SU845804A3 - Устройство дл измерени толщиныОпТичЕСКи ТОНКиХ СлОЕВ - Google Patents

Устройство дл измерени толщиныОпТичЕСКи ТОНКиХ СлОЕВ Download PDF

Info

Publication number
SU845804A3
SU845804A3 SU772501304A SU2501304A SU845804A3 SU 845804 A3 SU845804 A3 SU 845804A3 SU 772501304 A SU772501304 A SU 772501304A SU 2501304 A SU2501304 A SU 2501304A SU 845804 A3 SU845804 A3 SU 845804A3
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radiation
output
input
amplifier
measuring
Prior art date
Application number
SU772501304A
Other languages
English (en)
Inventor
Швиккер Хорст
Торн Гернот
Эрль Ханс-Петер
Original Assignee
Лейбольд-Херойс Гмбх Унд Ко.Кг (Фирма)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Лейбольд-Херойс Гмбх Унд Ко.Кг (Фирма) filed Critical Лейбольд-Херойс Гмбх Унд Ко.Кг (Фирма)
Application granted granted Critical
Publication of SU845804A3 publication Critical patent/SU845804A3/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0616Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
    • G01B11/0683Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating measurement during deposition or removal of the layer
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/54Controlling or regulating the coating process
    • C23C14/542Controlling the film thickness or evaporation rate
    • C23C14/545Controlling the film thickness or evaporation rate using measurement on deposited material
    • C23C14/547Controlling the film thickness or evaporation rate using measurement on deposited material using optical methods
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05DSYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
    • G05D5/00Control of dimensions of material
    • G05D5/02Control of dimensions of material of thickness, e.g. of rolled material
    • G05D5/03Control of dimensions of material of thickness, e.g. of rolled material characterised by the use of electric means

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение отнэсптс  к контрольноизмерительной технике, а именно к конструкции устройств дл  измерени  толщины оптически тонких слоев.
Наиболее близким по своей технической 8 сущности к данному изобретению  вл етс  устройство дл  измерени  оптически тонких слоев пленок, содержащее вакуумную камеру, имеющую испаритель, приспособление дл  прерывани  процесса нш1ылени  Ю и держатель образца и выполненную со светопроницаемым окном, последовательно установленные вдоль оси, проход щей через центр окна, источник излучени , узел прерывани  излучешш и светодели- 16 тёль, а также последовательно размещенные в измерительной ветви светоделител , установленного под углом в 45 к ос к, проход щей через центр, монохроматор с узлом управлени , щэиемник излучени  20 и усилитель ij.
Недостаток известного устройства состоит в том, что на результатах измерений в значите/цэной степени сказываетс  как отклонени   ркости источника из- 25
льности
лучени , так и изменение чувствит усилител  и приемника.
Целью изобретени   вл етс  not ыше ние точности измерений.
Поставленна  цель достигаетс  счет того, что устройство снабжен вторыми приемником излучени  и у
илителем , последовательно установлеш ши
ыми
ктрйв опорной ветви светоделител , ЭЛ чески св занными блоком сравнен
f фазочувствительным фотометрическ М усилителем , дифференцирующим элемеи ом, й. нуль-детектором и логической схе выход которой св зан со входом
пр icnoсоблени  дл  прерывани  щюцесса апылени  триггером, св занным Bxoflos с
и выходом второго приемника излучер а выходом - со вторым входом фай
|ЧуВСТэл , витального фотометрического усили мпасв занным входом с его выходом к ратором, выход которого соединен о
вторым входом логической схемы и
кодидифрующим элементом, подключенным I обоференшфующему элементу, а выход
их усилителей подключены ко входам блока сравнени .
Двигатель прерывател  излучени  выполнен с кварцевой стабилизацией, источник излучени  размещен в крестообразном корпусе, в точке пересечени  плеч которого расположен светоделитель, а плечо, щзотиволежащее источнику излучени , соединено с вакуумной камерой. Соединение между первым приемником излучени  и корпусом устройства выполнено разъемным
IV
На фиг. 1 изображена конструктивна  схема устройства; на фиг. 2 - описываемое устройство в разрезе.
Устройство дл  измерени  толщины оптически тонких слоев содержит источник излучени  1, узел прерывани  из- лучени  2, вьшолненный в виде цилиндрического барабана с выемками, приводимого в действие двигателем с кварцевой стабилизацией, светоделитель 3, состо щий из полухфозрачного зеркала, расположенного под углом 45 к оси измерительного луча, и вакуумную камеру 4, имеющую испаритель 5, приспособление дл  прерывани  процесса напылени , состо щее из блевды 6 с приводом 7, держатель 8 образца, эталонный образец, например стекло 9, и магазин 1О эталонных стекол с управл ющим блоком (не ).
Источник излучени  1, узел прерывани излучени  2 и светоделитель 3 установлены вдоль оси, проход щей через центр светопроницаемого окна 11, которое выполнено в нихшей стенке 12 вакуумной камеры 4,
В измерительной ветви светоделител  3 пocлeдoвaтeJJЬнo размещены монохроматор 13 с узлом управлени , вьшолнен- ным в виде щагового двигател  14 и цифрового управл ющего блока 15, приемник 16 излучени  и усилитель 17. В oпqpнoй ветви светоделител  3 также последовательно установлены приемник излучени  18 и усилитель 19. Выходы усилителей 17 и 19 св заны со входом блока сравнени  2 О, который моокет выдавать как разность, так и отнощение - выходных обоих, усилителей; Выход блока сравнени  подключен к фааочувствительному фотометрическому усшштелю 21, который получает управл ющий сигнал от триггера 22. Выход фааочувствнтельного фотометрического усшштеп  21 св зан со входами дифференцирующего элемента 23 и компаратора 24. Второй вход дифферендщзующего элемента
23 св зан с кодирующим ajieMeHTOM 25. К выходу дифференцирующего элемента 23 подключен нуль-детектор 26. Нульдетектор 26   компаратор 24 своими выходами св заны со входами логической схемы 27, а выход последней подключен на вход приспособлени , которое обеспечивает процесс прерывани  напылени .
Источник излучени  1, узел прерывашш излучени  2, светоделитель 3 и Чриемники 16, 18 излучени  размещены в крестообразном корпусе 28, гфичем светоделитель 3 установлен в точке пересечени  плеч корпуса, а плечо, противолежащее источнику излучени  1, соединено с помощью щтуцера 29 и накидной гайки 30 с вакуумной камерой 4. Между источником излучени  1 и узлом прерывани  излучени  2 находитс  оптическа  диафрагма 31, котора  с помощью юстировочных винтов (не показаны) подвижна в радиальном направлении относительно корпуса 28. Соединение между приемниками излучени  16, 18 и корпусом вьшолнено с помощью щтекеров 32, 33.
Работа устройства заключаетс  в следующем.
Во врем  процесса напылени  луч от источника 1 проходит через узел прерывани  излучени  2 и попадает на светоделитель 3. Благодар  светоделителю 3 часть измерительного луча под углом 9О отклон етс  и попадает на опорный приемник 18, а прощедша  через светоделитель часть измерительного луча 1ФОХОДИТ через окно 11 и попадает на стекло 9, расположенное на оптической оси системы. От объекта измерени  часть измерительного луча отражаетс  и по оптической оси отклон етс  обратно на светоделитель 3. От светоделител  приход ща  из вакуумной камеры часть измерительного луча также под углом 90 отклон етс  к измерительному приемнику
16,проход  ир  этом монохроматор 13, посредством которого измерительный приемн к сенсибилизируетс  дл  определенной длины волньи
Электрический сигнал от измерительного гфиемника 16 подаетс  на усилитель
17,а сигнал, возбужденный опорным приемником - на компенсационный усилитель 19 и параллельно этому - на тригге 22, Выходной сигнал блока сравнени 
2О, представл ющий собой разность шш отнощенйе выходных сигналов усилителей 17, 19, поступает на фазочувствительный фотометрический усили 1ель 21, который
получает свой управл ющий сигнал относительно значени  фазы от триггера 22. Выходной сигнал фотометрического усилител  21  вл етс  непрерывным и подаетс  с одной стороны на дифференцирующий элемент 23, на который через второй вход подаетс  цифровой сигнал от кодирующего элемента 25 дл  изменени  временной посто5ШН9й дифференцирующего элемента, а с другой стороны - на компаратор 24, в котором действительна  величина интенсивности фотометрического усилител  21 сравниваетс  с подаваемой через второй вход аналоговой заданной величиной интенсивности. Как только
действительна  величина достигает заданной , вьщаетс  кратковременный импульс, посылаемый на логическую схему 27, котора  содержит также выходные сигналы нуль-детектора 26. Нуль-детектор 26 на выходе дает сигнал тогда, когда дифференцированный сигнал на выходе элемента 23 проходит через нулевой уровень. Взависимости от поставленных задач напылени  логическа  схема 27 может быть выполнена как в виде И, так и в виде ИЛИ элемента. Так, если требуетс  чтобы толщина пленки лежала между значени ми нуль и 1/4 длины волны примен емого измерительного света, выключение налылени  следует перед первым прохождением через нуль на дифференцирующем элементе 23. При этом показани  нуль-индикатора не обрабатываютс  и компаратор проводит выключение, как только действительна  и заданна  величина согласуетс . Однако , если выключение при определенной толщине пленки следует между любыми прохождени ми через нуль, нуль-индикатор и компаратор активизируютс  и логическа  схема начинает работать в режиме ИЛИ. Следствием этого  вл етс  тот факт, что сигнал может быть передан транзитом только тогда, когда достигнуто выбранное число переходов черев нуль к после чего происходит новое согласовав ние действительной и заданной величины интенсивности.
Таким образом, описываемое устройствво дает возможность управл ть процессом напылени  и измер ть величину тонкой пленкн с высокой степенью точности во врем  продолжительного процесса просветлени , а также получать хорошую воспроизводимость достигнутьск резулыд тов при многослойных покрыти х.

Claims (4)

  1. Формула изобретена)
    Устройство дл  измерени  толшдны оптически тонких слоев, содержащее вакз}умную камеру, имеющую испаритель, 1фи пособление дл  прерывани  щзоцесса на- пылени  и держатель образца, и выполненную со светопроницаемым окном, погследовательно установленные вдоль оси, проход щей через центр окна, источник излучени , узел прерывани  излучени  и светоделитель, последовательно размещейные в измерительной ветви светоделители установленного под углом в 45 к оси, проход щей через центр, монохроматор с узлом управлени , приемник излучени  и усилитель, отличающеес  тем, что, с целью повыщени  точности измерени , оно снабжено вторыми прием- НИКОМ излучений и усилителем, последовотельно установленным в опорной ветвв светоделител , электрически св занными блоком сравнени , фазочувствительным фотометрическим усилителем, дифференци|рующим элементом, нуль-детектором и логической схемой, выход которой св зал со входом приспособлени  дл  хферыванш процесса напылени  триггером, св занны входом с выходом второго приемника излучени , а выходом - бо вторым входо фазочувствительного фотометрического усилител , св занным входом с его выходом компаратором, выход которого соединен со втсфым входом логической схемы и кодирующим элементом, подкл ;оченным к дифференцирующему элементу , а выходы обоих усилителей подключены ко входам блока сравнени .
  2. 2.Устройство ПОП.1, ОТЛИЧ И
    щ е е с   тем, что двигатель 1ферыватвл  излучени  выполнен с кварцевой стабилизацией .
  3. 3.Устройство по п. 1, отличай щ е е с   тем, что источник излучен{Ш размещен в крестообразном корпусе, в точке пересечени  плеч которого распол жен светоделитель, а плечо, щэотнволежащее источнику излучени , совдкнвко
    с вакуумной камерой.
  4. 4.Устройство по п. 3, о т л и ч а к щ е е с   тем, что соединение между первым приемником излучени  и Kupoycoi выполнено разъемным.
    Источники информации, прин тые во вннмание прн экспертшзе
    1. Акцептованна  за вка ФРГ № 1О7992О, кл. (5О1 В 11/О6, 1970 (щютотип).
SU772501304A 1976-06-21 1977-06-21 Устройство дл измерени толщиныОпТичЕСКи ТОНКиХ СлОЕВ SU845804A3 (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2627753A DE2627753C2 (de) 1976-06-21 1976-06-21 Anordnung zur Dickenmessung und -steuerung optisch wirksamer Dünnschichten

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU845804A3 true SU845804A3 (ru) 1981-07-07

Family

ID=5981051

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772501304A SU845804A3 (ru) 1976-06-21 1977-06-21 Устройство дл измерени толщиныОпТичЕСКи ТОНКиХ СлОЕВ

Country Status (16)

Country Link
US (1) US4207835A (ru)
JP (1) JPS5322456A (ru)
AT (1) AT366505B (ru)
AU (1) AU520695B2 (ru)
BE (1) BE855932A (ru)
CA (1) CA1082486A (ru)
CH (1) CH616502A5 (ru)
DE (1) DE2627753C2 (ru)
ES (2) ES459933A1 (ru)
FR (1) FR2356191A1 (ru)
GB (2) GB1567555A (ru)
IT (1) IT1086231B (ru)
NL (1) NL186235C (ru)
SE (2) SE433003B (ru)
SU (1) SU845804A3 (ru)
ZA (1) ZA773609B (ru)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52102783A (en) * 1976-02-25 1977-08-29 Kanagawa Prefecture Method of measuring maximum diameter of bruise in brinell hardness test
FI69370C (fi) * 1981-08-18 1986-01-10 Topwave Instr Oy Foerfarande foer maetning av egenskaperna hos ett plastskikt med hjaelp av infraroed straolning
DE3135443A1 (de) * 1981-09-08 1983-03-24 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln Verfahren und fotometrische anordnung zur dickenmessung und -steuerung optisch wirksamer schichten
DE3234534C2 (de) * 1982-09-17 1986-09-11 Kievskoe naučno-proizvodstvennoe obiedinenie "Analitpribor", Kiev Anordnung zum Aufstäuben von optischen Filmschichten
DE3220282C3 (de) * 1982-05-28 1995-05-18 Roland Man Druckmasch Vorrichtung zum betrieblichen Erfassen eines Maßes für die Feuchtmittelmenge auf der rotierenden Druckplatte in Offset-Druckmaschinen
FR2531775A1 (fr) * 1982-08-12 1984-02-17 Cit Alcatel Dispositif de mesure de l'epaisseur d'une couche deposee sur un substrat transparent
US4676883A (en) * 1986-03-03 1987-06-30 Sierracin Corporation Optical disk transmission monitor for deposited films
EP0290657A1 (de) * 1987-05-15 1988-11-17 KSB Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur Messung der optischen Eigenschaften von dünnen Schichten
US4669418A (en) * 1986-05-19 1987-06-02 Gte Laboratories Incorporated Optical coating apparatus
DE3623106C1 (en) * 1986-07-09 1987-12-10 Hewlett Packard Gmbh Optoelectronic measuring device having a light (optical) chopper
DE3803840A1 (de) * 1988-02-09 1989-08-17 Leybold Ag Fotometer
DE4123589C2 (de) * 1991-07-17 2001-03-29 Leybold Ag Vorrichtung zum Messen der Lichtstrahlung eines Plasmas
US5504695A (en) * 1992-11-17 1996-04-02 Nissan Motor Co., Ltd. Apparatus for measuring paint film thickness based on dynamic levelling property of wet paint film surface
DE4314251C2 (de) * 1993-04-30 2002-02-21 Unaxis Deutschland Holding Verfahren und Vorrichtung zum Aufdampfen absorbierender dünner Schichten auf ein Substrat
DE102005008889B4 (de) * 2005-02-26 2016-07-07 Leybold Optics Gmbh Optisches Monitoringsystem für Beschichtungsprozesse
US8958156B1 (en) 2007-05-30 2015-02-17 Semrock, Inc. Interference filter for non-zero angle of incidence spectroscopy
DE102018205236A1 (de) * 2018-04-06 2019-10-10 Bhs-Sonthofen Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Messung einer Filterkuchendicke

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1079920B (de) * 1952-04-25 1960-04-14 Technicolor Corp Verfahren und Vorrichtung zum Aufdampfen von mehrschichtigen dichromatischen Interferenzueberzuegen im Vakuum
DE1797108U (de) 1959-07-17 1959-10-01 Schubert & Salzer Maschinen Speisevorrichtung fuer karden schlagmaschinen u. dgl.
DE1276976B (de) * 1962-01-29 1968-09-05 Lab Pristroje Narodni Podnik Verfahren und Vorrichtung zur optischen Schichtdickenmessung duenner Schichten waehrend ihrer Herstellung durch Aufdampfen im Vakuum
DE1548262B2 (de) * 1966-10-13 1970-05-06 Leybold-Heraeus GmbH & Co KG, 5OOO Köln-Bayenthal Optisches Gerät zur Messung von Schichtdicken in Vakuumaufdampfprozessen
US3491240A (en) * 1967-03-29 1970-01-20 Itek Corp Noncontacting surface sensor
US3526460A (en) * 1967-06-27 1970-09-01 Webb James E Optical characteristics measuring apparatus
FR1539538A (fr) * 1967-10-05 1968-09-13 Leybold Hochvakuum Anlagen Gmb Instrument optique de mesure de l'épaisseur de couches déposées par métallisationsous vide
US3654109A (en) * 1968-04-25 1972-04-04 Ibm Apparatus and method for measuring rate in flow processes
US3737237A (en) * 1971-11-18 1973-06-05 Nasa Monitoring deposition of films
DE2220231A1 (de) * 1972-04-25 1973-11-08 Serv Anstalt Photometer zur digitalen anzeige der lichtabsorption einer messprobe in einer kuevette
US3869211A (en) * 1972-06-29 1975-03-04 Canon Kk Instrument for measuring thickness of thin film
US3892490A (en) * 1974-03-06 1975-07-01 Minolta Camera Kk Monitoring system for coating a substrate
US4024291A (en) * 1975-06-17 1977-05-17 Leybold-Heraeus Gmbh & Co. Kg Control of vapor deposition

Also Published As

Publication number Publication date
GB1567556A (en) 1980-05-14
SE8204900L (sv) 1982-08-27
ATA434977A (de) 1981-08-15
SE7707141L (sv) 1977-12-22
AU2625977A (en) 1979-01-04
AU520695B2 (en) 1982-02-25
ZA773609B (en) 1978-06-28
NL186235C (nl) 1990-10-16
GB1567555A (en) 1980-05-14
ES459933A1 (es) 1978-04-16
CH616502A5 (ru) 1980-03-31
BE855932A (fr) 1977-10-17
AT366505B (de) 1982-04-26
FR2356191B1 (ru) 1984-06-22
SE8204900D0 (sv) 1982-08-27
DE2627753C2 (de) 1983-09-01
ES462916A1 (es) 1978-06-16
SE456775B (sv) 1988-10-31
CA1082486A (en) 1980-07-29
NL7706712A (nl) 1977-12-23
JPS5322456A (en) 1978-03-01
DE2627753A1 (de) 1977-12-29
US4207835A (en) 1980-06-17
IT1086231B (it) 1985-05-28
NL186235B (nl) 1990-05-16
FR2356191A1 (fr) 1978-01-20
SE433003B (sv) 1984-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU845804A3 (ru) Устройство дл измерени толщиныОпТичЕСКи ТОНКиХ СлОЕВ
US3985441A (en) Multi-channel spectral analyzer for liquid chromatographic separations
US3869211A (en) Instrument for measuring thickness of thin film
JPS6214769B2 (ru)
US2503808A (en) Photoelectric automatically balancing polariscope
US4781456A (en) Absorption photometer
US3463927A (en) Apparatus for measuring absorbance differences
US4921351A (en) Spectrophotometer comprising a xenon flashtube as a light source
US3619059A (en) Color temperature measuring process and apparatus
US3650631A (en) Arrangement and process for measuring the refractive index of liquids
US4251727A (en) Gas detection
US2471249A (en) Photometric apparatus and spectrophotometer using polarized light and a multiple retardation plate
US3143046A (en) Camera exposure control
GB2180064A (en) Atomic absorption spectrometer
US3383515A (en) Dual beam null method and apparatus for determining the concentration of impurities in a sample
US4035086A (en) Multi-channel analyzer for liquid chromatographic separations
US3635563A (en) Apparatus for detecting small rotations
EP0081947A1 (en) Method and apparatus for normalizing radiometric measurements
JPS6010132A (ja) 光学測定器
SU1290233A2 (ru) Устройство дл контрол оптических световозвращателей
US3238368A (en) Absorption analysing apparatus with means for reflecting short wavelength ultraviolet radiation along measuring and reference optical paths
JPS6423126A (en) Multiple light source polarization analyzing method
CN116315989B (zh) 一种激光输出量调谐方法、系统、装置及激光器
US3054323A (en) Automatic optical measuring instrument
US2413660A (en) Flickering beam spectrophotometer