TW200933645A - Method for accessing memory chip - Google Patents
Method for accessing memory chipInfo
- Publication number
- TW200933645A TW200933645A TW97102177A TW97102177A TW200933645A TW 200933645 A TW200933645 A TW 200933645A TW 97102177 A TW97102177 A TW 97102177A TW 97102177 A TW97102177 A TW 97102177A TW 200933645 A TW200933645 A TW 200933645A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- input
- memory
- address
- column
- signal
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/02—Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
- G11C5/04—Supports for storage elements, e.g. memory modules; Mounting or fixing of storage elements on such supports
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/1201—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details comprising I/O circuitry
Landscapes
- Dram (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
Description
200933645 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種存取記憶體晶片的方法,尤指一種可以減 少動態隨機存取記憶體(Dynamic Random Access Memory DRAM)輸入接腳數目之存取記憶體晶片的方法。 【先前技術】 在習知雙倍資料率(Double Data Rate,DDR )同步動態隨機存 取記憶體(Synchronous DRAM)架構下,同步動態隨機存取記憶 體具有以下輸入訊號:兩個時脈訊號CLK以及#CLK、十六個記 憶體位址輸入訊號A0〜A15、四個記憶庫位址輸入訊號 ΒΑ0〜BA3、一晶片選擇訊號CS、一列位址選通(r〇w address str〇be ) 訊號 RAS、一行位址選通(column address strobe)訊號 CAS、一 寫入致能(Write Enable, WE)訊號、一同步訊號cke、一校準訊 號ZQ以及一重置訊號RESET。上述每一個輸入訊號的一個輪入 命令的長度係為一時脈訊號之一個時脈週期’且每一個輸入訊號 均需要由一專屬的接腳來輸入記憶體晶片中,因此習知同步動態 隨機存取記憶體會設置有29個輸入接腳。 請參考第1圖,第1圖為習知雙列接腳記憶體模組(Dual In-lineMemoryM〇dUle,DIMM) 1〇〇 的示意圖。如第 1 圖所示,雙 列接腳記憶體模組1〇〇包含有八個記憶體晶片no—bno—8,其中 每一個記憶體晶片均包含有29個輸入接腳。在雙列接腳記憶體模 200933645 組100的操作上’ 29筆輸入訊號係由一控制器120輸入至記憶體 晶片110J’之後循序傳輸至記憶體晶片11〇_2、11〇_3、 、11〇_8, 因此兩相鄰記憶體晶片均有29條線路互相連接。一般而言,輸入 接腳越多,在電路上信號線的間距也會變小而增加佈線的困難 度,且仏號線彼此之間也比較容易受到干擾,因此雙列接腳記憶 體模組100上線路的佈局會較為困難,此外,在記憶體晶片測試 時,治具的花費比較高且量測機台一次可以測試的記憶體晶片的 數量也會減少。 【發明内容】 因此本發明的目的之一在於提供一種可以減少記憶體輸入接 腳數置之存取a己憶體晶片的方法,以降低雙列接聊記憶體模組的 h號線密度以及記憶體在測試上的成本花費。 ❹ 、依據本發明之一實施例,其揭露一種存取一記憶體晶片的 法。该方法包含有:於該記憶體晶片設置複數個第一輸入接腳 複數個第二輸人接腳;職數侧錄訊齡別輸人該複數個 輸入接腳,其中每一個列位址訊號的一列位址命令封包的長 為一時脈訊號之複數個時脈週期,且該列位址命令封包包含有 數個列輪人命令;以及將複數個行位址魏分別輪人至該二數 第二輸入接腳’其中每—個行位址訊號的—行位址命令= 度為該時脈峨之減辦贿期,且蹄她命 人
複數個行輪入命令。 、匕匕S 200933645 依據本發日撕触之魏記㈣“ :憶體效能之下減少記憶體的輸入接腳,進而提升雙列= 體模組在線路佈局上的容易度,並減少測試上域Γ 【實施方式】 在習知雙倍資料率同步動贿機存取記憶猶構下,每一個 ❹雨入Λ號的一個輸入命令的長度係為-時脈訊號之一個時脈週 d,且每-個輸人訊號均由—專屬的接腳來輸人記憶體晶片中, 因此總共會需要29個接腳。為了減少接腳的數量,本發明使用了 命令封包”的概念,脚—倾腳_來輸人—命令封包且每一 個命令^包係包含四個輸人命令,如此便可以減少記憶體晶片接 腳的數量,然而,因為每—個命令封包係包含四個輸人命令且一 個輸入命令的長度係為—個時脈週期,因此—個命令封包的長度 為_時脈職’在記㈣嶋作中,因為在同—記憶庫中不能 同時進行雜址城輸从及行位址減輸人,因此若是僅僅使 用長度為四個時脈職的命令封包,在同一記憶庫中,必須要等 到列位址訊號輸入後四個時脈週期,行位址訊號才可以輸入,如 此將會嚴重降低記憶體的效能。 因此,本發明提出了-種可以減少記憶體的輸入接腳且較不 會降低s己憶體效能的方法’才目關運作細節詳述如下。 7 200933645 請參閱第2圖,第2圖為本發明記憶體晶片20〇之一實施例 的示意圖。如圖所示,記憶體晶片200包含有一時脈接腳 PIN_CLK、六個列(row)位址訊號接腳PIN_R0〜PIN_R5、五個行 (column)位址訊號接腳PIN_C0〜PIN_C4、一第一晶片選擇訊號(列 位址晶片選擇訊號)接腳PIN_CSR以及一第二晶片選擇訊號(行位 址晶片選擇訊號)接腳PIN_CSC。本實施例中,時脈接腳PIN_CLK 係用來接收一時脈訊號CLK,列位址訊號接腳PIN_R0〜PIN_R5 係用來分別接收六個列位址訊號R〇wAdrO、RowAdrl、R〇wAdr2、 RowAdr3、RowAdr4、R〇wAdr5,行位址訊號接腳 PIN一C0〜PIN—C4 係用來分別接收五個行位址訊號ColAdrO、ColAdd、ColAdr2、 ColAdr3、ColAdr4,第一晶片選擇訊號(列位址晶片選擇訊號)接腳 PIN_CSR係用來接收一第一晶片選擇訊號(列位址晶片選擇訊號) CSR以選擇使用記憶體晶片2〇〇來接收該複數個列位址訊號,以 及第二晶片選擇訊號(行位址晶片選擇訊號)接腳piN—csc係用 來接收一第二晶片選擇訊號(行位址晶片選擇訊號)esc以選擇 使用§亥δ己憶體晶片來接收該複數個行位址訊號。請注意,第2圖 所示之記憶體晶片200的接腳配置僅作為範例說明之用,且在不 影響本發明技術揭露之下,第2圖巾僅顯示出與本發明之後續說 明有關的-部份接腳’實際上,本發明並未限定記讎晶片2〇〇 僅具有第2圖所示之接腳配置。本發明記憶體晶片2⑻的存取操 作將於下詳述。 ’、 請參考第3圖,第3圖為本發明實施例之六個列㈣位址訊 8 200933645 號的示意圖。在本發明中,六個列位址訊號R〇wAdr〇、、 H0wAdr*2、;R〇wAdl3、R〇wAdr4、R〇wAdr5 係經由六個第一輸入 接腳(亦即第2圖所示之列位址訊號接腳piN_R〇〜piN—R5)輸入 至記憶體晶片中’如第3圖所示,每一個列位址訊號 (RowAdrO〜R0WAdr5)的-列位址命令封包(r〇wadd_ command package)的長度為—時脈訊號CLK之四個時脈週期, 且列位址命令封包包含有四個列輸入命令,因此,六個列位址訊 ❹ 號之六铜位址命令封包總共包含有二十四侧輸人命令。本實 施例中,該二十四個列輸入命令係包含有四筆記憶庫位址的設定 資訊ΒΑ0〜BA3、十六筆記憶體位址的設定資訊A〇〜A15以及四筆 記憶體控制命令的設定資訊CMD〇〜CMD3,其中四筆記憶庫位址 的設定資訊ΒΑ0〜BA3係等於習知雙倍資料率同步動態隨機存取 記憶體架構下之記憶庫位址輸入訊號BA〇〜BA3,且十六筆記憶體 位址的设定資訊A0〜A15係等於習知雙倍資料率同步動態隨機存 ❹取記憶體架構下之記憶體位址輸入訊號A〇〜A15。此外,四筆記憶 體控制命令的設定資訊CMD0〜CMD3係經由解碼以產生複數個記 憶體控制命令中之一控制命令,其中該複數個記憶體控制命令可 包含有啟動(Active)、預充電(Precharge)、更新(Refresh)、模式暫存 設定(mode register set, MRS )、自我更新(self_refresh entry,SRE)、 進入低功耗(power down entry)、長校準/短校準(ZQ calibration long/ZQ calibration short,ZQCL/ZQCS)··.等等。 6青參考第4圖’第4圖為本發明實施例之五個行(c〇iumn)位址 9 200933645 訊號的示意圖。在本發明中,該五個行位址訊號ColAdrO、 ColAdrl、ColAdr2、ColAdr3、ColAdr4 係經由五個第二輸入接腳 (亦即第2圖所示之行位址訊號接腳PIN—c〇〜piN—C4)輸入至記 憶體晶片中,如第4圖所示,每一個行位址訊號(c〇1Adr〇〜CQlAdf4) 的一行位址命令封包(c〇lumn a(jdress comman(jpackage)的長度 為一時脈號CLK之四個時脈週期,且行位址命令封包包含有四 個行輸入命令,因此,五個行位址訊號之五個列位址命令封包總 ® 共包含有二十個行輸入命令,該二十個行輸入命令係包含有四筆 記憶庫位址的設定資訊BA0〜BA3、十三筆記憶體位址的設定資訊 A0〜A12、一寫入致能(WriteEnable,WE)輸入命令、一自動預充 電(Aut〇Pre-charge,AP)輸入命令以及一突發中斷4/突發長度8 (Burst Chop 4/BurstLength 8, BC4/BL8)輸入命令,其中四筆記 憶庫位址的設定資訊ΒΑ0〜BA3係等於習知雙倍資料率同步動態 隨機存取記憶體架構下之記憶庫位址輸入訊號BA〇〜BA3,且十三 鳓 筆記憶體位址的設定資訊A0〜A12係等於習知雙倍資料率同步動 態隨機存取記憶體架構下之記憶體位址輸入訊號A〇〜A12。 需注意的是,第3圖所示之六個列位址訊號之六個列位址命 令封包所分別包含之輸入命令僅作為範例說明之用,在實作上, 第3圖所示之二十四個列輸入命令可任意對調;同理,第4圖所 示之二十個行輸入命令亦可任意對調且不影響本發明之記憶體操 作。此外’上述列位址訊號(RowAdrO〜R〇wAdr5)、行位址訊號 (ColAdrO〜ColAdr4 )以及記憶庫位址的設定資訊(B〜B) 200933645 的數量亦僅作為範例說明之用,在實作上,若是要擴充記憶體的 容量,亦即增加記憶體位址的設定資訊或是增加記憶庫數量,則 列位址訊號可以為七個或以上且行位址訊號可以為六個或以上, 舉例而言’記憶體晶片200可以增加一列位址訊號接腳pin_R6 以及一行位址訊號接腳PIN_C5,其中列位址訊號接腳PIN_R6係 用來接收一列位址訊號RowAdr6,且列位址訊號R〇wAdr6的列位 址命令封包係包含有兩筆記憶庫位址的設定資訊BA4、BA5,以 及兩筆記憶體位址的設定資訊A16、A17 ;而行位址訊號接腳 PIN_C5係用來接收一行位址訊號ColAdr5,且行位址訊號ColAdr5 的行位址命令封包係包含有兩筆記憶庫位址的設定資訊BA4、 BA5,以及兩筆記憶體位址的設定資訊A13、A14。如上所述,因 為本發明之列(行)位址命令封包包含有四個列(行)輸入命令, 因此對於擴充記憶體位址的設定資訊以及記憶庫數量,只需增加 一個列位址訊號接腳以及一個行位址訊號接腳就可以增加四筆記 憶庫位址的設定資訊或是記憶體位址的設定資訊,因此可以大幅 降低記憶體晶片的測試成本。 如上所述,六個列位址訊號以及五個行位址訊號均包含有記 憶體位址的設定資訊(AO、Al、A3...),因此在同一時間可以對 不同記憶庫進行不同的操作。第5圖為本發明存取第2圖所示之 記憶體晶片之一操作範例的示意圖。如第5圖所示,舉例而言, 在時間T1中,六個列位址訊號RowAdrO〜RowAdr5之六個列位址 命令封包係用來啟動(active)記憶體晶片200中一第一記憶庫, 11 200933645 而在同一時間,五個行位址訊號c〇1Adr0〜c〇1Adr4之五個列位址 °P令封包可用來寫入(write)記憶體晶片2〇〇中一第二記憶庫(若 疋該第一έ己憶庫已經啟動過);在時間丁2中,六個列位址訊號
RowAdrO〜R0WAdr5之六個列位址命令封包係用來啟動一第三記 憶庫;在時間T3中,五個行位址訊號c〇1Adr〇〜c〇1Adr4之五個列 位址命令封包可用來讀取(read)該第__記憶庫^如此—來,便可 以減緩_使用長度為四辦脈週躺命令封包而造成記憶體效 能降低的影響。 在雙倍f"料率同步動態隨機存取記憶體架構下,有許多參數 均有規糾數值’例如雜址至贿址延遲時間(RAStoRAS delaytime)tRRD、列位址預充電時間(RASpre ehargetime)⑽、 列位址至行位騎遲_ (RAStGCASdelaytime) tRCD、列週 期時間(R〇Wcycletime) tRC…等等。若是記憶體時脈訊號的週 期為1.25奈秒(nano_seeond)’則本發明所提出之列位址命令封包 以及行位騎令封包的長制為5奈秒,射地使用在上 述雙倍資料率同步動態隨機存取記憶體且不違背相關的參數規 定。舉例而言,列位址預充電時間tRp至少需要1〇奈秒,在本發 明中則為兩個列位址命令封包的長度,亦㈣同―記憶庫進行預 充電以及啟動操作時可以有—個顺址命令封包關隔因此不 會影像到記憶體的效能。 此外’在習知雙倍資料率同步動態隨機存取記憶體架構下有 12 200933645 一用來致能一晶片的晶片選擇訊號。在本發明中,因為六個列位 址訊號以及五個行位址訊號均包含有記憶體位址的設定資訊,因 此本發明另外加入了 一第一晶片選擇訊號(列位址晶片選擇訊號) CSR以選擇使用該記憶體晶片來接收該複數個列位址訊號,以及 一第二晶片選擇訊號(行位址晶片選擇訊號)CSC以選擇使用該 記憶體晶片來接收該複數個行位址訊號,其中列位址晶片選擇訊 號CSR以及行位址晶片選擇訊號csc係分別經由一第三輸入接腳 ❹(亦即第1圖所示之第—晶片選擇訊號(列位址晶片選擇訊號)接 腳PIN—CSR)以及一第四輸入接腳(亦即第2圖所示之第二晶片 選擇訊號(行位址晶片選擇訊號)接腳piN—csc)輸入至記憶體 晶片中。如第5圖所示,當列位址晶片選擇訊號CSR或行位二晶 片選擇訊號CSC致能時’該記憶體晶片才可以接收列位址訊號$ 行位址訊號。 ❹ 間早剩上通存取記憶體晶片的方法,在本發明的輪入訊號 中’六個列位址訊號的六個列位址命令封包的長度均為四個時脈 週期,且每-個列位址命令封包包含有四個列輸入命令;且五個 行位址訊_五俯位騎令封㈣長朗為四辦脈 每-個行位址命令封包包含有四個行輸人命令。如上所述 個位址輸人峨,再加上兩_脈峨CLK以及#似' 一 3選擇截娜、行她_擇城咖、, 讯唬(〇n-dletennmation) ODT、同步訊號咖、校 及重置峨RESET,本發日__刪麵方法總共需= 13 200933645 九個輸入訊號’亦即記憶體晶片只需要十九個獅,相較於習知 記憶體晶4的二十九個接腳,本發明能確實減少記舰的輸入接 腳’進而提升雙列細記賊模組在線路佈局上的料度,並減 少測試上的成本。 4 以上所述僅為本發明之較佳實施例,凡依本發明申請專利範 圍所做之均等變化與修飾,皆應屬本發明之涵蓋範圍。 【圖式簡單說明】 第1圖為習知雙列接腳記憶體模組的示意圖 第2圖為本發明記憶體晶片之一實施例的示意圖。 第3圖為本發明實施例之六個列位址訊號的示意圖。 第4圖為本發明實施例之五個行位址訊號的示意圖。 第5圖為本發明存取第2圖所不之記憶體晶片之一操作範例的_ 意圖_。 【主要元件符號說明】 100 雙列接腳記憶體模級--- 110—1 〜110-8 記憶體晶片 ------ 120 控制器 200 記憶體晶片 -- PIN_CLK 時脈接腳 '-- PIN_R0 〜PINR5 列位址訊號接腳 ^'-- 14 200933645
_____ PIN—C0 〜PIN—C4 行位址訊號接腳 PIN—CSR 第一晶片選擇訊號接腳 ____^一 PIN一CSC 第二晶片選擇訊號接腳 CLK 時脈訊號 _________ RowAdrO ' RowAdrl ' 列位址訊號 RowAdr2 ' RowAdr3 ' RowAdr4、RowAdr5、 AO、A卜 A2、A3、A4、A5、 記憶體位址的設定資訊 A6、A7、A8、A9、A10、An、 A12、A13、A14、A15 __—----- BAO、BA 卜 BA2、BA3 記憶庫位址的設定資訊 ---— CMDO、CMD1、CMD2、CMD3 憶體控制命令的設定資訊 ColAdrO、ColAdr卜 ColAdr2、 列位址訊號 ColAdr3、ColAdr4 WE 寫入致能輸入命令 AP 自動預充電輸入命令 BC4/BL8 突發中斷/突發長度輸入命令 CSR 列位址晶片選擇訊號 CSC 行位址晶片選擇訊號 15
Claims (1)
- 200933645 十、申請專利範圍: 1. 一種存取一記憶體晶片的方法,其包含有: 於該記憶體晶片設置複數個第一輸入接腳與複數個第二 輸入接腳; 將複數個列(row)位址訊號分別輸入該複數個第一輸入接 腳其中母一個列位址§fl號的一列位址命令封包(rowa(jdress command package)的長度為一時脈訊號之複數個時脈週期; 〇 以及 將複數個行(column)位址訊號分別輸入至該複數個第二輸 入接腳’其中每一個行位址訊號的一行如止命令封包(column address _mand package)的長度為該時脈訊號之複數個時脈 週期。 2. 如申請專利範圍第i項所述之方法,其中該列位址命令封包和 該行位址命令封包各包含有複數個列輸入命令。 3. 如申請專利範圍第2項所述之方法,其中該列位址命令封包的 =^為四個時脈,且酬位址命令封包包含有四個列輸 如申睛專利範圍第3 腳的接腳數係為六。 項所述之綠,射棘數㈣—輸入接 16 4. 200933645 如申請專利範圍第4項所述之方法,其中該複數個列位址訊號 所傳送之六個列位址命令封包中的複數個列輸人命令係包含 有四筆記财紐的設定_、十六筆記憶触㈣設定資訊 以及四筆記憶體控制命令的設定資訊。 、 « 6.如申請專利範圍第5項所述之方法,另包含有: 解碼該四筆記触鋪命令的設定魏以產生一 控制命令。 記憶體 7. 如申請專概圍第2酬述之,其中該行位址命令封包的 長度係為四個時脈週期,且該行位址命令封包包含有四個 合。 -輸入接 8·如申請專利範圍第7項所述之方法,其中該複數個第 腳的接腳數係為五。 ❹ 設定資訊。 9.如申賴咖第8項所述之方法,射該複數個行位址 所傳送之五個行位址命令封包巾的複數個行輸人命令係包含 四筆記憶庫位址的設定資訊以及十三筆記憶體位址的 17 200933645 有至少一寫入致能(Write Enable,WE )輸入命令、一自動預 充電(AutoPre-charge,AP)輸入命令以及一突發中斷/突發長 度(Burst Chop /Burst Length, BC/BL)輸入命令。 11.如申請專利範圍第1項所述之方法,另包含有: 於該記憶體晶片設置一第三輸入接腳與一第四輸入接腳· 將一第一晶片選擇訊號輸入至該第三輸入接腳,以選擇使 用該s己憶體晶片來接收該複數個列位址訊號;以及 將一第二晶片選擇訊號輸入至該第四輸入接腳,以選擇使 用該記憶體晶片來接收該複數個行位址訊號。 十一、囷式:
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW97102177A TW200933645A (en) | 2008-01-21 | 2008-01-21 | Method for accessing memory chip |
KR1020080060690A KR100951605B1 (ko) | 2008-01-21 | 2008-06-26 | 메모리칩 액세스 방법 |
JP2008179303A JP4699498B2 (ja) | 2008-01-21 | 2008-07-09 | メモリチップにアクセスする方法 |
DE200810034346 DE102008034346B4 (de) | 2008-01-21 | 2008-07-23 | Verfahren zum Zugriff auf einen Speicherchip |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW97102177A TW200933645A (en) | 2008-01-21 | 2008-01-21 | Method for accessing memory chip |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200933645A true TW200933645A (en) | 2009-08-01 |
Family
ID=40794580
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW97102177A TW200933645A (en) | 2008-01-21 | 2008-01-21 | Method for accessing memory chip |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4699498B2 (zh) |
KR (1) | KR100951605B1 (zh) |
DE (1) | DE102008034346B4 (zh) |
TW (1) | TW200933645A (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102542584B1 (ko) * | 2016-03-11 | 2023-06-14 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리의 입력 장치 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01144664A (ja) * | 1988-03-01 | 1989-06-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体メモリ用集積回路装置 |
JPH05274877A (ja) * | 1992-03-25 | 1993-10-22 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JPH09213092A (ja) * | 1996-02-08 | 1997-08-15 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
US5805520A (en) | 1997-04-25 | 1998-09-08 | Hewlett-Packard Company | Integrated circuit address reconfigurability |
US5870350A (en) * | 1997-05-21 | 1999-02-09 | International Business Machines Corporation | High performance, high bandwidth memory bus architecture utilizing SDRAMs |
JP3979716B2 (ja) * | 1998-01-06 | 2007-09-19 | 富士通株式会社 | クロック同期型メモリ装置及びそのスケジューラ回路 |
US6236251B1 (en) * | 1998-03-04 | 2001-05-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor integrated circuit with multiple selectively activated synchronization circuits |
JPH11317080A (ja) * | 1998-03-04 | 1999-11-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路 |
KR100336573B1 (ko) * | 1999-11-30 | 2002-05-16 | 박종섭 | 램버스 디램 |
JP2006294074A (ja) * | 2005-03-14 | 2006-10-26 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
KR100671747B1 (ko) * | 2006-01-04 | 2007-01-19 | 삼성전자주식회사 | 개선된 애디티브 레이턴시를 가진 메모리 시스템 및제어방법 |
-
2008
- 2008-01-21 TW TW97102177A patent/TW200933645A/zh unknown
- 2008-06-26 KR KR1020080060690A patent/KR100951605B1/ko active IP Right Grant
- 2008-07-09 JP JP2008179303A patent/JP4699498B2/ja active Active
- 2008-07-23 DE DE200810034346 patent/DE102008034346B4/de active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20090080463A (ko) | 2009-07-24 |
DE102008034346A1 (de) | 2009-07-30 |
JP4699498B2 (ja) | 2011-06-08 |
DE102008034346B4 (de) | 2014-10-16 |
JP2009176398A (ja) | 2009-08-06 |
KR100951605B1 (ko) | 2010-04-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7778099B2 (en) | Semiconductor memory, memory system, and memory access control method | |
US8902693B2 (en) | System and method for per-bit de-skew for datamask in a double data-rate memory device interface | |
US8566516B2 (en) | Refresh management of memory modules | |
US8386722B1 (en) | Stacked DIMM memory interface | |
US20080028137A1 (en) | Method and Apparatus For Refresh Management of Memory Modules | |
US11646092B2 (en) | Shared error check and correct logic for multiple data banks | |
JP4723679B2 (ja) | 半導体記憶装置、メモリシステム、及び半導体記憶装置のリフレッシュ制御方法 | |
US20050078506A1 (en) | Posted precharge and multiple open-page ram architecture | |
EP1879196A1 (en) | Semiconductor memory with data-address multiplexing on the address bus | |
US20150003172A1 (en) | Memory module including buffer chip controlling refresh operation of memory devices | |
JP2012099189A (ja) | 半導体装置 | |
US20140325105A1 (en) | Memory system components for split channel architecture | |
JP2012003795A (ja) | 半導体記憶装置及びメモリコントローラ、並びにこれらを含むデータ処理システム | |
US6859407B1 (en) | Memory with auto refresh to designated banks | |
JP2010541075A (ja) | 高速dram中の信号を処理するためのシステムおよび方法 | |
KR100894252B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 및 그의 동작 제어방법 | |
US7394716B1 (en) | Bank availability indications for memory device and method therefor | |
US7263021B2 (en) | Refresh circuit for use in semiconductor memory device and operation method thereof | |
CN101515472B (zh) | 存取存储器芯片的方法 | |
TW201732601A (zh) | 不增加接腳成本之對高容量類sdram記憶體進行定址的方法、使用其之記憶體裝置及其記憶體模組 | |
TW200933645A (en) | Method for accessing memory chip | |
US20220374168A1 (en) | Memory with memory-initiated command insertion, and associated systems, devices, and methods | |
US20070171735A1 (en) | Latency circuit for semiconductor memories | |
Yang et al. | Random pattern generation for post-silicon validation of DDR3 SDRAM | |
JP2009217800A (ja) | メモリモジュール及びメモリモジュールにアクセスする方法 |