TW201224393A - Flatness level inspection apparatus and method for inspecting flatness level using the same - Google Patents

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Description

201224393 4076lpif 六、發明說明: 【相關申請案的交又參考】 本申請案主張2011年12月15曰申請的第 10-2010-0128428號韓國專利申請案的優先權,所述專利申 請案的内容以全文引用的方式併入本文中。 【發明所屬之技術領域】 本發明涉及一種容易地檢查待檢查物件的平坦水平並 改進檢查可靠性的平坦水平檢查設備,以及一種用於使用 所述設備來檢查平坦水平的方法。 【先前技術】 在例如發光二極體(light emitting diodes,LED )、液 晶顯示器(liquid crystal displays,LCD )、等離子體顯示 面板(plasma display panels,PDP)等半導體裝置的情況 下,例如矽晶片(silicon wafer )或玻璃襯底(glass substrate ) 等襯底的平坦水平用作決定褒置特性的重要參數。因此, 在製造半導體裝置之前,檢查襯底的平坦水平。 通常,可將使用探針(probe)的平坦度檢查設備用作 用於檢查襯底的平坦水平的設備。在此平坦度檢查設備 中’探針在探針接觸觀底的表面以檢查概底的平坦水平的 狀態下水平移動。在此情況下,因為探針的一端接觸襯底 的表面’所以存在襯底可能因探針而被刮傷或因污染而被 損壞的局限性。為了解決所述局限性,可將光發射到襯底 的表面上’以通過非接觸方式來檢查襯底的平坦水平。在 使用光來檢查襯底的平坦水平的情況下,襯底不會損壞。 201224393 然而,難以檢查具有優良透明度的概底’例如藍寶石晶片。 因此’在此情況下,檢查可靠性可能降低。之所以這樣是 因為大約95%的光會透過藍寶石晶片。因此,強度的變化 可能減少’並且難以確定強度是因藍寶石晶片的表面還是 因外部因素而定化。因此,可能難以精確地檢查襯底的平 坦水平,從而導致半導體裝置的缺陷且降低良率。 【發明内容】 本發明提供一種容易地檢查待檢查物件的平坦水平並 改進檢查可靠性的平坦水平檢查設備,以及一種用於使用 所述設備來檢查平坦水平的方法。 本發明還提供:一種將流體噴射到待檢查的物件上以 通過非接觸方式來檢查物件的平坦水平的平坦水平檢查設 備,以及一種使用所述設備來檢查平坦水平的方法。—又 根據示範性實施例,一種平坦水平檢查設 包含噴嘴(n°ZZle) ’所述嘴嘴經配置以將流體 到雜查的物件的表面上,所述測量單元經 的噴射壓力視噴嘴與待檢查物件之ί ,其胞己置以支撐並固定待檢查的物件;測量 定的變化’從而將檢測到的噴射壓力值:: ,其經配置= 的至少-者=動平移動夾盤和噴嘴中 盤和喷嘴4及叶算單A X水平且相對地移動炎 得且視噴嘴舆待檢查物件的表二
S 5 201224393 4076lpif 而疋的輕值’來將在掃描待檢查物件的表面時測 传的貫際測得的電麼值計算為待檢查物件的表面高度值, 且^待檢查物件的所計算的表面高度值彼此相對 而確定平坦水平。 、J ϊ單η元了包含空氣測微計(也micr〇meter )。 動單元可包含:夾盤‘㈣模組(dmdc drive =#其經配置讀轉拉平神缝;卩及水平移 果、、且,,、經配置以水平移動測量單元的喷嘴。 可提供多個所述喷嘴。 絲移動單元的相對移動中,可使用夾盤驅動模 動噴嘴使用水平移動模組在一個方向上水平移 -個方向上水ί二:吏用水平一 盤驅動模組水平移^被固定的狀態下使用爽 動夾盤和嘴嘴。Α皿’或在彼此不同的方向上水平移 將每二^二:包含·計算部分,其經配置以使用參考值 的表二二 ===:r計算 法二::=將水* 的:ΐ的同時將流體噴射到待 隔的距離而定的流_心視==s= 201224393 4〇761pif 力轉換為電壓i,從 . 表面與噴嘴之間間=:=’檢測視待檢查物件的 測到的流體噴射墨力 噴射勤,且將檢 值彼二較,以確=查件的表面高度 定變:上嘴的的過高:同時將流體噴二檢查物件的 表面區域的特定點上方嘴安置在待檢查物件的 件的表㈣特定點, 龍喷射到待的者的同時將 面的過程中,_可以螺旋形或z字形表面 可旋轉待檢查物件,且 嘴形掃描待檢查物=平移動嘴 部分。動策嘴以m待檢查物件_部表面的中心 ^地且水平地:以的嘴=軸::軸方向 在X轴和μ-上㈣地且斜可 201224393 4076lpif 在X軸和Y軸方向上交替地且水平地移 嘴,以允許流體以ζ字形掃播待檢查物件的表^物件和喷 在使用所計算的參考值將實際測得 檢查物件的表面高度值的過程中,可使用視噴嘴與 之間間隔的距離而定的電壓值來計算電壓傾斜度,且传 用所述電壓傾斜度將實際職的料料表面2 值,來計算表面高度值。 在使用所計算的參考值將實際測得的電壓值計 檢查物=的表面高度值的過程中,可將實際測得的電壓值 與所計异的參考值進行比較,以將實㈣得的魏值 為對應的表面高度值。 待檢查物件可應用於半導體裝置和顯示器裝置。 為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特 舉實施例,並配合所附圖式作詳細說明如下。 【實施方式】 在下文中,將參看附圖詳細描述特定實施例。 然而’本發明可以不同形式體現,且不應被解釋為限 於本文所陳述的實施例。而是,提供這些實施例是為了使 本發明將全面且完整’且將向所屬領域的技術人員完全地 傳達本發明的範圍。 圖1疋根據示範性貫施例的平坦度檢查設備的視圖。 圖2是根據示範性實施例的測量單元的示意圖。圖3A是 用於闡釋使mi以螺旋方式掃描襯底的表面的狀態的視 圖。圖3B是用於闡釋噴嘴在水平方向上移動的同時喷射 201224393 40761pif 空氣的狀態的視圖。圖4是用於闡釋使用空氣以2字形掃 描襯底的表面的狀態的視圖。圖5是說明根據示範性實施 例的平坦度檢查設備的經修改實例的視圖。 參看圖1和圖2,根據示範性實施例的平坦度檢查設 備包含··台(stage) 100 ;夾盤200,其安置在台1〇〇上, 以支撐並固定待檢查物件s (在下文中,稱為被檢查物件 S);提升模組5〇〇 ’其包含用於將流體(例如氣體)噴射 到被檢查物件S上以提升測量單元3〇〇的喷嘴31〇的喷 嘴,測里單元3〇〇檢測視喷嘴31 〇與被檢查物件s之間間 隔的距離的變化而定的流體的噴射壓力的變化,以將檢測 到的振動值轉換為電壓值;以及移動單元8〇0,其移動夾 盤200和噴嘴310中的至少一者,以在相對水平方向上移 動夾盤200和喷嘴310。另外,平坦度檢查設備包含:資 料轉換部分710,其通過信號連接到測量單元300,以使用 視喷嘴310與被檢查物件s的表面的特定點之間間隔的距 離而定的電壓值作為參考值,將在掃描被檢查物件s的表 面的同時測得的實際測得的電壓值計算為被檢查物件s的 表面的高度值,其中所述所間隔的距離由測量單元3〇〇測 量;比較確定部分720,其將在資料轉換部分71〇中轉換 的被檢查物件S的表面的南度值彼此相對比較,以確定平 坦水平,以及顯示部分380,其使用曲線圖和三維圖像來 顯示被檢查物件S的表面的高度值。 在本實施例中,將圓形晶片襯底用作被檢查物件s , 且夾盤200具有對應於襯底s的形狀的形狀。然而,本發 201224393 40761pif 明不限於此。舉例來說,可以各種形狀製造夾盤200。並 且’爽盤200可為通過靜電方法支撐和固定襯底s的靜電 失盤,或使用真空吸力(vacuuni suction force)支撑和固 定襯底S的真空夾盤。然而,本發明不限於此。舉例來說, 可將可支撐和固定襯底S的任何單元用作夾盤200。 根據示範性實施例的測量單元3〇〇使用空氣測微計, 空氣測微計在空氣被喷射到襯底S的表面上時,檢測視測 量單元300的喷嘴310與襯底s的表面之間間隔的距離而 定的空氣噴射壓力的變化,以將檢測到的壓力變化轉換為 電壓值。儘管將空氣用作本實施例中的流體,但本發明不 限於此。舉例來說,可將各種惰性氣體(例如N2)用作所 述流體。如圖1和圖2中所示,空氣測微計測量單元3〇〇 包含.流體供應源330,其用於提供流體(例如空氣); 調卽器340 ’其連接到流體供應源330,以提供某一量的空 軋,喷鳴310,其用於將從調節器供應的空氣噴射到 襯底S上;喷嘴支撐部件32〇,其中其一端連接到提升模 組500’以支撐和固定噴嘴31〇;空氣電轉換器(air eiect咖 converter) 350,其安置在喷嘴31〇與調節器34〇之間,以 檢測從喷嘴310噴射的空氣的壓力的變化,從而將檢測到 的壓力變化值轉換為電壓值;以及信號放大器細,且用 於放大由轉換器350轉換的電壓值,以將經放大的電壓值 傳輸到計算單元巾。另外H賴制量單元3〇〇 包含:第-供應管3術’其將流體供應源$接到調節 器340 ;第二供應管遍,其將調節器獨連接到轉換哭 201224393 40761pif 350,以及第二供應管390c,其將轉換器35〇連接到喷嘴 31〇。此處,本發明不限於上文所述的空氣測微計測量單元 =00。舉例來說,可將可檢測噴射壓力的變化以將檢測到的 壓力變化值轉換為電壓值的各歡細版計用作空氣測微 計測量單元300。 在本實施例中,描述包含一個喷嘴31〇的測量單元 3〇〇曰。。然而,本發明不限於此。舉例來說,如圖$中所示, 測量單元3GG可包含多個噴嘴·。#測量單幻⑻包含 夕個喷嘴310時,與包含一個噴嘴31〇的測量單元3㈨相 比’檢查襯底S所需的時間可減少。 提升模組500連接到噴嘴支撐部件32〇,以用於支撐 喷嘴310來提升噴嘴支撐部件32〇。提升模组5〇〇包含: 提升部件510,其包含提升導軌(lifting guide rail) 520、 ,升塊(lifting block) 530 ’所述提升塊53〇的一端耦合到 提升導軌’ ’且另-端_合到喷嘴支撐部件32〇,以沿提 升導執520滑動;提升動力部件⑽ng P〇wer member) 540 ’其連接到提升料51G,以將提升動力提供到麵合到 提升部件510的提升導軌52〇的提升塊53〇中;以及耦合 部件550,其一端耦合到提升部件51〇,且另一端 = ^將描述的水平移純組_的水平祕料61〇。此處, 提升塊130可為(例如)產生直線運動的線性電動機〇i職 motor) ’以及滾珠絲杠(ball se·)與旋轉滾珠絲杠的 電動機的組合。然而,本發明不限於此。舉例來說,可將 可在提升導軌创上滑動的任何單元用作提升塊53〇。如 11 1 201224393 40761pif 上文所述,耦合部件550耦合到水平移動模組6〇〇的水平 移動部件610 ’以充當在X軸和丫軸方向上在水平移動部 件610上滑動的水平移動塊。因此,產生直線運動的線性 電,機以及滾珠脉與跡旋前珠脉的電動機的組合 可女置在耦合部件55〇的耦合到水平移動部件61〇的一側 土與提升塊53〇 一樣。然而,本發明不限於此。舉例來 說’可將耦合部件550修改為可在水平移動部件61〇上水 平移動的各種結構和組成。並且,提升餘不限於上 文所述的結構和組成。舉例來說,可以各種方式修改提升 模組500以提升喷嘴31〇。 移動單το 800包含:夾盤驅動模組4〇〇,其用於旋轉 和水平移動夾盤200 ;以及水平移動模組6〇〇,^用於 移動噴嘴310。 此處,夾盤驅動模組400安置在夾盤2〇〇下方,以旋 轉夾盤200或在X軸和γ軸方向上水平移動夹盤。夹 盤驅動模組彻包含:夾盤支撐部件410,其安置在夾盤 200下方以支撐夾盤2〇〇;以及夾盤動力部件(如成 member) 420 ’其連接到夾盤支撐部件41〇,以旋轉或水平 移動央盤支撐部件41G。此處,可使用夾盤驅動模組4〇〇 乂酿疋速度方疋轉夾盤200。在本實施例中,可將直驅動 電動機(directdrivemotor) (DD電動機)用作夾盤動力 部件42〇。然而,本發明不限於此。舉例來說,可將可旋 轉安置在夾盤支撐部件410上的夾盤2〇〇的任 夫盤動力部件41如上文所述,使用水平移
S 12 201224393 40761pif 在一個方向上水平移動噴嘴31〇, 盤以將空氣噴射到襯底s上。f疋轉次水平移動夾 水平移動模組_搞合到提升模組獨轉 ’以在χ_γ轴方向上水平移動提物且a此 ♦ α上文料,由於驗切 3 3聰到提升模組500,因此提升模組5〇〇 件 以水平軸料別。斜_驗_ m ==水,移動導轨62Q;以及水平移動= 的搞人^^ 靖部件61G。此處,提升模組· 的U件550安裝在水平移動導執_上,以在 =軸方向上沿水平移動導執62〇滑動。因此,如圖从和 1 \ ’ Μ到提升· 500的嗔嘴310可因提升 在^個^水平移㈣水平移動。㈣水平㈣模組600 ^個方向上水平移動噴嘴310,且同時,通過喷嘴31〇 、射空氣以旋轉夾盤·。此處,喷嘴310可水平移動以 從襯底S的上侧橫越襯底8的中心部分。因此,空氣可如 圖3Α所示以螺旋方式掃描襯底 S的表面。 ; 上文所述,喷嘴31〇支撲和固定到的噴嘴支撲部件 安置在提升模組500上,以通過水平移動模組_使喷嘴 310與提升模組500 -起水平移動。㈣,本發明不限於 此。舉例β來說’水平移動模組600可不搞合到提升模組 5〇〇,而是直接耦合到噴嘴支撐部件32()以固定喷嘴31〇。 因此,僅喷嘴310支撐和固定到的噴嘴支撐部件3川可使 用水平移動模組600水平移動。 <π^ 13 201224393 40761pif 並且,可使用水平移動模組600在一個方向上水平移 動0^。然而,本發明不限於此。舉例來說,可使用水平 移動模組600在X軸和γ軸方向上交替地移動噴嘴。舉例 來說,可在X軸和Y軸方向上交替地移動噴嘴31〇,以允 許空氣如圖4A中所示以Z字形掃描襯底s的表面。如上 文所述^使用空氣以z字形掃据襯底s的表面時,襯底 =可具有正方形形狀。然而,本發明不限於此。舉例來說, 可以Z予形掃描具有圓形形狀的襯底s。儘管噴嘴在 X軸和γ軸方向上移動,但本發明不限於此。舉例 ^襯底S上的夾盤可在X軸和γ車由方向上移動或 =310和夾盤200全部可使用失盤驅動模組4 和γ軸方向上移動。 你罕田 施例實 魏二於使用根據示範性實施例的平坦度檢查 是用於;釋用二平;::的過程的流程圖。圖7 來計算視待檢查物二,施例的平坦度檢查設備 的距離而定的電域的特定點與喷嘴之間間隔 件的表面區㈣姓:過程的視圖。圖8是視待檢查物 值和電壓ϋ傾^點射嘴之間間隔的輯喊的電壓 視待檢查物件的闡釋用於計算 定的每-電壓值的方法的2九之間,的距離的變化而 件的表面區域邀, θ圖10是視圖9的被檢查物 讀噴嘴之間間隔的距離的變化而定的電壓變 201224393 4076lpif 化的曲線圖。 ^看圖6 ’在操作S⑽中,將空氣若干 S的表面的較點上,同時在彼此不同的 測視噴嘴310與特定點之間間隔的距離而定的^ 氣噴身壓力’並將檢測到的空氣噴射壓力轉換為電壓值, 列來說,將噴嘴310的端部接觸襯底 定為零位置。接著,將空氣噴射到 襯底s上,同時將嘴嘴31〇從零位置向上提升,以將 ^射壓力轉換為電壓值’從而計算參考值。此處,將從喷 嘴310排出的空氣連續地喷射到襯底s的表面上 點 先:Γΐ喷嘴31:的端部與襯底8接觸而設 辛而改Elf疋因為空氣的空氣噴射壓力因各種因 素而改、交,所相素例如為:噴嘴310的細處理誤差(fine
t議Λ ;噴嘴MG的辆合狀態;待測量襯底S =面“’即表面_度;以及在襯底上圖案化的 的大小。 f下文中’將詳細描述用於計算參考值的方法。首 實施例it ft件(例如藍寶石晶片襯底S)搁置在根據 平純^ 平檢查設備的钱上。接著,使用水 ㈣板_和提升模組5〇0將麵合到提升模組500的 Ϊ 31^安置在待測量襯底S的表面上方。此處,可將噴 紫10文置成對應於襯底S的頂部表面的中心部分。在下 ^ ’如圖7中所示’在噴嘴不在χ軸和γ軸方向上 移動的情況下,在提升倾·的_喷触Α,以檢測 Ημ* 15 201224393 40761pif 視襯底s與喷嘴310之間間隔的距離而定的空氣嘴射壓 ^接著,將檢/則到的空氣喷射壓力轉換為電壓值,以叶 算參考值。在此處,喷嘴31〇的端部接觸概底s的頂部表 面,且接著,將接觸點設定為零位置。接著,在使噴嘴31^ 向上移動的同時噴射空氣’以檢測視襯底s與喷嘴3ι〇之 間間隔的距離而定的空氣喷射壓力,且接著將檢測到的* 氣喷射壓力轉換為電壓值,從而計算參考值。如上文二 =圖8中的曲線圖說明視喷嘴31〇與襯底s之間間隔的距 離(hi到h6)而定的所計算電壓值(V1到V6) =底S與喷嘴310之間間隔的測得距離以及電壓值用作 多考值。此處,可將空氣測微計用作測量單元。 在操作S·中’在水平移動噴嘴训和被檢查物件s 一者的同時嘴射空氣,以掃描概底s的表面,且 視襯底S的表面與喷嘴31G之間間隔的距離 組_使噴嘴31〇在猶;使用水平移動模 使用提升模組500使嘴嘴方移動°接著’ 初安置於其上的襯二以調整嘴嘴起 ㈣,你雜心〜: 之間間隔的距離。舉例 來》兄使岐升她使対31 ^在下文中,使用夹盤驅動模組 ^ 觀底s的夾盤200。接著,如圖9中所者 到襯底S上的同時在不使襯底上升或下降的情況;= 16 201224393 40761pif ,個方向上水平移動。因此,從 物描襯底S的表面% 排出的工 t氣;^的表面。當使时嘴⑽ 間隔的距離心i表面上時,喷嘴3ig與襯底s之間 僅在_ M0 ί據絲S的平坦水平岐冑,但噴嘴310 ,下降的情況下水平移動。因此,當 Μ0與襯底s贺^空軋以掃描襯底S的表面時,根據喷嘴 氣的2間間隔的距離來改變從嘴嘴31G喷射的空 以將:測到= = = =測空氣喷射壓力’ . 轧噴射壓力轉換為電壓值。通過噴射流體 壓值純底S的表面而測得的電壓值可稱為實際測得的電 的來# ’如圖7和圖9中所示,當提供其中襯底s 麻I 、部分相對高於其其他部分的階梯狀部分時,襯 文的整個表面與喷嘴310之間間隔的距離可不同。在下 在圖7中所說明的襯底s中,襯底s的具有相對低 古1的表面區域稱為參考符號S1,且襯底S的具有相對 度的表面區域稱為參考符號s2。在此情況下,襯底 、表面區域S2與噴嘴31〇之間間隔的距離小於表面區域 與噴嘴M0之間的距離。並且,襯底s的表面與噴嘴之 曰間隔的距離增加得越多,空氣喷射壓力增加得越多。因 嘴射到概底S的表面區域S2上的空氣的壓力大於噴 '到襯底S的表面區域S1上的空氣的壓力。如上文所述, 17 201224393 40761pif ,檢測到的壓力值轉換為電雜。祕,壓力值增加得越 =,轉換的電壓值增加得越多。舉例來說,圖1〇將實際測 得的電麗值說明為曲線圖。參看圖10,在襯底S的表面區 域S1上測得的電壓值V1小於在襯底s的表面區域S2上 測得的V2。 儘管如圖9所示描述了用於檢查具有階梯狀部分的襯 底S的表面的方法,但可如圖u中所示檢查具有傾斜表 面的襯底s。在下文中,將參看圖u和圖12描述用於檢 查具有傾斜表面的襯底S的平坦水平的方法。此處,將省 略或簡要描述與上文所描述的實施例的描述重複的描述。 ,U是用於闡釋用於計算視待檢查物件的表面區域 與喷嘴之間間隔的距離的變化而定的每一電壓值的方法的 視圖,圖12是視圖1〇的被檢查物件的表面區域與噴嘴之 間間隔的距離的變化而定的電壓變化的曲線圖。、 如圖11中所示,襯底S可具有傾斜表面。在下文中, 為了方便,將概底s分為多個區域,所述區域根據襯底s 的傾斜度和相對高度而稱為參考符號S1到S5。當在相對 於襯底s水平移動噴嘴31〇的同時喷射空氣時,將喷射壓 力轉換為電壓值。將如上文所述轉換的電壓值說明為圖12 中的曲f圖。參相12,當將襯底S的表面區域S1到S5 上的電壓值彼此比較時,電壓值以S1<S2<S3<S4<S5的次 序增加。並且,看起來電壓值在-個方向上在傾斜表面S2 和S4上增加。 在下文中,在操作S300中,使用通過計算單元7〇〇
S 18 201224393 40761pif 轉換部分710計算的參考值來將實際測得的電壓值 二2襯底S的表面的高度值。即,如圖8中所^ =作,〇中根據嘴嘴31G與襯底s的表面之間間= 而4异的電壓值的變化來計算電壓變化傾斜度AV。 =^在操作議中,使用所計算的電壓變化傾斜度 際f寻的電壓值計算為襯底S的表面的高度值。舉例 末=當㈣變化傾斜度Δν近㈣1QmV/微米,且】 =面區域S1和S2上的·的差(VS2 vsi)近似為 V時,可通過計算將襯底s的表面 _ 面高度的差計算為近似1〇⑽的值。對於另一實= 壓值與所計算的參考值進行比較,以累加 戶^心、'付的電壓值的表面高度值,從而計算表面高 s)的=區==相同Ϊ物件(即,相同襯底 A上的千坦水千時,可省略參考值計算過程, J °接著,在操作S5GG中,計算襯底s的其他 貫際測得的電壓值。在τ文中,將襯底s的其他 面區域上的實際測得的電壓值計算為高度值。可重複執 程若干次’以計算相對於概底s的整個表面區域 的表面南度值。 接者,在操作剛中,當計算襯底s的表面高度值 寺’通過比較確定部分72()將表面高度值彼此相對比較, :::襯t的平坦水平。在下文中’可將平坦水平顯示 ’'、、回,> 允泮工作人員通過肉眼來確定平坦水平。在實
S 19 201224393 40761pif 際襯底的情況下’襯底s包含大約數百微米的傾斜部分。 因此,可通過上述方法來測量襯底s的傾斜程度和平坦水 平。並且,可測量襯底S的表面的高度或高度差。 如上文所述’可使科坦水平檢查設備來檢查概底s 的平坦水平。然而,本發明不限於此。舉例來說,可測量 襯底S的厚度或特定位置處的高度變化。此處,本發明不 限於此,且因此’可在需要檢查襯底s的表面狀態的各種 領域中應用平坦水平檢查設備。 如上文所述,在根據示範性實施例的平坦水平檢查設 備中,可將流體噴射到被檢查物件的表面上,以檢測視被 才双查物件與嘴0^之間間隔的距離而定的壓力變化,從而檢 查被檢查物件的平坦水平。因此,可在不接觸被檢查物件 的情況下檢查平坦水平,以防止被檢查物件被刮傷或因污 染而相壞。另外,由於可檢查襯底的平坦水平而不管被檢 查物件的光學特性如何,因此可將平坦水平檢查設備應用 於各種待檢查的物件。 儘管已參考特定實施例描述了平坦水平檢查設備以 及使用所述設備來檢查平坦水平的方法,但其不限於此。 因此,所屬領域的技術人員將容易理解,可在不脫離本發 明的精神和範圍内,當可作些許更動與潤飾,故本發明的 保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 圖1是根據示範性實施例的平坦度檢查設備的視圖。 圖2是根據示範性實施例的測量單元的示意圖。
S 20 201224393 40761pif 面的狀_^於_使財氣以職方式掃描概底的表 空氣=:::闡釋喷嘴在水平方向上移動的同時喷射 狀態==於_錢空氣^字職描襯底的表面的 修改==根據示範性實施例的平坦度檢查設備的經 圖6是說明用於使用根據示範性實施例的平坦 設備來檢4待檢錄件的平财平㈣㈣流㈣;一 圖7是用於闡_於使用根據示紐實 檢查設備料算騎檢查物_以 _ 之間間隔的距離而定的電壓變化的過程的視圖喷當 圖8是視待檢查物件的表面區 間隔的距離而定的電壓值和電_化傾斜度的曲=之間 圖9是用於闡釋用於視待檢查物件的表面區域^喷嘴 之間間隔的距離的變化來計算每—電壓值的視圖 圖10是視待檢查物件的表面 距離的變化而定的電壓變化的曲線圖/、料之間間^的 視圖圖11是說明整個襯底表面區i的平坦水平的圖像的 圖12是視被檢查物件的表面 距離的變化紋的電壓變化的曲線圖。,、,嘴之間間的 【主要元件符说說明】 21 201224393 40761pif 100 :台(stage) 200 :夾盤 300 :提升測量單元 310 :喷嘴 320 :喷嘴支撐部件 330 :流體供應源 340 :調節器 350 :轉換器 360 :信號放大器 390a :第一供應管 390b :第二供應管 390c :第三供應管 400 :夾盤驅動模組 410 :夾盤支撐部件 420 :夾盤動力部件 500 :提升模組 510 :提升部件 520 :提升導軌 530 :提升塊 540 :提升動力部件 550 :耦合部件 600 :水平移動模組 610 :水平移動部件 620 :水平移動導軌 650 :水平移動動力部件
22 201224393 40761pif 700 :計算單元 710 :資料轉換部分 720 :比較確定部分 730 :顯示部分 800 :移動單元 S :被檢查物件 S100〜S500 :平坦度檢查流程的各個操作 23

Claims (1)

  1. 201224393 4076 lpif 七、申請專利範圍: h —種平坦水平檢查設備,其包括: 失盤,其經配置以支撐並固定待檢查物件; 測量單元,其包括喷嘴,所述喷嘴經配置以將流體喷 射到所述待檢查物件的表面上,所述測量單元經配置以檢 測攸所述噴嘴噴射的所述流體的喷射壓力視所述喷嘴與所 述待檢查物件之間間隔的距離而定的變化,從而將所述檢 測到的噴射壓力值轉換為電壓值; 提升模組,其經配置以提升所述噴嘴; 移動單元,其經配置以水平移動所述夾盤和所述噴嘴 少一者,所述移動單元經配置以水平且相對地移動 所述夾盤和所述噴嘴;以及 所述:I其經配置以使用由所述測量單元測得且視 的實際測得的 其中所制量單元包括域顧計。十H 其中第1項所述之平坦水平檢查設備, 盤;3驅動模組,其經配置以旋轉或水平移動所述夹 24 201224393 4076lpif 水平移動模組,其經配置以水平移動所述測量單元的 所述嘴嘴。 4. 如申請專利範圍第i項所述之平坦水平檢查設備, 其中提供多個所述噴嘴。 5. 如申請專利第1項所述之平坦水平檢查設備, 其中’在所述夾盤和所述移動單元的所述相對移動中,使 關述缝軸模組練_述缝,域賴述水平移 動換組在一個方向上水平移動所述喷嘴,在所述爽盤被固 定的狀態下,使用所述水平移動模組在一個方向上水平移 =述噴嘴,在所述喷嘴被固定的狀態下,使賴述失盤 驅動模組水平移動所述夾盤,或在彼 移動所述夾盤和所述喷嘴。 幻万门八十 其中;第1項所述™ 〜刀’其經配置以使用所述參考值將所述實際測 了的電壓值計算為所述待檢查對象的所述表面高“= 比較確定部分,其經配置以確定將 ::計算的表面高度值彼此相對比較,從== 平坦水平的方法,所述方法包括: 面上^備待檢查對象以將喷嘴安置在所述待檢查對象的表 在改變所述喷嘴的高度的同時將流體喷射到所述待檢 S 25 201224393 4〇761pif 特—件的所述表面的特定點上,以檢測視所述噴嘴與所述 目^點之間間隔的距離而定的流體喷射壓力,並將所述檢 、·至的机體噴射壓力轉換為電壓值,從而計算參考值; 將所述〃IL體喷射到所述待檢查物件的所述表面上,在 ^移動所述噴嘴和所述待檢查物件中的至少—者的同時 待檢查物件的所述表面,檢測視所述待檢查物件 六表面與所述噴嘴之間間隔的距離而定的流體噴射壓 計di檢測到的流體噴射壓力轉換為電壓值,從而 丁^貫際测得的電壓值; 算為======測得的電壓值計 定所表面高度值彼此比較,以確 8·如申請專利範圍第7 方法’其中在改變所述噴嘴二平坦水平的 :射到所述待檢查物件的:==:=趙 特定點上方,且上m眼★—物件的表面區域的所述 查物件的所述表二嘴與所述待檢 時從所述噴嘴喷射所述流體^之間間隔的所述距離的同 9.如尹請專利範圍第7 方法,其t麵平飾所財私解坦水平的 $至少-者的同時將所述流體噴:^物件中的所 述表面上以掃描所述待檢查物件的所 S 26 201224393 40761pif 述流體可以螺旋形或z字形掃描所述待檢查物件的所述表 面。 10. 如申請專利範圍第9項所述之用於檢查平坦水平 的方法,其中旋轉所述待檢查物件,且在一個^向I水平 移動所述噴嘴,以允許所述流體以所述螺旋形掃描所 檢查物件的所述表面。 11. 如申請專利範圍第8項所述之用於檢查平坦水平 =二中t::動所述喷嘴以橫越所述待檢查物件的 12. Μ請專概圍第9項所述之㈣檢查平坦 其巾於在所述待檢查物件被固定的狀態下,在X 水平地移動所述喷嘴,在所述喷 平移動所,杰4所述x轴和γ轴方向上交替地且水 待檢查物件’或在所述χ轴和Υ軸方向上交替 斤;待檢查物件和所述噴嘴,以允許所述 η 所述待檢查物件的所述表面。 的方法‘,===:於檢查平坦水平 二電壓值計算為所述待檢查物件的;== 度將所述實際測得夂且使用所述電壓傾斜 算所述表面高度值。 +异為所述表面高度值,來計 14.如申睛專利範圍第7項所述之用於檢查平坦水平 5 27 201224393 40761pif 的方法’其巾在㈣所述所計算的參考值將所述實際測得 的電壓值计异為所述待檢查物件的所述表面高度值的過程 中,將所述實際測得的電壓值與所述所計算的參考值進行 比較,以將所述實際測得的電壓值計算為對應的表面高度 值。 15.如申請專利範圍第7項所述之用於檢查平坦水平 法’其巾將所述待檢查物件躺於半導體裝置和顯 裔裝置。 S 28
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