CN107515368B - 一种微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法 - Google Patents

一种微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法 Download PDF

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Abstract

本发明提出一种微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，包括下列步骤：对微电路进行老炼前电测试，记录产品测试数据；对该批次微电路按照老炼条件进行老炼试验；提取老炼前电测试的产品测试数据，参照电参数允许变化范围动态修改测试程序的极限值；对该颗成品微电路进行老炼后电测试，根据修改后的测试项条件判断结果并生成参数偏移量计算结果进行提交。本发明提出的微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，通过动态修改测试程序极限值的实现，解决在量产过程中保证老炼后时效性的前提下，进行老炼参数偏移量计算、失效分析，并实现自动量产，提高产品质量和量产效率。

Description

一种微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法
技术领域
本发明涉及半导体集成电路测试领域，且特别涉及一种微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法。
背景技术
在测试工厂里，通常需要按照相应标准，对一个量产中的成品微电路进行可靠性试验，并通过电特性测试、参照电参数允许变化范围来验证成品微电路的相关一致性和可靠性。测试包括老炼试验和成品电测试，其中老炼试验是为了筛选或剔除那些勉强合格的器件，用最大额定工作条件或在最大额定工作条件之上对微电路施加应力，或施加能以相等的或更高的灵敏度揭示出随时间和应力变化的失效模式的等效筛选条件。成品电测试是对封装后的成品微电路进行电特性测试，按照对应电特性规范，区分合格和不合格的微电路。
目前用的方法是将成品微电路在进行相关电参数测试后，进行对应条件的老炼试验后，再次测试一遍，需要测试人员对两次测试数据的对比计算，来完成相应的老炼前后参数偏移量计算。分析测试数据并进行对比是一项比较专业的工作，产线操作人员并没有能力完成，因此需要产品工程师来比对，对于晚上或周末并不能第一时间完成数据的对比工作，因为产品老炼后的时效性，一般在量产完成后，只有极少的时间可以进行对应参数偏移量计算和分析，一旦出现异常，很有可能会因为超出时效，造成最终结果的无效，从而延误产量和质量。
因此现有技术存在以下问题：一、现有技术中测试机台生成的数据需要工程师来进行对比，目前测试机台生成的测试数据都为STDF格式，为二进制的文件，需要专用的软件转成文本格式的文件后进行数据对比，此工作需要一定的专业能力，产线操作人员无法实行，需由工程师介入来完成，这样就会造成时间上的延误，不能立即得到参数偏移量计算结果。
二、现有技术中所有原数据需要工程师去拷贝，容易出错，参数偏移量计算的数据为两个文件，且计算偏移量时，需要根据测试的成品微电路刻号去比对，一旦找错数据源计算结果可能会数据差异较大，需要后期再继续进行比对核查，难以完成参数偏移量计算，耽误产品老炼的时效性、质量及效率。
在老炼后的电测试，因为本身程序判断的极限值一致，所以无法直观地显示出是否符合老炼前后的电参数允许变化范围，只能在测试完成后再进行计算。但进行测试需要比较长的时间，再在这之后进行参数偏移量计算，可能造成超出老炼后时效，测试异常但无法在有效时间内分析数据的影响，耽误量产质量、效率。
发明内容
为了解决参数偏移量计算对比需要专人完成，需要测试完成后再进行计算，并且时间长和容易出错的问题，本发明提出一种微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，通过动态修改测试程序极限值的实现，解决在量产过程中保证老炼后时效性的前提下，进行老炼参数偏移量计算、失效分析，并实现自动量产，提高产品质量和量产效率。
为了达到上述目的，本发明提出一种微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，包括下列步骤：
对微电路进行老炼前电测试，记录产品测试数据；
对该批次微电路按照老炼条件进行老炼试验；
提取老炼前电测试的产品测试数据，参照电参数允许变化范围动态修改测试程序的极限值；
对该颗成品微电路进行老炼后电测试，根据修改后的测试项条件判断结果并生成参数偏移量计算结果进行提交。
进一步的，所述对微电路进行老炼前电测试步骤为：输入对应流程卡号，读取成品微电路上的刻号，再将测试平台的UI和数据库绑定，记录每次对应流程中的产品测试的刻号，并记录找到其生成的测试数据路径。
进一步的，所述提取老炼前电测试的产品测试数据步骤为：输入对应流程卡号，测试平台的UI自动匹配对应流程，调用相应程序，读取该成品微电路的刻号，找到相应流程对应的老炼前电测试数据路径下的对应成品微电路的老炼前电测试数据，打开对应数据，提取相应参数，带入测试程序中，并参照电参数允许变化范围动态修改测试程序的极限值。
进一步的，所述读取成品微电路上的刻号采用安装在机械手里OCR装置进行识别读取。
进一步的，当对应测试项出现失效，生成数据并进行报警，测试平台的UI发出异常报告，并通知产品工程师在时效内抓紧进行数据失效分析。
本发明提出的微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，通过将测试UI连接到数据库，按照任务书号，配合机械手的OCR来读取成品微电路上的刻号，查找对应的老炼前保存的电测试数据，并且将老炼前对应参数值带入测试程序，将对应测试项的极限值动态修改为电参数允许变化范围的上下限，再进行老炼后的电测试，直接判断老炼后的成品微电路是否合格，测试UI直接生成对应电路的参数偏移量计算结果，通过机械手提示产线人员进行异常反馈，以供工程师提早进行失效分析和判断，提高量产质量、效率。
附图说明
图1所示为本发明较佳实施例的微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法流程图。
具体实施方式
以下结合附图给出本发明的具体实施方式，但本发明不限于以下的实施方式。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率，仅用于方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
请参考图1，图1所示为本发明较佳实施例的微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法流程图。本发明提出一种微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，包括下列步骤：
步骤S100：对微电路进行老炼前电测试，记录产品测试数据；
步骤S200：对该批次微电路按照老炼条件进行老炼试验；
步骤S300：提取老炼前电测试的产品测试数据，参照电参数允许变化范围动态修改测试程序的极限值；
步骤S400：对该颗成品微电路进行老炼后电测试，根据修改后的测试项条件判断结果并生成参数偏移量计算结果进行提交。
参数偏移量计算为同一颗成品微电路将老炼试验前后进行的电测试进行数据的对比，比较条件按照电参数允许变化范围进行认定，符合条件即认为该颗成品微电路老炼后参数计算合格。
根据本发明较佳实施例，所述对微电路进行老炼前电测试步骤为：输入对应流程卡号，读取成品微电路上的刻号，再将测试平台的UI和数据库绑定，记录每次对应流程中的产品测试的刻号，并记录找到其生成的测试数据路径。所述UI为用户的操作界面，用来完成程序调用等工作。所述测试数据为测试机使用对应测试程序生成相应成品微电路的电特性参数并进行保存的结果。所述测试程序为适用测试机中，按照预编方式、方法进行电特性参数的测量、计算和打印结果。所述测试机为自动检测成品微电路电特性参数的设备。
所述提取老炼前电测试的产品测试数据步骤为：输入对应流程卡号，测试平台的UI自动匹配对应流程，调用相应程序，读取该成品微电路的刻号，找到相应流程对应的老炼前电测试数据路径下的对应成品微电路的老炼前电测试数据，打开对应数据，提取相应参数，带入测试程序中，并参照电参数允许变化范围动态修改测试程序的极限值。
进一步的，所述读取成品微电路上的刻号采用安装在机械手里OCR装置进行识别读取。
当对应测试项出现失效，生成数据并进行报警，测试平台的UI发出异常报告，并通知产品工程师在时效内抓紧进行数据失效分析。
综上所述，本发明提出的微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，通过将测试UI连接到数据库，按照任务书号，配合机械手的OCR来读取成品微电路上的刻号，查找对应的老炼前保存的电测试数据，并且将老炼前对应参数值带入测试程序，将对应测试项的极限值动态修改为电参数允许变化范围的上下限，再进行老炼后的电测试，直接判断老炼后的成品微电路是否合格，测试UI直接生成对应电路的参数偏移量计算结果，通过机械手提示产线人员进行异常反馈，以供工程师提早进行失效分析和判断，提高量产质量、效率。
虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明。本发明所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰。因此，本发明的保护范围当视权利要求书所界定者为准。

Claims (3)

1.一种微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，其特征在于，包括下列步骤：
对微电路进行老炼前电测试，记录产品测试数据；
对该微电路按照老炼条件进行老炼试验；
提取老炼前电测试的产品测试数据，参照电参数允许变化范围动态修改测试程序的极限值；
对成品微电路进行老炼后电测试，根据修改后的测试项条件判断结果并生成参数偏移量计算结果进行提交；
所述对微电路进行老炼前电测试步骤为：输入对应流程卡号，读取成品微电路上的刻号，再将测试平台的UI和数据库绑定，记录每次对应流程中的产品测试的刻号，并记录找到其生成的测试数据路径；
所述提取老炼前电测试的产品测试数据步骤为：输入对应流程卡号，测试平台的UI自动匹配对应流程，调用相应程序，读取该成品微电路的刻号，找到相应流程对应的老炼前电测试数据路径下的对应成品微电路的老炼前电测试数据，打开对应数据，提取相应参数，带入测试程序中，并参照电参数允许变化范围动态修改测试程序的极限值。
2.根据权利要求1所述的微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，其特征在于，所述读取成品微电路上的刻号采用安装在机械手里OCR装置进行识别读取。
3.根据权利要求1所述的微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法，其特征在于，当对应测试项出现失效，生成数据并进行报警，测试平台的UI发出异常报告，并通知产品工程师在时效内抓紧进行数据失效分析。
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