201136705 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明有關於一種鑽頭加工裝置’尤指一種具鑽針檢 測及研磨功能之加工裝置，主要用以將鑽針之檢測及研磨 的步驟進行整合，以利於提高鑽針之研磨及檢測的效率。 【先前技術】
請參閱第1圖，為習用鑽針檢測裝置的方塊示意圖。 如圖所示，習用的鑽針檢測裝置10包括有一轉盤11、一 進料盤13、一第一檢測單元15及一第二檢測單元17，藉 此以對鑽針14進行檢測。 轉盤11可被區分為一進料區m、一校正區m、一 檢測區115及一出料區117’並可將進料盤13設置在進料 ^ ill ;將第一檢測單元15設置在校正區113;並將第二 檢測單元17設置在檢測區115。 將雄=Λ13上可放置#複數個待檢測_針14，並可 將鑽針14由進料盤13傳送至轉盤的進《 U卜㈣η 轉動時將會帶動進料區U1 λ Ρ τ： e 110 U上的鑽針14 ’使得鑽針14進 入枚正區；113，並可以第一 > ^ λ, Μ ^ Ε „ 弟檢測早兀15對校正區113内之 鑽針14的長度進行檢測 的要求。 確疋鑽針14的長度符合相關 轉盤11將會繼續轉動 並以第二檢測單幻7對鑽針14進人檢測區⑴， 第-檢測單元15及第二檢 的刀面進行檢測。在經過 d早元17的檢測後，便可將經 zun J0/U5 過檢測的鑽針14區分 送至出料區in時對鑽二’並可於鑽針14傳 鑽針檢測裝置1〇判定為不良：二 集中，並以另一台研磨裝 ：的鑽針14將會被進行 作。經過研磨的鑽針 士鑽針Η進行研磨的動 針檢測裝置H)再次Hi會Γ置在進料盤13，並以鑽 透m 的鑽針14進行檢測。 逯過上述的裝置雖铁 磨，然而使用者在操需 j鐵針14的檢測及研 =下降研磨裝置’無疑會造成使用上的困擾並導致：; 【發明内容】 :發明之主要目的，在於提供一種鑽頭加工裝置，1 刀度轉盤的各個區塊狀義為—進料區、一刃面檢測 :、-出料區及-待研磨區，並可以分度轉盤帶動鑽針進 仃轉動’使得分度轉盤上的鑽針進人不同的區域，並可以 對^轉盤所承載之鑽針進行檢測及研磨等動作，而有利 於提高鑽針之檢測及研磨的效率。 本發明之次要目的，在於提供一種鑽頭加工裝置，主 要將轉換模組設置於分度轉盤之待研磨區，並以轉換模組 對放置在待研磨區上的鑽針進行夾持，而後再以轉換模組 進行鑽針之角度及方位的改變，使得研磨單元可對轉換模 組上的鑽針進行研磨。 本發明之又一目的’在於提供一種鑽頭加工裝置，主 201136705 要將轉動夾持單元設置在分度轉盤的待研磨區，轉動夾持 單元可用以對待研磨區的鑽針進行夾持，並將鑽針傳送至 迴轉單元，而後再透過迴轉單元將鑽針傳送至研磨單元， 藉此將可以研磨單元對鑽針進行研磨。 本發明之又一目的，在於提供一種鑽頭加工裝置，主 要將分度轉盤、轉動夾持單元及迴轉單元之間轉動的時序 及間隔進行調整，使得鑽頭加工裝置上的各個構件可連續 的進行動作，並達到多工的目的，藉此將有利於研磨及檢 測效率的提升。 本發明之又一目的，在於提供一種鑽頭加工裝置，主 要將夾持單元設置在分度轉盤的進料區，並以夾持單元對 欲送入進料區的鑽針進行爽持，再以第一檢測單元檢測失 持單元所夾持之鑽針，在使用時夾持單元可帶動鑽針相對 於第一檢測單元進行移動，以使得第一檢測單元可對鑽針 的長度進行檢測。 本發明之又一目的，在於提供一種鑽頭加工裝置，由 於進入刃面檢測區之鑽針已經過長度的檢測，因此第二檢 測單元可直接對刃面檢測區上的鑽針進行刃面的檢測，使 得第二檢測單元不用進行對焦的動作，藉此有利於縮短刀 面檢測所花費的時間。 本發明之又一目的，在於提供一種鑽頭加工裝置，主 要於分度轉盤上設置有一清潔區，並以清潔單元對放置在 清潔區上的鑽針進行清潔的動作。 本發明之又一目的，在於提供一種鑽頭加工裝置，主 201136705 要於分度轉盤上設置有-套環調整區，並以套環調签單元 調整鑽針上之㈣的位置，錢得鑽針之刀 環的距離為固定。 為達上述目的，本發明提供一種錯頭加工裝置，包括 ::-分度轉盤’用以承載至少一鑽針，並帶動鑽針進行 轉動，其中分度轉盤的各個區塊被定義為一進料區、一刀 面檢測區、一出料區及一待研磨區；_第一檢測單元，用 以對進料區内之鑽針的長度進行檢測；一第二檢測單元， 設置於刃面檢測區，並用以對刀面檢測區内之鑽針的刀面 f行檢測；-轉換模組’設置於待研磨區，並用以對待研 磨區内的鑽針進行夾持，以改變鑽針的角度及位置；及一 研磨單元，與轉換模組相鄰，细以對轉換模組上的 【實施方式】 請參閱第2圖，為本發明鑽頭加工裝置—實施例之方 塊示意圖。如圖所示，本發明鑽頭加工裝置，例如一鑽針 檢測及研磨裝置20,主要包括有一分度轉盤21、一第一檢 2元23卜-第二檢測單元233、一轉換模組25及一研 人單疋27 ’可用以將鑽針24之檢測及研磨的步驟進行整 合，並有利於提高鑽針24檢測及研磨的效率。 鑽針24主要用以進行鑽孔，例如鑽針24可用以對電 路板進行鑽孔，其主要構造包括有一鑽頭24卜一主體 及套ί衣245 ’如第3 A圖所示’並將鑽頭241的最前端 201136705 定義為刀面2411，如第3A圖及第3β圖所示。在使用時 可對主體243進行夾持，並以套環245作為夾持鑽針^時 的定位裝置，藉此將可以刃面24η進行鑽孔的動作。鑽針 2。4在經過一段時間的使用之後將會造成刀面2411的磨 相，而本發明之鑽針檢測及研磨裝置2〇則可對經過使用或 從未經過使用的鑽針24進行檢測，並於檢測的過程中對鑽 針24的刀面2411進行研磨。 分度轉盤21可被區分成為複數個區塊，並可進一步將 各個區塊疋義為一進料區21卜一刃面檢測區2丨3、一出料 區215及一待研磨區217。在本發明一實施例中，進料區 2一11及出料區215可為相同區域，並為一進出料區（未顯 不）’在使用時可將鑽針24插設在進出料區以進行檢測及 研磨’亦可將經過檢測及/或研磨的鑽針24由進出料區取 出刀度轉盤21可用以承載至少一鑽針24，並帶動鑽針 24進行轉動，當分度轉盤21帶動鑽針24轉動時，分度轉 •盤21上的鑽針24將會進入不同的區域，例如進料區21卜 刃面檢測區213、出料區215及待研磨區217,藉此將可以 在不同的區域内對鑽針24進行研磨或檢測等動作。 、第一檢測單元231用以對進料區211内之鑽針24的長 度進彳f檢測，例如第一檢測單元23丨可設置於分度轉盤U 之進料區211 i用以對鑽針24的影像進行操取，並將掏 取的衫像與-標準的鑽針24長度資料進行比對，若兩者長 度的差異落人預先設定的範圍内’則表示該鑽針24通過長 度的檢測。反之，若兩者長度的差異超出預先設定的範圍， 201136705 便表示，針24未能通過長度的檢測。 度符合要求m 一檢測早7^231判定鑽針24的長 =便可时度轉盤21帶_針24進 等後續=針此2=面2411進行檢測、研磨及/或清潔 調整將鑽針2 4插入分度轉=鑽針2 4的長度， 二並有:::::: 24的長進二右鑽針24的長度不符合要求，例如鑽針 -，或=4=:=4:送…品區 至不良出料215後，再將鑽針Μ傳送 右一ί本Γ卜實施例中’鑽針檢測及研磨裝置2G可包括 料早70 22；l ’進料單元221可用財載至少一待檢 =鑽針24’在使用時可將進料單元221 =:轉盤21之進―以第-檢測^ 2檢測單元233設置於分度轉盤21之刃面檢測區 二：用：對刀面檢測區213内之鑽針以的刀面24ΐι進 2^ 如第二檢測單元2 3 3可用以掘取鑽針2 4之刃面 =的衫像’並將抬員取的影像與一標準的鑽針24刃面資 #進仃比對’若兩者的差㈣人—預先設定的範圍内 之刃面2411通過檢測。反之，若兩者的差 ，超出預先設定的範圍’便表示該鑽針24之刀面2411未 月匕通過檢測。此外，在本發明另一實施例中第二檢測單元 201136705 之刀面2411的角度（相位角度）進 233亦可用以對鑽針24 行檢測。 、通過刃面檢測的鑽針2 4可被判定為良品，並可於鑽 24被分度轉盤21輸送至出料區215後，將判定為良 鑽針24傳送至出料單元223，在本發明一實施例中出料 元223可設置於分度轉盤21的鄰近位置。 未通過刃面檢測的鑽針24將會被分度轉盤21傳送至
待研磨區217’並進一步對待研磨區217上的鑽針進行 研磨：在實際應用時可將轉換模組25設置在待研磨區 217’並以轉換模組25對待研磨區217内的鑽針進行夾 持’並將鑽針24傳送至研磨單元27。研磨單元27與轉換 模組25相鄰’並可以對轉換模組25上之鑽針24的刀面 2411進行研磨。 一般而言，待研磨區217内的鑽針24是以直立的方式 插設在分度轉盤21上，因Μ利於直接以研磨單元27 ^ 研磨區217内的鑽針24進行研磨，並需要透過轉換模組 25對研磨區217内的鑽針24進行夾持並改變鑽針24的角 度及方位，以使得研磨單元27可與鑽針24的刀面MU接 觸，並對刀面2411進行研磨的動作。 鑽針24在經過研磨單元27的研磨之後，可透過轉換 模組25將經過研磨的鑽針24送回分度轉盤21之待研磨區 217 ’而後分度㈣21將會帶動鑽針24進行轉動，使得經 過研磨之鑽針24落人77面制區213，並以第二檢測單元 233對傳送至刃面檢測區213的鑽針24再次進行檢測。 201136705 第二檢測單元233同樣可以對經過研磨之鑽針24的刀 面2411進行檢測，以判斷鑽針24的刀面2411是否符八要 求。若鑽針24的刃面2411符合預先設定的要求，便可於 鑽針24輸送至出料區215時，將鑽針24傳送至出料單元 223。反之，若鑽針24的刃面2411未能通過檢測，便可於 鑽針24被輸送至待研磨區217時，再次對鑽針％進研 磨的動作。 又，於實際應用時亦可對鑽針24的研磨次數進行統 計，並以鑽針24研磨的次數判斷其為良品或不良品。例如 鑽針24在經過研磨單元27三次的研磨之後仍未能通過第 -檢測单元233之刃面檢測’便可將經過三次研磨的鑽針 24判定為不良品’並將該鑽針24傳送至不良品區奶。 请參閱第4圖’為本發明鑽頭加工裝置又一實施例之 方塊示意圖。如圖所示，鑽針檢測及研磨裝置3〇主要包括 分度轉? 21、一第一檢測單元231、一清潔單元％、 及早7" 233、一套環調整單元38、-轉換模組25 環調整及研磨等步驟鑽針24之檢㈣ 潔區= 例中主要於分度轉M 21上增設有-清 1青、絮單元36 I周整區214，其中清潔區212内設置有 針L進主I =可以清潔單元36對清潔區犯内的鑽 、 仃❼糸的動作，在實際應用時清潔單元36可透過 或沾枯等方式對鑽針24的刃面24ΐι進行清潔。套環 4㈣設置有—套環調整單元38,並以套環調整 201136705 單元38對鑽針24上之套環245的位置進行調整，以使得 刃面2411的尖點與套環245之間的距離為固定。 請參閱第5 A圖及第5 B圖，分別為本發明鑽頭加工 裝置一實施例之立體示意圖及俯視圖。如圖所示，鑽針檢 測及研磨裝置30主要包括有一分度轉盤21、一第一檢測 單元231、一清潔單元36、一第二檢測單元233、一套環 調整單元38、一轉換模組25及一研磨單元27。 分度轉盤21可被區分成為複數個區塊，並可進一步將 籲 各個區塊定義為一進料區211、一清潔區212、一刃面檢測 區213、一套環調整區214、一出料區215及一待研磨區 217，如第6 A圖所示。其中第一檢測單元231設置於分度 轉盤21之進料區211 ;清潔單元36設置於分度轉盤21清 潔區212 ;第二檢測單元233設置於分度轉盤21之刃面檢 測區213 ;套環調整單元38設置於分度轉盤21之套環調 整區214 ;而轉換模組25則設置於分度轉盤21之待研磨 區 217。 * 在本發明實施例中轉換模組25包括有一轉動夾持單 元251及一迴轉單元253，其中轉動夾持單元251設置在 待研磨區217，並用以對放置在待研磨區217内的鑽針24 進行夾取，並帶動鑽針24在一第一平面上進行轉動。迴轉 單元253與轉動夾持單元251相鄰，並可由轉動夾持單元 251接收鑽針24，並帶動鑽針24在一第二平面上進行轉 動。第一平面與第二平面為正交，因此藉由轉動夾持單元 251及迴轉單元253的使用，將可以改變鑽針24的角度及 201136705 方位，並使得鑽針24的刀面 1朝向研磨早元27。 m貫〜例中轉動夹持
軸所構成的平面上進行轉動，而'口 M 在X軸及Z 及Y軸構成的平面上進=動而：單元253則可在X轴 帶_針24在第_平面（二=°轉2持單元如可 動，而迴轉單元253則可帶動度的轉 上進行180度的轉動。 在第一平面（水平面） 迴轉單元253主要句杯古、 部2533,其中固定部2533 ^迴轉部2531及複數個固定 並用以固定鑽針24,當迴；2531的邊緣位置， 部2533。在使用時主要 動固定 251所傳送的鑽針24, 2533接收轉動夾持單元 24,並使得鑽針 ^ ^ 2531轉動將會帶動鑽針 在太心 朝向研磨單元27。 個，且3個佳實施例中固定部2533的數量為兩 t ^27 253ΓΓ1Ι f ^ 磨時，轉動夾持單元251將可以 =鑽針24進行研< 鑽針Μ進行夾持，或是以轉動:個=部2533上的 置在該另—個固定部2533上。持早凡251將鑽針24放 =動夾持單元251及迴轉單元挪之間亦可設置有一 上早^ 235’並以第三檢測單元235對迴轉單元253 檢測:外24的刀面2411的角度及/或鑽針24的長度進行 結果，在/ ^ ^檢$則單元235的檢測 在第一轉動方向S上進行鑽針24的轉動，藉此以改 12 201136705 變鑽針24之刃面2411的角度，並進一步控制研磨單元27 對鑽針24之刃面2411的研磨角度。 又，迴轉單元253及研磨單元27之間亦可增設有一固 定單元255，並使得固定單元255與迴轉單元253相鄰， 藉此可透過固定單元255固定迴轉單元253上的鑽針24， 而有利於以研磨單元27對迴轉單元253上的鑽針24進行 研磨，如第6 B圖及第6 C圖所示。 在實際應用時可對上述分度轉盤21、轉動夾持單元 251及迴轉單元253的轉動時序及間隔進行調整，使得鑽 針檢測及研磨裝置20上的各個構件可不間斷的持續進行 動作，並可進一步提高鑽針24之檢測及研磨的效率。例如 當研磨單元27在對迴轉單元253其中一個固定部2533上 的鑽針24進行研磨時，轉動炎持單元251可將迴轉單元 253之另一個固定部2533上經過研磨的鑽針24傳送至分 度轉盤21上，而分度轉盤21在接收到轉動夾持單元251 所傳送的鑽針24後將會進行轉動。在分度轉盤21轉動之 後，轉動夾持單元251可對進入待研磨區217内的鑽針24 進行夹取，並將鑽針24傳送至迴轉單元253的固定部2533 上，而迴轉單元253則會帶動鑽針24進行迴轉，以進行鑽 針24的研磨動作。 又，進料區211内亦可設置有一夾持單元29，在進料 的過程中可先將進料單元221上的鑽針24傳送至夾持單元 29，並以夾持單元29對鑽針24進行夾持。第一檢測單元 231則對準夾持單元29，並對夾持單元29所夾持的鑽針 13 201136705 24進行長度的檢測。若㈣單元29上的鑽針μ能 的檢測，夾持單元29可將鑽針24放置在分度轉盤 ^ =^。在實際應用時通過長度檢測之鑽針_長度仍 針24插入，八而/持單元29則可依據鑽針24的長度改變鑽 •之餐Γ又轉盤21的深淺度，以使得分度轉盤21上外 :之，針24的長度皆相同，並有利於後續檢測動作的進 :，則二:夾持單元29上的鑽針24未能通過長度的檢 225ΛΛ 持單元29上的鑽針24傳送至不良品區 U在不同實施财，夾持單元2 通過長度檢測的鑽針24放置到分度轉盤21上 糾輸，至出料請後，將細傳送至不 測單時夹持t元29可上下進行位移，而第-檢 單元29帶動镨1為一固定式的裝置’在使用時可透過夾持 帶動鑽針24進行位移，並以第一檢測單元231對 上的鑽針24進行影像的擷取，而有利於提高 長度I測時的精確度。 ^ …第一檢測單元233設置在刀面檢測區213的上方，並 ^俯視的方式對刃面檢測區213内之鑽針24的刀面2411 測，且决^於鑽針24在進料區211内便已通過長度的檢 、/、早元29亦已依據鑽針24的長度改變鑽針24插 2入4:2”的深淺度’使得分度轉盤21上外露之鑽針 比合#又白目同，因此通過長度檢測之鑽針24的刀面2411 二tt*第一檢測單元233的焦點上’可省去第二檢測單 而要進行對焦所花費的時間。又，當第二檢測單元 201136705 233無法清楚的擷取到刃面則的影像時，便表示鐵針^ 的刀面2411可能在研磨的過程中發生毀損，並導致鑽針 24的長度不；^，可於後續的動作中將鑽針24傳送至不戸
鑽針檢測及研磨裝置30包括有一夾持輸送單元32, j輸送單元32可用以在進料單元22卜分度轉盤21、夹 持皁兀29、出料單元223及不良品區225之間進行位移， 並用以，鑽針24進行夾持。因此可藉由夾持輸送單元％ 在進料早7L 22卜夾持單元29、分度轉盤2卜出料單元挪 及不良品d 2 2 5之間進行鑽針2 4的輸$，例如夾持輸送單 兀32可將鑽針24由進料單元211傳送至進料區2ιι 將鑽針24由出料區215傳送至出料單元233。
/研磨單元27在對鑽針24進彳f研磨的過程+將可以進 行角度的改變’例如研磨單元27可相對於鑽針24在乂軸 轴上引進及後退，並在z軸上進行角度的變化，以利 於研磨動作的進行。此外，迴轉單元253及研磨單元27之 間亦可增設有-第四檢測單元挪，第四檢測單元237主 要用以對岐單元255、迴轉單元253及/或研磨單元27 的位置進行;^正’當校正動作完成之後便可選擇四檢 測單元237卸下。 =上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，並非用 來限定本&明貫;^之範圍，即凡依本發明中請專利範圍所 述之形狀、構造、特徵及精相為之均等變化與修飾，均 應包括於本發明之申請專利範圍内。 201136705 【圖式簡單說明】 = 鑽針檢測裝置的方塊示意圖。 第3A圖及第32碩加工裝置-實施例之方塊示意圖。 111 .分別為本發明所述之鑽針的立體示 μ 意圖及俯視圖。 第4圖：為本發明纖j 第5 A圖及第5 ^^工裝置又—實施例之方塊示意圖。 圖·刀別為本發明鑽頭加工裝置一實施 例之立體示意圖及俯視圖。 第6A圖及第6c圖：分別為本發明鑽頭加工裝置之部分 構件的放大示意圖。 【主要元件符號說明】 10 鑽針檢測裝置 11 轉盤 111 進料區 113 校正區 115 檢測區 117 出料區 13 料盤 14 鑽針 15 第一檢測單元 17 第二檢測單元 20 鑽針檢測及研磨裝置 21 分度轉盤 211 進料區 212 清潔區 213 刃面檢測區 214 套環調整區 215 出料區 217 待研磨區 221 進料單元 223 出料單元 225 不良品區 231 第一檢測單元 233 第二檢測單元 235 第三檢測單元 237 第四檢測單元 24 鑽針 201136705 241 鑽頭 2411 243 主體 245 25 轉換模組 251 253 迴轉單元 2531 2533 固定部 255 27 研磨單元 29 30 鑽針檢測及研磨裝置 32 36 清潔單元 38 刃面 套環 轉動夾持單元 迴轉部 固定單元 夾持單元 夾持輸送單元 套環調整單元 17