TW201307945A - 陣列測試墊與源極驅動電路設置相異側之液晶顯示面板 - Google Patents

Abstract

液晶顯示面板，包含一畫素陣列，包含複數個以陣列方式排列之畫素；一源極驅動電路，設置於該畫素陣列之第一側，且耦接於該畫素陣列，用以對該些畫素提供影像資料或單元測試訊號；一陣列測試電路，耦接於該畫素陣列，用以對該些畫素循序提供陣列測試訊號；及一陣列測試墊，設置於該畫素陣列之第二側，且耦接於該源極驅動電路及該陣列測試電路，用以控制該源極驅動電路及該陣列測試電路，並對該陣列測試電路提供該陣列測試訊號。該畫素陣列之第一側與該畫素陣列之第二側係位於該畫素陣列之相反二側。

Description

陣列測試墊與源極驅動電路設置相異側之液晶顯示面板

本發明係關於一種液晶顯示面板，尤指一種陣列測試墊及源極驅動電路設置於畫素陣列之相反兩側之液晶顯示面板。

液晶顯示面板(Liquid Crystal Display，簡稱LCD)是目前最為普遍的顯示器類型，在製造技術不斷進步下，液晶顯示面板的製造良率也隨著提高，然而不可避免的，目前液晶顯示面板的良率仍無法到達百分之百。基於良率上的考量，在製造過程中，通常會加入檢測機制以提高液晶顯示面板的良率。

請見第1圖，第1圖係為習知液晶顯示面板100之示意圖，液晶顯示面板100之中央部份包含一畫素陣列102，畫素陣列102之左右兩側設置一掃描驅動電路104，且掃描驅動電路104係耦接於畫素陣列102，並用以驅動畫素陣列102。畫素陣列102下方設置一積體電路墊106。在積點電路墊106與液晶顯示面板100之間係加入一陣列測試電路112，積體電路墊106之底層包含一陣列測試墊，此陣列測試墊耦接於陣列測試電路112，且陣列測試墊上具有複數個訊號接點，用以進行陣列測試。

然而，由於陣列測試墊是放在積體電路墊106之底層，所以當積體電路墊106的面積越做越小時，其底層的空間就會縮小，造成無法容納陣列測試墊。

此外，因LCD面板被設計為具有越來越高的解析度，對進行液晶顯示面板100進行陣列測試所需之訊號接點的數目就會越來越多。因此，積體電路墊106之底層空間不足的問題將越趨明顯，而無法容納陣列測試墊。

本發明之一實施例提供一種液晶顯示面板，包含一畫素陣列，包含複數個以陣列方式排列之畫素；一源極驅動電路，設置於該畫素陣列之第一側，且耦接於該畫素陣列，用以對該些畫素提供影像資料或單元測試訊號；一陣列測試電路，耦接於該畫素陣列，用以對該些畫素循序提供陣列測試訊號；及一陣列測試墊，設置於該畫素陣列之第二側，且耦接於該源極驅動電路及該陣列測試電路，用以控制該源極驅動電路及該陣列測試電路，並對該陣列測試電路提供該陣列測試訊號。該畫素陣列之第一側與該畫素陣列之第二側係位於該畫素陣列之相反二側。

透過上述本發明液晶顯示面板之設計，當積體電路墊的面積越做越小時，或是當對進行液晶顯示面板進行陣列測試所需之訊號接點的數目越來越多時，液晶顯示面板足以容納更大的陣列測試墊，而不再有空間不足的問題。

為使熟習本發明所屬技術領域之一般技藝者能更進一步了解本發明，下文特列舉本發明之數個實施例，並配合所附圖式，詳細說明本發明的構成內容及所欲達成之功效。

請參考第2圖及第3圖，第2圖係為本發明液晶顯示面板200之示意圖，第3圖係為本發明液晶顯示面板200之電路架構圖。如第2圖及第3圖所示，液晶顯示面板200包含畫素陣列202、掃描驅動電路204、陣列測試機制214、源極驅動電路370、單元測試墊340、積體電路墊206及基板220。

畫素陣列202包含複數個以陣列方式排列之畫素230。源極驅動電路370設置於畫素陣列202之下側，且耦接於畫素陣列202，用以對畫素230提供影像資料或單元測試訊號。陣列測試機制214包含陣列測試電路380及陣列測試墊320，陣列測試電路380耦接於畫素陣列202，可設於畫素陣列202之上側及/或畫素陣列202之左右兩側，用以對畫素230循序提供陣列測試訊號，陣列測試墊320設置於畫素陣列202之上側，且耦接於源極驅動電路370及陣列測試電路380，用以控制源極驅動電路370及陣列測試電路380，並對陣列測試電路380提供陣列測試訊號。積體電路墊206設置於畫素陣列202之下側，且耦接於源極驅動電路370及陣列測試電路380，用以控制源極驅動電路370及陣列測試電路380，並對源極驅動電路370提供影像資料。單元測試墊340設置於積體電路墊206之一側，且耦接於源極驅動電路370及陣列測試電路380，用以控制源極驅動電路370及陣列測試電路380，並對源極驅動電路370提供單元測試訊號。掃描驅動電路204設於畫素陣列202之左右兩側，且耦接於畫素陣列202，用以驅動畫素陣列202。

陣列測試電路380包含多工器382、N個陣列測試開關384及N個第一控制開關386，多工器382具有N個陣列訊號開關388，N為正整數，且陣列訊號開關388係耦接於畫素陣列202，用以將陣列測試訊號經由N個陣列訊號開關388中對應之一陣列訊號開關輸出。N個陣列測試開關384分別耦接於N個陣列訊號開關388，用以控制是否傳遞經由N個陣列訊號開關388傳來之陣列測試訊號。每一第一控制開關386耦接於N個陣列測試開關384中對應之一陣列測試開關及畫素陣列202中對應之畫素，用以控制是否將經由陣列測試開關384傳來之陣列測試訊號傳遞至畫素陣列202中對應之畫素。

源極驅動電路370包含N組色彩開關372，耦接於畫素陣列202，用以輸出影像資料或單元測試訊號至畫素陣列202。液晶顯示面板200另包含N個第二控制開關374，分別耦接於N組色彩開關372，用以控制是否傳遞單元測試訊號至N組色彩開關372。

陣列測試墊320包含一組第一色彩接點322、第一控制訊號接點328、第一陣列測試接點330、N個陣列訊號接點332及陣列測試訊號接點334。第一色彩接點322耦接於N組色彩開關372，用以控制N組色彩開關372的開啟及關閉。第一控制訊號接點328耦接於N個第一控制開關386及N個第二控制開關374，用以控制N個第一控制開關386及N個第二控制開關374的開啟及關閉。第一陣列測試接點330耦接於N個陣列測試開關384，用以控制N個陣列測試開關384的開啟及關閉。N個陣列訊號接點332分別耦接於N個陣列訊號開關388，用以控制N個陣列訊號開關388的開啟及關閉。陣列測試訊號接點334耦接於N個陣列訊號開關388，用以對N個陣列訊號開關388提供陣列測試訊號。

單元測試墊340包含第二陣列測試接點350、一組第二色彩接點342、第二控制訊號接點348及單元測試訊號接點354。第二陣列測試接點350耦接於N個陣列測試開關384，用以控制N個陣列測試開關384的開啟及關閉。第二色彩接點342，耦接於N組色彩開關372，用以控制N組色彩開關372的開啟及關閉。第二控制訊號接點348耦接於N個第一控制開關386及N個第二控制開關374，用以控制N個第一控制開關386及N個第二控制開關374的開啟及關閉。單元測試訊號接點354，耦接於N個第二控制開關374，用以對N個第二控制開關374提供單元測試訊號。

積體電路墊206包含一組第三色彩接點312、第三控制訊號接點314及N個影像資料接點318。第三色彩接點312耦接於N組色彩開關372，用以控制N組色彩開關372的開啟及關閉。第三控制訊號接點314耦接於N個第一控制開關386及N個第二控制開關374，用以控制N個第一控制開關386及N個第二控制開關374的開啟及關閉。N個影像資料接點318耦接於N組色彩開關372，用以對N組色彩開關372提供影像資料。

在N個影像資料接點318提供影像資料前，液晶顯示面板200會先進行陣列測試程序及單元測試程序，以確保液晶顯示面板200的良率，並在進行陣列測試程序及單元測試程序之後，安裝基板220於畫素陣列202、源極驅動電路370、陣列測試機制214及掃描驅動電路204的上方，待基板220安裝後，N個影像資料接點318便可對液晶顯示面板200提供影像資料，使其正常工作。

當液晶顯示面板200進行陣列測試程序時，N個陣列訊號接點332之輸出電位會循序開啟N個陣列訊號開關388，當N個陣列訊號開關388之一個陣列訊號開關388被開啟時，其餘的陣列訊號開關388會關閉，因此同一時間僅有一個陣列訊號開關388會被開啟。除此之外，在進行陣列測試程序時，第一控制訊號接點328之輸出電位會開啟N個第一控制開關386，第一陣列測試接點330之輸出電位會開啟N個陣列訊號開關384，以使由陣列測試訊號接點334輸入的陣列測試訊號得以經由N個陣列訊號開關384及N個第一控制開關386循序輸入畫素陣列202。另外，N組第一色彩接點322之輸出電位會關閉N組色彩開關372，以避免單元測試墊340或積體電路墊206經由N組色彩開關372輸入雜訊至畫素陣列202。

當液晶顯示面板200進行單元測試程序時，第二控制訊號接點348之輸出電位會開啟N個第二控制開關374，且N組第二色彩接點342之輸出電位會開啟N組色開關372，以使由單元測試訊號接點354輸入的單元測試訊號得以經由N個第二控制開關374及N組第二色彩接點342同時輸入畫素陣列202的各個畫素。除此之外，第二陣列測試接點350之輸出電位會關閉N個陣列測試開關384，以避免陣列測試墊320經由N個陣列測試開關384輸入雜訊至畫素陣列202。

當N個影像資料接點318提供影像資料時，N組第三色彩接點312之輸出電位會循序開啟每一組色彩開關372之複數個色彩開關，以使由N個影像資料接點318輸入之不同顏色的影像資料得以經由每一組色彩開關372之複數個色彩開關循序輸入畫素陣列202。除此之外，第三控制訊號接點314之輸出電位會關閉N個第一控制開關386及N個第二控制開關374，以避免陣列測試墊320經由N個陣列測試開關384輸入雜訊至畫素陣列202，也避免單元測試墊340經由N個第二控制開關374輸入雜訊至畫素陣列202。

上述實施例中所描述對電路元件中的開關進行開啟或關閉等操控，可藉由調整輸出電位為高位準或低位準的方式，而達到對各開關所需之操控。

經由本發明實施例的設計與電路架構，特別是陣列測試墊320係相對於源極驅動電路370而設置於畫素陣列202之相反兩側，可使液晶顯示面板200有充裕空間容納對液晶顯示面板200進行陣列測試所需之元件。因此，當積體電路墊206的面積越做越小時，或是當對液晶顯示面板200進行陣列測試所需之訊號接點的數目越來越多時，液晶顯示面板200不再有前述空間不足的問題，因為液晶顯示面板200在畫素陣列202的上方有充裕的空間來設置陣列測試墊320。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

100、200．．．液晶顯示面板

102、202．．．畫素陣列

104、204．．．掃描驅動電路

106、206．．．積體電路墊

112．．．陣列測試電路

214．．．陣列測試機制

312．．．第三色彩接點

314．．．第三控制訊號接點

318．．．影像資料接點

320．．．陣列測試墊

322．．．第一色彩接點

328．．．第一控制訊號接點

330．．．第一陣列測試接點

332．．．陣列訊號接點

334．．．陣列測試訊號接點

340．．．單元測試墊

342．．．第二色彩接點

348．．．第二控制訊號接點

350．．．第二陣列測試接點

354．．．單元測試訊號接點

370．．．源極驅動電路

372．．．色彩開關

374．．．第二控制開關

380．．．陣列測試電路

382．．．多工器

384．．．陣列測試開關

386．．．第一控制開關

388．．．陣列訊號開關

第1圖為習知液晶顯示面板之示意圖。

第2圖為本發明液晶顯示面板之示意圖。

第3圖為第2圖液晶顯示面板之電路架構圖。

200．．．液晶顯示面板

202．．．畫素陣列

206．．．積體電路墊

312．．．第三色彩接點

314．．．第三控制訊號接點

318．．．影像資料接點

320．．．陣列測試墊

322．．．第一色彩接點

328．．．第一控制訊號接點

330．．．第一陣列測試接點

332．．．陣列訊號接點

334．．．陣列測試訊號接點

340．．．單元測試墊

342．．．第二色彩接點

348．．．第二控制訊號接點

350．．．第二陣列測試接點

354．．．單元測試訊號接點

370．．．源極驅動電路

372．．．色彩開關

374．．．第二控制開關

380．．．陣列測試電路

382．．．多工器

384．．．陣列測試開關

386．．．第一控制開關

388．．．陣列訊號開關

Claims (14)

1. 一種液晶顯示面板，包含：一畫素陣列，包含複數個以陣列方式排列之畫素；一源極驅動電路，設置於該畫素陣列之第一側，且耦接於該畫素陣列，用以對該些畫素提供影像資料或單元測試訊號；一陣列測試電路，耦接於該畫素陣列，用以對該些畫素提供陣列測試訊號；及一陣列測試墊，設置於該畫素陣列之第二側，且耦接於該源極驅動電路及該陣列測試電路，並對該陣列測試電路提供該陣列測試訊號；其中該畫素陣列之第一側與該畫素陣列之第二側係位於該畫素陣列之相反二側。
2. 如請求項1所述之液晶顯示面板，另包含一積體電路墊，設置於該畫素陣列之第一側，且耦接於該源極驅動電路及該陣列測試電路，並對該源極驅動電路提供該影像資料。
3. 如請求項2所述之液晶顯示面板，另包含一單元測試墊，設置於該畫素陣列之第一側，並對該源極驅動電路提供該單元測試訊號。
4. 如請求項1、2或3所述之液晶顯示面板，另包含一掃描驅動電路，設於該畫素陣列之相對兩側，且耦接於該畫素陣列，用以驅動該畫素陣列。
5. 如請求項4所述之液晶顯示面板，另包含一基板，覆蓋於該畫素陣列、該源極驅動電路、該陣列測試電路、該陣列測試墊及該掃描驅動電路上。
6. 如請求項1所述之液晶顯示面板，該陣列測試電路包含：一多工器，包含複數個陣列訊號開關，耦接於該畫素陣列，用以將該陣列測試訊號經由該些陣列訊號開關中之一陣列訊號開關輸出；複數個陣列測試開關，分別耦接於該些陣列訊號開關，用以控制是否傳遞經由該些陣列訊號開關傳來之陣列測試訊號；及複數個第一控制開關，分別耦接於該些陣列測試開關及該畫素陣列，用以控制是否將經由該些陣列測試開關傳來之陣列測試訊號傳遞至該畫素陣列。
7. 如請求項6所述之液晶顯示面板，該源極驅動電路包含複數組色彩開關，耦接於該畫素陣列，用以輸出該影像資料或該單元測試訊號至該畫素陣列；該液晶顯示面板另包含複數個第二控制開關，分別耦接於該複數組色彩開關，用以控制是否傳遞該單元測試訊號至該複數組色彩開關。
8. 如請求項7所述之液晶顯示面板，該陣列測試墊包含：一組第一色彩接點，耦接於該複數組色彩開關，用以控制該複數組色彩開關的開啟及關閉；一第一控制訊號接點，耦接於該些第一控制開關及該些第二控制開關，用以控制該些第一控制開關及該些第二控制開關的開啟及關閉；一第一陣列測試接點，耦接於該些陣列測試開關，用以控制該些陣列測試開關的開啟及關閉；複數個陣列訊號接點，分別耦接於該些陣列訊號開關，用以控制該些陣列訊號開關的開啟及關閉；及一陣列測試訊號接點，耦接於該些陣列訊號開關，用以對該些陣列訊號開關提供該陣列測試訊號。
9. 如請求項8所述之液晶顯示面板，其中於該些陣列訊號接點之一陣列訊號接點之輸出電位係開啟該些陣列訊號開關之一相對應的陣列訊號開關時，該些陣列訊號接點之其餘陣列訊號接點之輸出電位係關閉該些陣列訊號開關之其餘陣列訊號開關。
10. 如請求項9所述之液晶顯示面板，其中當該液晶顯示面板進行一陣列測試程序時，該些陣列訊號接點之輸出電位係循序開啟該些陣列訊號開關，該第一控制訊號接點之輸出電位係開啟該些第一控制開關，該第一陣列測試接點之輸出電位係開啟該些陣列訊號開關，且該組第一色彩接點之輸出電位係關閉該些色彩開關。
11. 如請求項7所述之液晶顯示面板，另包含一單元測試墊，包含：一第二陣列測試接點，耦接於該些陣列測試開關，用以控制該些陣列測試開關的開啟及關閉；一組第二色彩接點，耦接於該複數組色彩開關，用以控制該複數組色彩開關的開啟及關閉；一第二控制訊號接點，耦接於該些第一控制開關及該些第二控制開關，用以控制該些第一控制開關及該些第二控制開關的開啟及關閉；及一單元測試訊號接點，耦接於該些第二控制開關，用以對該些第二控制開關提供該單元測試訊號。
12. 如請求項11所述之液晶顯示面板，其中當該液晶顯示面板進行一單元測試程序時，該第二陣列測試接點之輸出電位係關閉該些陣列測試開關，該第二控制訊號接點之輸出電位係開啟該些第二控制開關，且該組第二色彩接點之輸出電位係開啟該複數組色彩開關。
13. 如請求項7所述之液晶顯示面板，另包含一積體電路墊，包含：一組第三色彩接點，耦接於該複數組色彩開關，用以控制該複數組色彩開關的開啟及關閉；一第三控制訊號接點，耦接於該些第一控制開關及該些第二控制開關，用以控制該些第一控制開關及該些第二控制開關的開啟及關閉；及複數個影像資料接點，分別耦接於該複數組色彩開關，用以對該複數組色彩開關提供該影像資料。
14. 如請求項13所述之液晶顯示面板，其中當該些影像資料接點提供該影像資料時，該組第三色彩接點之輸出電位係循序開啟每一組色彩開關之複數個色彩開關，且該第三控制訊號接點之輸出電位係關閉該些第一控制開關及該些第二控制開關。