TW200305825A

TW200305825A - Electronic test program that can distinguish results

Info

Publication number: TW200305825A
Application number: TW091133978A
Authority: TW
Inventors: Christopher K Sutton
Original assignee: Agilent Technologies Inc
Priority date: 2002-04-23
Filing date: 2002-11-21
Publication date: 2003-11-01
Also published as: JP2004004051A; US7047442B2; US20030200483A1; EP1359426A3; EP1359426A2; KR20030084668A

Description

200305825 玖、發明說明 (發明說明應敘明：發明所屬之技術領域、先前技術、内容、實施方式及圖式簡單說明） I：發明戶斤屬之技術領域3 發明領域複雜的電子，電機及機構產品及設備通常使用自動化 5 測視系統來被進行測試。此等測試可以包括有在執行所有不同的操作之效性測試，其中該待測裝置（device under test: DUT)可以且記錄是否每一操作正確地執行；將該待測裝置曝露於不同的溫度，壓路及濕度組合之環境測試，及記錄其結果；製造測試等。大體而言，該待測裝置及提 10 供該環境及其他限制之該系統二者是被電性控制地。在約近十年來，可以自控制許多自動測試的電腦化程式在本技術中被稱為“執行測試程式”已經被加以開發出來了。 I：先前技術3 發明背景 15 在習知技術中的測試執行程式包括有 Agilent

Technologies所開發的内部測試執行程式及由Natonal Instruments Corporation 所該發的 TESTSTAND 軟體，其被敘述為一種準執行（ready-to-run)執行軟體用以組織，控制及執行自動化原型，有效性，或產品測試系統。該習知 20 技術的Agilent Technologies程式不能使用圖形使用者界面（graphic user interface: GUI)，因此限制了該程式以簡單的方式來顯示大資料量的能力。該TESTSTAND軟體當在使用圖型使用者界面時需要該使用者在多重視窗移動來決定一測試的整體進行。 200305825 玫、發明說明測試通常是由該肖測裝置要被比較的一組規則或規格來被加以疋義。該等規則或規格大體上包括有使用在該待測裝置上的不同的電子及機械參數所定義之許多輸入，像疋電壓，電流，特定控制操作及設備元件，以及該測試被 5執行之環境參數，像是溫度，濕度，麼力’及該參數被施加的時間區間。每一測試將包括有被施加在該待測裝置的每一元件的許多參數的組合，及通常將被重複許多次。每 -參數組合將定義—種測量，其產生在—或多個資料點中，其等被記錄及_定義該規格的數字或布林邏輯限制。 )因此’當儀器及產品變得更加複雜時，電子測試程式已姐變的非常冗長且複雜，通常需要好幾天，或甚至一星期或更多時間去執行完整的測試。 15 人〜咬侵主该得測裝置也是冗長且複雜的程。在设定程續期間有許多事件可能會使對該待測裝置連 =的収及測試“本身產生失敗或是出錯。發生在對該之連接及—'統本身的失敗也可能在該測試期間發生。發生在設定料《或者發生在測試程續 =間的錯縣會„在贼操作_要被記㈣測試點。、數=也，此專失敗將影響由該測試所產生的該等資料點的在資料點上的影響是相當足夠時，該資料點對 …子或布林邏輯限制定義該規格之資料點是在由_格料義的限制之外。當不知道、= f使該資料料在由該規格所定義之限資料點將被錯誤地視為不能相該規格的要求 ; 20 200305825 玖、發明說明果-失敗引起-資料之數值移至由—規格所定義之限制之内時，該資料點將被錯誤地視作已經通過該規格。相對於該待測裝置的失敗，此等系統的錯誤在此被稱之為“錯誤結果（erroneous results)，，° 5 習知技術的測試系統不能警示使用者錯誤結果。此等習知技術的系統也不能警示使用者出現相當數目邊際結果，该邊際結果指示的是一次級裝置。除此之外，如果像這樣子的-個失敗，該測試計行及該資料點的數值會被加以記錄，無論它們是否已經受該失敗所影響與否。當此等資 1〇料點被比喻成定義該規格之該數字或布林邏輯限制時，該等比較結果同樣地被該失敗所影響。其後再檢查該等測試結果，使用者可能可以決定-個錯誤已經發生在整個測試結果中的不正常處。然而，在實際，使用者幾乎總是讓測忒在揲人監視下執行數小時，過夜，或者數天，而其去參 15與其他工作。因為該等測試的長度及複雜性，及習知測試系統的次級顯示技術，當該使用者回來檢視該測試時，要化費相當多的時間及功夫來檢視該等結果毺決定該測試的進仃及結果，以及進一步的確認是否一系統的失敗已經發生及已經影響該系統的結果。在許多的例子中，經常發生 20需要用來完成整個測試結果分析的時間在當該測試進在進行時是不可取得及該結果只能在該測試已經完成之後才能被加以檢視。其結果，在當測試結果在一測試完成之後才被檢視時，已經浪費了許多時間了，及發現測試的某些元件被不正確地設定，或該測試系統之錯誤在測試期間發生 200305825 砍、發明說明錯誤，錢待測裝置的介面在該測試期間有許多無法被碟 5忍的方面疋錯誤的。上述問題導致無效率的增加產品成本及減緩產品的開發。因此’可以克服此等問題的一種測試執行系統將是高 5 度需求的。 C 明内容3 發明概要 /本發明藉由提供一種可以分辨錯誤結果的一測試執行系統來解決在習知技術中的上述及其他問題。本發明也提供-種可以分辨邊際結果之一測試執行系統。本發明最好也可以分辨失敗及成功的結果。較佳地，本發明警示使用者在任一單一資料點之量測期間的此等結果。在該較佳實鉍例中’該系統可以被程式化來停止於錯誤結果，邊際結果’失敗結果，前述測試結果的組合，或停止於每一次量 Μ測結果之後。此程式化最號可以藉由點觸在可以在於該圖形使用者介面上可視地作動的一按鈕來被完成。該系統具有-圖形使用者介面，其具有被劃分成包含有控制該測試程序之視窗，或用以顯示文字，表格，及圖型點或圖形上色長條，及其他的圖形使用者介面。該使用 20者可以藉由像是滑鼠，鍵盤，執跡球，接觸板，滾球及遊戲搖桿之視絲存取由該圖像及視窗所代表_程式特性。除了該系統停止，如果以這要的方式來編寫程式，該使用者最好以许多種方式來被警示錯誤結果。較佳地，該錯珠姐果是以多種方式來顯示在一圖型使用者介面（gui) 200305825 玖、發明說明，像是以該用詞“⑽r(錯誤），，出現在一表格中，-執行圖型顯示被稱之為“進度視窗（progress wind〇w)，，，及在一樹形結構中隨即可確認的圖像（icon)。本發明提供操作用來控制對一待測裝置（DUT)之測試 5的-測試執行系統之方法，其是與該測試系統分離且不同的，*玄方法包括有：執行—測量用以獲得_測試結果；反應下列i少—條件來決定上述測試系统是否為一錯誤結果迈測„式執行系統或其他測試儀器之失敗，上述待測裝置的錯誤設定，及在上述測試執行系統或其他測試儀器與 1〇該待測裝置之間的介面的失敗，相對於上述待測裝置本身，失敗，及如果上述測试結果被決定是為一錯誤結果時，員丁相關於上述1測的—錯誤指示。較佳地，該決定步驟更包括決定該測試結果是否包括有一數值（322)，及在上述測試結不包括有-數值時，上述顯示包括有顯示上述錯誤 15指示。較佳地，該決定步驟包括決定上述測試結果包括有 -預定規格，及如果上述測試結果不括有±述預定規格時 ’則上述顯示包括有顯示上述錯誤指示。較佳地，該預定規格包括有由下列群組所選出的-規格，該規格包括有：數字規格，字母數字規格，及預排的數值及字母數字編碼 20之串列。較佳地，該方法包更包括有儲存一測試規格，及該決定步驟更包括有決定該測試結果是否在上述測試規格之内。較佳地’該測試規格包括有一或多個限制。較佳地，該限制是由下列群組所選出，該群組包括有：錯誤限制 ’規格限制，及邊際限制。較佳地，該錯誤限制包括有— 200305825 玖、發明說明 10 15 錯决上限及-錯誤下限，及該顯示包括有如果該測試結果不在4上限及下限範圍之内時，顯示該錯誤指示；該規格限制包括有-上規袼限制及—下規格限制，及該顯示包括有如果該測試結果沒有在該規格上限及該規格下限時，則顯示一錯誤指示；及其中該邊界限制包括有—邊際上限及邊際下限，及該顯示包括有如果該測試結果沒有在該邊際上限及該邊際下限之内時，顯示_邊際指示。較佳地，違決定步驟更包括有如果上述測試結果是在上述邊際上限及上述邊際下限之内時決定_通過結果，及上述測試結果有述預疋格式。較佳地，該顯示包括有顯示相應於該量測之該錯誤指示於—表格程式中。較佳地，該顯示包括有相關於上述錯誤的顯示資訊。較佳地，該顯示包括有』不A錯决指不為在_進度視窗中的_階級樹型中的一圖像奴佺地，该顯不包括有顯示該資訊於一對話框中。較仏也》方法更包括有：在上述決定動作之後停止上述測 4 ’接收由包括有下列條件之群組所選擇之—輸入，該群、且匕括有·放I上述測試，重新啟動上述量測，繼續該測 / 匕Λ i測，跳過該測試；及執行該輸入。較佳地，

20 員不包括有顯不由包括有下列之該群組所選出的資訊，、匕括有·在该測試程式停止時的量測結果，停止該測試的理由，及該測試停止時的時間。斗寸徵中，本發明提供一種用來控制在一待測裝置上的電子測試之-測試系統，該待測裝置是與上述測試系統分離且不同，上Μ試執行“包括有用儲存-測試 10 200305825 玖、發明說明及測試結果之-記憶體，該等測試結果包括有反應下列至少-條件的錯誤結果：上述測試執行系統或其他測試儀器之失敗，上述待測裝置的錯誤設定，及上述測試執行系^ 或其他測試儀器與該待測裝置之間的介面的失敗，相對於 5上述待測裝置本身的失敗…電子處理器，用來與該記憶體通訊以控制該測試的執卩，產生該測試肖果，及決定一測試結果是否為-錯誤；一圖形使用者介面輸出襄置，與遺電子處理器通訊用以顯示資訊，較佳地，其中該記憶體也儲存-待測裝置規格及多數個測量資料點，及其中該測 w試結果也包括有失敗的結果，該失敗結果反應該測量資料點與该測試規袼的比較。較佳地，該測試結果在當對於一測試資料點，如果該比較結果沒有包括有數值時，不具有預疋規袼，或其不在錯誤限制之内時，其包括有-錯誤結果較佳地，该資訊更包括有用來使一使用者選擇下列選 15項中的二或多個選項之一圖形元件，該等選項包括有··執 — 述幻減而不會停止，在錯誤結果時停止上述測試；在邊際結果時停止上述測試；在失敗結果或錯誤結果時停止上述測忒，在邊際結果，失敗結果或錯誤結果時停止上述測试，在每一量測之後停止上述測試。較佳地，該資訊更 20 包括有一停止測試指示用來指示那一個選項已經被選擇。車乂佳地’该錯誤指示包括有由下列群組所選出的一圖形元件’该群組包括有：相應於該量測的一表格元件；在一階、、及樹中的一圖像；在一進度視窗中的一錯誤指示；及一對話框〇 11 200305825 玖、發明說明在進一步特徵中，本發明提供一種可以控制在_待測裝置上測試之-測試執行系統的一產品，其是於該待測裝置分離且不同的，該產品包括有用來指示一處理單元之指示，該等指*包括有：執行一量測以獲得一測試結果；反曰 5應於下列條件來決定該測試結果是否為一錯誤，該條件包括：該測試執行系統或其他測試儀器之失敗，該待測裝置的錯誤設定，及在該測試執行系統或其他測試儀器與該待測裝置之間的介面的失敗，相對於該待測裝置本身的失敗 •，如果該賴結果被決定是為—錯誤結果時，顯示相關於 1〇該量測的-錯誤指示；及可以被儲存該指示之處理單元所讀取的-媒體。較佳地，該產品包括有指示：決定該測試結果疋否為一邊際結果；及如果該結果是邊際時，顯示相關於該量測之一邊際結果指示。在又一特徵中，本發明提供一種操作用來控制在一待 15測裝置上測試之-測試執行系統之方》，該待測裝置是與該執行系統分離的，該方法包括有：執行一量測以獲得一測試結果；決定該測試結果是否為一邊際結果；及如果該結果疋邊際時，顯不相關於該量測的一邊際結果指示。在另一特徵中，本發明提供一種產品，該產品提供一 20種用來控制在一待測裝置上測試之一測試執行系統，該待測裝置是與該測試執行系統分離的，該產品包括指示一處理單7G之指示，該等指示包括有··執行一量測以獲得一測忒結果，決定該測試結果是否為一邊際結果；如果該結果被决疋為一邊際結果時顯示相關於該量測之一邊際結果； 12 200305825 玖、發明說明 10 15 20 及可以由儲存該等指示之該處理單搞讀取之_媒體。在又特徵中，本發明提供—種用來控制在—待測裝置上的電子測試之測含式勃杆备 ^ 以執仃錢，該制裝置是與該測〶糸統分離且不同的，該測試系統包括有：―記憶體，用來儲存及—測試及測試結果…電子處理器，與該記憶_ 訊用以控制該測之執行及產生該測試結果；—圖形使用者介面裝置，與該處理器通訊用以顯示資訊，該資訊包括有使使用者由下列選财的二或多個選項所選出使出之—圖形元件，該選項包括有：執行職㈣會停止；在錯誤結果時停止該測試；在失敗結果時停止該測試；在邊際結果時停止該賴：在失敗結果或錯誤結果畴止該測試；在邊際、、Ό果，失敗結果或錯誤結果時停止該測試：在每一次測1之後停止該測試。較佳地，該資訊更包括有指示那一違項已經被選擇之—停止測試指示嘯佳地，該資訊更包括有由下列群組所選出的一圖形輸入元件，該群組包括有 :放棄該測試’重新啟動該測試，重新啟動該量測，繼續該測試’跳過該量測’跳過該測試，及執行該輸入。較佳地’該資訊更包括有由下列群組所選出的資訊，該群組包括有·在该測試程式已經停止時的量測結果；停止一測試的理由；及一測試停止的時間。

在又特徵中，本發明提供一種操作用來控制在一待測裝置上的電子測試之一測試執行系統之方法，該待測裝置是與該測試系統分離且不同，該方法包括有：執行一測 4以獲得一測忒結果；顯示包括有可供使用者由下列選項 13 200305825 玖、發明說明 10 中的二或多個選項選擇之一圖形元件，該等選項包括有：執行上述測試而不會停止；在錯誤結果時停止上述測試；在邊際結果時停止上㈣試；在失敗結果或錯誤結果時停止上述測試；在邊際結果，失敗結果或錯誤結果時停止上述測忒，在每一量測之後停止上述測試。較佳地，該資訊更包括有一停止測試指示用來指示那一個選項已經被選擇。較佳地，該方法更包括有：在停止該測試之動作之後， *、員不圖形元件供使用者由下列群組中選擇一指令，該群 :且包括有：放棄該測試，再啟動該測試，在啟動該量測， W該測試’跳過該量測’及跳過該測試；及執行該指令一 Μ土地’该方法更包括有，在停指該測試動作之後，顯 :由下列群組所選出之資訊’該資訊包括有··該測試程式停止之後的量測結果，停止該測試的理由，及的時間。

15 20 本發明也提供-種提供用來控制在_待測裝置上的奴—測試系統_試執行純之—產品，該待冊裝置亥測試執行系統分離及不同的，該產品包括有用來指 —處理單元執行τ列動作之指令，該動作包括有：執行_ =以獲彳卜測試結果；顯示包括有使-❹者可以由 =項中選擇出二或多個選項的—圖形元件，該選項包 =··執行該測試^會停止；錯誤結果時停止測試；失敗停止贼；邊㈣㈣停"試；失敗結果或錯: 2日請止測試；邊際結果，失敗結果或錯誤結果時停式；在每—測狀後停止職’·接《巾-選項之別

14 200305825 玖、發明說明，在忒被選擇指示之指示下停止該測試；及可以被儲存該等指示之處理單元所讀取之一媒體。根據本發明之該測試結果不僅是比先前系統更有效率而且更了讓使用者可以在測試期間自由地進行其他工作口為使用者可以程式化該系統停止於該測試可能需要調整的測試點。本發明的許多其他特徵，目的及優點經由下列描述及讀取相伴隨的圖式將更為明顯。圖式簡單說明

第1圖是顯示本發明較佳實施例之主要硬體元件之一 10方塊圖，其被連接至一待測裝置及測試設備；第2圖疋顯不根據本發明之一測試程式之較佳實施例之階級結構之一方塊圖；第3圖顯示該電子測試系統之圖形使用者介面之一視 !Ξ| · 圍， 15 第4®是根據本發明之-測試進行視窗；

第5圖是顯示根據本發明之—樹型結構； f 6圖是顯示根據本發明之—停止對話方塊；及第圖疋-兒明對於_單側規格的每一圖形元件之通過 ’失敗，邊際，或錯誤狀態之決定的—流程圖。 20 【實施方式】較佳實施例之詳細說明本發明疋有關於—種電子測試系統，其可以由通過失敗的測試結果中分辨出錯誤及邊際測試結果，以及在那些結果發㈣顯”示給該使用者。特職，本發明 15 200305825 玖、發明說明 7以提供相應於料賴結果的㈣，使得制者可以在 “寺測衣置(DUT)中有失敗或邊際結果時被加以警示，其可以顯示為一次級裝置，以及使得使用者可以在該被測試裝置中有錯誤結果時被加以警示，其可以指示在該測試系 5統中發生失敗或錯誤而不是指示為一次級裝置。請參考第1圖所示，在圖中所示的該測試系統的實施 “中4測„式系統最好包括有一包括有軟體之電腦系統 100。該電腦系統100包括有_記憶體1〇1，一微處理器1〇2 輸入衣置104’及一輸出裝置1〇6。記憶體1〇1透過電 10線與110與該微處理器102溝通。微處理器102透過電線1〇4 經由輸出裝置而輸出該資料。在另一實施例中，該測試系、-先可以才木用儲存在記憶體101中的軟體的型式及為該微處理器102所執行。 15 該使用者透過輸入裝置1〇4與該測試系統互動，該輸入裝置104可以像是但不受限如一鍵盤，一滑鼠，一執跡球’ 一觸控才反，一搖桿，或在習知技術中所熟知的其他電腦輸出入裝置。輸入裝置104允許移動在輸出裝置ι〇6(一顯不系統像是一陰極射線管顯示器或一液晶顯示器）上的一游標或一指標器。該測試結果被顯示在該輸出裝置上。該測試是為該微處理器1〇2所控制，其經由該電線116傳遞該測試程式之指令至該待測產品或待測裝置（DUT)l〇8。微處理器102透過電線118來控制該測試裝置117。該測試結果為該微處理器102所處理及儲存在該記憶體1〇1中以透過該顯示器106來觀看。該顯示資訊包含有使用者感到興趣 16 200305825 玖、發明說明的游標及其他可視資料之架構及位置之資訊，像是該測試的結果及該測試是如何進行。待測裝置108與該測試系統分離及不同。在此，“分離，，始指實體上的分離，如包含在 -分離的外殼通’以及“不同，，是指其功能性獨立，包括有 5像是-word處理器之軟體程式在功能上與另一個像是⑽ 程式獨立的方式。本發明可以被實施在多種實際的電子裝置上，其等依尋著在第1圖中所勾勒的該一般模式。例如，該測試系統可以被整合在-電腦系統中，或其也可以被整合在像是邏 10輯電路之其他硬體，或被整合成一電子測試裝置例如但不受限於一電子分析器。為了更進一瞭解本發明之工作，以描述本發明之較佳測試程式之階級結構及該測試被執行的順序的方式是有幫助的。請參考第2圖，其顯示一方塊圖2〇〇說明該測試程式 15之階級，亦即多層，特性。該第一層極201相應於該產品型號’ δ亥測试開發者產生來測試一家族的特定裝置的型號之檔案。其包含有測試程序及輸入。該次一層級202相應於該程序本身。一程序是要被測試的一依序的表列，序列，或腳本的測試。多種程序可以 20 存在以第2圖中的一堆疊的卡片202所表示，每一卡片2〇2 代表著一不同的程序。每一程序包括有多數個測試，亦即如在203所示之測試1，測試2，測試3，…，測試Ν。每一測试包括有多數個量測，此以在第2圖中標示2〇5的測試2 來加以說明。如圖所示，測試205包括有多數個量測207， 17 200305825 玖、發明說明亦即量測1，量測2，···，量測N。每一量測包括有一或多個資料點’其以與每一量測相關的一疊卡片21 〇，211， 212來表示。一程序藉由撰寫一程式或一程式碼來建立軟體物件的架構來加以定義。在一實施例中，該軟體物件是 5 一元件物件模型（c〇mp0nent Object Model: COM)物件。 COM是一種與語言無關的元件架構，其不是一種程式語言。其用在一般目的，物件導向意為將一般性使用功能及服矛乃正δ在一包裝中。參考pubiishers Group West的哈利紐頓所編的紐頓電信字典第197頁。 10 一測試205是在一程序202中的一群組量測207，其共用a亥相同的測試演算法或相同的測試軟體程式碼。該等測試的例子包括有幅度準確測試，諧波失真測試等。該測試程式重覆地呼叫每一量測及資料點之測試。像事是量測206之一量測是用來測試的一架構或一設 15定。在一測試205之内的該等量測207中的每一量測可以具有不同的設定及架構參數。該等測試是參數驅動的及該等參數是在為量測位準上的輸入。量測是像是電壓，千荷兹 (KHz)之頻率或譜振（一整數）之範圍之元素。該測試 202是該等量測2〇7為要被由該程序被傳送至一測試的一資 20料。一量測也是一種測試執行。在測試執行的量測階段期間’該量測被啟動但資料沒有被收集。此允許多個待測裝置（DUTs)被一起架構及觸發。像是210，211，212之資料點是一次集合的量測，像是206，其在當一量測被產生時包含有額外的參數用以選 18 200305825 玖、發明說明擇一結果。一量測之多重資料的例子是一頻譜分析儀掃瞒之最大及最小或一裝置的每一頻道。對於在量測206中像是210之每一資料點，一數值結果被擷取。被獲得的該等結果被比作成規格。該等規袼是為 5 數值限制’字符串匹配，或布林邏輯通過/失敗。其有二組限制：邊際限制，線型限制及客戶限制。每一限制具有一較高值及一較低值。根據本發明之該軟體的進一步詳細細節被描述於申請中的美國專利申請案號第09/992,224號，其在此一併予以 10 參考如同在此作完整的揭露。該電子測試系統之所有的輸入及輸出（第丨圖）最號是經由一圖形使用者介面（GUI)來加以處理。第3圖顯示被顯示在輸出裝置106上的圖形使用者介面3〇〇。在左上方上的磁帶記錄鈕301被使用來控制該測試。由左至右，記錄鈕3〇1 15是離開302，再啟動測試3〇3，再啟動測量3〇4，暫停3〇5，執行306，跳過測量3〇7，跳過測試308。圖形使用者介面 3〇〇之右侧314顯示一視窗340，其包括有連續的列，像是 315，及行，像是316。此視窗也顯示被執行的視窗，像是 319的振幅精確度；量測的類型，像是32〇(範圍=5乂卩，頻 20率一1 KHz);待測資料點或頻道，像是321(ch=1，Ch=2， Ch-3)，該1測的數值或結果，像是322(〇 i235犯）·，該規格，像疋323(0.2);及頻率，像是324(1 KHz)。該等測試 …果可以藉由觸選在視窗34〇上方的視窗325上的“View(觀看）紐來加4選。此允許所有的測試結果被加以顯示，或 19 200305825 玖、發明說明允許該等結果依據它們的邊際或失敗狀態來被過濾及顯示。該底右方視窗330是為一進度視窗。該進度視窗指示該測試程序的進度。進度視窗330之一放大視圖被顯示在第4圖中。現請參考第4圖所示，軸400代表整個程序的長 5 度。相應於該測試結果之資料點最好是為被沿著一進度軸 400畫示的資料單元410。每一資料點41〇最好是一個單一圖像元素，像是402，403，404等。最佳地，每一圖像元素包含有一長條塊。進度視窗3 3 0最好也包括有規格限制元件。較佳地，該規格限制元件包括有點水平線4〇1八及 10 401B’其中410 A指示該上限及401B指示該下限。如果代表該結果的該長條塊是在該規格之内，亦即，它的長度使得它是在被該等規格線所定義的範圍之内，像是4〇4，該結果是為“通過”。如果代表該結果之長條塊是超出規格之外’亦即，它的長度超過該相應的規格限制線之外，像是 15 409，該結果是為“失敗”。如過代表該結果的長條塊是在該規格限制之内，但在該規格限制的一預定範圍之内，亦即’其長度等於或接近該相應規格線，像是4〇3，該結果疋為一邊際。較佳地’每一圖形元件也被著色編碼來指不通過404 ’失敗或錯誤409，或邊際403狀態。例如，紅 20色被選擇用於失敗及錯誤，綠色被選擇用於通過及黃色被選擇用於邊際。因此，每一資料點產生一有色的垂直長條塊，像是402，403，404等。在第4圖中，圖形元素是以晝線來表示顏色。如440所示，格線指示為黃色；如441所示 ’斜線指示為綠色；及如442顯示，垂直線指示為紅色。 20 200305825 玖、發明說明 ^ ，長條塊最好是被著色編碼來指示該等測試量測的狀態，但該箬έ 、、扁瑪不是必要的，因為該使用者可以藉由檢視相對於該等規格線之每一長條塊的長度來區分每—量測的狀態。缺而 …、’加顏色於該長條塊改善每一測試結果之 5狀態的決定。因祥^ ^樣地，然而該相同顏色被使用來指示錯誤及失敗二者，甘田，具取好是將不同的顏色被用來指示錯誤及失敗。明次參考第3圖所示，在圖形使用者介面3〇〇的左側上的視窗309顯示根據本發明使用一樹型結構來顯示每 1〇一測试之結果。顯示在視窗3〇9中的該樹型結構包括有一 P白層排列的測試，量測，及資料點。樹型視窗·之一放大圖被顯示在第5圖中。該樹型結構包括有具有相應於以圖像502所顯示之最後程序之第一或最高層之多層級。此被視為該樹型結構的主幹。在該測試程序中的執行中的該 15第二層級包括有二測試··以其相應結果圖像5〇4顯示之一振幅精確測試，及以其相應結果圖像5〇6顯示之一諧波失真測試。在第二位準中的每一測試程序讓該第三層級在測試期間顯示一或多類型量測，像是5〇8。該第三層級代表量測類型本身，像是相應結果圖像508之（範圍=5 Vp，頻率 20 —1 KHz) ’相應結果圖像510之（範圍=5 Vp，頻率=1〇〇 KHz) ’相應結果圖像5 12之（範圍=5 Vp，諧波=2)，及相應結果圖像514之（範圍=5 Vp，諧波=3)。在該測試程序之執行中的第四層級代表資料點，像是具有對應結果圖像 516，518，520之（Ch=l ’ Ch=2，=Ch3)，其與該等資料點 21 200305825 玖、發明說明 (Ch=l ’ Ch=2，Ch=3)相關，該等資料點是為該量測5〇8之 -人層級，及與該（Ch=l，Ch=2，Ch=3)資料點之個別結果圖像522，524，526，該等資料點是量測51〇之次層級。在樹型結構中的每一位準或支線的結果藉由一簡易可讀取的 5圖像來被加以指示。較佳地，像是516之一“笑臉表情，，被選擇用指示“通過，，的結果；像是5〇4之一“難過，，表情被選擇來指不一 “失敗”結果或一“錯誤，，“結果”；像是5 之一“ 篤冴表情來指不一“邊際，，結果；及一“？，，被選擇來指示一“ 尚未測試，，結果。最好是，每一結果圖像被著色編碼來指 10不該結果的狀態。例如，綠色被分配給一“通過，，結果，紅色被分配給一“失敗，，或“錯誤，，結果，及黃色被分配給一“ 邊際”結果，及“無色，，分配給一“尚未測試，，結果。較佳地，-階層的結果藉由使用-演算法來加以決定，其中該最差的最佳結果，例如“失敗，，，被給予優先於最佳結果：例 15 如“通過”。如上所提示，除了“通過，，，“失敗，，，及“邊際，，結果之外，該測試程式提供“失敗，，的顯示於該測試結果中。特別地’對於由-測試中所獲得的每—數值，該測試系統決定該結果是否為一合理的量測。如果一合理的量測沒有被偵 20測到，該測試結果被該測試程式決定為是“錯誤，，。定義一合理量測之該等量測範圍是由該等測試的開發者所建立，其在開始-測試程序之前藉由本發明之之一測試程式所執行。較佳地，合理測量的範圍是建立使得來自一待測裝置之常態測試之結果是在合理量測範圍知内的那些量測，而 22 200305825 玖、發明說明來自在測试設定或測試系統中的失敗及錯誤之結果是超出該等合理量測範圍之外的那些量測。對於一般熟習相闕技術人士將可以暸解，本發明之測試程式也可以在當完全沒有量測被傳回該測試程式時找到一錯誤結果。一種這樣的 5例子=要傳回該量測至該測試系統之該測試系統之元件發生故P早，或連接该測試系統至該待測裝置之導線已經不連接或失效。同樣地，要瞭解，本發明之該測試程式也可在如果被傳回該測試程式之該量測不是該測試程式所要的規格時發現-錯誤。例如，該測試程試所要的格式是數字， 1〇但被傳回的量測是字母和數字混合格式時，-錯誤被指示此例子可能發生，例如，如果一測試裝置發生故障或。亥錯n式裝置已經被安裝在該測試系統中。其也將要瞭解，在當包括有本發明之測試程試的該電腦軟體程式執行不合法操作時，一錯誤會被傳回；例如，當該程式呼叫 15傳回在到達時被零所除的一量測時。在此一失敗，錯誤，或不合法操作的例子中被該測試程式所獲的的該等量測將由該測試程式妓為錯誤，，而不疋一失敗”。任何性質的一錯誤指示一量測是沒有根據的就像疋其他結果一樣，錯誤結果可以被顯示在該圖形使用者介面指不出一“錯誤，，。然而，不像是其他結果，錯誤結果是排除在由該等測試所獲得的資料之外。熟習相關技術之人士將可以瞭解，要被決定是為來自其他合法結果之錯决之排除結果提供此等錯誤結果免於不必要地破壞該等測試之合法結果的任何分析之統計分佈。 23 200305825 玖、發明說明請再一次參考第3圖所示，本發明更包括有一“停止測試（Stop on)’’功能。該停止測試功能可以讓使用者經由在該圖形使用者介面300上該Stop on(停止測試）圖像350。 Stop on(停止測試）圖像350允許該測試程式在遭遇到有任 5 何或所由失敗，錯誤，或邊際測試結果時被停止。如第3 圖中所示，Stop on(停止測試）圖像350最好包括有“No(無），，，“ Error(錯誤）”，“Fail(失敗）”，“Marg(邊際），，，或“All(所有）’’之圈選按钮（radio buttons)。例如，藉由觸選該“No”圈選按鈕，該測試程式將被指示進行依序地執行所有行程測 10 式而不管遭遇到的結果。藉由觸選該“Error”圈選按鈕，該測試程式在遭遇到一測試產生錯誤時被指示停止測試。藉由觸選該“Fail”圈選按鈕，該測試程式在遭遇到一測試產生失敗時被指示停止測試。藉由觸選該“Marg”圈選按鈕，該測試程式在遭遇到一測試產生邊際結果時被指示停止測 15 試。藉由觸選該“Α1Γ圈選按鈕，該測試程式在每一次量測之後將被指示停止測試，無論程式已經遭遇到一通過，錯誤，失敗，或邊際測試結果。雖然前述是該較常用的 “Stop on(停止測試）”指令，其他這樣子的指令也可以被整合在該系統中，像是“stop said test on failed results or 20 erroneous results(在產生失敗結果或錯誤結果時停止上述測試）”，及 “stop said test on marginal results, failed results or erroneous results(在產生邊際結果，失敗結果，或錯誤結果時停指上述測試）”。在此業要注意，該“Stop on(停止測試）”圖像包括有一指示“Stop on(停止測試）’’選項已經被 24 200305825 玫、發明說明選擇之-停止測試指示器351。此指示器隨時在該介面綱上保持可以看得到，使得該使用者可以快速地決定該系統是如何已經被程式化。對於熟習相關技術者將可以瞭解，該St〇p 〇n(停止測 5試）圖像也可以採用下拉式表單的型式，其中在前述的每一圈選按鈕可以採用在該下拉式表單上之一選項的型式。當遇到任一 “Stop 〇n(停止測試），，條件時，該測試程式被兮止及對4框被顯示在該圖形使用者介面上。請參考第6圖所示，一對話框6〇〇被顯示在該圖形使用者介面 10上。顯示第6圖中的對話框_由—指令停止任何錯誤結果產生對活框600顯示該測試的結果，其中該測試程式、、’钐止疋602，彳了止該測試的理由是6〇4，該測試停止的 t間疋606。對話框6〇〇最好也包括有磁帶記錄鈕。該等磁帶記錄鈕包括有下列按鈕··一按鈕610,在當被選擇時，使 15侍该系統放棄整個測試程序；一按鈕612，在當被選擇時吏得忒系統重新啟動該測試；一按紐614，在當被選擇犄，使得該系統重新啟動該測量；一按鈕618，在當作動日守’使得該系統繼續它剩下的測試；-按㈣G，當被選擇時，使得該系統跳過該量測；一按鈕622，當被選擇時吏得4系、、先跳過現在的測試；及一按叙616，當被選擇才使知忒系統列印該對話框。一類似的對話框在當該測式因為一錯誤被顯示而被停止時出現，此錯誤排除一錯决已經被決定而停止的理由，及相關於該錯誤的資訊，像疋 n〇 ValUe(沒有數值），，，“err〇neous fomat(錯誤格式），， 25 200305825 玖、發明說明，“divide by zero(除以零），，，“〇ut 〇f err〇r limh(超出錯誤限制）”，“DTU not responding(待測裝置沒有回應），，等。在此要瞭解本發明因此藉由允許在測試期間的錯誤戈邊際結果的識別來提供可以避免不必要的測試之優點，及 5允許如果在該測試的任一點中的錯誤發生或可能次級裝置被辨識時，一測試被停止的進一步優點，即使沒有錯誤鈇果被加以記錄。本發明之一測試程式因此將區分錯誤及其他型式的結果。藉由舉例說明，使用本發明之測試程式之一簡易測試 10系統可以包括有量測電池的電壓計。在此一測試系統中，该系統典型地將自動地由附加在該電池之電壓計讀取電壓及回傳電壓讀取值至該測試程式用以對該測試規格進行比較。藉由持續的範例，該電壓規袼可以是9伏特±1伏特的讀數。典型地，如果（在此範例中的待測裝置）是正確地工 15作，在該規格之内的讀數將被回傳。一次級待測裝置可能導致超出規格之外的一結果。然而，在該測試系統的錯誤或失敗可能導致超出規格之外的結果。藉由連續_子，如果在測試下的電源線至電壓器意外地被拔除，該測試程式在其要進行讀取電壓時可能無法從該電壓器讀取到數值在此一例子中，該測試程式在當想要與該電壓器進行訊號溝通時將暫存一時間結束錯誤。在此一測試中，本發明之測試程式將記錄-“錯$，，，A將顯示該該錯誤的圖形使用者介面中如前述。特別地，進行視窗33q將顯示一錯誤長條，在視窗309之視窗340將顯示一“難過，，臉圖像來指 26 200305825 玖、發明說明不一錯誤，及視窗340將顯示一訊息串列來解釋該錯誤。同樣地，在一錯誤的例子中，St〇p 〇n(停止）圖像35〇將允許測試被停止直到該使用者有機會在處理更進一步測試之月，J更正產生錯誤的該測試系統之錯誤或失敗為止。熟習相 5關技術之人士將可瞭解，在沒有區分錯誤與其他結果的能力下，在該前述例子中為該測試程式所記錄的結果將為 0·0伏特，而無論該待測裝置是否真正傳回此一數值。〇〇伏特的結果將觸發一“失敗，，，因為θ θ伏特是超出9伏特士 i 伏特之規格之外。在沒有錯誤指示時，使用者將沒有辦法 10決定在該測試系統中的一錯誤或失敗已經發生及產生〇·〇伏特，及該錯誤或失敗將不會進行檢核及持續影響由該測試獲得的結果。請參考第7圖，其顯示一流程圖700說明一結果之狀態的決定及是否繼續該測試。使用來決定該狀態的輸入包括 15有該結果的數值（V)701，該錯誤上限（UE)702，該錯誤下限（LE)703 ’該規格上限（U)704，該規格下限（l)7〇5，該邊際上限（UM)706，及該邊際下限（LM)7〇7。由該測試量測所決定的該數值（V)及由使用者所輸入的該等限制u，L， UE，LE，UM，及LM被儲存在該記憶體1〇1(第丨圖）中。在 20步驟710，該測試糸統100決定v是否小於或等於ue。如果為疋’則遠測试糸統前進至步驟7 2 0。如果為‘‘否’’，則在步驟712中，該測試系統決定在stop On(停止）圖像350(第3 圖）上的“Error(錯誤）’’鈕是否已經被選擇。如果其已經被選擇，測试糸統100分配一錯誤狀態至該結果及停止該測試 27 200305825 玖、發明說明程序於步驟714。如果沒有被選擇，測試系統1〇〇分配一錯誤狀態至該結果及前進至步驟713的下一測試。在步驟72〇中’測试系統100決定V是否大或等於LE。如果為是，則該測試系統100前進執行步驟73〇。如果為否，則在步驟 722中，測試系統100決定在St〇p 〇n(停止）圖像35〇(第3圖）上的“Error(錯誤），，鈕是否已經被選擇。如果已經被選擇，測試系統分配一錯誤狀態給該結果及停止該測試程序於步驟724。如果沒有被選擇，該測試系統1〇〇分配一錯誤狀態至該結果，及前進至步驟723的下一測試。在步驟73〇中， 1〇測試系統100決定v是否小於或等於ϋ。如果為是，則測試系、、先100岫進至步驟740。如果為否，則在步驟732中，測弋系、、先决疋在在Stop On(停止）圖像350(第3圖）上的“Faii(失敗），，鈕是否已經被選擇。如果已經被選擇，測試系統1〇() 刀配失敗狀悲至該結果及停止該測試於步驟723。在步驟740中，測试系統1〇〇決定v是否大於或等於。。如果為是，而後測試系統前進至步驟75〇。如果為否，而後在步驟742中，測試系統決定在該St〇p 〇n(停止）圖像35〇上的該 Fail(失敗）按鈕是否已經被選擇。如果其已經被選擇，則測試系統100分配一失敗狀態至該結果及停止該測試程序 2〇於步驟744。如果其沒有被選擇，測試系統1〇〇分配一失敗狀態及前進至下一測試於步驟743。在步驟75〇中，測試系統100決定V是否小或等於UM。如果為是，而後測試系統 100岫進至步驟760。如果為否，而後在步驟752中，測試系統100决定在Stop On(停止）圖像上（第3圖）的該“Marg(邊 28 200305825 玖、發明說明際）”按鈕已經被選擇。如果其已經被選擇，則測試系統 100分配一失敗狀態及前進至步驟753之下一測試。在步驟 760中，測試系統100決定v是否大於或等於LN1。如果為是，則測試系統100決定在Stop On(停止）圖像（第3圖）上的 5 “Mar§(邊際）”按鈕是否已經被選擇。如果其已經被選擇，則測試系統100分配一邊際狀態至該結果及停止測試程序於步驟764。如果其沒有被選擇，測試系統分配一失敗狀態及前進至步驟763之下一測試。因此本發明之一特徵在於提供具有允許使用者區分錯 1〇誤結果與邊際，通過及失敗結果能力之一測試系統。特別地，本發明允許使用者區分在測試中重要的錯誤訊息與其他的較不重要的邊際結果。使用者被提供有程式本發明的能力以警示該使用者錯誤，邊際結果，及失敗，及在當此 …果迻遇到時，提供關係於該錯誤，邊際結果，或失敗之 b資訊。該資訊及警示是出現在一視窗上。該使用者可以採取立即的動作來讓該該測試繼續進行或者是終止該程式及修改其中的一些參數。 20 以上已經描述目前被視為本發明之較佳實施例者。在此將可瞭解在不偏離本發明之精神及基本特徵下，本發明可以被整合在其他的特定型式中。例如，在當本發明以一私子測4 &式的方式來加以描述時，其他系統可以硬體而非軟體的方式來實施。例如，該程式可以是存在一可程式處理器或其他工作平台中。除此之外，超過—個以上的視窗可乂被加人4圖型使用者界面來顯示二或多個待測裝置

29 200305825 玖、發明說明的測試結果。該進行視窗可以其他型式來被加以顯示，其中該圖型元件可以採用不同的型式，像是一單一字元元件或可以不同的方式來被加以群組。因此，本發明被視為疋況明而不疋限制。本發明之範圍被指示於所附的申請 5 專利範圍中。【圖式簡單明】

第1圖是顯示本發明較佳實施例之主要硬體元件之一方塊圖，其被連接至—待測裝置及測試設備；第2圖是顯示根據本發明之一測試程式之較佳實施例 10之階級結構之一方塊圖；第圖纟員不^屯子測試系統之圖形使用者介面之一視圖； < —測試進行視 15 第5圖是顯*根據本發明之—樹型結構；第6圖是顯示根據本發明之一停止對話方塊；及弟7圖是說明對於一置/目丨丨从 λ- 、早側規格的母一圖形元件之通過敗’邊際’或錯誤狀態之決定的一流程圖。【圖式之主要元件代表符號表】 100···電腦系統失

101…記憶體 1(117…測試骏置 200…方塊圖 102···微處理器 104···輸入裝置 106···輸出裝置 112，114，116，118···電線 201···產品模型 202···程序定義碼(資料點序列) 203,205···测試 206···量測 30 200305825 玖、發明說明 210,211，212,21心"資料點收 401A，401B…水平線獲 410…資料點單元 300···圖形使用者介面 440…邊緣 301···記錄钮 441…通過 302···離開 442···失敗/錯誤 303···啟動測試 502,504,506,508,512,514,516， 304···啟動測量 518,520,522,524,526〜圖像 305…暫停 510…量測 306…執行 600…對話框 307···跳過測量 610,612,614,616,618,620,622, 308…跳過測試 …按鈕 309…視窗 701…數值 314…右側 702···錯誤上限(UL) 325···上方視窗 703…錯誤下限(LE) 330···底右方視窗 704…規格上限(U) 340···視窗 705…規格下限(L) 400···轴 706…邊際上限(UM) 402,403···單一圖形元件 707…邊際下限(LM)

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Claims

200305825 拾、申請專利範圍 1· -種操作用來控制在-待測裝置⑽）上的測試之一測試系統(100)的方法，該待冊裝置是與上述測試系統分離且不同’上述方法包括有執行_量測（施，320)以獲得一測試結果，上述方法包括有：反應下歹！至 > 條件來決定上述測試系統是否為錯a吳結果·上述測試執行系統或其他測試儀器之失敗上述待/則裝置的錯誤設定，及在上述測試執行系統或其他測試儀器與該待測裝置之間的介面的失敗，相對於上述待測裝置本身的失敗；及如果上述測試結果被決定是為一錯誤結果時，顯示相關於上述量測的一錯誤指示。 2.如申請專利範圍第W所述之方法及在上述方法中的進 -步特性更包括如果上述測試結果是否包括有一數值 (2)及在上述測試結不包括有一數值時，上述顯示包括有顯示上述錯誤指示。 3·=申請專利範圍第i項所述之方法及在上述方法中的進步特性更包括決定上述測試結果包括有—預定規格及如果上述測試結果不括有上述預定規格時，則上述顯不包括有顯示上述錯誤指示。申請專利範圍第i項所述之方法及在上述方法中的進步特性更包㈣存—測試規格（⑵），㈣試規格包有由下列群組中選擇出的一或多個限制，該群組包 =有：錯誤限制，規格限制，及邊際限制，及上述決疋步驟包括有決定上述測試結果否是在上述測試規格 32 2〇〇3〇5825 5 10 15 拾、申言序限制之内。 5·如申凊專利範圍第 HP 弟4項所4之方法及在上述方法中的進疋·上述錯誤限制包括有一錯下限，及上述顧；6 2 錯决 ±/If ，.'、、，、匕有如果上述測試結果不在上述 = 圍之内時，顯示上述錯誤指示，·上述規二’：括有—上規格限制及-下規格限制，及上述 1=有如果上述測試結果沒有在上述規格上限及述紅下限時，則顯示—錯誤指示；及其中上述邊界限制包括有一邊際彡際上限及-邊際下限’及上述顯示 :果上述測試結果沒有在上述邊際上限及上述邊際下限之内時’顯示一邊際指示。 6. 2申請專利範圍第5項所述之方法及在上述決定中的進一步特性更包括如果上述測試結果是在上述邊際上限及上述邊際下限之内時決定一通過結果，及上述測試結果包括有上述預定格式。 7- ^ tit##-] 1-2 0,4^5- 及在上述顯示中的進一步特性更包括有相關於上述錯誤的顯示資訊（600)。 8.如申請專利範圍第卜^’斗小或㈣所述之方法及在上述方法中的進一步特性更包括：在上述決定動作之後停止上述測試； _圍

接收由包括有下列條件之群組所選擇之一輸入該群組包括有··放棄上述測試，重新啟動上述量測繼續上述測試，跳過上述量測，及跳過上逃測試； 33 20 200305825 ίβ、申請專利範匱執行上述輸入；及其中 5 10 15 20 亡述顯示包括有顯示由包括有下列之該群組所選出的資訊，該群組包括有：在該测試程式停止時的量測結果，停止該測試的理由，及該測試停止時的時間。、 9·-種用來控制在-待測震置⑽)上的電子測試之一測試系統⑽），該待測裝置是與上述測試系統分離且^ 同，上述測試執行系統包括有用儲存一測試及測試姓果之一記憶體⑽），及與上述記憶體通訊用來執行上迷測試及產生上述職結果之—電子處s||( 述方法特徵包括有：）’ *上述測試結果包括有反應下列至少一條件的錯誤、、’口果·上述測試執行系統或其他測試儀器之失敗，上述待測裝置的錯誤設定，及上述測試執行系統或盆他測試儀器與該待測裝置之間的介面的失敗，相對於上述待測裝置本身的失敗；、上述記憶體及電子處理器包括有用來決定_測士式結果是否為錯誤之裝置；及上述測試系統更包括有；β 一圖形使用者介面輪出裝置⑽），與上述電子處 2w顯示資訊’上述資訊包括有—錯誤結果之一錯誤指示。 1〇·如申請專利範圍第9項所述之測試執行系統及進一牛特性在上述資訊中更包括有用來使一使用者選擇下_ 項中的二或多個選項之_圖形元件⑽），該等選項包括有：執行上述測試而不會停止；在錯誤結果時停止 34 200305825 拾、申請專利範圍上述測試；在邊際結果時停止上述測試；在失敗結果或錯誤結果時停止上述測試；在邊際結果，失敗結果或錯誤結果時停止上述測試；在每一量測之後停止上述測試。

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