TW200403961A - Baffle plated and plasma etching device having same - Google Patents
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Description
200403961 玫、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本叙明係關於電漿產生裝置,詳細而言為—種電漿產生 裝置或電漿姓刻裝置,其係包覆位於電漿產生處理室内之 下部電極而與處理室内壁結合,用以防止在電漿工序時之 私聚戍漏’且具有一擋板;該擋板具有複數個槽孔,便於 進行排氣氣體、副產物、及異物之排放。 【先前技術】 所謂電漿,通常指一種在性質上正離子及電子具有相同 密度而存在之呈電子中性的高度電離狀態,例如放兩其 的狀態。 兒吕 為了製造半導體或且TFT LCD積體電路,有必要進行藉由 金屬層來對在碎基板上形成之元件進行配線的工序 (metahzation) ’且為了使元件等與金屬層做電性連接,必須 包含在金屬層下方的絕緣層上形成接觸孔的過程。為了形 成接觸孔,一般係利用電漿來對如氧化膜之絕緣層進行乾 式姓刻。 、 〜讲把團,具有指定空f 的處理室1 0 1内,設有下鄭雪搞彳π ? ^ 口又哥下邛私極102,其係用以載置晶圓$ 《被蚀刻對象物;τ部電極1()2上方對面的位置上,設有」 邵電極1 03。上部電極1 〇3上形成有 一 、、、 y?夂數個處理氣體流入n
104,經由該流入口 1〇4流入的處理氣體(例如:⑽、C3F 、C5F8、CF4、CHJF3、CH,F2、CO、Ar 一丄 _ 2 Ar ' 〇2、N2 或且 H2)在 精由施加於上邵及下部電極間的 7尺上私壓而電漿化(即,變成 85618 200403961 自土離子及包子)後,而對晶圓進行處理。在此過程 中j受到電漿化的處理氣體會產生副產物等…排出上 述釗產物寺及排氣氣體,在上述處理室ι〇ι下部設有排出系 統1〇5。排出系統105中,可採用丁 MP(TUrb〇M〇l⑽larPump ;分子渦輪泵)之類的特定排氣泵。此外,擋板10係包覆下 部電極般地與處理室内壁結合,限制了處理室101的電衆產 生工間110(即’在上邵電極1〇3與下部電極⑽之間形成的空 門)Xi免在私漿產生玄間i i 0内產生的電聚淺漏。擋板Μ 上形成有複數個開口或槽孔’其大小不僅適於防止電漿殘 漏,且利於排出各種副產物及排氣氣體。該擋板1 〇係藉由 累、糸插入螺絲孔15〇(參照圖2)而旋入並固定於風箱上蓋13〇 内。 圖2為以往的擋板之立體圖:以往的擂板12〇外觀呈環狀 平板’在中央具有圓形開口 122,且在圓周方向上,配置有 、复數個由該中央開口附近(内緣附近)向外緣的半徑方向上 直、’泉延伸的長形槽孔丨2丨。如此一來,電漿處理過程中產生 的排氣氣體及副產物(工序中產生的異物、電子、離子、及 自由基等)會經由該擋板12〇上之槽孔12丨而排放至處理室下 邵,進而經由排放系統而排放至外部。圖3a及圖讣為圖二所 π A部份等主要部位立體圖及平面圖,詳細地顯示了圖2之 槽孔1 2 1。 惟,如圖3a及圖3b所示,擋板12〇内具有複數個具有一定 寬度Ts的槽孔121,沿著半徑方向直線延伸。為了防止電漿 經由槽孔121洩漏,槽孔121的寬度Ts通常設定成约}㈤㈤。 85618
200403961 如此一來’槽孔1 2 1在擋板1 20内緣附近之一端間的間隔丁2 及槽孔1 2 1在外緣附近之另一端間的間隔τ 1會互異:即,丁 j 會比Τ2大。如此一來,由於排氣氣體及副產物等無法排放 的死角(dead area)會變大,電漿蝕刻裝置的作業效率下滑, 因此導致了半導體及集體電路的生產原價增加的問題/然 而,為了減小上述的死角而擴大整體的槽孔寬度時,或在 將擋板内緣附近的槽孔寬度保持在約1 mm的情況下,使兪 靠外緣的寬度愈大時,則會使得電漿洩漏的程度增加,導 致電漿蝕刻效率下滑的問題。 【發明内容】 了本發明,其目的在於 ’特別關於一種電漿蝕 有鑑於上述問題,本發明人發明 提供一種具有擋板的電漿產生裝置 其檔板上形成有能夠防止電漿洩漏且能夠迅速排 刻裝置 種電漿產生裝置 放最大量的排氣氣體及副產物等之槽孔。 依本發明之一實施方式,本發明提供一 具有形成有能夠進行排 孔之擋板者,上述擔板 緣附近向外緣呈曲線狀 ’其係設置於電漿產生處理室内, 氣氣體及副產物等排放的複數個槽 上的複數個槽孔分別自上述擋板内 延伸。 上述複數個槽孔分別具有-定寬度為佳。此外 槽孔與相鄰槽孔在-端與另—端的間隔可㈣Ml 上:複數各槽孔分別在形成時’以剖面的上部寬度大余 下邵見度為佳,且以槽孔上部寬 、 見度土 1 ·8 mm,下部寬肩 1 · 0 m m為佳。 85618 200403961 上述複數各槽孔係以具有漏砂狀剖面為佳, 孔上邵見度1 ·6至1.§ mm,中間寬度1 〇印瓜 且此時以槽 1 _ 5 m m為佳。 F見度1 · 1至 彎曲 45度為佳
,且上述擒板上形成有槽孔的部 ^1、上或向1 %佳。 弓曲角度係以0J
上述擔板形成有槽孔 曲。 的部份能夠呈圓弧狀 而向上或向 下 度來向上或 進行蚀刻的 上述擋板上形成槽孔的部份能夠以特定的角 向下彎曲兩次以上。 上述電漿產生裝置可為用以對被處理對象物 裝置。 长本發明之其他實施方式,本發明提供一種電漿產生: :二係設置於電漿產生處理室内,具有形成有能夠進」 氣乳體及副產物等排放的複數個槽孔之擋板者,上述: 板上的稷數個槽孔係分別自上述擋板内緣附近向外緣以 對於半徑方向呈斜線般地延伸。 、 上述擔板上自上述擋板内緣附近向外緣以相對於半徑方 向王斜線般地延伸的上述複數個槽孔分別以彎曲至少一次 為佳。 【實施方式】 以下’將針對本發明第一實施方式之具備擋板的電漿蝕 4裳置’一面參照圖式一面進行說明。 依圖1來再度說明本發明之電漿產生裝置及電漿蝕刻裝
^5618 200403961 置的基本構造的話,在具有特定空間的處理室1 01内,有上 部電極1 03及下部電極1 02相對設置;晶圓等被處理(蝕刻) 對象物係置於下部電極102上;上部電極103上形成有複數 個處理氣體流入口 1 0 4,經由該流入口 1 0 4流入的處理氣體 (例如:C4F8、C3F8、c5f8、CHF3、CF4、CH2F2、c〇、Ar 、〇2、N2或且H2)在藉由施加於上部及下部電極i〇3及i〇2 間的電壓(例如,RF電壓)而電漿化後,而對晶圓進行處理 (例如,蝕刻處理)。在此過程中,受到電漿化的處理氣體會 產生副產物等,為了排出上述副產物等及排氣氣體,在上 述處理室101下部設有排出系統105。排出系統1〇5中,可採 用TMP(Turbo Molecular Pump ;分子渦輪泵)之類的特定排 氣系。 此外,擋板10設於處理室1〇1内;該擋板10係藉由例如將 螺絲插入螺絲孔1 5〇(參照圖4)而旋入並固定於風箱上蓋i 3〇 内,使得擋板10内緣包覆下部電極102且其外緣與處理室 ιοί内壁相結合,以防止電漿產生空間110(即,上部電極1〇3 與下邵電極1 02間形成的空間)内產生的電漿外漏。擋板J 〇 上形成有複數個槽孔,其大小不僅能夠防止電漿外漏,且 有助於使各種副產物及排氣氣體排放。 圖4係以本發明之一良好實施方式之擋板1〇為内容的立 體圖:擋板ίο呈内徑約250 mm且外徑約366 111111的中空環狀 ,並使其内緣部位包覆下部電極且其外緣部位密合於處理 室ιοί内壁的情況下固定於風箱上蓋130,具有侷限電漿產 生空間的功能。在本發明實施方式中,雖然擋板係形成 85618 -10· 200403961 為中空«的平板’然而為配合處理室的形狀,也可形成 為四角板等之多種形狀。擔板上形成有複數個長形槽孔η 不僅牝夠防止包漿處理氣體外洩,且能夠以最大速度大 量地排放排氣氣體及各種副產物等。 該槽孔11分別具有一定的寬度(約1叫,且由播板10内緣 附近向外緣呈曲線延伸。在此情況中’由於槽孔"由内緣附 近向外緣延伸,其全長會較長,相較於槽孔為在半徑方向 上呈直線延伸的以往擒板,當形成擒板槽孔的部份的半徑 ,向距離與以往的擋板相同時(即,擋板的内徑及外徑與以 往的擋板為相同時),開放面積會較廣:如此一來,有更多 的排氣氣體及副產物能夠經由槽孔i i排出。 圖5a及圖5b分別為圖4之8部份的主要部份立體圖及平面 圖:擋板H)上形成之槽孔u中’相鄰槽孔之一端間的間隔 T3與另-端間的間隔T4相同。上述情形可藉由使槽孔^自 擋板内緣附近至外緣呈一定的曲線形狀來達成。 例如,在内徑约250 _、外徑約366 _的中空形狀的擋 板中,如果具有藉由以往技術形成之沿半徑方向直線延伸 的槽孔的情況下,如槽孔的寬度及長度分別為imm及4〇_ 且槽孔數有360個時,槽孔形成的總開放面積約〇〇 nim2 ° 5 、方面,在具有與上述相同的内徑及外徑的擋板中, ;:成本發明之呈曲線延伸且寬度為!議的槽孔的情況下 /成〈槽孔的曲線長約為45 _且槽孔數約為360個時 ’曰孔形成的總開放面積约為16,2〇〇_2。如上述般,相較 85618 -11- 200403961 於以往技術之擋板上的槽孔總開放面積,可知本發明之擋 板上的槽孔總開放面積增加約1 2.5 %。 β 此外,如圖7a所示,做為本發明之變通例,以特定角产必 (例如以22。),將内徑與外徑均與上述相同的擋板上之形成 槽孔的部份向下彎曲時,可使形成之槽孔長度成為約53 mm ,此時,槽孔數約為360個時,槽孔所形成的總開放面積會 約為19,080 mm2。如此一般,藉由使槽孔呈曲線狀且彎曲檔 板上形成槽孔的部份,槽孔面積會進一步變大,進而使槽 孔的總開放面積更大。 圖6a及圖6b係沿著圖5之C_C,線的剖面圖。圖以中,擒板 10上形成的槽孔U的上部寬度ρι大於下部寬度P2。雖然在 電漿工序中,有時會因為發生聚合體吸附於槽孔11壁面的現 象而導致槽孔11阻塞的問題,然而藉由使槽孔丨丨的上部寬度 P1大於下部寬度P2,便可防止例如因為聚合體吸附而導致 槽孔阻塞。在此情況中,例如以槽孔的上部寬度p丨為16至 1.8 mm,下部寬度P2為1 mm為佳。 此外,如圖6b所示,槽孔11的剖面也可呈漏砂狀。在此情 況中,槽孔11以上部寬度P1為1.6至1.8 mm,下部寬度P2為 1.1至1.5 mm,中間寬度P3為1 mm為佳,當擋板1〇的整個厚 度Η為3 mm時,中間寬度P2的位置H1以位於距離上面1.8 mm的下側位置為佳;並且,以上部寬度pi為ι ·6 mm,下部 寬度P2為1.2 mm,中間寬度P3為1 mm為最佳。 圖7a至圖7d為本發明之多種變形例之擋板形成的剖面圖 :為了使擋板20及30上形成的曲線狀槽孔的長度更長,對 85618 -12- 200403961 擔板2 0及3 0上之形忐播a A、 ’ 成彳曰孔的邵份施以了各種方式的變形。 首先,如圖7a及圖7b所示,使擋板2〇及3〇的外徑d保持一 定的情況下,可將形成槽孔之播板20及30之-部份向上(如 圖7b)或向下(如圖7a)彎曲一特定角心;此時,為了避免 妨礙到電漿工序,特定角度㈣設定成〇。至45。為佳,且以 22 為最佳。 此外,如圖7c所示,依狀況可將擋板4〇上形成槽孔的部份 呈圓旅狀地向下管曲,也可圓狐狀地向上彎曲(未圖示)。 此外如圖7d所示,可將擒板50上形成槽孔的部份向下 彎折2次’也可向上彎折2次(未圖示)。 再者,雖未圖示,擋板也可形成為具有3次以上彎折的形 狀。 圖8a及圖8b分別為本發明第二實施方式之擋板的部份 放大亙體圖及平面圖··擋板10a的外觀呈例如内徑約25〇 、外徑366 mm的中空環狀,内緣部包圍下部電極,外緣部 則藉由密合於處理室101的内壁而與風箱上蓋13〇結合,藉 此發揮侷限電漿產生空間的功能。本發明的實施方式中, 雖擋板1 Oa形成為中空環狀的平板,然而依處理用的形狀, 也可形成為四角形等多種等形狀。擋板上形成有複數個長 形槽孔11 a,不僅能夠防止電漿處理氣體外漏,且能夠以最 快的速度來排放大量的排氣氣體及各種副產物。 在此實施方式中,槽孔11a分別以一定的寬度(約1 mm), 由擋板10a内緣附近向外緣且相對半徑方向呈斜線般地延伸 。在此情況中,由於槽孔11 a由擋板丨0a内緣附近向外緣且相 85618 -13 - 對於半徑方向呈斜線般地 - ^ 其全長會較長,相較於槽 為在半在万向上呈直線延伸的以 力从、\ k , 拉板,當形成擋板槽 孔的部伤的半徑方向距離與以往的 ㉚板相同時(即,# ^ 6 内徑及外徑與以往的擋板為相同時"、 開放面積會較廣:如 此一來,有更多的排氣氣體及副產 座物把夠經由該槽孔11a排 圖9a及圖9b分別為本發明第二會 不 貝她万式又變形例中的;^ 板10b之邵份放大立體圖及平 · 鱼 '口夂十面圖.由於由擋板10b内緣附 近向外緣且相對於半徑方向呈钭 万n王斜、、泉狀延伸的槽孔1 lb有彎曲 /人,因此槽孔1 1 b會更長,藉此有夢 B ,^ ^ ^ 将此,更大I的排氣氣體及副 屋物能夠經由槽孔llb排放。在 在此貝她万式中,雖然係使槽 孔lib.考曲一次,惟在必要時可彎曲兩次以上。 3上述叙,依本發明之擒板,由於在將槽孔寬度保持在 例如1職的情況下’能夠藉由加長槽孔的全長而增加槽孔 的開放面# ’因此不僅可防止電漿處理過程中的電漿淺漏 ’也可在處理後迅速地將更多的排氣氣體及副產物等排出 ’進而能夠降低半導體及積體電路的生產原價。 、A内合中,雖然係對本發明的最佳實施方式進行說明 」、、、而在本發明中請範圍内,熟悉本技術者仍可實施各種 、::依本無明可知藉由在擂板上形成曲線狀的枰 孔、或相對於半徑方向呈斜線延伸的槽孔,或且藉由使^ , 成^孔的邵份在保持外徑不變的情況下進行多種方
式的變更,M W 、此夠有效率且迅速地排出在電漿工序時發生 85618 14 200403961 的排氣氣ff及副產物等’如此—來電漿工序更容易進行, :==:1加,因此可使用更多的處理氣體類。因 月匕夠有效率地進行電漿處理,節省工序費用。 【圖式簡單說明】 、 圖1為平常之電漿蝕刻裝置的構造圖。 圖2為先前技術之擋板之立體圖。 圖3a及圖3b分別為圖2所示a部份的 平面圖。 要非位又立體圖及 圖4為以本發明之第一實施方式之擋板為 圖5a及圖5b分別為圖4所示Β部份的 ° 平面圖。 要哔乜之立體圖及 圖6為沿著圖5所示c-c,線之剖面圖。 圖7a至圖Μ為以本發明之多種實施方 容之剖面圖。 $々擋板形狀為内 圖8a及圖8b為本發明第 及平面圖。 實施方式之抟、 ^板又部份立體圖 實施方式之擋板、 同攸、文形例I邵份 圖9a及圖9b為本發明第 iL體圖及平面圖。 【圖式代表符號說明】 10、 10a 、10b、 擂板 20 ^ 30、 40、50 1卜 11a 、lib 槽孔 101 處理 室 102 下部 極 103 上部 電 極 85618 ' 15 -
Claims (1)
- ^403961 拾、申請專利範圍: 種电漿產生裝置,其特徵為設置於電漿產生處理室内 ,具備一形成有複數個供排氣氣體及副產物等排放之槽 孔之擋板,且 曰 2 、上逑擋板上之複數個槽孔係分別由上述擋板内緣附 近向外緣呈曲線狀延伸。 如申請專利範圍第1項之電漿產生裝置,其中上述複數 個槽孔分別具有一定寬度。 如:請專利範圍第1項之電漿產生裝置,其中上述複數 個槽孔中,相鄰複數個槽孔在一端間的間隔與另—端間 的間隔係形成為相同。 4 如申請專利範圍第i項之電漿產生裝置,其中上述複數 個槽孔由其各剖面視之時,上部寬度大於下部寬度。 6 申請專利範圍第4項之電漿產生裝置,其中上述槽孔 、上邵寬度為“至以㈣,上述下部寬度為10mm。 如:請專利範圍第1項之電漿產生裝置,其中上述擋板 7上形成有槽孔的部份係以特定角度向上或向下彎曲。 :申Μ專利範圍第6項之電漿產生裝置,其中上述擋板 形成槽孔之部份的彎曲角度為0至45度。 ::凊專利範園第丨項之電漿產生裝置,其中上述擂板 形成槽孔的部份係呈圓弧狀地向上或向下彎曲。 :申叫專利範圍第1項之電漿產生裝置,其中上述擋板 形成槽孔的部份係以特定角度向上或向下彎曲兩次 以上。 85618 200403961 I 0.如申請專利範圍第1至9項中任一項之電漿產生裝置,其 中上述電漿產生裝置為用以對被處理對象物進行钱刻 的裝置。 II · 一種擋板,其特徵為設置於電漿產生處理室内,具備複 數個供排氣氣體及副產物等排放之槽孔,且 上述複數個槽孔分別由上述擋板内緣附近向外緣呈 曲線狀延伸。 12·如申請專利範圍第丨丨項之擋板,其中上述複數個槽孔分 別具有一定寬度。 13.如申請專利範圍第丨丨或^項之擂板,其中上述複數個槽 孔中,相鄰複數個槽孔在一端間的間隔與另一端間的間 為相同。 14. 15. 16. 17. 18· 19. 如申請專利範圍第1 1或12項之擂板,其中上述複數個槽 孔由其各剖面視之時,上部寬度大於下部寬度。 如申請專利範圍第14項之擋板,其中上述槽孔的上部寬 度為1.6至1.8 mm ’上述下部寬度為i 〇 mm。 如申請專利範圍第丨丨或:^項之擋板,其中上述擋板上形 成槽孔的部份係以特定角度向上或向下彎曲。 如申請專利範圍第16項之擋板,其中上述擋板上形成槽 孔之邵份的彎曲角度為0至45度。 如申請專利範圍第丨丨或:^項之擂板,其中上述擋板上形 成槽孔的部份係呈圓弧狀地向上或向下彎曲。 如申請專利範圍第丨丨或12項之擋板,其中上述擋板上形 成槽孔的部份係以特定角度向上或向下彎曲兩次以上。 85618 200403961 20. 21, 22. 23. 24. 25. 26. 一種電漿產生裝置,其特徵為設置於電漿產生處理室内 ,具備一形成有複數個供排氣氣體及副產物等排放之槽 孔之擋板,且 上述擋板上之複數個槽孔分別由上述檔板内緣附近 向外緣且以相對於半徑方向呈斜線地延伸。 如申請專利範圍第2〇項之電漿產生裝置,其中上述分別 由上述擋板内緣附近向外緣且以相對於半徑方向呈斜 線地延伸的複數個槽孔分別至少彎曲一次。 如申請專利範圍第1項之電漿產生裝置,其中上述複數 個槽孔的剖面分別呈上部寬度大於下部寬度且上述下 部寬度大於中間寬度的漏砂時鐘狀。 如申請專利範圍第22項之電漿產生裝置,其中上述槽孔 的上邵寬度為1·6至1.8 _,上述下部寬度為。至15 mm,且上述中間寬度為1.0 mm。 種%桌產生裝置,其特徵為設置於電漿產生處理室内 具備一形成有複數個供排氣氣體及副產物等排放之槽 孔之擋板,且 曰 上述擋板上形成槽孔的部份係以特定角度向上或向 下彎曲。 如申請專利範圍第則之電衆產生裝置,其中上述擋板 上形成槽孔的部份係向上或向下彎曲兩次以上。 種私漿產生裝置,其特徵為設置於電漿產生處理室内 /、備形成有複數個供排氣氣體及副產物等排放之样 孔之擋板,且 曰 85618 200403961 上述擋板上形成槽孔的部份係圓弧狀地向上或向下 彎曲。 27. 如申請專利範圍第11項之電漿產生裝置,其中上述複數 個槽孔的剖面分別呈上部寬度大於下部寬度且上述下 部寬度大於中間寬度的漏砂時鐘狀。 28. 如申請專利範圍第22項之電漿產生裝置,其中上述槽孔 的上部寬度為1.6至1.8 mm,上述下部寬度為1.1至1.5 mm,且上述中間寬度為1.0mm。 85618
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Cited By (1)
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---|---|---|---|---|
TWI747103B (zh) * | 2018-12-27 | 2021-11-21 | 大陸商中微半導體設備(上海)股份有限公司 | 電漿侷限系統及方法 |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI331770B (en) * | 2005-11-04 | 2010-10-11 | Applied Materials Inc | Apparatus for plasma-enhanced atomic layer deposition |
EP1968098A1 (en) * | 2007-03-08 | 2008-09-10 | Applied Materials, Inc. | Suction device for plasma coating chamber |
JP2010174779A (ja) * | 2009-01-30 | 2010-08-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 真空処理装置 |
JP6165456B2 (ja) * | 2013-02-12 | 2017-07-19 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | プラズマ処理装置 |
US20200173015A1 (en) * | 2013-07-25 | 2020-06-04 | Samsung Display Co., Ltd. | Vapor deposition apparatus |
US9852905B2 (en) * | 2014-01-16 | 2017-12-26 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Systems and methods for uniform gas flow in a deposition chamber |
JP6438320B2 (ja) * | 2014-06-19 | 2018-12-12 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置 |
JP6423706B2 (ja) * | 2014-12-16 | 2018-11-14 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置 |
JP6523714B2 (ja) | 2015-03-05 | 2019-06-05 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置 |
JP6570993B2 (ja) * | 2015-12-16 | 2019-09-04 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置 |
KR102141273B1 (ko) | 2017-05-24 | 2020-08-04 | 주식회사 엘지화학 | 유체의 유동 편차를 개선하기 위한 배플 장치 |
JP6575641B1 (ja) * | 2018-06-28 | 2019-09-18 | 株式会社明電舎 | シャワーヘッドおよび処理装置 |
US20220139661A1 (en) * | 2019-04-01 | 2022-05-05 | One Semicon. Co., Ltd. | Manufacturing method of plasma focus ring for semiconductor etching apparatus |
US11415147B2 (en) * | 2019-05-28 | 2022-08-16 | Applied Materials, Inc. | Pumping liner for improved flow uniformity |
US20210066051A1 (en) * | 2019-08-28 | 2021-03-04 | Applied Materials, Inc. | High conductance lower shield for process chamber |
US11380524B2 (en) * | 2020-03-19 | 2022-07-05 | Applied Materials, Inc. | Low resistance confinement liner for use in plasma chamber |
KR20220060855A (ko) * | 2020-11-05 | 2022-05-12 | 삼성전자주식회사 | 기판 처리 방법 및 장치 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5441568A (en) * | 1994-07-15 | 1995-08-15 | Applied Materials, Inc. | Exhaust baffle for uniform gas flow pattern |
US5605637A (en) * | 1994-12-15 | 1997-02-25 | Applied Materials Inc. | Adjustable dc bias control in a plasma reactor |
JP3468446B2 (ja) * | 1997-05-20 | 2003-11-17 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置 |
US5994662A (en) * | 1997-05-29 | 1999-11-30 | Applied Materials, Inc. | Unique baffle to deflect remote plasma clean gases |
US6051100A (en) * | 1997-10-24 | 2000-04-18 | International Business Machines Corporation | High conductance plasma containment structure |
US6093281A (en) * | 1998-02-26 | 2000-07-25 | International Business Machines Corp. | Baffle plate design for decreasing conductance lost during precipitation of polymer precursors in plasma etching chambers |
JP4217299B2 (ja) * | 1998-03-06 | 2009-01-28 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置 |
US6129808A (en) * | 1998-03-31 | 2000-10-10 | Lam Research Corporation | Low contamination high density plasma etch chambers and methods for making the same |
KR100265288B1 (ko) * | 1998-04-22 | 2000-10-02 | 윤종용 | 반도체소자 제조용 식각장치의 배플 |
US6021672A (en) * | 1998-09-18 | 2000-02-08 | Windbond Electronics Corp. | Simultaneous in-situ optical sensing of pressure and etch rate in plasma etch chamber |
JP2000188281A (ja) * | 1998-12-21 | 2000-07-04 | Toshiba Corp | プラズマプロセス装置、バッフル板及びプラズマプロセス |
JP2000286242A (ja) * | 1999-03-31 | 2000-10-13 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置 |
JP2003224077A (ja) * | 2002-01-30 | 2003-08-08 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置、電極部材、バッフル板の製造方法、処理装置、および、表面処理方法 |
JP4330315B2 (ja) * | 2002-03-29 | 2009-09-16 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置 |
US7552521B2 (en) * | 2004-12-08 | 2009-06-30 | Tokyo Electron Limited | Method and apparatus for improved baffle plate |
US7601242B2 (en) * | 2005-01-11 | 2009-10-13 | Tokyo Electron Limited | Plasma processing system and baffle assembly for use in plasma processing system |
-
2002
- 2002-05-22 KR KR1020020028360A patent/KR20030090305A/ko not_active Application Discontinuation
-
2003
- 2003-05-22 TW TW092113874A patent/TW200403961A/zh unknown
- 2003-05-22 AU AU2003232645A patent/AU2003232645A1/en not_active Abandoned
- 2003-05-22 WO PCT/KR2003/001006 patent/WO2003098669A1/en active IP Right Grant
- 2003-05-22 US US10/514,844 patent/US20050224179A1/en not_active Abandoned
- 2003-05-22 KR KR1020047018621A patent/KR100627324B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2003-05-22 JP JP2004506069A patent/JP2005526395A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI747103B (zh) * | 2018-12-27 | 2021-11-21 | 大陸商中微半導體設備(上海)股份有限公司 | 電漿侷限系統及方法 |
Also Published As
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---|---|
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