201000875 750〜接目鏡； 800〜框體。 五、本案若有化學式時，請揭示最能顯示發明特徵的 、 盔。 予式： 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於光學特性測量裝置及先學特性則 法，特別是，有關於光學特性測量裝置及光學特性方 法。 Μ Ϊ方 【先前技術】 於具有依存於波長之偏光特性之分散光學系中使光入 射，然後使分散光出射之分光器已為習知。於日本專 公平8-27212號公報（專利文獻υ中，揭露如上所述之分 光器，在分散光學系統之人射端及出射端至少其中一邊: 設置f曲4次以上之螺旋狀、竣渦狀或波浪狀之多模光纖 (mUHl—_。仙心〇，用以讓光線進行多次反射， 進而能消除偏光。 利用專利文獻1所記載之分光器’便能夠測量來自於 待測物之待測光之色度及亮度等光學特性。 、 當測量上述之光學特性時，在感測器（sen·)回應前 需等待一既定時間(延遲時間）。另-方面，舉例來講一 2075-l〇4〇l-PF;Rit 3 201000875 ，行待測物之反應速度測量及閃爍雜訊⑴ieker)測量 τ «要求感測裔在比上述延遲時間還小之㈣内回應。 ，光學特性測量裝置中，係分別設置用以測量色度及 又等光學特&之裝置’及用以用以測量反應速度等之裝 =因此，當測量該等特性時，必須替換裝置，用以調整 ά則物間之位置。這將使得測量程序變得繁項。 【發明内容】 置及’本發明之目的，在於提供光學特性測量裝 特性測量方法，用以簡化光學特 裝 同％可以測量待測物之複數特性。 、量私序， 本發明之光學特性測量裝置包括··光取 從待測物取出待測光；光纖部份’連接至光取：用以 以傳送來自於待測物之光線；第一測量部份，^份，用 先纖部份之待測光，用以測量待測物之第—特用來自於 二測量部份’利用來自該光纖部份之’，以及第 測物之第二特性。光纖部份具有分切份用以測量待 份之下游端，將光纖部份之路徑分為 以於分支部 徑’沿著第—路徑所傳送之待測光到達：輿第二路 沿著第二路徑所傳送之待測光到達第二測量部=部份，而 〃根據上述之架構，係對光纖部份進行分π 第一路徑與第_ 足’用以形忐 一路偟，因此能夠將待測光 成 ::第一測置部份。之後，第一測量部份 1量部 而第二測量部份測量第二特性，因此毋二:特性， 俠挪量裝置， 2075-104Ql~PF;Rita 201000875 進一步，因為透過 因此能夠將測量第 地導向第一測量部 即能夠測量待測物之複數之光學特性。 光纖部份來形成第一路徑與第二路經， —特性及第二特性所需之既定光量穩定 份及第二測量部份。
於—實施例中，上述之光學特性剛量裝置之第二測量 部份’相對於第一測量部份，對待測光之反應速度快。進 —步’於-具體的實施例中，第—測量部份為分光測量部 份，用以對來自於待測物之光線進行分光測量，而第二測 量部份為反應速度測量部份’用以測量待測物之反應速度。 、更好地，於上述之光學特性測量裝置中，光纖部份由 複數之芯線捆束而成，根據位於光纖部份斷面中心之芯 線，用以構成到達分光測量部份之第一路徑，以及根據位 於光纖部份斷面之直徑方向外側之芯線，用以構成到達反 應速度測量部份之第二路徑。 根據上述之架構，選擇性地將位於中心、具高光量之 〇 芯線導向分光測量部份，並選擇性地將位於外圍、光量較 低之芯線導向反應速度測量部份。如此一來，可以有效地 取得为光測量所需之光量，且能夠以一台裝置同時進行低 免度區域的色度、亮度測量及反應速度測量。 本發明之光學特性測量方法，用以測量來自於待測物 之低亮度區域之待測光的光學特性，包括：導入步驟，用 以讓光取出部份對向之待測物發光，及將來自於待測物之 待測光導向第一測量部份及第二測量部份；以及測量步 驟，用以於第一測量部份中’對作為該低亮度區域光學特 2075-10401_PF;Rita 5 201000875 性之待測物的第一特性進行測i，同日夺於第二測量部份 中’測量待測物之第二特性。 根據上述之方法，將待測光導向第一測量部份及第二 測量部份’因此能夠同時測量第一特性及第二特性，不僅 簡化測量程序，亦可測量待測物之複數之光學特性。 進一步，於本發明中’所謂低亮度區域係表示〇.〇〇1 cd/m2以上、lew以下之範圍。 依據本發明，能夠以一台裝置測量待測物之複數特 性，因而能夠簡化測量程序。 為使本發明之上述目的、特徵和優點能更明顯易懂， 下文特舉-較佳實施例’並配合所附圖式，作詳細說明如 下0 【實施方式】 下文說明本發明之實施方式。 此尨，、,知η 1 和问或類似之天 ’、同之符號表示之，並省略重複之說明。 另外，於以下說明之實施例中，所提及 箄，除了胜<2丨個數、數Ί 等除了特別加以說明之情況外，該個數 以限定本發明夕益_ 里#並非用 Μ月之祀圍。又’於以下之實 元件除了 Μ 5,丨1 Τ 谷個組及 牛承了特別加以說明之情況外 須的。 丁伞赞明而舌並非為4 《光學特㈣量系統之整體架構》 第1圖係顯示本發明的i個實施例之 … 統之整體架構示音_ 寺性測量高 再丁心圖。進一步，第2圖係 τ顯不弟1圖之身 2075-1040i-PF;Rit 6 201000875 學特性測量系統所包括之檢測器1架構示意圖。 參考第1圖’於此實施例中，光學特性測量系統藉由 檢測器1測量來自於待測物2之光線，用以測量待測物2 之明亮度、色調及反應速度等光學特性。於此，明亮度表 示待測物2之亮度及光強度，而色調表示待測物2之色度 座標、主波長、刺激純度、相關色溫等。另外，反麻速度 表示將訊號輸入至待測物2後，到引起發光之時間。 根據此實施例’光學特性測量系統適用於測量發光二 極體（light emitting diode, LED)及平面顯示器（flat panel display，FPD)等。於以下之說明中，係以平面顯示 器作為待測物2之代表例，用以說明其相關架構。 參考第1圖與第2圖，檢測器i包括光取出部份1〇〇、 光纖部份200、分光器300、光電倍增管（ph〇t〇multipHei_ tube, ΡΜΌ400、控制器 500 及類比 /數位（anai〇g_t〇_ digital)轉換器 600。
光取出部份100設置於待測物2〇〇之對向。於光取出 部份100中，來自於待測物2之待測光入射進來，該入射 光通過接物鏡11〇、目定光目130、孔徑反射鏡（ape伽e mirr〇r)120 之後，到達聚焦鏡（c〇1Hmating iens)i4〇。 接物鏡110可沿著箭頭DRU〇之方向移動。隨著接物 鏡110之移動，用以進行對焦。 孔徑反射鏡120用以反射待測光之一部份。該反射光 通過繼光器㈤ay lens)71〇、反射鏡72〇、繼光器73〇及 光網（reticle)740之後，到達接目鏡75(^進一步，將快 2075-10401-PF;Rita 7 201000875 門（shutter)760設置於繼光器730與光網740之間。使用 者可透過接目鏡750參考可見影像，同時藉由移動接物鏡 11 0來進行對焦。 如第3圖所示’孔徑反射鏡12 〇具有4個反射鏡部份 122八〜1220。於反射鏡部份122八〜1221)中，分別設置不同 孔徑之開口部份A〜D。舉例來講，開口部份A、B、c及d 之孔徑分別為0 0· 14(測量角度：〇. Γ)、0 〇. 28(測量角 度：〇· 2°)、0 1. 4(測量角度：1。）及0 2· 8(測量角度：2。）。 以手動之方式轉動測量角度選擇旋鈕丨2丨，便能夠選擇適 當的測量角度。 再次參考第1圖及第2圖，待測光通過聚焦鏡14〇之 後，入射至光纖部份200之入光部份21 〇 ,沿著與入光部 份210連接之傳送路徑220前進，到達分光器3〇〇及光電 倍增管400。此外’傳送路徑22〇分為第一路徑22ι及第 二路徑222。待測光沿著第—路徑221傳送至分光器， 且沿著第二路徑222傳送至光電倍增管4〇〇。 沿著第-路徑221傳送之待測光，從第一端231入射 至分光器3°0。另-方面’沿著第二路徑222傳送之待測 光’經由第二端232通過聚焦鏡（⑶出㈣叫iens^i〇 ' 濾光片（mter)42G及快門（shutter)43G，入射至光雨倍 增管40 0。 $ σ 分光器300，使用來自於光纖部份200之第—路和221 入射的光，進行高感度分光放射亮度測量…匕，：夠測 里低免度區域之色度、亮度。另-方面，光電倍增管400, 2075-：0401-PF;Rita 8 201000875 來自於光纖部份200之第二路徑222 塔位之入射的光，進行待 測物2之反應速度測量。 一般而言，高感度分光放射亮 —k旦又j重用之分光器300 包括測量周期較長（例如： ( 、w J 1毛秒从上）之感測器 (sen·)。另-方面，光電倍增管彻利用比分光器· 還快之反應速度（例如：約8〇 r I進行反應速度測 ϊ。 進一步，如第2圖所示，構成檢 再取私利益1之分光器300 及光電倍增管400中，所包含之每個 3之母個70件，均設置於一體 的框體800中。 如第1圖所示，除了檢測哭彳 俄列1之外，光學特性測量系 統包括交流配接器（Α Γ a Η 〇 η + λ 〇 t 接益UL adaPter)3、控制裝置4、週邊組件 互連（P CI)擴充匯流排5及顏哺「ν彳^ 、 及視頻（vldeo)訊號產生器6。交 流配接器3將來自於外部電源「 。 I电雄c未圖不）之電力供應給檢測 器1。控制裝置4透過控制5nn芬結丄 、仏剌态bUO及類比/數位轉換器6〇〇, 連接於分光器300。除此之外，抻制驻 n 徑制裝置4透過週邊組件 互連擴充匯流排5，連接於光電倍增管400。進-步，控制 f置4更透過週邊組件互連擴充匯流排5及視頻訊號產生 盗6，連接於待測物2。 藉由分光器300，檢測器1對待測物2之待测光進行 分光’並且將測量資料，即包含各波長分量之強度所對應 :訊:虎’輸出至控制裝置4。再者，藉由光電倍增管4〇〇, 心測益1對待測物2之待測光進行檢測，並將其檢測結果 作為類比訊號，經由週邊組件互連擴充匯流排5，輸出至 2075-1040l-PF；R-[t 9 201000875 控制裝置4。相對地，控制裝置4將感度控制電壓，經由 週邊Μ件互連擴充匯流排5，輸出至光電倍增管4〇〇。 控制裝置4根據檢測器 物2之光學特性。控制裝置 控制裝置4中，關於待測物 說明如下。 1之測量資料，用以計算待測 4通常利用電腦加以實現。於 2光學特性之計算處理過程將 《光纖部份200之結構》 接著’參考第4圖至第8圖’用以說明光纖部份2〇〇 之結構。如第4圖所示’光纖部份2 0 0之結構，係包括： 光取出部份1〇〇之待測光所入射之入光部份21〇、傳送路 徑220、將傳送路徑22〇分為第一路徑221與第二路徑Μ? 之分支部份240、位於第一路徑221 —端之第—端231及 位於第二路徑222 一端之第二端232。 芯線 222。 傳送路徑220由複數之光纖芯線捆東而成。該等光纖 之一部份構成第一路徑221，其餘部份構成第二路徑 牌判連弟一端 ° ουυ。另—方 面’將到達第二端232之待測光導向光電倍增管伽。 對於分支部份240,設置於分㈣_側之第—路和 舉例來講，具有約2公尺左右的長度 二’ 4〇〇 .. 相對於分支部份 電化增S 400側之第二路徑222,舉例來謹， 具有、'句0. 5公尺左右的長度。也就是說，第―路 - 第二路徑222還要長。造牛 ^ 221 二退要長。進一步，為了能夠消 第一路徑221之光纖彎曲超過4次以上。 ，構成 2〇75-l〇4〇l-pp;Rits 10 201000875 - 第5圖係顯示入光部份210之斷面圖（第4圖之V-V斷 面）’而第6圖係顯示第一端231之斷面圖（第4圖之VI-VI 斷面）。如第5圖所示，於入光部份21〇中，複數之光纖芯 線捆束為圓开用以形成圓形之芯線部份21 〇 a。相對地， 於第一端231中’複數之光纖芯線捆束為矩形，用以形成 矩形之芯線部份231A。進一步，於此未圖示，於第二端232 中，複數之光纖芯線捆束為圓形，用以形成圓形之芯線部 份。 C'' 第7圖係顯示入光部份21 〇之芯線部份2丨〇 A示意圖， 而第8圖係顯示第一端231之芯線部份23U示意圖。如第 7圖所示，於入光部份210中，係捆有24根光纖芯線。於 此24根中，將位於光纖部份2〇〇斷面中心之1〇根芯線u 〜10A，分支為第一路徑22i，用以構成第一端231之芯線 邓伤2 31A。進一步，於此未圖示，可將2 4根光纖芯線中 剩餘的14根（位於光纖部份200斷面外圍之14根）任意地 1/ 抽束’用以形成第二端232之芯線部份。 再者’構成光纖部份200之光纖，可使用一般之光纖。 =一實施例中，可使用像是三菱電線工業股份有限公司所 製，型號為STVH200MC纖蕊徑200微米，光纖徑22〇微米） 等光纖。 《分光器3 0 0之結構》 —接著，參考第9圖，用以說明分光器3〇〇之結構。如 第9圖所示，分光器300包括濾光部份31〇、繞射光柵32〇 及受光部份330。 2〇75-l〇4〇1_PF;Rita 201000875 濾光部份310及繞射光柵32〇，係被配置於來自於待 測物2,且經由光纖部份2〇〇之第一路徑221所導入之待 測光，於光軸Αχ上前進。因此，發自於待測物2之待測光， 經由光取出部份100及光纖部份2〇〇之第一路徑221傳播 後，入射至濾光部份31 G。濾光部份31 〇可於複數之透過 光減光率中進行切換。濾光部份31〇之減光率係根據控制 器500之指令來選擇。 之後，通過濾光部份310之待測光，於光轴Αχ上傳播 後，入射至繞射光柵320。繞射光柵32〇，繞射入射之待測 光，用以進行分光，並將每一繞射光導向受光部份330。 典型的，繞射光栅320係為被稱作閃耀全息（blazed holographic)型之反射型繞射光栅，既定波長間隔對應於 每一繞射光’沿著各方向進行反射。 受光部份330檢測待測光所包含之各波長分量之強 度，並將對應於檢測強度之電力訊號（檢測輸出）輸出至類 比/數位轉換器600。受光部份33〇通常由將光電二極體 (photo diode)等檢測元件以陣列方式（array)配置之光電 二極體陣列（Photo diode array，PDA)、或者以矩陣方式 (matrix)配置之電荷輕合元件（charged-c〇Upied device CCD)組成。於—實施例中，受光部份33〇所輪出之訊號， 位於380奈米〜980奈米之範圍内，且對應於512個頻率 分量之強度。 《基於分光器300檢測結果之資訊處理裝置之控制架構》 第1 〇圖係顯示基於分光器3 0 0之檢測結果，於控制裝 2075-10401^PF；Rit 12 201000875 置4中’資訊處理之控制架構概略示意圖。參考第， 4控制：置4包括以下之功能:具有補償部份42及計算部份 之#作部份41、補償係數檔案44、校正㈣ 2貧料㈣46。進—步，從硬碟（W中，取出預 之転式再由令央處理器（CPU)加以執行，用 貝現操作部份41及校正控制邱於 係數檔案44及桿準資料二安4: <功能。此外’補償 4及‘準貝枓檔案46’係儲存於硬碟 性記憶體中。 早赞 :補償係數檔案44中’可以預先儲存複數之補債係數 2 ’係相關於分光器30。之濾光部份31。所選擇之每—標 =°可根據過遽號碼指定該等補償係、數表。相關於具有; =值（分光分佈）之波長分量，係將與該波長分量相同之補 侦係數（校正係數）規定於每一 1貝係數表中。於—實施例 ’ *測1值包括512個頻道資料時，於每—每—補償係 數表中亦規定有512個補償係數（校正係數）。 操作部份4卜根據分光器_之濾光部份3ι〇所選中 之樓案，使用對應之補償係數表，用以計算出待测物 光學特性’如明亮度及色度。 更具體地’補償部份42係根據分光器3〇〇之測量資料 所具有之過濾號碼，用以從補償係數檔案44中選 補償係數表。接著，補償部份42將所選補償係數表之每— ^賞係，，與測量值所對應分量相乘後，用以計算出補償 <之測量值。之後’將補償後之測量值提供至計算部份 根據該補償後之測量值，計算部份43計算出待測物2 2〇75-l〇4〇i-PF;Rita 13 201000875 之明亮度及色度等光學特性。舉例來講，計算部份43所計 算出之光學特性包括三刺激值、色度座標、主波長 (dominant)、刺激純度（purity)、相關色溫與偏差值 (duv)、演色性評價值等。主要是根據χγζ表色系來規定這 些測量項目。 XYZ表色系所使用之三刺激值（X，γ，z)，係根據下列 异式產生： 780 X = ^5ί(λ)χ(λ)ί^λ 380 ， 780 Υ = ^5ί{λ)γ{λ^λ ? 380 ? 780 Z = k^St{X)z{xy^ 380 5 其中’ :發光體於Δ义間隔内之分光分佈值； χ(义)、罗(又)、乏⑷：ΧΥΖ表色系之等色關數； △又：用以計算三刺激值之波長間隔； 灸：常數。 於上式中’計算三刺激值（X, Υ，Ζ)需測量值（分光分 佈值）’而計算部份43，將可視域（38〇奈米〜780奈米）中 各波長分量之強度所對應之等色關數值相乘後再進行累 力口。此三刺激值（X，Υ，Ζ)計算方法，即JIS Ζ 8724所規 2〇75〜l〇4〇l-PF;Rits 14 201000875 定之『顏色的測量方法一光源色』。 第π圖係顯示國際照明委員會（CIE)所規定之等色關 數。參考第11圖，等色關數對應於人眼所表現的分光感度。 於三刺激值（X，Y，Z)中，刺激值Y之值對應於待測物 2之明亮度。此外，於上式中，常數众之值，係參考受光部 份330等之檢測增益比（gain)，且預先設定其值，用以使 『Y』之值對應於實際測量明亮度之絕對值。 進一步，於三刺激值（X，γ，z)中，係利用刺激值χ及 刺激值Υ之值來計算色度座標，色度座標（χ，y)，係根據 下列算式產生：
X χ = ------ x+r+z ' γ y — Χ+Υ+Ζ ° 色度座標（X，y) ’用以表示於ΧΥΖ表色系中，橫軸方 向之值與縱軸方向之值。此色度座標（χ，〇計算方法，即 JIS Ζ 8724所規定之『色的測量方法—光源色』。可以根 據CIE i 960 UCS及CIE 1 976 UCS來規定其它的計算方法， 用以作為色度座標（X，y)之計算方法，或亦可使用這些計 鼻方法。 以此方式’計算部份43基於分光器3〇〇所檢測之剛 量值，用以計算出三刺激值（X，Y，Z)，並據以算出測 量對象’即待測物2之明亮度（kY)及色度座標（χ，y)至少 其中之一。再者，計算部份43預存上述之等色關數及常數 2〇75-l〇4〇i-pF;Rita 15 201000875 於XYZ表色系規定之色度圖中，主波長與色度座標(χ， y)之y座標值所對應之波長-致，用以表示待測物2之色 差。刺激純度，係對應於原點座標及色度座標（X，y)間之 距離’用以表示待測物2之飽和度。該主波長與刺激純度 之計算方法’即：ISZ87G1所規定之『顏色的表示方法_ XYZ表色系及X10Y10Z10表色系』。 相關色溫與Μ值（duv)，係分別表示與待測物2顏色 最接近之黑體溫度、以及相對於黑體溫度之偏差值，且規 定於JIS Z 8725之『光源分佈溫度與色溫、相關色溫之測 量方法』中。 演色性評價值，用以表示對待測物2之演色性加以坪 價，係規定於JIS Z 8726之『光源之演色性評價值方法』 中 〇 《基於分光器300檢測結果之光學特性計算處理過程》 第12圖係顯示基於分光器3〇〇之檢測結果，於控制裝 置4中，光學特性計算處理過程之流程圖。 、 參考第12 ®，控制裝置4判斷是否接收到來自於分光 器300之測量資料（步驟su〇)。若肖未接收到測量資料（步 驟S110的否）’控制裝置4繼續等待接收測量資料。 另一方面，若已接收到測量資料（步驟su〇的是），控 制裝置4自測量資料擷取過渡號碼，並讀出對應於該過^ 號碼之補償係數表（步驟sl2〇)。之後，控制裝置4將包^ 於測量資料中的測量值與補償係、數表相乘，用以補償測= 2075-1040i-PF;Rita 16 201000875 值（步驟S130)。進—舟，批在丨丨驻罢/14日上点 選步，控制裝置4根據補償後之測量值， 用以計算如上所述之待測物2的光學特性（步驟s_ 者，亦可由使用者選擇要計算之光學特性項目。 最後，控制裝置4將待測物2之光學特性計算結果輪 出至未圖示之螢幕（monit〇r)或列印機（奸丨肘打）（= S150)。 - 娜 《基於光電倍增管 程》 400檢測結果之光學特性計算處理過
第13圖係顯示基於光電倍增管4〇〇之檢測結果，於控 制裝置"’光學特性計算處理過程之流程圖。 ： 參考第13圖，控制裝置4將既定之視頻訊號從視頻訊 號產生器6發送至待測物2(步驟S21〇)。之後，控制裝置 4判斷是否從光電倍增管400接收到測量資料之類比輪 訊號（步驟S220)。若尚未接收到類比輸出訊號（步驟s22〇 的否），控制裝置4繼續等待接收類比輸出訊號。 另一方面，右已接收到類比輪出訊號（步驟S22〇的 疋），控㈣f 4，根據發送視頻訊號到接收類比輸出訊號 的時間，用以計算待測物2的反應速度（步驟s23〇)。 最後，控制裝置4將待测物2之反應速度計算結果輸 出至未圖示之勞幕或列印機（步驟S24〇)。 《總結》 兹將上述之相關内容彙整如下。也就是說，於本實施 例中，作A『光學特性測量裝置』之檢測器i係包括：光 取出部份100,從待測物2取出待測光之；光纖部份2〇〇， 2075-10401-PF;Rita 17 201000875 =光：出：份·用以傳送待測物2之光線；分光 1用來自於光纖部份200之待測光，用以測量待 亮度區域之色度、亮度;以及光電倍增管_， 光纖部份_之待測光1以測量待測物2之 反應速度。光纖部# 2⑽具有分支部份24G，用以於分支 部份240之下游端，將光纖部份2〇。之傳送路徑22〇分為 第路位221與第二路徑222，沿著第-路握221所傳送 之待測光會到達分光器3〇〇,而沿著第二路種M2所傳送 之待測光會到達先電倍增管400。 、…分光器300對來自於待測物2之光線進行分光測量。 光電L增g 4GG測量待測物2之反應速度。相對於分光器 〇光電倍增官4〇〇對待測物2之反應速度快。光纖部份 —〇由複數之光纖捆束而成。根據位於光纖的斷面中心之 心線’用以構成到達分光器3〇〇之第-路徑22卜並根據 位於光纖斷面之直徑方向外側之芯線，用以構成到達光電 七增官400之之第二路徑222。 本貝施例之光學特性測量方法，係為從待測物2之低 7度區域之待測光的光學特性測量方法。該方法包括·讓 光取出部份1 00對向之待測物2發光；將來自於待測物2 之待測光導向分光器300及光電倍增管400之步驟；於分 先益300中，測量低亮度區域之待測光的色度、亮度；同 、於光畦倍增管4 0 〇中，測量待測物2之反應速度。 根據本實施例之光學特性測量裝置，係對光纖部份2〇〇 之傳送路徑220進行分支，用以形成第一路徑221與第二 20 °''l〇401-PF;Rita 18 201000875 - 路徑222。因此，能夠同時將待測光導向分光器3〇〇及光 電倍增管400。之後，分光器3〇〇測量低亮度區域之待測 光的色度、亮度；而光電倍增管4〇〇測量待測物2之反應 速度。因此，毋需替換測量裝置，即能夠測量複數之光學 特性。進一步，因為透過光纖部份2〇〇來分支待測光，因 此，能夠適當地調整傳送至分光器3〇〇及光電倍增管4〇〇 之待測光光量，並在測量低亮度區域之色度、亮度及待測 , 物2之反應速度時，可以將所需之既定光量導向分光器3〇〇 ‘ 及光電倍增管400。 舉例來講’當利用半反射鏡（half mi rr〇r)取代上述之 光纖部份200，用以對待測光進行分支時，由於導入至分 光器300之光量減少，使得分光器300難以測量低亮度區 域之待測光的色度、亮度。就此而言，於本實施例中，係 選擇性地將位於光纖部份2 0 0斷面中心、具高光量之+、々 線，導向分光益3 0 0，並選擇性地將位於光纖部份2 〇 〇斷 ^} 面之外圍、光里較低之芯線，導向光電倍增管400。如此 一來，可以有效地取得分光測量所需之光量，且能夠以一 台裝置同時進行低亮度區域的色度、亮度測量及反應速度 測量。進一步，舉例而言，當利用驅動式反射鏡來切換待 測光之導入方向時，由於未必能夠確實地還原反射鏡之方 向，因而無法進行正確的測量。就此而言，於本實施例中， 不設置驅動式反射鏡’而是將光纖傳送路徑進行分支。如 此一來，能夠將待測光導向至分光器300及光電倍增管 400，而不會產生上述之還原問題。 2075-10401-PF;Rita 19 201000875 以此方式，根據本實施例之光學特性測量裝置，係將 待測光導向分光器300及光電倍增管400，便能夠同時進 行低亮度區域的色度、亮度及待測物2之反應速度測量。 不僅簡化測量程序，亦可測量複數之光學特性。 除此之外’根據本實施例之光學特性測量裝置，係將 分光器300及光電倍增管400置於1台的裝置之内，因此， 能夠根據分光器300之受光量，限制光電倍增管4〇〇之入 射光量。更具體地，如第2圖所示，針對光電倍增管4〇〇， 於光纖部份200之第二端232設置常閉狀態（normal cl〇se) 之快門’利用分光器300受光量與光電倍增管400受光量 兩者間的關係’以分光器300之受光量為基礎來調整光電 倍增管400之增益比。當強光入射至光電倍增管4〇〇時， 暗電流會增加，即使沒有光入射進來，暗電流值返回至原 值之時間亦會增加。就此而言，如上所述，以分光器3 〇 〇 之受光量為基礎來調整光電倍增管4〇〇之增益比，藉以防 止過強光線入射至光電倍增管400。 更進一步，本實施例之分光器3 0 0構成『第一測量部 份』，而光電倍增管4 0 0構成『第二測量部份』。其次， 低亮度區域之待測光的色度、亮度對應於『第一特性』， 而待測物2之反應速度對應於『第二特性』。 本發明之『第一測量部份』、『第二測量部份』、『第 一特性』及『第二特性』’並非用以限定本實施例。舉例 來講，可設置更高感度之光電倍增管（PMT)模組，用以取代 分光器300。於此情況下，能夠對分光器300無法測量的 2〇75-I〇4〇l-pr；Rita 20 201000875 • 項目進行測量：低亮度區域的亮度測量與對比度 (contrast :全白亮度測量值/全黑亮度測量值）測量。本發 明之『第一測量部份』能夠進行的測量為，例如：高對比 度測量（低亮度測量〜高亮度測量）、低亮度區域中的亮度/ 色度測量、分光放射亮度測量等，而本發明之『第二測量 部份』能夠進行的測量為，例如：黑白反應速度測量、中 間調反應速度測量、閃爍雜訊測量等。 雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以 "限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神 和範圍内，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護 範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 第1圖係顯示依據本發明實施例之光學特性測量系統 之整體架構示意圖。 ◎ 第2圖係顯示帛1圖之光學特性測量系統所包括之檢 測器架構示意圖。 第3圖係顯示第2圖之檢測器所包括之孔徑反射鏡 (aperture mirror)示意圖。 第4圖係顯示第2圖之檢測器所包括之光纖部份示意 圖。 第5圖係顯示第4圖之V-V斷面示意圖。 第6圖係顯示第4圖之VI -VI斷面示意圖。 第7圖係顯示於第5圖之斷面中，光纖芯線之配置示 2075-10401-PF;Rita 201000875 意圖。. 第8圖係顯不於第6圖之斷面中，光孅怒線之配置示 意圖。 第9圖係顯示第2圖檢測器所包括之分光器概略功能 方塊圖。 第10圖係顯示資訊處理之控制架構概略示意圖，基於 第2圖檢測器所包括之分光器的檢測結果。 第11圖係顯不國際照明委員會（C IE)所規定之等色關 數。 第12圖係顯示光學特性計算處理過程之流程圖，基於 第2圖檢測器所包括之分光器的檢測結果。 第13圖係顯示光學特性計算處理過程之流程圖，基於 第2圖檢測器所包括之光電倍增管的檢測結果。 【主要元件符號說明】 1 ~檢測器； 2〜待測物； 3〜交流配接器； 4〜控制裝置； 5〜週邊組件互連（pc I)擴充匯流排； 6〜視頻訊號產生器； 100〜光取出部份； 110〜接物鏡； 120〜孔徑反射鏡； 2〇75-10401-PF;Rita 22 201000875 - 1 21 ~測量角度選擇旋鈕； 122A、122B、122C、122D 〜反射鏡部份； 130~固定光圈； 140〜聚焦鏡； 2 0 0〜光纖部份； 210〜入光部份； 210A、231A~芯線部份； 220〜傳送路徑； f : ' 22卜第一路徑； 222〜第二路徑； 231~第一端； 232~第二端； 240〜分支部份； 300〜分光器； 310〜濾光部份； I: 320〜繞射光柵； 330〜受光部份； 400〜光電倍增管； 41 0〜聚焦鏡； 420〜濾光片； 430、760〜快門； 500~控制器； 600〜類比/數位轉換器； 710、730〜繼光器； 2075-10401-PF;Rita 23 201000875 720~反射鏡； 7 4 0〜光網； 750~接目鏡； 8 0 0〜框體。 2075-10401-PF;Rita