CN103034571A - 手持式电子产品的读写测试方法 - Google Patents

手持式电子产品的读写测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103034571A
CN103034571A CN2011103602254A CN201110360225A CN103034571A CN 103034571 A CN103034571 A CN 103034571A CN 2011103602254 A CN2011103602254 A CN 2011103602254A CN 201110360225 A CN201110360225 A CN 201110360225A CN 103034571 A CN103034571 A CN 103034571A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
electronic product
data file
hand
held electronic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2011103602254A
Other languages
English (en)
Inventor
黄春霖
谢青峰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Askey Technology Jiangsu Ltd
Askey Computer Corp
Original Assignee
Askey Technology Jiangsu Ltd
Askey Computer Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Askey Technology Jiangsu Ltd, Askey Computer Corp filed Critical Askey Technology Jiangsu Ltd
Publication of CN103034571A publication Critical patent/CN103034571A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Abstract

一种手持式电子产品读写测试方法对手持式电子产品进行测试,且该手持式电子产品连接至储存装置,其中该手持式电子产品搭载有开放式作业平台并安装有数据读写测试程序;该读写测试方法以预设测试条件重复地执行以下各阶段的测试程序,在第一测试程序中通过该数据读写测试程序送出第一测试指令,以将测试数据文件写入至该储存装置,接着第二测试程序接着送出第二测试指令,以执行该测试数据文件的关闭与开启以及读取该测试数据文件,又再接着第三测试程序根据该测试数据文件读取成功后送出第三测试指令对该测试数据文件执行剪下、贴上、复制与删除的控制,并在上述该测试程序执行完成之后,输出在各测试程序所对应的测试结果以供测试员分析。

Description

手持式电子产品的读写测试方法
 
技术领域
本发明关于一种测试方法,特别的是对手持式电子产品进行读写测试的测试方法。
背景技术
目前搭载开放式作业平台的手持式电子装置日益增多,对于制造厂商而言,为了能确保该手持式电子装置运作时的稳定性,在该手持式电子装置出厂之前会进行相关的稳定性测试。其中测试项目用于测试在该手持式电子装置与储存装置之间所进行的数据读取/写入的传输稳定性测试。
现有的测试环境中,由在一定测试时间内以一定的时间对该手持式电子产品进行多次数据读取与写入的压力测试。然而,为了节省人力也或是提高生产效率,往往会由缩短测试的时间与次数以达到简化该压力测试的流程。然而,不足的测试时间与次数,并无法有效地确保所验证的该手持式电子装置与该储存装置之间数据读取/写入控制具有高度的可信度与稳定度。
此外,在压力测试的过程中,若测试产在线的测试员未能正确地判断测试数据是否已经完全地被读取或写入至该储存装置时,会发生因为数据读取或写入动作的不完整,而无法有效地判断是否为该手持式电子装置或是否为该储存装置发生读取/写入的问题。即如此模糊不精确的判断,其会使得该测试结果的可信度降低。
发明内容
本发明的一目的提供一种手持式电子产品读写测试方法,用于对手持式电子产品与储存装置之间数据读取/写入的控制进行长时间与多次数的压力测试。
为达上述目的,本发明提出一种手持式电子产品读写测试方法,其用以对手持式电子产品进行测试,该手持式电子产品连接至一储存装置,且该手持式电子产品搭载有开放式作业平台并安装有一数据读写测试程序,其中包含步骤(a)定义一预设测试条件;步骤(b)令该数据读写测试程序送出第一测试指令,以将测试数据文件写入至于该储存装置;步骤(c)确认该测试数据文件储存在于该储存装置时,该数据读写测试程序送出第二测试指令以执行该测试数据文件的关闭与开启,并读取该测试数据文件;步骤(d)确认读取该测试数据文件成功时,该数据读写测试程序送出第三测试指令,以对该测试数据文件依序地执行剪下、贴上、复制与删除的控制;以及步骤(e)根据该预设测试条件重复步骤(b)至(d),且纪录每一次测试步骤(b)至(d)的测试结果,并在到达该预设测试条件之后输出该测试结果。
与现有技术相较,本发明的手持式电子产品读写测试方法,是由安装在该手持式电子产品上的数据读写测试程序执行多个测试指令,以分别地在储存装置上进行数据读取与写入的控制,并且在达到预设测试条件(例如测试次数或测试时间)之后,获得该手持式电子产品对该储存装置进行数据读取/写入的测试结果。
附图说明
图1是本发明第一实施例的手持式电子产品读写测试方法的方法流程图;以及
图2是本发明第二实施例的手持式电子产品读写测试方法的方法流程图。
具体实施方式
为充分了解本发明的目的、特征及功效,由下述具体的实施例,并配合所附的图式,对本发明做一详细说明,说明如后:
参考图1,为本发明实施例的手持式电子产品读写测试方法的流程图。于图1中,该方法用于对手持式电子产品进行测试,该手持式电子产品搭载一开放式作业平台(例如Android作业平台),该开放式作业平台上安装有数据读写测试程序。此外,该手持式电子产品通过设置于该手持式电子产品内部的待测记忆卡槽连接至储存装置,该储存装置包含待测记忆卡槽与记忆卡,例如该记忆卡可为SD卡,该待测记忆卡槽为用于容置该记忆卡以及控制与该记忆卡进行数据读取/写入的数据传输。
该手持式电子产品读写测试方法起始于步骤S11并定义预设测试条件,用于提供例如控制测试的测试时间长度或测试的次数等,亦即使得该预设测试条件可包含预定时间或预定次数。
接着步骤S12,由该数据读写测试程序送出第一测试指令予该储存装置,以将该测试数据文件写入至该储存装置。其中,于另一实施例中,该步骤S12更可包含建立测试文件夹于该储存装置中,以将该测试数据文件写入该测试文件夹中。以前述所提及SD卡型态的储存装置为例说明,其在该待测记忆卡槽接收到该第一测试指令之后,该待测记忆卡槽将该测试数据文件写入至该SD卡中;或者该待测记忆卡槽先建立测试文件夹,以将该测试数据文件写入至位于该SD卡中的该测试文件夹,使得在成功建立该测试文件夹之后,再将该测试数据文件写入至该测试文件夹。于一实施例中,该测试数据文件与该测试数据文件的档案结构配置以树状结构的方式建立,而该测试数据文件建立在该测试数据文件中。
但若在该步骤S12中该储存装置无法建立该测试数据文件或无法将该测试数据文件写入该测试数据文件时,则接着进入步骤S21确认在该储存装置中无法建立该测试数据文件或无法将该测试数据文件写入该测试数据文件时,用于产生第一测试错误结果,并且输出该第一测试错误结果或者输出具有该第一测试错误结果的测试结果,如图2所示。即,该第一错误测结果定义为当执行该第一测试指令之后无法建立测试数据文件或无法将该测试数据文件写入该测试数据文件中的状态。
此外,上述建立与写入数据的动作无法进行,有可能为未置放该储存装置之记忆卡、该手持式电子产品或是该储存装置发生损毁等的现象。
接着步骤S13,确认该测试数据文件存在于该储存装置时,该数据读写测试程序送出第二测试指令予该储存装置而执行该测试数据文件的关闭与开启的控制,并读取该测试数据文件。
接续前述所提及SD卡型态的储存装置,在该待测记忆卡槽执行完该第一测试指令的程序之后,接着该待测记忆卡槽又接收到该第二测试指令,而该第二测试指令会对该测试数据文件进行关闭与开启的控制,并且在开启该测试数据文件之后读取位于该测试数据文件即或位于该测试文件夹中的该测试数据文件。
但若在该步骤S13中该第二测试指令系无法对该测试数据文件执行该关闭、该开启与该读取的控制时,则接着进入步骤S22,系确认该第二测试指令无法对该测试数据文件执行该关闭、该开启或该读取的控制时,用于产生第二测试错误结果,并输出该第二测试错误结果或者输出具有该第二测试错误结果的测试结果,如图2所示。亦即,该第二测试测结果定义为在执行该第二测试指令之后无法关闭测试数据文件、开启测试数据文件或写入数据的状态。
再接着步骤S14,其确认读取该测试数据文件成功时,该数据读写测试程序送出第三测试指令,以对该测试数据文件依序地执行剪下、贴上、复制与删除的控制。
接续前述以SD卡的储存装置为例说明,在该待测记忆卡槽执行完该第二测试指令的程序之后,接着该待测记忆卡槽又接收到该第三测试指令,而该第三测试指令首先将该测试数据文件中的该测试数据文件剪下,并再将剪下的该测试数据文件贴上该测试数据文件中,并接着复制该测试数据文件,形成二份的该测试数据文件,最后删除该等测试数据文件,并由上述的该等动作,使得该储存装置又回复成原来初始状态,即该储存装置中未有任何的该测试数据文件及/或该测试数据文件。
但若在该步骤S14中该第三测试指令无法对该测试数据文件依序地执行剪下、贴上、复制与删除时,则接着进入步骤S23确认该第三测试指令无法对该测试数据文件执行该剪下、该贴上、该复制与该删除的控制时,用于产生第三测试错误结果或者输出具有该第三测试错误结果的测试结果如图2所示。即,该第三测试测结果定义为在执行该第三测试指令之后无法对该测试数据文件执行该剪下、该贴上、该复制与该删除的控制。
又接着步骤S15,根据步骤S11中的该预设测试条件重复步骤S12至S14,且纪录每一次测试步骤S12至S14的测试结果,并在到达该预设测试条件之后输出该测试结果。再者,该预设测试条件可用以中断该步骤S15的运行,使得停止整个手持式电子产品读写测试方法。即,该预定条件使重复执行的该测试方法持续该预定时间或使该测试程序的执行次数达到该预定次数。于一实施例中,预设测试条件中的该预定时间可设定为8小时。此外,当到达该预设测试条件之后将该测试结果输出,以供测试员可由该测试结果分析该手持式电子产品与储存装置之间数据写入/读取的状态。
于另一实施例中,如图2所示,更包含发生步骤S21、步骤S22或步骤S23之后,中断执行步骤S12至步骤S14的至少其一,并分别地如步骤S24独立输出对应步骤S21至步骤S23的该第一测试错误结果、该第二测试错误结果与该第三测试错误结果,或者将该第一测试错误结果、该第二测试错误结果与该第三测试错误结果提供至步骤S15,用以输出包含该第一测试错误结果、该第二测试错误结果与该第三测试错误结果附加于该测试结果中。
本发明在上文中已以优选实施例揭露,然熟习本项技术者应理解的是,该实施例仅用于描绘本发明,而不应解读为限制本发明的范围。应注意的是,凡与该实施例等效的变化与置换,均应设为涵盖于本发明的范畴内。因此,本发明的保护范围当以申请专利范围所界定者为准。

Claims (11)

1.一种手持式电子产品读写测试方法,其用以对手持式电子产品进行测试,该手持式电子产品连接至一储存装置,且该手持式电子产品搭载有开放式作业平台并安装有一数据读写测试程序,其特征在于:该方法包含:
(a)定义一预设测试条件;
(b)令该数据读写测试程序送出第一测试指令,以将测试数据文件写入至该储存装置;
(c)确认该测试数据文件存在于该储存装置时,该数据读写测试程序送出第二测试指令以执行该测试数据文件的关闭与开启的控制,并读取该测试数据文件;
(d)确认读取该测试数据文件成功时,该数据读写测试程序送出第三测试指令,以对该测试数据文件依序地执行剪下、贴上、复制与删除的控制;以及
(e)根据该预设测试条件重复步骤(b)至(d),并纪录每一次测试步骤(b)至(d)的测试结果,且在到达该预设测试条件之后输出该测试结果。
2.如权利要求1所述的手持式电子产品读写测试方法,其特征在于:其中步骤(b)还包含步骤(f)确认在该储存装置中无法建立该测试数据文件或无法将该测试数据文件写入该测试数据文件时,产生第一测试错误结果。
3.如权利要求1所述的手持式电子产品读写测试方法,其特征在于:其中步骤(b)还包含建立测试文件夹于该储存装置中,并将该测试数据文件写入该测试文件夹。
4.如权利要求2所述的手持式电子产品读写测试方法,其特征在于:其中步骤(c)还包含步骤(g)确认该第二测试指令无法对该测试数据文件执行该关闭、该开启或该读取的控制时,产生第二测试错误结果。
5.如权利要求4所述的手持式电子产品读写测试方法,其特征在于:其中步骤(d)还包含步骤(h)确认该第三测试指令无法对该测试数据文件执行该剪下、该贴上、该复制与该删除的控制时,产生第三测试错误结果。
6.如权利要求5所述的手持式电子产品读写测试方法,其特征在于:还包含输出具有该第一测试错误结果、该第二测试错误结果与该第三测试错误结果。
7.如权利要求5所述的手持式电子产品读写测试方法,其特征在于:还包含发生步骤(f)、步骤(g)或步骤(h)时,中断执行步骤(b)至步骤(e)的至少其中之一,并分别地输出对应步骤(f)至步骤(h)的该第一测试错误结果、该第二测试错误结果与该第三测试错误结果。
8.如权利要求1所述的手持式电子产品读写测试方法,其特征在于:其中所述预设测试条件以一预定时间或一预定次数重复执行步骤(b)至(d)。
9.如权利要求8所述的手持式电子产品读写测试方法,其特征在于:其中所述预定时间为8小时。
10.如权利要求1所述的手持式电子产品读写测试方法,其特征在于:其中所述开放式作业平台为Android作业平台。
11.如权利要求1所述的手持式电子产品读写测试方法,其特征在于:其中所述数据读写测试程序系通过该手持式电子产品的待测记忆卡槽与作为该储存装置的记忆卡进行数据传输。
CN2011103602254A 2011-09-30 2011-11-15 手持式电子产品的读写测试方法 Pending CN103034571A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW100135595 2011-09-30
TW100135595A TW201314442A (zh) 2011-09-30 2011-09-30 手持式電子產品的讀寫測試方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103034571A true CN103034571A (zh) 2013-04-10

Family

ID=47993826

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2011103602254A Pending CN103034571A (zh) 2011-09-30 2011-11-15 手持式电子产品的读写测试方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20130086422A1 (zh)
CN (1) CN103034571A (zh)
TW (1) TW201314442A (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104346244A (zh) * 2013-08-01 2015-02-11 英业达科技有限公司 服务器硬件检测方法
CN105116244A (zh) * 2015-07-20 2015-12-02 柳州好顺科技有限公司 一种电子产品测试装置
CN105893198A (zh) * 2016-04-29 2016-08-24 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种kvm稳定性的测试方法及装置
CN110297755A (zh) * 2018-03-23 2019-10-01 龙芯中科技术有限公司 一种软件测试方法和装置
CN112445670A (zh) * 2019-08-27 2021-03-05 合肥格易集成电路有限公司 一种eMMC测试方法和装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8793552B2 (en) 2012-11-14 2014-07-29 International Business Machines Corporation Reconstructive error recovery procedure (ERP) for multiple data sets using reserved buffer
US9053748B2 (en) 2012-11-14 2015-06-09 International Business Machines Corporation Reconstructive error recovery procedure (ERP) using reserved buffer
US8810944B1 (en) 2013-07-16 2014-08-19 International Business Machines Corporation Dynamic buffer size switching for burst errors encountered while reading a magnetic tape
US9582360B2 (en) * 2014-01-07 2017-02-28 International Business Machines Corporation Single and multi-cut and paste (C/P) reconstructive error recovery procedure (ERP) using history of error correction
US9141478B2 (en) 2014-01-07 2015-09-22 International Business Machines Corporation Reconstructive error recovery procedure (ERP) using reserved buffer

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6754612B1 (en) * 2000-06-29 2004-06-22 Microsoft Corporation Performance markers to measure benchmark timing of a plurality of standard features in an application program
CN1525330A (zh) * 2003-02-27 2004-09-01 义隆电子股份有限公司 测试具有通用串行总线接口的存储装置的方法及存储装置
US7047442B2 (en) * 2002-04-23 2006-05-16 Agilent Technologies, Inc. Electronic test program that can distinguish results

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6029257A (en) * 1996-12-06 2000-02-22 Intergraph Corporation Apparatus and method for testing computer systems
US6587969B1 (en) * 1998-06-22 2003-07-01 Mercury Interactive Corporation Software system and methods for testing the functionality of a transactional server
US6463552B1 (en) * 1998-12-07 2002-10-08 Lsi Logic Corporation Scripting method and apparatus for testing devices
US6662217B1 (en) * 1999-01-19 2003-12-09 Microsoft Corporation Distributed and automated test administration system for administering automated tests on server computers over the internet
US7367017B2 (en) * 2001-01-31 2008-04-29 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and apparatus for analyzing machine control sequences
US8225152B2 (en) * 2002-05-09 2012-07-17 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for generating electronic test and data structure
US7181649B2 (en) * 2003-05-09 2007-02-20 Stmicroelectronics, Inc. Universal serial bus (USB) smart card having enhanced testing features and related system, integrated circuit, and methods
US7596778B2 (en) * 2003-07-03 2009-09-29 Parasoft Corporation Method and system for automatic error prevention for computer software
US7346808B2 (en) * 2004-06-09 2008-03-18 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Diagnostic method, system, and program that isolates and resolves partnership problems between a portable device and a host computer
US7603257B1 (en) * 2004-10-15 2009-10-13 Apple Inc. Automated benchmarking of software performance
DE112008003732T5 (de) * 2008-02-26 2011-01-27 Mitsubishi Electric Corp. Automatische Reproduktionstest-Vorrichtung und automatisches Reproduktionstest-Verfahren in einem eingebetteten System
US8407530B2 (en) * 2010-06-24 2013-03-26 Microsoft Corporation Server reachability detection

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6754612B1 (en) * 2000-06-29 2004-06-22 Microsoft Corporation Performance markers to measure benchmark timing of a plurality of standard features in an application program
US7047442B2 (en) * 2002-04-23 2006-05-16 Agilent Technologies, Inc. Electronic test program that can distinguish results
CN1525330A (zh) * 2003-02-27 2004-09-01 义隆电子股份有限公司 测试具有通用串行总线接口的存储装置的方法及存储装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104346244A (zh) * 2013-08-01 2015-02-11 英业达科技有限公司 服务器硬件检测方法
CN105116244A (zh) * 2015-07-20 2015-12-02 柳州好顺科技有限公司 一种电子产品测试装置
CN105893198A (zh) * 2016-04-29 2016-08-24 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种kvm稳定性的测试方法及装置
CN110297755A (zh) * 2018-03-23 2019-10-01 龙芯中科技术有限公司 一种软件测试方法和装置
CN110297755B (zh) * 2018-03-23 2023-09-12 龙芯中科技术股份有限公司 一种软件测试方法和装置
CN112445670A (zh) * 2019-08-27 2021-03-05 合肥格易集成电路有限公司 一种eMMC测试方法和装置
CN112445670B (zh) * 2019-08-27 2023-06-02 合肥格易集成电路有限公司 一种eMMC测试方法和装置

Also Published As

Publication number Publication date
TW201314442A (zh) 2013-04-01
US20130086422A1 (en) 2013-04-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103034571A (zh) 手持式电子产品的读写测试方法
CN103578568B (zh) 固态硬盘的性能测试方法及装置
CN104050075B (zh) Andriod应用程序的测试方法和装置
CN109271326B (zh) 云数据库的测试方法及其装置、设备和存储介质
CN103164328B (zh) 一种业务功能的回归测试方法、装置及系统
CN108959059B (zh) 一种测试方法以及测试平台
CN100401265C (zh) 关键字驱动的自动化测试系统及方法
CN110162977A (zh) 一种Android车载终端系统漏洞检测系统及方法
CN107562969B (zh) 航空发动机控制系统软件的集成方法和装置
CN107423181A (zh) 一种统一存储设备的自动化测试方法及装置
CN106415504B (zh) 测试用例生成系统及记录测试用例的记录介质
CN109840206A (zh) 数据测试方法、装置、终端及存储介质
CN103425574A (zh) 一种测试应用程序的方法及装置
CN104375934B (zh) 一种Android手机软件可靠性测试方法
CN109086176A (zh) 一种基于fio的ssd稳态测试方法、装置、设备及存储介质
CN108459951A (zh) 测试方法和装置
CN112433948A (zh) 一种基于网络数据分析的仿真测试系统及方法
CN114741284B (zh) 任务可靠性评估方法、装置、计算机设备和存储介质
CN109885438A (zh) 一种fpga可靠性测试方法、系统、终端及存储介质
CN104424099A (zh) 软件测试方法及系统
CN108829577A (zh) 一种应用程序性能的自动化测试方法
Ferreira et al. Test coverage analysis of UML state machines
CN102567351A (zh) 一种数据库变更效果的测试方法及测试装置
Sharma et al. Automated bug reporting system in web applications
CN108959078A (zh) 一种Windows端软件自动化测试方法及系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20130410