TW201314442A - 手持式電子產品的讀寫測試方法 - Google Patents

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Abstract

一種手持式電子產品讀寫測試方法係對手持式電子產品進行測試,且該手持式電子產品係連接至儲存裝置,其中該手持式電子產品係搭載有開放式作業平台並安裝有資料讀寫測試程式。該讀寫測試方法係以預設測試條件重複地執行以下各階段的測試程序,在第一測試程序中透過該資料讀寫測試程式送出第一測試指令,以將測試資料檔案寫入至該儲存裝置,接著第二測試程序係接著送出第二測試指令,以執行該測試資料檔案的關閉與開啟以及讀取該測試資料檔案,又再接著第三測試程序係根據該測試資料檔案讀取成功之後送出第三測試指令對該測試資料檔案執行剪下、貼上、複製與刪除的控制,並在上述該測試程序執行完成之後,輸出在各測試程序所對應的測試結果以供測試員分析。

Description

手持式電子產品的讀寫測試方法
本發明係關於一種測試方法,特別的是對手持式電子產品進行讀寫測試的測試方法。
目前搭載開放式作業平台的手持式電子裝置日益增多,對於製造廠商而言,為了能確保該手持式電子裝置運作時的穩定性,係會在該手持式電子裝置出廠之前會進行相關的穩定性測試。其中測試項目係用於測試在該手持式電子裝置與儲存裝置之間所進行的資料讀取/寫入的傳輸穩定性測試。
習知的測試環境中,係藉由在一定測試時間內以一定的時間對該手持式電子產品進行多次資料讀取與寫入的壓力測試。然而,為了節省人力亦或是提高生產效率,往往會藉由縮短測試的時間與次數以達到簡化該壓力測試的流程。然而,不足的測試時間與次數,並無法有效地確保所驗證的該手持式電子裝置與該儲存裝置之間資料讀取/寫入控制係具有高度的可信度與穩定度。
此外,在壓力測試的過程中,若測試產線上的測試員未能正確地判斷測試資料是否已經完全地被讀取或寫入至該儲存裝置時,會發生因為資料讀取或寫入動作的不完整,而無法有效地判斷是否為該手持式電子裝置或是否為該儲存裝置發生讀取/寫入的問題。亦即如此模糊不精確的判斷,係會使得該測試結果的可信度降低。
故本發明係提出一種可用以解決習知技術中缺失的測試方法。
本發明之一目的係提供一種手持式電子產品讀寫測試方法,用於對手持式電子產品與儲存裝置之間資料讀取/寫入的控制進行長時間與多次數的壓力測試。
為達上述目的,本發明提出一種手持式電子產品讀寫測試方法,係用以對手持式電子產品進行測試,該手持式電子產品係連接至一儲存裝置,且該手持式電子產品搭載有開放式作業平台並安裝有一資料讀寫測試程式,其中包含步驟(a)定義一預設測試條件;步驟(b)令該資料讀寫測試程式送出第一測試指令,以將測試資料檔案寫入至於該儲存裝置;步驟(c)確認該測試資料檔案儲存在於該儲存裝置時,該資料讀寫測試程式送出第二測試指令以執行該測試資料檔案的關閉與開啟,並讀取該測試資料檔案;步驟(d)確認讀取該測試資料檔案成功時,該資料讀寫測試程式送出第三測試指令,以對該測試資料檔案依序地執行剪下、貼上、複製與刪除的控制;以及步驟(e)根據該預設測試條件重覆步驟(b)至(d),且紀錄每一次測試步驟(b)至(d)的測試結果,並在到達該預設測試條件之後輸出該測試結果。
與習知技術相較,本發明之手持式電子產品讀寫測試方法,係藉由安裝在該手持式電子產品上的資料讀寫測試程式執行複數測試指令,以分別地在儲存裝置上進行資料讀取與寫入的控制,並且在達到預設測試條件(例如測試次數或測試時間)之後,獲得該手持式電子產品對該儲存裝置進行資料讀取/寫入的測試結果。
為充分瞭解本發明之目的、特徵及功效,茲藉由下述具體之實施例,並配合所附之圖式,對本發明做一詳細說明,說明如後:
參考第1圖,係本發明實施例之手持式電子產品讀寫測試方法的流程圖。於第1圖中,該方法係用於對手持式電子產品進行測試,該手持式電子產品係搭載一開放式作業平台(例如Android作業平台),該開放式作業平台上安裝有資料讀寫測試程式。此外,該手持式電子產品係透過設置於該手持式電子產品內部的待測記憶卡槽連接至儲存裝置,該儲存裝置係包含待測記憶卡槽與記憶卡,例如該記憶卡係可為SD卡,該待測記憶卡槽係為用於容置該記憶卡以及控制與該記憶卡進行資料讀取/寫入的資料傳輸。
該手持式電子產品讀寫測試方法係起始於步驟S11係定義預設測試條件,用於提供例如控制測試的測試時間長度或測試的次數等,亦即使得該預設測試條件係可包含預定時間或預定次數。
接著步驟S12,係由該資料讀寫測試程式送出第一測試指令予該儲存裝置,以將該測試資料檔案寫入至該儲存裝置。其中,於另一實施例中,該步驟S12係更可包含建立測試資料夾於該儲存裝置中,以將該測試資料檔案寫入該測試資料夾中。以前述所提及SD卡型態的儲存裝置為例說明,係在該待測記憶卡槽接收到該第一測試指令之後,該待測記憶卡槽係將該測試資料檔案寫入至該SD卡中;亦或者該待測記憶卡槽係先建立測試資料夾,以將該測試資料檔案寫入至位於該SD卡中的該測試資料夾,使得在成功建立該測試資料夾之後,再將該測試資料檔案寫入至該測試資料夾。於一實施例中,該測試資料檔案與該測試資料檔案的檔案結構配置係以樹狀結構的方式建立,而該測試資料檔案係建立在該測試資料檔案中。
但若在該步驟S12中該儲存裝置係無法建立該測試資料檔案或無法將該測試資料檔案寫入該測試資料檔案時,則接著進入步驟S21係確認在該儲存裝置中無法建立該測試資料檔案或無法將該測試資料檔案寫入該測試資料檔案時,用於產生第一測試錯誤結果,並且輸出該第一測試錯誤結果或者輸出具有該第一測試錯誤結果的測試結果,如第2圖所示。亦即,該第一錯誤測結果係定義為當執行該第一測試指令之後無法建立測試資料檔案或無法將該測試資料檔案寫入該測試資料檔案中的狀態。
此外,上述建立與寫入資料的動作無法進行,係有可能為未置放該儲存裝置之記憶卡、該手持式電子產品或是該儲存裝置發生損毀等的現象。
接著步驟S13,係確認該測試資料檔案存在於該儲存裝置時,該資料讀寫測試程式送出第二測試指令予該儲存裝置而執行該測試資料檔案的關閉與開啟的控制,並讀取該測試資料檔案。
接續前述所提及SD卡型態的儲存裝置,在該待測記憶卡槽執行完該第一測試指令的程序之後,接著該待測記憶卡槽又接收到該第二測試指令,而該第二測試指令係會對該測試資料檔案進行關閉與開啟的控制,並且在開啟該測試資料檔案之後讀取位於該測試資料檔案即或位於該測試資料夾中的該測試資料檔案。
但若在該步驟S13中該第二測試指令係無法對該測試資料檔案執行該關閉、該開啟與該讀取的控制時,則接著進入步驟S22,係確認該第二測試指令無法對該測試資料檔案執行該關閉、該開啟或該讀取的控制時,用於產生第二測試錯誤結果,並輸出該第二測試錯誤結果或者輸出具有該第二測試錯誤結果的測試結果,如第2圖所示。亦即,該第二測試測結果係定義為在執行該第二測試指令之後無法關閉測試資料檔案、開啟測試資料檔案或寫入資料的狀態。
再接著步驟S14,係確認讀取該測試資料檔案成功時,該資料讀寫測試程式送出第三測試指令,以對該測試資料檔案依序地執行剪下、貼上、複製與刪除的控制。
接續前述以SD卡型態的儲存裝置為例說明,在該待測記憶卡槽執行完該第二測試指令的程序之後,接著該待測記憶卡槽又接收到該第三測試指令,而該第三測試指令係首先將該測試資料檔案中的該測試資料檔案剪下,並再將剪下的該測試資料檔案貼上該測試資料檔案中,並接著複製該測試資料檔案,形成二份的該測試資料檔案,最後刪除該等測試資料檔案,並藉由上述的該等動作,使得該儲存裝置又回復成原來初始狀態,亦即該儲存裝置中未有任何的該測試資料檔案及/或該測試資料檔案。
但若在該步驟S14中該第三測試指令係無法對該測試資料檔案依序地執行剪下、貼上、複製與刪除時,則接著進入步驟S23係確認該第三測試指令無法對該測試資料檔案執行該剪下、該貼上、該複製與該刪除的控制時,用於產生第三測試錯誤結果或者輸出具有該第三測試錯誤結果的測試結果如第2圖所示。亦即,該第三測試測結果係定義為在執行該第三測試指令之後無法對該測試資料檔案執行該剪下、該貼上、該複製與該刪除的控制。
又接著步驟S15,係根據步驟S11中的該預設測試條件重覆步驟S12至S14,且紀錄每一次測試步驟S12至S14的測試結果,並在到達該預設測試條件之後輸出該測試結果。再者,該預設測試條件係可用以中斷該步驟S15的運行,使得停止整個手持式電子產品讀寫測試方法。亦即,該預定條件係使重覆執行的該測試方法持續該預定時間或使該測試程序的執行次數達到該預定次數。於一實施例中,預設測試條件中的該預定時間係可設定為8小時。此外,當到達該預設測試條件之後將該測試結果輸出,以供測試員可藉由該測試結果分析該手持式電子產品與儲存裝置之間資料寫入/讀取的狀態。
於另一實施例中,如第2圖所示,更包含發生步驟S21、步驟S22或步驟S23之後,中斷執行步驟S12至步驟S14之至少其一者,並分別地如步驟S24獨立輸出對應步驟S21至步驟S23的該第一測試錯誤結果、該第二測試錯誤結果與該第三測試錯誤結果,亦或者將該第一測試錯誤結果、該第二測試錯誤結果與該第三測試錯誤結果提供至步驟S15,用以輸出包含該第一測試錯誤結果、該第二測試錯誤結果與該第三測試錯誤結果附加於該測試結果中。
本發明在上文中已以較佳實施例揭露,然熟習本項技術者應理解的是,該實施例僅用於描繪本發明,而不應解讀為限制本發明之範圍。應注意的是,舉凡與該實施例等效之變化與置換,均應設為涵蓋於本發明之範疇內。因此,本發明之保護範圍當以申請專利範圍所界定者為準。
S11~S15...方法步驟
S21~S23...方法步驟
第1圖係本發明第一實施例之手持式電子產品讀寫測試方法的方法流程圖;以及
第2圖係本發明第二實施例之手持式電子產品讀寫測試方法的方法流程圖。
S11~S15...方法步驟

Claims (11)

  1. 一種手持式電子產品讀寫測試方法,係用以對手持式電子產品進行測試,該手持式電子產品係連接至一儲存裝置,且該手持式電子產品搭載有開放式作業平台並安裝有一資料讀寫測試程式,該方法包含:(a)定義一預設測試條件;(b)令該資料讀寫測試程式送出第一測試指令,以將測試資料檔案寫入至該儲存裝置;(c)確認該測試資料檔案存在於該儲存裝置時,該資料讀寫測試程式送出第二測試指令以執行該測試資料檔案的關閉與開啟的控制,並讀取該測試資料檔案;(d)確認讀取該測試資料檔案成功時,該資料讀寫測試程式送出第三測試指令,以對該測試資料檔案依序地執行剪下、貼上、複製與刪除的控制;以及(e)根據該預設測試條件重覆步驟(b)至(d),並紀錄每一次測試步驟(b)至(d)的測試結果,且在到達該預設測試條件之後輸出該測試結果。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之手持式電子產品讀寫測試方法,其中步驟(b)更包含步驟(f)確認在該儲存裝置中無法建立該測試資料檔案或無法將該測試資料檔案寫入該測試資料檔案時,產生第一測試錯誤結果。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之手持式電子產品讀寫測試方法,其中步驟(b)更包含建立測試資料夾於該儲存裝置中,並將該測試資料檔案寫入該測試資料夾。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之手持式電子產品讀寫測試方法,其中步驟(c)更包含步驟(g)確認該第二測試指令無法對該測試資料檔案執行該關閉、該開啟或該讀取的控制時,產生第二測試錯誤結果。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之手持式電子產品讀寫測試方法,其中步驟(d)更包含步驟(h)確認該第三測試指令無法對該測試資料檔案執行該剪下、該貼上、該複製與該刪除的控制時,產生第三測試錯誤結果。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之手持式電子產品讀寫測試方法,更包含輸出具有該第一測試錯誤結果、該第二測試錯誤結果與該第三測試錯誤結果。
  7. 如申請專利範圍第5項所述之手持式電子產品讀寫測試方法,更包含發生步驟(f)、步驟(g)或步驟(h)時,中斷執行步驟(b)至步驟(e)之至少其一者,並分別地輸出對應步驟(f)至步驟(h)的該第一測試錯誤結果、該第二測試錯誤結果與該第三測試錯誤結果。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之手持式電子產品讀寫測試方法,其中該預設測試條件係以一預定時間或一預定次數重覆執行步驟(b)至(d)。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之手持式電子產品讀寫測試方法,其中該預定時間係為8小時。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之手持式電子產品讀寫測試方法,其中該開放式作業平台係為Android作業平台。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之手持式電子產品讀寫測試方法,其中該資料讀寫測試程式係透過該手持式電子產品的待測記憶卡槽與作為該儲存裝置的記憶卡進行資料傳輸。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8793552B2 (en) 2012-11-14 2014-07-29 International Business Machines Corporation Reconstructive error recovery procedure (ERP) for multiple data sets using reserved buffer
US9053748B2 (en) 2012-11-14 2015-06-09 International Business Machines Corporation Reconstructive error recovery procedure (ERP) using reserved buffer
US8810944B1 (en) 2013-07-16 2014-08-19 International Business Machines Corporation Dynamic buffer size switching for burst errors encountered while reading a magnetic tape
CN104346244A (zh) * 2013-08-01 2015-02-11 英业达科技有限公司 服务器硬件检测方法
US9582360B2 (en) * 2014-01-07 2017-02-28 International Business Machines Corporation Single and multi-cut and paste (C/P) reconstructive error recovery procedure (ERP) using history of error correction
US9141478B2 (en) 2014-01-07 2015-09-22 International Business Machines Corporation Reconstructive error recovery procedure (ERP) using reserved buffer
CN105116244A (zh) * 2015-07-20 2015-12-02 柳州好顺科技有限公司 一种电子产品测试装置
CN105893198A (zh) * 2016-04-29 2016-08-24 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种kvm稳定性的测试方法及装置
CN110297755B (zh) * 2018-03-23 2023-09-12 龙芯中科技术股份有限公司 一种软件测试方法和装置
CN112445670B (zh) * 2019-08-27 2023-06-02 合肥格易集成电路有限公司 一种eMMC测试方法和装置

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6029257A (en) * 1996-12-06 2000-02-22 Intergraph Corporation Apparatus and method for testing computer systems
US6587969B1 (en) * 1998-06-22 2003-07-01 Mercury Interactive Corporation Software system and methods for testing the functionality of a transactional server
US6463552B1 (en) * 1998-12-07 2002-10-08 Lsi Logic Corporation Scripting method and apparatus for testing devices
US6662217B1 (en) * 1999-01-19 2003-12-09 Microsoft Corporation Distributed and automated test administration system for administering automated tests on server computers over the internet
US6754612B1 (en) * 2000-06-29 2004-06-22 Microsoft Corporation Performance markers to measure benchmark timing of a plurality of standard features in an application program
US7367017B2 (en) * 2001-01-31 2008-04-29 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and apparatus for analyzing machine control sequences
US7047442B2 (en) * 2002-04-23 2006-05-16 Agilent Technologies, Inc. Electronic test program that can distinguish results
US8225152B2 (en) * 2002-05-09 2012-07-17 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for generating electronic test and data structure
CN1321374C (zh) * 2003-02-27 2007-06-13 义隆电子股份有限公司 测试具有通用串行总线接口的存储装置的方法及存储装置
US7181649B2 (en) * 2003-05-09 2007-02-20 Stmicroelectronics, Inc. Universal serial bus (USB) smart card having enhanced testing features and related system, integrated circuit, and methods
US7596778B2 (en) * 2003-07-03 2009-09-29 Parasoft Corporation Method and system for automatic error prevention for computer software
US7346808B2 (en) * 2004-06-09 2008-03-18 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Diagnostic method, system, and program that isolates and resolves partnership problems between a portable device and a host computer
US7603257B1 (en) * 2004-10-15 2009-10-13 Apple Inc. Automated benchmarking of software performance
DE112008003732T5 (de) * 2008-02-26 2011-01-27 Mitsubishi Electric Corp. Automatische Reproduktionstest-Vorrichtung und automatisches Reproduktionstest-Verfahren in einem eingebetteten System
US8407530B2 (en) * 2010-06-24 2013-03-26 Microsoft Corporation Server reachability detection

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Publication number Publication date
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