TH43383A3 - ชุดประกอบต่อร่วมโพรบที่ใช้ทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์ และวิธีการผลิต - Google Patents
ชุดประกอบต่อร่วมโพรบที่ใช้ทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์ และวิธีการผลิตInfo
- Publication number
- TH43383A3 TH43383A3 TH9901004925A TH9901004925A TH43383A3 TH 43383 A3 TH43383 A3 TH 43383A3 TH 9901004925 A TH9901004925 A TH 9901004925A TH 9901004925 A TH9901004925 A TH 9901004925A TH 43383 A3 TH43383 A3 TH 43383A3
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- diaphragm
- plane
- self
- Prior art date
Links
Abstract
DC60 (20/03/43) อินเตอร์เฟสโมดูลสำหรับทดสอบวงจรรวม และวิธีการผลิตจะถูกเปิดเผย ซึ่ง ไดอะแฟรมซึ่งค้ำจุนด้วยตัวเองตามระนาบจะค้ำจุนเส้นทางสัญญาณ ที่ต่อกับแพทเทิร์น ของส่วนสัมผัสโพรบที่ทอดออกไปจากส่วนนั้น ซึ่งเข้ากับแพทเทิร์นของแผ่นรองรับการเข้า ถึงวงจรรวม ไดอะแฟรมจะถูกต่อในลักษณะที่คืนสภาพได้กับแผงวงจรพิมพ์ระนาบ ใน ระนาบที่ขนานอย่างแท้จริงกับระนาบของแผงวงจรพิมพ์ (PCB) ฟล็อปปี้สับสเตรตจะ ถูกวางระหว่างแผงวงจรพิมพ์ (PCB) และไดอะแฟรม เพื่อจัดให้มีเส้นทางสัญญาณจาก แผงวงจรพิมพ์ไปยังไดอะแฟรมที่ค้ำจุนตัวเอง วิธีการจะประกอบด้วยการตั้งตำแหน่ง แสงเลเซอร์ และการเจาะรู เพื่อให้ได้ความหนาแน่นที่สูงของรูที่มีเส้นผ่านศูนย์กลางที่มี ขนาดเล็กที่ถูกวางตำแหน่งอย่างเที่ยงตรงในวัสดุไดอะแฟรมที่ค้ำจุนตัวเอง เพื่อทำให้ บรรลุความหนาแน่นของส่วนสัมผัสของโพรบที่สูง โดยมีแถวลำดับแพทเทิร์นที่ไม่จำกัด อินเตอร์เฟสโมดูลสำหรับทดสอบวงจรรวม และวิธีการผลิตจะถูกเปิดเผย ซึ่ง ไดอะแฟรมซึ่งค้ำจุนด้วยตัวเองตามระนาบจะค้ำจุนเส้นทางสัญญาณ ที่ต่อกับแพทเทิร์น ของส่วนสัมผัสโพรบที่ทอดออกไปจากส่วนนั้น ซึ่งเข้ากับแพทเทิร์นของแผ่นรองรับการเข้า ถึงวงจรรวม ไดอะแฟรมจะถูกต่อในลักษณะที่คืนสภาพได้กับแผงวงจรพิมพ์ระนาน ใน ระนาบที่ขนานอย่างแท้จริงกับระนาบของแผงวงจรพิมพ์ (PCB) ฟล็อปปี้สับสเตรตจะ ถูกวางระหว่างแผงวงจรพิมพ์ (PCB) และไดอะเฟรม เพื่อจัดให้มีเส้นทางสัญญาณจาก แผงวงจรพิมพ์ไปยังไดอะเฟรมที่ค้ำจุนตัวเอง วิธีการที่จะประกอบด้วยการตั้งตำแหน่ง แสงเลเซอร์ และการเจาะรู เพื่อให้ได้ความหนาแน่นที่สูงของรูที่มีเส้นผ่านศูนย์กลางที่มี ขนาดเล็กที่ถูกวางตำแหน่งอย่างเที่ยงตรงในวัสดุไดอะเฟรมที่ค้ำจุนตัวเอง เพื่อทำให้ บรรลุความหนาแน่นของส่วนสัมผัสของโพรบที่สูง โดยมีแถวลำดับแพทเทิร์นที่ไม่จำกัด
Claims (1)
1. ส่วนต่อร่วมระหว่างขั้วต่อบนอุปกรณ์ทดสอบวงจรรวม และขั้วต่อที่สอดคล้อง บนวงจรรวมที่ถูกทดสอบ และซึ่งมีแพทเทิร์นของแผ่นรองที่ใช้เข้าถึงที่ใช้ทดสอบที่ กำหนดไว้ล่วงหน้า ซึ่งประกอบด้วย แผงวงจรพิมพ์(PCB) เส้นทางที่มีสภาพนำจำนวนหนึ่งที่หนึ่งบนแผงวงจรพิมพ์ดังกล่าว ซึ่งมีส่วนปลาย อุปกรณ์ทดสอบที่ถูกจัดโครงแบบให้สัมผัสขั้วต่อบนอุปกรณ์ทดสอบวงจรรวม และมีส่วน ปลายที่อยู่ตรงกันข้าม ฟล็อบปี้สับสเตรต เส้นทางที่มีสภาพนำจำนวนหนึ่งที่สองบนฟล็อบปี้สับสเสรตดังกล่าว ซึ่แท็ก :
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TH43383A3 true TH43383A3 (th) | 2001-02-28 |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6462570B1 (en) | Breakout board using blind vias to eliminate stubs | |
US6862190B2 (en) | Adapter for plastic-leaded chip carrier (PLCC) and other surface mount technology (SMT) chip carriers | |
KR100197314B1 (ko) | 매립된 테스트 회로 및 그 제조방법 | |
JPH09191162A (ja) | 回路基板アセンブリの試験装置および試験方法 | |
US4874907A (en) | Printed circuit board | |
ATE45427T1 (de) | Adapter fuer ein leiterplattenpruefgeraet. | |
CN212749137U (zh) | 具有可配置探头固定装置的测试设备 | |
JPH1164425A (ja) | 電子部品における導通検査方法及び装置 | |
US6020749A (en) | Method and apparatus for performing testing of double-sided ball grid array devices | |
MY122960A (en) | Method and apparatus for testing electronic devices | |
JP4667679B2 (ja) | プローブカード用基板 | |
TH43383A3 (th) | ชุดประกอบต่อร่วมโพรบที่ใช้ทดสอบทางอิเล็กทรอนิกส์ และวิธีการผลิต | |
DE50106269D1 (de) | Modul für eine prüfvorrichtung zum testen von leiterplatten | |
US6498299B2 (en) | Connection structure of coaxial cable to electric circuit substrate | |
JPS612338A (ja) | 検査装置 | |
KR19980071445A (ko) | 집합기판 및 그 집합기판을 이용한 전자기기의 제조방법 | |
JP4147575B2 (ja) | 中継基板 | |
KR100421662B1 (ko) | 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조 | |
KR100950446B1 (ko) | Pcb를 구비하는 스페이스 트랜스포머 및 이를 포함하는프로브 카드 | |
KR200202519Y1 (ko) | 테스트용 소켓 보드 | |
JP2759451B2 (ja) | プリント基板検査治具 | |
JPH052867Y2 (th) | ||
JPH08304503A (ja) | Icソケットテスタ | |
JPS6340391A (ja) | 表面実装プリント配線板 | |
KR100654492B1 (ko) | 검사소켓이 슬라이드접촉에 적합한 시소 프로브유니트 |