TR201816195T4 - Lehim alaşımı. - Google Patents
Lehim alaşımı. Download PDFInfo
- Publication number
- TR201816195T4 TR201816195T4 TR2018/16195T TR201816195T TR201816195T4 TR 201816195 T4 TR201816195 T4 TR 201816195T4 TR 2018/16195 T TR2018/16195 T TR 2018/16195T TR 201816195 T TR201816195 T TR 201816195T TR 201816195 T4 TR201816195 T4 TR 201816195T4
- Authority
- TR
- Turkey
- Prior art keywords
- solder
- alloy
- phase ratio
- liquid phase
- phenomenon
- Prior art date
Links
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 151
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 107
- 239000000956 alloy Substances 0.000 title claims abstract description 107
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 28
- 239000000945 filler Substances 0.000 claims abstract description 17
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 claims description 57
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 claims description 46
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 8
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 25
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- 238000005219 brazing Methods 0.000 abstract description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 4
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 24
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 20
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 20
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 14
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 10
- 238000005204 segregation Methods 0.000 description 8
- 229910020830 Sn-Bi Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910018728 Sn—Bi Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 6
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 6
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 3
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000011160 research Methods 0.000 description 3
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 2
- HFGHRUCCKVYFKL-UHFFFAOYSA-N 4-ethoxy-2-piperazin-1-yl-7-pyridin-4-yl-5h-pyrimido[5,4-b]indole Chemical compound C1=C2NC=3C(OCC)=NC(N4CCNCC4)=NC=3C2=CC=C1C1=CC=NC=C1 HFGHRUCCKVYFKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910017944 Ag—Cu Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001152 Bi alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910016334 Bi—In Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011190 CEM-3 Substances 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 208000025599 Heat Stress disease Diseases 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 229910052789 astatine Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000005094 computer simulation Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001351 cycling effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 239000012458 free base Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- VOVZXURTCKPRDQ-CQSZACIVSA-N n-[4-[chloro(difluoro)methoxy]phenyl]-6-[(3r)-3-hydroxypyrrolidin-1-yl]-5-(1h-pyrazol-5-yl)pyridine-3-carboxamide Chemical compound C1[C@H](O)CCN1C1=NC=C(C(=O)NC=2C=CC(OC(F)(F)Cl)=CC=2)C=C1C1=CC=NN1 VOVZXURTCKPRDQ-CQSZACIVSA-N 0.000 description 1
- XULSCZPZVQIMFM-IPZQJPLYSA-N odevixibat Chemical compound C12=CC(SC)=C(OCC(=O)N[C@@H](C(=O)N[C@@H](CC)C(O)=O)C=3C=CC(O)=CC=3)C=C2S(=O)(=O)NC(CCCC)(CCCC)CN1C1=CC=CC=C1 XULSCZPZVQIMFM-IPZQJPLYSA-N 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 238000002076 thermal analysis method Methods 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K35/00—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
- B23K35/22—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
- B23K35/24—Selection of soldering or welding materials proper
- B23K35/26—Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 400 degrees C
- B23K35/262—Sn as the principal constituent
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22C—ALLOYS
- C22C13/00—Alloys based on tin
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22C—ALLOYS
- C22C13/00—Alloys based on tin
- C22C13/02—Alloys based on tin with antimony or bismuth as the next major constituent
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K35/00—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
- B23K35/001—Interlayers, transition pieces for metallurgical bonding of workpieces
- B23K35/007—Interlayers, transition pieces for metallurgical bonding of workpieces at least one of the workpieces being of copper or another noble metal
Abstract
Bir dolgu içerisinde kalkma fenomeninin oluşumunu bastırabilen, ısıl yorulma vasıtasıyla kötüleşmeyi bastırabilen, ve lehim köprülerinin ve lehim saçaklarının oluşumunu bastırabilen bir lehim alaşımının temin edilmesi, buluşun amacıdır. Lehim alaşımı kütle %'si olarak: %0.1 ila 0.8 Bi; %0 ila 0.3 Ag; %0 ila 0.7 Cu; %0.001 ila 0.1 P elementinden oluşan, bakiyeyi Sn'nin oluşturduğu ve bir Ag ve Bi toplam miktarının %0.3 ila 0.8 olduğu bir alaşım bileşimine sahiptir.
Description
TARIFNAMELEHIM ALASIMITeknik AlanMevcut bulus, dolgu anormalligini bastiran bir lehim alasimiylailgilidir.Arka Plan TeknigiBir baskili levhayi ve bunun üzerine monte edilmis bir elektrik
komponentini içeren bir monte edilmis substrat, çamasir makineleri,
buzdolaplari ve klimalar gibi ev aletleri içerisinde, ve televizyonlar,
Videolar, radyolar, bilgisayarlar, fotokopi makineleri ve iletisim
ekipmanlari gibi elektronik ekipmanlar içerisinde kullanilirlar. Bir tek
tabakali substrata ilaveten, birden fazla substrat içeren bir laminat
substrat, memnun edici islevlerin elde edilmesi için, bir monte edilmis
substrat içerisinde kullanilir. Substratlar arasinda iletim için bir
metodun ve bir substrat üzerine elektronik komponentlerin monte
edilmesi için bir metodun örneklerine yüzey montaji vasitasiyla
baglamak için bir metot ve bir substratin bir geçis deligi içerisine bir
baglanti ucu geçirilerek monte etmek için bir metot dahildir. Bir
baskili levha üzerine monte etme adiminin örneklerine akisli
lehimleme, geri akisli lehimleme, manüel lehimleme ve benzerleridahildir. Bunlarin içerisinden, bir geçis deligi içerisine bir baglantiucu geçirilerek monte etmek için metot, baglanma dayanikliligi ve
benzerleri açisindan belirli bir boyut derecesine sahip elektronik
komponentlerin monte edilmesi olarak kullanilir. Akisli lehimlemegenellikle montaj adimi olarak kullanilir.Örnegin, Patent Dokümani l, akisli lehimleme için bir lehiin alasimi
olarak Sn-Cu-P-Bi lehim alasiinini açiklamaktadir. Bu lehim alasimi,
P ilavesi vasitasiyla islanabilirlik iyilestirildigi ve ilaveten Bi ilavesi
vasitasiyla bir erime sicakligi düsürüldügü, böylelikle monte edilen
elektronik komponentlerin isletiminde zorluklarin olusmasi
bastirilabildigi için mükemmeldir. Ancak, bir geçis deligi içerisine bir
baglanti ucunun geçirilmesi ve akisli lehimleinenin yürütülmesi
durumunda, bir lehimin islanabilirliginde iyilesmeye ilaveten baskaarastirmalarin yapilmasi gerekir.Bir geçis deligi içerisine geçirilen bir baglanti ucu, bir baskili levha
zemini ve baglanti ucu arasinda olusturulan (bundan böyle sadece
"dolgu" olarak atfedilecek) lehim dolgusu vasitasiyla bir baskili
levhaya baglanir. Bu tür bir durumda, bazen bir kalkma fenomeni,
dolgunun olusturulmasi için bir lehim alasiininin bilesimine ve
levhanin bir laininasyon durumuna bagli olarak dolgu içerisinde
gerçeklesir. Kalkma fenomeni, baskili levha zemini ile dolgu arasinda
bir boslugun olusmasi fenomenidir, ve bu fenomen, levha ve baglanti
ucu arasinda zayif bir iletime yol açar. Bu açidan, kalkma fenomeninibastirmak için çesitli arastirmalar yapilmistir.Örnegin, Patent Dokümani 2, yüzeye monte edilen elektronikkomponentlerin baglanma dayanikliliginin yüksek güvenilirligininmuhafaza edilmesi için Sn-3Ag-xBi-0.5Cu (x=0, 1, 2, 3 veya 4, birim
kütle %”sidir) lehiin alasiinini açiklainaktadir. Bu patent dokümani, Bi
muhteViyati ile kalkma fenomeni, dayaniklilik veya büzülme kaVitesi
arasindaki iliskinin arastirma sonuçlarini tarif etmektedir, ve Bi
muhteviyati 0 kütle %”si veya 1 kütle %”si oldugunda, bu özelliklerin
saglandigina iliskin sonuçlari açiklamaktadir. Bu patent dokümani,
ayrica, bu alasim bilesimlerinin bir katilasma sicakligini ve bir
sivilasma sicakligini da açiklamaktadir. Patent Dokümani 3, Ag
kullanilmaksizin, baglanma dayanikliliginin arttirilmasi için Sn-
0.7Cu-(0.35 veya 0.7)Bi lehim alasimmi önermektedir. Bu patent
dokümani, kalkma fenomeninin ve benzerlerinin olusumunun, Bi ilave
edilerek hizlandirildigim açiklamaktadir. Patent Dokümani 4, Sn-Ag-
Bi-In lehim alasimi içerisinde Bi muhteviyatinin 0.1 ile 5 agirlik %”si
arasinda oldugunu, ve 111 muhteviyatinin 3 ile 9 agirlik %”si arasiiida
oldugunu, ve ilaveten bir levhanin bir dogrusal genlesme katsayisinin
'Önceden belirlenmis bir aralikta oldugunu, böylece yüzeye monte
edilen elektronik komponentler içerisinde isi çevriminden sonra bile
çatlak olusumunun önlendigini önermektedir. Bu patent dokümani,
ayrica, büyük bir miktarda Bi ilave edilerek kalkma fenomeninin
olustugunu da tarif etmektedir.Patent Dokümani 5, 0.08 - 3 agirlik %”si Bi, 0.15 - 1.5 agirlik %”si
Cu, 0.1 - 1.5 agirlik %'si Ag, ve asagidaki elementlerden en az birini
içeren lehim alasimlarini açiklamaktadir: 0.02 - 0.3 agirlik %”si Ni,
0.008 - 0.2 agirlik %”si Mn, 0.01 - 0.3 agirlik %”si C0, 0.01 - 0.3
agirlik %”si Cr, 0.02 - 0.3 agirlik %”si Fe, ve 0.008 - 0.1 agirlik %7si
Zr, geriye kalaiii ise Sn ve kaçinilmaz kirlilikler olusturur.Patent Doküinani 6, bir ana eleman olarak Sn, 0.3 - 2.0 kütle %'si Cu,0.01 - 0.2 kütle %,si Ni, ve 0.1 - 3.0 kütle %”si Bi içeren bir Sn-Bi tipilehini alasimini tarif etmektedir. Patent Dokümani 7, 0.1 - 5 agirlik
%”si Ag, 0.1 - 5 agirlik %”si Cu, 10 agirlik %”sinden daha fazla
olmayan, Sb, Bi, Cd, In, Ag, Au, Ni, Ti, Zr, ve Hf”dan olusan bir
gruptan seçilen en az bir elementi içeren bir birinci katkilayici, 10
agirlik %”sinden daha fazla olmayan, ve Ge, Zn, P, K, Cr, Mn, Na, V,
Si, A1, Li, Mg ve Ca”dan olusan bir gruptan seçilen en az bir element
içeren bir ikinci katkilayici, ve bakiye olarak Sn içeren, Pb içermeyenbir lehiin alasimini açiklamaktadir.Onceki Teknik DokümanlariPatent DokümaniPatent Dokümani 1: Japon Patent No. 4225165
Patent Dokümani 2: JP-A-2003-046229Patent Dokümani 3: JP-A-2001-2251 88Patent Dokümani 4: JP-A-2010-206006Patent Doküinani 5: EP-A- 1 841 561Patent Dokümani 6: US-A-2015/ 146394
Patent Dokümani 7: US-A-2007/295528Bulusun Kisa TarifiBulusun Çözmeyi Amaçladigi ProblemlerBöylece, Patent Dokümanlari 2 ila 4, Bi elementinin, kalkmafenomeniiiin olusumuna neden oldugunu tarif etmektedirler, ancak birzemin ve bir baglanti ucu arasindaki baglantida asagida açiklananilgili problemler mevcuttur.Patent Dokümani 2, Bi eleinentinin O kütle %”si oldugu Sn-Ag-Cu
lehim alasimini açiklamaktadir. Ancak, lehim alasimi Bi içermez, ve
bu yüzden, dolgunun isil yorulma vasitasiyla kötülesme problemi
mevcuttur. Bu Patent Dokümani, ayrica, 1 kütle %,si kadar veya daha
fazla Bi içeren bir lehim alasimini da açiklamaktadir. Ancak, kalkma
fenomeni, sadece, her biri 6 baglanti ucuna sahip alti baglanti ucu
konektörü (toplamda 36 yer) kullanilarak degerlendirilir, ve bu,
kalkma fenomeninin degerlendirilmesi için yetersizdir. Lehim alasimi,
l kütle %”si kadar veya daha fazla Bi içerir, ve bu yüzden,
degerlendirme yerleri daha da artinca, kalkma fenomeninin olusma
olasiligi oldugu dikkate alinir. Ayrica, Patent Dokümani l içerisinde
tarif edilen sivilasma sicakligi ve katilasma sicakligi, bir denge
durumunda bir sicakliktir, ve baglanmanin ve sogutmanin oldugu
gerçek durum yansitilmaz. ilaveten, bir kati-sivi birlikte varolma
bölgesi içerisinde bir lehim alasiminin özellikleri, bir denge
durumunda dahi, alasim bilesimine bagli olarak çok degisirler, ve
bundan dolayi, bir lehim alasiminin bir baglanti ucu ayrilmayacak
ölçüde katilasmasina kadar geçen süre de farklilik gösterir. Bu
nedenle, kalkma fenomeninin olusumu, sadece bir sivilasma sicakligi
ve bir katilasma sicakligi açiklandiginda, yeterli ölçüde bastirilamaz.
Bir baska deyisle, kalkma fenomeni, bir denge durumunda sadece bir
sivilasma sicakligi ve bir katilasma sicakligi spesifik olarakbelirtilerek, yeterli ölçüde bastirilamaz.Patent Doküinani 3, 0.35 kütle %”si veya 0.7 kütle %”si kadar Bi
niuhteviyatina sahip Sn-Cu-Bi lehim alasimiiii açiklamaktadir.
Yukarida tarif edildigi gibi, kalkma fenomeni, bir zemin ve bir dolgu
arasinda bir boslugun olusmasi fenomenidir, ve katilasma sirasinda bir
lehim alasimi içerisinde Bi elementinin segregasyonu vasitasiyla
gerçeklesir. Bu Patent Dokümani, Bi elementinin, kalkma
fenomeninin defektine neden olabilecegini açiklamaktadir. Ancak, bir
kati-sivi birlikte var olina bölgesi içerisinde bir lehim alasiininin
özellikleri büyük farklilik gösterir, ve akisli lehimleme sirasinda bir jet
lehimin sicakligina ilaveten, bir leVhanin kalinligi ve bunun
laminasyon sayisi da degisir. Bu gerçekler içerisinde, kalkma
fenomeninin olusumunun sadece bir alasim bilesimi üzerineodaklanarak hemen bastirilamadigi bir durum da vardir.In, Patent Dokümani 4 içerisinde önemli bir elemeiittir, ve bu yüzden,
bir In oksit filmi olusabilir. Bunun sonucunda, bir lehim alasiini
yapiskan olur, ve dolgu içerisinde lehim köprüsü ve lehim saçaklari
olusabilirler, ve baglanti uçlari birbirlerine elektrik ilettiklerinde, zayifbir baglanti olusur.Bu yüzden, sadece kalkma fenomeni, geleneksel anlamda, dolgu
içerisinde zayif baglaiiti olarak dikkate alinir. Dolgu içerisindeki
problem, sadece kalkma fenomeni degildir, aiicak lehim köprülerinin
ve lehim saçaklarinin olusumunu da içerir. Bu nedenden dolayi,
gerçek duruinu esas alan bu dolgu anormalliklerine bir çözümbulunmasi gerekmektedir.Mevcut bulusun bir amaci, dolgu anormalligini bastirabilen, daha
spesifik olarak, hem kalkma fenomeninin olusumunu, hem de bir
dolgu içerisinde lehim köprülerinin ve lehiin saçaklarinin olusumunu
bastirabilen, ve ilaveten isil yorulma vasitasiyla kötülesmeyibastirabilen bir lehim alasiminin temin edilmesidir.Problemlerin Çözülmesi için YollarMevcut mucitler, kursun içermeyen lehim alasimlari içerisinde isil
yorulma vasitasiyla kötülesmeyi bastirabilen Sn-Bi lehim alasimi
üzerinde ciddi arastirmalar yapmislardir. Mevcut mucitler, ilk olarak,
kalkma fenomeninin olusumunun bastirilmasi için Bi muhteviyatinin
önceden belirlenmis bir araliga ayarlanniasina ilaveten, katilasma
sirasinda bir levhanin kalinliginin ve laininasyon sayisinin neden
oldugu zaman araliginin dikkate alinmasinin gerekli oldugu gerçegine
odaklanmislardir. Kalkma fenomeni, yukarida tarif edildigi gibi, Bi
elementinin segregasyonu vasitasiyla gerçeklesir. Akisli lehimlemenin
yürütülmesi durumunda, bir levhanin bir jet lehim tarafinin sogumasi
zordur, ve levhanin jet lehim tarafinin karsisindaki bir tarafi hemen
sogur. Bu bir lamine levha içerisinde daha da dikkat çeker. Bu yüzden,
kalkma fenomeninin olusumu, sogutma sirasinda zaman araligidikkate alinarak bastirilabilir.Yukaridakilerin isigi altinda, mevcut mucitler, kalkma fenomeninin
olusumunu ve lehim köprülerinin ve lehim saçaklarinin olusumunu
bastirmak için bir lehim alasimi bilesimine ilaveten, katilasma
sirasinda zaman araligini dikkate almislar ve daha da arastirmayapmislardir. Sn-Bi lehiin alasiiniyla akisli lehimlemenin yürütülmesiiçin kosullar olarak, bir lehim alasiminin 235°C°de esasen tamamen
bir sivi faz olmasi ve ilaveten 210°Clde çoguiilukla bir kati faz olmasi
tercih edilir. Bir kati fazin 2350C'de geriye kalmasina, erimemis bir
geriye kalan lehim alasiminin neden oldugu düsünülmektedir.
Erimemis bir geriye kalan lehim alasimi miktarinin fazla olmasi, bir
dolgu içerisinde lehim köprülerine ve lehim saçaklarina neden olabilir.
Diger yandan, bir sivi faziii 210°C°de geriye kalmasi, katilasma
sirasinda segregasyon vasitasiyla kalkma fenomeninin olusmasinaneden olabilir.Asagidaki tarifnamede, "kati faz orani" terimi, belirli bir sicaklikta bir
lehim alasiininin tam hacmi içerisinde yer kaplayan bir kati fazin bir
kismi aiilamina gelir, ve "sivi faz orani" terimi, belirli bir sicaklikta bir
lehim alasiininin tam hacmi içerisinde yer kaplayan bir sivi fazin birkismi anlamina gelir.Yukaridaki arastirmalar içerisinde kullanilan kati faz orani ve sivi faz
orani, bir lehim alasiminin bir alasim bilesimi esas alinarak elde edilir,
ancak dogrudan alasim bilesiminden elde edilmez. Bir sivilasma
sicakligi ve bir katilasma sicakligi arasindaki bir sicaklik araligi, bir
denge diyagrami içerisinde bir kati-sivi birlikte var olma bölgesidir.
Ancak, kati-sivi birlikte var olma bölgesi içerisinde lehiin alasiminin
özellikleri, akisli lehimin gerçek durumu dikkate alinarak, denge
diyagramindan hemen belirlenemez. Ayrica, akisli lehimlemenin
durumu bir denge durumu olsa dahi, bir kati faz ve bir sivi faz bir
sivilasma sicakligiiidan bir katilasma sicakligina olan bir aralik
boyunca birlikte artmaz ve azalmaz. Bir kati fazin ve bir sivi fazinoranlari, bir jet lehim banyosu içerisinde bir lehiiri alasiminin biralasim bilesimine ve bir sicakligina bagli olarak degisir. Bu yüzden,
mevcut inucitler, bir alasim bilesimi ve bir zaman araligi, ve dolgu
anormalligi dikkate alinarak elde edilen, kati faz orani ve sivi faz oraniarasindaki iliski üzerinde baska arastirmalar yapmislardir.Bunun sonucunda, mevcut mucitler, kati faz orani 235°C”de ve sivi
faz orani ZIOOC”de önceden belirlenmis bir aralikta olduklarinda,
yukarida tarif edilen tüm özelliklerin önceden belirlenmis bir Bi
inuhteviyati araliginda saglandigi bulgusunu elde edebilmislerdir. Bir
baska deyisle, mevcut mucitler, Bi muhteviyati, kati faz orani ve sivi
faz orani sirasiyla 'Önceden belirlenmis araliklarda bulundugunda,
kalkma fenomeninin olusumunun ve lehim köprülerinin ve lehim
saçaklarinin olusumunun bastirilabildigi, ve katilasma sirasinda zaman
araligi dikkate alinsa dahi, ilaveten isil yorulina direncinin
arttirilabildigi bulgusunu elde etmislerdir. Gerçek akisli lehiinleme
sirasinda tüm kosullar, kati faz orani ve sivi faz orani spesifik olarak
belirtilerek yerine getirilemeyecektir, ancak akisli lehimleme sirasinda
dolgu anormalliginin varligi veya yoklugu, bu faz oranlari spesifik
olarak belirtilerek nispeten degerlendirilebilecektir. Ag, Cu, P veya
benzerlerini içeren Sn-Bi lehim alasiminin bir alasim bilesiini
içerisinde dahi, bu elementlerin muhteviyatlari önceden belirlenmis
araliklar içerisinde oldugunda, Bi muhteviyatindan, kati faz oranindanve sivi faz oranindan esaseii ayni bulgu elde edilmistir.Ayrica, asagidaki bulgu da elde edilmistir: Ag içeren Sn-Bi lehini
alasiminin bir alasim bilesimi içerisinde, Bi ve Ag arasindaki bir
etkilesim vasitasiyla kalkma fenomeni olusabilir. Bu nedenle,asagidaki bulgu elde edilmistir: Sn-Bi lehiin alasimiiiin Ag içerdigi10durumda, yukarida tarif edilen özelliklerin hepsi, Ag muhteviyati
önceden belirlenmis bir araliga ayarlanarak ve ilaveten toplain AgmuhteViyati ve Bi muhteViyati spesifik olarak belirtilerek saglanir.Ayrica, Sn-Bi lehim alasiminin Cu içerdigi durumda, Cu muhteviyati
0.7 kütle %”sini astiginda, bir sivilasma sicakligi hizla yükselir, ve bir
kati-sivi birlikte var olina bölgesi yayilir. Diger yandan, asagidaki
bulgu elde edilmistir: Cu muhteviyati 0.7 kütle %”si veya daha az
oldugunda, kati-sivi birlikte var olina bölgesi esasen yayilinaz, ve
yukarida tarif edilen özelliklerin hepsi, katilasma sirasinda zamanaraligi dikkate alinsa dahi saglanir.Bu tür bir bulgu esas alinarak yapilaii mevcut bulus asagidaki gibidir.(1) Bir dolgunun olusturulmasi için bir lehim alasimi olup, lehim
alasimi, kütle %”si olarak, asagidakilerden olusan bir alasimbilesimine sahiptir:Bi: %01 ila 0.8;Ag: %0 ila 0.3; veCu: %0 ila 0.7,P: %0.001 ila 01,bakiye Sn ve kaçinilmaz kirliliklerdir,burada Ag ve Bi toplam miktari %03 ila 0.8”dir, ve lehim alasimi In,
Ni, Zn, A1 ve Sb içermez, ve burada lehim alasimi 235°C”de 0.02
hacim %”si veya daha az bir kati faz oranina sahiptir, ve 210°C'de 5.0hacim %”si veya daha az bir sivi faz oranina sahiptir, kati faz oraiii ve11sivi faz orani, Material Design Technology Co. Ltd. tarafindan imaledilen "Pandat" kullanilarak hesaplanir.(2) Yukaridakine (1) uygun alasim bilesimine sahip bir lehim
baglantisi. Mevcut bulusta, "235°C°de kati faz orani", 235°Cide lehim
alasiminiii tam hacmi içerisinde yer kaplayan bir kati fazin bir kismi
anlamina gelir. "2150C'de sivi faz orani", 215°C”de lehim alasminin
tam hacmi içerisinde yer kaplayan bir sivi fazin bir kismi anlaminagelir.Çizimlerin Kisa TarifiSEKIL l, Sn-Bi-(Ag)-(Cu)-(P) lehim alasimi içerisinde 210°C”de Bi(+Ag) ve bir sivi faz orani arasindaki iliskiyi gösteren bir grafiktir.
Bulusu Uygulama YoluMevcut bulus asagida detayli olarak tarif edilmektedir. Mevcut
tarifnamede, baska türlü belirtilmedigi sürece, bir lehim alasimi
bilesimi içerisinde "%","kütle %”si"dir.l. Alasim bilesimi(l)Bi: %0.1 ila 0.8Bi, isil yorulma direncini arttirmak içiii gerekli bir elementtir. Bimuhteviyati %0.] veya daha fazla, ve tercihen %02 veya daha12fazladir. Diger yandan, Bi büyük bir miktarda ilave edildiginde,
katilasma sirasinda dikkate deger segregasyon, bir kati-sivi birlikte var
olma bölgesinin büyümesi vasitasiyla gerçeklesir, ve kalkma
fenomeninin olusma sikligi artar. Bu yüzden, Bi muhteviyati %08veya daha az, ve tercihen %06 veya daha azdir.(2) Ag: %0 ila 0.3Ag, isil yorulma direncini arttirabilen bir istege bagli komponenttir.
Ag ilave edildiginde, Ag muhteviyati tercihen %01 veya daha
fazladir. Ag Bi ile birlikte ilave edildiginde, katilasma sirasinda
segregasyon, Bi ilave edilerek hizlandirilir, ve kalkma fenomeninin
olusma sikligi artar. Bu nedenle, Ag muhteviyati %03 veya daha az,ve tercihen %02 veya daha azdir.(3) Ag+Bi: %03 ila 0.8Ag eleinentinin Sn elementine ilavesinin, kalkma fenomeni
olusumuna neden oldugu dikkate alininamistir. Ancak, hem Ag
elementinin, hem de Bi eleinentinin bir lehim alasimina ilave edildigi
durumda, bu ilave, sadece Bi elementinin ilave edildigi duruma
kiyasla katilasma sirasinda Bi segregasyonunu hizlandirir, ve bunun
sonucunda, kalkma fenomeni olusabilir. Bu nedenle, toplam Ag
muhteviyati ve Bi muhteviyati %08 veya daha az, ve tercihen %06
veya daha azdir. Diger yandan, hem Ag, hem de Bi ilavesi, isil
yorulma vasitasiyla kötülesmeyi bastirir. Bu etkiyi göstermek için,
toplam Ag muhteviyati ve Bi muhteviyati %03 veya daha fazladir.Kalkma fenomeni olusumunun ve dolgu kötülesmesinin bastirilmasi,13daha önce tarif edildigi gibi, Bi ilavesi durumunda benzer sekilde
görülür. Bu yüzden, Ag elementinin ihtiva edilmedigi durumda dahi,
bu aralik uygulanir. Spesifik olarak, Ag elementinin ihtiva edilmedigidurumda, Bi muhteviyati %03 ila 0.8,dir.(4) Cu: %0 ila 0.7Cu, lehim alasiminin dayanikliligini iyilestirilebilen bir istege bagli
elementtir. Cu elementinin asiri ilavesi, bir lehiin alasiininin bir erime
noktasini dikkate deger ölçüde yükseltir, lehiin köprülerinin ve lehim
saçaklarinin olusumunu kolaylastirir. Cu %O,7”lik bir miktarda ilave
edildiginde, Cu Sn ile birlikte bir ötektik kristal olusturur. Ancak, Cu
%0.7,lik veya daha az bir miktarda ilave edildiginde, bir kati-sivi
birlikte var olma bölgesi hemen hemen yayilmaz. Bu nedenle, Cu
muhteviyati tercihen %0.7 veya daha az, ve daha tercihen %0.6 veya
daha azdir. Mevcut bulusun lehiin alasiminin akisli lehimleme için
kullanildigi durumda, asagidaki durum dikkate alinacaktir:
Çogunlukla bir levhanin kablolari ve baglanti uçlari içerisinde
kullanilan Cu, bir lehim banyosu içerisinde elüe eder. Bu tür bir
durumda, lehim alasimi içerisindeki Cu muhteviyati azaltilmazsa,
lehim banyosu içerisindeki bir alasimin bir bilesimi bir hiperötektik
kristal tarafina kayar, erime noktasinin yükselinesiyle sonuçlanir, ve
bu, dolgu anormalligine yol açabilir. Bu nedenden dolayi, Cu
muhteviyatinin, lehim banyosu içerisindeki Cu miktarina bagli olarak
uygun sekilde azaltilmasi daha iyidir. Cu muhteviyati tercihen %0.5
veya daha az, daha tercihen %0.4 veya daha az, daha da tercihen %03veya daha az, ve özellikle tercihen %0°dir.14Diger yandan, Cu, dayanikliligin iyilestirilmesine ilaveten, bir zeminin
Cu oldugu durumda bir Cu korozyon önleine etkisi de gösterebilir. Cu
ihtiva edildiginde, Cu muhteviyati tercihen %005 veya daha fazla,
daha tercihen %0.] veya daha fazla, ve daha tercihen %02 veya dahafazladir.(5) P: %0.001 ila 0.1P, Sn oksidasyonunu bastirabilir ve islanabilirligi iyilestirebilir. P asiri
ilavesi, lehimin yüzeyi üzerinde bir lehimin akiskanligini önler, ve bir
lehiinleine isleinine zorluk getirir. Bu nedenle, P muhteviyati %0.1
veya daha az, tercihen %001 veya daha az, ve daha tercihen %0.008
veya daha azdir. Diger yandan, P ilavesi etkisi göstermek için, Pmuhteviyati %0.001 veya daha fazladir.(6) Bakiye: SnMevcut bulusta lehiin alasiminin bakiyesini Sn olusturur. Lehim
alasimi, yukarida tarif edilen eleinentlere ilaveten, kaçinilmaz
kirlilikler içerebilir. Lehiin alasiminin kaçinilmaz kirlilikler içerdigi
durumda bile, kaçinilmaz kirlilikler, yukarida tarif edilen etkileri
arttirmaz. Ayrica, bundan böyle tarif edilecegi gibi, mevcut bulusta
tanimlanmayan elementler kaçinilmaz kirlilikler olarak ihtiva edilseler
dahi, bunlar yukarida tarif edilen etkileri arttirmaz. Mevcut bulusta,
alasim bilesimi kapali terim (yani "olusan" terimi) vasitasiyla
tanimlansa dahi, kapali terim (yani "olusan" terimi) kaçinilmazkirliliklerin dahil edilmesini hariç birakmaz.15(7) In, Ni, Zn, A1 ve SbMevcut bulustaki lehim alasimi, dolgu anormalliklerinin bastirilniasi
için, In, Ni, Zn, A1 ve Sb içermez. Bu elementler, sik olarak, isi
çevrimi karakteristiklerini iyilestirmek için, bir lehiiii alasimina ilave
edilir. Ancak, mevcut bulusta, In ve Zn ihtiva edilirse, In ve Zn
elementlerinin oksit filmleri olusturulur. Bunun sonucunda, bir lehim
alasimi yapiskan olur, ve lehim köprüleri ve lehim saçaklari bir dolgu
içerisinde olusturulabilir. Ni, A1 ve Sb, lehim alasimi içerisinde Sn ve
Ag ile bilesikler olustururlar, ve bunun sonucunda, bunlar geriye kalan
bir lehim alasiminin eritme sirasinda erimemesine, böylelikle bir
dolgu içerisinde lehiin köprülerini ve lehim saçaklarini olusturmasinaneden olurlar.2. 235°C”de kati faz orani: %0.02 hacim %”si veya daha az, ve210°C”de sivi faz orani: %5.0 hacim %”si veya daha azMevcut bulustaki lehim alasimi içerisinde, yukarida tarif edilen alasim
bilesiminin gerekliliklerine ilaveten, 235°C°de bir kati faz orani %0.02
hacim %”si veya daha az, ve 210°C°de sivi faz orani %5.0 hacim %”siveya daha azdir.Dolgu anormalligi olarak, lehim köprülerinin ve lehim saçaklarinin
olusumu, geleneksel olarak arastirilan kalkma fenomenine ilaveten
örneksellestirilir. Kalkina fenomeninin olusumu bastirilabilse dahi,
baglanti uçlari ile lehim saçaklari arasinda lehim köprüleri
olusturuldugunda, elektronik cihazlar normalde zayif baglaiitiylaçalismazlar. Kalknia fenomeninin olusumunu ve lehiin köprülerinin ve16lehim saçaklarmm olusumunu bastirmak için, bir alasim bilesiminden
ve bir denge diyagramindan elde edilen bilgiler yeterli degildir, ve
bunlar esas alinarak 'onceden belirlenmis sicakliklarda kati faz oranive sivi faz orani vasitasiyla tanimlamak tercih edilebilir.Mevcut bulusta, 235°C›de kati faz orani %0.02 hacim %”si veya daha
azdir. Bunun nedeni, az Bi muhteviyati içeren Sn-düsük Bi lehiin
alasimi kullanilarak akisli lehinilemenin yürütülmesi durumunda, bir
jet lehimiii bir erime sicakliginin 235°C veya daha yüksek olmasidir.
Bu demektir ki, lehim alasiminin en az 235°C°lik bir sicaklikta
tamamen eritilmesi tercih edilir, ve erimeinis, lehim köprülerine ve
lehim saçaklariiia neden olan, geriye kalan lehim alasimi mevcut
olmamalidir. Mevcut baskili levhalar içerisinde bir dolgu da, lehim
köprülerinin ve lehim saçaklarinin olusumunu engellemek için,
235°C°de kati faz orani %002 hacim %'si veya daha azdir, ve dahatercihen 0 hacim %”sidirMevcut bulusta, 210°Csde sivi faz orani %5.0 hacim %,si veya daha
azdir. Sn-düsük Bi lehim alasimi içerisinde, katilasma yaklasik
210°C°de hizla ilerler, ve bir sivi faz Önceden belirlenmis bir miktari
asan bir miktarda mevcut olursa, sivi faz, katilasma sirasinda
segregasyoiia neden olur. Katilasma sirasinda segregasyon, kalkma
fenomeninin olusmasina yol açma olasiligini arttirir. Kalkma
fenomeninin olusumunu engellemek için, 210°C°de sivi faz orani 5.0
hacim %”si veya daha az, daha tercihen 4.0 hacim %”si veya daha az,
ve daha da tercihen 3.64 hacim %”si veya daha azdir. Sivi faz oraninin
alt siniri Özellikle sinirlandirilmamistir, ve kalkma fenomenininolusumu, 210°Cide sivi faz orani daha az oldugu için bastirilabilir.17Mevcut bulusta tanimlanan sivi faz orani ve kati faz orani, bir alasim
bilesiminin ve akisli lehimleme sirasinda bir levhanin ön yüzeyi veya
arka yüzeyi üzerindeki sogutma kosullarindaki farka karsilik gelen
zaman araliginin dikkate alinmasinin bir sonucu olarak elde edilir.
Bunlar, elementlerin termodinamik fiziksel özellik degerlerini
kullanan Scheil iliskisel denklemini esas alan Sn-düsük Bi alasimini
hesaplama simülasyonu yürütülerek elde edilebilirler. Bir sicaklik
gradyani zamanin geçmesiyle degistigi için, her güncel baglanma
durumunda sicaklik degisimi gradyaninin anlasilmasi zordur. Bu
yüzden, mevcut bulusta, akisli lehiinleine içerisindeki zaman araligi,
kalorifik degere dönüstürülür, ve kati faz orani ve sivi faz orani eldeedilir.Mevcut bulusta kati faz oranini ve sivi faz oranini hesaplama metoduasagida detayli olarak tarif edilir.Kati faz orani/sivi faz orani ve sicaklik arasindaki iliski, DSC gibi isil
analiz vasitasiyla ölçülerek elde edilebilir. Ancak, isil analiz
durumunda, önceden belirlenmis kosullar altinda sicaklik
yükseltme/düsürme isleminin yürütülmesi gereklidir, ve gerçek
baglanma kosullarinin yansitildigini söylemek zordur. Bu yüzden,
thermo-calc gibi genel amaçli termodinamik veri tabani mevcut
bulusta kullanilmistir. Ancak, katilasmayla ilgili bir kati faz oraninin
degisikligini dikkate almak gereklidir. Bu yüzden, sivi fazin tamamen
karistirilmis oldugu bir model olan Scheil denklemi veya Scheil
modülü kullanilmistir. Scheil esitligi genellikle ikili veya daha az biralasiina uygulanir, ve Scheil modülü, üçlü veya daha fazla bir alasima18uygulanir. Tabii ki, Scheil modülü, ikili veya daha az bir alasima dauygulanabilir.Scheil denklemi kullanildiginda, bir kati faz orani ve bir sicaklik
arasindaki iliski, bir kati faz içerisinde bir çözünen
konsantrasyonundan ve bir sivi faz içerisinde bir çözünen
konsantrasyonundan elde edilen bir kati-sivi dagilimi katsayisi, veya
genel amaçli termodinamik veri tabani kullanilarak elde edilebilir.
Ayrica, Scheil modülü kullanildiginda, önceden belirlenmis bir
sicaklikta bir kati faz orani, bir kati faz olarak, yeni bir
konsantrasyona sahip bir sivi faz olusturmak için bir sicaklik l°C
azaltildiginda, bir sivi fazin kismen bir kati faza dönüstügü bir kismin
ilave edilmesinden, ve sicakligin düsürülmesinden olusan prosedürler
tekrarlanarak hesaplanabilir. Daha spesifik olarak, kati faz orani ve
sivi faz orani, Material Design Technology Co., Ltd. tarafindan imaledilen "Pandat" kullanilarak hesaplanabilir.Çesitli katilasma proseslerine karsilik gelen kati faz orani ve sivi fazorani bu metot kullanilarak elde edilebilir.Hesaplamanin sonucunda, katilasma prosesinin Sn-Bi-(Ag)-(Cu)-(P)
lehiin alasimi içerisinde farklilik gösterdigi anlasilmistir. Mevcut
bulustaki kati faz orani ve sivi faz orani, kalkma fenomeninin
olusumuna ilaveten, lehim köprülerinin ve lehim saçaklarinin
olusumunu bastirmak için bir endeksi gösterir, ve sadece bir alasim
bilesimi vasitasiyla elde edilemez. Mevcut bulusun etkisi, ilk olarak,
bu endeks kullanilarak sergilenebilir. Bu demektir ki, kati faz oranininve sivi faz oraninin geleneksel olarak kullanildigi bir durum19mevcuttur. Ancak, mevcut bulusta kalkma fenomeninin olusumunun
ve lehim köprülerinin ve lehim saçaklarinin olusumunun bastirilinasi
için, gerçek akisli lehimlemenin bir katilasma prosesinin dikkate
alindigi, hem 235°Cide kati faz oranini, hem de 210°C”de sivi faz
oranini kullanan bir endeks, daha 'Önceden kullanilmayan bir yeni
endekstir. Simülasyonla elde edilen, mevcut bulustaki kati faz orani ve
sivi faz orani, gerçek akisli lehimleme sirasinda tüm kosullarin hepsini
yansitmazlar, ancak gerçek akisli lehimlemedeki kati faz oranindan ve
sivi faz oranindan boyut açisindan nispeten farklilik gösterirler. Bu
yüzden, kalkma fenomeninin olusuinu ve lehim köprülerinin ve lehim
saçaklarinin olusumu, mevcut bulusta kati faz orani ve sivi faz oranisaglanarak bastirilabilir.3. KullanimlarMevcut bulustaki lehim alasimi, çesitli lehimleme metotlari içerisinde,
özellikle de akisli lehiinleme içerisinde etki gösterebilir. Lehim
alasimi, lamine edilmis birçok subrat içeren bir laminat levha için
akisli lehimlemenin yürütüldügü durumda etkilidir. Akisli
lehimlemede bir jet lehim uzun bir zaman dilimi için kullanildiginda,
bunun bilesimi degisebilir. Bu yüzden, lehim alasimi, istenilen bir
bilesime sahip bir jet lehimin elde edilmesi için, takviye edilen bir
lehim olarak kullanilabilir. Bu durumda, takviye edilen lehim, bilesim
mevcut bulus kapsaminda ayarlandiktan sonra takviye edilebilir.
Akisli lehimlemenin yürütülmesi durumunda jet lehimin sicakligi
yaklasik 230 ila 240°C”dir. Ayrica, diger baglanma kosullari, lehim
alasiininin alasim bilesimine, kati faz oranina ve sivi faz oranina bagliolarak yaklasik olarak ayarlanabilir.20Örnekler235°C”de kati faz orani, 210°C7de sivi faz orani, güvenilirlik (isil
yorulma) ve dolgu anormalligi, Tablo 1 içerisinde gösterilen alasim
bilesiinlerine sahip lehiin alasiinlari kullanilarak degerlendirilir. Herdegerlendirme metodu asagida tarif edilmektedir.(1) 235°C°de kati faz orani ve 210°C”de sivi faz oraniÖrnekler içerisindeki kati faz orani ve sivi faz orani, Material Design
Technology Co., Ltd. tarafindan imal edilen "Pandat" kullanilarakhesaplanir. Elde edilen sonuçlar, Tablo 1 ”de gösterilir.(2) Güvenilirlik (isil yorulma)Örnekler içerisindeki güvenilirlik, isil yorulma direnci karakteristiklerikullanilarak degerlendirilir.On iki tane, 4-baglanti uçlu, Sn kaplamali direnç hazirlanir, bunlarin
baglanti uçlari bir cam epoksi baskili levhanin (CEM-3) geçis delikleri
içerisine geçirilir, ve akisli lehimleine yürütülür. Akisli lehimleme,
Malcom Co., Ltd. tarafindan imal edilen Akis Simülatörû FS-1”inkullanildigi asagidaki test kosullari altinda yürütülür.Test kosullariLehiin banyosu: Malcom Co., Ltd. tarafindan iinal edilen AkisSimülatörü FS-l.21Lehim miktari: 15 kgAki: Senju Metal Industry Co., Ltd. tarafindan imal edilen aki (ticari
isim: ES-lO6l SP2)Lehiin banyosu içerisindeki lehim sicakligi: 255°CLehimlenmis baskili levha, düsük sicaklik kosulunun 30 dakika
boyunca -4OOC oldugu ve yüksek sicaklik kosulunun 30 dakika
boyunca +85°C oldugu bir çift tank tipi otomatik test etme aparati
içerisine yerlestirilir. Baskili levha, 500.üncü çevriinde aparattan
disari alinir, ve dolgularm (48 yerin) dis görünüsü bir optik
mikroskopla gözlemlenir. Çatlaklarin gözlemlenmedigi levha `'Iyi"
olarak degerlendirilir, ve çatlaklarin gözlemlendigi levha "Zayif"olarak degerlendirilir. Elde edilen sonuçlar Tablo lsde gösterilir.(3) Dolgu anormalligiÖrnekler içerisinde, kalkma fenomeni, lehim köprüleri ve lehiin
saçaklari dolgu anormalligi olarak degerlendirilir. Akisli lehimleme,
yukarida (2) güvenilirlik testinde belirtilen ayni kosullar altinda
yürütülür, 48 yerdeki dolgu asagidaki gibi degerlendirilir.Lehim köprüleri ve lehim saçaklariLehim köprüleriiiin olusmasi veya olusmamasi görsel olarak
degerlendirilir. Ayrica, bir dolgu içerisinde lehiin saçaklarinin olusup
olusmaniasi da görsel olarak gözlemlenir. Lehim saçaklaridogrulandiginda, lehiin saçaklari olusmus olarak degerlendirilir.22Kalkma fenomeni48 dolgu bir optik mikroskopla dogrulandiktan sonra, her dolgu
kesilir, ve enine kesitin bir fotografi SEM ile alinir. Dolgunun bir
zeminden soyulup soyulmadigi SEM fotografiyla dogrulanir.
Zeminden ayrilan bir dolgu kismi eiiiiie kesitte az mevcut olsa dahi,kalkma fenomeni olusmus olarak degerlendirilir.Tablo l°de dolgu anormalligi sembolleri asagidaki gibidir:A: Dolgu anormalligi olusmadi
B: Kalkma fenomeni olustuC: Lehim saçaklari olustuD: Lehim köprüleri olustu
23 Tablo 1
Alasim bilesimi (kütle %,si) Ag + 235°C7de 210°C”de Güvenilirlik Dolgu
Bi kati faz sivi faz (isil anormalligi*
(kütle orani orani yorulma)
%,si) (hacim (hacim
%”si) %”si)
Sn Bi Ag Cu In Ni Zn A1 Sb
Referans Bakiye 0.3 0.3 0.00 0.61 Iyi A
Ornekl
Referans Bakiye 0.8 0.8 0.00 2.26 Iyi A
OrnekZ
Referans Bakiye 0.4 0.3 0.7 0.00 2.51 Iyi A
Ornek3
Referans Bakiye 0.3 0.1 0.3 0.00 0.82 Iyi A
Omek4
Referans Bakiye 0.3 0.6 0.3 0.00 0.74 Iyi A
Ornek5
24 Referans Bakiye 0.5 0.3 0.8 0.00 3.35 Iyi A
Örnek 6
Referans Bakiye 0.2 0.1 0.3 0.00 1.00 Iyi A
Örnek 7
Referans Bakiye 0.4 0.3 0.7 0.7 0.00 3.64 Iyi A
Örnek 8
Örnek 1 Bakiye 0.3 0.003 0.3 0.00 0.61 Iyi A
Örnek 2 Bakiye 0.3 0.008 0.3 0.00 0.61 Iyi A
Örnek 3 Bakiye 0.4 0.3 0.7 0003 0.7 0.00 3.64 Iyi A
Kiyaslama Bakiye 0.04 0.04 0.00 0.03 Zayif A
Örnegi 1
Kiyaslama Bakiye 0.9 0.2 1.1 0.00 6.00 Iyi B
Örnegi 2
Kiyaslama Bakiye 0.8 0.40 1.2 0.00 6.06 Iyi B
Örnegi 3
Kiyaslama Bakiye 0.10 0.10 0.2 0.00 0.41 Zayif A
Örnegi 4
Kiyaslama Bakiye 0.3 1 0.3 0.03 0.72 Iyi D
OrnegiSKiyaslama Bakiye 0.3 1.5 0.3 1.70 0.72 Iyi C,D
OmegiöKiyaslaina Bakiye 0.3 0.3 0.00 17.48 Zayif C,D
Ornegi7Kiyaslama Bakiye 0.3 0.7 0.3 0.00 26.13 Zayif C,D
OmegiSKiyaslama Bakiye 0.3 0.2 0.3 0.14 0.67 Iyi D
Ornegi9Kiyaslama Bakiye 0.3 0.1 0.2 0.3 0.09 0.87 Iyi D
Örnegi 10Kiyaslama Bakiye 0.4 0.3 0.5 0.7 0.00 7.55 Iyi C,D
OrnegillKiyaslama Bakiye 0.3 0.5 0.3 2.14 0.00 Iyi C,D
Örnegi 12Kiyaslama Bakiye 0.3 0.7 0.3 26.94 0.75 Iyi D
Örnegi 13 Dolgu anormalligi*: A: Normal. B: Kalkma feiionieni, C: Lehini saçaklari, D: Lehim köprüleri 26Tablo l°de gösterildigi gibi, Örnekler 1 ila 3'de, herhangi bir alasim
bilesimi içerisinde güvenilirlikle ve dolgu anormalligiyle ilgiliproblem olusmamistir.Diger yandan, Kiyaslama Örnegi l”de, Bi inuhteviyati azdir. Bu
yüzden, isil yorulma direnci zayiftir. Kiyaslama Örnegi 2°de, Bi
muhteviyati fazladir ve sivi faz orani 210°C“de yüksektir. Bu yüzden,
kalkma fenomeni olusmamistir. Kiyaslama Örnegi 3”de, Ag
muhteviyati fazladir, Ag+Bi %0.8”i asar, ve ilaveten sivi faz orani
210°C°de yüksektir. Bu yüzden, kalkma fenomeni olusmustur.
Kiyaslama Örnegi 4°de, Ag+Bi %O.3”den düsüktür. Bu yüzden, isil
yorulma direnci zayiftir. Kiyaslama Örnekleri 5”de ve 6°da, Cu
muhteviyati fazladir, ve kati faz orani 235°C”de yüksektir. Bu yüzden,
lehim alasimi yapiskan olur. Ayrica, lehim köprüleri Kiyaslama
Örnegi 5 ”de olusturulmustur, ve lehim köprüleri ve lehim saçaklariKiyaslama Örnegi 6 içerisinde olusturulmustur.Kiyaslama Örnekleri 7 ve 8°de, In ihtiva edilir, ve bunun sonucunda,
sivi faz orani 210°C°de yüksektir, yorulma direnci zayiftir, ve lehim
köprüleri ve lehim saçaklari olusturulmustur. Kiyaslama Örnekleri 9
ve lO'da, Ni ihtiva edilir, ve bunun sonucunda, kati faz orani
235°C”de yüksektir, ve lehim köprüleri olusturulmustur. Kiyaslama
Örnegi ll°de, Zn ihtiva edilir, ve bunun sonucunda, sivi faz orani
210°C°de yüksektir, ve lehim köprüleri ve lehim saçaklari
olusturulmustur. Kiyaslama Örnekleri 12 ve l3°de, A1 ve Sb sirasiyla
ihtiva edilir, ve bunun sonucunda, kati faz orani 235°C°de yüksektir.Ayrica, lehim köprüleri ve lehiin saçaklari Kiyaslama Örnegi 12°de27olusturulmustur, ve lehim köprüleri, Kiyaslama Örnegi 3°deolusturulmustur.Tablo l,deki sonuçlardan mevcut bulusun etkisini açikliga
kavusturmak için, mevcut bulus asagida SEKIL l kullanilarak daha datarif edilmektedir.SEKIL l, Sn-Bi-(Ag)-(Cu)-(P) lehim alasimi içerisinde 210°Cide Bi
(+Ag) ile bir sivi faz orani arasindaki iliskiyi gösteren bir grafiktir.
Kati-sivi birlikte var olnia bölgesi içerisinde çok farkli davranis
sergileyen In, Ni, Zn, Al veya Sb içeren alasim bilesimleri hariç,
Örnekler 1 ila 8”in, Örnekler 1 ila 3”ün ve Kiyaslama Örnekleri 1 ila
6”nm sonuçlari SEKIL l”de grafiksel olarak gösterilmistir. SEKIL
l”den, Bi (+Ag) %0.8°i astiginda, sivi faz orani 210°C°de çok
yükselir, ve Kiyaslama Örnekleri 2 ve 3°de oldugu gibi sivi faz orani
%5.0°1 astiginda, kalkma fenomeni olusur. Diger yandan, sivi faz
orani Kiyaslama Örnekleri 1, 4, Sade ve 6”da düsüktür. Bu yüzden,
kalkma fenomeni olusmasa dahi, isil yorulma direnci zayiftir ve lehim
köprüleri ve lehim saçaklari yukarida tarif edildigi gibiolusturulmustur.Yukaridan, mevcut bulustaki lehim alasimi, kalkma fenomeninin
olusumunu ve lehim köprülerinin ve lehim saçaklariniii olusumunu
bastirabilir, ve mükemmel isil yorulma direncine sahip olabilir. Bu
yüzden, lehim alasimi, ev aletleri ve iletisim ekipmanlari gibi
elektronik ekipmanlarin tamami üzerinde genis ölçüde yüksek kalitelidolgu olusturabilir.
28TARIFNAME IÇERISINDE ATIF YAPILAN REFERANSLARBasvuru sahibi tarafindan atif yapilan referanslara iliskin bu liste,
yalnizca okuyucunun yardimi içindir ve Avrupa Patent Belgesinin bir
kismini olusturmaz. Her ne kadar referanslarin derlenmesine büyük
önem verilmis olsa da, hatalar veya eksiklikler engellenememektedirve EPO bu baglamda hiçbir sorumluluk kabul etmemektedir.Tarifname içerisinde atifta bulunulan patent dökümanlari:° JP 4225165 B [0006] ° EP 1841561 A [0006]
° JP 2003046229 A [0006] ° US 2015146394 A [0006]
° JP 2001225188 A [0006] ° US 2007295528 A [0006]0 .IP 2010206006 A [0006]
Claims (2)
1. Bir dolgunun olusturulmasi içiii bir lehim alasiini olup, lehim alasimi, kütle %”si olarak, asagidakilerden olusan bir alasim bilesiinine sahiptir: Cu: %0 ila 0.7, ve bakiye Sn ve kaçinilmaz kirliliklerdir, burada Ag ve Bi toplam miktari %03 ila 0.8”dir, ve lehim alasimi In, Ni, Zn, A1 ve Sb içerinez, ve burada lehiin alasiini 235°C'de 0.02 hacim %”si veya daha az bir kati faz oranina sahiptir, ve 210°C°de 5.0 hacim %”si veya daha az bir sivi faz oranina sahiptir, kati faz orani ve sivi faz orani, Material Design Technology Co. Ltd. tarafindan imal edilen "Pandat" kullanilarak hesaplanir.
2. Istem l,e uygun alasiin bilesimine sahip bir lehim baglantisi.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015233363A JP6011709B1 (ja) | 2015-11-30 | 2015-11-30 | はんだ合金 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TR201816195T4 true TR201816195T4 (tr) | 2018-11-21 |
Family
ID=57140226
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TR2018/16195T TR201816195T4 (tr) | 2015-11-30 | 2016-11-28 | Lehim alaşımı. |
Country Status (12)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10213879B2 (tr) |
EP (1) | EP3173182B1 (tr) |
JP (1) | JP6011709B1 (tr) |
KR (1) | KR101752104B1 (tr) |
CN (1) | CN106808110B (tr) |
BR (1) | BR102016028061B1 (tr) |
ES (1) | ES2688246T3 (tr) |
MX (1) | MX364805B (tr) |
MY (1) | MY177221A (tr) |
PH (1) | PH12016000448A1 (tr) |
TR (1) | TR201816195T4 (tr) |
TW (1) | TWI602928B (tr) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108290250B (zh) * | 2016-06-16 | 2020-07-07 | 富士电机株式会社 | 软钎焊接合部 |
CN109175771A (zh) * | 2018-10-22 | 2019-01-11 | 南京航空航天大学 | 环氧树脂复合Sn-Bi无铅焊膏 |
KR20210137685A (ko) | 2020-05-11 | 2021-11-18 | 엘지전자 주식회사 | 안마장치의 제어방법 |
KR20210137686A (ko) | 2020-05-11 | 2021-11-18 | 엘지전자 주식회사 | 안마장치의 제어방법 |
Family Cites Families (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8807730D0 (en) | 1988-03-31 | 1988-05-05 | Cookson Group Plc | Low toxicity soldering compositions |
US5851482A (en) * | 1996-03-22 | 1998-12-22 | Korea Institute Of Machinery & Metals | Tin-bismuth based lead-free solder for copper and copper alloys |
US20010002982A1 (en) * | 1996-06-12 | 2001-06-07 | Sarkhel Amit Kumar | Lead-free, high tin ternary solder alloy of tin, silver, and bismuth |
KR19980068127A (ko) | 1997-02-15 | 1998-10-15 | 김광호 | 납땜용 무연 합금 |
JP2000015476A (ja) * | 1998-06-29 | 2000-01-18 | Ishikawa Kinzoku Kk | 無鉛はんだ |
GB9915954D0 (en) * | 1999-07-07 | 1999-09-08 | Multicore Solders Ltd | Solder alloy |
JP3312618B2 (ja) | 2000-02-03 | 2002-08-12 | 千住金属工業株式会社 | はんだ槽へのはんだの追加供給方法 |
JP2001225188A (ja) | 2000-02-15 | 2001-08-21 | Ichiro Kawakatsu | ハンダ合金 |
ATE471224T1 (de) * | 2001-03-01 | 2010-07-15 | Senju Metal Industry Co | Bleifreie lötpaste |
TW592872B (en) * | 2001-06-28 | 2004-06-21 | Senju Metal Industry Co | Lead-free solder alloy |
US8216395B2 (en) | 2001-06-28 | 2012-07-10 | Senju Metal Industry Co., Ltd. | Lead-free solder alloy |
JP4073183B2 (ja) | 2001-08-01 | 2008-04-09 | 株式会社日立製作所 | Pbフリーはんだを用いた混載実装方法及び実装品 |
ATE500018T1 (de) | 2002-01-10 | 2011-03-15 | Senju Metal Industry Co | Lötverfahren mit zusatzversorgung eines gegen oxidation enthaltenden lotes |
JP2003266193A (ja) | 2002-01-10 | 2003-09-24 | Senju Metal Ind Co Ltd | はんだ浴供給用鉛フリーはんだ |
CN1201896C (zh) | 2003-06-09 | 2005-05-18 | 广州市特铜电子材料有限公司 | 一种无铅焊料 |
JP4525192B2 (ja) * | 2003-06-13 | 2010-08-18 | 千住金属工業株式会社 | 材料成分の有効性を高める方法 |
CN100478114C (zh) | 2004-04-24 | 2009-04-15 | 叶志龙 | 电子元器件焊接用无铅焊锡及其生产工艺 |
GB2421030B (en) * | 2004-12-01 | 2008-03-19 | Alpha Fry Ltd | Solder alloy |
US8641964B2 (en) * | 2005-08-24 | 2014-02-04 | Fry's Metals, Inc. | Solder alloy |
US20070172381A1 (en) | 2006-01-23 | 2007-07-26 | Deram Brian T | Lead-free solder with low copper dissolution |
EP1971699A2 (en) * | 2006-01-10 | 2008-09-24 | Illinois Tool Works Inc. | Lead-free solder with low copper dissolution |
JP5376553B2 (ja) * | 2006-06-26 | 2013-12-25 | 日立金属株式会社 | 配線用導体及び端末接続部 |
KR100756072B1 (ko) | 2006-11-15 | 2007-09-07 | 희성소재 (주) | 납땜용 무연합금 |
CN101239424A (zh) | 2008-03-05 | 2008-08-13 | 东莞市普赛特电子科技有限公司 | 低银无铅钎料及其制备方法 |
CN101381826B (zh) | 2008-09-26 | 2012-11-07 | 南昌大学 | 一种Sn-Cu基无铅钎料合金及制备方法 |
JP5339968B2 (ja) | 2009-03-04 | 2013-11-13 | パナソニック株式会社 | 実装構造体及びモータ |
WO2011102034A1 (ja) * | 2010-02-16 | 2011-08-25 | 株式会社タムラ製作所 | 鉛フリーはんだ合金と、これを用いたソルダペースト及び実装品 |
EP2365730A1 (de) * | 2010-03-02 | 2011-09-14 | Saint-Gobain Glass France | Scheibe mit einem elektrischen Anschlusselement |
CN101862925A (zh) | 2010-05-17 | 2010-10-20 | 天津大学 | 锡铋银系无铅焊料及制备方法 |
JP2011251310A (ja) * | 2010-06-02 | 2011-12-15 | Nippon Genma:Kk | 鉛フリーはんだ合金 |
CN104395035B (zh) | 2013-05-29 | 2017-10-20 | 新日铁住金高新材料株式会社 | 钎料球以及电子构件 |
-
2015
- 2015-11-30 JP JP2015233363A patent/JP6011709B1/ja active Active
-
2016
- 2016-11-28 US US15/362,421 patent/US10213879B2/en active Active
- 2016-11-28 EP EP16200965.8A patent/EP3173182B1/en active Active
- 2016-11-28 TR TR2018/16195T patent/TR201816195T4/tr unknown
- 2016-11-28 ES ES16200965.8T patent/ES2688246T3/es active Active
- 2016-11-29 BR BR102016028061-3A patent/BR102016028061B1/pt active IP Right Grant
- 2016-11-29 MY MYPI2016002100A patent/MY177221A/en unknown
- 2016-11-29 MX MX2016015710A patent/MX364805B/es active IP Right Grant
- 2016-11-29 KR KR1020160160025A patent/KR101752104B1/ko active IP Right Grant
- 2016-11-29 TW TW105139223A patent/TWI602928B/zh active
- 2016-11-30 CN CN201611082455.8A patent/CN106808110B/zh active Active
- 2016-12-01 PH PH12016000448A patent/PH12016000448A1/en unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6011709B1 (ja) | 2016-10-19 |
CN106808110A (zh) | 2017-06-09 |
TW201723200A (zh) | 2017-07-01 |
JP2017100150A (ja) | 2017-06-08 |
KR20170063391A (ko) | 2017-06-08 |
US20170151636A1 (en) | 2017-06-01 |
EP3173182B1 (en) | 2018-08-15 |
MX2016015710A (es) | 2017-07-28 |
MX364805B (es) | 2019-05-08 |
MY177221A (en) | 2020-09-09 |
EP3173182A1 (en) | 2017-05-31 |
BR102016028061B1 (pt) | 2021-08-31 |
US10213879B2 (en) | 2019-02-26 |
TWI602928B (zh) | 2017-10-21 |
CN106808110B (zh) | 2019-04-16 |
ES2688246T3 (es) | 2018-10-31 |
PH12016000448A1 (en) | 2018-06-11 |
BR102016028061A2 (pt) | 2017-06-06 |
KR101752104B1 (ko) | 2017-06-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2218540B1 (en) | Solder joint | |
TR201816195T4 (tr) | Lehim alaşımı. | |
JP6730999B2 (ja) | 過酷な環境での電子機器用途のための高信頼性無鉛はんだ合金 | |
US6703113B2 (en) | Pb-free solder composition and soldered article | |
CA2946994C (en) | Lead-free solder alloy | |
US6296722B1 (en) | Lead-free solder alloy | |
US20170197281A1 (en) | Low Temperature High Reliability Alloy for Solder Hierarchy | |
BR122019027680B1 (pt) | Ligas de solda livres de prata e chumbo e junta de solda compreendendo tais ligas | |
JP5732627B2 (ja) | はんだ材料及び接合構造体 | |
JP3945915B2 (ja) | はんだ用Zn合金 | |
JP5919545B2 (ja) | はんだ材料および実装体 | |
EP3372336A1 (en) | Solder alloy and joint structure | |
EP2974818B1 (en) | Solder joining method | |
JPH07246493A (ja) | はんだ合金 | |
Bušek et al. | Study of temperature profile influence on intermetallic growth | |
US20170334026A1 (en) | Solder alloy and package structure using same | |
WO2016125760A1 (ja) | 接合用組成物 | |
JP5970091B2 (ja) | 接合構造体の製造方法 | |
JP6023979B2 (ja) | はんだ材料および実装体 | |
Wheeling et al. | Evaluating MetGlasTM Solderability with Tin-Silver-Copper and Tin-Silver-Bismuth Solder Alloys | |
JP2003205388A (ja) | パッケージ用無鉛はんだ製法 | |
JP2016117103A (ja) | はんだ材料 | |
JP2012223784A (ja) | 鉛フリーはんだ合金 |