TW200540861A - Optical information recording medium and method for manufacturing the same - Google Patents

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TW200540861A
TW200540861A TW094110273A TW94110273A TW200540861A TW 200540861 A TW200540861 A TW 200540861A TW 094110273 A TW094110273 A TW 094110273A TW 94110273 A TW94110273 A TW 94110273A TW 200540861 A TW200540861 A TW 200540861A
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Taiwan
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layer
optical information
recording medium
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information recording
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Application number
TW094110273A
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English (en)
Inventor
Kazuhiro Hayashi
Keiji Nishikiori
Sou Miyata
Original Assignee
Matsushita Electric Ind Co Ltd
Lintec Corp
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Description

200540861 九、發明說明： 【發明所屬戈^技術領域】 技術領域 本發明係有關於一種從用以進行記錄及再生之光的入 5射側開始，依序由透明保護層、信號記錄層、支撐基板構 成，且透明保護層的厚度為10〜200微米之光資訊記錄媒體 以及其製造方法。 【先前标]3 背景技術 ίο 作為高密度光資訊記錄媒體，已揭示有使用藍紫色雷 射光源（波長400nm前後)及高NA之透鏡，且在厚度〇 lmm& 薄型記錄再生側上具有透明保護層之光資訊記錄媒體。該 高密度光資訊記錄媒體係構成為在厚的信號基板表面上形 成信號的引導溝槽或凹坑，且於其上形成可改寫的記錄多 15層膜或金屬膜，並且再於其上形成透明保護層。而該構造 之光資訊記錄媒體的透明保護層之製作方法有以下2種方 法。 (A) 在記錄多層膜或金屬膜成膜於信號的引導溝槽戒 1HJ坑上之信號基板表面，用黏著劑黏著透明膜，以作成透 20明膜與黏著劑之合計厚度0.lmm的透明保護層（參照如專利 文獻1)。 (B) 在記錄多層膜或金屬膜成膜於信號的引導溝槽或 凹:t几上之h號基板表面，塗布厚度〇1111111的液體狀之紫外 線硬化樹脂後，利用紫外線硬化且制透明保護層（參照如 200540861 專利文獻2)。 在上述2種方法中，（B)方法係厚度精準度相當依賴紫 外線硬化樹脂之塗布精準度，而使用（A)方法時，在要幻 微米以下的高厚度精準度之透明保護層中，其大部分可使 5用厚度精準度高之膜’因此，可得到2微米以下的高厚度精 準度之透明保護層。 用上述(A)方法製作光資訊記錄媒體時，需要使用厚度 精準度高的透明膜。-般而言，具有高厚度精準度之膜係 藉由擠壓法或壓鑄法之製法而得。 10 擠壓法係使用業經調整間隙之模來得到所要的膜厚 度，亚擠壓從其間熔融的塑膠等膜材料之方法。且從模擠 壓出之膜㈣冷卻後變賴。又’壓鑄法係使用溶劑溶解 膜材料，且與擠壓法同樣地，從模之間滴下後，再利用高 溫使溶劑揮發以得到膜之方法。 15 【專利文獻U專利公開公報第2002-184037號 【專利文獻2】專利公開公報第324156〇號（第4圖） L發明内容3 發明欲解決之問題 在任一種膜製造方法中，所製作之膜皆可實現高厚度 20精準度，但是在製作中或製作後，膜表面產生凹凸或擦傷 等缺陷之可能性很高。如在捲取製作後的膜時，因膜與膜 互相摩擦而混入其間的灰塵或塵埃等在表面上形成瑕疵。 如此，這種擦傷或凹凸係可能產生於膜的任一面上。 使用有擦傷或凹凸之膜，且使用高NA之透鏡進行記錄 6 200540861 或再生，以製作具有厚度0.1mm的透明保護層之光資訊記 錄媒體時，在擦傷或凹凸位於透明保護層外側（位於光資訊 記錄媒體表面）的情形下，擦傷或凹凸係位於遠離信號基板 上的信號記錄層（成膜於引導溝槽或凹坑上之可改寫的記 5 錄多層膜或金屬膜者)之位置上。因此，在記錄信號或再生 信號時，記錄光或再生光之光束尺寸大，所以擦傷或凹凸 幾乎不會對記錄特性或再生信號造成影響。 但是，膜的擦傷或凹凸位在與黏著劑相接之面上時， 由於距離信號基板上的信號記錄層變近，所以記錄光或再 10 生光之光束尺寸變小，因此，記錄光或再生光容易受到擦 傷或凹凸的影響。例如，產生因散射使光量減少，或因波 面雜亂引起光束之集中性能變差等現象，並造成記錄特性 或再生信號惡化。 有鑑於上述問題，本發明之目的為提供一種即使是使 15 用具有擦傷或凹凸等缺陷之透明膜來作為透明保護層的一 部份，仍可維持良好的記錄特性或再生特性，且透明保護 層的厚度為10〜200微米之光資訊記錄媒體。 解決問題之手段 為了達成上述目的，第1發明之光資訊記錄媒體係從用 20 以進行記錄及再生之光的入射側開始，依序由透明保護 層、信號記錄層、支撐基板構成，且透明保護層之厚度為 10〜200微米，又，前述透明保護層係從用以進行記錄及再 生之光的入射側開始，依序至少由樹脂膜及可黏著樹脂膜 與信號記錄層之黏著劑層構成，且於樹脂膜與黏著劑層之 7 200540861 間具有邊界層。根據上述第1發明之光資訊記錄媒體，可藉 由邊界層來缓和樹脂膜之凹凸的影響，且可抑制在記錄戋 再生時所產生之錯誤率增大。 在上述第1發明之光資訊記錄媒體中，在樹脂膜表面的 5凹凸A上所形成的邊界層之黏著劑層側之凹凸B的高度或 /朱度，與凹凸A之南度或深度大致相同時，令在波長 附近之樹脂膜折射率、黏著劑層折射率、邊界層折射率分 別為nf、na、ni時，其關係宜為na< ni< nf，或者na> nf。並且宜為ni=(nf+na)/2之關係0 1〇 又，凹凸B之高度或深度比凹凸A之高度或深度小時， 令在波長405nm附近之樹脂膜折射率、黏著劑層折射率、邊 界層折射率分別為nf、na、ni時，其關係宜為na< ni^nf， 或者na> ni —nf。 又，在與邊界層的黏著劑層側相接之面上不具有因凹 15凸A所形成之凹凸時，其關係宜為以下任一者：—μ nf、na> mgnf、na< nfgni且ni_nf< nf na、na〉nf^ni且 nf-ni< na-nf 〇 根據上述構造，可減少凹凸錢凹凸B之邊界面的折射 率差，或減少在具有折射率差的邊界面之凹凸的高度或深 2〇度，因此’可減少因凹凸造成的光散射並減低錯誤率。 又在丨nfnal〉0.08時宜為I S0.08之關係。 根據該構造，可藉由邊界層減輕樹賴之凹凸的影塑。且 體而言，在聰如.65時，可輕易地得到作為樹脂膜之 材料。例如，樹脂膜宜為含有聚碳酸醋、丙稀酸系樹脂、 8 200540861 聚烯烴樹脂、降冰片烯系樹脂、環氧樹脂的任一者之材料。 又，黏著劑層在具體上宜為以放射線硬化材料、感壓性黏 著劑的任一者為主成分之材料。 — 再者，邊界層之主成分宜為無機材料。具體而言，宜 5為含有氧化物、氮化物、硫化物、氟化物、氯化物、溴化 物三峨化物的任-者中的至少1者之材料。為上述材料時， 可藉由瘛鑛法、蒸鑛法、離子鑛法等來輕易地於樹脂膜上 形成邊界層。 又，邊界層之主成分宜有無機材料。具體而言，宜為 s有丙稀酸系樹脂、環氧系樹脂的任一者中的至少1者之材 料。為上述材料時，可藉由凹版印刷或網版印刷等之印刷 技術，或者是旋轉塗布法等來輕易地於樹脂膜上形成邊界 層。 為了達成上述目的，第2發明之光資訊記錄媒體係從用 、進行Ζ錄及再生之光的入射側開始，依序由透明保護 層、k號記錄層、支撐基板構成，且透明保護層之厚度為 10〜200微米，又，前述透明保護層係從用以進行記錄及再 生之光的入射側開始，依序至少由樹脂膜及可黏著樹脂膜 ^號。己錄層之黏著劑層構成，並且令在波長附近之 2〇黏著劑層折射率與樹脂膜折射率分別為na、_，其關係 為丨nf-na| $〇.〇8。根據上述第2發明之光資訊記錄媒體， 即使不具邊界層亦可緩和樹脂膜之凹凸的影響，且可抑制 在記錄或再生時所產生之錯誤率增大。 又，在上述第2發明之光資訊記錄媒體中，宜為丨 200540861 nf na| <〇·〇5之關係。根據該構造，可縮小在具有凹凸之 邊”面的折射率差並進一步減低錯誤率。具體而言，在1.45 Snf$l.65時，可輕易地得到作為樹脂膜之材料。例如，樹 脂膜宜為含有聚碳酸醋、丙稀酸系樹脂、聚烯烴樹脂、降 5冰片稀系樹脂、環氧樹脂的任-者之材料。又，黏著劑層 之主成刀為有機材料，且宜為含有丙烯酸系樹脂、環氧系 樹脂的任一者中的至少1者之材料，並且在具體上宜為以放 射線硬化材料、感壓性黏著劑的任一者為主成分之材料。 為上述構造時，可藉由凹版印刷或網版印刷等之印刷技 1〇術，或者是旋轉塗布法等來輕易地形成黏著劑層。 再者，在第1發明或第2發明之光資訊記錄媒體中，宜 在樹脂膜之用以進行記錄及再生之光的入射側上，更具有 比樹脂膜硬的保護層。根據上述構造，可防止在樹脂膜之 光入射側的面上產生瑕疵等之凹凸，且可防止錯誤率增大。 15 為了達成上述目的，第3發明之光資訊記錄媒體係從用 以進行記錄及再生之光的入射側開始，依序由透明保護 層、信號記錄層、支撐基板構成，且透明保護層之厚度為 10〜200微米，又，前述透明保護層係從用以進行記錄及再 生之光的入射側開始，依序至少由保護層、樹脂膜及可黏 20著樹脂膜與信號記錄層之黏著劑層構成，且保護層比樹脂 膜硬’並且在樹脂膜表面之凹凸c上所形成的保護層之凹凸 D的高度或深度，比凹凸C之高度或深度小。根據上述第3 發明之光資訊記錄媒體，可利用比樹脂膜硬的保護層來保 護樹脂膜表面，並且樹脂膜表面之凹凸因保護層而變小， 200540861 因此亦可減少對記錄或再生之影響。 又，為了達成上述目的，第1發明之光資訊記錄媒體的 製造方法係，該光資訊記錄媒體從用以進行記錄及再生之 光的入射側開始，依序由透明保護層、信號記錄層、支撐 5 基板構成，且前述透明保護層從用以進行記錄及再生之光 的入射側開始，依序由樹脂膜層、邊界層、黏著劑層構成， 並且前述透明保護層之厚度為10〜200微米，又，該光資訊 記錄媒體之製造方法包含有下述步驟：邊界層形成步驟， 係在樹脂膜上形成邊界層；及黏著步驟，係在邊界層與形 10 成有信號記錄層之支撐基板之間配置黏著劑層，使邊界層 與信號記錄層相向並黏著。根據上述第1發明之光資訊記錄 媒體的製造方法，可輕易地製造由樹脂膜層、邊界層、黏 著劑層構成並且透明保護層的厚度為10〜200微米之光資訊 記錄媒體，且可供給一種錯誤率低的光資訊記錄媒體。 15 又，在上述第1發明之光資訊記錄媒體的製造方法中， 宜在測出樹脂膜上的凹凸之高度或深度後，根據凹凸之高 度或深度來選擇邊界層之種類、厚度及形成方法，以作為 邊界層形成步驟。根據該構造，可配合凹凸之高度或深度 形成具有最適當的折射率與厚度之邊界層。 20 又，邊界層形成步驟宜為在邊界層的材料為液體狀或 半固體狀時，利用塗布法形成之步驟。根據上述構造，可 輕易地形成邊界層。又，邊界層形成步驟宜藉由滅鑛法、 蒸鍍法、離子鍍法、CVD法的任一者來形成邊界層之材料。 根據上述構造，可輕易地形成無機材料之邊界層。 11 200540861 又，黏著步驟宜為使黏著劑層形成於邊界層上，並使 邊界層與形成有信號記錄層的支撐基板互相黏著之步驟。 此時，宜使用感壓性黏著劑或放射線硬化材料來作為黏著 劑層。根據上述構造，可輕易地形成高厚度精準度之黏著 5 劑層。 在第1發明之光資訊記錄媒體的製造方法中，宜更具有 將樹脂膜衝切成所要的形狀之步驟。根據上述構造，可製 造所要的形狀之光資訊記錄媒體。 發明之效果 10 根據本發明，可減低構成為透明覆蓋層的母材之樹脂 膜表面的凹凸影響，且可得到更低的錯誤率。因此，可提 供一種穩定且記錄保存性高的大容量光資訊記錄媒體。 圖示之簡單說明 第1(a)〜(b)圖係顯示本發明光資訊記錄媒體之構造的 15 模式圖。 第2 (a)〜（b)圖係顯示本發明光資訊記錄媒體之構造的 另一例模式圖。 第3圖係顯示本發明光資訊記錄媒體之製造方法的方 塊圖。 20 第4(a)〜(bl)、（b2)圖係顯示樹脂膜檢查步驟與邊界層 形成步驟之一例。 第5(a)〜(b)、（cl)、（c2)圖係顯示黏著步驟之一例。 L實施方式3 實施發明之最佳型態 12 200540861 以下，使用圖示來詳細說明本發明之實施型態。 (實施型態1) 第1圖係顯示本發明光資訊記錄媒體之實施型態。且第 1(a)圖係顯示光資訊記錄媒體之構造圖。 5 光資訊記錄媒體忉5係由支撐基板1〇ι、信號記錄層 102、透明保護層1〇6構成。用以記錄或再生之雷射光從透 明保護層106側入射，並聚光於信號記錄層1〇2。且支撐基 板101上形成信號記錄層102。在此，將形成於支撐基板ioi 上的引導溝槽或凹坑，與再於其上形成之可改寫記錄多層 10 膜、金屬膜、或色素膜稱作為信號記錄層。支撐基板101係 使用聚碳酸酯、丙烯酸樹脂、聚烯烴樹脂、降冰片烯系樹 脂等塑膠材料，並藉由射出成形法或2P法等加以製作。 在信號記錄層102上形成有由樹脂膜100、邊界層1〇4、 黏著劑層103構成的厚度100微米之透明保護層106。光資訊 15 記錄媒體105係利用0.8〜0.9之高NA透鏡使波長4〇〇nm之藍 紫色雷射光縮小集中，並且在信號記錄層丨〇2上記錄或再生 記錄記號，或者是再生凹凸之四坑，因此，透明保護層106 之厚度不均會對於記錄或再生特性造成很大的影響。例 如，在透明保護層106的厚度上具有相當於設計厚度的3% 20之厚度不均時，在信號記錄層1〇2上的聚光光束之顯示集中 性能的球面像差會有30m又，造成記錄或再生特性惡化。因 此，在透明保護層106之厚度精準度上，係要求相對於厚度 1〇〇微米的±3微米之高精準度。 樹脂膜100可利用擠壓法或壓_法之製法，且由聚碳酸 13 200540861 醋、丙稀酸樹脂、聚細煙樹脂、降冰片稀系樹脂、環氧樹 脂、乙烯酯樹脂等來形成。使用擠壓法或壓鑄法時，可實 現具有±0.5〜1微米的厚度精準度之樹脂膜1〇〇單體。 黏著劑層10 3可用以使厚度精準度高的樹脂膜i 〇 〇黏著 5於信號記錄層102上。具體而言，作為黏著劑有丙烯酸系或 環氧系之紫外線硬化樹脂或熱硬化型樹脂，或者是感壓性 黏著劑等。在使用液體狀的紫外線硬化樹脂或熱硬化型樹 脂來作為黏著劑之際，並且在厚度精準度土化卜丨微米的樹 脂膜100與形成有信號記錄層102的支撐基板101之間滴下 10 黏著劑（如黏度500mPa· s)且以5000rpm高速旋轉時，黏著劑 層之厚度變成10微米，且可得到±2微米以下的厚度精準度 之透明保護層106。又，使用感壓性黏著劑作為黏著劑時， 可得到比使用上述紫外線硬化樹脂或熱硬化型黏著劑高的 精準度。其原因是使用感壓性黏著劑時，即使黏度高亦可 15 以樹脂膜100作為基底且以凹版印刷、網版印刷等方法來進 行塗布。此時，使用厚度精準度土0.5〜1微米的樹脂膜1〇〇， 亦可實現厚度精準度±1.5微米之透明保護層106。 在樹脂膜100與黏著劑層103之間具有邊界層1〇4。且第 Wa)圖的邊界面a部分之放大圖顯示於第1(b)圖上。如第1(b) 20圖所示’邊界層104之目的係填埋在樹脂膜100上的黏著劑 層103側之面上的突起1U或瑕疵11〇，以減低在該部分所產 生的雷射光散射或波面雜亂。因此，邊界層104之折射率 m ’必須比黏著劑層1 〇3之na接近於樹脂膜100之折射率nf。 即必須為 I nf-nil <| nf-na| 。 200540861 作為邊界層104之; Μ抖可大致上分成有機材料盥益機 材料。且任一者皆必須# m^…风 、泛用波長400nm之高透射率材料。 又，有機材料有丙烯酸糸& 糸刼脂、環氧系樹脂等。以丙烯酸 糸樹脂、壤氧糸樹脂等你 成液體狀或半固體狀之材料，或 者利用熱或放射線（如势& 糸夕卜線）等使其形成固體狀或較接近 固體形狀之材料，可利用^ J用與黏著劑層103之塗布法相同的凹 版印刷、網版印刷、痞# & 疋轉塗布法等方法來形成於樹脂膜 100上作為k種材料的例子，有因紫外線的自由基反應或 陽離子反應而硬化之__紫外線硬化樹脂，或環氧系 10 黏著劑。X ’與㈣劑層相同地，亦可使用混合高折射率 成分而得之感壓性黏著劑。 又邊界層為無機材料時，有如氧化物、氮化物、硫 化物、敗化物、氯化物、溴化物、碘化物等之介電體。又， 亦可為含有這些材料之材料。使用這種介電體時，可利用 15濺鑛、瘵鍍、離子鍍、或CVD等方法來輕易地於樹脂膜1〇〇 上成膜。又’即使非介電體材料但只要為透明之無機材料， 亦可利用上述方法來成膜作為邊界層。 在樹脂膜100上的瑕疵深度或突起高度較小的情形 下，如第1(b)圖所示，可以邊界層104之厚度充分地填埋住 20 瑕疵11〇或突起111。但是，相對於第2圖所示之深的瑕疵210 或高的突起211，就不可能以邊界層220之厚度完全地填埋 住。如第2(a)圖所示之情形，因形成邊界層200而在與黏著 劑層103之邊界上形成凹部213、凸部214，但其深度dl或高 度tl與深的瑕疵210之深度d或高的突起211之高度t大致相 15 200540861
界上形成的凹部223、凸部224之深度们或高度伽起深的 瑕疵210之深度d及高的突起211之高度【變小。 凸之高度或深度小’
在此重要的是，如第1(b)圖所示凹 且可以邊界層填埋時，只要樹脂膜之, 折射率ni相近，其任一者去丄 小關係。
ni之值為相近（I nf-ni| <丨nf_na| )之關係時，可使瑕疵或 大起對§己錄光或再生光之影響（散射或波面雜亂）變小。但 是’在第2(a)圖時ni宜為na與nf之間的值，且最好為na< ni 15 < nf、或者na> ni> nf。其原因是na< nf< ni&na> nf> ni 皆會使ni與na之差變大，造成凸部214與凹部213引起記錄光 或再生光產生散射或波面雜亂。又，在第2(b)圖時亦是ni 宜為na與nf之間的值，且最好為na< nignf、或者na〉ni> nf。由於凹部223、凸部224之深度d2或高度t2變小，因此， 20 即使ni=nf亦可充分地使凸部224與凹部223對於記錄光或再 生光造成的散射或波面雜亂之影響變小。 一般而言，使用無機材料作為邊界層時，不易使厚度 變厚（由於成膜速度慢等），在瑕疵深度或突起高度大於〇3 微米時，幾乎不可能如第1(b)圖般以邊界層來填埋，且容易 16 200540861 變成第2(a)圖或第2(b)圖之形態。相對於此，使用有機材料 作為邊界層時，比較容易使膜變厚，因此可藉由控制厚度 來形成第1(b)圖或第2(a)、（b)圖之任一形態。如使用有機材 料且為高度或深度小於5微米之凹凸時即可如第1(b)圖般填 5 埋住。 (表1)係顯示樹脂膜、黏著層、邊界層之使用例，及該 情形下的電信號特性。 (表1)
樹脂膜 邊界層（ni、di) 黏著劑層 凹凸之高度與深 度/折射率差 位元錯誤率 BER/判定 模式A PC-A - PSA-A 3# m/〔 0/0.10〕 2.0E-5/X 模式B PC-A - DVD-003 3//m/〔0/0.08〕 1.5Ε-5/Δ 模式C PC-B - PSA-A 0.3// m/〔 0/0.10〕 1.5Ε-5/Δ 模式D PC-B NdF3(1.61、50nm) PSA-A 0.3 μ m/〔 0/0.10〕 1.5Ε-5/Δ 模式E PC-B LiB305(1.59、50nm) PSA-A 0.3 μ. ml 〔 0.02/0.08〕 1.3E-5/〇 模式F PC-B Si02-A(1.56 > 50nm) PSA-A 0.3 μ, τη/ 〔0.05/0.05〕 1.0E-5/O 模式G PC-B NdF3(1.61、2// m) PSA-A 0.1 // m/ [ 0/0.10] 9.2E-6/© 模式Η PC-B Si02(1.54、5# m) PSA-A < 30nm/ 〔0.07/0.03〕 1.3E-5/〇 模式I PC-B Si02(1.54 > 5 // m) DVD-003 < 30nm/ 〔0.07/0.01〕 1.1Ε-5/〇 模式J PC-B Si02-B(1.57 ' 5 // m) DVD-003 < 30nm/ 〔 0.04/0.04〕 9.0E-6/© 模式Κ PC-A PSA-C(1.61 ' 10// m) DVD-003 < 30nm/[ 0/0.08 ) 6.4E-6/® 模式L PC-A PSA-B(1.56、〗0// m) DVD-003 < 30nm/ 〔 0.05/0.03〕 Ι.ΙΕ-5/Ο 模式Μ PC-B Al2〇3-A(l.68 ' 5 // m) DVD-003 < 30nm/ 〔0.07/0.15〕 1.3E-5/〇 模式Ν PC-B Al2〇3-B(1.69 ' 5// m) DVD-003 < 30nm/ 〔0.08/0.16〕 1.5Ε-5/Δ 關於邊界層之波長405nm中的折射率ni與厚度di係顯 10 示於（）内。又，起因於樹脂膜表面的突起或瑕疵之邊界 層上的凹凸高度或厚度，及各模式在各層間的折射率差亦 以〔樹脂膜之折射率-邊界層之折射率/邊界層之折射率-黏 著劑層〕來表示。 17 200540861 使用聚碳酸酯膜A(表1内以POA來表示，厚度80、90 微米，折射率1·61)、聚碳酸酯膜B(表1内以PC-B來表示， 厚度80、85微米，折射率1.61)來作為樹脂膜。聚碳酸酯膜 A、Β之膜表面上皆存在突起或瑕疵。在聚碳酸酯膜a之突 5 起或瑕疵的深度皆在3微米以下。又，在聚碳酸酯膜B之膜 表面的突起高度或瑕疵深度皆在0.3微米以下。 又’使用曰本化藥製紫外線硬化樹脂DVD-003(黏度 450mPa · s、折射率L53)、感壓性黏著劑a(表i内以pSA-A 來表示’厚度20、18、15微米，折射率1·51)之2種類來作為 10黏著劑層。作為邊界層，有折射率不同的2種類之感壓性黏 著劑Β(表1内以PSA-Β來表示，厚度1〇微米，折射率丨.56)、 感壓性黏著劑C(表1内以PSA-C來表示，厚度1〇微米，折射 率1·61)計2種類之有機材料，及NdF3(折射率1.61)、 LiB3〇5(折射率 1.59)、Si〇2(折射率 1·54)、Si02-A基體(折射 15率h56)、Si〇2_B基體（折射率1.57)、Al2〇3-A基體（折射率 1.68)、Al2〇3_B基體(折射率1.69)之7種類的無機化合物。無 機化合物之邊界層係藉由濺鍍法形成於聚碳酸酯A、β之膜 上。 又，如同下述調整感壓性黏著劑、B、C。 20 · PSA-A(405nm折射率：1·51)之調整 將η-丙烯酸丁酯97重量份及丙烯酸3重量份作為起始 劑，且在醋酸乙酯溶劑中以60。(：攪拌偶氮二異丁腈〇·2重量 份17小時，藉此，可得重量平均分子量大致％萬 (Mw/Mn=5.0)之丙烯酸酯共聚合溶液。對於該丙烯酸酯共聚 18 200540861 物100重重伤添加由一*甲本甲醇樹脂（三菱瓦斯化學（股） 製：二力/ — 7l/(Nikanol)H-80)12重量份及聚異氰酸酯化 合物構成之架橋劑（東洋油墨製造（股）製：才y A 4 > (Oribain)BHS-8515)1.2份，並用曱乙酮稀釋，使固體成份大 5 致為30重量％，以調製出感壓黏著性組成物塗布液。 • PSA-B(405nm折射率：1.56)之調整 將η-丙烯酸丁酯97重量份及丙烯酸3重量份作為起始 劑，且在醋酸乙酯溶劑中以60°C攪拌偶氮二異丁腈〇·2重量 份17小時，藉此’可得重量平均分子量大致％萬 10 (Mw/Mn=5.0)之丙稀酸s旨共聚合溶液。對於該丙烯酸醋共聚 物100重篁份添加由一曱本甲醇樹脂（三菱瓦斯化學（股） 製：二力/—小（Nikanol)H-80)130重量份及聚異氰酸酯化 合物構成之架橋劑（東洋油墨製造（股）製··才A ^ (Oribain)BHS-8515)2.4份，並用曱乙§同稀釋，使固體成份大 15致為4〇重量％，以調製出感壓黏著性組成物塗布液。 • PSA-C(405nm折射率：1.61)之調整 將η-丙稀酸丁 S旨97重量份及丙烯酸3重量份作為起始 劑，且在醋酸乙酯溶劑中以6CTC攪拌偶氮二異丁骑〇·2重量 份π小時，藉此，可得重量平均分子量/致55^ 20 (Mw/Mn=5.〇)之丙稀酸醋共聚合溶液。對於該丙稀酸酯共聚 物100重量份添加由二甲苯甲醇樹脂（三菱瓦斯化學（股） 製：二力▲(NikanoDH-SOpSO重量份及聚異氰酸醋化 合物構成之架橋劑（東洋油墨製造（股）黎】·才卩A < ^ (Oribain)BHS-8515)2.4份，並用曱乙自同稀釋，使固體成份大 19 200540861 致為40重量％，以調製出感壓黏著性組成物塗布液。 使業經如此調整之塗布液，藉由刮刀塗布機塗布於剝 離層（琳得科(Lintec)社製：SP-PET3811)的剝離處理面上， 並在9(TC下乾燥丨分鐘且形成黏著層後，使該黏著層表面與 5樹脂層或附有邊界層之樹脂層貼合，以形成總厚度l〇〇“m 之透明保護層，藉此，可作成PSA-A、B、C。 折射率之變更，可根據塗布液中的二曱苯曱醇樹脂之 混合量來進行。例如，令丙烯酸酯共聚物：二甲苯甲醇樹 脂之重量比為100 : 36時折射率大致為丨52，1〇(^ 88時大 10致為L54，100 : 280時大致為1.62。但是，在二甲苯曱醇樹 脂之混合量多時，所得的PSA之凝聚力降低，且pSA變的柔 軟，因此可能會無法得到良好的層特性或因低分子成分的 滲出而導致反射膜腐蝕。 因此，相對於丙烯酸酯共聚物1〇〇重量份，二甲苯甲醇 15樹脂之量宜為10-280重量份，且在考慮到PSA物性之平衡時 又以100-200重量份更佳。 又，在本實施型態中，係使用二曱苯甲醇樹脂來作為 提咼折射率者，但並不限定於此，亦可使用含有較多的共 聚物芳環、鹵素或硫等之樹脂。 20 Si〇2-A、B基體係以Si〇2為基底來分散ZnS(折射率2.49) 之混合體。SiCVA基體為莫耳比Si〇2: ZnS=98 : 2之混合體， 而SiOyB基體為莫耳比si〇2 : ZnS=97 : 3之混合體。又， AhCVA、B基體係以八丨2〇3(折射率L71)為基底來分散si〇2 之混合體。ΑΙΛ-Α基體為莫耳比Al2〇3 : Si〇2==82 ·· 18之混 20 200540861 合體，而A1203-B基體為莫耳比Al2〇3 : Si〇2=88 ·· 12之混合 體0 再者，為了使兼併樹脂膜、邊界層、黏著劑層之透明 保護層的厚度在任何情形下皆呈大致丨〇〇微米，而設定各個 5 層之厚度。 使用在軌距0.32微米、深度2〇nm之引導溝槽上，按照 反射膜Ag、介電體層ZnS-Si02、界面層、記錄膜GeSbTe、 界面層、介電體層ZnS-Si〇d〇順序成膜之記錄多層膜來作 為信號記錄層。又，記錄或再生時，使用NA0.85之光學拾 10波器，使波長405nm之藍紫色雷射光在記錄時5mW、再生 h0.4mW之引導溝槽上（由光入射側視之較近的溝槽面上) 進行信號之記錄與再生。又，最短記號長為〇149微米，資 料轉送速度為33Mbps。 以下顯示利用各個組合模式製作光資訊記錄媒體，且 15
20 進行記錄與再生時的位元錯誤率之結果。在此，位元錯誤 率在1.5E-5以下時，即使因光資訊記錄媒體之翻轉、厚度精 準度、或光學拾波器之透鏡光攔等偏差之類的應力使產生 的再生電信號惡化，亦可使錯誤訂正抑制在可能的位元錯 誤率3·1Ε-4以下。X，在位元錯誤率小於丄侧時，亦可^ 同保證光資訊記雜體之生產偏差，且可穩定地進行生產。 以下，在本文中亦與表丨内容相同地，分別以pc_A、 PC-B來表示聚碳酸醋A、B之膜。並且以]gER來表 誤率。 示位元錯 根據表卜模式A中的PC_A上具有3微米之突起或瑕 21 200540861 症匕’並且與黏著劑層之折射率為較大之(U，因此BER為非 举大之2·〇Ε-5。又，在模式B中與黏著劑層之折射率為較小 之0.08，且BER為1.5E-5，係尚可承受翻轉、厚度精準度、 或光學拾波器之偏差等應力的程度。在模式C係使用 5 PC_B，因此膜上的瑕疵或突起比模式A的小，為1.5E-5左右 之BER。 在模式D中係形成折射率與PC-B相同之NdF3 50nm以 作為邊界層，由於較薄因此如第2(a)圖所示邊界層之凹凸並 未減低，且在光學性上未與模式C產生差別而仍舊維持 10 i·51^5。在模式E中係使用LiB305來代替NdF3。因此，和模 式C、D(在凹凸面之折射率差〇·ι〇)相比與pc_b、PSA-A之 折射率差變小成〇.〇2、〇·〇8，且即使邊界層之凹凸大小並未 史化BER亦減低成1.3E-5。再者，在模式F中係使用折射率 正好在PC-B與PS A-A中間的Si02-A，因此BER變成更小的 15 L0E-5,可充分容許光資訊記錄媒體之翻轉、厚度精準度、 或光學拾波器之透鏡光攔等偏差之類的應力。 在模式G中係形成厚的2微米之NdF3來作為邊界層，以 填埋PC-B之突起或瑕疵的深度，並使邊界層之凹凸的高度 與深度縮小至第2(b)圖般的〇.1微米。因此，與使用相同材 20料來作為邊界層之模式D相比，可大幅改善BER且達成 9·2Ε-6〇 再者，在模式Η〜Ν中形成更厚的邊界層，且以邊界層 來填埋樹脂膜之瑕疵或凹凸並得到第1(b)圖之狀態。 在模式Η中使用Si〇2來形成更厚的邊界層，且在此厚度 22 200540861 為5U米。如此一來，可如第丨❻）圖所示完全填埋住 突起或嘏疵，使邊界層與黏著劑層之邊界上的凹凸大致消 失。因而，當邊界層與PC-B的折射率差為〇〇7時，會產生 突起或瑕疵的凹凸之影響。因此，與沒有邊界層之模式c 5相比日可折射率差從0·10減低成〇·〇7，所以，BER亦變成比 1.5E-5小的L3E_5。PC_B上的突起或凹凸為〇 3微米左右 時’若樹脂膜與邊界層之折射率差在〇〇7以下，則有ber 小於1.5E-5之傾向。在模式I亦與模式η相同地，與PC_Bi 折射率差為0.07。此時BER亦從1 · 1E-5與1 ·5Ε-5開始變的更 10有餘欲。再者，和模式I相比，在模式J中與pc-B之折射率 差變成更小的0.04，因此可在光學性上減低PC_Bi瑕疵或 突起的影響，且BER變成更小的9.0E-6。 在模式K中係形成折射率與PC-A相同之PSA-C 10微米 作為邊界層。因此，即使PC-Α具有深的瑕疵或高的突起亦 15完全不會對其造成光學性影響，且可得到6.4E-6之非常小的 BER。在模式l中係以折射率1·56之PSA-B作為邊界層，因 此與PC-Α之折射率差變大成0.05。所以BER為1.1Ε-5。 在模式Μ、Ν中，試著形成較厚之折射率比樹脂膜高的 邊界層。在與樹脂膜PC-B之折射率差為0.07之模式Μ中BER 20 為1JE-5，而在折射率差為0.08之模式Ν中則變大成 1·5Ε-5。在此亦有折射率差小於〇·〇8者較佳之傾向。 從以上各種組合可得知，在具有凹凸的邊界中折射率 差為0.08以下時，可得到1.5Ε-5以下之BER，且可容許光資 訊記錄媒體之翻轉、厚度精準度、或光學拾波器之透鏡光 23 200540861 攔等偏差之類的應力。χ，亦可得知樹脂膜之凹凸未因邊 界層形成而變化時’以仙折射率正好在樹賴與黏著劑 中間之邊界層較佳。如此，藉由依據樹脂膜之喊深度或 突起高度來選擇邊界層的折射率與厚度之材料，來減低其 5光學性之影響（散射或波面雜亂等），可抑制BER並且可容許 光貢訊記錄媒體之翻轉、厚度精準度、或光學拾波器之透 鏡光欄等偏差之類的應力，因而可進一步得到充分的生產 邊限。
又，在本實施型態1中，已說明使用聚碳酸酯作為樹脂 10膜，並使用感壓性黏著劑或紫外線硬化樹脂作為黏著劑 層，且nf> na之情形，但使用如PMMA膜（折射率ι·51)與 PSA-C且nf< na時，亦可藉由使各種邊界層材料形成各種厚 度來得到同樣的效果。又，在此係使用氟化物、氧化物、 或作為混合體材料的ZnS之硫化物來作為邊界層，但並不限 15定於這些，亦可使用氮化物、硫化物、氣化物、溴化物、 峨化物等化合物’或含有這些化合物之無機化合物來作為 其他例不。又，關於作為邊界層所使用的有機材料亦不限 定於本貝轭型悲之使用材料，只要為具有與本實施型態使 加用的材料相同程度之折射率與透明性者皆可。 再者，只要為折射率1·45〜1.65之樹脂膜，可將工業用 塑膠作為材料來細^ & 针木1二易地形成膜之材料有很多。有如以 μα為百之丙稀酸系樹脂、聚燁烴樹脂、降冰片稀系樹 脂、環氧樹脂等。 (實施型態2) 24 200540861 在本實施型態中不同於實施型態丨，係說明僅使用樹脂 膜與黏著劑層來製作光資訊記錄媒體之情形。（表2)係顯示 樹脂膜與黏著劑層之組合，與該情形下之電信號特性。且 亦一併顯示在樹脂膜與黏著劑層之波長405nm中的折射率 5 “與111，及各模式之樹脂膜與黏著劑層的折射率差。 (表2) 一^7脂膜(nf)~ ~黏著劑層' 樹脂膜與黏著劑 __層之折射率差 位疋錯誤率 BER/判定 模式0 PC-A(1.61) PSA-A(1.51) 0.10 2.0E-5/X 模式P PC-A(1.61) DVD-003(1.53) 0.08 1.5Ε-5/Λ 模式Q PC-A(1.61) PSA-B(1.56) 0.05 1.0Ε-5/η 模式R PC-A(1.61) PSA-C(1.61) 0 6.0Ε-5/(δ) 模式S ΡΜΜΑ(1·51) PSA-C(1.61) 0.10 2.0Ε-5/Χ 模式τ ΡΜΜΑ(1·51) PSA-B(1.56) 0.05 1.1Ε-5/Π 模式υ ΓρΜΜΑ(1.51) PSA-A(1.51) 0 6.1E-5/© 使用聚碳酸酯膜Α((表2)内以PC-A來表示 ，厚度80微 米’折射率nfl.61)、PMMA膜((表2)内以PMMA來表示，厚 度80微米，折射率nfL51)來作為樹脂膜。聚碳酸酯膜a、 10 PMMA膜之表面上皆存在高度或深度3微米以下之突起或 瑕疵·。 又’使用曰本化藥製紫外線硬化樹脂DVD-003(黏度 450mPa · s、折射率1.53)、感壓性黏著劑A(表1内以PSA-A 來表示，厚度20微米，折射率1.51)、感壓性黏著劑B(表1 15内以PSA_B來表示，厚度20微米，折射率1.56)、感壓性黏 著劑C(表1内以PSA-C來表示，厚度20微米，折射率1.61)之 計4種類的黏著劑層來作為黏著劑層。於DVD-003之情形 下’為了得到其厚度分布，因此控制旋轉數與旋轉時間且 以20微米之厚度進行旋轉塗布，並使膜與真空室内之膜貼 20合後利用紫外線來硬化。且該兼併樹脂膜與黏著劑層之透 25 200540861 明保護層的厚度在任何情形下皆大致為100微米。 又’信號記錄層係使用與實施型態1相同之引導溝槽及 記錄多層膜。因此在此省略其說明。且關於記錄及再生條 件亦與實施型態1相同。 5 以下’在本文中亦與（表2)内容相同地，分別以、 PMMA來表示聚碳酸酯a、pmMA膜。並且以BER來表示位 元錯誤率。 在模式〇中樹脂膜與黏著劑層之折射率差為0.10,因此 受到黏著劑層側之樹脂膜的瑕疵或突起之影響，且BER為 10 非常大的2.0E-5。 在使用DVD-003作為黏著劑層之模式P中，折射率差減 低至0.08,因此BEr變成ι·5ε-5,即使因光資訊記錄媒 翻轉、厚度精準度、或光學拾波器之透鏡光攔等偏差之類 的應力使得電信號惡化，亦呈現可訂正錯誤之狀態。再者， 15 在黏著劑層之折射率接近於1.56、PC-A的1·61，且折射率 差為較小的0.05、0之模式Q、R中，可得到較良好的1〇匕5、 6.0Ε-6之BER，並成為具有生產邊限之光資訊記錄媒體。 在使用PMMA作為樹脂膜(模式S、T、U)之情形中，有 黏著劑層之折射率大於樹脂膜PMMA的傾向。但是，與模 20 式〇〜R相同地，依賴與PMMA之折射率差，且隨著折射率 差變小可得到BER變小之結果。 從以上（表2)之結果亦可得知，相同於（表1)之結果，在 具有凹凸的邊界中折射率差為0 08以下時，可得到小於 1.5E-5之BER，且可容許光資訊記錄媒體之翻轉、厚度精準 26 200540861 生產邊限之 度在=拾波器之透鏡光欄等偏差之類的應力。並且得 知在折射率差小於⑽5時，可得到具有充分的 光資訊記錄媒體。 輸=_雖_說明2種類的樹脂膜及4種 ==Γ例子’但透過考慮各種樹脂膜之折射率差 2各種有機《劑作為黏㈣層使用，亦可得到同樣的 亦可使用環氧系黏著劑來作為黏著劑層。只要 10 卓=‘65m，工_謂作為材料來 t形賴之材料有很多。有如聚_樹脂、降冰片稀 糸树月曰、裱氧樹脂等。 =、2中雖亚未提及但亦可在樹脂膜之 用=行記錄及再生之錢人_上，更具有比樹脂膜硬 ⑷又層。且在樹脂膜之用以進行記錄及再生之光的入射 側=上亦多少具有瑕疲或突起之凹凸。由於該凹凸位於距 15離^就記錄層較遠的位置上，因此凹凸之大小比記錄或再 生之光點小，且與邊界層之界面的凹凸相比時對於記錄戋 再生之影響較小。該保護層之主要作用係可抑制因光資訊 兄錄媒體表面所產生的新瑕疵而造成錯誤率增大。但是， 樹脂膜之用以進行記錄及再生之光的入射側面上之凹凸， 2〇可藉由保護層形成來縮小其凹凸之高度或深度，且可進一 V卜低錯誤率。與記錄或再生之光點大小相比，該凹凸之 大小係相當小，所以在保護層之折射率上幾乎沒有限制。 因此’只要比樹脂膜硬並且透明，為無機材料或者有機材 料(如硬膜劑、或分散有高硬度的二氧化矽等無機物之有機 27 200540861 材料等）皆可，可使用許多材料。為有機材料時可在液體狀 下塗布，可縮小凹凸之高度或深度，或亦可輕易地填埋住 凹凸。再者，在不具有邊界層之光資訊記錄媒體的情形下， 樹脂膜上的保護層亦 < 得到同樣的效果。 5 (實施型態3) 在實施型態3中揭示光資訊記錄媒體之製造方法的例 子。第3圖係顯示其製造方法之步驟方塊圖。首先，檢查、 測定存在於構成透明覆蓋層的母材之樹脂膜表面上的瑕疯 或犬起專之凹凸’並將其稱之為樹脂膜檢查步驟。在此， 10 可檢查樹脂膜之兩面，並亦可僅檢查形成黏著劑層之單 面。檢查樹脂膜之兩面時，亦可統計各面的凹凸之大小、 南度或數量等，並根據該統計來選擇在認為凹凸影響變少 之面上形成黏著劑層。 根據樹脂膜檢查步驟之結果，並從累積各種邊界層及 15 其形成方法之邊界層種類、形成方法資料庫，來決定邊界 層之種類與形成方法。接著，進行於具有凹凸之樹脂膜上 形成決定的邊界層之邊界層形成步驟。且與其並行地於具 有支撐基板之引導溝槽或凹坑的信號面上進行形成信號記 錄層之步驟。在此，將引導溝槽或凹坑之信號及形成於其 20 上之信號記錄層或反射膜總稱為信號記錄層。 進行記錄與再生之光資訊記錄媒體的情形，有從支撐 基板側開始依序形成反射膜Ag、介電體層ZnS-Si02、界面 層、記錄膜GeSbTe、界面層、介電體層ZnS-Si02之記錄多 層膜，或從支撐基板側開始依序形成反射膜Ag、色素膜之 200540861 追記型膜。一般係利用濺鍍法來形成多層膜之夂a 型膜之Ag反射膜。X，亦有其他方法如可利用記 鍍法來形成。一般而言，追記型膜之色素膜可藉=扩子 布溶解於溶劑之色素後再使其乾燥而得。 疋轉龛 人，π有其他 法如蒸鍍法。而僅可再生之再生型光資訊記錄媒體的万 形，係利用濺鍍法在支撐基板之凹坑上形成鋁或其2金情 或者是銀或其合金等之金屬膜。 ’ ’ 隶後，利用黏著劑來黏著形成有信號記錄層之支待義 板與形成有邊界層之樹脂膜，並將其稱之為黏著步驟。2 10著劑係如第1圖所示作為黏著劑層且構成為光資訊記錄媒 體之一部份。且黏著劑係如同上述實施型態1、2之說明， 可舉出感壓性黏著劑，使用自由基反應或陽離子反應<紫 外線硬化樹脂，或以熱硬化性樹脂為首之放射線硬化材料 作為例子。在黏著步驟結束時，光資訊記錄媒體即完成。 15 而對於可記錄再生者，係在黏著步驟之後再附加初始化步 驟等之其他步驟。以上為本發明製造方法之概略。 接著，使用第4、5圖來進行第3圖所示製造方法之各步 驟的詳細說明。第4圖係顯示樹脂膜檢查步驟及邊界層形成 步驟之詳細内容。又，第5圖係顯示黏著步驟之詳細内容。 20由於第4圖或第5圖中所使用的樹脂膜、邊界層、黏著劑層 之材料的例子即為上述實施型態1、2所示之材料’因此從 此開始省略此部份之說明。 第4(a)圖係顯示在樹脂膜檢查步驟中的檢查方法之〜 例。樹脂膜401係在滾壓的形式下供給至檢查裝置。且樹骑 29 200540861 膜4〇1攸滾筒解開後插入至凹凸測定器4〇〇。凹凸測定器4〇〇 可藉由光學性測知凹凸且接受其反射光（散射光）或透射 光，來測定凹凸之大小、高度或深度。凹凸測定器4〇〇係由 測定光源、反射光(散射光)之受光元件（如cCD)、透射光之 5又光元件(如CCD)等構成。可藉由該凹凸之大小、高度或深 度來選擇用以測定之光的波長，且最好是接近光資訊記錄 媒體之記錄或再生波長(如波長405nm)的波長。這是由於以 接近記錄或再生波長之波長的光來進行檢查時，可自行檢 查對記錄或再生造成影響的程度之凹凸。 1〇 藉由同時檢測來自凹凸之反射光(散射光)及透射光，亦 可同時檢查樹脂膜401兩邊的表面上之凹凸。又，藉由分析 來自凹凸之反射光（散射光）及透射光的強度、或凹凸之影 像，亦可判斷是在樹脂膜4〇1之哪一面上具有凹凸。並將利 用凹凸測定器4〇〇測定之資料送至邊界層決定單元41〇。以 15來自邊界層種類、形成方法資料庫415之資訊為基礎，並藉 由邊界層決定單元410來決定最合適的邊界層（材料及厚度） 與其形成方法。且邊界層種類、形成方法資料庫415中累積 有適合於表1或表2所示邊界層的材料及各種材料之形成厚 度與形成方法。 2 0 第4 (b 1)圖係顯示邊界層形成步驟之一例的滾筒塗布 法。又，第4(b2)圖係顯示邊界層形成步驟之一例的濺鍍法。 在第4(a)圖中，係藉由決定的邊界層種類及形成方法，即第 4(bl)圖或第4(b2)圖之方法來形成邊界層。 如（表1)或（表2)所示使用液體狀或半固體狀之有機材 30 200540861 料作為邊界層時，適合於第4(bl)圖之滾筒塗布法。藉由邊 界層塗布滾筒405於塗布樹脂膜4〇2之邊界層的面上形成邊 界層407。在此為了簡單化雖僅顯示邊界層塗布滚筒4〇5， 但亦可為凹版印刷用的凹版滾筒。用凹版滾筒時可均一地
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塗布邊界層之厚度。*邊界層4_放射線硬倾料或熱硬 化材料時’則在塗布後藉由放射線(如紫外線)照射或藉由加 熱硬化。X，邊界層407為感壓性黏著劑時，則在塗布後藉 由加熱使溶劑揮發後以得到半固體狀之感壓性黏著劑。 汉用…、铖材料作為邊界層時，適合於第4(b幻圖之 滅鑛法。使㈣界層姆傷並藉錢鍍法於塗布樹脂膜 403之邊界層的面上形成邊界層顿。在舰法中邊界層乾 材406係配置於保持在高真空度的室内。又邊界層乾材條 亦可為由邊界層顿構成之㈣，且在與《反應形成邊界 層4〇8時’只要為充分之㈣即可得到邊界層B。如使用Si〇2 作為邊界騎，可使用卿树，且亦可使时乾材與氧 反應並形成峨之邊界層。如同上述，可藉由邊界層之材 料來使用各種形成方法。 接著，在第5圖中顯示黏著步驟之-例。如第5⑻圖所 二Ϊ形成有利用第4圖方法所得之附邊界層樹脂膜的 20、:曰5〇〇之面上，形成黏著劑層寫。黏著劑層篇之材料 ㈣由黏著劑層塗布滾筒5〇5來均―地塗布。且亦可相同於 ^ )圖使用凹板滚同。當黏著劑層篇為感壓性黏著劑時 *塗布後藉由加熱來揮發溶劑。又，由於揮發後仍帶 有黏著性，因此需要事先用保護職蓋。當黏著劑 31 200540861 放射、.泉硬化椅料時，需要事先用保護膜 覆蓋使得塗布後不 ^射到放射線。之後，如第5⑻圖所示，使得黏著劑層保 " ”業、、二層壓之附邊界層、黏著劑層的樹脂膜520， 藉、，货刀模525從未形成邊界層或黏著劑層之面開始衝切 5成光貧訊記錄媒體之形狀。此時，業經衝切之附邊界層、 黏著劑層之樹脂膜527，雖已被衝切到黏著劑層，但尚未被 衝切到黏著劑層保護膜515。因此，可將黏著劑層保護膜515 作為基底膜來輕易地處理。 最後，如第5(cl)圖或第5(c2)圖所示，與形成信號記錄 1°層540之支撐基板53〇貼合。在第5(cl)圖中，係使第5(13)圖 中衝切的附邊界層、黏著劑層之樹脂膜527從黏著劑層保護 膜515剝離，且使黏著劑層與支撐基板53〇之信號記錄層54〇 面相接並利用貼合滾筒541使之黏著。為了不使貼合滾筒 541與衝切的附邊界層、黏著劑層之樹脂膜527接觸而受 15傷，最好是如表面為軟橡膠者。當黏著劑層為感壓性黏著 劑時，可使用第5(cl)圖之方法。又，黏著劑層為如液體狀 之材料時(如紫外線硬化樹脂等），亦可不使用第5(a)圖之黏 著劑層塗布滾筒505 ’而是如第5(c2)圖所示在支撐基板530 上旋轉塗布形成黏著劑層545,並且於其上使已衝切的附邊 20 界層之樹脂膜550與邊界層及黏著劑層545相接且重疊貼合 後，再進行用以硬化之處理（如紫外線照射或加熱）。此時， 已衝切之附邊界層之樹脂膜550係利用第5(b)圖所示之方法 來衝切。又，為了防止黏著劑層545與邊界層之間混入氣 泡，在重疊貼合時最好在真空室内進行。又，亦可不使用 32 200540861 浦塗布’而是在纖板530上或已衝切之附邊界層樹脂 膜550上呈環狀地滴下液體狀黏著劑，且旋轉重疊後的兩者 以延伸黏著劑。在任一情形下皆可控制黏著劑層之厚度形 成為所要的兼併樹脂膜、邊界層、黏著劑層之透明保護層 5 厚度（如100微米）。 藉由上述步驟所形成之製造方法，可在穩定且短製程 時間下製造具有邊界層之光資訊記錄媒體。 又，在本實施型態3中已說明設有樹脂膜檢查步驟的製 造方法之例，但疋在樹脂膜之種類或厚度，或膜的製造方 10法為固定時，膜表面上產生較多凹凸之面或其大小、高度、 /朱度係在大體上王現穩定，因此亦可透過使用過去之資科 來省略樹脂膜檢查步驟。此時，邊界層之種類、厚度或形 成方法亦可固定，可使整體步驟簡單化。 又，在樹脂膜檢查步驟中，亦可根據凹凸測定器之機 15能來進行樹脂膜各個單面之合計2次的檢查。 又’邊界層為有機材料時，除了第4(bl)圖之方法外， 亦可使用網版印刷法。而邊界層為無機材料時，除了第4(b2) 圖之方法外，亦可使用蒸鍍、離子鍍或cVD法。 又’在第5(b)圖中雖使用衝切模，但在使用圓筒狀的旋 20轉膜時可進行更高速之衝切。且衝切步驟亦可在黏著步驟 之後進行。此時，在進行第5(a)圖之黏著劑塗布後，如第5(cl) 圖般藉由貼合滾筒541來貼上附邊界層、黏著劑層之樹脂膜 520後再衝切。又，在實施型態3中雖已顯示衝切成圓形之 例’但衝切形狀只要配合支撐基板的形狀或所要的形狀來 33 200540861 選擇即可。 再者，在用以進行記錄及再生之光的入射側上，更形 成比樹脂膜硬的保護層時，加上保護層形成步驟並構成為 以下之步驟順序。 5 (A)樹脂膜檢查步驟—第4(bl)或(b2)圖之邊界層形成 步驟->黏著步驟—保護層形成步驟 (B)樹脂膜檢查步驟—保護層形成步驟—第4(bl)或(b2) 圖之邊界層形成步驟—黏著步驟 但是，（A)的情形係保護層形成步驟在最後，會使得在 10 保遵層形成步驟之如於樹脂膜表面上附著塵埃、污垢或瑕 疵的可能性變高，因此在樹脂膜401上事先層壓保護膜是很 重要的。又’在該凹凸測定器400之測定有可能變的不穩 定，因此亦可在樹脂膜檢查步驟之後層壓保護膜。在該保 護膜剝離後馬上形成保護層可得到良好的保護層面。藉 15 此，可防止於光資訊$己錄媒體表面形成新的瑕疫，且可抑 制錯誤率增大。 產業上之可利用性 本發明之光資訊記錄媒體，由於可藉由邊界層來緩和 樹脂膜表面之凹凸的影響，因此可在錯誤率不會惡化下進 2〇 行信號之記錄或再生，並且可作為穩定且記錄保存性高的 大容量記錄媒體使用。 又，本發明之光資訊媒體製造方法可使用在穩定且短 製程時間下製造上述光資訊記錄媒體。 【圖式簡單説明】 34 200540861 第1(a)〜(b)圖係顯示本發明光資訊記錄媒體之構造的 模式圖。 第2(a)〜(b)圖係顯示本發明光資訊記錄媒體之構造的 另一例模式圖。 5 第3圖係顯示本發明光資訊記錄媒體之製造方法的方 塊圖。 第4(a)〜(bl)、（b2)圖係顯示樹脂膜檢查步驟與邊界層 形成步驟之一例。 第5(a)〜(b)、（cl)、（c2)圖係顯示黏著步驟之一例。 10 【主要元件符號說明】 100…樹脂膜 405...邊界層塗布滾筒 101...支撐基板 406...邊界層靶材 102...信號記錄層 407…邊界層 103…黏著劑層 408...邊界層 104、220、200.··邊界層 410…邊界層決定單元 105…光資訊記錄媒體 415...邊界層種類、形成方法資 106...透明保護層 料庫 110、210…瑕疵 500...邊界層 111、211...突起 505...黏著劑層塗布滾筒 213、223···凹部 506...黏著劑層 214、224.··凸部 510...附邊界層樹脂膜 400...凹凸測定器 515...黏著劑層保護膜 401...樹脂膜 520...樹脂膜 402...樹脂膜 525…衝切模 35 200540861 527.. .附邊界層、黏著劑層之樹 545··.黏著劑層 脂膜 550…附邊界層之樹脂膜 530.. .支撐基板 A.··邊界面 540...信號記錄層 541…貼合滾筒 d、cU、d2···深度 t、tl、t2···高度
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Claims (1)

  1. 200540861 十、申請專利範圍： 1.種光資„fl。己錄媒體，係從用以進行記錄及再生之光的 射側開始，依序由透明保護層、信號記錄層、支撐基 板構成’且前述透明保護層之厚度為1G〜200微米， 5 又’前述透明㈣層係從用以進行記錄及再生之光 々射側開始’依序至^/由樹脂膜及可黏著前述樹脂膜 ㈣述信號記錄層之黏著劑層構成，且於前述樹脂膜與 前述黏著劑層之間具有邊界層。 2·如申請專利範圍第！項之光資訊記錄媒體，其中前述樹 1〇 脂膜在與前述邊界層側相接之面上具有凹凸，且前述凹 凸為凹凸A時，因前述凹凸A所形成的前述邊界層之前 述黏著劑層側之凹凸為凹凸B，而前述凹凸B之高度或 深度與前述凹凸A之高度或深度大致相同，並且令在波 長405騰附近之前錢_折射率、前述歸劑層折射 15 率、前述邊界層折射率分別為nf、na、ni時，其關係為 na< ni< nf，或者na> ni> nf。 3.如申請專利範圍第1項之光資訊記錄媒體，其中前述樹 脂膜在與前述邊界層側相接之面上具有凹凸，且前述凹 凸為凹凸Α時，因前述凹凸Α所形成的前述邊界層之前 2〇 豸黏著劑層狀凹凸為凹凸Β，而前述凹凸β之高度或 深度比前述凹凸Α之高度或深度小，並且令在波長 405nm附近之前述樹脂膜折射率、前述黏著劑層折射 率、前述邊界層折射率分別為nf、na、n_，其關係為 na< niSnf，或者na> ni —nf。 37 200540861 4. 如申請專利範圍第1項之光資訊記錄媒體，其中前述樹 脂膜在與前述邊界層側相接之面上具有凹凸，且前述凹 凸為凹凸A時，在與前述邊界層的前述黏著劑層側相接 之面上不具有因前述凹凸A所形成之凹凸，並且令在波 5 長405nm附近之前述樹脂膜折射率、前述黏著劑層折射 率、前述邊界層折射率分別為nf、na、ni時，其關係為 以下任一者： na< nignf、 na> ni — nf、 10 na< nfSni且 ni-nf< nf-na、 na> nf—ni且nf-ni< na-nf o 5. 如申請專利範圍第2項之光資訊記錄媒體，其中前述 nf、前述na、前述ni之間的關係為ni=(nf+na)/2。 6. 如申請專利範圍第2至5項中任一項之光資訊記錄媒 15 體，其中前述nf與前述na之間的關係為| nf-na | > 0.08。 7. 如申請專利範圍第6項之光資訊記錄媒體，其中前述nf 與前述ni之間的關係為| nf-ni| $0.08。 8. 如申請專利範圍第1項之光資訊記錄媒體，其中前述nf 20 為 1.45 $ nf S 1.65。 9. 如申請專利範圍第8項之光資訊記錄媒體，其中前述樹 脂膜係含有聚碳酸酯、丙烯酸系樹脂、聚烯烴樹脂、降 冰片細糸樹脂、壞氧樹脂的任一者之材料。 10. 如申請專利範圍第1項之光資訊記錄媒體，其中前述黏 38 200540861 壓性黏著劑的任一者為 著劑層係以放射線硬化村料、感 主成分之材料。 申請專利範圍第1項之光資訊記錄媒體 具中前述邊 界層之主成分為無機材料 5 10 15
    20 12.:申請專利第η項之光資訊記錄媒體，其中前述益 機材料係含有氧化物、氮化物、硫化物、_物、氣化 物、邊化物、填化物的任—者中的至少ι者之材料。 =申請專利範圍第1項之光資訊記錄媒體，其中前述邊 界層之主成分為有機材料。 14.如申請專利範圍第13項之光資訊記錄媒體，其中前述邊 界層係含有丙烯酸系樹脂、環氧系樹脂的任_者中的至 少1者之材料。 種光資訊記錄媒體’係從心騎記錄及再生之光的 入射側開始，依序由透明保護層、信號記錄層、支樓基 板構成’且前述透明保護層之厚度為10〜200微米，土 又，前述透明賴層係彻以騎記錄及再生之光 的二射側開始’依序至少由樹脂膜及可黏著前述樹脂膜 與前述信號記錄層的黏著劑層構成，且令在波長405nm 附近之前述黏著劑層折射率與前述樹脂膜折射率分別 為na、nf時，其關係為I nf-na| $0 08。 16. 如申請專利範圍第15項之光資訊記錄媒體，其中前述^ 與如述na之間的關係為| nfna丨< 0.05。 17. 如申請專利範圍第15或16項之光資訊記錄媒體，其中前 述nf為 1.45$nf$ 1.65。 39 200540861 18. 如申請專利範圍第17項之光資訊記錄媒體，其中前述樹 脂膜係含有聚碳酸酯、丙烯酸系樹脂、聚烯烴樹脂、降 冰片稀系樹脂、環氧樹脂的任一者之材料。 19. 如申請專利範圍第15項之光資訊記錄媒體，其中前述黏 5 著劑層之主成分為有機材料。 2(λ如申請專利範圍第19項之光資訊記錄媒體，其中前述黏 著劑層係含有丙烯酸系樹脂、環氧系樹脂的任一者中的 至少1者之材料。 21. 如申請專利範圍第19或20項之光資訊記錄媒體，其中前 10 述黏著劑層係以放射線硬化材料、感壓性黏著劑的任一 者為主成分之材料。 22. 如申請專利範圍第1項或第15項之光資訊記錄媒體，其 中在前述樹脂膜之用以進行記錄及再生之光的入射側 上，更具有比前述樹脂膜硬的保護層。 15 23. —種光資訊記錄媒體，係從用以進行記錄及再生之光的 入射側開始，依序由透明保護層、信號記錄層、支撐基 板構成，且前述透明保護層之厚度為10〜200微米， 又，前述透明保護層係從用以進行記錄及再生之光 的入射側開始，依序至少由保護層、樹脂膜及可黏著前 20 述樹脂膜與前述信號記錄層的黏著劑層構成，且前述保 護層比前述樹脂膜硬，並在前述樹脂膜與前述保護層相 接之面上具有凹凸，且前述凹凸為凹凸C時，因前述凹 凸C所形成的前述保護層之凹凸為凹凸D，而前述凹凸D 之高度或深度比前述凹凸C之高度或深度小。 40 200540861 24. —種光資訊記錄媒體之製造方法，該光資訊記錄媒體係 從用以進行記錄及再生之光的入射側開始，依序由透明 保護層、信號記錄層、支撐基板構成，且前述透明保護 層係從用以進行記錄及再生之光的入射側開始，依序由 5 樹脂膜層、邊界層、黏著劑層構成，並且前述透明保護 層之厚度為10〜200微米，又，該光資訊記錄媒體之製造 方法包含有下述步驟： 邊界層形成步驟，係在前述樹脂膜上形成前述邊界 層；及 10 黏著步驟，係在前述邊界層與形成有前述信號記錄 層之前述支撐基板之間配置前述黏著劑層，使前述邊界 層與前述信號記錄層相向並黏著。 25. 如申請專利範圍第24項之光資訊記錄媒體之製造方 法，係在測出前述樹脂膜上的凹凸之高度或深度後，根 15 據前述凹凸之高度或深度來選擇前述邊界層之種類、厚 度及形成方法，以作為前述邊界層形成步驟。 26. 如申請專利範圍第24或25項之光資訊記錄媒體之製造 方法，其中前述邊界層形成步驟係在前述邊界層的材料 為液體狀或半固體狀時，利用塗布法形成之步驟。 20 27.如申請專利範圍第24或25項之光資訊記錄媒體之製造 方法，其中前述邊界層形成步驟係藉由濺鍍法、蒸鍍 法、離子鍍法、CVD法的任一者來形成前述邊界層之材 28.如申請專利範圍第24項之光資訊記錄媒體之製造方 41 200540861 法，其中前述黏著步驟係使前述黏著劑層形成於前述邊 界層上，並使前述邊界層與形成有前述信號記錄層的前 述支撐基板互相黏著之步驟。 29. 如申請專利範圍第24項之光資訊記錄媒體之製造方 5 法，係在前述黏著步驟中使用感壓性黏著劑來作為前述 黏著劑層。 30. 如申請專利範圍第24項之光資訊記錄媒體之製造方 法，係在前述黏著步驟中使用放射線硬化材料來作為前 述黏著劑層。 10 31.如申請專利範圍第24項之光資訊記錄媒體之製造方 法，更具有將前述樹脂膜衝切成所要的形狀之步驟。 42
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