TW200527424A - Write driver for a magnetoresistive memory - Google Patents

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TW200527424A TW093124252A TW93124252A TW200527424A TW 200527424 A TW200527424 A TW 200527424A TW 093124252 A TW093124252 A TW 093124252A TW 93124252 A TW93124252 A TW 93124252A TW 200527424 A TW200527424 A TW 200527424A
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Joseph J Nahas
Thomas W Andre
Chitra K Subramanian
Halbert Lin
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Freescale Semiconductor Inc
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Description

200527424 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明關於磁阻隨機存取記憶體(MRAM),及更特別關於 用於MRAM中之寫入驅動器。 【先前技術】 磁阻記憶體(MRAM)具有某些良好特徵,如非揮發性、緻 密及快速。這些特徵使得磁阻記憶體(MRAM)極為適用作為 一般目的的記憶體及作為一内崁式記憶體,即如一微電腦 之類邏輯電路的板上記憶體。因某些因素以致於難以將該 等MRAM投入生產。這些因素之一為持續地寫入可辨識的 壹及零。 用以克服這些困難的技術為一雙態位元MRAM之開發。 這已在美國專利案6,545,906 Bl(Savtchenko等人)中描述。 在此狀況中藉由應用二時序之磁性信號而將MRAM程序 化,促使該MRAM單元切換狀態而無關其目前狀態。由一 邏輯壹至一邏輯零的改變可如同由一邏輯零至一邏輯壹之 改變的方式達性。這技術在邏輯壹狀態與邏輯零之間提供 優越的穩定性。因藉由控制一位元中之磁場而達成邏輯狀 態的雙態,則必需控制寫入線中製造磁場的電流。 因此需存在對MRAM之寫入驅動器的需求,在亦考量了 小尺寸之電路設計的一般需求下,來提供有效的電流控 制。因此適合一提供小尺寸及有效電流控制兩者之寫入驅 動器。 【發明内容】 94940.doc 200527424 %一種使用參考電流之寫入驅動器,該參考電流藉由一電 I而反射至一驅動器電路。該驅動器電路係依提供該電壓 之衣置而定大小’促使通過該驅動器之電流係該參考電流 之預α又七數。該電壓經由一開關而耦合至該驅動器電路。 該開關叉控制而促使僅當按一解碼器回應於一位址而決定 二电S,L將通過寫入線時’該驅動器電路才接收該電壓。 當電流預期為不通過該寫入線時,則該驅動器即確定被停 用作為克服因高電流所導致之接地彈跳之增強機制,能 電容地耦合該驅動器之輸入端至遭受該彈跳之接地終端。 額外之增強機制有益於振幅及邊緣速率控制。參考附圖及 隨後描述將更可瞭解。 【實施方式】 圖1中所示為一記憶體10,其具有一磁阻記憶體 元之陣列12、一用以接收一列位址之列解碼器丨4、耦合至 δ亥列解碼器14之複數個列寫入驅動器丨6、一耦合至列寫入 驅動器16之列偏壓電路18、一耦合至列寫入驅動器丨6之時 序電路20、一用以接收一行位址之行解碼器22、耦合至該 行解碼器22及時序電路20之複數個行寫入驅動器24、及一 輕合至行寫入驅動器24之行偏壓電路26。陣列12包括:列
寫入線44、46、48和50、行寫入線52、54、56和58;及MRAM 單元 60、62、64、66、68、70、72、74、76、78、80、82、 84、86、88和90。複數個列寫入驅動器16包括列:寫入驅 動器28,其耦合至列寫入線44 ;列寫入驅動器3〇 ,其耦合 至列寫入線46 ;列寫入驅動器32,其耦合至列寫入線48 ; 94940.doc 200527424 及列寫入驅動器34,其耦合至列寫入線5〇。複數個行寫入 驅動器24包括订寫入驅動器36,其耦合至行寫入線52 ;行 寫入驅動器38,其麵合至行寫人線54;行寫人驅動器4〇, 其耦合至灯寫入線56 ;及行寫入驅動器42,其耦合至行寫 入線58。熟習該項技術者應了解,在實施上,記憶體丨❽要 包括更多圮憶體單元以及其他特徵,例如位址緩衝器、用 以讀取之字線和位元線、用以讀取之感測放大器、用以接 收欲寫入貧料之輸入緩衝器、以及輸出緩衝器。在2〇〇2年 06月28日申請之美國專利申請案第1〇/185,888號,名稱 ^Memory Architecture with Write Circuitry and Method Therefor”中描述此種記憶體。 在記憶體10中,記憶體單元60-90為藉由雙態化而寫入 (程式化)之MRAM單元。在此狀況中,一特別之記憶體單元 (如圯憶體單元84)係藉由重疊寫入脈衝予以寫入。無論首先 施加電流至行寫入52或列寫入線5〇,因為用任一方式均可 有效寫入該單元,所以能夠稍微隨心所欲。而哪種方式是 取理想情況更可能係關於相鄰單元之妨礙數量及其他因 素。假疋在此狀況中係首先於列方向中施加該電流,列寫 入驅動器34會將施加一電流脈衝至列寫入線5〇,同時行寫 入驅動器36不會施加電流至行寫入線52。藉由時序電路2〇 而控制時序。藉由列偏壓電路1 8而控制電流量。當列寫入 驅動器34仍施加電流脈衝至列寫入線5〇時,藉由行寫入驅 動器36施加一電流脈衝至行寫入線52。該電流量就是藉由 列偏壓電路26所控制之電流脈衝的電流量。當行寫入驅動 94940.doc 200527424 器36施加電流脈衝至行寫入線”時,則列寫入驅動器34會 終止施加至列寫入線50之電流脈衝。在終止施加至列寫入 線50之電流脈衝後,會終止施加至行寫入線^之電流脈 衝。這會完成單元84狀態之雙態化。該等寫入驅動器“及 24具有使其特別適用於雙態形式之優點。 圖2中所示為記憶體單元84、行寫入驅動器%、列偏壓電 路26、^丁解碼益22及時序電路2〇。列偏壓電路%及寫入驅 動器36均緣示為電路圖。列偏麼電路%包括—電流源1〇2、 - N通道電晶體104、及一調和增益(unity胖⑷放大器 電流源102具有一耦合至第一正供電終端t第一終端及一 第二終端。電流自該第一終端流向第二終端。冑晶體1〇4 具有-控制電極、-連接至電流源第二終端之第—電流電 極(此狀況中為汲極),以及一耦合至一負供電終端之第二電 流電極(此狀況中為接地)。 調和增益放大器106具有一連接至電流源1〇2第二終端之 第-終端及-輸出端。該調和增益放大器1〇6之輸出端為該 偏壓電路26之輸出端且耦合至該等行寫入驅動器,包括寫 入驅動器36,如圖2所示。在此範例中,藉由一運算放大器 (其中非反轉輸入端被連接至電流源1〇2之第二終端及反轉 輸入端被耦合至運算放大器之輸出端)而達成調和增益放 大器106。在習知之電流鏡結構中,電晶體1〇4會建立一有 助於建立一通過另一電晶體之電流(此電流與^接通過電 晶體104之電流成比例)的偏壓電壓。已知彼等電流之比率 係依據電晶體104尺寸對會接收偏壓電壓之其他電晶體尺 94940.doc 200527424 寸之比率。因為許多其他寫入驅動器會接收該偏壓電壓, 所以έ藉由凋和增益放大器i〇6來緩衝處理該偏壓電壓。行 寫入驅動裔之數量一般會相對大量,例如,在本情況中為 1024個行寫入驅動器。 寫入驅動态36包括一「反及」(NAND)閘108、一 P通道電 晶體110、一 N通道電晶體112、及一 N通道電晶體114。「反 及」(NAND)閘108具有一耦合至行解碼器22輸出之第一輸 入端以及一耦合至時序電路20第一輸出端之第二輸入端。 電晶體110具有-耦合至「反及」(NAND)閘108輸出端之閘 極(控制電極)、一耦合至調和增益放大器106輸出端之源 極、及一汲極。電晶體11〇之主體及源極係連接在一起。電 晶體112具有一耦合至「反及」(NAND)閘112輸出端之閘 極、一耦合至電晶體11〇汲極之汲極、及一連接至負供電終 端之源極。電晶體114具有一連接至電晶體11〇及112汲極之 控制電極、一連接至行寫入線52之汲極、及一連接至負供 電終‘之源極。電晶體丨丨4明顯地大於電晶體丨〇4。通道長 度較佳相同於電晶體n4之通道寬度(其明顯大於電晶體 104之通道寬度)。該比率較佳地為100之級數。 操作上,當選擇行寫入線52時,行解碼器22會輸出一邏 輯高至「反及」(NAND)閘108。時序電路2〇會在需經由行 寫入線52而供應電流時提供一正向脈衝。藉由來自時序電 路20脈衝來施加邏輯高會造成r反及」(NAND)閘ι〇δ輪出 一邏輯低,而造成電晶體11〇變成傳導狀態。藉此, 屯曰曰體 Π0操作為一開關,用以耦合調和增益放大器1〇6之輪出端 94940.doc -10- 200527424 至電晶體114之閘極。運用一用於控制通過電晶體ιΐ4之電 流的閘極電壓而使電晶體114變成傳導狀態。以熟悉之電流 鏡方式來控制該電流,其中通過電晶體1〇4之電流係經由調 和增益放大器106及電晶體丨⑺而反射至至電晶體114。該電 晶體104及114之寬度比率被設定以獲得要通過行寫入線μ 的期望電流。已謹慎控制且已知電流源1〇2所供應之電流。 接著,選擇該寬度比率以達到要通過行寫入線52的期望電 流,藉此產生用以寫入MRAM單元之期望磁場。 ,當要終止通過寫入線52之電流時,時序電路2〇會終止脈 衝,促使「反及」(NAND)閘108會切換其輸出至一邏輯高, 其會造成電晶體112成為傳導狀態及電晶體i i 〇成為非傳導 狀態m體no為傳導狀態,t晶體114之閘極被搞合 至其源極,而造成該電晶體114間極為非傳導狀態及因此二 止通過寫人線52之電流。因&,在此操作中,必需使大寫 :電流通過的唯-電晶體就是電晶體114。因為必需載送大 電流’所以電晶體114遠大於被組合而構成寫入驅動器36的 斤有/、他電曰曰體。在寫入線52電流路徑中之任何額外之電 晶體亦必需為相稱尺寸,且因此大幅加該寫入驅動器之區 或因此提供一通過寫入線52之受控電流(且因此該受控 電流通過連接至寫人線52的單元84、76、68和6()),同時僅 必需具有一個非常大的電晶體。 、讀碼H 22會提供__邏輯低輸出至被取消選取之所有行 邏輯寫入驅動器。因此當取消選取寫人位元線52時,來自 相關聯於寫人位元線52之行解碼器22的信號會成為邏輯 94940.doc -11 - 200527424 低。這會使「反及」(NAND)閘108之輸出維持在邏輯高, 進:造成電晶體U2成為傳導狀態及電晶體ιι〇成為非傳導 狀悲。在該狀況中’電晶體114之源極被輕合至其間極且因 此為非傳導狀態。 通過一寫入線(如寫入線52)之電流可變得足夠大以實際 提升電晶體114源極上之錢。例如,若接地回程(g_(
return)具有一 10歐姆電阻且該寫入電流為ι〇毫安培,則可 提升該包晶體114之源極為100毫伏特。電晶體丨丨4上閘極至 源極電壓之100耄伏特的降低可明顯地降低通過電晶體 U4(且因此通過寫入線52)之電流。此問題類型是各種電路 的共通問題且通常稱為接地彈跳。 圖3中所示為用於解此此電位問題之圖2中所示寫入驅動 器之交修改方案。接著,以不同於圖2中所示之方式來實作 圖1之寫入驅動器36不同於圖2中所示。圖3之寫入驅動器36
灵施方案具有一傳送閘極116、一反轉器118、及一電容器 120等額外元件。傳送閘極U6被插入在偏壓電路%之輸出 端與電晶體110之源極之間。結果,傳送閘極116之第一信 號終端被連接至偏壓電路26之輸出端,以及一第二信號終 端被轉合至電晶體丨丨〇之源極。該反轉控制輸入端被耦合至 反轉器118之輸出端,以及該非反轉控制輸入端被耦合至 「反及」(NAND)閘1〇8之輸出端。該反轉器118之輸入端被 搞合至「反及」(NAND)閘1〇8之輸出端。電容器120具有一 連接至電晶體114源極之第一終端,以及一連接至電晶體 110源極之第二終端。 94940.doc -12- 200527424 對於當寫入線52被選擇但時序電路20尚未產生寫入脈衝 時之情況,「反及」(NAND)閘會提供一邏輯高輸出,促使 傳送閘極116為傳導狀態,電晶體110為非傳導狀態,且電 晶體112為傳導狀態。結果,電晶體114為非傳導狀態,且 藉由偏壓電路26之輸出端所供應之電壓來將電容器12〇充 電。當時序電路20產生寫入脈衝時,則r反及」(Nand) 閘會輸出一邏輯低,其造成電晶體112為非傳導狀態,電晶 體110為傳導狀態,且傳送閘極116為非傳導狀態。在此狀 況中,電晶體114變成傳導狀態,促使寫入電流會通過寫入 線52而流動。當該寫入電流流動時,接著,由於接地彈跳 而導致電晶體114之源極電壓會上升。在此狀況中,由於電 容器120,而導致電晶體11〇源極上之電壓會上升相同的電 壓量。該電晶體110源極上之電壓會持續地耦合至電晶體 114之閘極。因此源極電壓之增加並不會導致閘極至源極電 壓的降低,促使通過寫入線52之電流會維持相當恆定。如 同圖2電路之方式而達成寫入電流之終止。該時序電路會終 止脈衝,们吏「反及」(NAND)閘1〇8會提供一邏輯高輸出, 其造成電晶體112為傳導狀態,電晶體11〇為非傳導狀態, 且傳送閘極116為傳導狀態。這些條件會維持將電容器12〇 充電至偏壓電路26之輸出電壓’及造成電晶體ιΐ4為非傳導 狀態。當取消選取寫入線52時,該行解碼器會提供一用於 使「反及」(NAND)閘108之輸出維持在邏輯高狀況中的「反 及」(編0)_低輸出,藉此而維持如當時序電路終止 寫入電流時所述之狀況。 94940.doc -13- 200527424 圖4顯示於行偏壓電路26之替代方案及行寫入驅動器刊 之另一替代方案,用於在操作條件範圍内,針對被施加至 寫入線52的電流脈衝,提供振幅及邊緣速率之增強控制。 在此實施例中,行偏壓電路包括一電阻器13〇、一電阻器 U2、電流源134、N通道電晶體136、及運算放大器138。電 阻器130具有一耦合至VDD之第一終端及一第二終端。電流 源134具有一耦合至電阻器13〇第二終端之第一終端,及一 耦合至接地之第二終端。電阻器132具有一耦合至VDD之第 終及一第二終端。電晶體13 6具有一搞合至電阻器13 2 第一終端之汲極、一耦合至接地之源極、及一閘極。運算 放大器138具有一耦合至電阻器130第二終端之反轉輸入 端、一耦合至電阻器132第二終端之非反轉輸入端、及一耗 合至電晶體136閘極之輸出端。電阻器130及132被設計為寫 入線52電阻之預定倍數。達成此目的的較佳方式為,使用 如寫入線5 2之相同方式而串聯連接的複數條線。 當於寫入線52發生寫入作業時,電流源134會汲取一通過 電阻器130的電流,而導致一被施加至運算放大器138之非 反轉輸入端的電壓相同於電晶體114汲極所需之電壓,藉此 達成通過寫入線52之期望電流。運算放大器138會控制電晶 體13 6之閘極,以汲取一通過電阻器} 3 〇的電流,藉此導致 運异放大器138之反轉輸入端上的電壓實質上等於被施加 至運算放大器13 8之非反轉輸入端的電壓。因此,在電阻器 136汲極之電壓為在電晶體丨14汲極用於寫入狀況之期望電 。電阻器132為寫入線52電阻之已知倍數。電晶體I%被 94940.doc -14- 200527424 選擇以促使電晶體114之通道寬度具有相對於電晶體i 3 6通 道寬度的相同倍數。因此,電晶體136之閘極係以電壓予以 有效偏壓,如果該電壓被施加至電晶體丨14之閘極,則會造 成電晶體114汲取通過寫入線52之該期望寫入電流。因此, 會透過行寫入驅動器36之控制,將該電晶體136之閘極電壓 (¾疋運异放大器138的輸出)施加至電晶體114之閘極。 這項做法的優點不僅在於不依賴正好匹配的閘極電壓 (當已知該等電晶體為飽和狀態時之效應),而且還會匹配汲 極電壓。因此,電晶體136及114不需要處於飽和狀態,就 能達成寫入電流之期望控制。藉由不需要電晶體114處於非 飽和狀態,該汲極電壓可為較低且因此一既定電晶體可提 取更多電流。因此,用於一既定電晶體尺寸之寫入線可為 較長。 圖4所示之行寫入驅動器36的其他代替方案為圖2所示之 「反及」(NAND)閘108的不同實作。具體而言,該不同之 「反及」(NAND)閘包括P通道電晶體14〇和142以及N通道電 晶體144和146,其作用為提供如同圖2之「反及」(ΝΑΝ〇) 閘108邏輯功能的「反及」(NAND)閘,但是該不同之「反 及」(NAND)閘的一輸出會造成驅動器、電晶體11〇和ιΐ2至 電晶體114具有一平衡之上升及下降時間。電晶體14〇具有 一耦合至運算放大器138輸出之源極、一耦合至行解碼器22 輸出之閘極、及一耦合至電晶體11〇閘極之汲極。電晶體M2 具有一耦合至運算放大器138輸出之源極、一耦合至時序電 路20輸出之閘極、及一耦合至電晶體11〇閘極之汲極。電晶 94940.doc -15- 200527424 請具有一耦合至電晶體11〇閘極之汲極、—耦合至行解 碼器22輸出之閘極、及—源極。電晶體146具有—麵合至電 ^曰體144源極线極、—耗合至時序電路20輸出之閘極、及 一搞合至接地之源極。電晶體_及142之本體被連接至這 些電晶體的源極。 在操作上及對於選擇寫人線52從被取消選擇切換至被選 擇之狀況,行解碼器22會從一邏輯低切換至一邏輯高,之 後接著時序電路20從-邏輯低切換至一邏輯高。在此項切 換作業之前,運算放大器138之輸出被麵合至電晶體ιι〇及 112之閘極。在此狀況中,電晶體114為非傳導狀態。在切 換行解碼器22及時序電路2〇之輸出後,電晶體⑽及142隨 即變成非傳導狀態且電晶體144及146會變成傳導狀態,其 造成接地電位被施加至電晶體11〇及112之閘極。因此會將 電晶體110之閘極至源極電壓從零伏特切換為一量值等於 運异放大益138之輸出的電壓。響應電晶體11〇變成傳導狀 態,促使電晶體114變成傳導狀態。電晶體114所汲取之電 "IL的上升日守間取決於藉由電晶體1 1 〇所施加之電屢的上升 時間,接著,電晶體110所施加之電壓的上升時間取決於被 施加至電晶體11 〇的閘極至源極電壓。 在寫入時間到期之後,時序電路20會切換至一邏輯低, 及造成電晶體142變成傳導狀態及電晶體丨46變成非傳導狀 怨。這具有施加運算放大器138之輸出電壓至電晶體11〇及 112閘極之效果,藉此造成電晶體114變成非傳導狀態。電 晶體114所汲取之電流的下降時間取決於電晶體丨丨2所施加 94940.doc 16 200527424 之電壓的下降時間,接著,電晶體丨12所施加之電壓的下降 時間取決於被施加至電晶體112的閘極至源極電壓。該閘極 至源極電壓相等於運算放大器138輸出之電壓。因此,電晶 體114所汲取之電流的之上升及下降時間兩者均受控於相 同的閘極至源極電壓(這是運算放大器138輸出之電壓)。邊 緣速率控制對於穩定磁切換特性很重要。 行寫入驅動器36也是其他寫入驅動器之範例。行寫入偏 壓電路26亦為列偏壓電路之範例。列輸出偏壓電路所提供 之輸出電壓可能相同於或不同於列偏壓電路之電壓。所發 表的此一實作係依據所選擇之特定單元類型及架構,並且 還可能相依據製造MRAM單元之程序。 熟悉此項技術者很容易對本文中基於解說用途所選擇之 具體實施例進行各種改變及修改。例如,雖然基於某些應 用而論述一雙態程式化“以八乂,但是顯然地,其他類型記 憶體單元皆可利用本文中所揭示之特徵。很容易在電晶體 傳導類型、電晶體類型等方面予以變化。例如,電晶體ιΐ4 可為-P通道電晶體,其進-步具有需要“驅動器中其他 電路之邏輯狀態反轉之效應。I然已呈現特邏輯電 路,但可使用許多邏輯電路實施來實作本文中詳述之功 能。在修改及改變不背離本發明之精神的程度範圍内,彼 等修改及改變預;t屬於本發明範圍内,本發明範圍僅藉由 一隨附申請專利範圍之公正解釋予以確立。 【圖式簡單說明】 圖1是根據本發明之實施例的方塊圖· 94940.doc -17- 200527424 圖2是根據第一實施之圖1的記憶體部分之組合方塊圖及 電路圖; 圖3是根據第二實施之圖1的記憶體部分之組合方塊圖及 電路圖;及 圖4是根據第三實施之圖1的記憶體部分之組合方塊圖及 電路圖。 【主要元件符號說明】 10 記憶體 12 陣列 14 解碼器 16 , 28 , 30 , 32 , 34 列寫入驅動器 18 列偏壓電路 20 時序電路 22 行解碼器 24 , 36 , 38 , 40 , 42 行寫入驅動器 26 寫入偏壓電路 44 , 46 , 48 , 50 列寫入線. 52 , 54 , 56 , 58 行寫入線 60 , 62 , 64 , 66 , 68 , 70 , MRAM單元 70 , 74 , 76 , 78 , 80 , 82 , 84 , 86 , 88 , 90 102 電流源 104,112,114,136, N通道電晶體 144 , 146 94940.doc -18- 200527424 106 108 110 , 140 , 142 116 120 130 , 132 134 調和增益放大器 「反及」(NAND)閘 P通道電晶體 傳送閘極 電容器 電阻器 電流源 94940.doc 19-

Claims (1)

  1. 200527424 十、申請專利範圍: 1. 一種記憶體,包括: 複數個記憶體單元; 寫入線纟用以寫入_資料值於該等複㈣IA I '曰曰體其耦合至該寫入線以用以控制該寫入線中 黾"IL,e亥电晶體具有一控制電極;及 弟-切換電路,其具有一耦合至電晶體控制電極之 第-終端,及-輕合至一參考電壓電路之第 ,兮 參考電壓電路係用以提供-用於在記憶體之—寫入操;; 期間控制通過該寫入線之帝泣旦 ’、 3八踝之包流里的參考電壓,其 一切換電路回應一時庠_缺+、 、 Μ 或一啟用信號中至少之-而 具有一傳導狀態。 2·如請求们之記憶體,其中該第一㈣電 態皆回應於該時序信號與該啟用信號。f導狀“大 3·如請求項1之記憶體,尚包括: 一第二切換電路,复呈古一 、有一耦合至控制電極之第一終 而及-搞合至具有一電麼位準之電 端,促使當兮筮-M A I弟一、冬 ^弟—切換電路處於傳導 為非傳導狀態,其令嗜第_+姑办 才"亥电曰日體 该啟用信號中至少之一 了序4唬或 而具有一傳導狀態。 •如請求項3之記憶體,其 爷篦格; 干忒弟一切換電路係傳導狀離, ^弟_切換笔路係非傳導狀態, … 電路係非傳導狀態時 田L切換 5·如請求们之⑭體Atb換电路係傳導狀態。 ^ ^考㈣電路包括-電流源 94940.doc 200527424 及一連接有二極體且串聯耦合至該電流源之電晶體。 6. 7. 如請求項5之記憶體,其中該參考電壓電路尚包括—耦合 至該第二終端之緩衝電路。 如請求項1之記憶體,其中該電晶體包括一連接至該寫入 線之第一電流終端,及一連接至一電壓源極之第二電流 終端。 8· 9· 如請求項1之記憶體,其中當該電晶體被啟用以傳導一寫 入電流時,該電晶體在飽和模式中操作。 如請求項1之記憶體,其中該寫入線提供電流至複數個記 憶體單元,以產生一磁場 複數個記憶體單元中。 其用以寫入一資料值至該等 10 匕請求項1之記憶體,其中該電晶體具有一耦合 線之第一電流電極,及一搞合至一 極,該記憶體尚包括: 至該寫入 電壓源之第二電流電 該電晶體之第二該電流電 電容器’其具有一耦合至 電路之該第二終 極之第一電極,及一 祸合至該第一切換 端之第二電極; 土々;软㈧俠电峪之該第二 柒與電壓蒼考電路之M 路之間,該第二切換電路回應該時> 就或該啟用信號中至少 v之一而具有一傳導狀態。 94940.doc
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6956764B2 (en) * 2003-08-25 2005-10-18 Freescale Semiconductor, Inc. Method of writing to a multi-state magnetic random access memory cell
US7280388B2 (en) * 2005-12-07 2007-10-09 Nahas Joseph J MRAM with a write driver and method therefor
US7206223B1 (en) 2005-12-07 2007-04-17 Freescale Semiconductor, Inc. MRAM memory with residual write field reset
US7746686B2 (en) * 2006-04-21 2010-06-29 Honeywell International Inc. Partitioned random access and read only memory
JP2010186559A (ja) * 2010-06-04 2010-08-26 Renesas Electronics Corp 薄膜磁性体記憶装置
KR102661099B1 (ko) 2018-11-08 2024-04-29 삼성전자주식회사 전송 소자를 포함하는 불휘발성 메모리 장치
CN111951848B (zh) * 2020-08-18 2023-09-01 上海交通大学 一种嵌入式动态随机存储器增益单元及其操作方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4544878A (en) * 1983-10-04 1985-10-01 At&T Bell Laboratories Switched current mirror
US6693882B1 (en) 1999-01-26 2004-02-17 International Business Machines Corporation Frequency correction burst detection
US6343032B1 (en) * 1999-07-07 2002-01-29 Iowa State University Research Foundation, Inc. Non-volatile spin dependent tunnel junction circuit
US6188615B1 (en) * 1999-10-29 2001-02-13 Hewlett-Packard Company MRAM device including digital sense amplifiers
JP3800925B2 (ja) * 2000-05-15 2006-07-26 日本電気株式会社 磁気ランダムアクセスメモリ回路
JP4726290B2 (ja) * 2000-10-17 2011-07-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路
JP2002216468A (ja) * 2000-11-08 2002-08-02 Canon Inc 半導体記憶装置
JP3920565B2 (ja) * 2000-12-26 2007-05-30 株式会社東芝 磁気ランダムアクセスメモリ
JP4712204B2 (ja) * 2001-03-05 2011-06-29 ルネサスエレクトロニクス株式会社 記憶装置
US6574137B2 (en) * 2001-08-30 2003-06-03 Micron Technology, Inc. Single ended row select for a MRAM device
US6545906B1 (en) 2001-10-16 2003-04-08 Motorola, Inc. Method of writing to scalable magnetoresistance random access memory element
US6531723B1 (en) 2001-10-16 2003-03-11 Motorola, Inc. Magnetoresistance random access memory for improved scalability
JP2003151260A (ja) * 2001-11-13 2003-05-23 Mitsubishi Electric Corp 薄膜磁性体記憶装置
DE60227907D1 (de) * 2001-12-21 2008-09-11 Toshiba Kk Magnetischer Direktzugriffsspeicher
US6693824B2 (en) * 2002-06-28 2004-02-17 Motorola, Inc. Circuit and method of writing a toggle memory
US7221582B2 (en) * 2003-08-27 2007-05-22 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and system for controlling write current in magnetic memory

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