TH17975A - เครื่องช่วยเสียบสำหรับทดสอบส่วนประกอบ - Google Patents
เครื่องช่วยเสียบสำหรับทดสอบส่วนประกอบInfo
- Publication number
- TH17975A TH17975A TH9401000824A TH9401000824A TH17975A TH 17975 A TH17975 A TH 17975A TH 9401000824 A TH9401000824 A TH 9401000824A TH 9401000824 A TH9401000824 A TH 9401000824A TH 17975 A TH17975 A TH 17975A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- base
- movable base
- container
- tester
- loaded
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract 2
- 238000012856 packing Methods 0.000 abstract 1
Abstract
เครื่องช่องเสียบสำหรับทดสอบถูกให้มีเพื่อสอดคล้องกันหลายชนิดของสารกึ่งตัวนำโดยไม่มีการผิดรูปของสายต่อ เครื่อง ช่อง เสียบสำหรับทดสอบรวมถึงฐานที่เคลื่อนที่ได้ซึ่งเคลื่อนที่ ขึ้น และลงเหนือฐานและส่วนบรรจุซึ่งถูกให้มีตรงกลางโดยส่วนใหญ่ บน ฐานเคลื่อนที่ได้ และซึ่งอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำต้องถูกบรรจุ บน ปลายยอดของเครื่องทดสอบแต่ละเครื่องยื่นออกด้านบนจากบริเวณ ขอบของส่วนบรรจุ ปลายยอดของเครื่องทดสอบแต่ละเครื่องยื่น ออก ด้านบนจากบริเวณขอบของส่วนบรรจุ ปลายยอดของเครื่องทดสอบแต่ ละ เครื่องถูกนำเข้าสู่สัมผัสกับผิวหน้าด้านนอกของสายต่อที่ เกี่ยว ข้องโดยการทำให้ฐานเคลื่อนที่ได้ต่ำลง เครื่องทดสอบอาจถูก ให้มี ผ่านรูนำที่สร้างในฐานเคลื่อนที่ได้หรืออาจถูกถ่วงเข้าสุ่ ส่วน บรรจุเช่นเดียวกัน เครื่องทดสอบแต่ละเครื่องอาจถูกสร้างใน รูป L โดยส่วนใหญ่เพื่อให้มีจุดหมุนที่มุมของมัน เพื่อเคลื่อน ที่ รอบจุดหมุน
Claims (1)
1. เครื่องช่องเสียบสำหรับทดสอบซึ่งชุดสำเร็จที่ประกอบด้วยส่วน ประกอบอิเล็กทรอนิกส์ถูกบรรจุซึ่งผิวหน้าด้านบนของมันถูก หันลง ล่างเพื่อสัมผัสกับผิวหน้าด้านนอกของสายต่อแต่ละสาย ซึ่ง ยื่น ออกแนวนอนโดยส่วนใหญ่จากผนังด้านข้างของชุดสำเร็จดังกล่าว และ แนวโค้งแนวตั้ง โดยส่วนใหญ่เพื่อวัดคุณลักษณะไฟฟ้าของส่วน ประ กอบดังกล่าว อุปกรณ์ดังกล่าวที่ประกอบด้วย ฐานเคลื่อนที่ได้ที่ถูกติดตั้งแบบเคลื่อนที่ได้ขึ้นและลง ตามเสาที่ให้มีบนฐานและอัดด้านบนโดยแรงสปริง ส่วนบรรจุที่ให้มีตรงกลางของฐานเคลื่อนที่ได้ดังกแท็ก :
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH17975A true TH17975A (th) | 1996-03-05 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5498970A (en) | Top load socket for ball grid array devices | |
| KR950034403A (ko) | 반도체 웨이퍼 검사 방법 | |
| MY138633A (en) | Mounting apparatus for ball grid array device | |
| KR960039256A (ko) | 반도체 시험 장치 | |
| CN104880658B (zh) | 用于加速度传感器的测试装置 | |
| KR950033507A (ko) | Ic 측정시험장치 및 이것을 사용한 ic 측정시험방법 | |
| US6614247B2 (en) | Socket apparatus and method for removably mounting an electronic package | |
| MY124410A (en) | Burn-in test socket. | |
| TH17975A (th) | เครื่องช่วยเสียบสำหรับทดสอบส่วนประกอบ | |
| JP2001313129A (ja) | 携帯機器の載置接続用定置機器及びそのための電気コネクタ | |
| KR950006473A (ko) | Ic핸들러에 있어서의 스페이싱 프레임 구조 | |
| US4857000A (en) | Circuit board ejector/guide | |
| KR200177338Y1 (ko) | 반도체 패키지 검사용 테스터 헤더의 덮개 | |
| KR200247733Y1 (ko) | 칩 검사용 소켓장치 | |
| JP2001159655A (ja) | Ｂｇａ形ｉｃの接触方法およびキャリア | |
| KR200284460Y1 (ko) | 포고핀 | |
| KR950014949B1 (ko) | 칩 운반용 소켙 | |
| CN223597717U (zh) | 一种芯片连续slt用插座 | |
| KR200187485Y1 (ko) | 반도체 패키지 검사용 소켓의 컨택트 핀 완충구조 | |
| JPS62223679A (ja) | インサ−キツトテスタ用フイクスチヤ | |
| KR0128245Y1 (ko) | 반도체 패키지 검사용 소켓 | |
| JPS5943751Y2 (ja) | 検出装置 | |
| KR200293102Y1 (ko) | 통신선 연결용 단자블록 및 이를 이용한 단자함 | |
| KR20000019883A (ko) | 딥 패키지를 수평으로 콘택하는 장치 | |
| JP3109474B2 (ja) | 半導体検査装置及び方法 |