TW200900980A - Integrated circuit cell library for multiple patterning - Google Patents

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TW200900980A TW97107654A TW97107654A TW200900980A TW 200900980 A TW200900980 A TW 200900980A TW 97107654 A TW97107654 A TW 97107654A TW 97107654 A TW97107654 A TW 97107654A TW 200900980 A TW200900980 A TW 200900980A
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Michael C Smayling
Scott T Becker
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Tela Innovations Inc
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200900980 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 於係關於半導體製程中之佈局特徵部的圖形化,尤有關 ;積體电路設計上所使用之多重圖形化元件庫的定義方法。 【先前技術】 將佈導體製造巾’係_光學微影技術在轉體晶片上 圖形化。目前的步進重複式(卿_and_rcpeat)光學微 :二二進掃描重複式(卿-scan_and_repeat)光學微影系統,係 承Γ敵=奈米(nm)(采燈1線)(Hg wine)、施麵(氟化氪準分子 Β·Χ exei腿laser)、與⑼圆(氟化氬準分子雷射)(越 佈月:^ W)之波長作為光源。以歷史觀點來看,使用大於 2S部尺寸,光波長以進行圖形化是可能的。然而,當佈 ΐ 卩2寸繼績縮小但有效發光波長並未相對應地降低時,最 最彳、佈局特徵部尺寸之間異變得太大,以致於無法 \達到特徵部之微影描繪。例如,微影人員極不易採用工% 光光源而將65腿佈局特徵部尺寸圖形化。再者,吾 布局,,部尺寸將由65 nm繼續降低至45 nm、甚至到32 nm。、’ 微影人員使时自LOTd Rayleigh之下列公式赌計 ;半節距)=klVNA ’其中kl為適配變數,大約對應於 數ΐ irrss wmdow);λ為發光波長;而财為微影系統之 valu虽波長λ大於半節距(跡咖11)時,kl之標準值(加^1 e)為大於0 50。因為每個技術節點(把—〇1〇取⑽也)之特徵 以因子G·7降低,所以每個技術節點之、值係穩絲降低, ^而波長λ卻維持不變,且每技術節點步驟之數值孔徑僅以丨^至 子增加。此外,就大於飢93喊值倾而言,則需要一 I况凋糸統(immersionsystems),以水取代空氣來作為最線鏡 :曰圓上的光阻之間的媒介。之後這些浸潤系統被期望以 月、$經濟效益的溶液,以支持高達約135的數值孔徑。 鑒於上面所述,需要有不需更降低發光波長λ與/或更增加數 200900980 ,孔徑ΝΑ,而能夠將奈米級特徵部尺寸圖形化的解決方法。 【發明内容】 之多Ϊ圖S佈2;;用體,設計中所使用 件層次用之佈局。此佈局係 陣$ 用以定義元 法亦包括一操作,用以分割你 /、有/、冋位向。此方 以使在佈局中的此若干佈局特徵部中干次佈局, 此方法更祕-操作,社地製作。 腦可讀媒體上。 于兀忏層人用之此若干次佈局於電 具有按照動態陣列έ士構所a#永作,用以定義兀件,以包括 態陣列結構係由ί开ίϊ㈡形佈局之若干層次。此動 係代表邏輯功能之抽象名'稱部所定義。元件, ^次的積體電路佈局。對元件之二個功能之較 包括一操作,用以分室彳個別綠 次夕個砥擇層夂,此方法 別線形佈局中的此佈i特徵部中m若,俾將在個 :::二- ir法中’丄;::==之設計方法。 電路之網路連線表。此=直於阳片佈局上,以滿足積體 化用之元件庫。此複數個元件擇:j:佈:之多重圖形 線形且共同定位的佈局特層次。此動態陣列結構係由 干次佈局,以使在每個&二義。母個線形佈局係分割成若 母個線祕局”每個佈局特徵部係分配至此 200900980 右干认·佈局之任何—個。八沉 定元件之共同層次内形成定^^之佈局特徵部係在既 以使由共同層次内之既定:v:此稷數個兀件係-同設置, 形,以一連續方式延伸跨^此、成之佈局特徵部的-致圖 之既定次佈局所形成之佈。由跨越此複數個元件 了共同層次用之晶片寬的光致圖形之延伸部分,定義 上。 片見的先罩佈局於電腦可讀取媒體 罩組於半導體晶片之光 區域,以包括第—數目 日遺⑮陣列結構所定義之 局特徵部係具有共同位向:此,-數目之線形佈 第一數目之線形饰局特向:^具有實質的改變。此 第一次佈局。此-或疋ί 一或多個元件之第一部份的 象名稱,且係囊括用以執個’係代表邏輯功能之抽 以包括第二數目之具有按照動態陣列結構加以定義 局特徵部與第一數目^=徵部之區域。此第二數目之線形佈 區域係動態陣列結構所定義之第二光罩: 形佈局特徵部形成定義該—或多個元件之^部$ 之圖及優點’可由隨後之詳細說明、隨附 明之貫施例而更顯清楚明白。 【貫施方式】 全理中=提出數個具體實施例’以使本發明能被完 ”、…、、地,热悉本技藝者可以在全部或部分的這些具體實 200900980 施例之外來實施本發明。在其他情況下,為了避免不必要地混淆 本發明’將不會詳細描述幕所周知的程序操作。 在/又有更降低發光波長(illuminati〇n wavelength)以及沒有更 增加數值孔徑NA(numerical aperture NA)下,利用多重圖形化 (multiple patterning)技術,用以處理奈米級佈局特徵部(nan〇_scaie layout features)。具體而言,於多重圖形化中,既定佈局(given _ layout),分割成二個或多個次佈局(sub4ay〇uts),每一次佈局係利 用光學微影製程(optical lithography process),在晶; 區域上分別地曝光(exposed)。儘管在每一個次佈局中的個別特徵 f 部^寸(fbatUre sizes)可以是小小的,例如奈米刻度(nano-scale), 但是在既定次佈局中的相鄰佈局特徵部之間的空間(spadng),係 足夠大以賦予這些小小的佈局特徵部解析度。 ‘應理解的是,因為多重圖形化之二維變化的本質,例如具有 售曲及分叉之佈局特徵部,多重圖形化在習知的隨機邏輯圖形 (mndomlogicpattems)與相關之元件庫(celnibraries)中,能是非常 困難的。此外,關於二維變化圖形(^〇彻咖1〇皿办曹_ patterns)之分割存有複雜問題,例如相移衝 conflicts)。然而,使用按照動態陣列結構(dynamicarray archltectoe)所定義之元縣,能將佈局㈣的侧成彡重次佈局 以用於微影曝光(lithographic exposure)。 於^所提及之元件,係代表邏輯功能(1〇咖 function)之 抽象名稱(abstraction) ’並囊括用以執行此邏輯功能之較低層次 ίΓΓ1!"1)的積體電路佈局。應理解岐,既定之邏輯功能可以 夕兀件變化(multiple cell variati〇ns)來代表,其中該多重元件變 化可以特徵部尺寸、性能以及製程補償技術(pcT)㈣㈣ c^r-nitrinique)處理加以區分。例如,既定邏輯功能用之 兀件又化’係可以错由功率消耗(p〇wer c〇nsu—㈣、訊號 ΐΓί、辦祕職"恤㈣、⑼面積、0PC、 RET料加。科1重元件變化可#由於此所描述之次 200900980 佈局序列組合(sub-layout sequence combination)加以區分。也應明 瞭的是,每個元件的描述係包括在晶片之每個層次中的元件用之 佈局,此為執行元件之邏輯功能所需要的.。具體而言,元件之描 述係包括,由基板層次(substrate level)往上延伸至特定之内連線 層次(interconnect level)的每一晶片層次中的元件佈局。 " 間 動態陣列結構係代表半導體元件設計範例paradigm),其中 線形(linear-shaped)佈局特徵部係沿著在元件之若干層次中的等f 隔虛擬柵欄(reguiar-spaced virtual grate)(或等間隔虛擬網 «(regular-spaced virtual grid)所定義,例如在半導體晶片之若 拇攔係由—組等距 '平行而延伸跨越蚊晶片區域 ^的既疋層次之虛線所絲。虛擬網栅係由等距、平行 ΐίίϊ距、平行的第二組虛線所定義,第—組虛線係以第一方 既i晶片區域中的既定層次’第二組虛線係以第二方 跨越既疋晶片區域中的既定層次’其中,第二方向係 於—實施例巾,既定層次之虛__定位以鱼相 虛擬柵攔大致上垂直。然而,於其他實施例中,既^目 ^ 祕粒為,不是餘,就是平讀層次之虛i 隹貫中,既定層次之每個線形佈局特徵部,係大致上 既疋層次相關聯的虛擬柵攔之虛線上。當線形佈局特徵 與ΐ擬柵攔之特定線間賴位偏差係^夠小二期i 實ΐ準:部之中心線與虛擬柵攔之細^ 上 特彳造程序窗,係由產出可接受的佈局 義。於一實施=中,距(f〇cus)與曝光之微影領域所定 範圍(cWteristic dim°en^^真度係由佈局特徵部之特性 enS1〇n)所疋義。又,應理解的是,既定之 t則將線_觸徵部視為纽上針於虛^歡特 200900980 線形佈局特徵部之中心線被定義成:在沿著 ® f * t -(〇r〇ss-s;i^ , 線,其中在沿著其長度之任何既定點上 0^1 ce咖岣之虛 質量中心’為其在該既定點上之垂直橫截面區之截面 於另一貫施例中,既定層次中的某些佑=里中〜。 中在與既定層次相關聯的虛擬栅攔之^線丄二^不集 -中,線形佈局特徵部係與虛擬栅欄之虛線贿;;而,於此貫施例 於既;層次中的其他線形佈局特徵部此:行 於既疋層次之佈局中的各種線形佈局特徵g的疋義 延伸跨越該既定層次。 破疋位成以平行方式 又,於動怨陣列結構中,蔣春— 其長度之方向上缺乏實質上的改變。么定義成在沿 缺乏實質上的改變,係考廣佈局#被部之方向上 拇搁之線所定義。於-實^中沿著相關的虛擬 度之50%時,則在線形佈局特之名義上的寬 於另-實施例中,當由線形佈局特°存有貫質上的改變。 佈局特徵部上的任何第二位置的線何第-位置至線形 超i§在第-位置的線形佈局特徵徵部之寬度,係改變 _部之方向上存有實質上的改變卩。時’則在線形佈局 ,結構特別地避免使用非線形 瞭的是,動態陣 #係在相關層次之平面中包括^非線形佈制寺徵 於動態陣列結構令,可容個言曲。 被部之垂直的橫截面形狀t的以=(,fabnCated)線形佈局特 ,形狀t的變化可由製造觀 乾圍,只要在垂直的橫截 或其鄰近區域佈局特徵部 I亚且對既定線形佈局特徵部 ,橫截面形狀係對應至盘;^衝擊。就這-點而言,垂 :的製成線形佈局特徵部之切面。^敌部之中心線垂直之平面 佈局特徵部長度之垂直的ί戴刀二==的是,在沿著製成線形 請Τ的德,係能在沿著其長度上 10 200900980 ^對?到-寬度變化程度。因此,動態陣列結構也提供 線形佈局紐部長度之寬度、變化程度 ^二成 由製造觀點預測’並且對線形佈局特徵部以 部的製造無不利衝擊。U近£域佈局特徵 次中的不同線形佈局特徵部,係能設計以I有
22==。又,沿著既定虛擬栅欄之相鄰虛線所ϊί ^右干線轉局部的寬度,魏 U =的間隙,彼,隔。具體而言,沿著虛擬拇)棚之共同線上均 =n ^所絲讀形佈局特徵部之相鄰末 間隙,係可定義以延伸-大致上均勻的距m的;^的末端 :線 最小’= ϊ線=ί 逆;目==有目 佈局特徵;;佔於斤以虹 柵攔之某些線係由至少一線形佈局疋義以使其虛擬 係能空著的。又,既定層次中==二人相鄰的虛擬栅櫊線 的虛擬柵攔線,係可根據跨越既定占據的對空著 義。 心增—人之圖形或重複圖形而定 此外,在動態陣列結構之内, 義連接在各種層次t的若干線接,部(con她)係定 伸局4寸欲部,俾能形成若干功能 200900980 性的電子元件,例如,電晶 用之佈局特徵部係能對 ^電^路。接觸孔與接觸部 格,係與接觸孔與接觸^個虛擬柵網之規 格的函數。因此,在各種 “:^關的虛擬柵攔之規 了電子電路之功能性元件。“If=_佈局特徵部形成 佈局特徵部姆於電子電路 種不同層次内的線形 霑,定義成:勵高^測㉝:之 置所定義,以使元曰上的線形佈局特徵部之設 ^越元件之橫貫方向上大^彼此s佈以在 圖1係根據本發明之一實施例、強貝貝、?、交。 義之元件⑼之層次用的;態=構所定 徵部105係沿著與元件101之層】s j。右干線形佈局特 置。虛擬栅攔係由代表相鄰虛^⑽心=柵攔之虛線肋設 為具有寬* 1〇9。然而,應理解的是,於^^ 105係?義 =次巾的她_局嫌卩,射之 徵部=日iiri〇f考慮^擬拇棚之間隔107、線形佈局特 =;合,以使元# 1〇1之層次之佈局係在既定之ΪΪ, ,相製造能力範圍之夕卜因此,為使元件ωι之層 乍,能將佈局分割成若干次佈局,以使佈 2衣 特徵部他之每-個係分配至此之局每 12 200900980 立導體製造程序的製造能力範_ ,料獨 形佈佈局,係包含按照動態_結構所定義之線 的次備ί ’係触橫向分配柳之佈局舰部时割成不同 -欠佈月解的是,橫向分配相鄰之佈局特徵部以成不同之 局的ί會=用於任何數目之次佈局。例如,於採用二個次佈 ^的;隔^ (加祕Patteming)例子中,元件之層次用之佈局 倾At佈局特徵部(Μ"7 〇恤lay〇Ut featUre)係分配至一共同 別,係irrr=-suWay〇ui)。於此例中,每隔—佈局特徵部之識 垂直方二件之佈局特徵部橫貫方向(⑽⑽1 dkection)的 吹你L#i據本發明之—實關,顯示®1之佈局分割成二個 圖。因而’圖2A係—雙重圖形化的例子。圖2A中 裳-It佈局(fkSt SUb_lay〇Ut)包含佈局特徵部1〇5Α。圖2A中的 佈局(second sub_lay〇ut)包含佈局特徵部l〇5B。因此 二刀J)使側向相鄰佈局特徵部係分配至不同的次佈局。呈體而 吕,母隔一侧向相鄰佈局特徵部係分配至共同次佈局。此^ , 理解的是,衫錄職局舰部以—賴準方式(eQ_ai职& -i^anner)没置於一共同虛擬栅攔線(c〇mm〇n ^触丨抑货 上 = 擬栅攔之虛線1G3,每—個多重線形佈局特徵部係 圖2Β係顯示如圖2Α之分割佈局_所定義的第一次佈局之示 意圖。圖2C係顯示如圖2A之分割佈財所定義的第二次傅局^ 不意圖。應理解的是,圖2B與圖2C之每一個第一與第二次佈 於晶片上分職製作。於圖_補局中,相鄰之線 = 部105A係分隔一距離hi。同樣地,圖2C的次佈局中,相_ ^ 線形佈局特徵部105B也分隔此距離m。假如距離】 = 大到使每一個第一與第二次佈局,係在既定之半導體製造程序的 13 200900980 製造能力範m内而可獨立 的。然而,假如距離麼知用二個次佈局是適當 地製作,則圖2A之ί局到使第一與第二次佈局獨立 中的第—次佈局包括佈局局之示意圖。圖犯 括佈局特徵部105B。圖2〇中 。圖2D中的第二次佈局包 咖。應瞭解的是,每 tj-人 布局包括佈局特徵部 徵部間之距離m,係大於圖的相鄰佈局特 每-個呈有佈狀iff料徵部分隔距離ill的二個次佈局, 在既定之轉體製造料齡 ϋ目:佈局’應更可能落 佈局特徵部尺^ 佈局’是有可能處理㈣ve)較小的 局,=解= 基t上係能分割成任何數目的次佈 在各種實施例中,亓杜夕秤中句糸刀別地‘作。又, 佈局特徵部位置、或其組合,佈局特徵部功能、 局。於-實施例中,分擔共同電性;^干♦ 欠佈 之佈局特徵部,能分配“b e:mGneleetriealfUnc㈣ (active . ,、Π — 人佈局。例如,絲區域接觸部 局,而閘ZL^Gntaets)狀佈局特徵部能制地分配至一次佈 ^J ϊί fe C〇nlacts)ffi 部,俜^墟於:^例中’接觸孔㈣)用之佈局特徵 接觸ΪΐΪίί 父替的行與/或列而分配至次佈局,其中 觸佈局知徵部係設置於此虛擬網柵上。 - 号;局分割成多重次佈局’因為每—次佈局將在微 光,故每—次佈局能以製程補償技術_cess 程^rrontechnique)(pcT)分別處理。如同於此所使用的,製 2(PCTi’ *質上係有關於積體電路(IC)佈局的任何一種 〜i ’以達改善或雜由1C佈局所絲之舰部能成功製 14 200900980 作的目的。各種PCTs的例子包括光學鄰近修正術(〇ptical proximity correctionXOPQ、解析度增強技術(res〇luti〇n enh露emenUechniquesXRET)、蝕刻接近補償法(etchpr〇xilnity compensation)、孔隙填入補償法(gapflllc〇mpensati〇n)(例如使用 介電質或金屬以填補孔隙)、化學機械研磨(CMp)補償法(chmical -meehanieal Planarization compensation)等這些中。應理解的是,與 —此所使用之pct處理用語,係指關於任何用以改善或確保由ic佈、 局所定義^寺徵部能成功製造的1(:佈局處理之既存或未來形式。 圖3係顯示根據本發明之一實施例,顯示圖2(::之次佈局的 f pct處理樣式之示意圖。若干0PC形狀117係設置於線形佈局 徵部105B之各種末端,以作為次佈局之pcT處理的一部份。於既 定之捕局上進行PCT處理時,微影緩衝區域(馳。 =〇ηχ以下簡稱『微影緩衝』(脑Q_buffer))ll9係環繞著元件皿 擬元件1〇1之層次用之次佈局係可設置並製作於其 ί二般而言,與元件層次用之既定次佈局有關的微 Γ為 干特徵部,此特徵部係践模擬在晶片 域。,件層次用之次佈局將設置於其中的鄰近區 之微影緩衝的尺寸,係由自元件開始的微影缓 向夕乾1所定義。例如,圖3中,微影緩衝119係自元件101 。既U件層次之微影緩衝尺寸,係設定以 上對在既定元件層次内的次佈局之製作具有微影 於一實施例中,按照動態陣列纟士墦所宝美 擬網柵$伸ί元件層次中所使用的虛擬柵攔/虛 申。I5刀以絲據凡件層:欠之次佈局的延伸部分所設置 15 200900980 的右干線形特徵部。此外,於動態陣 pct修正可线队轉姐樞的是, opc形狀與那些於圖3中所設置之 對分割,mensi〇naic〇⑽ —序列。次佈局序列^係邊^說明:特定的次佈局 -feature)至特定次佈局以及八配·* 士布局特徵部(edge lay〇ut 關於自邊緣佈局特^部所^伸跨^目乃=徵部來定義,係有 f至特定次佈局,=二緣佈局特徵部 佈局之數目。 數目係等於佈局分割成次 三個=可:二本=實,,示-佈局分割成 4C的每-圖中,次佈局號碼的;==於圖4A至 圖4A係顯示第—次佈局序並 心二::-。因此’ 緣佈局特徵部絲用聽分配左邊 Β,且次佈局的緣S t 4G1係分配至次佈局 固定排序(A-B〇俜採甲其$ γ糸刀配至次佈局C,且次佈局的 局c的侧向相基於分配左邊緣佈局特卿至次佈 發明之-實施例,顯示σ ,圖5錄根據本 (metal 2 Ievei)佈局之二501之間極廣次佈局以及金屬2層次 部503與全屬2 # 心圖。為易於圖不,將閘極層次佈局特徵 屬2料佈局特徵部奶係在其跨航細橫g 16 200900980 向上予以縮短,以避免彼此混淆。麸 層次特徵部503與每個金屬2層次特 ' 解的是’每個閘極 5〇卜如箭f虎507所示。 4寸徵β 5仍,係延伸跨越元件 於本例中,閘極層次佈局傜分 屬2層次佈局係分割成二個次佈局佈局。同樣地,金 • 。 及503R SOU久佈局序列,例如503A-503B以 乃,所以,因為金屬2層次佈局係分割成二個次佈 B 5〇"f ^ ^ <«σ505Α^505Βα 及505Β-505Α。因此,在考慮了跨越元件5 圖5Β係顯示元件變形體5〇1Α,其 ^ 的次佈局序列組合,係由閘極層次5__=^層次之層-人 圖⑽、顯示^件變形體5C)1B,其^用以跨越 屬^層次列組合:係由閑極層次5〇3B_5〇3A與金 , 所疋義。圖5D係顯示元件變形體501C,其中 503^0=^之層次的次佈局序列組合,係由閘極層次 蝴^ ^層次遞舰所絲。圖5雖顯示元件變形 -以跨越兀件5Q1之層次的次佈局序列組合,係由 閘極層二人曰503^·503Α與金屬2層次505B-505A所定義。 ' 目為晶片寬的光罩(chiP-wide mask)係用讀作元件之集合體 ^ong^i^ation) ’所以既定次佈局圖形應延伸跨越元件邊界。因 ,佈局在設置並安排路線時,於其每個層次中具有 佈ί序列之兀件變形體’應緊鄰另—個元件設置,以使既 疋b ••人之-人佈局圖形延伸跨越元件邊界。例如,圖汗為一示意 17 200900980 ,次變f體細緊鄰元件變形體驗設置,以使閘極 使閉二次聊元件變形體觀設置,以 ㈣Hbmry)。透重謂局的分#卜魏建置成元件庫 —一變形體能多ϊίί局。又’既定元件之每 設置於晶片上,以S:片Π牛f選擇適當的元件變形體而 晶片。於一實施例中佈局^形係維持跨越 (r_r),係定義為懂得如分^ ::二:?排路線的路由器 而能夠進行元署,、,J 曰日片之母個層次的各種佈局,從 件邊界。 °又1吏既定層次之次佈局對準並延伸跨越元 例中,既定層次之晶片寬的佈局分#i,_由在曰 可片=陣列結構之各種元件的定義, ;片4的次佈局度晶 送轉罩 同GSDn(圖形資料系统^nfaClllty)。佈局資料播案能以如 Interchange Standard) ^ 理解的資料檔案格式:案、或疋任何他類能被光罩製作場 ;另以例中’多重圖形化能用以執行線切技術(line 18 200900980 將挪鶴陣赌構所定義之佈局分段。圖 非乂一員不根據本發明一實施例之元件601之声次的 係定義為連續地延伸妗趫佑』刀^佈局中,母個線形佈局特徵部 -能被分割成若干越括跨越元件邊界。非分段佈局 -二個次佈局,分別標示為符=分,局係分割成 -示意圖,顯示,標示以符號A。圖_ 以符號B。每-個第—盘第f =二非分段次佈局,標示 相同層次上。 一弟—非刀1又次佈局係分別製作於晶片的 局特徵部609-1與609_2,用以/局^不思圖。圖6D之佈局包括佈 特徵部609-3至__6,係^二”1邊界作線切割。又,佈局 奶之怖局係定義為㈣如n細内的線特徵部分割。圖 佈局所製作的線形特徵2圖=之第一與第二非分段次 的電連接性。圖6E係顯示圖61^^ f具有邏輯功能所必需 次之示意圖。 之佈局、、I線切割後的元件601之層 術所產生1以製作半導至6E所列舉之線切技 組光罩包括第—光罩(fet mask)/#^^(C〇1_〇n 】eVd)。這 f之區域,係用以包含定義為連“二二照動態陣列結構所定 ^一數目之線形佈局特徵部:並‘ 第-光罩之區域的 數目之線形佈:特徵::具有共同位向。又,每 上沒有實質岐變。第―數 7鱗-縣的横貫方向 局,其t第-次饰局定佈钟徵部形成第一次佈 這組光罩也包括1 元件的第-部份。 弟二光罩,係具有按照動態陣列結構所定 19 第二‘ ^之=定義為連續地延伸妗越 ;,第-數目之線:工:數目之線形体局特徵部係3 ^按照_陣列結構所罩的横貫方向上沒有 形佈局特徵部與第—數H罩之區域,從㈣致第二H绫 =特徵部形成第形交叉。第二== 牛的第—部分。 一中弟一= 人佈局定義一或多個元 這組光罩也包括第三 形佈特徵部局之區域。t ^具有定麵包括第三數目之線 域對準時,第三數#之區域與第一及第二光罩之區 目之線形佈局特徵部二者部係定位為與第-及第二數 份,以便分割第-及第二數形佈局特徵部之-部 多個元件中之每-個能具有邏輯功妒所3徵部之’賦予此一或 的是,上述的光罩計數,所的電雜性。應理解 ,到光罩區別之目的,二i企圖s 雙^形麵局能制自我對準 仍之切割佈局,如切罩時。於此實施例中,圖 之非分俨祙旯 :罩此用。切副利用SADP製程所形成 於此每二丨1 ’ 1產生如圖犯所示之佈局。又,應瞭解的是, ^〇^t DP製程’能擴展成自我對準四倍圖形化 (从(^)$^ ’以及更高倍的自細_形化細癌哪⑽。 將gfi貫施例巾,如同於此所描述之多細形化,係藉由分別 =既疋層次之不同的次佈局裝載入步進機來實施。於此實施例 不同次佈局之佈局特徵部之間的對準應該要準確地執行,以 20 200900980 ,保,定層:欠之佈局特徵部之間具有適#關隔。㈣一實施例 ^夕重^形化係细雙重曝光技術(dQuble expQsure咏 Λ貫施,八中多重次佈局係利用晶片對掃描器光柱(scanner 次對準恤咖aHgnment)而曝光至晶片上。於 ㈣it 1瞭解的是’#製作W之既定層次時,動態陣列结 間之垂直方向上的對準,在沿著線形佈m Ϊίίίίί 1對準係可以更隨意(贿e rdaxed)。,仏 朗局特徵部的平行結構扣祕㈣使既定° 『人之2職獅伴可以更容易定義。 以^ 發明之一實施例’顯示在積體電路設計中所用 態陣列結構所定如包含若干其7局^照動 之右干:人佈局的操# 703,以使佈 t層-人用 個係分配至轩次佈局之任何—個,^佈部之每-地製作。 从使母—次佈局係可獨立 於-實施例t,在進行操作7Q3o#m 之佈局t的佈局特徵部之尺寸與相鄰佈 之層次用 既定半導體製造程序的製作能力範°寺;1間隔,係在 703之分割後,在元件之層次狀每固—之欠^上而,在進行操作 部間之間隔’係在既‘半導 於一實施例中’在元件之層次用之饰局中的側向相鄰佈局特 21 200900980 徵部,係分配至不同的次佈局。於— 性功能之佈局特徵部,係分 f。於-貫施例中,主動區域接觸部用之佈局 f-次佈局’且間極接觸部用之佈局特徵部係共St,
根據跨越元狀佈局特徵部橫貫方向之錢方H制’係 1匕方法更包括操作705 ’用以儲存元件 局 7 電腦可讀—_ rcadable medlum)JL πT干層二人’操作701至取緖複進行。 於二細例中,此方法亦能包括一操作, ίΐίί?ΐ ? ==;;==排序之侧向相鄰佈局特徵部(係有關於 it跨越元件之層次的方向),以定義元件之層 右干變形體’其中元件之每個變形體係藉由用以ί 雕火之次佈局序列的唯一組合所定義。元件之每一變形 肢月匕被儲存於電腦可讀媒體之元件庫中。 义形 每rlU此ΐ法之—實施例中’ PCT處理能在每一次佈局上 ΐ局之PCT處理樣式。每—次佈局之PCT處理 >ϊϊ?ΐΐ於,腦可讀媒體之元件庫中。於此實施例中,pct :Α μ、相米,義¥繞既定次佈局之微影缓衝區域以實施於既定次 &件之⑼上時’微影緩衝區域係絲為包括模擬環 %兀件之/既疋次佈局之鄰近區域的若干特徵部。 定A勺人犀方法的流程圖之示意圖。此方法包括用以 紝嫌右干層次之元件的操作8〇1,此層次具有按照動態陣列 、、'°疋義之個別線形佈局。此方法也包括操作803,其中,對 22 200900980 j之-碱彡倾擇層次(seleet levels),分湘魏形佈局以 成右干次佈局’以使在個概職局巾的若干佈局特徵部中之 二個^被雜至右干次佈局之任—個,並以使每—次佈局可獨立 二方ϊίί括操作805,用以儲存元件之定義於電腦 -於一實施例中,圖8之方法更包括用以產生元件之若干蠻艰 體的操作。元件之每個變形_藉由用以跨 -組合所定義。元件之既定層次用之 =,k籍由分配7L件之既定層:欠之邊緣佈局特徵部至特定次佈 由分配依據it件之既定層次用之轩次佈局 佈局特徵部(係關於自邊緣佈局特徵部延伸跨越元i =疋層-人的方向)以定義。於此實施例中,元件之 儲存於電腦可讀媒體之元件庫中。 又形體係 次備=樣貫施例中’圖8之方法能包括利用PCT處理每-中,^二佑片母二次f局之PCT處理樣式之操作。於此實施例 中。此外—人ί ί處理樣式係儲存於電腦可讀媒體之元件庫 線半導體製造程序的製作能力‘之 干次忒之n二I定s=8G3之分割線形佈局後,若 内。 係在既疋+導體製造程序的製作能力範圍之 電路γλ根^本發明之一實施例顯示用以設計生產用之卿 ΐΐίΐί 示意圖。此方法包括操細,用以二; (_st)。於$作90^中佈局^,以滿足積體電路之網路連線表 形化用之元元⑽選擇自晶片佈局之多重圖 使在母個線形佈局中的每個佈局特徵部係 23 200900980 分配至若干次_局之任—個 徵部在既定元件之共同層次^ 至既定次佈局之佈局特 pattern),以一連婧方彳μ丨〜双固 個元件之既定次佈局^個元件。再者’由跨越複數 分,定義了共同層i用部之一致圖形之延伸部 -次佈局係定義在共= 的—部份。此外,每 Πϋΐί,係以共解的方法獨立地製作在共同層 又,複數個元件係—同心J;「致圖形(co脇tentPattem)。 内之既定次佈局所形成“層次 士 °此方法更包括操作903 ’用存 曰^/' ^ ^ 罩佈局於電腦可讀媒體上。 層人狀4見的光 T -^^^^(computer readable code)^ 上 細係任何能儲她1系統能讀 手勺二二i虚f f兀件付她St〇rage㈣⑵)。電腦可讀媒體之例 子包括硬式磁碟機㈣drives)、網路附加儲存設備(netw〇rk att=dStomge)(NAS)、唯讀記憶體(read.ly mem〇ry)、隨機存 取記憶體(random-access memory)、唯讀型光碟機(CD R〇Ms)、可 錄式光碟(CD-Rs)、可重寫式光碟(CD_RWs)、磁帶(magnetic tapes)、以及光學式與非光學式資料儲存元件。電腦可讀媒體能 亦分布於網路耦合電腦系統(network c〇upled ec)mputef systemp, 以便於以分散式方式(distributed fashion)儲存及執行電腦可讀碼。 此外,能開發用以在電腦可讀媒體上執行電腦可讀碼的圖形使用 者界面(graphical user interface)(GTJI),以提供實施本發明之任何 實施例的使用者介面。 ’ 雖然本發明已就數個實施例敘述,但應瞭解的是,熟知本技 藝者在閱讀前面的說明書與研究附圖之後,當可對其實施各種修 改、添加、排列、以及等效設計。因此,意思是本發明係包括落 入本發明之真諦及範圍内的所有上述之修改、添加、排列、以及 等效設計。 24 200900980 【圖式簡單說明】 圖^艮據本發明之一實施利,顯示按照動態陣列結構所 義之兀件之層次用的例示式佈局之示意圖; 顯示如圖2A之分割佈局中 顯示如圖2A之分割佈局中 圖2A係根據本發明之一實施例,顯 次佈局之示意圖; d成—個 圖2B係根據本發明之一實施例 所定義之第一次佈局之示意圖; 圖2C係根據本發明之一實施例 所疋義的苐—次佈局之示意圖; / 三個:ΐϊίίίί«個之—實施例,顯示㈣之佈局分割成 ㈣之—實剩,顯捐2C之次佈局的 圖4A至4C ’係根據本發明之一實 三個次佈局之可能的次佈局序列之示意圖J;,'、、員不將佈局分副成 ,5A係根據本發明之—實施例,顯示 及金屬2層次佈局之示意圖; 午之閘極層•人佈局以 圖5B至5E係根據本發明之一奋姑办丨θ _ 同變形體之示意圖; 貝鈿例,頒示圖5Α之元件的不 圖5F至5G係根據本翻之—實 脰係彼此緊鄰設置,以使多 :思圖,顯不元件變形 界; 董層乂之-人佈局圖形延伸跨越元件邊 圓6Α係根據本發明之—實 _ 局之示意圖; 、",不711件之層次的非分没佈 一圖6Β係根據本發明之一實施例 立 示為符號Α的具有線形佈局特 不,’顯示於目6Α中標 一圖6C係根據本發明之—實於例弟非分段次佈局; 示為符號β的具有線形佈局^意®,顯示於圖6At標 圖紅> 係根據本發明之一每;1弟一非分段次佈局; _例,顯示用以切割如同圖紐及 25 200900980 =圖cm非分段次佈局所製作的線形·部之饰局之示 的元例,齡削把柄鱗切割後 圖7係根據本發明之—實施 以定義多重圖形化元件 ^不在積體電路設計中所用 圖_根據本發明之—實施1圖之示意圖; 叫/叩低佩伞般、切之—實初 電路之方法的流程圖之示意圖 【主要元件符號說明】 101 元件 103 虛擬栅欄之虛線 105 線形佈局特徵部 105 A 、105B、105C次佈局特 107 間隔 109 寬度 111 距離 115 距離 117 OPC形狀 119 微影緩衝區域 121 邊界 401 左邊緣佈局特徵部 501 元件 501A 、501B、501C、501D 503 閘極層次佈局特徵部 503A 、503B次佈局 505 金屬2層次佈局特徵 505A 、505B次佈局 重圖^用之元件庫之方法的流程圖Ϊ;用^造晶片佈局之多 圖9係根攄太發昍今—$ _不思圖;以及 ’顯示用以設計製造用之積體 26 200900980 507 箭號 601 元件 602 元件邊界 603 元件邊界 605 元件邊界 607 元件邊界 609-1〜609-6 佈局特徵部 701 操作 703 操作 705 操作 801 操作 803 操作 805 操作 901 操作 903 操作 A、 B、C 次佈局

Claims (1)

  1. 200900980 十、申請專利範圍: ^一種多重圖形化元件佈局之定義方法,該多重圖形化 被使用於積體電路設計中,該方法包括: 佈局 如用之佈局’其中該佈局係按照動態陣列, 線形且具有朗位向; 予种制特徵部為 俾使母次佈局可獨立地加以|y达. 上 將該元件之該層次用之該等若干次佈局儲存於電腦可讀媒體 2 中,在該树找㈣局之絲方法,其 相鄰佈局特徵部佈局特徵部之尺寸及 能力之外,似 i#、在*ί轉體製造程序的製造 部之ί!寸:欠佈局中,該等佈局特徵 造程序的該製造能力ϋ。,#'在該既定半導體製 3.如申請專利範圍第丨項之 、, 2 ίίΐ該層次用之每-次佈局係:晶/之之::區方二/別 件佈局之定義方法,其 該元件之若干層対加=哪权將_佈弱徵部設置於 該等線形佈局特徵部的位向在該元件之—既定層次中的 上彼此平行,且俾使每一跨越該元件之橫貫方向上大致 早使母柄佈局特徵部蚊誠在麵於其跨 28 200900980 越該元件之橫貫方向上不具有實f上的改變。 請專利範圍第1項之多重_化元件佈局之定義方本 =====名稱,並職 之m件佈局之定義方法,其 分配至不_次佈局。θ_用之該佈局中的側向相鄰佈局特徵部 7.如申請專利範圍幻項之多朗形 :局該佈局力:之 8中如 將,接點用之佈局特徵部次佈局’且 9中如圖;^元件佈局之㈣方法,其 共同次佈局,其中每隔—佈佈局特徵部分配至-件之該佈局特徵部之橫貫方向相垂直的來:照與跨越該元 10 包括如申料·圍第1狀多重_化树佈局之定 重複對於該元件之若干層次 義方法,更 之該定義、該分割與該儲存步 η·如申請專利範圍第1項之多重圖 形化元件佈局之定義方法,更 29 200900980 包括: 疋義該元件之該層次用之次佈局序列,直 成:將該元件之該層次之邊緣佈局特徵部分配 以及按照該元件之該層次甩之該若干次佈 人,局, 延伸跨越該it件之該層次而遠離該邊緣佈局特向目對於 地分配相鄰佈局特徵部,其中該元件之該層姻 ^佈^ 列之數目等於該元狀該層如之該讀局之數目Y 佈局序 ί包=請專利範圍第1項的之多重圖形化元件佈局之定義方法, 產生該元件之若干變形體,其中該元件之每一 兹 及 ,越該元件之層摘施加敝佈局相之唯—組合加以定義 儲存在元件庫中之該元件之每一變形體於電腦可讀媒體上。 更 13.如申請專利範圍第丨項之多重圖形化元件佈局之定義方法 包括: 〆 於每一次佈局上執行製程補償技術(PCT)處理,以 次佈局之:PCT處理樣式;以及 電腦可讀 將元件庫中之每一次佈局之該PCT處理樣式儲存於 媒體上。 ' 14. 如申請專利範圍第13項之多重圖形化元件佈局之定義方法, 其中係藉由在一既定次佈局附近定義微影緩衝區域而在該既定次 佈局上執行該PCT處理,其中將該微影緩衝區域定義為包括若干 特徵部,當該若干特徵部被設置於一晶片上時,其係模擬該元件 附近之該既定次佈局之鄰近區域。 15. —種晶片佈局之多重圖形化用之元件庫的產生方法,包括: 30 200900980 疋義一包括若干層次 加以定義之個別線形佈局,;士具有按照動態陣列結構 名稱,並係囊括用以執行言亥邏輯:能: 功能之抽象 局; 科刀此之啟低層次的積體電路佈 對該元件之一或多個選擇声 :=若:;佈局中之任何-個,並俾: 之每一個 次佈局可獨立地 中,之定義儲存於電腦可讀媒體上,立 專第15項的晶片佈局之多重圖形化用之元件庫 以疋義.刀配該元件之該既定層次之邊緣佈局特徵部至一特A 佈局,以及按照該元狀該蚊層韻之該轩次佈局的固定ς 序’相對魏伸跨越該元件之舰定層次而遠離該邊緣佈局特徵 部之方向,侧向地分配相鄰佈局特徵部,其中該元件之該既定層 -人用之可能次佈局序列之數目,係等於該元件之該既定層次所分 割成的次佈局之數目;以及 將在該元件庫中之該件之每一變形體儲存於該電腦可讀媒體 產生該元件之若干變形體,其中該元件之每一 跨越該7G件之該選擇層:欠祕加的次佈局序狀唯—-人加^ 義,其中該元件之-既定層次狀次佈局相储由下^方^ Π.如申請專利範圍第15項的晶片佈局之多重圖形化用之元件庫 之產生方法,更包括: 31 200900980 次佈償瓣CT)處理,以產生每一 腦可件庫中之每-次佈局之該PCT處理樣式儲存於該電 範圍之内。 们係在麵定半導體製造程序之該製造能力 19_ -種製造用之積體電路之設計方法, 路連S=i)件—起設置於晶片佈局上,以滿足積體電路之網 件庫其中該複數個元件係選擇自該晶片佈局之多重圖形化用之元 結構触括具有按照-動態陣列 形且具有她崎^ 結構係由線 局中,鄉每一線形佈 次佈局之佈局特徵部:==同層, 延伸跨越該複數個元件,以及 致圖形,以一連續方式 部的件巧,=佈局所形成之佈局特徵 佈局的一部份;以及 夂我ίδΙ,、同層次用之晶片寬光罩 200900980 上 將該共同層次狀該晶丨寬光轉局儲存於 電腦可讀媒: 20. 如申請專利範圍第19項的 ,_每—線形佈局中的每隔-佈局特徵^祕,計方法,其 局特徵部係相對於與跨越該’ •狀k貝方向相垂直而延伸的方向加以亥佈局特徵 21. 如申請專利範圍第19 r 令每一次佈局係定義在該共的同 =大用用之積^路之設計方法,其 製作在該共同層次上。’罩柄細—共卿的方法而獨立地 體晶片之共同層次之光罩組,包括. U線形佈局特徵部的區以包括第一數 具有共同位向’且其中 & 數目之線形佈局特徵 個,在跨越該第—光=之線形佈局特徵部中之每— ^數目之線形佈局特徵實質的改變,其中該 邏輯功能之抽象名稱,且;或多個元件中之每-個 低層j積體電路佈局,·以及(、*括用以執行該邏輯功能之較 數目·^綠有知' 如或動態陣列έ士採/1 部係^=:的區域,其“第第二 向=具有實質的改變’其轉二輕 先罩之該區域,其中:二亥:糊結構所定第弟 目之線形佈局特徵部形 33 200900980 局 ,且其t該苐二次佈局定__或多個元件之第二部分。 時’該第二數目 徵部交叉。 之線形佈局特徵部係與該第一數$區域 曰艾線形佈局特 咖侧啸彻^之共同層次之 ;域光㈣局特徵部的 =佈,部二者大致=之=該第—及第二數j ^㈣撕而賦予 2先5組7,tat I24糊咖,日>^ &工马ο 十 圖式 34
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