査光251は、プリズム3aの一方の斜面300に対し略垂直となる方向に照射される。撮影画像では、プリズム形状の微小な歪みが周辺領域より高輝度の部分として現れる。【選択図】図1
Description
本発明は、液晶表示装置などに使用されるプリズムシートの欠陥検査を行う検査システムおよび検査方法に関する。
現在、液晶表示パネルなどのディスプレイパネルを組み込んだ各種の表示装置が普及しており、こうした表示装置には様々な光学シートが使用されている。
例えば液晶表示装置では、液晶層を有する液晶表示パネルにバックライトユニットからの光を透過させるが、このバックライトユニットには、LED(light emitting diode)や蛍光管などの光源からの光を液晶層の平面に均一に導くため、導光板、拡散シート、プリズムシートなどが使用されている。
このうちプリズムシートは、プリズムシートの法線方向に光を集光するものであり、このように指向性を与えることで光源からの光を効率よく利用し、液晶表示パネルを正面から見たときの輝度を向上させることができる。
図7(a)はプリズムシート3の一部を示す図である。プリズムシート3は、基材30上に、略三角柱状の単位プリズム3a(以下、プリズムという)を長手方向が平行となるように多数並べて設けたものである。プリズムシート3において、プリズム3aを設けた面をプリズム面というものとする。プリズムシート3のプリズム面と対向する面は平滑な面となっている。基材30やプリズム3aには、例えばポリエステル樹脂やアクリル樹脂などの透明樹脂を用いることができる。また基材30とプリズム3aは一体に形成することも可能である。
プリズムシートの製造工程において、異物の混入・付着、プリズムのキズ・欠けなどの欠陥が発生すると、プリズムシートが持つ光学特性に変化が生じて不良品となる。そこで、プリズムシートの製造後には、欠陥検査を行って良品と不良品を判別している。
従来の検査方法としては、プリズムシートの法線方向の検査光を照明からプリズムシートに向けて照射し、プリズムシートを透過した検査光を撮影装置によって受光して撮影を行い、撮影画像から欠陥検査を行うことが多い(特許文献1、2参照)。特許文献1ではラインセンサとライン状光源をプリズムシートの幅方向に対して傾ける例が記載されており、特許文献2では、プリズムの主屈折角に対して集光手段の画角を適切に規定することが記載されている。
近年、ディスプレイパネルの小型化などの理由により、プリズムシートによって光の指向性をより高め、バックライトユニットの高効率化を図る傾向にあるが、これに伴い、図7(b)の3a’に示すようなプリズム形状の微小な歪みが欠陥として問題となっている。上記した従来技術は、このようなプリズム形状の微小な歪みの検査を行うものではなかった。
本発明は、プリズム形状の微小な歪みを好適に検査できる検査システム等を提供することを目的とする。
前述した課題を解決するための第1の発明は、プリズムシートのプリズム面に対し検査光を照射する照明と、プリズムシートを透過した検査光を受光して、プリズムシートの撮影を行う撮影装置と、前記撮影装置でプリズムシートの撮影を行った撮影画像に基づき、プリズムシートの欠陥の検査を行う検査装置と、を具備し、前記検査光は、プリズムシートのプリズムの一方の斜面に対し略垂直となる方向に照射されることを特徴とするする検査システムである。
前記照明は、ライン状の検査光を照射するライン状照明であり、前記照明の長手方向が、プリズムシートのプリズム配列方向を鉛直面内で傾けた方向となるように配置され、前記プリズム配列方向に前記撮影装置と前記照明の組が複数配置され、前記照明からの検査光が別の組の撮影装置の撮影範囲に照射されないように遮光板が設けられることが望ましい。
また、前記検査装置は、前記撮影画像における輝度変化に基づいて欠陥を抽出することが望ましい。
また、前記検査光の方向は、前記斜面に対し垂直となる方向から若干ずれていてもよい。
また、前記検査装置は、前記撮影画像における輝度変化に基づいて欠陥を抽出することが望ましい。
また、前記検査光の方向は、前記斜面に対し垂直となる方向から若干ずれていてもよい。
第2の発明は、搬送中のプリズムシートのプリズム面に対し照明から検査光を照射し、プリズムシートを透過した検査光を撮影装置により受光してプリズムシートの撮影を行うステップと、前記撮影装置でプリズムシートの撮影を行った撮影画像に基づき、検査装置によりプリズムシートの欠陥の検査を行うステップと、を具備し、前記検査光は、プリズムシートのプリズムの一方の斜面に対し略垂直となる方向に照射されることを特徴とする検査方法である。
本発明では、検査光をプリズム形状に応じた所定の照射方向で照射することにより、従来の方法ではできなかったプリズム形状の微小な歪みの検査が可能になる。また、照明、遮光板の配置や欠陥抽出時の画像処理方法を上記のように定めることで、プリズム形状の微小な歪みを欠陥として好適に抽出できる。また、プリズムシートを搬送しつつインラインで検査を行うことで、短時間で効率の良い検査が可能になる。
本発明により、プリズム形状の微小な歪みを好適に検査できる検査システム等を提供することができる。
以下、図面に基づいて本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。
(1.検査システム1)
図1は本発明の実施形態に係る検査システム1を示す図である。本実施形態の検査システム1は図7(a)等で説明したプリズムシート3の欠陥検査を行うものであり、検査装置10、撮影装置20、照明25等を有する。
図1は本発明の実施形態に係る検査システム1を示す図である。本実施形態の検査システム1は図7(a)等で説明したプリズムシート3の欠陥検査を行うものであり、検査装置10、撮影装置20、照明25等を有する。
発明者らは鋭意検討を行うことにより、所定の照射方向にてプリズムシート3に検査光を照射することでプリズム形状の微小な歪み3a’(図7(b)参照)を欠陥として好適に抽出できることを見出した。本実施形態の検査システム1は、この知見を適用し、プリズム形状の微小な歪み3a’の検査を可能としたものである。
検査システム1では、検査対象であるプリズムシート3を搬送しつつ、インラインで検査を行う。図2の矢印Aはプリズムシート3の搬送方向を示す。プリズムシート3はプリズム3aの長手方向に沿って搬送される。この搬送方向は、図2の矢印Bに示す、複数のプリズム3aを並べた配列方向(以下、プリズム配列方向という)と直交する。
プリズムシート3の搬送方向は図1において紙面法線方向に対応する。また、プリズムシート3はプリズム面を照明25側に向けて搬送される。プリズムシート3の搬送は、搬送ローラーなどの搬送装置によって行われる。
検査装置10は、例えば制御部、記憶部、通信部等を有するコンピュータで実現できる。検査装置10は、撮影装置20でプリズムシート3を撮影した撮影画像を撮影装置20から取得し、当該撮影画像に対して画像処理等を行うことにより、プリズムシート3の欠陥検査を行う。
撮影装置20は、照明25から照射されプリズムシート3を透過した検査光251を受光し、プリズムシート3の撮影を行うものである。本実施形態において、撮影装置20はレンズ21とラインセンサ23を備えており、レンズ21で集光した検査光251をラインセンサ23で受光することによりプリズムシート3の撮影を行う。ラインセンサ23は、ライン状に配列した複数の受光素子の各々で検査光251を受光するものであり、ラインセンサ23の長手方向(受光素子の配列方向)をプリズムシート3のプリズム配列方向に合わせて配置される。プリズム配列方向は、図1の左右方向に対応する。
照明25はライン状照明であり、図1の矢印aで示す照明25の長手方向が、プリズムシート3のプリズム配列方向(図1の左右方向)を鉛直面内で傾けた方向となるように配置される。照明25は、照明25の長手方向と直交する方向にライン状の検査光251を照射する。照明25には、例えば光ファイバやLEDなどが用いられる。
本実施形態では、図1に示すように、1つの撮影範囲を撮影する撮影装置20と当該撮影範囲に検査光251を照射する照明25の組が、プリズムシート3のプリズム配列方向に複数設けられる。撮影装置20と照明25の組の数は、プリズムシート3のプリズム配列方向の長さ(プリズムシート3の幅)に応じて定める。また遮光板27を設けることにより、照明25からの検査光251が別の撮影装置20の撮影範囲に照射されるのを防止する。
(2.検査光251の照射方向)
本実施形態では、検査光251の照射方向が、プリズムシート3のプリズム3aの一方の斜面に対し略垂直となるように定められる。
本実施形態では、検査光251の照射方向が、プリズムシート3のプリズム3aの一方の斜面に対し略垂直となるように定められる。
図3はこれを説明する図である。図3において、θはプリズム3aの一方の斜面300のプリズム配列方向に対する傾斜角である。本実施形態においてθは60°程度である。そして、本実施形態では、この斜面300に対し略垂直となる方向に検査光251を照射する。
図3のαは、検査光251の照射方向のプリズムシート3の法線方向に対する傾斜角であり、本実施形態では70°程度である。検査光251の照射方向のプリズム配列方向に対する傾斜角は(90−α)°であり20°程度となる。
このように、本実施形態では検査光251の照射方向が斜面300に対し略垂直となる方向に定められる。なお、本実施形態では、検査光251の照射方向が、斜面300に対し垂直となる方向(上記のαが60°程度)からは若干(10°程度)ずれている。しかしながら、検査光251の照射方向は斜面300に対し垂直となる方向でもよい。この方向は、液晶表示装置などの製品においてプリズムシート3に実際に入射させる光の方向に対応する。
検査光251は、矢印に示すように、斜面300からプリズム3aに若干の屈折を伴って入射した後、プリズム3aの他方の斜面301を反射して上方の撮影装置20へと向かう。なお、本実施形態において、プリズム形状は略三角柱状と呼べる範囲であるが、詳細には、光路調整のため他方の斜面301に鈍角である角部301aが形成されている。プリズム配列方向に対する斜面301の傾斜角βは角部301aを境に変化しており、詳細に言えば、プリズム形状は四角柱状となっている。
(3.検査システムによる検査方法)
次に、検査システム1におけるプリズムシート3の検査方法について説明する。図4は検査方法の手順を示すフローチャートである。
次に、検査システム1におけるプリズムシート3の検査方法について説明する。図4は検査方法の手順を示すフローチャートである。
本実施形態では、プリズムシート3の製造ラインにおいて、製造後のプリズムシート3を搬送しつつ、プリズムシート3に照明25から検査光251を照射し、プリズムシート3を透過した検査光251を撮影装置20のレンズ21によって集光し、ラインセンサ23によって受光する。これにより、搬送中のプリズムシート3が撮影装置20によって連続して撮影される(S1)。撮影画像は検査装置10に送信される。本実施形態では、プリズムシート3のプリズム配列方向の複数の撮影装置20により、プリズムシート3が全幅に渡って撮影される。
検査装置10はプリズムシート3の撮影画像を撮影装置20から受信して取得し、画像処理等を行うことでプリズムシート3の撮影画像から欠陥の検査を行う(S2)。特に本実施形態では、撮影画像からプリズム形状の微小な歪み3a’を欠陥として抽出し、欠陥位置の記録や、良品・不良品の判定を行うことができる。
図5(a)は撮影画像を模式的に示した例であり、プリズム形状の微小な歪みを有するプリズムシート3を本実施形態の手法で撮影した撮影画像の一部を示す図である。撮影画像の縦方向はプリズム3aの長手方向に対応し、横方向はプリズム配列方向に対応する。
一方、図5(b)は、図5(a)との比較のため、プリズムシート3の法線方向に検査光を照射する従来の方法で撮影した撮影画像について、図5(a)と同じ部分を模式的に示した図である。
図5(a)に示すように、発明者らが行った検討によれば、本実施形態の手法では、従来の方法では検査できなかったプリズム形状の微小な歪みが撮影画像において明るく現れ、周辺領域と比較して高輝度の部分となっていた。
なお、本実施形態の手法では、撮影画像全体を見た時にプリズム配列方向の比較的緩やかな輝度変化による輝度の高低差が生じていた。一方、図5(a)に示すように、プリズム形状の微小な歪みは局所的に輝度が大きく変化する部分として現れていた。
そこで、S2では、閾値を基準とする撮影画像全体の二値化等により欠陥を抽出するよりも、輝度変化に基づく欠陥の抽出を行うことが望ましい。例えば、局所的な輝度変化に注目し、急激に輝度が変化する部分をフィルタリング等の手法により抽出してプリズム形状の微小な歪みが生じている欠陥とし、その大きさや形状等から不良品等の判定を行うことができる。
また図6(a)〜(c)のそれぞれに模式的に示すように、プリズムシート3においてプリズム形状の微小な歪みが生じていたその他の複数の部分についても、本実施形態の手法で撮影を行うことにより、プリズム形状の微小な歪みが図5(a)の例と同様に撮影画像上で周辺領域より高輝度の部分として現れていた。これにより、本実施形態の手法がプリズム形状の微小な歪みを検査するのに適していることがわかった。
以上説明したように、本実施形態の検査システム1では、検査光251をプリズム形状に応じた所定の照射方向で照射することにより、従来の方法ではできなかったプリズム形状の微小な歪みの検査が可能になる。また、照明25、遮光板27の配置や欠陥抽出時の画像処理方法を前記のように定めることで、プリズム形状の微小な歪みを欠陥として好適に抽出できる。また、プリズムシート3を搬送しつつインラインで検査を行うことで、短時間で効率の良い検査が可能になる。
しかしながら、本発明はこれに限ることはない。例えば、本実施形態では撮影装置20にラインセンサ23を用いたが、これに限ることはなく、エリアセンサ等を用いることも可能である。また照明25もライン状照明に限ることはなく、面状の照明とすることも可能である。さらに、本実施形態の検査システム1はプリズムシート3を搬送しつつインラインで検査を行うものとしたが、プリズムシート3の検査をオフラインで行うことも可能である。
また、本実施形態では、撮影装置20と照明25の組を複数設けたが、プリズムシート3の幅等に応じて、場合によっては撮影装置20と照明25の組を1組のみ設けてもよい。
以上、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
1;検査システム
3;プリズムシート
3a;単位プリズム
10;検査装置
20;撮影装置
21;レンズ
23;ラインセンサ
25;照明
251;検査光
27;遮光板
300、301;斜面
301a;角部
3;プリズムシート
3a;単位プリズム
10;検査装置
20;撮影装置
21;レンズ
23;ラインセンサ
25;照明
251;検査光
27;遮光板
300、301;斜面
301a;角部
Claims (5)
- プリズムシートのプリズム面に対し検査光を照射する照明と、
プリズムシートを透過した検査光を受光して、プリズムシートの撮影を行う撮影装置と、
前記撮影装置でプリズムシートの撮影を行った撮影画像に基づき、プリズムシートの欠陥の検査を行う検査装置と、
を具備し、
前記検査光は、プリズムシートのプリズムの一方の斜面に対し略垂直となる方向に照射されることを特徴とするする検査システム。 - 前記照明は、ライン状の検査光を照射するライン状照明であり、
前記照明の長手方向が、プリズムシートのプリズム配列方向を鉛直面内で傾けた方向となるように配置され、
前記プリズム配列方向に前記撮影装置と前記照明の組が複数配置され、
前記照明からの検査光が別の組の撮影装置の撮影範囲に照射されないように遮光板が設けられることを特徴とする請求項1記載の検査システム。 - 前記検査装置は、前記撮影画像における輝度変化に基づいて欠陥を抽出することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の検査システム。
- 前記検査光の方向は、前記斜面に対し垂直となる方向から若干ずれていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の検査システム。
- 搬送中のプリズムシートのプリズム面に対し照明から検査光を照射し、プリズムシートを透過した検査光を撮影装置により受光してプリズムシートの撮影を行うステップと、
前記撮影装置でプリズムシートの撮影を行った撮影画像に基づき、検査装置によりプリズムシートの欠陥の検査を行うステップと、
を具備し、
前記検査光は、プリズムシートのプリズムの一方の斜面に対し略垂直となる方向に照射されることを特徴とする検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014238726A JP2016099314A (ja) | 2014-11-26 | 2014-11-26 | 検査システムおよび検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014238726A JP2016099314A (ja) | 2014-11-26 | 2014-11-26 | 検査システムおよび検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016099314A true JP2016099314A (ja) | 2016-05-30 |
Family
ID=56077724
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014238726A Pending JP2016099314A (ja) | 2014-11-26 | 2014-11-26 | 検査システムおよび検査方法 |
Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP2016099314A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023182390A1 (ja) * | 2022-03-24 | 2023-09-28 | 日東電工株式会社 | 光学部材の検査方法、検査装置及び製造方法 |
-
2014
- 2014-11-26 JP JP2014238726A patent/JP2016099314A/ja active Pending
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WO2023182390A1 (ja) * | 2022-03-24 | 2023-09-28 | 日東電工株式会社 | 光学部材の検査方法、検査装置及び製造方法 |
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