JP2008070294A - Icテスタ用デバッグ支援方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】PC12がテストプログラム20により設定する設定パラメータを用いて被試験デバイス16をテストするICテスタ14のデバッグする際、単一のボタン操作を契機として、テストプログラム20が則っているべきテスト仕様22と設定パラメータとを対比して表示装置18に表示する。また、同様の単一の操作を契機として、設定パラメータを変化させ、変化させた設定パラメータのPASS/FAILをシュムーにより表示装置18に表示する。さらに、同様の単一の操作を契機として、ICテスタ14にて被試験デバイス16をテストし、テストの結果である被試験デバイス16の出力を表示装置18に表示する。これらの工程によって、テストプログラム20、テスト仕様22および被試験デバイス16のいずれに問題を生じているかの判断を支援する。
【選択図】図1
Description
佐野,久保,小笠原,安斉,「LSIテスト支援システム −仮想テスタPreTestStation−」,横河技報,横河電機株式会社,Vol.47 No.3(2003),p.87−90
12 PC
14 ICテスタ
16 被試験デバイス
18 表示装置
20 テストプログラム
22 テスト仕様
Claims (5)
- 被試験デバイスに対するテスト仕様に基づいて生成されたテストプログラムに従って該被試験デバイスのテストを遂行するICテスタの、テスト遂行時における問題箇所の特定を支援するICテスタ用デバッグ支援方法において、
単一の操作を契機として、テスト仕様に記述されたパラメータと、テストプログラムによって実際にICテスタに設定された設定パラメータとを、対比可能に表示するテストプログラム解析工程を含み、
これによって、前記テストプログラムの問題箇所の特定を支援することを特徴とするICテスタ用デバッグ支援方法。 - 被試験デバイスに対するテスト仕様に基づいて生成されたテストプログラムに従って該被試験デバイスのテストを遂行するICテスタの、テスト遂行時における問題箇所を特定するICテスタ用デバッグ支援方法であって、
単一の操作を契機として、テストプログラムによって実際にICテスタに設定された設定パラメータを様々な値に変化させて前記ICテスタによる被試験デバイスのテストを行い、有効なテスト結果が得られたかどうかをPASS/FAILで示すテスト仕様解析工程を含み、
これによって、前記テスト仕様の問題箇所の特定を支援することを特徴とするICテスタ用デバッグ支援方法。 - 被試験デバイスに対するテスト仕様に基づいて生成されたテストプログラムに従って該被試験デバイスのテストを遂行するICテスタの、テスト遂行時における問題箇所の特定を支援するICテスタ用デバッグ支援方法において、
単一の操作を契機として、テスト仕様に記述されたパラメータと、テストプログラムによって実際にICテスタに設定された設定パラメータとを、対比可能に表示するテストプログラム解析工程と、
単一の操作を契機として、前記設定パラメータを様々な値に変化させて前記ICテスタによる被試験デバイスのテストを行い、有効なテスト結果が得られたかどうかをPASS/FAILで示すテスト仕様解析工程とを含み、
これによって、前記テストプログラムおよびテスト仕様の問題箇所の特定を支援することを特徴とするICテスタ用デバッグ支援方法。 - 単一の操作を契機として、前記ICテスタにて被試験デバイスをテストし、該テストの結果である被試験デバイスの出力を表示するデバイス解析工程をさらに含み、
これによって、さらに前記被試験デバイスの問題箇所の特定を支援することを特徴とする請求項1から3までのいずれかに記載のICテスタ用デバッグ支援方法。 - 前記デバイス解析工程では、グラフィカル・ユーザ・インターフェースによって前記被試験デバイスの出力波形を表示することを特徴とする請求項4に記載のICテスタ用デバッグ支援方法。
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- 2006-09-15 JP JP2006250587A patent/JP2008070294A/ja not_active Ceased
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