SU845804A3 - Устройство дл измерени толщиныОпТичЕСКи ТОНКиХ СлОЕВ - Google Patents
Устройство дл измерени толщиныОпТичЕСКи ТОНКиХ СлОЕВ Download PDFInfo
- Publication number
- SU845804A3 SU845804A3 SU772501304A SU2501304A SU845804A3 SU 845804 A3 SU845804 A3 SU 845804A3 SU 772501304 A SU772501304 A SU 772501304A SU 2501304 A SU2501304 A SU 2501304A SU 845804 A3 SU845804 A3 SU 845804A3
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- radiation
- output
- input
- amplifier
- measuring
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 11
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 claims description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 2
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 claims description 2
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 4
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 241000208202 Linaceae Species 0.000 description 1
- 235000004431 Linum usitatissimum Nutrition 0.000 description 1
- 238000004061 bleaching Methods 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
- G01B11/0683—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating measurement during deposition or removal of the layer
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/54—Controlling or regulating the coating process
- C23C14/542—Controlling the film thickness or evaporation rate
- C23C14/545—Controlling the film thickness or evaporation rate using measurement on deposited material
- C23C14/547—Controlling the film thickness or evaporation rate using measurement on deposited material using optical methods
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D5/00—Control of dimensions of material
- G05D5/02—Control of dimensions of material of thickness, e.g. of rolled material
- G05D5/03—Control of dimensions of material of thickness, e.g. of rolled material characterised by the use of electric means
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Изобретение отнэсптс к контрольноизмерительной технике, а именно к конструкции устройств дл измерени толщины оптически тонких слоев.
Наиболее близким по своей технической 8 сущности к данному изобретению вл етс устройство дл измерени оптически тонких слоев пленок, содержащее вакуумную камеру, имеющую испаритель, приспособление дл прерывани процесса нш1ылени Ю и держатель образца и выполненную со светопроницаемым окном, последовательно установленные вдоль оси, проход щей через центр окна, источник излучени , узел прерывани излучешш и светодели- 16 тёль, а также последовательно размещенные в измерительной ветви светоделител , установленного под углом в 45 к ос к, проход щей через центр, монохроматор с узлом управлени , щэиемник излучени 20 и усилитель ij.
Недостаток известного устройства состоит в том, что на результатах измерений в значите/цэной степени сказываетс как отклонени ркости источника из- 25
льности
лучени , так и изменение чувствит усилител и приемника.
Целью изобретени вл етс not ыше ние точности измерений.
Поставленна цель достигаетс счет того, что устройство снабжен вторыми приемником излучени и у
илителем , последовательно установлеш ши
ыми
ктрйв опорной ветви светоделител , ЭЛ чески св занными блоком сравнен
f фазочувствительным фотометрическ М усилителем , дифференцирующим элемеи ом, й. нуль-детектором и логической схе выход которой св зан со входом
пр icnoсоблени дл прерывани щюцесса апылени триггером, св занным Bxoflos с
и выходом второго приемника излучер а выходом - со вторым входом фай
|ЧуВСТэл , витального фотометрического усили мпасв занным входом с его выходом к ратором, выход которого соединен о
вторым входом логической схемы и
кодидифрующим элементом, подключенным I обоференшфующему элементу, а выход
их усилителей подключены ко входам блока сравнени .
Двигатель прерывател излучени выполнен с кварцевой стабилизацией, источник излучени размещен в крестообразном корпусе, в точке пересечени плеч которого расположен светоделитель, а плечо, щзотиволежащее источнику излучени , соединено с вакуумной камерой. Соединение между первым приемником излучени и корпусом устройства выполнено разъемным
IV
На фиг. 1 изображена конструктивна схема устройства; на фиг. 2 - описываемое устройство в разрезе.
Устройство дл измерени толщины оптически тонких слоев содержит источник излучени 1, узел прерывани из- лучени 2, вьшолненный в виде цилиндрического барабана с выемками, приводимого в действие двигателем с кварцевой стабилизацией, светоделитель 3, состо щий из полухфозрачного зеркала, расположенного под углом 45 к оси измерительного луча, и вакуумную камеру 4, имеющую испаритель 5, приспособление дл прерывани процесса напылени , состо щее из блевды 6 с приводом 7, держатель 8 образца, эталонный образец, например стекло 9, и магазин 1О эталонных стекол с управл ющим блоком (не ).
Источник излучени 1, узел прерывани излучени 2 и светоделитель 3 установлены вдоль оси, проход щей через центр светопроницаемого окна 11, которое выполнено в нихшей стенке 12 вакуумной камеры 4,
В измерительной ветви светоделител 3 пocлeдoвaтeJJЬнo размещены монохроматор 13 с узлом управлени , вьшолнен- ным в виде щагового двигател 14 и цифрового управл ющего блока 15, приемник 16 излучени и усилитель 17. В oпqpнoй ветви светоделител 3 также последовательно установлены приемник излучени 18 и усилитель 19. Выходы усилителей 17 и 19 св заны со входом блока сравнени 2 О, который моокет выдавать как разность, так и отнощение - выходных обоих, усилителей; Выход блока сравнени подключен к фааочувствительному фотометрическому усшштелю 21, который получает управл ющий сигнал от триггера 22. Выход фааочувствнтельного фотометрического усшштеп 21 св зан со входами дифференцирующего элемента 23 и компаратора 24. Второй вход дифферендщзующего элемента
23 св зан с кодирующим ajieMeHTOM 25. К выходу дифференцирующего элемента 23 подключен нуль-детектор 26. Нульдетектор 26 компаратор 24 своими выходами св заны со входами логической схемы 27, а выход последней подключен на вход приспособлени , которое обеспечивает процесс прерывани напылени .
Источник излучени 1, узел прерывашш излучени 2, светоделитель 3 и Чриемники 16, 18 излучени размещены в крестообразном корпусе 28, гфичем светоделитель 3 установлен в точке пересечени плеч корпуса, а плечо, противолежащее источнику излучени 1, соединено с помощью щтуцера 29 и накидной гайки 30 с вакуумной камерой 4. Между источником излучени 1 и узлом прерывани излучени 2 находитс оптическа диафрагма 31, котора с помощью юстировочных винтов (не показаны) подвижна в радиальном направлении относительно корпуса 28. Соединение между приемниками излучени 16, 18 и корпусом вьшолнено с помощью щтекеров 32, 33.
Работа устройства заключаетс в следующем.
Во врем процесса напылени луч от источника 1 проходит через узел прерывани излучени 2 и попадает на светоделитель 3. Благодар светоделителю 3 часть измерительного луча под углом 9О отклон етс и попадает на опорный приемник 18, а прощедша через светоделитель часть измерительного луча 1ФОХОДИТ через окно 11 и попадает на стекло 9, расположенное на оптической оси системы. От объекта измерени часть измерительного луча отражаетс и по оптической оси отклон етс обратно на светоделитель 3. От светоделител приход ща из вакуумной камеры часть измерительного луча также под углом 90 отклон етс к измерительному приемнику
16,проход ир этом монохроматор 13, посредством которого измерительный приемн к сенсибилизируетс дл определенной длины волньи
Электрический сигнал от измерительного гфиемника 16 подаетс на усилитель
17,а сигнал, возбужденный опорным приемником - на компенсационный усилитель 19 и параллельно этому - на тригге 22, Выходной сигнал блока сравнени
2О, представл ющий собой разность шш отнощенйе выходных сигналов усилителей 17, 19, поступает на фазочувствительный фотометрический усили 1ель 21, который
получает свой управл ющий сигнал относительно значени фазы от триггера 22. Выходной сигнал фотометрического усилител 21 вл етс непрерывным и подаетс с одной стороны на дифференцирующий элемент 23, на который через второй вход подаетс цифровой сигнал от кодирующего элемента 25 дл изменени временной посто5ШН9й дифференцирующего элемента, а с другой стороны - на компаратор 24, в котором действительна величина интенсивности фотометрического усилител 21 сравниваетс с подаваемой через второй вход аналоговой заданной величиной интенсивности. Как только
действительна величина достигает заданной , вьщаетс кратковременный импульс, посылаемый на логическую схему 27, котора содержит также выходные сигналы нуль-детектора 26. Нуль-детектор 26 на выходе дает сигнал тогда, когда дифференцированный сигнал на выходе элемента 23 проходит через нулевой уровень. Взависимости от поставленных задач напылени логическа схема 27 может быть выполнена как в виде И, так и в виде ИЛИ элемента. Так, если требуетс чтобы толщина пленки лежала между значени ми нуль и 1/4 длины волны примен емого измерительного света, выключение налылени следует перед первым прохождением через нуль на дифференцирующем элементе 23. При этом показани нуль-индикатора не обрабатываютс и компаратор проводит выключение, как только действительна и заданна величина согласуетс . Однако , если выключение при определенной толщине пленки следует между любыми прохождени ми через нуль, нуль-индикатор и компаратор активизируютс и логическа схема начинает работать в режиме ИЛИ. Следствием этого вл етс тот факт, что сигнал может быть передан транзитом только тогда, когда достигнуто выбранное число переходов черев нуль к после чего происходит новое согласовав ние действительной и заданной величины интенсивности.
Таким образом, описываемое устройствво дает возможность управл ть процессом напылени и измер ть величину тонкой пленкн с высокой степенью точности во врем продолжительного процесса просветлени , а также получать хорошую воспроизводимость достигнутьск резулыд тов при многослойных покрыти х.
Claims (4)
- Формула изобретена)Устройство дл измерени толшдны оптически тонких слоев, содержащее вакз}умную камеру, имеющую испаритель, 1фи пособление дл прерывани щзоцесса на- пылени и держатель образца, и выполненную со светопроницаемым окном, погследовательно установленные вдоль оси, проход щей через центр окна, источник излучени , узел прерывани излучени и светоделитель, последовательно размещейные в измерительной ветви светоделители установленного под углом в 45 к оси, проход щей через центр, монохроматор с узлом управлени , приемник излучени и усилитель, отличающеес тем, что, с целью повыщени точности измерени , оно снабжено вторыми прием- НИКОМ излучений и усилителем, последовотельно установленным в опорной ветвв светоделител , электрически св занными блоком сравнени , фазочувствительным фотометрическим усилителем, дифференци|рующим элементом, нуль-детектором и логической схемой, выход которой св зал со входом приспособлени дл хферыванш процесса напылени триггером, св занны входом с выходом второго приемника излучени , а выходом - бо вторым входо фазочувствительного фотометрического усилител , св занным входом с его выходом компаратором, выход которого соединен со втсфым входом логической схемы и кодирующим элементом, подкл ;оченным к дифференцирующему элементу , а выходы обоих усилителей подключены ко входам блока сравнени .
- 2.Устройство ПОП.1, ОТЛИЧ Ищ е е с тем, что двигатель 1ферыватвл излучени выполнен с кварцевой стабилизацией .
- 3.Устройство по п. 1, отличай щ е е с тем, что источник излучен{Ш размещен в крестообразном корпусе, в точке пересечени плеч которого распол жен светоделитель, а плечо, щэотнволежащее источнику излучени , совдкнвкос вакуумной камерой.
- 4.Устройство по п. 3, о т л и ч а к щ е е с тем, что соединение между первым приемником излучени и Kupoycoi выполнено разъемным.Источники информации, прин тые во вннмание прн экспертшзе1. Акцептованна за вка ФРГ № 1О7992О, кл. (5О1 В 11/О6, 1970 (щютотип).
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2627753A DE2627753C2 (de) | 1976-06-21 | 1976-06-21 | Anordnung zur Dickenmessung und -steuerung optisch wirksamer Dünnschichten |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU845804A3 true SU845804A3 (ru) | 1981-07-07 |
Family
ID=5981051
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772501304A SU845804A3 (ru) | 1976-06-21 | 1977-06-21 | Устройство дл измерени толщиныОпТичЕСКи ТОНКиХ СлОЕВ |
Country Status (16)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4207835A (ru) |
JP (1) | JPS5322456A (ru) |
AT (1) | AT366505B (ru) |
AU (1) | AU520695B2 (ru) |
BE (1) | BE855932A (ru) |
CA (1) | CA1082486A (ru) |
CH (1) | CH616502A5 (ru) |
DE (1) | DE2627753C2 (ru) |
ES (2) | ES459933A1 (ru) |
FR (1) | FR2356191A1 (ru) |
GB (2) | GB1567555A (ru) |
IT (1) | IT1086231B (ru) |
NL (1) | NL186235C (ru) |
SE (2) | SE433003B (ru) |
SU (1) | SU845804A3 (ru) |
ZA (1) | ZA773609B (ru) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52102783A (en) * | 1976-02-25 | 1977-08-29 | Kanagawa Prefecture | Method of measuring maximum diameter of bruise in brinell hardness test |
FI69370C (fi) * | 1981-08-18 | 1986-01-10 | Topwave Instr Oy | Foerfarande foer maetning av egenskaperna hos ett plastskikt med hjaelp av infraroed straolning |
DE3135443A1 (de) * | 1981-09-08 | 1983-03-24 | Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln | Verfahren und fotometrische anordnung zur dickenmessung und -steuerung optisch wirksamer schichten |
DE3234534C2 (de) * | 1982-09-17 | 1986-09-11 | Kievskoe naučno-proizvodstvennoe obiedinenie "Analitpribor", Kiev | Anordnung zum Aufstäuben von optischen Filmschichten |
DE3220282C3 (de) * | 1982-05-28 | 1995-05-18 | Roland Man Druckmasch | Vorrichtung zum betrieblichen Erfassen eines Maßes für die Feuchtmittelmenge auf der rotierenden Druckplatte in Offset-Druckmaschinen |
FR2531775A1 (fr) * | 1982-08-12 | 1984-02-17 | Cit Alcatel | Dispositif de mesure de l'epaisseur d'une couche deposee sur un substrat transparent |
US4676883A (en) * | 1986-03-03 | 1987-06-30 | Sierracin Corporation | Optical disk transmission monitor for deposited films |
EP0290657A1 (de) * | 1987-05-15 | 1988-11-17 | KSB Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der optischen Eigenschaften von dünnen Schichten |
US4669418A (en) * | 1986-05-19 | 1987-06-02 | Gte Laboratories Incorporated | Optical coating apparatus |
DE3623106C1 (en) * | 1986-07-09 | 1987-12-10 | Hewlett Packard Gmbh | Optoelectronic measuring device having a light (optical) chopper |
DE3803840A1 (de) * | 1988-02-09 | 1989-08-17 | Leybold Ag | Fotometer |
DE4123589C2 (de) * | 1991-07-17 | 2001-03-29 | Leybold Ag | Vorrichtung zum Messen der Lichtstrahlung eines Plasmas |
US5504695A (en) * | 1992-11-17 | 1996-04-02 | Nissan Motor Co., Ltd. | Apparatus for measuring paint film thickness based on dynamic levelling property of wet paint film surface |
DE4314251C2 (de) * | 1993-04-30 | 2002-02-21 | Unaxis Deutschland Holding | Verfahren und Vorrichtung zum Aufdampfen absorbierender dünner Schichten auf ein Substrat |
DE102005008889B4 (de) * | 2005-02-26 | 2016-07-07 | Leybold Optics Gmbh | Optisches Monitoringsystem für Beschichtungsprozesse |
US8958156B1 (en) | 2007-05-30 | 2015-02-17 | Semrock, Inc. | Interference filter for non-zero angle of incidence spectroscopy |
DE102018205236A1 (de) * | 2018-04-06 | 2019-10-10 | Bhs-Sonthofen Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Messung einer Filterkuchendicke |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1079920B (de) * | 1952-04-25 | 1960-04-14 | Technicolor Corp | Verfahren und Vorrichtung zum Aufdampfen von mehrschichtigen dichromatischen Interferenzueberzuegen im Vakuum |
DE1797108U (de) | 1959-07-17 | 1959-10-01 | Schubert & Salzer Maschinen | Speisevorrichtung fuer karden schlagmaschinen u. dgl. |
DE1276976B (de) * | 1962-01-29 | 1968-09-05 | Lab Pristroje Narodni Podnik | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Schichtdickenmessung duenner Schichten waehrend ihrer Herstellung durch Aufdampfen im Vakuum |
DE1548262B2 (de) * | 1966-10-13 | 1970-05-06 | Leybold-Heraeus GmbH & Co KG, 5OOO Köln-Bayenthal | Optisches Gerät zur Messung von Schichtdicken in Vakuumaufdampfprozessen |
US3491240A (en) * | 1967-03-29 | 1970-01-20 | Itek Corp | Noncontacting surface sensor |
US3526460A (en) * | 1967-06-27 | 1970-09-01 | Webb James E | Optical characteristics measuring apparatus |
FR1539538A (fr) * | 1967-10-05 | 1968-09-13 | Leybold Hochvakuum Anlagen Gmb | Instrument optique de mesure de l'épaisseur de couches déposées par métallisationsous vide |
US3654109A (en) * | 1968-04-25 | 1972-04-04 | Ibm | Apparatus and method for measuring rate in flow processes |
US3737237A (en) * | 1971-11-18 | 1973-06-05 | Nasa | Monitoring deposition of films |
DE2220231A1 (de) * | 1972-04-25 | 1973-11-08 | Serv Anstalt | Photometer zur digitalen anzeige der lichtabsorption einer messprobe in einer kuevette |
US3869211A (en) * | 1972-06-29 | 1975-03-04 | Canon Kk | Instrument for measuring thickness of thin film |
US3892490A (en) * | 1974-03-06 | 1975-07-01 | Minolta Camera Kk | Monitoring system for coating a substrate |
US4024291A (en) * | 1975-06-17 | 1977-05-17 | Leybold-Heraeus Gmbh & Co. Kg | Control of vapor deposition |
-
1976
- 1976-06-21 DE DE2627753A patent/DE2627753C2/de not_active Expired
-
1977
- 1977-06-09 IT IT24553/77A patent/IT1086231B/it active
- 1977-06-13 CH CH721877A patent/CH616502A5/de not_active IP Right Cessation
- 1977-06-16 ZA ZA00773609A patent/ZA773609B/xx unknown
- 1977-06-16 US US05/807,290 patent/US4207835A/en not_active Expired - Lifetime
- 1977-06-16 CA CA280,674A patent/CA1082486A/en not_active Expired
- 1977-06-17 NL NLAANVRAGE7706712,A patent/NL186235C/xx not_active IP Right Cessation
- 1977-06-20 GB GB25702/77A patent/GB1567555A/en not_active Expired
- 1977-06-20 GB GB11473/79A patent/GB1567556A/en not_active Expired
- 1977-06-20 AT AT0434977A patent/AT366505B/de not_active IP Right Cessation
- 1977-06-20 ES ES459933A patent/ES459933A1/es not_active Expired
- 1977-06-21 SU SU772501304A patent/SU845804A3/ru active
- 1977-06-21 FR FR7719017A patent/FR2356191A1/fr active Granted
- 1977-06-21 AU AU26259/77A patent/AU520695B2/en not_active Expired
- 1977-06-21 BE BE178632A patent/BE855932A/xx not_active IP Right Cessation
- 1977-06-21 JP JP7377577A patent/JPS5322456A/ja active Pending
- 1977-06-21 SE SE7707141A patent/SE433003B/xx not_active IP Right Cessation
- 1977-10-05 ES ES462916A patent/ES462916A1/es not_active Expired
-
1982
- 1982-08-27 SE SE8204900A patent/SE456775B/sv not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1567556A (en) | 1980-05-14 |
SE8204900L (sv) | 1982-08-27 |
ATA434977A (de) | 1981-08-15 |
SE7707141L (sv) | 1977-12-22 |
AU2625977A (en) | 1979-01-04 |
AU520695B2 (en) | 1982-02-25 |
ZA773609B (en) | 1978-06-28 |
NL186235C (nl) | 1990-10-16 |
GB1567555A (en) | 1980-05-14 |
ES459933A1 (es) | 1978-04-16 |
CH616502A5 (ru) | 1980-03-31 |
BE855932A (fr) | 1977-10-17 |
AT366505B (de) | 1982-04-26 |
FR2356191B1 (ru) | 1984-06-22 |
SE8204900D0 (sv) | 1982-08-27 |
DE2627753C2 (de) | 1983-09-01 |
ES462916A1 (es) | 1978-06-16 |
SE456775B (sv) | 1988-10-31 |
CA1082486A (en) | 1980-07-29 |
NL7706712A (nl) | 1977-12-23 |
JPS5322456A (en) | 1978-03-01 |
DE2627753A1 (de) | 1977-12-29 |
US4207835A (en) | 1980-06-17 |
IT1086231B (it) | 1985-05-28 |
NL186235B (nl) | 1990-05-16 |
FR2356191A1 (fr) | 1978-01-20 |
SE433003B (sv) | 1984-04-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU845804A3 (ru) | Устройство дл измерени толщиныОпТичЕСКи ТОНКиХ СлОЕВ | |
US3985441A (en) | Multi-channel spectral analyzer for liquid chromatographic separations | |
US3869211A (en) | Instrument for measuring thickness of thin film | |
JPS6214769B2 (ru) | ||
US2503808A (en) | Photoelectric automatically balancing polariscope | |
US4781456A (en) | Absorption photometer | |
US3463927A (en) | Apparatus for measuring absorbance differences | |
US4921351A (en) | Spectrophotometer comprising a xenon flashtube as a light source | |
US3619059A (en) | Color temperature measuring process and apparatus | |
US3650631A (en) | Arrangement and process for measuring the refractive index of liquids | |
US4251727A (en) | Gas detection | |
US2471249A (en) | Photometric apparatus and spectrophotometer using polarized light and a multiple retardation plate | |
US3143046A (en) | Camera exposure control | |
GB2180064A (en) | Atomic absorption spectrometer | |
US3383515A (en) | Dual beam null method and apparatus for determining the concentration of impurities in a sample | |
US4035086A (en) | Multi-channel analyzer for liquid chromatographic separations | |
US3635563A (en) | Apparatus for detecting small rotations | |
EP0081947A1 (en) | Method and apparatus for normalizing radiometric measurements | |
JPS6010132A (ja) | 光学測定器 | |
SU1290233A2 (ru) | Устройство дл контрол оптических световозвращателей | |
US3238368A (en) | Absorption analysing apparatus with means for reflecting short wavelength ultraviolet radiation along measuring and reference optical paths | |
JPS6423126A (en) | Multiple light source polarization analyzing method | |
CN116315989B (zh) | 一种激光输出量调谐方法、系统、装置及激光器 | |
US3054323A (en) | Automatic optical measuring instrument | |
US2413660A (en) | Flickering beam spectrophotometer |