KR20030084668A - 테스트 실행 시스템 및 그의 구동 방법 - Google Patents

테스트 실행 시스템 및 그의 구동 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20030084668A
KR20030084668A KR10-2003-0025426A KR20030025426A KR20030084668A KR 20030084668 A KR20030084668 A KR 20030084668A KR 20030025426 A KR20030025426 A KR 20030025426A KR 20030084668 A KR20030084668 A KR 20030084668A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
error
result
results
failure
Prior art date
Application number
KR10-2003-0025426A
Other languages
English (en)
Inventor
숫톤크리스토퍼케이
Original Assignee
애질런트 테크놀로지스, 인크.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 애질런트 테크놀로지스, 인크. filed Critical 애질런트 테크놀로지스, 인크.
Publication of KR20030084668A publication Critical patent/KR20030084668A/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F15/00Digital computers in general; Data processing equipment in general
    • G06F15/16Combinations of two or more digital computers each having at least an arithmetic unit, a program unit and a register, e.g. for a simultaneous processing of several programs
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2849Environmental or reliability testing, e.g. burn-in or validation tests
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

본 발명은 에러 결과(erroneous result) 및 경계적 결과(marginal results)를 구별하는 전자 테스트 시스템(electronic test system)(100)에 관한 것이다. 이 테스트 시스템은 테스트의 실행을 제어하고, 테스트 결과를 획득하며, 테스트 결과를 생성하기 위한 메모리(101) 및 프로세서(102)를 포함한다. 테스트 결과는 테스트 데이터 포인트(datapoint)의 상태가 통과(pass), 실패(fail), 에러(error) 또는 경계적(marginal)인지 여부에 대한 판정(330)을 포함하는데, 여기에서, 통과는 DUT가 사양(specification)을 충족시켰다는 것을 나타내고, 실패는 DUT가 사양을 충족시키지 못했다는 것을 나타내며, 에러는 테스트 시스템 또는 DUT에 대한 인터페이스(interface)가 실패했다는 것을 나타내고, 경계적은 시스템이 사양의 범위의 경계에 있음을 나타낸다. 테스트 결과는 그래픽 사용자 인터페이스(300)에 디스플레이된다. 테스트 시스템은 결과에 기반하여 테스트 시스템의 진행을 제어하는 기능을 제공한다. 예를 들면, 시스템은 에러 결과, 경계적 결과, 실패 결과 및 이들의 조합에서 정지하거나, 각 측정 후에 정지하도록 프로그래밍될 수 있다. 시스템이 정지하면, 드롭-다운 윈도우(drop-down window)(600)가 나타나 그 정지에 대한 원인을 설명한다.

Description

테스트 실행 시스템 및 그의 구동 방법{ELECTRONIC TEST PROGRAM THAT CAN DISTINGUISH RESULTS}
복잡한 전자, 전자-기계 및 기계 제품과 장치는 일반적으로 자동화된 테스트 시스템을 사용하여 테스트한다. 이러한 테스트는, 테스트 중인 장치(DUT)에 수행할 수 있는 다양한 작동을 통해서 실행되고, 각 작동이 적절하게 수행되는지 여부에 대해 기록하는 타당성 테스트(validation test)와, DUT를 온도, 압력 및 습도의 다양한 조합에 노출시키고 그 결과를 기록하는 환경 테스트(environmental test)와, 생산성 테스트(production test) 등을 포함할 수 있다. 일반적으로, DUT 및 DUT 상에 환경 및 여타 제약 조건을 제공하는 시스템은 모두 전자적으로 제어된다. 최근 10년여 동안, 본 기술 분야에서 "테스트 실행(test executive)" 프로그램으로 지칭되는 다양한 자동화 테스트를 제어할 수 있는 컴퓨터화된 프로그램이 개발되어 왔다.
종래 기술에서의 테스트 실행 프로그램은 에질런트 테크놀로지스(Agilent Technologies)에 의해 개발된 내부 테스트 실행 프로그램과 내셔널 인스트루먼트 코포레이션(National Instrument Corporation)에 의해서 개발된 테스트스탠드(TESTSTAND) 소프트웨어를 포함하는데, 이는 자동화된프로토타입(prototype), 타당성(validation) 또는 생산성(production) 테스트 시스템을 편성, 제어 및 실행하도록 실행준비된(ready-to-run) 테스트로 설명된다. 종래의 에질런트 테크놀로지스의 프로그램은 그래픽 사용자 인터페이스(GUI)를 사용하지 않았으므로, 단순한 방식으로 다량의 데이터를 디스플레이하는 것으로 프로그램의 능력을 제한하였다. 테스트스탠드 소프트웨어는 GUI를 사용하기는 하지만, 사용자가 전체적인 테스트의 진행을 판정하기 위해서는 복수의 윈도우를 통해서 스크롤(scroll)할 필요가 있다.
일반적으로, 테스트는 DUT와 비교되는 일단의 규칙(rules) 또는 사양(specifications)으로 정의된다. 규칙 또는 사양은 일반적으로, 테스트가 수행되는 조건인 환경적 파라미터(parameter)(온도, 습도, 압력 및 파라미터가 적용되는 시간 주기 등)뿐만 아니라 DUT에 인가된 전기 및 기계적 파라미터(전압, 전력, 특정한 제어 취급법 및 장치 부품 등)로 정의되는 다양한 입력(input)을 포함한다. 각각의 테스트는 DUT의 각 요소에 인가된 파라미터의 여러 조합을 포함할 것이며, 종종 여러 번 반복될 것이다. 파라미터의 각 조합은 하나 이상의 데이터 포인트(datapoints)(이들은 기록되어 사양을 정의하는 수치적 한계 또는 불리언 한계(boolean limit)와 비교됨)를 생성하는 측정치를 정의할 것이다. 그러므로, 장비 및 제품이 더 복잡해질수록, 전자 테스트 프로그램은 매우 길고 복잡해져서, 테스트를 완료하기 위해서는 종종 며칠, 심지어 일주일 또는 그 이상의 기간이 소요되기도 한다.
이와 비슷하게, DUT로의 접속을 설정하는 것 또한 길고 복잡한 프로세스이다. DUT로의 접속의 설정 및 테스트 시스템 그 자체의 설정 프로세스 도중에, 실패하거나 잘못될 수 있는 여러 사항이 있다. 또한, DUT로의 접속 및 테스트 시스템 자체 내에서 발생된 실패는 테스트 프로세스 도중에도 발생될 수 있다. 설정 프로세스 도중 또는 테스트 프로세스 도중의 어느 한 쪽에서 발생한 실패는 테스트 프로세스 도중에 기록되는 데이터 포인트에 영향을 줄 것이다. 특히, 실패는 테스트에 의해서 생성된 데이터 포인트의 값에 영향을 미친다. 데이터 포인트에 대한 영향이 충분히 크다면, 이러한 데이터 포인트와 사양을 정의하는 수치적 또는 불리언 한계와의 비교는, 데이터 포인트가 사양에 의해 정의된 한계를 벗어나 있음을 나타낼 수 있다. 실패로 인해서, 데이터 포인트가 사양에 의해 정의된 한계를 벗어나게 되었다는 것을 인식하지 못하면, 데이터 포인트는 사양을 충족시키지 못하는 것으로 잘못 취급될 것이다. 이와 비슷하게, 실패로 인해 데이터 포인트의 값이 사양에 의해서 정의된 한계 내로 이동된다면, 이 데이터 포인트는 사양을 "통과"한 것으로 잘못 취급될 것이다. DUT의 실패와는 달리 이러한 시스템의 실패는 본 명세서에서 "에러 결과(erroneous results)"로 지칭된다.
종래의 테스트 시스템은 에러 결과에 대해서 사용자에게 경고할 수가 없었다. 또한 이러한 종래의 시스템은, 사용자에게 상당한 수의 경계적 결과에 대해서도 경고할 수 없었으며, 이는 열등한 장치임을 나타낸다. 그 대신에, 이러한 실패가 발생한 경우, 테스트 진행과 데이터 포인트의 값은, 실패에 의해서 영향을 받았는지에 관계없이 저장되었다. 이러한 데이터 포인트를 사양을 정의하는 수치적 또는 불리언 한계와 비교하면, 비교의 결과는 실패에 의해서 동일한 방식으로 영향을받는다. 테스트의 결과를 추후에 검토할 때, 사용자는, 테스트의 결과 내의 비정상적인 상황을 통해서, 에러 결과가 발생했음을 판정할 수도 있다. 그러나, 실제적인 실행에서, 사용자는 다른 작업을 수행하는 동안에, 거의 대부분 해당 테스트를 방치한 채로 몇 시간, 밤 새 또는 몇 일 동안 실행되게 할 것이다. 테스트에 걸리는 시간의 길이와 복잡성 및 종래 테스트 시스템의 디스플레이 기술의 조잡함 때문에, 사용자가 테스트를 체크하는 단계로 리턴(return)할 때, 테스트의 진행과 결과를 판정하고, 시스템 실패가 발생되어 테스트의 결과에 영향을 주었는지 여부를 추가적으로 확인하기 위해 결과를 검토하는 데에는 상당한 시간과 노력이 소요된다. 많은 경우, 테스트가 실행되고, 그 결과는 오직 테스트가 완료된 후에만 검토될 수 있으므로, 결과의 총체적인 분석을 실행하는 데 필요한 시간을 획득할 수 없는 상황이 종종 발생된다. 결과적으로, 테스트가 완료된 후에 테스트 결과를 검토하면, 많은 테스트 시간이 낭비되고, 테스트의 특정 요소가 부적절하게 설정되었다는 점, 테스트 도중에 테스트 시스템의 실패가 발생했다는 점, 또는 테스트 도중에는 인식되지 않았던 몇몇 관점에서 DUT와의 인터페이스가 부적절하다는 점이 발견된다.
위의 문제점들은 제품의 가격을 증가시키고, 제품 개발을 지연시켜 비능률적이게 한다. 그러므로, 이러한 문제점을 극복한 테스트 실행 시스템이 매우 요망된다.
본 발명은, 에러 결과를 구별하는 테스트 실행 시스템을 제공하는 것에 의해서 종래 기술에서의 앞서 제시된 문제점과 여타 문제점들을 해결한다. 또한, 본 발명은 경계적 결과를 구별하는 테스트 실행 시스템을 제공한다. 또한 이 시스템은 실패 및 통과 결과를 구별하는 것이 바람직하다. 바람직하게는, 본 발명은 임의의 단일 데이터 포인트의 측정 도중에 이러한 결과에 대해 사용자에게 경고한다. 바람직한 실시예에서, 본 시스템은 에러 결과, 경계적 결과, 실패 결과 및 그들의 조합에서 정지하거나, 각 측정 후에 정지하도록 프로그래밍될 수 있다. 이 프로그래밍은, 사용자가 본 프로그래밍을 언제든지 즉시 확인할 수 있도록, GUI 위에 시각적으로 활성화되어 있는 것이 바람직한 버튼을 클릭하는 것에 의해서 용이하게 실행되는 것이 바람직하다.
이 시스템은, 테스트 절차를 제어하기 위한 아이콘(icon) 또는 결과를 텍스트(text), 표, 그래픽 포인트 또는 그래픽 컬러화된 막대(graphical colored bars) 및 다른 GUI 요소로 디스플레이하기 위한 윈도우 중 어느 하나를 포함하는 윈도우로 분리되는 것이 바람직한 그래픽 사용자 인터페이스를 가진다. 사용자는, 마우스, 키보드, 트랙볼(trackball), 터치 패드(touch pad), 롤러 볼(roller ball) 및 조이스틱(joystick) 등의 포인팅 장치(pointing device)로 아이콘 또는 윈도우에 나타난 프로그램 형상을 액세스하는 것에 의해서 테스트 절차를 제어할 수 있다.
시스템을 정지시키는 것에 추가하여, 그렇게 프로그램되었다면, 사용자는 수 가지의 방법으로 에러 결과에 대한 경고를 받는 것이 바람직하다. 바람직하게는,에러 결과는, 즉각적으로 인식할 수 있는 트리 구조(tree structure) 내의 아이콘뿐만 아니라, "진행 윈도우(progress window)"로 불리는 진행 그래픽 디스플레이 테이블 내에 "에러" 등의 용어가 나타나는 등의 수 개의 방법으로 디스플레이된다.
본 발명은, 테스트 실행 시스템과는 구분되고 별개인 테스트 중인 장치(DUT)를 제어하기 위한 테스트 실행 시스템의 구동 방법을 제공하는데, 본 방법은, 테스트 결과를 획득하기 위해서 측정을 수행하는 것과, 테스트 결과가, DUT 자체의 실패가 아닌, 테스트 실행 시스템 또는 다른 테스트 장치의 실패, DUT의 부적절한 설정 및 테스트 실행 시스템 또는 다른 테스트 장비와 DUT 사이의 인터페이스의 실패 중의 적어도 하나를 나타내는 에러 결과인지 여부를 판정하는 단계와, 테스트 결과가 에러 결과라고 판정되면 측정과 관련된 에러 표시를 디스플레이하는 단계를 포함한다. 바람직하게는, 판정 단계는 테스트 결과가 값을 보유하는지 여부를 판정하는 단계를 포함하고, 디스플레이 단계는 테스트 결과가 값을 보유하지 않는다면 에러 표시를 디스플레이하는 단계를 포함한다. 바람직하게는, 판정 단계는 테스트 결과가 사전 결정된 포맷(predetermined format)을 포함하는지 여부를 판정하는 단계를 포함하고, 디스플레이 단계는 테스트 결과가 사전 결정된 포맷을 포함하지 않는다면 에러 표시를 디스플레이하는 단계를 포함한다. 바람직하게는, 사전 결정된 포맷은, 수치적 포맷, 문자·수치적 포맷(alphanumeric format) 및 사전 결정된 배열 내에서 수치적 값과 문자·수치적 코드의 스트링(string)으로 이루어진 그룹으로부터 선택된 포맷을 포함한다. 바람직하게는, 이 방법은 테스트 사양을 저장하는 단계를 더 포함하고, 판정 단계는 테스트 결과가 테스트 사양 내에 있는지 판정하는 단계를 포함한다. 바람직하게는, 테스트 사양은 하나 이상의 한계를 포함한다. 바람직하게는, 하나 이상의 한계는, 에러 한계, 사양 한계 및 경계적 한계로 구성된 그룹으로부터 선택된다. 바람직하게는, 에러 한계는 상위 에러 한계와 하위 에러 한계를 포함하고, 디스플레이하는 단계는, 테스트 결과가 상위 에러 한계와 하위 에러 한계 내에 있지 않다면 에러 표시를 디스플레이하는 단계를 포함한다. 바람직하게는, 이 사양 한계는 상위 사양 한계와 하위 사양 한계를 포함하며, 디스플레이하는 단계는 테스트 결과가 상위 사양 한계와 하위 사양 한계 내에 있지 않을 때 실패 표시를 디스플레이한다. 바람직하게는, 경계적 한계는 상위 경계적 한계 및 하위 경계적 한계를 포함하고, 디스플레이하는 단계는 테스트 결과가 상위 경계적 한계와 하위 경계적 한계 내에 있지 않다면 경계적 표시를 디스플레이한다. 바람직하게는, 판정하는 단계는, 테스트 결과가 상위 경계적 한계와 하위 경계적 한계 사이에 있다면 통과 결과를 판정하는 단계를 더 포함하고, 테스트 결과는 사전 결정된 포맷을 포함한다. 바람직하게는, 디스플레이하는 단계는 측정에 대응하는 스프레드 시트 요소(spreadsheet element) 내에 에러 표시를 디스플레이하는 것을 포함한다. 바람직하게는, 디스플레이하는 단계는 진행 윈도우 내의 계통적 트리(hierarchical tree) 내에 아이콘으로 에러 표시를 디스플레이하는 것을 포함한다. 바람직하게는, 디스플레이하는 단계는 에러와 관련된 정보를 디스플레이하는 것을 포함한다. 바람직하게는, 디스플레이는 대화 상자(dialog box) 내에 정보를 디스플레이하는 것을 포함한다. 바람직하게는, 이 방법은 판정 단계 후에 테스트를 정지시키는 단계와, 테스트의 정지, 테스트의 재개, 측정의 재개, 테스트의 계속, 측정의 스킵, 테스트의 스킵으로 구성된 그룹으로부터 선택된 입력을 수신하는 단계와, 이 입력을 실행하는 단계를 더 포함한다. 바람직하게는, 디스플레이하는 단계는, 테스트 프로그램이 정지한 위치에서 측정의 결과, 테스트가 정지한 원인, 테스트가 정지된 시점의 시간으로 구성된 그룹으로부터 선택된 정보를 디스플레이하는 단계를 포함한다.
다른 측면에서, 본 발명은 테스트 실행 시스템과는 구분되고 별개인 테스트 중인 장치(DUT)에 대한 전자 테스트를 제어하기 위한 테스트 실행 시스템을 제공하며, 테스트 실행 시스템은, DUT 자체의 실패가 아닌 테스트 실행 시스템 또는 다른 테스트 장치의 실패, DUT의 부적절한 설정 및 테스트 실행 시스템 또는 다른 테스트 장비와 DUT 사이의 인터페이스의 실패 중의 적어도 하나가 반영된 에러 결과를 포함하는 테스트와 테스트 결과를 저장하기 위한 메모리와, 테스트의 실행을 제어하기 위해 메모리와 통신하고, 테스트 결과를 생성하고, 테스트 결과가 에러인지 판정하는 전자 프로세서와, 정보를 디스플레이하기 위해 전자 프로세서와 통신하는 그래픽 사용자 인터페이스 출력 장치를 포함하는데, 여기에서, 메모리는 또한 DUT 사양과 복수의 측정 데이터 포인트를 저장하는 것이 바람직하고, 테스트 결과는 또한 측정 데이터 포인트와 테스트 사양의 비교를 반영하는 실패 결과를 포함한다. 바람직하게는, 테스트 데이터 포인트에 대한 비교 결과의 값이 없거나, 사전 결정된 포맷을 가지고 있지 않거나, 에러 한계 내에 있지 않다면, 테스트 결과는 에러 결과를 포함한다. 바람직하게는, 정보는 정지가 없는 테스트의 수행, 에러 결과에서 테스트의 정지, 실패 결과에서 테스트의 정지, 경계적 결과에서 테스트의 정지,실패 결과 또는 에러 결과에서 테스트의 정지, 경계적 결과, 실패 결과 또는 에러 결과에서 테스트의 정지, 각 측정 후에 테스트의 정지 등의 2개 이상의 선택 사항 중에서 사용자가 선택할 수 있게 하는 그래픽 요소를 더 포함한다. 바람직하게는, 정보는 선택 사항이 선택되었다는 것을 나타내는 정지 테스트 표시부를 더 포함한다. 바람직하게는, 에러 표시부는, 측정에 대응하는 스프레드 시트 요소, 계통적 트리 구조 내의 아이콘, 진행 윈도우 내의 에러 표시부 및 대화 상자로 이루어진 그룹으로부터 선택된 그래픽 소자를 포함한다.
추가적인 측면에서, 본 발명은 테스트 실행 시스템과는 구분되고 별개인 테스트 중인 장치(DUT)에 대한 테스트를 제어하기 위한 테스트 실행 시스템을 제공하는 제품을 제공하고, 이 제품은 테스트 결과를 얻기 위해서 측정을 수행하는 것과, 테스트 결과가, DUT 자체의 실패가 아닌 테스트 실행 시스템 또는 다른 테스트 장치의 실패, DUT의 부적절한 설정 및 테스트 실행 시스템 또는 다른 테스트 장비와 DUT 사이의 인터페이스의 실패 중의 적어도 하나가 반영된 에러 결과인지 여부를 판정하는 것과, 결과가 에러 결과로 판정되었다면 측정과 상관된 에러 표시를 디스플레이하는 것을 처리 유닛에 명령하는 인스트럭션과, 그 인스트럭션을 저장하는 프로세싱 유닛에 의해서 판독가능한 매체(media)를 포함한다. 바람직하게는, 이 제품은, 테스트 결과가 경계적 결과인지 판정하고, 그 결과가 경계적이라면, 측정과 상관된 경계적 결과 표시를 디스플레이하게 하는 인스트럭션을 포함한다.
또 다른 측면에서, 본 발명은 테스트 실행 시스템과는 구분되고 별개인 테스트 중인 장치(DUT)에 대한 테스트를 제어하기 위한 테스트 실행 시스템의 구동 방법을 제공하고, 이 방법은, 테스트 결과를 얻기 위해서 측정을 수행하는 것과, 테스트 결과가 경계적 결과인지 여부를 판정하는 것과, 그 결과가 경계적이라면, 측정과 상관된 경계 결과 표시를 디스플레이하는 것을 포함한다.
또한 다른 측면에서, 본 발명은 테스트 실행 시스템과는 구분되고 별개인 테스트 중인 장치(DUT)에 대한 테스트를 제어하기 위한 테스트 실행 시스템을 제공하는 제품을 제공하고, 이 제품은 테스트 결과를 얻기 위해서 측정을 수행하는 것과, 결과가 경계적 결과인지 여부를 판정하는 것과, 그 결과가 경계적 결과로 판정되었다면 측정과 상관된 경계적 결과 표시를 디스플레이하는 것을, 프로세싱 유닛에 지시하기 위한 인스트럭션과, 그 인스트럭션을 저장하는 프로세싱 유닛에 의해 판독가능한 매체를 포함한다.
또한 추가적인 측면에서, 본 발명은 테스트 실행 시스템과는 구분되고 별개인 테스트 중인 장치(DUT)에 대한 전자 테스트를 제어하기 위한 테스트 실행 시스템을 제공하며, 테스트 실행 시스템은, 테스트와 테스트 결과를 저장하기 위한 메모리와, 테스트의 실행을 제어하고, 테스트 결과를 생성하기 위해 메모리와 통신하는 전자 프로세서와, 정보를 디스플레이하기 위해 전자 프로세서와 통신하는 그래픽 사용자 인터페이스 출력 장치를 포함하는데, 이 정보는, 정지 없는 테스트의 수행, 에러 결과에서 테스트의 정지, 실패 결과에서 테스트의 정지, 경계적 결과에서 테스트의 정지, 실패 결과 또는 에러 결과에서 테스트의 정지, 경계적 결과, 실패 결과 또는 에러 결과에서 테스트의 정지, 각 측정 후에 테스트의 정지 등의 2개 이상의 선택 사항 중에서 사용자가 선택할 수 있게 하는 그래픽 요소를 포함한다.바람직하게는, 이 정보는 선택사항이 선택되었다는 것을 나타내는 정지 테스트 표시부를 더 포함한다. 바람직하게는, 이 정보는 테스트의 중지, 테스트의 재개, 측정의 재개, 테스트의 계속, 측정의 스킵, 테스트의 스킵 및 입력의 실행으로 구성된 그룹으로부터 선택된 그래픽 입력 소자를 더 포함한다. 바람직하게는, 이 정보는 테스트 프로그램이 정지한 위치에서의 측정 결과, 테스트가 정지한 원인, 테스트가 정지한 시간으로 구성된 그룹으로부터 선택된 정보를 더 포함한다.
또 다른 측면에서, 본 발명은 테스트 실행 시스템과는 구분되고 별개인 테스트 중인 장치(DUT)에 대한 전자 테스트를 제어하기 위한 테스트 실행 시스템의 구동 방법을 제공하며, 이 방법은, 테스트 결과를 얻기 위해서 측정을 수행하는 것과, 정지가 없는 테스트의 수행, 에러 결과에서 테스트의 정지, 실패 결과에서 테스트의 정지, 경계적 결과에서 테스트의 정지, 실패 결과 또는 에러 결과에서 테스트의 정지, 경계적 결과, 실패 결과 또는 에러 결과에서 테스트의 정지, 각 측정 후에 테스트의 정지 등의 2개 이상의 선택 사항 중에서 사용자가 선택할 수 있게 하는 그래픽 소자를 포함하는 정보를 디스플레이하는 것과, 이러한 선택 사항 중에 선택된 하나를 수신하는 것과, 선택된 선택 사항에서 지시된 바대로 테스트를 정지시키는 것을 포함한다. 바람직하게는, 이 방법은, 테스트의 중지 동작 이후에, 테스트의 중지, 테스트의 재개, 측정의 재개, 테스트의 계속, 측정의 스킵, 테스트의 스킵 및 입력의 실행으로 이뤄진 그룹으로부터 사용자가 커맨드를 선택할 수 있게 하는 그래픽 요소를 디스플레이하는 것을 더 포함한다. 바람직하게는, 이 방법은, 테스트의 중지 동작 이후에, 테스트 프로그램이 정지된 위치의 측정 결과, 테스트가 정지된 원인 및 테스트가 정지된 시간으로 이뤄진 그룹으로부터 선택된 정보를 디스플레이하는 것을 더 포함한다.
또한, 본 발명은 테스트 실행 시스템과는 구분되고 별개인 테스트 중인 장치(DUT)에 대한 테스트를 제어하기 위한 테스트 실행 시스템을 제공하는 제품을 제공하며, 이 제품은, 테스트 결과를 얻기 위해서 테스트를 수행하는 것과, 정지가 없는 테스트의 수행, 에러 결과에서 테스트의 정지, 실패 결과에서 테스트의 정지, 경계적 결과에서 테스트의 정지, 실패 결과 또는 에러 결과에서 테스트의 정지, 경계적 결과, 실패 결과 또는 에러 결과에서 테스트의 정지, 각 측정 후에 테스트의 정지 등의 2개 이상의 선택 사항 중에서 사용자가 선택할 수 있게 하는 그래픽 요소를 포함하는 정보를 디스플레이하는 것, 이러한 선택 사항 중에 선택된 하나를 수신하는 것, 선택된 선택 사항에서 지시된 바대로 테스트를 정지시키는 것을 프로세싱 유닛에 지시하는 인스트럭션과 그 인스트럭션을 저장하는 프로세싱 유닛에 의해 판독가능한 매체를 포함한다.
본 발명에 따른 테스트 실행 시스템은 종래의 시스템에 비해서 더 효율적일 뿐만 아니라, 테스트가 조정될 필요가 있는 지점에서 정지하도록 시스템을 프로그래밍할 수 있기 때문에, 사용자를 자유롭게 하여, 테스트하는 도중에 다른 작업을 수행할 수 있게 한다. 본 발명의 수많은 다른 형상, 객체 및 장점은 첨부된 도면과 관련하여 읽을 때, 다음의 설명으로부터 명확해질 것이다.
도 1은 테스트 중인 장치 및 테스트 장비에 접속된 본 발명의 바람직한 실시예의 주된 하드웨어 구성 요소를 도시하는 블럭도,
도 2는 본 발명에 따른 테스트 프로그램의 바람직한 실시예에 대한 계층적인 구조(hierarchical structure)를 도시하는 블록도,
도 3은 전자 테스트 시스템의 그래픽 사용자 인터페이스를 도시하는 도면,
도 4는 본 발명에 따른 진행 윈도우를 도시하는 도면,
도 5는 본 발명에 따른 트리 구조(tree structure)를 도시하는 도면,
도 6은 본 발명에 따른 정지 대화 상자(stop dialog box)를 도시하는 도면,
도 7은 단일면(single-sided) 사양에 대한 각 그래픽 요소의 통과, 실패, 한계 또는 에러 상태를 판정하는 것을 나타내는 흐름도.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
100 : 테스트 실행 시스템106 : 출력 장치
300 : 그래픽 사용자 인터페이스301 : 레코더 버튼
330 : 프로세스 윈도우 350 : 스탑 온 아이콘
410 : 데이터 포인트 유닛600 : 대화 상자
본 발명은 통과 및 실패 테스트 결과로부터 오류 및 한계 테스트 결과를 구분할 수 있고, 이러한 결과가 발생하였을 때 사용자에게 경고를 디스플레이할 수 있는 전자 테스트 시스템에 관한 것이다. 특히, 본 발명은, 사용자가 테스트 중인 장치(device under test : DUT) 내에서 실패 또는 경계적 결과(열등한 장치를 표시할 수 있음)에 대해 경고를 받을 수 있도록, 그리고 사용자가 테스트되고 있는 장치 내의 오류 결과(열등한 장치라기 보다는 테스트 시스템 내의 실패 또는 실수를 표시할 수 있음)에 대해서도 경고를 받을 수 있도록, 테스트 결과에 대응하는 경고를 추가적으로 제공할 수 있다.
도 1을 참조하면, 도면에서 도시된 테스트 시스템에 대한 실시예에서, 테스트 시스템은 소프트웨어를 포함하는 컴퓨터 시스템(100)을 포함하는 것이 바람직하다. 컴퓨터 시스템(100)은 메모리(101), 마이크로프로세서(102), 입력 장치(104) 및 출력 장치(106)를 포함한다. 메모리(101)는 전기선(electrical line)(110)을 경유하여 마이크로프로세서(102)와 통신한다. 입력 장치(104)는 전기선(112)을 통해 마이크로프로세서(102)와 통신한다. 마이크로프로세서(102)는 전기선(114)을 경유하여 출력 장치(106)를 통해서 데이터를 출력한다. 이와 다른 실시예에서, 테스트 시스템은 메모리(101) 내에 저장된 소프트웨어의 형태를 취하여 프로세서(102)에 의해서 수행되거나 실행될 수 있다.
사용자는, 키보드, 마우스, 트랙 볼, 터치 패드, 조이스틱 또는 본 기술 분야에서 공지된 여타 컴퓨터 입력 장치 등의 입력 장치(104)(그러나, 여기에 한정되지 않음)를 통해서 테스트 시스템과 대화(interact)한다. 입력 장치(104)는 출력 장치(106)(음극선 튜브 모니터(cathode ray tube monitor) 또는 액정 디스플레이 등의 디스플레이 시스템)에서 커서(curser) 혹은 포인터(pointer)를 움직일 수 있게 한다. 테스트의 결과는 출력 장치(106)에 디스플레이된다. 테스트는 프로세서(102)에 의해 제어되는데, 이 프로세서(102)는 전기선(116)을 경유하여 테스트 프로그램의 인스트럭션을 테스트 중인 제품 또는 테스트 중인 장치(DUT)에게 통신한다. 프로세서(102)는, 전기선(118)을 경유하여 테스트 장비(117)를 제어한다. 테스트 결과는 프로세서(102)에 의해 처리되고, 디스플레이(106)에 의해 가시화되도록 메모리(101) 내에 저장된다. 디스플레이 정보는, 커서의 구성과 위치에 관한 정보와, 테스트 결과 및 어떻게 테스트가 진행되는지 등의 사용자에게 흥미로운 그 외의 시각적 정보를 둘 다 포함한다. DUT(108)는 테스트 실행 시스템(100)과는 분리되며 별개이다. 여기에서, "분리"는 분리된 하우징 내에 보유되어 있는 것과 같은 물리적인 분리를 의미하며, "별개"는, 워드 프로세서 등의 하나의 소프트웨어 프로그램이 CAD 프로그램 등의 다른 소프트웨어 프로그램과 기능적으로 구분되는 경우를 포함하는, 기능적으로 독립된 것을 의미한다.
본 발명은, 도 1에서 개략적으로 도시된 일반 형태에 따른 다양한 실제 전자 장치로 구현되 수 있다. 예를 들면, 테스트 시스템은 컴퓨터 시스템에 장착되거나, 다른 하드웨어 내에 논리 회로로서, 또는 전자 분석기 등(그러나 여기에 한정되지 않음)의 전자 테스트 장치로서 장착될 수도 있다.
본 발명의 작용에 대해 좀더 이해하기 위해서는, 본 발명의 바람직한 테스트프로그램의 계통적 구조와, 테스트가 수행되는 순서를 설명하는 것이 도움이 될 것이다. 도 2를 참조하면, 도 2에는 계층적, 즉 멀티-레벨(multi-level) 테스트 프로그램의 특징에 대해 설명하는 블록도(200)가 도시되어 있다. 제 1 레벨(201)은 제품 모델, 즉, 테스트 개발자가 특정 장치 모델 번호들의 패밀리를 테스트하기 위해서 생성한 파일에 대응된다. 이는 테스트 절차와 입력을 포함한다.
제 2 레벨(202)은 절차 그 자체에 대응된다. 절차는 실행될 테스트의 순서화된 목록, 시퀀스(sequence), 또는 스크립트(script)이다. 한 벌의 카드(202) 형태로 도 2에 나타낸 수 개의 절차가 존재할 수 있는데, 각 카드는 서로 다른 절차를 나타낸다. 각 절차는 단계(203)에서 도시된 바와 같이, 복수의 테스트, 즉, 테스트 1, 테스트 2, 테스트 3, …, 테스트 N을 포함한다. 각 테스트는 복수의 측정을 포함한다. 이는 단계(205)에서 나타낸 테스트(2)에 대해 도 2에 도시되어 있다. 도시된 바와 같이, 테스트(205)는 측정들(207), 즉, 측정 1, 측정 2, …, 측정 N을 포함한다. 각 측정은 하나 이상의 데이터 포인트를 포함하며, 각 측정과 연관된 한 벌의 카드(210, 211, 212)로 나타낸다. 절차는 소프트웨어 객체(software object)의 구조를 설계하기 위해서 프로그램 또는 코드를 기록하는 것으로 정의된다. 일 실시예에서, 소프트웨어 객체는 COM(component object model) 객체이다. COM은 프로그래밍 언어가 아니라 언어에 독립적인 컴포넌트 구조이다. COM은 범용이며, 통상적으로 사용되는 기능 및 서비스를 포함하기 위한 객체 지향 수단(object oriented means)으로 의도되었다. 퍼블리셔스 그룹 웨스트(Publishers Group West)의 해리 뉴톤(Harry Newton)에 의한 뉴톤의 전기 통신 사전(Newton's Telecom Dictionary), 197 페이지를 참조하라.
테스트(205)는 동일한 테스트 알고리즘 또는 동일한 테스트 소프트웨어 코드를 공유하는 절차(202) 내 측정(207)의 그룹이다. 테스트의 몇몇 예에는 진폭 정확도 테스트(amplitude accuracy test), 고조파 왜곡 테스트(harmonic distortion test) 등이 포함된다. 테스트 프로그램은 각 측정 및 데이터 포인트에 대한 테스트를 반복적으로 호출한다.
측정(206) 등의 측정은 테스트에 대한 구성 또는 설정이다. 테스트(205) 내에서 측정(207) 중의 각 측정은 서로 다른 설정 또는 구성 파라미터를 가질 수 있다. 테스트는 파라미터 구동형(parameter-driven)이고, 이 파라미터는 측정 레벨에서의 입력이다. 측정은 볼트의 범위, 킬로헤르쯔 또는 고조파(정수) 단위의 주파수 등의 요소일 수 있다. 테스트 절차(202)는 측정(207)을 절차로부터 테스트로 전달되는 데이터로 간주한다. 또한 측정은 테스트 실행 단계이다. 테스트 실행의 측정 단계 도중에, 측정이 개시되지만 데이터는 수집되지 않는다. 이는 복수의 테스트 중인 장치(DUTs)가 동시적으로 구성되고 개시될 수 있게 한다.
데이터 포인트(212, 211, 212 등)는 측정(206 등)의 서브셋(subset)이며, 하나의 측정이 복수의 결과를 생성할 때 결과를 선택하는 추가적인 파라미터를 보유한다. 측정을 위한 복수의 데이터 포인트의 몇몇 예는 스펙트럼 분석기 스윕(spectrum analyzer sweep) 또는 장치의 각 채널에 대한 최소 및 최대 값이다.
측정(206) 내의 각 데이터 포인트(210 등)에 대해서 수치 결과(value result)가 추출된다. 획득된 결과는 사양과 대조된다. 사양은 수치적인 한계, 스트링 매치(string match) 또는 불리언 통과/실패(Boolean pass/fail)이다. 여기에는 경계적 한계(marginal limits), 라인 한계(line limits) 및 소비자 한계(customer limit)의 3가지 세트(set)의 한계가 있다. 각 한계는 상위값과 하위값을 가진다.
본 발명에 따른 소프트웨어의 추가적인 상세 설명은 현재 특허 출원중인 미국 특허 출원 번호 제 09/992,224호에 설명되어 있는 바, 이는 본 명세서에서 완전히 개시되어 있는 것과 동일한 범주로 본 명세서의 참조 문서로서 인용된다.
전자 테스트 시스템(도 1)의 모든 입력 및 출력은 그래픽 사용자 인터페이스(GUI)를 통해서 취급되는 것이 바람직하다. 도 3은 출력 장치(106)에서 디스플레이된 바와 같은 그래픽 사용자 인터페이스(300)를 도시한다. 위쪽 좌측의 테이프 레코더 버튼(tape recorder button)(301)은 테스트를 제어하기 위해서 사용된다. 레코더 버튼(301)은 왼쪽에서 오른쪽으로, 정지(302), 테스트 재시작(303), 측정 재시작(304), 멈춤(305), 진행(306), 측정 스킵(307), 테스트 스킵(308)이다. 그래픽 사용자 인터페이스(300)의 우측(314)은 행(315)과 같은 일련의 행, 열(316)과 같은 일련의 열을 포함하는 윈도우(340)를 도시한다. 윈도우(340)는 테스트의 상태(318)뿐만 아니라 테스트가 진행되는 시간(317)을 디스플레이한다. 또한 이 윈도우는 319에서의 진폭 정확도, 320에서, (범위=5Vp, 주파수=1kHz)와 같은 측정의 타입, 321에서의 (Ch=1, Ch2, Ch3)과 같은 테스트 중인 데이터 포인트 또는 채널, 322에서의 (0.1235dB)와 같은 측정 값 또는 측정 결과, 323에서의 (0.2)와 같은 사양, 324에서의 (1kHz)와 같은 주파수와 같은 실행 중인 테스트를 디스플레이한다. 테스트 결과는 윈도우(340) 위의 윈도우(325) 내에서 "보기(view)" 버튼을 클릭하는 것에 의해서 정렬될 수 있다. 이는 모든 테스트 결과를 디스플레이되게 하거나, 그 결과가 자체의 경계적 또는 실패 상태에 따라 필터링되거나 디스플레이될 수 있게 한다.
하단 우측의 윈도우(330)는 진행 윈도우이다. 진행 윈도우는 테스트 절차의 진행을 나타낸다. 진행 윈도우(330)의 확대도가 도 4에 도시되어 있다. 다음으로 도 4를 참조하면, 축(400)은 전체 절차의 시간적 길이를 나타낸다. 테스트 결과에 대응하는 데이터 포인트는 진행축(400)을 따라 데이터 포인트 유닛(datapoint unit)(410)으로 플롯팅(plotting)되는 것이 바람직하다. 각 데이터 포인트 유닛(410)은 402, 403, 404 등과 같이 단일 그래픽 요소인 것이 바람직하다. 바람직하게는, 각 그래픽 요소는 막대(bar)를 포함한다. 또한, 진행 윈도우(330)는 사양 한계 요소를 포함하는 것이 바람직하다. 바람직하게는, 사양 한계 요소는 점으로 된 수평선(401A, 401B)(401A는 상위 한계를 나타내고 401B는 하위 한계를 나타냄)을 포함한다. 결과를 나타내는 막대가 사양의 범위 내에 있으면, 즉, 그 길이가 404와 같이 사양 한계선에 의해 정의된 영역 내에 있으면, 그 결과는 "통과"이다. 결과를 나타내는 막대가 사양의 범위 밖에 있으면, 즉, 자체의 길이가 409와 같이 사양 한계선을 넘어서 연장되면, 해당 결과는 "실패"이다. 만약 결과를 나타내는 막대가 사양 한계의 내부에 있으나, 사양 한계의 사전 결정된 범위 내에 있을 때, 즉, 자체의 길이가 403과 같이, 대응되는 사양 한계선과 동일하거나 그에 근접하면, 해당 결과는 "경계적"이다. 바람직하게는, 각 그래픽 요소는 컬러코딩(color coding)되어, 통과(404), 실패 또는 에러(409), 또는 경계적(403) 상태를 나타낼 수 있다. 예를 들면, 적색은 실패 및 에러용으로, 녹색은 패스용으로, 황색은 경계적 상태용으로 선택될 수 있다. 그러므로, 각 데이터 포인트는 402, 403, 404 등의 컬러화된 수직 막대가 된다. 도 4에서, 그래픽 요소(410)는 컬러로 선이 그어져 있다. 440에서 도시된 바와 같은 격자형 라이닝(hatched lining)은 황색을 나타내고, 441에서 도시된 바와 같은 사선형 라이닝은 녹색을 나타내며, 442에서 도시된 바와 같은 수직 라이닝은 적색을 나타낸다. 이러한 막대는 테스트 측정의 상태를 나타내기 위해서 컬러로 코딩되는 것이 바람직하지만, 사용자가 사양 선과 관계된 각 막대의 길이를 관찰하는 것에 의해 각 측정의 상태를 구별할 수 있기 때문에, 이러한 컬러 코딩은 필수적이지 않다. 그러나, 막대에 컬러를 추가하는 것은 각 테스트 결과의 상태 판정을 용이하게 한다. 이와 비슷하게, 에러와 실패를 나타내기 위해서 동일한 컬러가 사용되었으나, 에러 및 실패에 대해서 별개의 컬러를 선택할 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.
도 3을 다시 한번 참조하면, GUI(300)의 좌측에 있는 윈도우(309)는 본 발명에 따른 트리 구조를 사용한 각 테스트의 결과를 나타낸다. 윈도우(309)에서 디스플레이된 트리 구조는, 테스트, 측정 및 데이터 포인트의 계통을 포함한다. 트리 윈도우(309)에 대한 확대도가 도 5에 도시되어 있다. 트리 구조는, 아이콘(502)으로 도시된 최종 테스트 절차에 대응하는 제 1 레벨 또는 가장 높은 레벨과 함께 복수의 레벨을 보유한다. 이는 트리 구조의 줄기로 간주된다. 테스트 절차의 실행 중에서 제 2 레벨은 504와 같은 하나 이상의 테스트를 포함한다. 도시된 실시예에서, 제 2 레벨은, 대응되는 결과 아이콘(504)으로 도시된 진폭 정확도 테스트와, 대응되는 결과 아이콘(506)으로 도시된 고조파 왜곡 테스트의 2개의 테스트를 포함한다. 제 2 레벨 내의 각 테스트 절차는 508과 같은 테스트 도중에 취해진 하나 이상의 측정 타입을 도시하여 제 3 레벨으로 향하게 한다. 제 3 레벨은, (범위=5Vp, 주파수=1kHz)와 대응하는 결과 아이콘(508), (범위=5Vp, 주파수=100kHz)와 대응하는 결과 아이콘(510), (범위=5Vp, 고조파=2)와 대응하는 결과 아이콘(512), 및 (범위-5Vp, 고조파=3)와 대응하는 결과 아이콘(514) 등과 같은 측정 자체의 타입을 나타낸다. 테스트 절차의 실행에서 제 4 레벨은, 측정(508)의 하위 레벨인 데이터 포인트(Ch=1, Ch=2, Ch=3)와 연관된 각각의 결과 아이콘(516,518, 520) 및 측정(510)의 하부 레벨인 데이터 포인트(Ch=1, Ch=2, Ch=3)와 연관된 각각의 결과 아이콘(522, 524, 526)을 가진 (Ch=1, Ch=2, Ch=3)등의 데이터 포인트를 나타낸다. 트리 구조의 각 레벨 또는 가지에 대한 결과는 쉽게 판독가능한 아이콘에 의해 표시된다. 바람직하게는, 516과 같은 "웃는 얼굴"은 "통과" 결과를 나타내기 위해서 선택되고, 504와 같은 "슬픈 얼굴"은 "실패" 결과 또는 "에러" 결과를 나타내기 위해서 선택되고, 510과 같은 "놀란 얼굴"은 "경계적" 결과를 나타내기 위해서 선택되고, "?"는 "아직 테스트되지 않은" 결과를 나타내기 위해서 선택된다. 가장 바람직하게는, 각 결과 아이콘이 컬러로 코딩되어 결과의 상태를 나타내는 것이다. 예를 들면, 녹색은 "통과" 결과에 할당되고, 적색은 "실패" 또는 "에러" 결과에 할당되고, 황색은 "경계적" 결과에 할당되고, 무색은 "아직 테스트되지 않은" 결과에 할당된다. 바람직하게는, 한 레벨에 대한 결과는 최소 최적 결과(least optimal result)(예를 들면, "실패")가 최적 결과(예를 들면, "통과)에 비해 선행하는 알고리즘을 적용하는 것에 의해 판정된다.
위에서 설명한 바와 같이, "통과", "실패" 및 "경계적" 결과에 추가하여, 테스트 프로그램은 테스트 결과 내에서 "에러"의 디스플레이를 제공한다. 특히, 본 발명의 테스트 프로그램은 "통과", "실패" 및 "경계적" 결과를 "에러" 결과와 구별한다. "에러" 결과는, 테스트될 때 사양 내부에서 수행되는 DUT에 대한 실패와는 반대되는, 테스트 결과의 설정 또는 작동에서 실패 또는 실수에 기인한 것으로 판정된 결과이다. 특히, 테스트로부터 획득된 각 값에 대해서, 테스트 시스템은 그 결과가 합당한 측정이었는지 여부를 판정한다. 합당한 측정이 탐지되지 않으면, 테스트 결과는 테스트 프로그램에 의해서 "에러"로 판정된다. 합당한 측정을 정의하는 측정의 범위는, 테스트 절차를 개시하기 전에 본 발명의 테스트 프로그램에 의해 진행된 테스트의 개발자에 의해 설정된다. 바람직하게는, 합리적인 측정의 범위는, 테스트 설정 또는 테스트 시스템 내에서의 실패 또는 실수에 기인한 측정이 합당한 측정의 범위 밖에 있는 반면에, DUT의 정상적인 테스트에 기인한 측정은 합당한 측정의 범위 내에 있도록 설정된다. 보통의 당업자라면, 테스트 프로그램으로 어떠한 측정도 리턴되지 않은 경우에, 본 발명의 테스트 프로그램은 에러 결과를 발견할 수도 있다는 것을 인식할 것이다. 이러한 예 중의 하나는, 테스트 시스템으로 측정을 리턴시키는 테스트 시스템의 구성 요소가 실패한 경우이거나, 테스트 시스템을 DUT로 접속시키는 케이블(cable)이 단선 또는 실패된 경우이다. 이와 비슷하게, 본 발명의 테스트 프로그램은, 테스트 프로그램으로 리턴된 측정이테스트 프로그램에 의해서 기대되는 포맷이 아니라면 에러 결과를 발견할 수도 있다는 것을 이해할 것이다. 예를 들어 테스트 프로그램에 의해서 프로세싱될 포맷은 수치적인데, 리턴된 측정은 문자·숫자 조합 포맷(alphanumeric)이라면, 에러가 표시된다. 예를 들면, 테스트 장치가 고장이거나 부적당한 테스트 장치가 해당 테스트 시스템에 부착된다면, 이러한 상황이 발생될 수 있다. 또한, 본 발명의 테스트 프로그램을 포함하는 컴퓨터 소프트웨어 프로그램이 금지된 작동을 수행할 때(예를 들면, 프로그램이 0으로 나누는 것에 의해서 도달된 측정을 리턴시키도록 요청될 때), 에러가 리턴될 수 있다는 것을 또한 이해할 것이다.
이러한 실패, 실수, 또는 금지된 작동과 같은 경우에, 테스트 프로그램에 의해서 획득된 측정은 "실패"라기 보다는 "에러"로 테스트 프로그램에 의해서 판정될 것이다. 어떠한 특성의 에러도 측정이 유효하지 않음을 나타낸다. 다른 결과에서와 같이, 에러 결과는 GUI(300)에 "에러"로서 디스플레이 된다. 추가적으로, 에러 메시지는 에러의 본질 또는 소스(source)를 디스플레이할 수 있다. 그러나 다른 결과와는 다르게, 에러 결과는 테스트에 의해서 획득된 데이터에서 배제된다. 보통의 당업자라면, 다른 합당한 결과로부터 에러로 판정된 결과를 배제하는 것은, 테스트의 합당한 결과의 임의의 분석에 대한 통계적인 분포의 불필요한 오류로부터 기인한 이러한 에러 결과를 방지하는 이점을 제공한다는 것을 이해할 것이다.
도 3을 다시 참조하면, 본 발명은 "스탑 온(stop on)" 형상을 더 포함한다. 스탑 온 형상은 GUI(300) 위의 스탑 온 아이콘(350)을 통해서 사용자가 액세스할 수 있다. 스탑 온 아이콘(350)은 실패, 에러, 또는 경계적 테스트 결과 중의 임의의 하나 또는 전부가 발생했을 때, 테스트 프로그램이 정지할 수 있게 한다. 도 3에서 도시된 바와 같이, 정지 아이콘(350)은 "아니오", "에러", "실패", "경계" 또는 "전부"에 대한 라디오 버튼(radio button)을 포함하는 것이 바람직하다. 예를 들면, "아니오"의 라디오 버튼을 클릭하는 것에 의해서, 테스트 프로그램은 발생된 결과에 관계없이 순차적으로 스케쥴된 테스트를 전부 실행시켜 진행하도록 인스트럭션을 받는다. "에러"의 라디오 버튼을 클릭하는 것에 의해서, 테스트 프로그램은 에러가 되는 테스트가 발생할 때, 테스트를 정지시키도록 인스트럭션을 받을 것이다. "실패"의 라디오 버튼을 클릭하는 것에 의해서, 테스트 프로그램은 실패가 되는 테스트가 발생할 때, 테스트를 정지시키도록 인스트럭션을 받을 것이다. "경계"의 라디오 버튼을 클릭하는 것에 의해서, 테스트 프로그램은, 경계적 결과가 되는 테스트가 발생할 때, 테스트를 정지시키도록 인스트럭션을 받을 것이다. "모두"의 라디오 버튼을 클릭하는 것에 의해서, 테스트 프로그램은, 프로그램에서 통과, 에러, 실패 또는 경계적 테스트 결과가 발생되었는지 여부에 관계없이, 각 측정 후에 정지하도록 인스트럭션을 받을 것이다. 앞서 설명된 것은 선호되는 "스탑 온" 커맨드인 반면에, "실패 결과 또는 에러 결과에서 해당 테스트를 정지" 및 "경계적 결과, 실패 결과 및 에러 결과에서 해당 테스트를 정지"하는 등의 다른 커맨드도 시스템에 결합될 수 있다. 또한, "스탑 온" 아이콘은, "스탑 온" 선택 사항이 선택되었다는 것을 나타내는 스탑 테스트 표시부(351)를 보유한다는 것이 주지되어야 한다. 이 표시부는, 어떻게 시스템이 프로그래밍되었는지 사용자가 신속하게 판정할 수 있도록, 항상 인터페이스(300) 위에 가시화되어 있어야 한다.
또한, 통상의 당업자라면, 스탑 온 아이콘(350)은, 위의 설명에서의 각 라디오 버튼이 드롭 다운 메뉴(drop down menu) 위에서의 선택의 형태를 취하는 드롭 다운 메뉴의 형태를 추할 수 있다는 것을 이해할 것이다.
임의의 "스탑 온" 조건이 만족되면, 테스트 프로그램은 정지되고 GUI(300) 위에 대화 상자(dialog box)가 디스플레이 된다. 도 6을 참조하면, 대화 상자(600)가 GUI(300) 위에 도시된다. 도 6에 도시된 대화 상자(600)는 임의의 실패 결과에서 정지하게 하는 커맨드에 기인한다. 대화 상자(600)는 테스트 프로그램이 정지한 위치(602), 테스트가 정지한 원인(604) 및 테스트가 정지된 시간(606)에 대한 테스트의 결과를 디스플레이한다. 또한, 대화 상자(600)는 테이프 레코더 버튼을 포함하는 것이 바람직하다. 테이프 레코더 버튼은, 선택되면 시스템이 전체 테스트 절차를 정지시키는 버튼(610), 선택되면 시스템이 테스트를 재개하게 하는 버튼(612), 선택되면 시스템이 측정을 재개하게 하는 버튼(614), 활성화되면 시스템이 테스트가 멈춰진 곳에서 테스트를 계속되게 하는 버튼(618), 선택되면 시스템이 측정을 스킵하게 하는 버튼(620), 선택되면 시스템이 진행중인 테스트를 스킵하게 하는 버튼(622), 선택되면 시스템이 대화 윈도우를 프린트하게 하는 버튼(616)과 같은 버튼을 포함한다. 정지의 원인이 에러가 판정되었기 때문인 경우를 제외하고는, 테스트 프로그램이 에러로 인해서 정지되었을 때, 유사한 대화 상자가 나타나고, "수치 없음", "에러 포맷", "0으로 나뉨", " 에러 한계 초과", "DUT가 응답하지 않음" 등의 에러와 관련된 정보가 디스플레이된다.
그러므로, 본 발명은, 테스트 도중의 임의의 포인트에서 에러 또는 경계적결과를 확인할 수 있게 허용하는 것에 의해서 불필요한 테스트를 회피할 수 있게 하는 추가적인 이득을 제공하고, 실패 결과가 기록되지 않았다고 해도, 테스트 도중의 임의의 포인트에서, 에러가 발생되거나 잠재적으로 열등한 장치가 확인된 경우에 테스트를 정지하도록 허용하는 그 이상의 이득을 제공한다는 것을 이해할 수 있을 것이다.
그러므로, 본 발명의 테스트 프로그램은 에러와 다른 타입의 결과를 구별할 것이다. 예로서, 본 발명의 테스트 프로그램이 사용할 수 있는 단순한 테스트 시스템은 배터리(battery)를 측정하기 위한 전압계(voltmeter)로 이뤄질 수 있다. 이러한 테스트 시스템에서, 이 시스템은 전형적으로 배터리에 부착된 전압계로부터 전압을 자동적으로 판독하고, 그러한 테스트에 대한 사양과 비교하기 위해 전압 판독 결과를 테스트 프로그램으로 리턴시킬 것이다. 연속적인 예로서, 전압에 대한 사양은 9+/-1V로 판독될 수 있다. 전형적으로, 배터리(이 예에서는 DUT임)가 적절하게 기능한다면, 판독 결과는 사양의 범위 내로 리턴될 것이다. 열등한 DUT는 사양의 범위를 벗어난 결과가 되게 할 수 있다. 그러나, 테스트 시스템 내의 실패 또는 실수도 사양의 범위를 벗어난 결과가 될 수 있다. 연속적인 예로서, 테스트 중인 전압계로의 파워 코드(power code)가 우연하게 플러그가 빠진다면, 테스트 프로그램은, 전압을 판독하고자 할 때, 전압계로부터 값을 수신할 수 없을 것이다. 이러한 경우에, 테스트 프로그램은 전압계와 통신하고자 할 때 타임아웃 에러(timeout error)를 등록할 것이다. 이러한 경우에, 본 발명의 테스트 프로그램은 "에러"를 기록하고 위에서 설명된 바와 같이 GUI(300)에 에러를 디스플레이할 것이다. 특히, 진행 윈도우(330)는 에러 바(error bar)를 디스플레이하고, 윈도우(309)의 트리 구조는 에러를 나타내는 "슬픈" 얼굴의 아이콘을 디스플레이하며, 윈도우(340)는 에러를 설명하는 메시지 스트링(message string)을 디스플레이할 것이다. 이와 비슷하게, 에러가 발생된 경우에, 스탑 온 아이콘(350)의 형상으로 추가적인 테스트를 진행하기 전에, 에러를 발생시킨 테스트 시스템의 실수 혹은 실패를 사용자가 정정할 기회를 가질 수 있을 때까지 테스트가 정지되도록 허용할 수 있다. 일반적인 당업자라면, 에러를 다른 결과와 구별하는 능력 없이도, 앞의 예에서의 테스트 프로그램에 의해서 기록된 결과는, DUT가 실제적으로 이러한 값으로 리턴되었는지 여부와 관계없이 0.0V일 것이라는 점을 이해할 것이다. 0.0은 9V +/-1V의 사양의 한계를 벗어나기 때문에, 0.0V의 결과는 "실패"를 유발할 수 있다. 에러 표시가 없으면, 사용자는 테스트 시스템 내의 실패 또는 실수가 발생되어 0.0볼트의 결과가 유발되었는지, 또한 실패 또는 실수가 체크되지 않고 테스트로부터 획득된 나머지 결과에 지속적으로 영향을 미치는지 판정할 수단이 없을 것이다.
도 7을 참조하면, 결과의 상태 및 테스트를 계속할 것인지에 대한 판정을 나타내는 흐름도(700)를 도시한다. 상태를 판정하기 위해 사용되는 입력은, 결과에 대한 값(V)(701), 상위 에러 한계(UE)(702), 하위 에러 한계(LE)(703), 상위 사양 한계(U)(704), 하위 사양 한계(L)(705), 상위 경계적 한계(UM)(706) 및 하위 경계적 한계(LM)(707)를 포함한다. 테스트 측정으로부터 판정되는 값(V) 및 사용자에 의해서 입력된 한계(U, L, UE, LE, UM, LM)는 메모리(101)(도 1)에 저장된다. 단계(701)에서, 테스트 시스템(100)은 V가 UE보다 작거나 같은지 판정한다. "예"라면, 테스트 시스템(100)은 단계(720)로 간다. "아니오"라면, 단계(712)에서 테스트 시스템(100)은 스탑 온 아이콘(350)(도 3) 위의 "에러" 버튼이 선택되었는지 판정한다. 만약 선택되었다면, 테스트 시스템(100)은 결과에 대해 에러 상태를 할당하고 단계(714)에서 테스트 프로세스를 정지시킨다. 만약 선택되지 않았다면, 테스트 시스템(100)은 결과에 에러 상태를 할당하고 단계(713)에서 다음의 테스트를 진행시킨다. 단계(720)에서, 테스트 시스템(100)은 V가 LE보다 크거나 같은지 판정한다. "예"라면, 테스트 시스템(100)은 단계(730)로 간다. "아니오"라면, 단계(722) 내에서 테스트 시스템(100)은 스탑 온 아이콘(350)(도 3) 위의 "에러" 버튼이 선택되었는지 판정한다. 만약 선택되지 않았다면, 테스트 시스템(100)은 결과에 대해 에러 상태를 할당하고, 단계(724)에서 테스트 프로세스를 정지시킨다. 만약 선택되지 않았다면, 테스트 시스템(100)은 결과에 대해 에러 상태를 지정하고, 단계(723)에서 다음 테스트로 진행한다. 단계(730)에서, 테스트 시스템(100)은 V가 U보다 작거나 같은지 판정한다. "예"라면, 테스트 시스템(100)은 단계(740)로 간다. "아니오"라면, 단계(732)에서 테스트 시스템(100)은 스탑 온 아이콘(350)(도 3) 위의 "실패" 버튼이 선택되었는지 판정한다. 선택되었다면, 테스트 시스템(100)은 결과에 실패 상태를 할당하고 단계(734)에서 테스트 프로세스를 정지시킨다. 만약 선택되지 않았다면, 테스트 시스템(100)은 실패 상태를 지정하고 단계(733)에서 다음 테스트로 진행된다. 단계(740)에서, 테스트 시스템(100)은 V가 L보다 크거나 같은지 판정한다. "예"라면, 테스트 시스템(100)은 테스트 시스템(100)은 단계(750)로 간다, "아니오"라면, 단계(742)에서 테스트시스템(100)은 스탑 온 아이콘(350)(도 3)위의 "실패" 버튼이 선택되었는지 판정한다. 만약, 선택되었다면, 테스트 시스템(100)은 결과에 실패 상태를 할당하고, 단계(744)에서 테스트 프로세스를 정지시킨다. 만약 선택되지 않았다면, 테스트 시스템(100)은 실패 상태를 할당하고 단계(743)에서 다음 테스트를 진행시킨다. 단계(750)에서, 테스트 시스템(100)은 V가 UM보다 작거나 같은지 판정한다. "예"라면, 테스트 시스템(100)은 단계(760)로 간다. "아니오"라면, 단계(752)에서 테스트 시스템(100)은 스탑 온 아이콘(350)(도 3) 위의 "경계적" 버튼이 선택되었는지 판정한다. 만약 선택되었다면, 테스트 시스템(100)은 결과에 경계적 상태를 할당하고 단계(754)에서 테스트 프로세스를 정지시킨다. 만약 선택되지 않았다면, 테스트 시스템(100)은 실패 상태를 할당하고 단계(753)에서 다음 테스트를 진행시킨다. 단계(760)에서, 테스트 시스템(100)은 V가 LM보다 크거나 같은지 판정한다. "예"라면, 테스트 시스템(100)은 단계(770)로 가고 결과에 통과 상태를 지정한다. "아니오"라면, 단계(762)에서 테스트 시스템(100)은 스탑 온 아이콘(350)(도 3) 위의 "경계적" 버튼이 선택되었는지 판정한다. 만약 선택되었다면, 테스트 시스템(100)은 결과에 경계적 상태를 지정하고 단계(764)에서 테스트 프로세스를 정지시킨다. 만약 선택되지 않았다면, 테스트 시스템(100)은 실패 상태를 지정하고 단계(763)에서 다음 테스트를 진행시킨다.
그러므로, 본 발명의 특징은, 사용자가 경계적, 통과 및 실패 결과로부터 에러적 결과를 구별할 수 있게 하는 기능을 가진 테스트 시스템을 제공하는 것이다. 특히, 본 발명은 사용자가 다른 덜 중요한 경계적 결과와 테스트 도중의 중대한 에러를 구별할 수 있게 허용한다. 사용자는 에러, 경계적 결과 및 실패에 대해서 사용자에게 경고하고, 이러한 결과가 발생될 때, 에러, 경계적 결과 또는 실패와 관련된 정보를 제공하도록 본 발명을 프로그래밍하는 기능을 제공받을 수 있다. 정보와 경고는 하나의 윈도우에서 이용가능하다. 사용자는, 테스트를 진행시킬 것인지 테스트를 종료시킬 것인지에 대해서 즉각적인 행동을 취할 수도 있고, 파라미터 중의 일부를 수정할 수도 있다.
지금까지, 본 발명의 우선적인 실시예로서 현재 어떤 것이 고려되었는지에 대해서 설명하였다. 본 발명은, 자체의 사상 또는 근본적인 특질을 벗어나지 않으면서 다른 특정한 형태로 구체화될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 예를 들면, 본 발명은 전자 테스트 프로그램에 대해서 설명해왔으나, 다른 시스템은 소프트웨어 대신에 하드웨어에 기반하여 구현될 수 있을 것이다. 예를 들면, 이 프로그램은 프로그래밍된 프로세서나 다른 플랫폼(platform)에도 적합할 수 있다. 게다가, 하나 이상의 프로세스 윈도우가 그래픽 사용자 인터페이스에 추가되어 2개 이상의 테스트 중인 장치의 테스트 결과를 디스플레이할 수 있다. 프로세스 윈도우는, 그래픽 성분이 상이한 형태(단일 문자·숫자 조합 성분 등)를 취하거나, 상이한 방식으로 배치되는 다른 형태로도 디스플레이될 수 있다. 그러므로, 본 실시예는 한정적인 것이 아니라 예시적인 것으로 이해되어야 한다. 본 발명의 청구 범위를 첨부된 청구항에 의해 나타내었다.
본 발명은, 테스트 도중의 임의의 포인트에서 에러 또는 경계적 결과를 확인할 수 있게 허용하는 것에 의해서 불필요한 테스트를 회피할 수 있게 하는 추가적인 이득을 제공하고, 실패 결과가 기록되지 않았다고 해도, 테스트 도중의 임의의 포인트에서, 에러가 발생되거나 잠재적으로 열등한 장치가 확인된 경우에 테스트를 정지하도록 허용하는 그 이상의 이득을 제공한다는 것을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (10)

  1. 테스트 실행 시스템과는 분리되며 별개인 테스트 중인 장치(device under test : DUT)(108)에 대한 테스트를 제어하기 위한 테스트 실행 시스템(test executive system)(100)을 구동하는 방법-상기 방법은 테스트 결과(322)를 얻기 위해서 측정(206, 320)을 수행하는 것을 포함함-에 있어서,
    상기 테스트 결과가, 상기 DUT 자체의 실패가 아닌, 상기 테스트 실행 시스템 또는 다른 테스트 장비의 실패(failure), 상기 DUT의 부적절한 설정, 상기 테스트 실행 시스템 또는 다른 테스트 장치와 상기 DUT 사이의 인터페이스의 실패 중의 적어도 하나를 나타내는 에러 결과인지 여부를 판정하는 것과,
    상기 테스트 결과가 에러 결과로 판정되었다면, 상기 측정과 연관된 에러 표시(600)를 디스플레이하는 것
    을 특징으로 하는 테스트 실행 시스템(100)의 구동 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 판정하는 단계는 상기 테스트 결과가 값(322)을 보유하는지 여부를 결정하는 단계를 포함하고,
    상기 디스플레이하는 단계는 상기 테스트 결과가 값을 보유하지 않는다면, 상기 에러 표시를 디스플레이하는 단계를 포함하는 것
    을 더 특징으로 하는 테스트 실행 시스템(100)의 구동 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 판정하는 단계는 상기 테스트 결과가 사전 결정된 포맷(predetermined format)을 포함하는지 여부를 판정하는 단계를 포함하고,
    상기 디스플레이 단계는 상기 테스트 결과가 상기 사전 결정된 포맷을 포함하지 않는다면, 상기 에러 표시를 디스플레이하는 단계를 포함하는 것
    을 더 특징으로 하는 테스트 실행 시스템(100)의 구동 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 방법은 에러 한계(error limits), 사양 한계(specification limits) 및 경계적 한계(marginal limits)로 구성된 그룹으로부터 선택된 하나 이상의 한계를 포함하는 테스트 사양(323)을 저장하는 단계를 더 포함하고,
    상기 판정하는 단계는 상기 테스트 결과가 상기 테스트 사양 한계 내에 있는지 여부를 판정하는 단계를 포함한다는 것
    을 더 특징으로 하는 테스트 실행 시스템(100)의 구동 방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 에러 한계는 상위 에러 한계와 하위 에러 한계를 포함하고,
    상기 디스플레이하는 단계는, 상기 테스트 결과가 상기 상위 에러 한계 및 상기 하위 에러 한계 사이에 있지 않으면, 상기 에러 표시를 디스플레이하는 단계를 포함하며,
    상기 사양 한계는 상위 사양 한계와 하위 사양 한계를 포함하고,
    상기 디스플레이하는 단계는, 상기 테스트 결과가 상기 상위 사양 한계와 상기 하위 사양 한계 사이에 있지 않으면, 실패 표시를 디스플레이하는 단계를 포함하며,
    상기 경계적 한계는 상위 경계적 한계 및 하위 경계적 한계를 포함하고,
    상기 디스플레이하는 단계는, 상기 테스트 결과가 상기 상위 경계적 한계 및 상기 하위 경계적 한계 사이에 있으면, 경계적 표시를 디스플레이하는 단계를 포함하는 것
    을 더 특징으로 하는 테스트 실행 시스템(100)의 구동 방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 판정하는 단계는, 상기 테스트 결과가 상기 상위 경계적 한계 및 상기 하위 경계적 한계의 사이에 있으면, 통과 결과를 판정하는 단계를 더 포함하고,
    상기 테스트 결과는 상기 사전 결정된 포맷을 포함하는 것
    을 더 특징으로 하는 테스트 실행 시스템(100)의 구동 방법.
  7. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 디스플레이하는 단계는, 상기 에러에 관련된 정보(600)를 디스플레이하는 단계를 더 포함하는 것을 더 특징으로 하는 테스트 실행 시스템(100)의 구동 방법.
  8. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 판정 단계 후에 상기 테스트를 정지시키는 단계와,
    상기 테스트의 중지, 상기 테스트의 재개, 상기 측정의 재개, 상기 테스트의 계속, 상기 측정의 스킵 및 상기 테스트의 스킵으로 이루어진 그룹에서 선택된 입력을 수신하는 단계와,
    상기 입력을 실행하는 단계
    를 더 포함하고,
    상기 디스플레이하는 단계는, 상기 테스트 프로그램이 정지된 위치에서의 측정 결과, 테스트가 정지된 원인 및 테스트가 정지된 시간으로 이루어진 그룹에서 선택된 정보를 디스플레이하는 단계를 포함하는 것
    을 더 특징으로 하는 테스트 실행 시스템(100)의 구동 방법.
  9. 테스트 실행 시스템과는 분리되며 별개인 테스트 중인 장치(DUT)(108)에 대한 전자 테스트를 제어하기 위한 테스트 실행 시스템(100)-상기 테스트 실행 시스템은 테스트 및 테스트 결과를 저장하기 위한 메모리(101) 및 상기 테스트의 실행을 제어하기 위해 상기 메모리와 통신하며 상기 테스트 결과를 생성하는 전자 프로세서(102)를 포함함-에 있어서,
    상기 테스트 결과는, 상기 DUT 자체의 실패가 아닌, 상기 테스트 실행 시스템 또는 다른 테스트 장비의 실패, 상기 DUT의 부적절한 설정 및 상기 테스트 실행 시스템 또는 다른 테스트 장비와 상기 DUT 사이의 인터페이스의 실패 중 적어도 하나를 나타내는 에러 결과를 포함하고,
    상기 메모리 및 전자 프로세서는 테스트 결과가 에러인지 여부를 판정하기 위한 수단을 포함하며,
    상기 테스트 시스템은, 정보-상기 정보는 에러 결과를 표시하는 에러 표시부를 포함함-를 디스플레이하기 위해서 상기 전자 프로세서와 통신하는 그래픽 사용자 인터페이스 출력 장치(graphical user interface output device)(106)를 더 포함하는 것
    을 특징으로 하는 테스트 실행 시스템(100).
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 정보는, 정지 없는 상기 테스트의 수행, 에러 결과에서 상기 테스트의 정지, 실패 결과에서 상기 테스트의 정지, 경계적 결과에서 상기 테스트의 정지, 실패 결과 또는 에러 결과에서 상기 테스트의 정지, 경계적 결과, 실패 결과 또는 에러 결과에서 상기 테스트의 정지, 각 측정 후에 상기 테스트의 정지 등의 2개 이상의 상기 선택 사항 중에서 사용자가 선택할 수 있게 하는 그래픽 요소(350)를 더 포함하는 것을 더 특징으로 하는 테스트 실행 시스템(100).
KR10-2003-0025426A 2002-04-23 2003-04-22 테스트 실행 시스템 및 그의 구동 방법 KR20030084668A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/128,387 2002-04-23
US10/128,387 US7047442B2 (en) 2002-04-23 2002-04-23 Electronic test program that can distinguish results

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20030084668A true KR20030084668A (ko) 2003-11-01

Family

ID=29215453

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2003-0025426A KR20030084668A (ko) 2002-04-23 2003-04-22 테스트 실행 시스템 및 그의 구동 방법

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7047442B2 (ko)
EP (1) EP1359426A3 (ko)
JP (1) JP2004004051A (ko)
KR (1) KR20030084668A (ko)
TW (1) TW200305825A (ko)

Families Citing this family (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030226062A1 (en) * 2002-06-03 2003-12-04 Gender Thomas K. System and method for testing response to asynchronous system errors
US20040041839A1 (en) * 2002-09-03 2004-03-04 Claude Scher Method and apparatus for electronically managing, manufacturing, and testing of a medical device in accordance with a set of regulatory provisions
US20040148549A1 (en) * 2002-10-23 2004-07-29 Ram Voorakaranam Method for using an alternate performance test to reduce test time and improve manufacturing yield
US7228461B2 (en) * 2003-01-09 2007-06-05 Siemens Energy & Automation, Inc. System, method, and user interface for acceptance testing
US7506305B2 (en) * 2003-07-14 2009-03-17 Microsoft Corporation Dynamic contextual helper user interface
CN100420949C (zh) * 2004-02-16 2008-09-24 福光企业股份有限公司 锻造部品成型机的锻造异常检测方法
US7519827B2 (en) * 2004-04-06 2009-04-14 Verigy (Singapore) Pte. Ltd. Provisioning and use of security tokens to enable automated test equipment
US7346808B2 (en) * 2004-06-09 2008-03-18 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Diagnostic method, system, and program that isolates and resolves partnership problems between a portable device and a host computer
US7735066B1 (en) * 2004-10-08 2010-06-08 Carnegie Mellon University Debugging interface
US7624379B2 (en) * 2005-01-12 2009-11-24 Advanced Testing Technologies, Inc. Test program set obsolescence mitigation through software and automatic test equipment system processes
US8484618B2 (en) 2005-01-12 2013-07-09 Advanced Testing Technologies, Inc. Test program set obsolescence mitigation through software and automatic test equipment processes
WO2006110857A1 (en) * 2005-04-12 2006-10-19 Analog Devices, Inc. Self-test circuit for high-definition multimedia interface integrated circuits
US7702958B2 (en) * 2005-05-24 2010-04-20 Alcatel-Lucent Usa Inc. Auto-recording tool for developing test harness files
WO2006130684A2 (en) * 2005-05-31 2006-12-07 Testquest, Inc. Systems and methods for automated testing
US20070192346A1 (en) * 2006-01-31 2007-08-16 Carli Connally Apparatus for storing variable values to provide context for test results that are to be formatted
DE102006031027A1 (de) * 2006-07-05 2008-01-24 Atmel Germany Gmbh Verfahren zur Funktionskontrolle von wenigstens einem analogen Schaltungsblock
US20080059838A1 (en) * 2006-09-01 2008-03-06 Melman Phillipe A Apparatus And Method For Performing Failure Diagnostic Testing of Electronic Equipment
JP2008070294A (ja) * 2006-09-15 2008-03-27 Yokogawa Electric Corp Icテスタ用デバッグ支援方法
FR2910627B1 (fr) * 2006-12-20 2009-02-06 Eurocopter France Procede et un dispositif de controle et de commande polyvalent de bancs d'essais
US8359585B1 (en) 2007-01-18 2013-01-22 Advanced Testing Technologies, Inc. Instrumentation ATS/TPS mitigation utilizing I/O data stream
US7673178B2 (en) * 2007-01-31 2010-03-02 Microsoft Corporation Break and optional hold on failure
TWM320674U (en) * 2007-03-29 2007-10-11 Princeton Technology Corp Circuit testing apparatus
US20080270848A1 (en) * 2007-04-26 2008-10-30 Carli Connally Method and Apparatus for Displaying Pin Result Data
US20080270845A1 (en) * 2007-04-26 2008-10-30 Kristin Petersen Methods and Apparatus That Enable a Viewer to Distinguish Different Test Data Entries and Test Data Items
US20080270835A1 (en) * 2007-04-26 2008-10-30 Carli Connally Methods and Apparatus for Displaying Test Results and Alerts
CN101368991B (zh) * 2007-08-15 2012-01-25 鹏智科技(深圳)有限公司 电子装置测试装置及方法
US7774670B2 (en) * 2007-09-11 2010-08-10 Globalfoundries Inc. Method and apparatus for dynamically determining tester recipes
DE102008017289B4 (de) 2008-03-03 2021-10-14 Rohde & Schwarz GmbH & Co. Kommanditgesellschaft Anpassbares Messgerät und Verfahren zur Anpassung
US20090248358A1 (en) * 2008-04-01 2009-10-01 Peyman Safa Real Time Operation Specification Calculation System That Provides Specifications To A User Interface
JP2010097357A (ja) * 2008-10-15 2010-04-30 Fujitsu Ltd 異常通報システム及び診断方法
US8335881B2 (en) * 2010-03-26 2012-12-18 Freescale Semiconductor, Inc. Method and apparatus for handling an interrupt during testing of a data processing system
US8438442B2 (en) * 2010-03-26 2013-05-07 Freescale Semiconductor, Inc. Method and apparatus for testing a data processing system
US9065559B2 (en) * 2011-05-09 2015-06-23 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. System for testing and calibrating core engine radio frequency (RF) circuit card assemblies
US8862950B1 (en) * 2011-09-22 2014-10-14 Amazon Technologies, Inc. Testing the operation of an application programming interface
TW201314442A (zh) * 2011-09-30 2013-04-01 Askey Technology Jiangsu Ltd 手持式電子產品的讀寫測試方法
JP5833502B2 (ja) * 2012-06-04 2015-12-16 株式会社アドバンテスト テストプログラム
CN102928717A (zh) * 2012-11-06 2013-02-13 四川省电力公司德阳电业局 继电保护跳闸矩阵测试系统
US9329967B2 (en) * 2012-11-13 2016-05-03 Tektronix, Inc. Methods and systems for aiding the analysis of a signal
US8954810B2 (en) * 2012-11-21 2015-02-10 International Business Machines Corporation Progressive validation check disabling based upon validation results
US10019335B2 (en) * 2014-08-29 2018-07-10 Skyworks Solutions, Inc. Systems and methods for processing test results
US10019333B2 (en) 2015-04-16 2018-07-10 Keysight Technologies Singapore (Holdings) Pte. Ltd. Methods, systems, and computer readable media for emulating network devices with different clocks
RO131471A2 (ro) * 2015-04-21 2016-10-28 Ixia, A California Corporation Metode, sisteme şi suport citibil pe calculator pentru testarea calităţii tactului recuperat
US9813226B2 (en) 2015-08-05 2017-11-07 Ixia Modeling a clock
US20180011461A1 (en) * 2016-07-07 2018-01-11 Tyco Fire & Security Gmbh Building Asset Management System
US10609054B2 (en) 2017-04-07 2020-03-31 Keysight Technologies Singapore (Sales) Pte. Ltd. Methods, systems, and computer readable media for monitoring, adjusting, and utilizing latency associated with accessing distributed computing resources
US10425321B2 (en) 2017-04-25 2019-09-24 Keysight Technologies Singapore (Sales) Pte. Ltd. Methods, systems, and computer readable media for testing time sensitive network (TSN) elements
EP3602306B1 (en) * 2017-11-10 2022-10-26 Google LLC Automated device test triaging system and techniques
DK180241B1 (en) 2018-03-12 2020-09-08 Apple Inc User interfaces for health monitoring
US11317833B2 (en) 2018-05-07 2022-05-03 Apple Inc. Displaying user interfaces associated with physical activities
DK201870378A1 (en) 2018-05-07 2020-01-13 Apple Inc. DISPLAYING USER INTERFACES ASSOCIATED WITH PHYSICAL ACTIVITIES
US10965392B2 (en) 2019-01-25 2021-03-30 Keysight Technologies, Inc. Active network tap supporting time sensitive network (TSN) standards
US11563768B2 (en) 2019-01-31 2023-01-24 Keysight Technologies, Inc. Methods, systems, and computer readable media for detecting and mitigating effects of timing attacks in time sensitive networks
US11234077B2 (en) 2019-06-01 2022-01-25 Apple Inc. User interfaces for managing audio exposure
US11152100B2 (en) 2019-06-01 2021-10-19 Apple Inc. Health application user interfaces
US11228835B2 (en) 2019-06-01 2022-01-18 Apple Inc. User interfaces for managing audio exposure
US11209957B2 (en) 2019-06-01 2021-12-28 Apple Inc. User interfaces for cycle tracking
TWI714169B (zh) * 2019-07-17 2020-12-21 美商第一檢測有限公司 記憶體測試方法
CN114286975A (zh) * 2019-09-09 2022-04-05 苹果公司 调查研究用户界面
DK181037B1 (en) 2020-06-02 2022-10-10 Apple Inc User interfaces for health applications
US11698710B2 (en) 2020-08-31 2023-07-11 Apple Inc. User interfaces for logging user activities

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5963565A (en) * 1996-10-31 1999-10-05 Altera Corporation Apparatus and method for external supervision of electronic test equipment operating parameters
KR100259322B1 (ko) * 1998-01-15 2000-06-15 윤종용 반도체소자 검사장비의 안정도 분석방법
US6577981B1 (en) * 1998-08-21 2003-06-10 National Instruments Corporation Test executive system and method including process models for improved configurability
US6453435B1 (en) 1998-12-29 2002-09-17 Fujitsu Network Communications, Inc. Method and apparatus for automated testing of circuit boards
US6319737B1 (en) * 1999-08-10 2001-11-20 Advanced Micro Devices, Inc. Method and apparatus for characterizing a semiconductor device
US6560554B1 (en) * 1999-10-11 2003-05-06 Tektronix, Inc. Automatic testing
US20020188424A1 (en) * 2001-04-20 2002-12-12 Grinstein Georges G. Method and system for data analysis
US7969431B2 (en) * 2001-06-29 2011-06-28 National Instruments Corporation Graphical program node for generating a measurement program

Also Published As

Publication number Publication date
EP1359426A2 (en) 2003-11-05
EP1359426A3 (en) 2004-01-07
JP2004004051A (ja) 2004-01-08
US7047442B2 (en) 2006-05-16
US20030200483A1 (en) 2003-10-23
TW200305825A (en) 2003-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20030084668A (ko) 테스트 실행 시스템 및 그의 구동 방법
US6823272B2 (en) Test executive system with progress window
US5910895A (en) Low cost, easy to use automatic test system software
US6745140B2 (en) Electronic test system with test results view filter
EP1306742A2 (en) A graphical interface
CN108595343A (zh) 应用程序的测试方法及装置
US7050921B2 (en) Electronic test program with run selection
US7286951B2 (en) Externally controllable electronic test program
KR20010023999A (ko) 집적회로 테스트용 테스트 시스템에서의 명명된 디바이스파라미터 데이터를 저장 및 검색하는 시스템
KR20030076368A (ko) 테스트 실행 시스템과 그의 작동 방법 및 테스트 실행시스템을 제공하는 제품
US8069375B2 (en) Cover lover
GB2446202A (en) Monitoring and controlling a device under test
US20030093718A1 (en) Electronic test program with selectable specifications
JP2003208329A (ja) 電子テストシステムおよび電子的試験の実行制御方法
CN102778629A (zh) 自动测量pcb上所安装电子电路装置的电连接的方法和装置
CN111338619B (zh) 一种图形化算法编程交互系统、编程方法和可读存储介质
US10261887B1 (en) Method and system for computerized debugging assertions
JP2019090626A (ja) 基板自動解析システム

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid