TW201326777A - 光學特性擷取裝置以及可撓式顯示器之光學特性的量測方法 - Google Patents

Abstract

一種光學特性擷取裝置，其包括可調式取樣平台、影像擷取元件及二第一準直光源。可調式取樣平台承載可撓式顯示器，其中可撓式顯示器之部分形成一曲面。影像擷取元件配置於可調式取樣平台上，且影像擷取元件的接收光軸與可撓式顯示器相交於一交點。二第一準直光源沿著二長度相同但方向不同的第一光路徑投射二第一點狀圖案於交點上，各個第一光路徑分別與接收光軸夾一銳角，而第一光路徑與接收光軸位於第一虛擬平面上。

Description

光學特性擷取裝置以及可撓式顯示器之光學特性的量測方法

本揭露是有關於一種光學特性擷取裝置(Optical Characteristics Capturing system,OCC system)，且特別是有關於一種能夠快速量測可撓式顯示器(flexible display)之光學特性的光學特性擷取裝置。

為了配合現代人之生活模式，平面型顯示器已逐漸成為顯示器產品之主流。一般常見的平面顯示器包括電漿顯示器(Plasma Display Panel,PDP)、液晶顯示器(Liquid Crystal Display,LCD)、有機電激發光顯示器(Organic Electro-Luminescence Display,OEL Display)、電子墨水顯示器(Electronic-ink Display)等。現階段，已經量產的平面顯示器多半不具備可撓性(flexibility)，然而，隨著顯示器產業的高度發展，具備可撓曲特性之顯示器(flexible display)已逐漸成為下一個世代之主流。

為了檢測可撓式顯示器在彎曲狀態下的光學特性，現有技術必須先透過三次元座標量測系統(Coordinates Measuring Machine System,CMM System)量測可撓式顯示器的表面輪廓，以獲得可撓式顯示器在各個位置上之撓曲狀態。接著，令三次元座標量測系統之座標系統與一光學特性擷取裝置(OCC system)之座標系統同步。之後，再根據三次元座標量測系統(CMM System)所獲得的資訊，讓光學特性擷取裝置(OCC system)能夠以正確的角度對可撓式顯示器的某一待量測區域進行光學特性的量測。一般而言，光學特性擷取裝置(OCC system)係沿著該待量測區域之法線方向對其進行光學特性的量測。

承上述，由於習知技術在對可撓式顯示器進行光學量測之前，必須先透過三次元座標量測系統(CMM System)取得可撓式顯示器的表面輪廓資訊，方可以光學特性擷取裝置(OCC system)對可撓式顯示器進行光學量測。二階段的量測步驟較為複雜且耗時，因此習知技術無法快速地對可撓式顯示器進行光學量測。

本揭露提供一種光學特性擷取裝置，其能夠快速量測可撓式顯示器之光學特性。

本揭露提供一種光學特性擷取裝置，其包括一可調式取樣平台、一影像擷取元件以及二第一準直光源。可調式取樣平台適於承載一可撓式顯示器，其中可撓式顯示器之部分形成一曲面。影像擷取元件配置於可調式取樣平台上，且影像擷取元件的一接收光軸與可撓式顯示器之曲面相交於一交點。二第一準直光源沿著二長度相同但方向不同的第一光路徑投射二第一點狀圖案於交點上，其中各個第一光路徑分別與接收光軸夾一銳角，而第一光路徑與接收光軸位於一第一虛擬平面上。

本揭露另提供一種光學特性擷取裝置，其包括一可調式取樣平台、一影像擷取元件、一準直光源以及一旋轉機構。可調式取樣平台適於承載一可撓式顯示器，其中可撓式顯示器之部分形成一曲面。影像擷取元件配置於可調式取樣平台上，影像擷取元件的一接收光軸與可撓式顯示器之曲面相交於一交點。旋轉機構與準直光源連接，旋轉機構適於帶動準直光源以接收光軸為基準旋轉，以使準直光源分別沿著二長度相同但方向不同的第一光路徑投射一第一點狀圖案於交點上，各個第一光路徑分別與接收光軸夾前述之銳角，而第一光路徑與接收光軸位於一第一虛擬平面上。

本揭露提出一種可撓式顯示器之光學特性的量測方法，其包括下列步驟。首先，將一可撓式顯示器置於一可調式取樣平台上，其中可撓式顯示器之部分形成一曲面。接著，提供一影像擷取元件以及二第一準直光源，其中影像擷取元件配置於可調式取樣平台上，且影像擷取元件的一接收光軸與可撓式顯示器之曲面相交於一交點，而二準直光源沿著二長度相同但方向不同的第一光路徑投射二第一點狀圖案於交點上。各第一光路徑分別與接收光軸夾一銳角，而第一光路徑與接收光軸位於一第一虛擬平面。之後，利用可調式取樣平台帶動可撓式顯示器以調整可撓式顯示器在交點處之一法向量，直到影像擷取元件所擷取到的二第一點狀圖案一致為止。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

【第一實施例】

圖1A與圖1B為本揭露第一實施例之光學特性擷取裝置的示意圖。請參照圖1A與圖1B，本實施例之光學特性擷取裝置100適於量測一可撓式顯示器D的光學特性(例如穿透率、反射率、亮度、頻譜、色彩等光學資訊)。舉例而言，可撓式顯示器D為電漿顯示器(PDP)、液晶顯示器(LCD)、有機電激發光顯示器(OEL Display)、電子墨水顯示器(Electronic-ink Display)等具備可撓性之顯示器。當然，本揭露亦可以採用其他型態之可撓式顯示器。值得注意的是，可撓式顯示器D之部分會形成一曲面。

如圖1A與圖1B，本實施例之光學特性擷取裝置100包括一可調式取樣平台110、一影像擷取元件120以及二第一準直光源130a、130b。可調式取樣平台110適於承載可撓式顯示器D，而影像擷取元件120配置於可調式取樣平台110上，且影像擷取元件120的一接收光軸120a與可撓式顯示器D相交於一交點I。此外，第一準直光源130a、130b沿著二長度相同但方向不同的第一光路徑A1、A1’投射二第一點狀圖案P1、P1’於交點I上，其中各個第一光路徑A1、A1’分別與接收光軸120a夾一銳角α，而第一光路徑A1、A1’與接收光軸120a位於一第一虛擬平面上。在本實施例中，前述之第一虛擬平面係平行於X-Z平面。

在本實施例中，可調式取樣平台110包括一取樣平台112以及一控制器114，其中取樣平台112承載可撓式顯示器D，而控制器114與影像擷取元件120以及取樣平台112電性連接以控制取樣平台112的運動，直到影像擷取元件120所擷取到的二第一點狀圖案P1、P1’一致為止。此外，前述之取樣平台112例如為一六軸旋轉取樣平台。在本實施例中，透過控制器114的帶動，取樣平台112可以調整可撓式顯示器D在交點I處的法向量N。通常可撓式顯示器D在交點I處的法向量N係位於平行於X-Z平面之第一虛擬平面上。換言之，法向量N、第一光路徑A1、A1’以及接收光軸120a皆位在前述之第一虛擬平面上。

影像擷取元件120包括一光感測器122以及一鏡頭124，其中鏡頭124位於光感測器122與可調式取樣平台110之間，且影像擷取元件120之接收光軸120a係由鏡頭124所定義。

在本實施例中，第一準直光源130a、130b的主要功能為協助可撓式顯示器D定位，以使可撓式顯示器D在交點I處的法向量N能夠與影像擷取元件120的接收光軸120a重合。詳言之，本實施例之第一準直光源130a、130b例如為具有準直透鏡(collimating lens)之可見光光源或針孔雷射(pinhole laser)。

為了讓可撓式顯示器D在交點I處的法向量N能夠與影像擷取元件120的接收光軸120a重合，本實施例利用可調式取樣平台110帶動可撓式顯示器D以調整可撓式顯示器D在交點處X之法向量N，且在調整的過程中，利用影像擷取元件120持續擷取第一點狀圖案P1、P1’，直到影像擷取元件120所擷取到的第一點狀圖案P1、P1’一致為止(如圖1A所示)。

由於第一準直光源130a、130b係對稱於接收光軸120a設置，因此當可撓式顯示器D在交點I處的法向量N未與影像擷取元件120的接收光軸120a重合時，第一點狀圖案P1、P1’的圖案不出現一定程度的差異(如圖1B所示)。舉例而言，第一點狀圖案P1、P1’皆為橢圓，但第一點狀圖案P1具有較長的長軸，而第一點狀圖案P1’具有較短的長軸。在本實施例中，第一點狀圖案P1、P1’可以是圓形、橢圓形、矩形、多邊形或其他特定形狀，此領域技術人員可以根據實際需求更動第一點狀圖案P1、P1’的形狀與尺寸。

值得注意的是，為了避免影像擷取元件120在同一時間點同時擷取到第一點狀圖案P1、P1’，第一準直光源130a、130b可在不同時間點投射第一點狀圖案P1、P1’於可撓式顯示器D的交點I上，以使影像擷取元件120能夠在不同時間點個別地擷取到第一點狀圖案P1、P1’。在一較佳實施例中，第一準直光源130a、130b可交替地投射第一點狀圖案P1、P1’於可撓式顯示器D的交點I上，以使影像擷取元件120能夠持續地擷取到第一點狀圖案P1、P1’，有助於加速可撓式顯示器D的定位。

如圖1A與圖1B所示，本實施例之光學特性擷取裝置100可選擇性地包括一檢測用光源140，且此檢測用光源140係設置於影像擷取元件120上。詳言之，當可撓式顯示器D在交點I處的法向量N與影像擷取元件120的接收光軸120a重合(即可撓式顯示器D定位完成)時，可將第一準直光源130a、130b關閉，並且開啟檢測用光源140，以對可撓式顯示器D的交點I進行光學檢測。

【第二實施例】

圖2為本揭露第二實施例之光學特性擷取裝置的示意圖。請參照圖2，本實施例之光學特性擷取裝置200與第一實施例之光學特性擷取裝置100類似，惟二者主要差異在於：本實施例之光學特性擷取裝置200中的第一準直光源130a’、130b’分別具有不同的波長，且影像擷取元件120能夠擷取並辨識出不同波長的光線。舉例而言，第一準直光源130a’例如為能夠發出紅色光線的高準直光源，而第一準直光源130b’例如為能夠發出綠色光線的高準直光源。

此領域技術人員可以根據實際設計需求而更動第一準直光源130a’、130b’之波長。

在本實施例中，由於第一準直光源130a’、130b’分別具有不同的波長，因此，即使第一準直光源130a’、130b’在同一時間點投射第一點狀圖案P1、P1’於可撓式顯示器D的交點I上，影像擷取元件120仍然能夠個別地擷取到第一點狀圖案P1、P1’。

【第三實施例】

圖3為本揭露第三實施例之光學特性擷取裝置的示意圖。請參照圖3，本實施例之光學特性擷取裝置300與第一實施例之光學特性擷取裝置100類似，惟二者主要差異在於：本實施例之光學特性擷取裝置300中的第一準直光源130a、130b係與一旋轉機構160連接，其中旋轉機構160適於帶動前述之第一準直光源130a、130b以接收光軸120a為基準旋轉，以使各第一準直光源130a、130b分別沿著二長度相同但方向不同的第二光路徑A2、A2’投射一第二點狀圖案P2、P2’於交點I上，各個第二光路徑A2、A2’分別與接收光軸120a夾銳角α，而第二光路徑A2、A2’與接收光軸120a位於一第二虛擬平面上。在本實施例中，第二虛擬平面係平行於Y-Z平面。

在本實施例中，旋轉機構160例如係帶動第一準直光源130a、130b以接收光軸120a為基準旋轉約90°，因此，第一光路徑A1、A1’所在的第一虛擬平面(平行於X-Z平面)會與第二光路徑A2、A2’所在的第二虛擬平面(平行於Y-Z平面)正交。

值得注意的是，第一準直光源130a、130b除了可以是具有準直透鏡之可見光光源或針孔雷射之外，此領域之技術人員亦可將分別具有不同的波長之第一準直光源130a、130b應用於本實施例中。

【第四實施例】

圖4為本揭露第四實施例之光學特性擷取裝置的示意圖。請參照圖4，本實施例之光學特性擷取裝置400與第一實施例之光學特性擷取裝置100類似，惟二者主要差異在於：本實施例之光學特性擷取裝置400進一步包括二第二準直光源150a、150b，各第二準直光源150a、150b分別沿著二第二光路徑A2、A2’投射一第二點狀圖案P2、P2’於交點I上，各第二光路徑A2、A2’分別與接收光軸120a夾銳角α，且第二光路徑A2、A2’與接收光軸120a位於一第二虛擬平面(平行於Y-Z平面)上。此外，第一光路徑A1、A1’所在的第一虛擬平面(平行於X-Z平面)會與第二光路徑A2、A2’所在的第二虛擬平面正交(平行於Y-Z平面)。

在本實施例中，可調式取樣平台110帶動可撓式顯示器D以調整可撓式顯示器D在交點I處之法向量N，直到影像擷取元件120所擷取到的二第二點狀圖案P2、P2’一致為止。

值得注意的是，第一準直光源130a、130b除了可以是具有準直透鏡之可見光光源或針孔雷射之外，此領域之技術人員亦可將分別具有不同的波長之第一準直光源130a、130b應用於本實施例中。同樣地，第二準直光源150a、150b除了可以是具有準直透鏡之可見光光源或針孔雷射之外，此領域之技術人員亦可將分別具有不同的波長之第二準直光源150a、150b應用於本實施例中。

【第五實施例】

圖5為本揭露第五實施例之光學特性擷取裝置的示意圖。請參照圖5，本實施例之光學特性擷取裝置400適於量測一可撓式顯示器D的光學特性。光學特性擷取裝置400包括一可調式取樣平台110、一影像擷取元件120、一準直光源130以及一旋轉機構160。可調式取樣平台110適於承載可撓式顯示器D。影像擷取元件120配置於可調式取樣平台110上，影像擷取元件120的接收光軸120a與可撓式顯示器D相交於一交點I。

在本實施例中，可調式取樣平台110包括一取樣平台112以及一控制器114，其中取樣平台112承載可撓式顯示器D，而控制器114與影像擷取元件120以及取樣平台112電性連接以控制取樣平台112的運動，直到影像擷取元件120所擷取到的二第一點狀圖案P1、P1’一致為止。此外，前述之取樣平台112例如為一六軸旋轉取樣平台。

影像擷取元件120包括一光感測器122以及一鏡頭124，其中鏡頭124位於光感測器122與可調式取樣平台110之間，且影像擷取元件120之接收光軸120a係由鏡頭124所定義。

旋轉機構160與準直光源130連接，旋轉機構160適於帶動準直光源130以接收光軸120a為基準旋轉，以使準直光源130分別沿著二長度相同但方向不同的第一光路徑A1、A1’投射一第一點狀圖案P1、P1’於交點I上，各個第一光路徑A1、A1’分別與接收光軸120a夾銳角α，而第一光路徑A1、A1’與接收光軸120a位於一第一虛擬平面(平行於X-Z平面)上。此外，可調式取樣平台110帶動可撓式顯示器D以調整可撓式顯示器D在交點I處之法向量N，直到影像擷取元件120所擷取到的二第一點狀圖案P1、P1’一致為止。

類似地，本實施例之旋轉機構160可選擇性地帶動準直光源130以接收光軸120a為基準進一步旋轉，以使準直光源1130分別沿著二長度相同但方向不同的第二光路徑A2、A2’投射一第二點狀圖案P2、P2’於交點I上，各個第二光路徑A2、A2’分別與接收光軸120a夾銳角α，而第二光路徑A2、A2’與接收光軸120a位於一第二虛擬平面(平行於Y-Z平面)上。此外，可調式取樣平台110帶動可撓式顯示器D以調整可撓式顯示器D在交點I處之法向量N，直到影像擷取元件120所擷取到的第二點狀圖案P2、P2’一致為止。

值得注意的是，第一光路徑A1、A1’所在的第一虛擬平面(平行於X-Z平面)例如會與第二光路徑A2、A2’所在的第二虛擬平面正交(平行於Y-Z平面)。

綜上所述，本揭露之光學特性擷取裝置無須透過三次元座標量測系統取得可撓式顯示器的表面輪廓資訊，即可對可撓式顯示器進行光學特性的量測，因此本揭露之光學特性擷取裝置之量測速度很快。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100、200、300、400、500．．．光學特性擷取裝置

110．．．可調式取樣平台

112．．．取樣平台

114．．．控制器

120．．．影像擷取元件

120a．．．接收光軸

122．．．光感測器

124．．．鏡頭

130．．．準直光源

130a、130b、130a’、130b’．．．第一準直光源

140．．．檢測用光源

150a、150b．．．第二準直光源

160．．．旋轉機構

D．．．可撓式顯示器

A1、A1’．．．第一光路徑

A2、A2’．．．第二光路徑

I．．．交點

P1、P1’．．．第一點狀圖案

P2、P2’．．．第二點狀圖案

α．．．銳角

N．．．法向量

圖1A與圖1B為本揭露第一實施例之光學特性擷取裝置的示意圖。

圖2為本揭露第二實施例之光學特性擷取裝置的示意圖。

圖3為本揭露第三實施例之光學特性擷取裝置的示意圖。

圖4為本揭露第四實施例之光學特性擷取裝置的示意圖。

圖5為本揭露第五實施例之光學特性擷取裝置的示意圖。

100．．．光學特性擷取裝置

110．．．可調式取樣平台

112．．．取樣平台

114．．．控制器

120．．．影像擷取元件

120a．．．接收光軸

122．．．光感測器

124．．．鏡頭

130a、130b．．．第一準直光源

140．．．檢測用光源

Claims (27)

1. 一種光學特性擷取裝置，包括：一可調式取樣平台，承載一可撓式顯示器，其中該可撓式顯示器之部分形成一曲面；一影像擷取元件，配置於該可調式取樣平台上，該影像擷取元件的一接收光軸與該可撓式顯示器之該曲面相交於一交點；二第一準直光源，沿著二長度相同但方向不同的第一光路徑投射二第一點狀圖案於該交點上，其中各該第一光路徑分別與該接收光軸夾一銳角，而該些第一光路徑與該接收光軸位於一第一虛擬平面上。
2. 如申請專利範圍第1項所述之光學特性擷取裝置，其中該可調式取樣平台包括：一取樣平台，承載該可撓式顯示器；以及一控制器，與該影像擷取元件以及該取樣平台電性連接以控制該取樣平台的運動，直到該影像擷取元件所擷取到的該二第一點狀圖案一致為止。
3. 如申請專利範圍第2項所述之光學特性擷取裝置，其中該取樣平台為一六軸旋轉取樣平台。
4. 如申請專利範圍第1項所述之光學特性擷取裝置，其中該影像擷取元件包括：一光感測器；以及一鏡頭，位於該光感測器與該可調式取樣平台之間，且該接收光軸由該鏡頭所定義。
5. 如申請專利範圍第1項所述之光學特性擷取裝置，其中各該第一準直光源包括一具有準直透鏡之可見光光源。
6. 如申請專利範圍第1項所述之光學特性擷取裝置，其中各該第一準直光源包括一針孔雷射。
7. 如申請專利範圍第1項所述之光學特性擷取裝置，其中該二第一準直光源包括分別具有不同的波長。
8. 如申請專利範圍第1項所述之光學特性擷取裝置，更包括一設置於該影像擷取元件上的檢測用光源。
9. 如申請專利範圍第1項所述之光學特性擷取裝置，更包括：二第二準直光源，各該第二準直光源分別沿著二第二光路徑投射一第二點狀圖案於該交點上，各該第二光路徑分別與該接收光軸夾該銳角，且該些第二光路徑與該接收光軸位於一第二虛擬平面上，其中該可調式取樣平台帶動該可撓式顯示器以調整該可撓式顯示器在該交點處之該法向量，直到該影像擷取元件所擷取到的該二第二點狀圖案一致為止。
10. 如申請專利範圍第9項所述之光學特性擷取裝置，其中該第一虛擬平面與該第二虛擬平面正交。
11. 如申請專利範圍第1項所述之光學特性擷取裝置，更包括一與該二第一準直光源連接的旋轉機構，其中旋轉機構適於帶動該二第一準直光源以該接收光軸為基準旋轉，以使各該第一準直光源分別沿著二長度相同但方向不同的第二光路徑投射一第二點狀圖案於該交點上，各該第二光路徑分別與該接收光軸夾該銳角，而該些第二光路徑與該接收光軸位於一第二虛擬平面上。
12. 如申請專利範圍第11項所述之光學特性擷取裝置，其中該第一虛擬平面與該第二虛擬平面正交。
13. 一種光學特性擷取裝置，包括：一可調式取樣平台，承載一可撓式顯示器，其中該可撓式顯示器之部分形成一曲面；一影像擷取元件，配置於該可調式取樣平台上，該影像擷取元件的一接收光軸與該可撓式顯示器之該曲面相交於一交點；一準直光源；一旋轉機構，與該準直光源連接，其中該旋轉機構適於帶動該準直光源以該接收光軸為基準旋轉，以使該準直光源分別沿著二長度相同但方向不同的第一光路徑投射一第一點狀圖案於該交點上，各該第一光路徑分別與該接收光軸夾該銳角，而該些第一光路徑與該接收光軸位於一第一虛擬平面上。
14. 如申請專利範圍第13項所述之光學特性擷取裝置，其中該旋轉機構適於帶動該準直光源以該接收光軸為基準進一步旋轉，以使該準直光源分別沿著二長度相同但方向不同的第二光路徑投射一第二點狀圖案於該交點上，各該第二光路徑分別與該接收光軸夾該銳角，而該些第二光路徑與該接收光軸位於一第二虛擬平面上，其中該可調式取樣平台帶動該可撓式顯示器以調整該可撓式顯示器在該交點處之該法向量，直到該影像擷取元件所擷取到的該二第二點狀圖案一致為止。
15. 如申請專利範圍第14項所述之光學特性擷取裝置，其中該第一虛擬平面與該第二虛擬平面正交。
16. 如申請專利範圍第13項所述之光學特性擷取裝置，其中該可調式取樣平台包括：一取樣平台，承載該可撓式顯示器；以及一控制器，與該影像擷取元件以及該取樣平台電性連接以控制該取樣平台的運動，直到該影像擷取元件所擷取到的該二第一點狀圖案一致為止。
17. 如申請專利範圍第16項所述之光學特性擷取裝置，其中該取樣平台為一六軸旋轉取樣平台。
18. 如申請專利範圍第13項所述之光學特性擷取裝置，其中該影像擷取元件包括：一光感測器；以及一鏡頭，位於該光感測器與該可調式取樣平台之間，且該接收光軸係由該鏡頭所定義。
19. 如申請專利範圍第13項所述之光學特性擷取裝置，其中各該第一準直光源包括一具有準直透鏡之可見光光源。
20. 如申請專利範圍第13項所述之光學特性擷取裝置，其中各該第一準直光源包括一針孔雷射。
21. 如申請專利範圍第13項所述之光學特性擷取裝置，其中該二第一準直光源包括分別具有不同的波長。
22. 如申請專利範圍第13項所述之光學特性擷取裝置，更包括一設置於該影像擷取元件上的檢測用光源。
23. 一種可撓式顯示器之光學特性的量測方法，包括：將一可撓式顯示器置於一可調式取樣平台上，其中該可撓式顯示器之部分形成一曲面；提供一影像擷取元件以及二第一準直光源，其中該影像擷取元件配置於該可調式取樣平台上，且該影像擷取元件的一接收光軸與該可撓式顯示器之該曲面相交於一交點，而該二準直光源沿著二長度相同但方向不同的第一光路徑投射二第一點狀圖案於該交點上，其中各該第一光路徑分別與該接收光軸夾一銳角，而該些第一光路徑與該接收光軸位於位於一第一虛擬平面上；以及利用該可調式取樣平台帶動該可撓式顯示器以調整該可撓式顯示器之曲面在該交點處之一法向量，直到該影像擷取元件所擷取到的該二第一點狀圖案一致為止。
24. 如申請專利範圍第23項所述之可撓式顯示器之光學特性的量測方法，更包括：提供二第二準直光源，各該第二準直光源分別沿著二第二光路徑投射一第二點狀圖案於該交點上，各該第二光路徑分別與該接收光軸夾該銳角，且該些第二光路徑與該接收光軸位於一第二虛擬平面上；以及利用該可調式取樣平台帶動該可撓式顯示器以調整該可撓式顯示器在該交點處之該法向量，直到該影像擷取元件所擷取到的該二第二點狀圖案一致為止。
25. 如申請專利範圍第24項所述之可撓式顯示器之光學特性的量測方法，其中該第一虛擬平面與該第二虛擬平面正交。
26. 如申請專利範圍第23項所述之可撓式顯示器之光學特性的量測方法，更包括：提供一與該二第一準直光源連接的旋轉機構；利用該旋轉機構帶動該二第一準直光源以該接收光軸為基準旋轉，以使各該第一準直光源分別沿著二長度相同但方向不同的第二光路徑投射一第二點狀圖案於該交點上，各該第二光路徑分別與該接收光軸夾該銳角，而該些第二光路徑與該接收光軸位於一第二虛擬平面上。
27. 如申請專利範圍第26項所述之光學特性擷取裝置，其中該第一虛擬平面與該第二虛擬平面正交。